TW200411680A - Manufacturing method of laminated PTC (positive temperature coefficient) thermistor - Google Patents
Manufacturing method of laminated PTC (positive temperature coefficient) thermistor Download PDFInfo
- Publication number
- TW200411680A TW200411680A TW092121855A TW92121855A TW200411680A TW 200411680 A TW200411680 A TW 200411680A TW 092121855 A TW092121855 A TW 092121855A TW 92121855 A TW92121855 A TW 92121855A TW 200411680 A TW200411680 A TW 200411680A
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- laminated
- ceramic
- electrode
- ptc thermistor
- external electrode
- Prior art date
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 15
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims abstract description 78
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 20
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 17
- 238000005245 sintering Methods 0.000 claims abstract description 13
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 17
- 238000010030 laminating Methods 0.000 claims description 3
- 229920001971 elastomer Polymers 0.000 abstract description 2
- 239000005060 rubber Substances 0.000 abstract description 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 26
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 21
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 11
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 11
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 9
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 7
- 239000003292 glue Substances 0.000 description 7
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 5
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 5
- 239000010953 base metal Substances 0.000 description 5
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 5
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 5
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 5
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 5
- 239000011247 coating layer Substances 0.000 description 4
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 3
- 238000010405 reoxidation reaction Methods 0.000 description 3
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 3
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N Zirconium dioxide Chemical compound O=[Zr]=O MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 2
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 2
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 2
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 2
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 2
- 230000036962 time dependent Effects 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000006424 Flood reaction Methods 0.000 description 1
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- AYJRCSIUFZENHW-UHFFFAOYSA-L barium carbonate Inorganic materials [Ba+2].[O-]C([O-])=O AYJRCSIUFZENHW-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910002113 barium titanate Inorganic materials 0.000 description 1
- JRPBQTZRNDNNOP-UHFFFAOYSA-N barium titanate Chemical compound [Ba+2].[Ba+2].[O-][Ti]([O-])([O-])[O-] JRPBQTZRNDNNOP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 239000002274 desiccant Substances 0.000 description 1
- 239000002270 dispersing agent Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 239000002003 electrode paste Substances 0.000 description 1
- 230000008030 elimination Effects 0.000 description 1
- 238000003379 elimination reaction Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007646 gravure printing Methods 0.000 description 1
- 229910052735 hafnium Inorganic materials 0.000 description 1
- VBJZVLUMGGDVMO-UHFFFAOYSA-N hafnium atom Chemical compound [Hf] VBJZVLUMGGDVMO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 1
- 230000010534 mechanism of action Effects 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 239000008267 milk Substances 0.000 description 1
- 210000004080 milk Anatomy 0.000 description 1
- 235000013336 milk Nutrition 0.000 description 1
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 1
- 210000002784 stomach Anatomy 0.000 description 1
- 239000004575 stone Substances 0.000 description 1
- 239000002966 varnish Substances 0.000 description 1
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 1
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B35/00—Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products
- C04B35/01—Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on oxide ceramics
- C04B35/46—Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on oxide ceramics based on titanium oxides or titanates
- C04B35/462—Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on oxide ceramics based on titanium oxides or titanates based on titanates
- C04B35/465—Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on oxide ceramics based on titanium oxides or titanates based on titanates based on alkaline earth metal titanates
- C04B35/468—Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on oxide ceramics based on titanium oxides or titanates based on titanates based on alkaline earth metal titanates based on barium titanates
- C04B35/4682—Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on oxide ceramics based on titanium oxides or titanates based on titanates based on alkaline earth metal titanates based on barium titanates based on BaTiO3 perovskite phase
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01C—RESISTORS
- H01C7/00—Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material
- H01C7/02—Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material having positive temperature coefficient
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01C—RESISTORS
- H01C17/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors
- H01C17/006—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors adapted for manufacturing resistor chips
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01C—RESISTORS
- H01C17/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors
- H01C17/28—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors adapted for applying terminals
- H01C17/281—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors adapted for applying terminals by thick film techniques
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01C—RESISTORS
- H01C7/00—Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material
- H01C7/02—Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material having positive temperature coefficient
- H01C7/021—Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material having positive temperature coefficient formed as one or more layers or coatings
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B2235/00—Aspects relating to ceramic starting mixtures or sintered ceramic products
- C04B2235/02—Composition of constituents of the starting material or of secondary phases of the final product
- C04B2235/30—Constituents and secondary phases not being of a fibrous nature
- C04B2235/32—Metal oxides, mixed metal oxides, or oxide-forming salts thereof, e.g. carbonates, nitrates, (oxy)hydroxides, chlorides
- C04B2235/3224—Rare earth oxide or oxide forming salts thereof, e.g. scandium oxide
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B2235/00—Aspects relating to ceramic starting mixtures or sintered ceramic products
- C04B2235/60—Aspects relating to the preparation, properties or mechanical treatment of green bodies or pre-forms
- C04B2235/602—Making the green bodies or pre-forms by moulding
- C04B2235/6025—Tape casting, e.g. with a doctor blade
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Structural Engineering (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Thermistors And Varistors (AREA)
Description
200411680 玖、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 、本發明有關一種具有正電阻溫度特性、可用於過電流保 又’皿度!工制、胃S起動及消石兹等之疊層型PTC熱敏電阻 之製造方法。 Μ 【先前技術】 近年來,對電子配件的表面強烈要求密實化,疊層型PTC 熱敏電阻也不例外的要求小型化及低電阻化。作為滿足上 述要求的產品,開發了#層型PTC熱敏電阻。該疊層型PTC 熱敏電阻係在内部電極與半導體陶资層相互疊層所得之陶 堯拓體兩端面上,肖内部電極連接地形成外部電極。藉由 採用此結構,使半導體陶走層和内部電極的厚度薄層化, 可比以彺小型化,由此表面密實化變得容易。此外,通過 調整内部電極間的距離,可決定m體的電阻值。所以, 可防止因陶瓷迷體尺寸不π f 、 寸不冋寺而產生的電阻值波動,從而 可以貫現低電阻化。 對於此種疊層型PTC熱敏電阻,以往之製造方法係以内 邵電極用之導電性膠導引到陶资生片(greensheet)_端的方 式〜對内#电極用的内郡電極導電性膠與半導體陶究層之 陶瓷;生片進行相互最jg &、卜在 、 且曰、疋"告成一體,然後,藉由塗布並 k、、、口成為外部電極的外却啦 、 一 卜P电極用導電性膠,使該燒結體的 >崎面”内#兒極連接而形成疊層型熱敏電阻。 仁疋在内邵電極採用鎳等賤金屬時,由於使内部電極 與半導體陶瓷層疊層並焊姓 1曰卫&結成一體,因此產生熔點低的内 87051 200411680 部電極容易氧化之陶瓷坯體的比電阻增大的問題。因此, 在内部電極採用鎳等賤金屬時,在還原保護氣氛下,可不 氧化内部電極同時燒結内部電極和半導體陶瓷層,然後, 在為使顯示PTC特性之大氣中或氧化保護氣氛中,在比燒 結溫度低的溫度下,進行熱處理後,形成外部電極。 但是,利用上述方法形成的疊層型PTC熱敏電阻,在室 溫下進行1000小時的通電試驗時發現,隨時間的變化室溫 電阻顯著增加。這種電阻隨時間變化的增加導致,例如在 要求低電阻的過電流保護電路中,出現電力消耗增大、發 熱量增加以及過電流保護功能降低的問題。 【發明内容】 鑒於上述問題,本發明之目的係提供在還原氣氛下一體 燒結内部電極和半導體陶瓷層,在比燒結溫度低的溫度下 使該陶瓷坯體再氧化而形成疊層型PTC熱敏電阻,可提高 疊層型PTC熱敏電阻的可靠性,具體而言,在通電試驗時 的室溫電阻具有經時變化穩定性。 為達到上述目的,本發明之一係提供一種疊層型PTC熱 敏電阻之製造方法,係一種使内部電極與具有正電阻溫度 特性的半導體陶瓷層相互疊層所形成之陶瓷坯體上形成外 部電極而形成疊層型PTC熱敏電阻之製造方法,其特徵在 於,具有下列步騾:第1步騾:使作為上述内部電極的内部 電極用導電性膠與作為上述半導體陶瓷層的陶瓷生片相互 疊層,形成疊層體;第2步驟:燒結上述疊層體,形成陶瓷 坯體,在該陶瓷坯體的兩端面上形成上述外部電極;第3步騾 87051 200411680 :對形成有上述外部電極的上述陶瓷坯體在60°C以上200°C 以下之溫度進行熱處理。 藉由採用上述製造方法,能夠所得之疊層型PTC熱敏電 阻的通電試驗時的室溫電阻具有經時變化穩定性。其作用 機制還有待今後進一步研究,但可以認為是對於形成外部 電極的陶瓷坯體,藉由預先實施溫度比外部電極燒結溫度 低的溫度歷程後’顯不P T C特性的晶界釋放南溫燒結及氣 氛燒結時產生的變形,從而能夠使晶界經時變化穩定化。 此處所謂之半導體陶瓷層只要是由具有正電阻溫度特性 的陶瓷構成即可,特別是在含鈦酸鋇系半導體陶瓷時效果 更好。此外,作為内部電極用導電性膠,在含賤金屬粉末 比如含鍊之經時變化率好,但也不局限於此。 此外,本發明之二目的係有關一種疊層型PTC熱敏電阻 之製造方法,其中在該第3步驟中,較好好對形成有上述外 部電極的上述陶瓷坯體進行80°C以上150°C以下的熱處理。 採用上述製造方法所得之疊層型PTC熱敏電阻進行1000 小時以上的通電試驗時,室溫電阻值的經時變化率也可以 穩定在5%以内。 【實施方式】 以下,基於圖1所示的疊層型PTC熱敏電阻的概略剖面圖 說明本發明的疊層型PTC熱敏電阻之製造方法。 1. 第1步驟 首先,使作為内部電極3的内部電極用導電性膠與作為半 導體陶瓷層2之陶瓷生片相互疊層形成疊層體。此處所用的 87051 200411680 陶资生片為使陶t;粉末與純水、有齡合劑混合分散所形 成之漿料狀’然後由此所得之陶瓷漿料形成薄片。至於形 成薄片狀的方法,較好採用刮刀,但亦可適當採用滾塗、 上引法等薄片成料。此外,此處所用的内部電極用導電 性膠最好是在清漆等有機溶劑中混合分散銅等賤金屬粉末 和有機粘合劑後攪拌而成的漿料。 然後’内部電極用導電性膠在陶资生片表面上印刷形成 所需圖形。該印刷較好採用網印,但亦可以適當採用凹版 印刷等其他印刷方法。而且,準備多個印刷有内部電極用 導電性膠的陶Ή片,相互對置地重復#層印刷内部電極 2電t膠。’然後,切斷成所要求的形狀,使内部電極用 ’電性膠引出到疊層體的端面,形成疊層體。 2·第2步驟 ;讀,疊層體燒結形成陶资趣體4,在陶_體4的兩海 面^形成外邵電極5。該步驟包括對第❻驟所得叠層㈣ 步驟和在燒結得到的陶资述體4的兩端 外邵電極5的步驟。首先,在 〆 且赝把的步驟中,在還肩 :生:氣下燒結叠層體,得到陶资拓體。這是因為,如果内 4電極3採用鎳等賤金屬粉支 結時,… 大乳中或氧化性氣氛下燒 、π防止因内邵電極3氧化而使陶資 值增高。 仗丨〗是坯體4的罜溫電阻 此外,在陶瓷坯體4的兩端面上形成 Φ 么—uΑ外#電極5的步驟 甲塗布外邵電極用導電性膠, 竑 /、在所侍陶瓷坯體4的兩 却面引出的内部電極3導通,然後進 ^仃/兒結,形成外部電極 87051 200411680 5。外部電極用之導電性膠是 叙等導電性粉末和枯合劑而成。此外教=銀 成方法,除塗布、燒結外 “亟5的形 ,班τ、,β ▲ 甩極用乏導電性膠的方法外, 遂W衣用直接將陶资兹體4浸在裝 膠的浴槽内、在陶_々兩端面枯附外二=:性 膠後加熱乾燥的方法、以另茲“〗外4甩極用導電性 ... 及猎由在陶瓷坯體4的兩端面_垴 二刷外邵電極用導電性膠、附著後加熱乾燥形成 在用上迷万法形成外部電極5 、 是兼顧該熱處理與陶㈣體的再氧而化要進订熱處理,但最好 此外此處,將精由燒結半導體陶Μ 電性膠的疊層體得到陶资_的步驟和 == 端面上形成外部電極5的步 ::々兩 體之前,也可以在疊層體的兩端面上塗:但在燒結叠層 性膠,在還原性氣氛中_心士皇布外邵電極用導電 汛汛中问時燒結疊層體和外 性膠。此時,在同時燒結叠 導电 需要設置另-再氧化步驟"電極用導電性膠後, 此外,也可以形成多個外部電極5。即,在與從 4的兩端面引出的内部電極3直接連接的部分上,来成:: 二内:電極3所含鎳相同的含鎳的第1外部電極5a,在該二 外的在表:上也可以形成以銀作為主要成分的第2 電極5的導通性以及接合強度。“陶㈣體4和外部 此外,形成另外的外部電極5之方法,也可以在 4的再氧化後,藉由在陶㈣體4的兩端面賤射cr、cu、= 87051 •10- 200411680 此時也需要
Ag、Au及Pt等金屬或其合金,形成外部電極% 另外設置再氧化步驟。 此外,在形成外部電極5之前,切以在陶竞趣·的表 面上,具體而言,在形成外部電極5的區域以外的陶瓷坯體 4的表面上,形成玻璃塗層6作為無機絕緣層等。藉此設= 此玻璃塗層6,可防止在陶资坯體4的表面上形成後面會形 成的鍍膜。 3 ·第3步驟 ;、、:後在60 C以上200 C以下的溫度範圍熱處理該形成外 部電極5的陶瓷坯體4。該熱處理溫度較好在80。(:以上15(rc 以下右在60 C以下進行熱處理,由於熱處理溫度低,不 能充分發揮本發明的效果,一洋細情況見後述。此外,若在 咼於200°C的溫度下進行熱處理,/則内部電極3氧化,相對 地=溫電阻增大,經時變化率增高。該熱處理可在氧化 ^氣氛中(最好是在大氣中)進行,處理時間可在⑼小時。 在S第3步驟後,也可以將得到的陶瓷坯體4浸潰在鍍液 中形成鍍層。作為鍍層,較好依次形成见鍍層7和仏鍍層8, 也可以根據與用於外部電極5的金屬粉末的相容性適宜變 換,除上逑鍍層以外,也可以採用焊錫鍍膜等。 實施例 以下,更具體地說明疊層型PTc熱敏電阻之製造方法。 首先,調製滿足下式要求之BaC〇3、Ti〇2、Sm2〇3,作為 陶瓷生片的陶瓷粉末的起始原料。 (Ba〇.9998Sm〇.0002)Ti03 87051 200411680 然後’在_配好的陶m中加人純水,與氧化錯球同 時混合粉碎!6小時,乾燥後,在麵。㈠· t粗燒結2小 時在这粗燒結粉末中加入有機枯合劑、分散劑及水,與 氧化锆球混合數小時後,得到陶資藥料。用刮刀法將該陶 資漿料形成片狀,乾燥後得到陶毫生片。 」’、、後纟陶瓷生片的主面上藉由絲網印刷塗布Ni電極 膠’形朗需圖形。之後,介由陶€生片,與Ni電極膠對 置地重疊陶资生片,再上下配置未塗布Ni電極膠的保護用 陶资生片並聲接在—起,對所形成的產品切成l 2.0 w U_XT0.9mm的尺寸,形成兹片。藉由對所得之生述 、亍乾式滾磨’得到尖角邵分及棱角部分被磨圓的生链 卜在生拓片的兩端面相互地引出Ni電極膠。與衫r 引㈣Ni電極膠連接地在拓片的兩端面上塗布Ni電極膠y 乾燥後’在H2/N2=3〇/〇的還原氣氛下’在12〇(Γ(:〜135〇。〇,將 链片和Ni電極膠同時燒結2小時,由此得到圖i所示之半導 體陶资層2和内部電極3相互疊層且端面形成犯外部電極化 的陶瓷坯體4。 /後’在陶瓷坯體4表面塗布玻璃_ ’在氧化性氣氛中(大 氣中)’在5GGt〜6GGt的溫度範圍進行燒結,在陶资趣體4 表面上形成玻璃塗層6。另外,該玻璃塗層的燒結兼顧㈣ 述體4的再氧化熱處理。 接著,在形成玻璃塗層6的陶究坯體4的兩端面上塗布在 有機媒介物中分散Ag粉末而得的^導電性膠,乾燥後在 _°c燒結,形成Ag外部電㈣。然後,在形成Ag外部電 87051 -12- 200411680 極5b的陶瓷坯體4上,依表1所示的溫度熱處理100小時之 後,在Ag外部電極5b的表面形成Ni鍍層7,接著形成Sn鍍層 8,製成試樣1〜12的疊層型PTC熱敏電阻器1。此外,對形 成Ag外部電極5b的陶瓷坯體4未進行熱處理且在Ag外部電 極5b的表面形成Ni鍍層7並接著形成Sn鍍層8的疊層型PTC 熱敏電阻1作為參考例。 採用以上試樣1〜12及參考例,就以下進行特性評價,評 價結果示於表1。 室溫電阻的經時變化率 首先,試樣1〜12及參考例的疊層型PTC熱敏電阻1各準備 5個。在預先測定了上述疊層型PTC熱敏電阻1的初期電阻 值後,對各疊層型PTC熱敏電阻器1施加6V的電流,進行98 小時、2 6 3小時、5 0 7小時、10 0 2小時的通電試驗’測定室 溫電阻值。計算各試樣從初期電阻值上升到室溫電阻值的 比例,作為室溫電阻值的經時變化率。 87051 13- 200411680
表1 熱處理溫度 (°C) 經時變化率(%)
*表示本發明範圍之外 從表1中试樣3〜10可以看出,98小時後的室溫電阻的經時 變=率小於5%以下,即使進行從%小時後到1〇〇2小時後的 =電試驗’室溫電阻的經時變化率亦低。特鼓在熱處理 恤度在80 C〜15G°C的試樣4〜7中,98小時後的室溫電阻的經 時變化率小於3%以下,即使是1〇〇2小時後的室溫電阻的經 時交化率也都大為低於5%以下,可大為降低經時變化。另 外,關於本發明範圍外的試樣1、2、^及12,即使是98小 時後:室溫電阻的經時變化率亦都大於5%以上,驗小時 後的室溫電阻的經時變化率都大則q%以上。特別是試样 12,由於熱處理溫度高,疊層型ptc熱敏電阻器丨的内部; 87051 -14- 200411680 ψ 極3被氧化,進而顯示較大的隨時間變化。此外,參考例的 98小時後的室溫電阻的經時變化率也大於20%以上。 本發明的疊層型PTC熱敏電阻之製造方法具有以下步 驟:第1步驟:使作為上述内部電極的内部電極用導電性膠 與作為上述半導體陶瓷層的陶瓷生片相互疊層形成疊層 體;第2步騾:燒結上述疊層體形成陶瓷坯體,在該陶瓷坯 體兩端面上形成上述外部電極;第3步騾:對形成有上述外 部電極的上述陶瓷坯體進行60 °C以上200 °C以下的熱處 理,可使得到的疊層型PTC熱敏電阻的室溫電阻的經時變 化率穩定。 此外,藉由採用本發明之第二目的之疊層型PTC熱敏電 阻之製造方法,可使室溫電阻的經時變化率進一步穩定 化,經時變化率可降到5%以下。 【圖式簡單說明】 圖1顯示本發明之疊層型P T C熱敏電阻的一例概略剖面 圖。 【圖式代表符號說明】 1 疊層型PTC熱敏電阻器 2 半導體陶瓷層 3 内部電極 4 陶瓷坯體 5 外部電極 5a Ni外部電極 5b Ag外部電極 87051 - 15 - 200411680 6 玻璃塗層 7 Ni鍍層 8 Sn鍍層 16- 87051
Claims (1)
- 200411680 拾、申請專利範園: 1. 一種疊層型PTC熱敏電阻之製造方法,係使内部電極與具 有正電阻溫度特性的半導體陶瓷層相互疊層所得之陶瓷 坯體上形成外部電極者,其特徵在於具有如下步驟·· 第1步驟:使作為該内部電極的内部電極用導電性膠與 作為該半導體陶瓷層的陶瓷生片相互疊層而形成疊層 體; 第2步騾:燒結該疊層體形成陶瓷坯體,在該陶瓷坯體 的兩端面上形成該外部電極; 第3步驟:對形成有該外部電極之該陶瓷坯體進行60°C 以上200°C以下的熱處理。 2. 如申請專利範圍第1項之疊層型PTC熱敏電阻之製造方 法,其中在上述第3步騾中,對形成有該外部電極之該陶 瓷坯體進行80°C以上150°C以下的熱處理。 87051
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002236075 | 2002-08-13 | ||
JP2003194486A JP4211510B2 (ja) | 2002-08-13 | 2003-07-09 | 積層型ptcサーミスタの製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW200411680A true TW200411680A (en) | 2004-07-01 |
Family
ID=31719886
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW092121855A TW200411680A (en) | 2002-08-13 | 2003-08-08 | Manufacturing method of laminated PTC (positive temperature coefficient) thermistor |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6984543B2 (zh) |
JP (1) | JP4211510B2 (zh) |
KR (1) | KR100524090B1 (zh) |
CN (1) | CN1260742C (zh) |
TW (1) | TW200411680A (zh) |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE112004000186B4 (de) * | 2003-02-21 | 2009-10-15 | Murata Mfg. Co., Ltd., Nagaokakyo-shi | Mehrschicht-Keramik-Elektronikkomponenten und Verfahren zur Herstellung derselben |
DE102004037588A1 (de) * | 2004-08-03 | 2006-02-23 | Epcos Ag | Elektrisches Bauelement und Verfahren zur Herstellung eines elektrischen Bauelements |
GB2422958B (en) * | 2005-02-04 | 2008-07-09 | Siemens Magnet Technology Ltd | Quench protection circuit for a superconducting magnet |
WO2007034831A1 (ja) | 2005-09-20 | 2007-03-29 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | 積層型正特性サーミスタ |
JP4710096B2 (ja) | 2005-09-20 | 2011-06-29 | 株式会社村田製作所 | 積層型正特性サーミスタ |
DE102006017796A1 (de) * | 2006-04-18 | 2007-10-25 | Epcos Ag | Elektrisches Kaltleiter-Bauelement |
TW200903527A (en) | 2007-03-19 | 2009-01-16 | Murata Manufacturing Co | Laminated positive temperature coefficient thermistor |
DE102007044453A1 (de) * | 2007-09-18 | 2009-03-26 | Epcos Ag | Elektrisches Vielschichtbauelement |
DE102007046607A1 (de) * | 2007-09-28 | 2009-04-02 | Epcos Ag | Elektrisches Vielschichtbauelement sowie Verfahren zur Herstellung eines elektrischen Vielschichtbauelements |
JP5844507B2 (ja) | 2008-03-19 | 2016-01-20 | 日立金属株式会社 | 半導体磁器組成物の製造方法及び半導体磁器組成物を用いたヒータ |
JP5590494B2 (ja) * | 2008-03-27 | 2014-09-17 | 日立金属株式会社 | 半導体磁器組成物−電極接合体の製造方法 |
JP2009277715A (ja) * | 2008-05-12 | 2009-11-26 | Murata Mfg Co Ltd | 積層セラミック電子部品およびその製造方法 |
JP6134507B2 (ja) * | 2011-12-28 | 2017-05-24 | ローム株式会社 | チップ抵抗器およびその製造方法 |
DE112016000618T5 (de) * | 2015-02-06 | 2017-11-02 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Halbleiterelement und Verfahren zur Fertigung desselben |
JP6778535B2 (ja) * | 2016-07-25 | 2020-11-04 | 太陽誘電株式会社 | 積層セラミックコンデンサ |
JP6841611B2 (ja) * | 2016-07-25 | 2021-03-10 | 太陽誘電株式会社 | 積層セラミックコンデンサ |
CN112857605B (zh) * | 2021-01-05 | 2021-12-31 | 电子科技大学 | 温度传感器及其应用和制备温度感知模块的方法 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5331553B2 (zh) | 1973-07-26 | 1978-09-02 | ||
JPH04206603A (ja) | 1990-11-30 | 1992-07-28 | Komatsu Ltd | 正特性サーミスタの製造方法 |
JP3141642B2 (ja) * | 1993-09-06 | 2001-03-05 | 松下電器産業株式会社 | 正特性サーミスタの製造方法 |
JPH11233305A (ja) | 1998-02-16 | 1999-08-27 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Ptcサーミスタ薄膜素子 |
JPH11297508A (ja) | 1998-04-09 | 1999-10-29 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 積層型セラミック電子部品 |
JP4419214B2 (ja) * | 1999-03-08 | 2010-02-24 | パナソニック株式会社 | チップ形ptcサーミスタ |
JP3736602B2 (ja) * | 1999-04-01 | 2006-01-18 | 株式会社村田製作所 | チップ型サーミスタ |
JP4200765B2 (ja) * | 2002-02-28 | 2008-12-24 | 株式会社村田製作所 | 積層型セラミック電子部品の製造方法 |
-
2003
- 2003-07-09 JP JP2003194486A patent/JP4211510B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 2003-08-08 TW TW092121855A patent/TW200411680A/zh unknown
- 2003-08-11 CN CNB031530931A patent/CN1260742C/zh not_active Expired - Lifetime
- 2003-08-11 KR KR10-2003-0055337A patent/KR100524090B1/ko active IP Right Grant
- 2003-08-13 US US10/639,483 patent/US6984543B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20040015681A (ko) | 2004-02-19 |
CN1482628A (zh) | 2004-03-17 |
CN1260742C (zh) | 2006-06-21 |
JP2004134744A (ja) | 2004-04-30 |
US6984543B2 (en) | 2006-01-10 |
JP4211510B2 (ja) | 2009-01-21 |
KR100524090B1 (ko) | 2005-10-27 |
US20040033629A1 (en) | 2004-02-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TW414898B (en) | Electronic device and its production | |
JP2764513B2 (ja) | 耐還元性誘電体磁器組成物 | |
TW200411680A (en) | Manufacturing method of laminated PTC (positive temperature coefficient) thermistor | |
TWI270091B (en) | Ceramic electronic device and the production method | |
TWI294132B (en) | Method of production of multilayer ceramic electronic device | |
JP3636123B2 (ja) | 積層セラミック電子部品の製造方法、および積層セラミック電子部品 | |
JP4936087B2 (ja) | 積層正特性サーミスタ | |
JPH11317322A (ja) | 積層セラミックコンデンサ | |
JP2003168619A (ja) | 積層セラミック電子部品の端子電極用導電性ペースト、積層セラミック電子部品の製造方法、積層セラミック電子部品 | |
TW200529262A (en) | Multilayer ceramic capacitor | |
JP5324390B2 (ja) | 積層電子部品 | |
JP2012049330A (ja) | サーミスタ素子 | |
JP4182009B2 (ja) | 導電性粒子、導電性ペースト、電子部品、積層セラミックコンデンサおよびその製造方法 | |
JP6769337B2 (ja) | 誘電体組成物及び電子部品 | |
JP2007234330A (ja) | 導電体ペーストおよび電子部品 | |
JP3142014B2 (ja) | 積層セラミックコンデンサの製造方法 | |
JP4867948B2 (ja) | 導電性粒子、導電性ペースト、電子部品、積層セラミックコンデンサおよびその製造方法 | |
JP3317246B2 (ja) | 複合セラミック及び複合セラミック素子 | |
JP3498211B2 (ja) | 積層型半導体セラミック電子部品 | |
JP3520075B2 (ja) | 積層セラミック電子部品の製造方法 | |
JPH11345745A (ja) | 電子デバイスおよびその製造方法 | |
JP2002043103A (ja) | 積層型半導体セラミック素子およびその製造方法 | |
WO2007034831A1 (ja) | 積層型正特性サーミスタ | |
JP2002343669A (ja) | 積層セラミック電子部品 | |
JP2006319359A (ja) | 電子部品およびその製造方法 |