KR970053388A - 반도체 장치의 쉘로우 트랜치 아이솔레이션 형성 방법 - Google Patents

반도체 장치의 쉘로우 트랜치 아이솔레이션 형성 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR970053388A
KR970053388A KR1019950050050A KR19950050050A KR970053388A KR 970053388 A KR970053388 A KR 970053388A KR 1019950050050 A KR1019950050050 A KR 1019950050050A KR 19950050050 A KR19950050050 A KR 19950050050A KR 970053388 A KR970053388 A KR 970053388A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
silicon nitride
forming
photoresist pattern
etching
oxide film
Prior art date
Application number
KR1019950050050A
Other languages
English (en)
Inventor
석종욱
김태룡
김종명
임태형
Original Assignee
김광호
삼성전자 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김광호, 삼성전자 주식회사 filed Critical 김광호
Priority to KR1019950050050A priority Critical patent/KR970053388A/ko
Publication of KR970053388A publication Critical patent/KR970053388A/ko

Links

Landscapes

  • Element Separation (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)

Abstract

본 발명은 고집적 반도체 장치에 있어서 토폴로지 완화 및 아이솔레이션 특성을 향상시킬 수 있는 반도체 장치의 쉘로우 트랜치 아이솔레이션 형성 방법에 관한 것으로서, 반도체 기판 상에 패드산화막과 실리콘질화막을 순차적으로 형성하는 단계; 상기 실리콘질화막 상에 포토레지스트 패턴을 형성하고, 이를 식각마스크로 사용하여 상기 실리콘질화막과 패드산화막을 선택적으로 식각하는 단계; 상기 식각마스크를 사용하여 기판에 쉘로우 트랜치를 형성하는 단계; 상기 포토레지스트 패턴을 제거한 후, 상기 결과물 상부에 폴리실리콘을 침적하는 단계; 상기에서 침적된 폴리실리콘을 선택적으로 식각하여 상기 트랜치 측벽에 폴리스페이서를 형성하는 단계; 상기 결과물을 열산화하여 산화막을 성장시키는 단계; 및, 상기 실리콘질화막을 제거하고, 상장된 산화막의 일부를 선택적으로 식각하는 단계를 포함하여 이루어진 것이다.

Description

반도체 장치의 쉘로우 트랜치 아이솔레이션 형성 방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명에 따른 반도체 장치의 쉘로우 트랜치 아이솔레이션 형성 방법을 순차적으로 도시한 공정도.

Claims (4)

  1. 반도체 기판 상에 패드산화막과 실리콘질화막을 순차적으로 형성하는 단계; 상기 실리콘질화막 상에 포토레지스트 패턴을 형성하고, 이를 식각마스크로 사용하여 상기 실리콘질화막과 패드산화막을 선택적으로 식각하는 단계; 상기 식각마스크를 사용하여 기판에 쉘로우 트랜치를 형성하는 단계; 상기 포토레지스트 패턴을 제거한 후, 상기 결과물 상부에 폴리실리콘을 침적하는 단계; 상기에서 침적된 폴리실리콘을 선택적으로 식각하여 상기 트랜치 측벽에 폴리스페이서를 형성하는 단계; 상기 결과물을 열산화하여 산화막을 성장시키는 단계; 상기 실리콘질화막을 제거하고, 상장된 산화막의 일부를 선택적으로 식각하는 단계를 포함하여 이루어진 반도체 장치의 쉘로우 트랜치 아이솔레이션 형성 방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 기판의 식각 깊이가 수백~1000Å인 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 쉘로우 트랜치 아이솔레이션 형성 방법.
  3. 제1항에 있어서, 상기 폴리스페이서는 트랜치 내부의 기판 및 패드산화막 전부와 실리콘질화막 일부 측벽에 형성되도록 한 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 쉘로우 트랜치 아이솔레이션 형성 방법.
  4. 제1항에 있어서, 상기 트렌치는 NF3, CF4, SF6, O2, CHF3등의 가스를 이용한 플라스마 식각에 의해 형성되는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 쉘로우 트랜치 아이솔레이션 형성 방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950050050A 1995-12-14 1995-12-14 반도체 장치의 쉘로우 트랜치 아이솔레이션 형성 방법 KR970053388A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950050050A KR970053388A (ko) 1995-12-14 1995-12-14 반도체 장치의 쉘로우 트랜치 아이솔레이션 형성 방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950050050A KR970053388A (ko) 1995-12-14 1995-12-14 반도체 장치의 쉘로우 트랜치 아이솔레이션 형성 방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR970053388A true KR970053388A (ko) 1997-07-31

Family

ID=66594959

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019950050050A KR970053388A (ko) 1995-12-14 1995-12-14 반도체 장치의 쉘로우 트랜치 아이솔레이션 형성 방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR970053388A (ko)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR970060447A (ko) 반도체 소자의 아이솔레이션 방법
KR950015715A (ko) 반도체 장치의 소자 분리막 형성방법
KR940016682A (ko) 집적회로에서 전기적 분리 구조 및 그 형성방법
KR970053388A (ko) 반도체 장치의 쉘로우 트랜치 아이솔레이션 형성 방법
KR960035829A (ko) 반도체 소자의 콘택홀 형성방법
KR970023975A (ko) 반도체 소자의 트랜치 격리방법
KR890004415A (ko) 반도체장치의 소자 분리방법
KR970052897A (ko) 반도체 소자의 필드 산화막 형성방법
KR970053021A (ko) 반도체 소자의 형성 방법
KR950025954A (ko) 반도체장치의 소자분리방법
KR960019654A (ko) 반도체 소자의 필드산화막 형성방법
KR960026727A (ko) 고주파 반도체 장치의 제조방법
KR960002714A (ko) 반도체소자의 소자분리절연막 형성방법
KR960026610A (ko) 반도체 소자의 필드산화막 형성방법
KR950021401A (ko) 트렌치형 소자분리막 제조방법
KR950021382A (ko) 반도체 소자의 분리막 형성 방법
KR950004489A (ko) 반도체 소자의 격리방법
KR970030800A (ko) 반도체 소자의 비트라인 형성방법
KR970023988A (ko) 반도체장치의 소자격리방법(An isolation method of semiconductor device)
KR960002640A (ko) 반도체 소자 및 그 제조방법
KR970053430A (ko) Sepox법을 이용한 반도체장치의 소자분리방법
KR970053396A (ko) 고집적 반도체 소자의 소자분리 산화막 제조방법
KR960005934A (ko) 반도체 소자의 필드 산화막 형성방법
KR970003802A (ko) 반도체 소자의 필드산화막 형성방법
KR970053443A (ko) 소자격리영역의 형성방법

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Withdrawal due to no request for examination