KR940026967A - 단일 비트 라인을 통해서 판독 데이타 비트를 전파하기 위한 비동기 정적 랜덤 억세스 메모리 장치 - Google Patents

단일 비트 라인을 통해서 판독 데이타 비트를 전파하기 위한 비동기 정적 랜덤 억세스 메모리 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR940026967A
KR940026967A KR1019940010605A KR19940010605A KR940026967A KR 940026967 A KR940026967 A KR 940026967A KR 1019940010605 A KR1019940010605 A KR 1019940010605A KR 19940010605 A KR19940010605 A KR 19940010605A KR 940026967 A KR940026967 A KR 940026967A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
bit line
pair
memory
random access
bit
Prior art date
Application number
KR1019940010605A
Other languages
English (en)
Other versions
KR0132642B1 (ko
Inventor
야스노리 오끼무라
Original Assignee
세끼모또 타다히로
닛본덴기 가부시끼가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 세끼모또 타다히로, 닛본덴기 가부시끼가이샤 filed Critical 세끼모또 타다히로
Publication of KR940026967A publication Critical patent/KR940026967A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR0132642B1 publication Critical patent/KR0132642B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/41Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
    • G11C11/412Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger using field-effect transistors only
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/41Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
    • G11C11/413Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction
    • G11C11/417Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/419Read-write [R-W] circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C8/00Arrangements for selecting an address in a digital store
    • G11C8/16Multiple access memory array, e.g. addressing one storage element via at least two independent addressing line groups

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)

Abstract

비동기 정적 랜덤 억세스 메모리 장치는 한 쌍의 메모리 노드들(N11/N12) 간의 전위차의 형성으로 메모리 셀의 플립플롭 회로내에 데이타 비트를 기입하기 위한 메모리 셀들(M11 내지 Mml)의 열과 연관된 비트 라인 쌍(BL1a/BL1b) 및 높거나 낮은 전위 레벨의 형성으로 플립플롭으로부터 데이타 비트를 판독하기 위한 메모리 셀들의 열과 또한 연관된 신호 비트 라인(BL1c)을 갖고, 방전 회로(Qn15)는 단일 비트 라인상의 높거나 낮은 전압 레벨을 발생 시키기 위한 메모리 노드중의 하나의 노드에 의해 게이트되고 ; 결과적으로, 비트 라인들의 총수를 감소하고, 플립플롭 회로는 작은 양의 전류로 구동될 수 있다.

Description

단일 비트 라인을 통해서 판독 데이타 비트를 전파하기 위한 비동기 정적 랜덤 억세스 메모리 장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명에 따른 비동기 정적 랜덤 억세스 메모리 장치의 구성을 도시한 블럭도.

Claims (4)

  1. a)판독 동작에서 선택적으로 활성화된 복수의 제1워드 라인들(WL11 내지 WL1m) ; b)기입 동작에서 선택적으로 활성화된 복수의 제2워드 라인들(WL21 내지 WL2m) ; c)상기 판독 동작과 상기 기입 동작에서 데이타 비트를 전파하기 위한 비트 라인 시스템; d)상기 데이타 비트 상에 상기 판독 동작과 상기 기입 동작을 위한 상기 복수의 제1워드 라인들과 상기 복수의 제2워드 라인들에 선택적으로 연관된 복수의 메모리 셀들(M11 내지 Mmn) ; 및 e) 상기 비트 라인 시스템으로 전류를 공급하기 위해 전압 레벨의 제1소스(Vcc)와 상기 비트 라인 시스템간에 결합된 충전 회로(22)를 포함하는, 반도체 칩(20)상에 제조된 비동기 정적 랜덤 억세스 메모리 장치에 있어서, 상기 비트 라인 시스템은 c-1) 복수의 제1비트 라인들(BL1a 내지 BLna), c-2)전위차의 형성으로 상기 기입 동작에서 상기 데이타 비트를 전파하는 복수의 비트 라인 쌍들을 형성하기 위한 상기 복수의 제1비트 라인들과 각각 쌍이된 복수의 제2비트 라인들(BL1b 내지 BLnb) 및 c-3)복수의 제3비트 라인들중의 하나가 전위 레벨의 형성으로 상기 판독 동작에서 상기 데이타 비트를 전파하는 것으로서, 복수의 비트 라인 세트들을 형성하기 위한 상기 복수의 비트 라인 쌍들과 각각 연관된 복수의 제3비트 라인들(BL1c 내지 BLnc)을 포함하며, 각각의 상기 복수의 메모리 셀들은 d-1) 상기 데이타 비트를 표시하는 상기 전위차를 저장하기 위한 한 쌍의 메모리 노드들(N11/N12)을 갖는 메모리 회로(R11/R12/Qn11/Qn12), d-2) 상기 메모리 노드 쌍과 상기 비트 라인 쌍사이에 결합되고, 상기 복수의 제2워드 라인들 중의 하나에 의해 게이트되는 한쌍의 제1스위칭 트랜지스터들(Qn13/Q14), d-3) 상기 복수의 제3비트 라인들중의 하나의 라인상의 전위 레벨을 변화시키기 위해 상기 메모리 노드 쌍중의 한 노드에서의 전압레벨에 응답하는 변환 회로(Qn15), d-4) 상기 복수의 제3비트 라인들중의 상기 하나와 상기 변환 회로간에 결합되고, 상기 복수의 제1워드 라인중 한 라인에 의해 게이트되어, 상기 복수의 제3비트 라인들중의 상기 하나상의 상기 전위 레벨을 변화시키기 위해 상기 변환회로를 인에이블 시키는 제2스위칭 트랜지스터(Qn16), 및 d-5) 상기 변환 회로로 인해 기생 캐패시턴스를 소거하기 위해 상기 메모리 노드들의 다른 쌍과 결합된 용량성 소자(CP1)를 포함하는 것을 특징으로 하는 비동기 정적 랜덤 억세스 메모리 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 메모리 회로가 플립플롭 회로(R11/R12/Qn11/Qn12)에 의해 실현되는 것을 특징으로 하는 비동기 정적 랜덤 억세스 메모리 장치.
  3. 제2항에 있어서, 상기 플립플롭 회로가 로드 소자(R11), 상기 메모리 노드 쌍중의 하나의 노드(N11) 및 서로 전압 레벨이 다른 상기 제1전압 레벨 소스와 제2전압 레벨 소스 사이에 결합된 제3스위칭 트랜지스터(Qn11)의 제1직렬조합, 및 로드 소자(R12), 상기 메모리 노드 쌍중의 하나의 노드(N12) 및 상기 제1전압 레벨 소스와 상기 제2전압 레벨 소스 사이에 결합된 제4스위칭 트랜지스터(Qn12)의 제2직렬 조합을 포함하고, 상기 제3과 제4스위칭 트랜지스터들(Qn11/Qn12)이 상기 메모리 노드 쌍중의 하나의 노드(N11)와 상기 메모리 노드 쌍중의 상기 다른 노드(N12)에 의해 게이트되는 것을 특징으로 하는 비동기 정적 랜덤 억세스 메모리 장치.
  4. 제3항에 있어서, 상기 충전 회로(22)가 상기 제1전압 레벨 소스와 상기 복수의 비트 라인 세트들간에 결합된 복수의 로드 트랜지스터 세트들(Qp17/Qp18/Qp19)를 포함하는 것을 특징으로 하는 비동기 정적램덤 억세스 메모리 장치.
    ※ 참고사항: 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019940010605A 1993-05-17 1994-05-16 단일 비트 라인을 통해서 판독 데이터 비트를 전파하기 위한 비동기 정적 랜덤 억세스 메모리 장치 KR0132642B1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5113558A JP2885607B2 (ja) 1993-05-17 1993-05-17 半導体メモリ
JP93-113558 1993-05-17

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR940026967A true KR940026967A (ko) 1994-12-10
KR0132642B1 KR0132642B1 (ko) 1998-04-16

Family

ID=14615335

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019940010605A KR0132642B1 (ko) 1993-05-17 1994-05-16 단일 비트 라인을 통해서 판독 데이터 비트를 전파하기 위한 비동기 정적 랜덤 억세스 메모리 장치

Country Status (3)

Country Link
US (1) US5414657A (ko)
JP (1) JP2885607B2 (ko)
KR (1) KR0132642B1 (ko)

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08129891A (ja) * 1994-10-28 1996-05-21 Sony Corp メモリセル回路
US5995433A (en) * 1998-05-22 1999-11-30 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Three-transistor type DRAM with a refresh circuit
US6714467B2 (en) * 2002-03-19 2004-03-30 Broadcom Corporation Block redundancy implementation in heirarchical RAM's
US6646954B2 (en) * 2001-02-02 2003-11-11 Broadcom Corporation Synchronous controlled, self-timed local SRAM block
EP1750276B1 (en) * 2005-07-29 2017-03-08 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
JP2007059044A (ja) * 2005-07-29 2007-03-08 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置
JP4965844B2 (ja) * 2005-10-20 2012-07-04 株式会社東芝 半導体メモリ装置
WO2008032549A1 (fr) * 2006-09-13 2008-03-20 Nec Corporation Dispositif de stockage semiconducteur
JP4925953B2 (ja) * 2007-07-19 2012-05-09 日本電信電話株式会社 記憶回路
JP4926086B2 (ja) * 2008-01-29 2012-05-09 日本電信電話株式会社 Sram回路
US9496026B1 (en) * 2015-04-29 2016-11-15 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Memory device with stable writing and/or reading operation
CN110729008A (zh) * 2019-10-11 2020-01-24 中国电子科技集团公司第五十八研究所 一种异步sram控制器及调试方法

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4532609A (en) * 1982-06-15 1985-07-30 Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha Semiconductor memory device
JPS61246995A (ja) * 1985-04-24 1986-11-04 Fujitsu Ltd 不揮発性ランダムアクセスメモリ装置
JPH0734311B2 (ja) * 1986-01-21 1995-04-12 株式会社東芝 メモリセル
JPH01112588A (ja) * 1987-10-26 1989-05-01 Nec Ic Microcomput Syst Ltd Mos型メモリ回路
JPH04205787A (ja) * 1990-11-29 1992-07-27 Seiko Epson Corp マルチポートメモリ

Also Published As

Publication number Publication date
US5414657A (en) 1995-05-09
JP2885607B2 (ja) 1999-04-26
KR0132642B1 (ko) 1998-04-16
JPH06325573A (ja) 1994-11-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5040146A (en) Static memory cell
KR930004625B1 (ko) 감지회로
KR100392687B1 (ko) 반도체 기억장치
KR970023375A (ko) 데이터 유지회로
KR100743002B1 (ko) 반도체 장치
KR940026967A (ko) 단일 비트 라인을 통해서 판독 데이타 비트를 전파하기 위한 비동기 정적 랜덤 억세스 메모리 장치
US6175533B1 (en) Multi-port memory cell with preset
US4338679A (en) Row driver circuit for semiconductor memory
KR970000331B1 (ko) 반도체 기억장치
KR0158933B1 (ko) 반도체 기억 장치
KR19990071492A (ko) Sram mos 트랜지스터 메모리 셀의 구동 방법
EP0259862A1 (en) Semiconductor memory with improved write function
KR930008850A (ko) 분할된 판독 데이타 버스 시스템을 갖는 반도체 메모리 디바이스
CA1160742A (en) Static ram memory cell
JPS6362839B2 (ko)
KR960025777A (ko) 프리챠지 회로를 갖는 반도체 메모리 디바이스
KR910004733B1 (ko) 데이타 버스 리셋트 회로를 지닌 반도체 기억장치
US6570799B1 (en) Precharge and reference voltage technique for dynamic random access memories
KR0154755B1 (ko) 가변플레이트전압 발생회로를 구비하는 반도체 메모리장치
KR100569564B1 (ko) 비트라인 프리차지전압 제어회로
KR100269597B1 (ko) 반도체 메모리
TWI286324B (en) Method and apparatus for reducing write power consumption in random access memories
JPH11250670A (ja) 半導体記憶装置
JP4334038B2 (ja) 半導体記憶装置
KR970071795A (ko) 싱글 데이타라인을 갖는 반도체 메모리 장치

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20021205

Year of fee payment: 6

LAPS Lapse due to unpaid annual fee