KR960026610A - 반도체 소자의 필드산화막 형성방법 - Google Patents

반도체 소자의 필드산화막 형성방법 Download PDF

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film
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KR1019940039478A
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황준
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김주용
현대전자산업 주식회사
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  • Local Oxidation Of Silicon (AREA)
  • Element Separation (AREA)

Abstract

본 발명은 반도체 소자의 필드산화막 형성방법에 관한 것으로, 버즈빅의 형성으로 인한 활성영역의 축소를 방지하기 위하여 LOCOS(Local Oxidation of Silicon) 소자분리방법으로 필드산화막을 형성시킨 후 질화막을 식각장벽(Etch barrier)으로 이용하여 상기 필드산화막의 상부를 식각하므로써 단차를 향상시키며 활성영역을 증대시킬 수 있도록 한 반도체 소자의 필드산화막 형성방법 관한 것이다.

Description

반도체 소자의 필드산화막 형성방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제4도는 본 발명에 따른 반도체 소자의 필드산화막 형성방법을 설명하기 위한 소자의 단면도.

Claims (2)

  1. 반도체 소자의 필드산화막 형성방법에 있어서, 실리콘기판상에 패드산화막 및 질화막을 순차적으로 형성한 후 소자분리마스크를 이용하여 필드영역의 질화막 및 패드산화막을 패터닝한 다음 산화공정을 실시하여 필드산화막을 형성시키는 단계와, 상기 단계로부터 상기 질화막을 식각장벽으로 이용하여 상기 필드 산화막의 상부를 식각하는 단계와, 상기 단계로부터 잔류된 질화막 및 패드산화막을 순차적으로 제거시키는 단계와, 상기 단계로부터 식각된 필드산화막의 표면부위까지 상기 실리콘 기판을 식각하여 최종 필드산화막을 형성시키는 단계로 이루어지는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 필드 산화막 형성방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 필드산화막 식각공정은 필드산화막의 양측부에 형성된 버즈빅 부분이 완전히 손실 될때까지 실시되는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 필드 산화막 형성방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019940039478A 1994-12-30 1994-12-30 반도체 소자의 필드산화막 형성방법 KR960026610A (ko)

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