KR950008707B1 - 고체 상태 촬상기용 온도 트래킹 결함 보정기 - Google Patents

고체 상태 촬상기용 온도 트래킹 결함 보정기 Download PDF

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Abstract

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Description

고체 상태 촬상기용 온도 트래킹 결함 보정기
제1도는 본 발명에 따라 구성되는 고체 상태 촬상기에 대한 온도 트래킹 결함 보정기를 포함한 텔레비젼 카메라를 도시한 블럭도.
제2도는 본 발명의 원리에 따라 구성된 결함 보정기의 다른 실시예를 도시한 블럭도.
제3도는 제1도 및 2도에 도시된 결함 보정기와 결합하여 이용되는 고체 상태 촬상기내의 결함의 위치 및 진폭 레벨을 결정하기 위한 장치를 도시한 블럭도.
제4도는 제2도에 도시된 결함 보정기와 결합하여 이용되는 고체 상태 촬상기내의 결함의 위치 및 진폭 레벨을 결정하기 위한 장치를 도시한 블럭도.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명
12 : 고체 상태 촬상기 16 : 타이밍 및 동기 회로
22 : 증폭기 28 : 메모리
30 : 순차 어드레스 발생기 38 : 온도 보상단
40 : 온도 감지기 53 : A/D 변환기
55 : 어드레스 수정기
본 발명은 결함있는 감광성 소자를 포함한 고체 상태 촬상기(solis-state imager)에 대한 온도 트래킹 결함 보정 장치에 관한 것이다.
종래 화상 픽업관(image pickup tube)과 비교할때, 고체 상태 촬상기는 그의 오랜 수명, 저 전력 소모 및 소형에 의한 가시광선 및 적외선 범위내의 복사 에너지를 검출하기 위해 카메라에서 그 이용이 증가되어 왔다. 고체 상태 촬상기는 배경(scene)으로부터 광선에 응답하기 위한 이상적인 감광성 화상 소자(픽셀)의 배열로 이루어진 영역을 포함한다.
통상적으로, X-Y 어드레스된 MOS 전계효과 트랜지스터형이나 자체 주사된 CTD(전하 전송장치)형과 같이, 텔레비젼 카메라내의 이용에 적당한 고체 상태 촬상기는 200,000개 이상의 픽셀을 구비한다. 고체 상태 촬상기가 제조되는 반도체 기판 물질의 비균질성 및, 제조 공정시에 발생된 불순물 또는 불완전성 때문에, 각 픽셀에 대한 허용가능한 촬상 응답 특성을 갖는 고체 상태 촬상기의 제품 성공률(manufacturing yield)은 촬상기내의 픽셀수가 증가할수록 실질적으로 감소한다. 예를들면, 고체 상태 촬상기에 대한 촬상 응답 특성의 한형태는 암 전류응답(dark current response)형태이다. 반도체 장치는 소정량의 누설 전류를 나타내는 것으로 알려져 있다. 고체 상태 촬상기에 있어서 누설 전류는 광 여자(photo-excitation)의 부재에서도 픽셀에 전하를 축적시키며, 이는 암 전류 응답으로서 공지되어 있다. 고체 상태 촬상기가 텔레비젼 카메라내에 이용될 시에, 각 픽셀의 암 전류(비화상 표시)응답은 그의 화상표시 광응답과 비교할때 비교적 로우로 되어, 텔레비젼 신호가 허용 가능한 신호대 노이즈 비로 발생되게 한다. 그러나, 특성 픽셀에 대한 암 전류 응답이 그의 주변 픽셀의 평균레벨보다 높은 경우, 발생된 텔레비젼 신호내에서 결점이 되는 "흰점"으로서 나타난다. 선택적으로, 픽셀은 촬상기의 제조 공정시에 발생된 불순물 또는 불완전성의 결과로서 텔레비젼 신호의 결점인 "검은 점"을 유발시킬 수 있다. 이와같은 결점때문에, 텔레비젼 카메라에 적당한 많은 픽셀을 구비한 고체 상태 촬상기의 제품 성공률은 매우 작다. 따라서, 각 촬상기는 결함을 갖는 촬상기를 가려내도록 주의 깊게 검사되어야 하며, 비교적 허용가능한 결점을 갖는 촬상기가 적기 때문에 값이 비싸다.
텔레비젼 카메라내의 상기 불완전한 촬상기를 이용하여 이용 가능한 촬상기의 수를 증가시킴으로써 비용을 절감시키는 한가지 방법은 카메라내에 결함 보정기를 포함시키는 것이다. 예를들면, 나구모(Nagumo)의 이름으로 출원된 미합중국 특허 제 4,179,711호에는 CCD(전하 결합 장치)촬상기와 결함 위치 정보가 적개된 프레임 메모리가 동기적으로 클럭되는 카메라가 기술되어 있다. 결함 위치 메모리가 CCD에 의해 공급되는 결함이 있는 픽셀에서의 신호를 나타낼 경우, 앞서 픽셀에서의 신호는 그의 위치가 치환된다. 통상 "치환"이라 불리워지는 이런 형태의 보정은 상세한 배경이나 검사패턴을 관찰할 시에 상기 치환된 신호가 오차가 있는 것으로서 판명되기 때문에 텔레비젼 카메라내에 이용되기에는 일반적으로 바람직하지 않다. 게다가, 결함있는 픽셀을 식별하기 위해 각 픽셀의 어드레스를 저장하는데 대용량의 메모리가 필요하며, 따라서 상기 결함보정기의 사이즈, 비용 및 전력소모가 증가하게 된다.
호프만(Hofmann)이름으로 출원된 미합중국 특허 제 4,200,934호에는 다른 형태의 화상 결함 보정기가 기술되어 있으며, 고체 상태 촬상기의 각 픽셀에 대한 암 전류의 진폭을 기억시키기 위한 프레임 메모리를 포함한다. 촬상기 및 프레임 메모리는 그때 동기적으로 클럭되며, 프레임 메모리내에 기억된 암 전류 진폭은 촬상기의 각 픽셀에 의해 공급된 신호로부터 감산된다. 이러한 것은, 각 저장된 암 전류 진폭이 각 픽셀에 대한 기장높은 변동 신호보다 작으며, 입사 광선에 정확히 응답하기 위해 충분한 신호 영량(헤드룸)제공되는 한, 비화상 암전류 변동에 거의 무관한 화상 표시신호를 발생시킨다. 이러한 시스템은 디스플레이되는 화상내에서 실제로 보정을 알아차릴수 없기 때문에 치환법에 있어서 효과적이다.
암 전류 신호의 진폭은 반도체 재질의 온도의 변화에 따라 변화는 것으로 알려져 있다. 예를들면, CCD촬상기내에서, 암 전류 진폭은 대략 촬상기 온도가 제각기 +8℃ 상승함에 따라 두배로 된다. 따라서, 전술된 감산형 결함 보정에 있어서, 촬상기의 온도는 암 전류 신호가 메모리에 기억될시의 시간과 그의 신호의 연이은 판독 사이에서 변화되어, 부정확한 결함 보정이 된다.
본 발명의 원리에 따르면, 고체 상태 촬상기에 대한 결함보정기내에서, 결함이 있는 픽셀에 연관된 온도 트래킹 결함 보정 신호가 발생된다. 이러한 결함 보정 신호는 대응 결함 픽셀에서의 광 응답 신호와 결합되어, 온도 보상 결함 보정된 광응답 신호를 각 결함이 있는 픽셀에 제공된다.
이하, 첨부된 도면을 참고로 하여 본원 명세서를 더욱 상세히 설명하기로 한다.
제1도의 카메라에서, 광학(10)은, 파상의 화살표로 표시된 광선을, 배경으로부터 고체 상태촬상기(12)의 감광성 촬상 영역상으로 가리키게 한다. X-Y 어드레스된 MOS 촬상기 또는 자체 주된 CTD(전하전송장치)촬상기와 같이, 촬상기(12)는 통상적으로 사용되는 복수개의 고체 상태 촬상장치중의 어느 하나를 구비한다. 기술된 실시예에 있어서, RCA 사로부터의 유용한 SID 504 프레임 전송 CCD 촬상기와 같이, 촬상기(12)는 프레임 전송 CCD(전하 결합 장치)촬상기를 구비한다. 요약하면, 프레임 전송 CCD 촬상기는 선택적으로 도프된 영역 및 기판 절연층에 배치된 다수 전극을 포함한 반도체 기판을 구비하는데, 상기 영역은 배경으로부터 입사 광선에 응답하여 전하 패턴을 발생시키기 위한 감광성 화상 소자(픽셀)의 배열을 포함한 촬상 영역(A 레지스터)과, A 레지스터내에서 발생된 전하 패턴을 기억시키기 위해 입사 광선으로부터 마스크된 전하 전송 영역(B레지스터)과, 발생된 전하 패턴에 대응하는 전기 신호를 판독하기 위한 판독 영역(C레지스터)을 형성하고 있다. 공지된 바와 같은 레벨 시프트 및 증폭단을 포함한 구동기단(14)은, 마스터 발진기(18)로부터의 펄스에 응답하여 타이밍 및 동기(sync) 회로(16)에 의해 발생된 디상 클럭 신호를 레벨 시프트시키고 증폭시켜, 촬상기(12)의 A, B 및 C 레지스터의 전극에 제공한다. CCD 촬상기의 구조 및 동작은 본 기술분야의 당업자에 잘알려져 있으며, 따라서 이 촬상기에 대한 상세한 설명은 불필요하다.
C 레지스터의 출력에서 발생된 전기 신호는 예를 들어 공지되어 상관된 이중 샘플링 회로를 구비한 신호 복원 회로(20)에 촬상기 출력 신호를 공급한다. 신호 복원 회로(20)에서의 신호는 차동 증폭기(12)의 비반적(+)신호 입력단에 공급된다. 아래에 상세히 기술되는 바와 같이, 특정 픽셀이 결함이 있을 경우, 촬상기(12)의 온도에 따라 조정되는 진폭을 갖는 결함 보정 신호는 증폭기(22)의 비반적(+)신호 입력단에서의 전기 신호가 결함있는 픽셀에 대응하는 시간 간격 동안에 증폭기(22)의 반잔(-)신호 입력단에 공급된다. 결함 보정된 신호는 증폭기(22)의 출력에서 발생되어, 신호 처리 회로(24)에 의해 처리되며, 상기 신호 처리 회로(24)는 종래의 텔레비젼 신호를 발생시키기 위한 감마 보정회로, 흑백 밸런스회로 및 동기 신호 삽입회로등을 포함한다. 보정 신호의 진폭이 촬상기 온도에 응답하여 조정되기 때문에, 결함 보정은 매우 정확히 이루어질 수 있다. 더우기, 결함 있는 픽셀에 대한 보정 신호만이 발생될 필요가 있기 때문에, 아래에 명백히 기술되는 바와 같이, 결함 보정기에 요구되는 전력 소모 및 상당량의 회로 소자를 매우 절약할 수 있다.
특히, 본 결함 보정기는 보정될 결함있는 각 픽셀의 위치를 식별하도록 어드레스 정보를 기여한 비휘발성ROM(리드 온리 메모리)을 포함한 결함 위치 메모리(26)를 포함한다.
어드레스 정보는 한 블럭의 비트로 이루어진다. 예로서, 블럭이 18비트일 경우, 제1비트는 결함을 포함한 텔레비젼 필드가 짝수이거나 홀수인가를 나타내고, 다음 8개의 비트는 결함이 위치되는 텔레비젼 라인을 나타내며(8개의 비트는 255라인 까지 충분히 나타내는데, 그것은 NTSC 텔레비젼 시스템내에서 필드당 242 능동 텔레비젼 라인에 충분한), 그리고 최종 9개의 비트는 텔레비젼 라인을 따라 결함의 수평 위치를 나타낸다(9개의 비트는 511위치까치 나타낼수 있는데, 그것은 RCA의 SID504 CCD 촬상기에 의해 제공되는 바와 같이 라인당 403 픽셀에 충분함).
결함 진폭 메모리(28)는 또한 보정될 각 결함있는 픽셀에 대한 결함 진폭 레벨에 관련한 한 블럭의 정보를 기억한 비휘발성 ROM을 포함한다. 예를들면, 보정될 결함이 흰 점인 결함일 경우, 이웃한 평균 픽셀 암 전류보다 큰(즉, 기준 레벨을 초과한)결함 있는 픽셀에 대한 암 전류부의 진폭 레벨을 결함있는 픽셀에 대한 결함 보정 신호로서 한 블럭의 위치(6비트면 충분함)로 메모리(28)내에 기억된다.
순차 어드레스 발생기(30)는 결함 위치 메모리(26) 및 결함 진폭 메모리(28)에 어드레싱 신호를 제공한다. 어드레스 신호로 표시된 각 어드레스에 대하여, 18비트 결함 어드레스는 결함 위치 메모리(26)에서 판독되며, 버퍼 레지스터(32)내에 기억되며, 그에 대응하는 6비트 결함 보정 신호는 결함 진폭 메모리(28)에서 판독되어, 버퍼 레지스터(34)내에 기억된다. 카메라가 턴온 될때마다, 타이밍 및 동기회로(16)는 프레임율(frame-rate)신호를 순차 어드레스 발생기(30)에 제공되며, 상기 발생기(30)는 메모리(26 및 28)에 어드레싱 신호를 제공하게 하여, 보정될 텔레비젼 프레임의 제 1픽셀 결함에 관련된 제1블럭의 정보를 판독한다. 버퍼 레지스터(34)내에 기억된 디지탈 결함 보정 신호는 디지탈-아날로그(D/A) 변환기(36)에 의해 그에 대응하는 아나로그 결함 보정신호로 변환된다. 전술된 바와 같이, 암 전류 레벨은 온도에 따라 변한다. 따라서, 온도 보상단(38)은, 촬상기(12)와 열 접촉된 온도 감지기(40)에 의해 발생된 온도 표시 신호에 따라 D/A 변환기(36)에 의해 발생된 결함 보정 신호의 진폭 레벨을 수정한다. 온도 보상단(38)은 예를 들어 이득 제어 신호로서 온도 신호를 이용하는 이득 제어 증폭기를 구비한다.
어드레스 비교기(42)는 한 입력 포트에서 버퍼 레지스터(32)로부터 결함 어드레스를 수신하며, 다른 입력 포트에서, 일반적으로 촬상기(12)로부터 판독되는 현재의 픽셀의 어드레스를 표시하는 현재 픽셀 어드레스 발생기(44)로부터 어드레싱 신호를 수신한다. 텔레비젼 회로의 숙련자에게는 잘 알려진 바와 같이, 현재 픽셀 어드레스 발생기(44)는 현재 픽셀 어드레스를 발생시키기 위해 타이밍 및 동기 회로(16)에 의해 제공된 F.L 및 P 신호에 응답하는 필드율(F), 라인을(L) 및 픽셀율(P) 카운터를 포함한다. 현재 픽셀 어드레스가 버퍼 레지스터(32) 내에 기억된 결함 어드레스와 일치할 시에, 비교기(42)의 출력에서 플래그 신호가 발생된다. 플래그 신호에 응답하여, 결함있는 제 1픽셀로부터 인출된 신호가 증폭기(22)의 비반전(+) 입력단에 결합되고 있는 시간 간격 동안에 게이트(46)는 온도 트래킹 결함 보정 신호를 증폭기(22)의 반전(-) 입력단에 결합되게 한다. 증폭기(22)는 결함있는 제1픽셀로부터 인출되어 촬상기에 공급된 신호에서 결함 보정 신호를 감산하여, 결함있는 픽셀에 대한 화상 표시 광 응답에만 거의 대응하는, 카메라 신호 처리 회로(24)에 공급되는 신호를 발생시킨다. 신호 처리 회로(24)는 또한 입력에서 결함 보정 신호를 다시 샘플링하기 위한 샘플링 회로를 포함하여, 공지된 바와 같이 게이트(46)에 의해 유발된 픽셀 에지에서의 스위칭 신호 전이를 제거한다. 종래 픽셀에 대한 결함 보정을 종료한 후에 플래그 신호는 또한 순차 어드레스 발생기(30)에 인가되고, 상기 발생기(30)가 신규 어드레싱 신호를 메모리(26 및 28)에 공급함으로써, 다음 결함 있는 픽셀에 대한 다음 결함 어드레스 및 결함 보정 신호를 제작기 버퍼(32 및 34)내에 적재되게 한다. 결함 보정 장치의 구조에 따라, 전술된 동작이 적절히 타이밍 되도록 제작기 지연장치(47 및 49)를 통해 게이트(46) 및 순차 어드레스 발생기(30)로 플래그 신호의 인가를 지연시킬 필요가 있다.
과다한(결함있는)암 전류 레벨을 갖는 촬상기의 픽셀의 다른 픽셀들은 제1도의 장치를 이용하여 보정할 수 있지만, 서로 다른 온도 대 진폭 특성을 나타내는 것을 발명자에 의해 주지된다. 상기 서로 다른 온도 특성은 예를들어 촬상기 반도체 재질내에서 결점이 위치되는 깊이의 차에서 유발된다. 더욱이, A 레지스터내에서 발생되는 암 전류 결함의 진폭은 온도 변화 특성을 갖지만, B 레지스터에서 발생된 신호 결함 진폭은 거의 온도에 무관하다는 것이 발명자에 의해 주지된다. 이런 상황하에, 제1도의 온도 보상단(38)은 매우 복잡하며, 특히 광범위한 온도 범위상에서 결함있는 모든 픽셀에 대한 정확한 온도 트래킹을 달성하기가 어렵다. 따라서, 본 발명의 다른 특징에 따라,(제2도에 도시된)결함 진폭 메모리(28)는 각 결함 픽셀에 대한 다수의 결함 보정 신호를 기억하고 있다. 소정의 결함있는 픽셀에 대한 각 기억된 결함 보정 신호는 다양한 촬상기 온도에서의 암 전류에 대한 진폭 레벨을 나타낸다. 카메라 작동시에, 메모리(28)의 어드레싱은 촬상기 온도 신호에 따라 수정되어, 현재의 온도에 따라 결함있는 픽셀에 대한 암 전류의 진폭에 매우 밀접하게 부합한 결함 보정 신호를 판독한다.
제2도는 전술된 본 발명의 다른 실시예를 기술하는데, 제1도에 관해 기술된 소자의 구성 및 동작면에서 유사한 소자는 동일한 참조 번호로 표시된다. 제2도에서, 온도 감지기(40)로 부터의 온도 신호는 A/D변환기(53)에 의해 디지탈화 되어, 어드레스 수정기(55)의 한 입력단에 인가된다. 순차 어드레스 발생기(30)로 부터의 어드레싱 신호는 어드레스 수정기(55)의 다른 입력단에 인가된다. 어드레스 수정기(55)는 입력단에서 상기 디지탈 신호를 조합하여, 출력에서 결함 진폭 메모리(28)의 A 입력단에 인가되는 단일 어드레스 신호를 발생시키는데, 순차 어드레스 발생기(30)로 부터의 어드레싱 신호는 소정의 결함있는 픽셀을 선택하기 위해 특정 그룹의 블럭의 메모리 위치를 식별하며, A/D 변환기(53)로 부터의 신호는 촬상기(12)의 현재의 온도에서의 결함 보정 신호 진폭과 매우 밀접한 결함 보정 신호를 기억한 상기 식별된 그룹의 블럭내의 특정 블럭을 식별한다. 따라서, 결함 진폭 메모리(28)는 출력단에서 촬상기의 온도 변화를 트래킹하는 결함 보정 신호를 제공하여 광범위한 온도상에서 정확한 결함 보정을 행한다.
카메라를 조립하기에 앞서, 즉 카메라 제조시에 결함 위치 메모리(26) 및 결함 진폭 메모리(28)에는 결함 있는 픽셀에 대한 결함 어드레스 및 결함 정보가 적재되어야 한다. 특히, 제3도에서, 제1 및 2도에 관해 기술된 소자의 구성 및 동작과 유사한 소자는 동일 참조 번호로 표시되며, 결함 어드레스 및 결함 진폭 정보를 제1도의 실시예의 메모리(26 및 28)내에 적재하기 위한 장치가 기술된다. 첫째로, 제1 및 2도의 결함 보정기와 결합하여 이용하는데에 적당한 결함을 갖는, 촬상기는 예를들어 상기 결함이 흰 점일 경우에만 이용되는데, 상기 결함은 신호 용량(헤드룸)이 각각 결함 있는 픽셀에 대한 화상 표시 광 응답을 정확히 발생시키는데에 적당한 정도로, 매우 작다. 마스크(51)가 촬상기(12)의 감광성 A 레지스터 앞에 위치되어, 감광성 픽셀에 도달하는 모든 광선을 거의 차단하므로써, 흰 점과 같은 암 전류 결함을 오퍼레이터가 모니터(50)상에서 관찰할 수 있게 한다. 신호 처리 회로(24)로 부터의 비디오 신호는 조합기(48)를 통해 상기 신호가 재생되는 모니터(50)에 인가된다. 커서의 위치가 모니터(50)상에서 결함있는 픽셀과 위치 조정될때까지 커서 및 어드레스 발생기(52)에 의해 발생된 커서의 위치를 조정하는 동안 오퍼레이터는 모니터(50)를 관찰한다. 일단 위치 조정되면 오퍼레이터는 커서 및 어드레스 발생기(52)에 의해 식별된 바와 같은, 결함 있는 픽셀에 대한 18비트 어드레스를 메모리(26)의 ROM 내로 적재시키고, 결함 보정 신호 발생기(56)에 의해 발생된 6비트 디지탈 보정 신호를 메모리(28)의 ROM 내로 적재시키는 스위치(54)를 작동 정지시킨다. 이러한 처리는 각각의 결함을 보정하기 위해 결함 어드레스 및 보정 신호가 제작기 메모리(26 및 28)내에 순차적으로 기억될때까지 반복된다.
특히, 커서 및 어드레스 발생기(52)는 F, L 및 P 신호에 응답하여 커서 신호를 발생시키는 카운터들을 포함하며, 상기 커서 신호는 상기 조합기(48)를 통해서 상기 촬상기에서 발생된 비디오 신호에 부가된다.
게다가, 동기에 커서 및 어드레스 발생기(52)는 결함 위치 메모리(26)의 데이타 입력단(D) 및 어드레스 비교기(42)에 인가되는 현재의 커서 위치를 나타내는 18비트 어드레스를 발생시킨다. 오퍼레이터가 커서 및 어드레스 발생기(52)와 관련된 수평(H) 및 수직(V) 제어를 조정하여, 보정될 제1결점과 일치하도록 커서를 위치시킨 후에, 메모리(26)에 공급된 18비트 커서 어드레스는 결함있는 픽셀의 18비트 어드레스에 대응한다. 더욱기, 비교기(42)는 어드레스가 일치할때마다 플래그 신호를 발생시키기 위해 어드레스 발생기(44)로부터의 현재 픽셀 어드레스와 커서 어드레스 신호를 비교한다. 플래그 신호는 결함있는 픽셀의 암 전류 레벨을 샘플링하기 위한 샘플 및 홀드회로(58)에 인가된다. 샘플된 레벨은 차동 증폭기(60)의 비반전(+) 입력단에 인가된다.
저역 통과 필터(62)는 결함있는 픽셀에 선행하는 인접한 픽셀의 평균 암 전류를 나타내는 상기 필터의 출력 신호를 발생시키기 위해 비교적 큰 사상수(예를들어, 30픽셀)를 갖는다. 또한 플래그 신호에 응답하는 샘플 및 홀드 회로(64)는 저역 통과 필터(62)의 출력을 샘플하여, 기준 레벨으로서의 평균 암 전류 필터(62)의 출력을 샘플하여, 기준 레벨으로서의 평균 암 전류 신호를 증폭기(60)의 반전(-) 입력단에 인가한다. 증폭기(60)의 출력에서 발생된 차 신호는 결함 보정 신호에 대응하며, 결함있는 픽셀에 대한 암 전류가 그에 인접한 픽셀의 평균 암 전류에서 편향되는 것을 의미한다. 결함 보정 신호는 다음에 A/D 변환기(66)에 의해, 메모리(28)의 D입력에 인가되는 6비트의 디지탈 신호로 디지탈화 된다. 따라서, 오퍼레이터 보정될 제1결함과 일치하도록 커서를 세트시킨 후에, 지금까지 기술된 제3도의 장치의 부품은 보정될 제1결함에 대한 결함어드레스 및 결함 보정 신호를 메모리(26 및 28)의 D입력에 공급한다.
순차 어드레스 발생기(30)는, 제1결함에 대한 18비트 픽셀 어드레스 및 6비트 디지탈 결함 보정 신호를 메모리(26 및 28)내의 제1블럭의 메모리 위치내로 전송하기 위한 어드레싱 신호를 메모리(26 및 28)의 어드레스(A) 입력에 공급한다. 오퍼레이터는 다음에 적재(load) 펄스를 발생시키기 위한 소트(shot)(68)를 활성화 시키는 스위치(54)를 작동시키는데, 상기 펄스는 순차 어드레스 발생기(30)에 의해 어드레스 되는 메모리(26 및 28)내의 제1블럭 위치내로 결함 어드레스 및 디지탈 보정 신호를 적재시킨다. 메모리(26 및 28)에 대한 적재를 종료한 후에 지연 장치(70)는 어드레싱 신호를 증대시키기 위해 순차 어드레스 발생기(30)에 적재 신호를 인가시키고, 그 결과 신규 어드레싱 신호가 보정될 다음 결함에 대한 다음 블럭 정보의 어드레스를 나타내는 메모리(26 및 28)에 인가된다. 결함 어드레스 및 조정 정보가 보정될 각 결함에 대한 메모리(26 및 28)내에 기억될 때까지 오퍼레이터는 상기 과정을 반복한다.
제4도는 본 발명의 제3도의 실시예에 따라, 보정될 각 픽셀 결함에 대한 다수의 결함 진폭을 나타내는 신호들을 결함진폭 메모리(28)에 적재시키기 위한 장치를 도시한 것이다. 제2 및 3도에 관해 기술된 소자의 구성 및 동작과 유사한 소자는 동일한 참조 번호로 기술된다. 첫째로, 촬상기(12) 및 그에 관련된 마스크(51)는 (도시되지 않은 )온도 제어실내에 위치되며, 촬상기(12)는 결함 보정기의 소정의 동작범위내의 소정의 온도, 예를들어 0℃ 내지 50℃ 온도 범위의 0℃로 주어진다. 오퍼레이터는 다음에 커서가 보정될 제1결함과 위치 조정되도록 커서 및 어드레스 발생기(52)를 조정하며, 또한, 어드레스 수정기(55)의 출력에서 제공된 어드레스가 촬상기(12)의 온도가 0℃인 경우에 제 3도의 실시예내의 결함있는 제1픽셀에 대한 상기 수정기(55)가 제공하는 어드레스에 대응할때까지, 상기 어드레싱 신호를 어드레스 수정기(55)에 공급하는 제어단(72)을 조정한다. 메모리(26 및 28)에는 다음에 제3도에 관해 전술된 바와 같은 방식으로 각 결함있는 픽셀에 대한 결함 위치 및 보정 신호가 적재된다. 적재가 종료되었을 때, 오퍼레이터는 온도 제어실을 예를들어 2℃로 재조정하고, 또한 제어단(72)을 재조정함으로써 수정기(55)에 의해 제공된 어드레스는 촬상기(12)의 온도가 2℃일 경우에 제3도의 실시예내의 결함있는 제1픽셀에 대해 수정기(55)가 제공되는 어드레스에 대응한다. 메모리(28)에는 다음에 2℃온도에 대응하는 결함 보정 신호가 적재된다. 상기 과정은 각 결함있는 픽셀에 대해 25개의 결함 진폭이 기억될때까지 반복된다. 즉 전체 50℃의 온도 범위에서 각 2℃마다 하나의 상기 진폭이 기억된다. 또 다른 실시예에 있어서, 결함 위치 메모리(26)에 즉 0℃에서의 위치 정보가 적재된 후에 커서 및 어드레스 발생기(52)는 메모리(28)에 적재되는 픽셀 어드레스가 자동적으로 발생될 수 있도록 위치 메모리(26)로 대응될 수 있다.

Claims (1)

  1. 감광성 소자의 배열을 포함하여, 이 감광성 소자의 배열에 대응하며 온도에 종속하는 진폭 레벨을 갖는 비화상 표시 신호 성분을 포함하는 화상 표시 신호를 제공하기 위한 고체 상태 촬상 수단(12), 상기 고체 상태 촬상 수단의 현재 온도를 표시하는 온도 신호를 제공하기 위한 수단(40), 상기 온도 신호에 응답하여, 상기 감광성 소자의 배열에 대응하는 다수의 온도 종속 보정 신호를 순차적으로 제공하기 위한 수단(28, 30, 53, 55) 및 상기 화상 표시 신호의 종속 비화상 표시 신호 성분을 실질적으로 제거하도록 상기 화상 표시 신호와 상기 각각의 보정 신호 신호를 조합하기 위한 수단(22)을 구비한 촬상 장치에 있어서, 상기 다수의 온도 종속 보정 신호를 순차적으로 제공하기 위한 수단은, 다양한 각각의 온도에서 상기 비화성 표시 신호 성분 각각의 진폭 레벨에 대응하는 진폭 레벨을 갖는, 상기 감광성 소자 배열 각각에 대한 다수의 보정 신호를 디지탈 형태로 소정의 어드레스 가능한 위치에 기억시키기 위한 메모리 수단(28), 상기 촬상 수단에 의한 상기 비화성 표시 성분의 발생과 상기 온도 신호에 응답하여 상기 보정 신호를 판독하도록 상기 메모리 수단을 어드레싱시키기 위한 어드레싱 수단(30, 53, 55)을 구비하는 것을 특징으로 하는 촬상 장치.
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