KR930001117A - 엑티브 매트릭스 기판 검사방법 - Google Patents
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Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 보기 1에서 액티브 매트릭스 기판을 표시하는 블록도.
제2도는 본 발명의 보기 1에서 주사선 구동회로에서 주사선까지의 주사신호출력과 그리고 검사중 검사선에서의 출력신호를 설명하는 타임챠트.
제3도는 본 발명의 보기 1의 제2도에 주사선의 파손이 발생할때 검사선에서의 출력신호를 설명하는 타입 챠트.
제4도는 본 발명의 보기 l의 제2도에서 고장이 발생할때 검사선에서의 출력신호를 설명하는 타임챠트.
제5도는 데이터선 구동회로에서 아날로그 스위치까지의 신호출력, 검사신호입력에서 검사선까지 그리고 비디오선에서의 출력신호를 설명하는 타임챠트.
제6도는 본 발명의 보기 1의 제5도에서 고장이 발생될때 비디오선에서의 출력신호를 설명하는 타임챠트.
제7도는 본 발명의 보기 2에서 액티브 매트릭스 기판을 표시하는 블록도.
제8도는 본 발명의 보기 2에서 검사중, 데이터선 구동회로에시 아날로그 스위치까지의 신호출력과, 검사선까지의 검사신호 입력, 그리고 비디오선에서의 출력신호를 설명하는 타임챠트.
제9도는 본 발명의 보기 2의 제8도에서 고장이 발생할때 비디오선에서의 출력신호를 섬명하는 타임챠트.
제10도는 본 발명의 보기 3에서 액티브 매트릭스 기판을 표시하는 블록도.
제11도는 본 발명의 보기 3에서, 데이터선 구동회로에서 아날로그 스위치까지의 신호출력, 검사선까지의 검사신호 입력에서 검사선까지, 그리고 비디오선에서의 출력신호를 설명하는 타임챠트.
제12도는 본 발명의 보기 3의 제2도에서 고장이 발생할때 비디오선에서의 출력신호를 설명하는 타임챠트.
제13도는 본 발명의 보기 4에서 액티브 매트릭스 기판을 표시하는 블록도.
제14도는 본 발명의 보기 4에서, 검사중, 데이터선 구동회로에서 아날로그 스위치까지의 신호출력, 검사선까지의 검사신호입력, 그리고 비디오선에서의 출력신호를 설명하는 타임챠트.
제15도는 본 발명의 보기 4의 제14도에서 고정이 발생할때 비디오선에서의 출력신호를 설명하는 타임챠트.
제16도는 본 발명의 보기 4의 제14도에서 다른 고장이 발생할때 비디오선에서의 출력신호를 설명하는 타임챠트.
제17도는 본 발명의 보기 5에서 액티브 매트릭스 기판을 표시하는 불록도.
제18도는 본 발명의 보기 5에서 검사중, 데이터선 구동회로에서 아날로그 스위치까지의 신호출력, 검사선까지의 검사신호 입력, 그리고 비디오선에서의 출력신호를 설명하는 타임챠트.
제19도는 본 발명의 보기 5의 제18도에서 고장이 발생할때 비디오선에서의 출력신호를 설명하는 타임챠트.
제20도는 본 발명의 보기 5의 제18도에서 다른 고장이 발생할때 비디오선에서의 출력신호를 설명하는 타임챠트.
제21도는 종래의 액티브 매트릭스 기판을 표시하는 불록도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
1 : 화소보 2 : 데이터선 구동회로
2a : 비디오선 3 : 주사선 구동회로
Claims (2)
- 매트릭스로 배열되는 복수의 화소를 가지는 화소부와, 상기 화소부를 구동하는 복수의 주사선과 데이터선, 그리고 하나 또는 그 이상의 비디오선을 가지는 구동회로와, 상기 비디오선 중 하나에 접속되는 상기복수의 데이터선의 각 한단부를 포함하는 형의 액티브 매트릭스 기판을 검사하는 방법에 있어, 상기 방법은, 1 또는 그 이상의 검사선을 제공하고, 상기 복수의 데이터선의 각 다른 단부를 상기 검사선 중 하나에 접속되고, 동작하는 상기 구동회로 각 상기 검사선에 검사 신호를 적용하고, 상기 검사신호에 의해 각 상기비디오선 또는 거기에서 출력되는 신호중 적어도 하나에 의거하여 상기 구동회로와 상기 복수의 데이터선을 검사하는 스텝을 가지는 액티브 매트릭스 기판는 검사하는 방법.
- 매트릭스로 배열되는 복수의 화소를 가지는 화소부와, 그리고 상기 화소부를 구동하는 복수의 주사선과 데이터선, 구동회로에 접속되는 상기 복수의 주사선의 각 한단부를 포함하는 형의 액티브 메트릭스 기판을 검사하는 방법에서, 상기 방법은, 1 또는 그 이상의 검사선을 제공하고, 상기 복수의 주사선의 각 다른 단부는 상기 검사선 중 하나에 접속되고, 상기 구동회로를 동작하는 것에 의해 상기 복수의 주사선의 각각에 주사펄스를 적용하고, 상기 주사펄스에 의해 각 상기 검사선 또는 거기에서 출력되는 신호들 중 적어도하나에 의거하여, 상기 구동회로와 상기 복수의 주사선을 검사하는 스텝을 가지는 액티브 매트릭스 기판을 검사하는 방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개되는 것임.
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Families Citing this family (37)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5517027A (en) * | 1993-06-08 | 1996-05-14 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Method for detecting and examining slightly irregular surface states, scanning probe microscope therefor, and method for fabricating a semiconductor device or a liquid crystal display device using these |
JP3312423B2 (ja) * | 1993-06-21 | 2002-08-05 | ソニー株式会社 | 平面表示装置、アクティブマトリクス基板および検査方法 |
CN1847963B (zh) | 1995-02-01 | 2013-03-06 | 精工爱普生株式会社 | 液晶显示装置 |
JPH08320466A (ja) * | 1995-03-17 | 1996-12-03 | Sharp Corp | アクティブマトリクス基板及びその欠陥修正方法 |
US5751159A (en) * | 1995-09-05 | 1998-05-12 | Motorola, Inc. | Semiconductor array and switches formed on a common substrate for array testing purposes |
JPH09159997A (ja) * | 1995-12-07 | 1997-06-20 | Sharp Corp | 液晶パネルの欠陥候補箇所検出方法 |
FR2746756B1 (fr) * | 1996-04-01 | 1998-06-12 | Matra Transport International | Dispositif de detection de passage d'un mobile, tolerant aux pannes |
TW329002B (en) * | 1996-06-05 | 1998-04-01 | Zenshin Test Co | Apparatus and method for inspecting a LCD substrate |
TW374852B (en) * | 1996-06-10 | 1999-11-21 | Toshiba Corp | Display device |
JP4147594B2 (ja) * | 1997-01-29 | 2008-09-10 | セイコーエプソン株式会社 | アクティブマトリクス基板、液晶表示装置および電子機器 |
KR100239749B1 (ko) * | 1997-04-11 | 2000-01-15 | 윤종용 | 그로스 테스트용 tft 소자 제조 방법 및 이를 형성한 액정 표시 장치 구조와 그로스 테스트 장치 및 방법 |
US6191770B1 (en) * | 1997-12-11 | 2001-02-20 | Lg. Philips Lcd Co., Ltd. | Apparatus and method for testing driving circuit in liquid crystal display |
JP3667548B2 (ja) * | 1998-03-27 | 2005-07-06 | シャープ株式会社 | アクティブマトリクス型液晶表示パネル及びその検査方法 |
US6677171B1 (en) * | 1998-07-14 | 2004-01-13 | Sharp Kabushiki Kaisha | Manufacturing method of collective substrate of active-matrix substrates, manufacturing method of active-matrix substrates, and inspecting method of collective substrates of active-matrix substrates |
US6940300B1 (en) * | 1998-09-23 | 2005-09-06 | International Business Machines Corporation | Integrated circuits for testing an active matrix display array |
KR100324914B1 (ko) * | 1998-09-25 | 2002-02-28 | 니시무로 타이죠 | 기판의 검사방법 |
US6437596B1 (en) * | 1999-01-28 | 2002-08-20 | International Business Machines Corporation | Integrated circuits for testing a display array |
US6115305A (en) * | 1999-06-15 | 2000-09-05 | Atmel Corporation | Method and apparatus for testing a video display chip |
JP2001201765A (ja) * | 2000-01-18 | 2001-07-27 | Toshiba Corp | 液晶表示装置及びその検査方法 |
JP2001265248A (ja) | 2000-03-14 | 2001-09-28 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | アクティブ・マトリックス表示装置、及び、その検査方法 |
JP2001330639A (ja) * | 2000-05-24 | 2001-11-30 | Toshiba Corp | アレイ基板の検査方法 |
JP4276373B2 (ja) * | 2000-12-07 | 2009-06-10 | セイコーエプソン株式会社 | 電気光学装置の検査用回路、電気光学装置および電子機器 |
JP2003029296A (ja) * | 2001-07-13 | 2003-01-29 | Toshiba Corp | アレイ基板及びその検査方法並びに液晶表示装置 |
KR100442305B1 (ko) * | 2001-07-18 | 2004-07-30 | 가부시끼가이샤 도시바 | 어레이 기판 및 그 검사 방법 및 액정 표시 장치 |
JP3880416B2 (ja) * | 2002-02-13 | 2007-02-14 | シャープ株式会社 | アクティブマトリクス基板 |
JP3592316B2 (ja) * | 2002-06-21 | 2004-11-24 | 株式会社半導体理工学研究センター | 半導体特性評価装置 |
JP4112300B2 (ja) | 2002-07-26 | 2008-07-02 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 電気的検査方法及び半導体表示装置の作製方法 |
US6765203B1 (en) * | 2003-01-31 | 2004-07-20 | Shimadzu Corporation | Pallet assembly for substrate inspection device and substrate inspection device |
JP3964337B2 (ja) | 2003-03-07 | 2007-08-22 | 三菱電機株式会社 | 画像表示装置 |
KR100491560B1 (ko) * | 2003-05-06 | 2005-05-27 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정표시소자의 검사방법 및 장치 |
JP4483224B2 (ja) * | 2003-08-08 | 2010-06-16 | セイコーエプソン株式会社 | 電気光学パネル、電気光学装置、及び電子機器 |
JP2006178029A (ja) * | 2004-12-21 | 2006-07-06 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置、その検査方法、駆動装置および電子機器 |
KR101337459B1 (ko) * | 2006-02-03 | 2013-12-06 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 표시장치 및 그 표시장치를 구비한 전자기기 |
JP5140999B2 (ja) * | 2006-11-22 | 2013-02-13 | カシオ計算機株式会社 | 液晶表示装置 |
JP4724249B2 (ja) * | 2010-03-25 | 2011-07-13 | 東芝モバイルディスプレイ株式会社 | 液晶表示装置及びその検査方法 |
CN103389455B (zh) * | 2013-08-09 | 2015-11-11 | 友达光电(苏州)有限公司 | 驱动芯片的检测系统及检测方法 |
US20230153977A1 (en) * | 2021-11-17 | 2023-05-18 | Orbotech Ltd. | Panel design to improve accurate defect location report |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5738498A (en) * | 1980-08-21 | 1982-03-03 | Suwa Seikosha Kk | Testing system for active matrix substrate |
JPS602989A (ja) * | 1983-06-20 | 1985-01-09 | セイコーエプソン株式会社 | 液晶表示装置 |
JPS61292755A (ja) * | 1985-06-20 | 1986-12-23 | Fujitsu Ltd | 半導体集積回路 |
JPS63246727A (ja) * | 1987-04-01 | 1988-10-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | アクテイブマトリツクスアレイおよびその検査方法 |
NL8700933A (nl) * | 1987-04-21 | 1988-11-16 | Philips Nv | Testmethode voor lcd-elementen. |
JPH067239B2 (ja) * | 1987-08-14 | 1994-01-26 | セイコー電子工業株式会社 | 電気光学装置 |
JP2610328B2 (ja) * | 1988-12-21 | 1997-05-14 | 株式会社東芝 | 液晶表示素子の製造方法 |
JP2618042B2 (ja) * | 1989-06-15 | 1997-06-11 | 松下電子工業株式会社 | 画像表示装置の検査方法 |
JP2594358B2 (ja) * | 1989-06-16 | 1997-03-26 | 松下電子工業株式会社 | 画像表示装置 |
FR2667718B1 (fr) * | 1990-10-09 | 1992-11-27 | France Etat | Circuit de commande des colonnes d'un ecran d'affichage, comprenant des moyens de test a sortie unique. |
US5285150A (en) * | 1990-11-26 | 1994-02-08 | Photon Dynamics, Inc. | Method and apparatus for testing LCD panel array |
US5113134A (en) * | 1991-02-28 | 1992-05-12 | Thomson, S.A. | Integrated test circuit for display devices such as LCD's |
US5235272A (en) * | 1991-06-17 | 1993-08-10 | Photon Dynamics, Inc. | Method and apparatus for automatically inspecting and repairing an active matrix LCD panel |
US5184082A (en) * | 1991-09-18 | 1993-02-02 | Honeywell Inc. | Apparatus and method for testing an active matrix pixel display |
-
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-
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Publication number | Publication date |
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