KR970053400A - 반도체 소자 격리형성 방법 - Google Patents
반도체 소자 격리형성 방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR970053400A KR970053400A KR1019950052216A KR19950052216A KR970053400A KR 970053400 A KR970053400 A KR 970053400A KR 1019950052216 A KR1019950052216 A KR 1019950052216A KR 19950052216 A KR19950052216 A KR 19950052216A KR 970053400 A KR970053400 A KR 970053400A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- substrate
- oxide film
- nitride film
- semiconductor device
- field region
- Prior art date
Links
Abstract
본 발명은 반도체 소자 제조방법에 관한 것으로 특히, 공정을 단순화 하고 버즈 비크(Bird's Beak)와 스트레스(Stress)를 줄이는데 적합하도록 한 반도체 소자 격리형성 방법에 관한 것이다.
이를 위한 본 발명의 반도체 소자 격리형성 방법은 기판위에 산화막과 질화막을 형성하는 단계, 상기 기판에 섬 모양의 필드영역을 정의하여 필드영역의 산화막 및 질화막을 제거하고 동시에 상기 기판을 소정 깊이로 식각하는 단계, 상기 산화막 및 질화막을 포함한 기판 전면에 반구형 폴리 실리콘을 형성하는 단계, 상기 반구형 폴리 실리콘을 포함한 기판 전면을 열산화 하여 상기 필드영역에 필드 절연막을 형성하는 단계, 상기 산화막 및 질화막을 제거하는 단계를 포함하여 이루어짐을 특징으로 한다.
따라서, 공정이 간단하고 버즈 비크 및 스트레스를 줄일 수 있다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 종래의 반도체 소자 격리형성 공정단면도.
제2도는 본 발명의 반도체 소자 격리형성 공정단면도.
Claims (1)
- 기판위에 산화막과 질화막을 형성하는 단계, 상기 기판에 섬 모양의 필드영역을 정의하여 필드영역의 산화막 및 질화막을 제거하고 동시에 상기 기판을 소정 깊이로 식각하는 단계, 상기 산화막 및 질화막을 포함한 기판 전면에 반구형 폴리 실리콘을 형성하는 단계, 상기 반구형 폴리 실리콘을 포함한 기판 전면을 열산화 하여 상기 필드영역에 필드 절연막을 형성하는 단계, 상기 산화막 및 질화막을 제거하는 단계를 포함하여 이루어짐을 특징으로 하는 반도체 소자 격리형성 방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019950052216A KR0166835B1 (ko) | 1995-12-19 | 1995-12-19 | 반도체 소자 격리형성 방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019950052216A KR0166835B1 (ko) | 1995-12-19 | 1995-12-19 | 반도체 소자 격리형성 방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR970053400A true KR970053400A (ko) | 1997-07-31 |
KR0166835B1 KR0166835B1 (ko) | 1999-02-01 |
Family
ID=19441560
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019950052216A KR0166835B1 (ko) | 1995-12-19 | 1995-12-19 | 반도체 소자 격리형성 방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR0166835B1 (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11605714B2 (en) | 2018-09-05 | 2023-03-14 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Semiconductor device including insulating layers and method of manufacturing the same |
-
1995
- 1995-12-19 KR KR1019950052216A patent/KR0166835B1/ko not_active IP Right Cessation
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11605714B2 (en) | 2018-09-05 | 2023-03-14 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Semiconductor device including insulating layers and method of manufacturing the same |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR0166835B1 (ko) | 1999-02-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR970030640A (ko) | 반도체 장치의 소자 분리막 형성방법 | |
KR950015715A (ko) | 반도체 장치의 소자 분리막 형성방법 | |
KR940027129A (ko) | 반도체 소자의 필드 산화막 형성 방법 | |
KR950010018A (ko) | 절연재로 채워진 홈에 의해 형성되는 필드 절연영역을 갖는 반도체 몸체를 포함한 반도체 장치 제조방법 | |
KR950021364A (ko) | 반도체 소자분리 방법 | |
KR970053400A (ko) | 반도체 소자 격리형성 방법 | |
KR960026610A (ko) | 반도체 소자의 필드산화막 형성방법 | |
KR950021389A (ko) | 반도체 소자의 필드산화막 형성 방법 | |
KR970052189A (ko) | 반도체 소자의 필드 산화막 형성방법 | |
KR970053457A (ko) | 반도체 소자 분리막 형성 방법 | |
KR960026581A (ko) | 반도체 소자의 필드산화막 형성방법 | |
KR960002714A (ko) | 반도체소자의 소자분리절연막 형성방법 | |
KR960026575A (ko) | 반도체 소자의 소자분리막 형성방법 | |
KR960005935A (ko) | 반도체 소자의 필드 산화막 제조방법 | |
KR970053375A (ko) | 반도체 소자의 필드 산화막 형성 방법 | |
KR920013600A (ko) | 반도체 장치의 플래이너 격리영역 형성방법 | |
KR960002640A (ko) | 반도체 소자 및 그 제조방법 | |
KR950021096A (ko) | 반도체 소자의 콘택홀 형성방법 | |
KR970013199A (ko) | 반도체장치의 소자분리 방법 | |
KR960026549A (ko) | 반도체 장치의 소자분리막 형성 방법 | |
KR950021186A (ko) | 웨이퍼 오염방지 방법 | |
KR970023988A (ko) | 반도체장치의 소자격리방법(An isolation method of semiconductor device) | |
KR950007057A (ko) | 완전매몰 부분산화법에 있어서 새부리가 제거된 실리콘산화막의 형성방법 | |
KR960026557A (ko) | 반도체 소자 및 그 제조방법 | |
KR970053420A (ko) | 반도체장치의 필드산화막 형성방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20060818 Year of fee payment: 9 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |