KR970076063A - 위상 시프트 마스크, 위상 시프트 마스크용 블랭크 및 위상 시프트 마스크의 제조 방법 - Google Patents
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Abstract
투명 기판(1)상에 제1광투과 영역(Ta)을 덮는 한편, 제2광투과 영역(Tn)을 노출하도록 실리콘 산화막(3)과 실리콘 질화막(5)이 적층되어 형성되어 있다. 제1 및 제2광투과 영역(Ta, Tn)에 끼워지는 차광 영역(S)에는 투명 기판(1)위를 덮도록 차광막(7)이 형성되어 있다.
이에 따라 차광막을 사이에 두고 이웃하는 광투과 영역의 투과광의 위상차가 실질상 180°이며, 동시에 각 투과광의 강도가 동일한 위상 시프트 마스크, 위상 마스크용 블랭크 및 위상 시프트 마스크의 제조 방법을 얻을 수 있다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 제1실시 형태에 있어서의 위상 시프트 마스크의 구성을 개략적으로 도시한 단면도.
Claims (5)
- 노광 광을 투과하는 제1광투과 영역(Ta)과, 상기 제1광투과 영역과 차광 영역(S)을 사이에 두고 인접하는 한편, 제1광투과 영역을 투과하는 노광 광의 위상과 상이한 위상으로 노광 광을 투과하는 제2광투과 영역(Tn)을 갖는 위상 시프트 마스크에 있어서, 주표면을 갖는 투명 기판(1)과, 상기 제1광투과 영역에서 상기 투명 기판의 주표면 위를 덮는 한편, 제2광투과 영역에서 상기 투명 기판의 주표면을 노출하도록 형성된 실리콘 질화막(3)과, 상기 제1광투과 영역에서 상기 투명 기판의 주표면 위를 덮도록 상기 실리콘 질화막과 적층되는 한편, 상기 제2광투과 영역에서 상기 투명 기판의 주표면을 노출하도록 형성된 실리콘 산화막(5)과, 상기 차광 영역에서 상기 투명 기판의 주표면 위를 덮는 차광막(7)을 구비한 것을 특징으로 하는 위상 시프트 마스크.
- 노광 광을 투과하는 제1광투과 영역(Ta)과, 상기 제1광투과 영역과 차광 영역(S)을 사이에 두고 인접하는 한편, 제1광투광 영역을 투과하는 노광 광의 위상과 상이한 위상으로 노광 광을 투과하는 제2광투과 영역(Tn)을 갖는 위상 시프트 마스크에 있어서, 주표면을 갖는 투명 기판(1)과, 상기 제1광투과 영역에서 상기 투명 기판의 주표면 위를 덮는 한편, 상기 광투과 영역에서 상기 투명 기판의 주표면을 노출하도록 형성된 실리콘 질화막(3)과, 상기 제1광투과 영역에서 상기 투명 기판의 주표면 위를 덮도록 상기 실리콘 질화막 위에 형성되는 한편, 상기 제2광투과 영역에서 상기 투명 기판의 주표면 위를 덮는 실리콘 산화막(5)과, 상기 차광 영역에서 상기 투명 기판의 주표면 위를 덮는 차광막(7)을 구비한 것을 특징으로 하는 위상 시프트 마스크.
- 노광 광을 투과하는 제1광투과 영역(Ta)과, 상기 제1광투과 영역과 차광 영역(S)을 사이에 두고 인접하는 한편, 제1광투광 영역을 투과하는 노광 광의 위상과 상이한 위상으로 노광 광을 투과하는 제2광투과 영역(Tn)을 갖는 위상 시프트 마스크용 블랭크에 있어서, 주표면을 갖는 투명 기판(1)과, 상기 투명 기판의 주표면에 직접 접하여 형성된 실리콘 질화막(3)과, 상기 실리콘 질화막에 직접 접하여 형성된 실리콘 산화막(5)과, 상기 실리콘 산화막에 직접 접하여 형성된 차광막(7a, 7b, 7c)을 구비하고, 상기 실리콘 질화막의 막두께와 굴절률을 tn과 nN으로 하고, 상기 실리콘 산화막의 막두께와 굴절률을 to와 no로 하고, 노광 광의 파장을 λ로 했을 때,(tN×nN+to×no)-(tN+to)=λ/2×m (2)(m은 임의의 양의 홀수)의 관계를 만족하는 것을 특징으로 하는 위상 시프트 마스크용 블랭크.
- 노광 광을 투과하는 제1광투과 영역(Ta)과, 상기 제1광투과 영역과 차광 영역(S)을 사이에 두고 인접하는 한편, 제1광투광 영역을 투과하는 노광 광의 위상과 상이한 위상으로 노광 광을 투과하는 제2광투과 영역(Tn)을 갖는 위상 시프트 마스크의 제조 방법에 있어서, 투명 기판(1)의 주표면 위에 실리콘 질화막(3)과 실리콘 산화막(5)을 순차 형성하는 공정과, 상기 차광 영역 내의 상기 실리콘 산화막을 덮는 한편, 상기 제1 및 제2광투과 영역의 상기 실리콘 산화막을 노출하도록 차광막(7)을 형성하는 공정과, 상기 제2광투과 영역의 상기 실리콘 산화막의 표면을 노출시킨 상태에서 상기 실리콘 질화막의 표면이 노출한 때까지 상기 실리콘 산화막의 표면에 등방성 에칭을 실시하는 공정과, 노출된 상기 실리콘 질화막의 표면에 이방성 에칭을 실시하여 상기 실리콘 질화막에 바닥 벽면이 상기 실리콘 질화막으로 이루어지는 홈(3a)을 형성하는 공정와, 상기 홈의 바닥 벽면에서 상기 투명 기판의 표면이 노출할 때까지 상기 홈의 내벽면에 가열한 인산 용액으로 등방성 에칭을 실시하는 공정을 구비한 것을 특징으로 하는 위상 시프트 마스크의 제조 방법.
- 노광 광을 투과하는 제1광투과 영역(Ta)과, 상기 제1광투과 영역과 차광 영역(S)을 사이에 두고 인접하는 한편, 제1광투광 영역을 투과하는 노광 광의 위상과 상이한 위상으로 노광 광을 투과하는 제2광투과 영역(Tn)을 갖는 위상 시프트 마스크의 제조 방법에 있어서, 투명 기판(1)의 주표면 위에 실리콘 질화막(3)을 형성하는 공정과, 상기 제2광투과 영역의 상기 실리콘 질화막의 표면이 노출시킨 상태에서 상기 투명 기판의 표면이 노출할 때까지 상기 실리콘 질화막의 표면에 가열한 인산 용액으로 이방성 에칭을 실시하는 공정과, 상기 제1광투과 영역에서 상기 실리콘 절화막 위를 덮도록, 또한 상기 제1 및 제2광투과 영역에서 상기 투명 기판의 노출된 주표면 위를 덮도록 실리콘 산화막(5)을 형성하는 공정과, 상기 차광 영역에서 상기 실리콘 산화막 위를 덮는 한편, 상기 제1 및 제2광투과 영역에서 상기 실리콘 산화막을 노출시키도록 차광막(7)을 형성하는 공정을 구비한 것을 특징으로 하는 위상 시프트 마스크의 제조 방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019990019568A KR100231493B1 (ko) | 1996-05-15 | 1999-05-29 | 위상 시프트 마스크 |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12005296A JPH09304912A (ja) | 1996-05-15 | 1996-05-15 | 位相シフトマスク、位相シフトマスク用ブランクスおよび位相シフトマスクの製造方法 |
JP96-120052 | 1996-05-15 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019990019568A Division KR100231493B1 (ko) | 1996-05-15 | 1999-05-29 | 위상 시프트 마스크 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR970076063A true KR970076063A (ko) | 1997-12-10 |
KR100230714B1 KR100230714B1 (ko) | 1999-11-15 |
Family
ID=14776707
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019970000586A KR100230714B1 (ko) | 1996-05-15 | 1997-01-11 | 위상 시프트 마스크, 위상 시프트 마스크용 블랭크 및 위상 시프트 마스크의 제조 방법 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5902702A (ko) |
EP (2) | EP0807851B1 (ko) |
JP (1) | JPH09304912A (ko) |
KR (1) | KR100230714B1 (ko) |
DE (2) | DE69606979T2 (ko) |
TW (1) | TW337556B (ko) |
Families Citing this family (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TW365654B (en) | 1997-07-01 | 1999-08-01 | Matsushita Electronics Corp | Electronic device phase shift mask and method using the same |
WO1999023832A1 (en) * | 1997-10-31 | 1999-05-14 | Daewoo Electronics Co., Ltd. | Method for manufacturing thin film actuated mirror array in an optical projection system |
US6045954A (en) * | 1998-06-12 | 2000-04-04 | Industrial Technology Research Institute | Formation of silicon nitride film for a phase shift mask at 193 nm |
KR100278996B1 (ko) * | 1998-12-18 | 2001-02-01 | 김영환 | 반도체장치의 콘택 형성방법 |
KR100322537B1 (ko) | 1999-07-02 | 2002-03-25 | 윤종용 | 블랭크 마스크 및 이를 이용한 위상 반전 마스크 제조방법 |
JP2001201842A (ja) * | 1999-11-09 | 2001-07-27 | Ulvac Seimaku Kk | 位相シフトフォトマスクブランクス及び位相シフトフォトマスク並びに半導体装置の製造方法 |
JP2002009056A (ja) * | 2000-06-22 | 2002-01-11 | Mitsubishi Electric Corp | 微細パターン形成方法およびその方法により製造した装置 |
US6395435B1 (en) | 2000-06-27 | 2002-05-28 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Photo-lithographic mask having total internal reflective surfaces |
US6651313B1 (en) * | 2000-10-06 | 2003-11-25 | International Business Machines Corporation | Method for manufacturing a magnetic head |
US6724796B2 (en) | 2000-12-06 | 2004-04-20 | Applied Optoelectronics, Inc. | Modified distributed bragg reflector (DBR) for vertical cavity surface-emitting laser (VCSEL) resonant wavelength tuning sensitivity control |
US6636544B2 (en) | 2000-12-06 | 2003-10-21 | Applied Optoelectronics, Inc. | Overlapping wavelength-tunable vertical cavity surface-emitting laser (VCSEL) arrays |
WO2002047128A1 (en) * | 2000-12-06 | 2002-06-13 | Applied Optoelectronics, Inc. | Patterned phase shift layers for wavelength-selectable vertical-cavity surface-emitting laser (vcsel) arrays |
US6696307B2 (en) | 2000-12-06 | 2004-02-24 | Applied Optoelectronics, Inc. | Patterned phase shift layers for wavelength-selectable vertical cavity surface-emitting laser (VCSEL) arrays |
US6387787B1 (en) * | 2001-03-02 | 2002-05-14 | Motorola, Inc. | Lithographic template and method of formation and use |
US6649531B2 (en) | 2001-11-26 | 2003-11-18 | International Business Machines Corporation | Process for forming a damascene structure |
EP1857876A1 (en) * | 2006-05-15 | 2007-11-21 | Advanced Mask Technology Center GmbH & Co. KG | Method of forming a phase shift mask |
KR102115564B1 (ko) | 2013-09-24 | 2020-05-27 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시기판 및 이를 포함하는 표시패널 |
JP6716629B2 (ja) * | 2017-05-18 | 2020-07-01 | エスアンドエス テック カンパニー リミテッド | 位相反転ブランクマスク及びその製造方法 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5362591A (en) * | 1989-10-09 | 1994-11-08 | Hitachi Ltd. Et Al. | Mask having a phase shifter and method of manufacturing same |
DE59010548D1 (de) * | 1990-04-09 | 1996-11-28 | Siemens Ag | Phasenmaske für die Projektionsphotolithographie und Verfahren zu deren Herstellung |
JPH0468352A (ja) * | 1990-07-10 | 1992-03-04 | Dainippon Printing Co Ltd | 位相シフト層を有するフォトマスク及びその製造方法 |
JPH04147142A (ja) * | 1990-10-09 | 1992-05-20 | Mitsubishi Electric Corp | フォトマスクおよびその製造方法 |
JP3036085B2 (ja) * | 1990-12-28 | 2000-04-24 | 富士通株式会社 | 光学マスクとその欠陥修正方法 |
JPH04365044A (ja) * | 1991-06-11 | 1992-12-17 | Toppan Printing Co Ltd | 位相シフト用マスクブランクおよび位相シフトマスクの製造方法 |
US5272024A (en) * | 1992-04-08 | 1993-12-21 | International Business Machines Corporation | Mask-structure and process to repair missing or unwanted phase-shifting elements |
JP3228354B2 (ja) * | 1992-09-11 | 2001-11-12 | 凸版印刷株式会社 | 位相シフトマスク及び位相シフトマスクブランク並びに位相シフトマスクブランクの製造方法 |
JP3322284B2 (ja) | 1993-08-31 | 2002-09-09 | 凸版印刷株式会社 | 位相シフトマスク及びその製造方法 |
JPH0792655A (ja) * | 1993-09-28 | 1995-04-07 | Toppan Printing Co Ltd | 光学マスクとマスクブランクおよびそれらの製造方法 |
JPH07159971A (ja) | 1993-12-06 | 1995-06-23 | Toppan Printing Co Ltd | 光学マスクブランクと光学マスクおよびそれらの製造方法 |
-
1996
- 1996-05-15 JP JP12005296A patent/JPH09304912A/ja active Pending
- 1996-10-09 TW TW085112357A patent/TW337556B/zh active
- 1996-10-23 EP EP96117021A patent/EP0807851B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1996-10-23 DE DE69606979T patent/DE69606979T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1996-10-23 DE DE69622438T patent/DE69622438T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1996-10-23 EP EP98118148A patent/EP0922997B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1996-11-12 US US08/745,556 patent/US5902702A/en not_active Expired - Fee Related
-
1997
- 1997-01-11 KR KR1019970000586A patent/KR100230714B1/ko not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5902702A (en) | 1999-05-11 |
EP0807851B1 (en) | 2000-03-08 |
DE69606979D1 (de) | 2000-04-13 |
DE69622438T2 (de) | 2003-02-20 |
EP0807851A1 (en) | 1997-11-19 |
DE69606979T2 (de) | 2000-07-20 |
TW337556B (en) | 1998-08-01 |
KR100230714B1 (ko) | 1999-11-15 |
DE69622438D1 (de) | 2002-08-22 |
EP0922997A1 (en) | 1999-06-16 |
EP0922997B1 (en) | 2002-07-17 |
JPH09304912A (ja) | 1997-11-28 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
AMND | Amendment | ||
E601 | Decision to refuse application | ||
J201 | Request for trial against refusal decision | ||
A107 | Divisional application of patent | ||
B701 | Decision to grant | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
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LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |