KR100442305B1 - 어레이 기판 및 그 검사 방법 및 액정 표시 장치 - Google Patents

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Abstract

어레이 기판 상에 형성된 신호선 구동 회로의 면적을 증대시키지 않고, 어레이 기판의 OS(Open Short) 검사를 행하는 것을 가능하게 함과 함께, 제조 비용을 삭감하는 것을 가능하게 한다. 기판면에 주사선 및 신호선, 이들의 각 교차부에 각각 설치된 스위칭 소자를 통해 접속되는 화소 전극, 기판의 가장자리 단부에 설치된 복수의 입출력 단자, 주사선 구동 회로 및 입출력 단자를 통해 외부로부터 가해지는 영상 신호를 신호선의 일단에 가하는 신호선 구동 회로를 구비하고, 신호선의 타단을 적어도 하나의 입출력 단자에 공통 접속하는 배선을 기판면에 형성한 것이다. 그리고, 배선이 접속된 입출력 단자와, 이들의 입출력 단자 이외 중 적어도 영상 신호를 공급하는 입출력 단자 간에 소정의 전압을 인가하여 그 때의 전류를 측정하여 불량을 검출한다.

Description

어레이 기판 및 그 검사 방법 및 액정 표시 장치{ARRAY SUBSTRATE AND METHOD OF TESTING THE SAME, AND LIQUID CRYSTAL DISPLAY}
본 발명은 어레이 기판 및 그 검사 방법 및 액정 표시 장치(Liquid Crystal Display : 이하, LCD라고 한다)에 관한 것이다.
일반적으로 액정 표시 장치는 경량, 박형으로, 저소비 전력이기 때문에, 텔레비전, 휴대 정보 단말 혹은 그래픽 디스플레이 등의 표시 소자로서 널리 이용되고 있다. 특히, 스위칭 소자로서 박막 트랜지스터[이하, TFT(Thin Film Transistor)라고도 한다]를 이용한 액티브 매트릭스형 액정 표시 장치는 고속 응답성이 우수하고, 고정밀화에 적합하고, 디스플레이 화면의 고화질화, 대형화 및 컬러 영상화를 실현하는 것으로 주목받고 있다.
일반적으로, 도 10에 도시한 바와 같이, 이 액티브 매트릭스형 액정 표시 장치는 어레이 기판(100)과, 대향 기판(200) 간에 액정(도시하지 않음)을 협지(挾持)한 구성으로 되어 있다. 어레이 기판(100)은 투명한 절연성 기판(예를 들면, 유리 기판: 101)의 표시 영역(102a)에 매트릭스형으로 배치된 복수의 신호선(103) 및 복수의 주사선(104)과, 상기 신호선(103)과 주사선(104)과의 교차부마다 형성된 박막 트랜지스터를 포함하는 스위칭 소자(105)와, 이 스위칭 소자마다 설치된 화소 전극(106)이 형성된 구성으로 되어 있다. 각 스위칭 소자(105)의 게이트는 대응하는 주사선(104)에 접속되고, 소스 및 드레인 중 한쪽이 대응하는 신호선(103)에 접속되며 다른 쪽이 화소 전극(106)에 접속된 구성으로 되어 있다.
또한, 어레이 기판(100)은 투명한 절연성 기판(101) 주변의 비표시 영역(102b)에 TFT를 갖는 구동 회로(110) 및 이들의 구동 회로(110)에 접속되어 외부로부터 전력이나 신호를 공급하기 위한 외부 단자(120)가 더 형성된 구성으로 되어도 된다.
한편, 대향 기판(200)은 투명한 절연성 기판(201)의 표면 상에 ITO(Indium Tin Oxide)를 포함하는 투명 도전막이 대향 전극(203)으로서 형성된 구성으로 되어 있다.
이들의 기판(100, 200)은 소정의 간격을 갖도록 대향 배치된다. 그리고, 어레이 기판(100)의 표시 영역(102a)을 둘러싸도록 비표시 영역(102b) 상에 도포한 시일(seal)재(300)에 의해서 접합된다. 시일재(300)에는 도 10에 도시한 바와 같이 액정 재료를 주입하는 주입구(301)가 형성되어 있다. 그리고 상기 기판(100, 200)의 접합 후에 이 주입구(301)를 통해 액정 조성물(도시하지 않음)이 간극 내에 주입되고, 밀봉됨으로써 액정 표시 장치가 완성된다. 또, 액정 표시 장치가 컬러 액정 표시 장치인 경우에는 대향 기판(200) 또는 어레이 기판(100) 중 한쪽에 컬러 필터층이 형성되는 구성이 된다.
종래의 액정 표시 장치의 어레이 기판의 구성을 도 11에 도시한다. 도 11에 도시한 어레이 기판은 투광성 기판의 일주면에 매트릭스형으로 배치된 주사용 주사선(11) 및 영상 신호용 신호선(12)을 구비하고, 이들 주사선(11) 및 신호선(12)의 각 교차 부분에 각각 스위칭 소자로서의 박막 트랜지스터(13)가 설치되어 있다. 이들 각 박막 트랜지스터(13)는 게이트가 대응하는 주사선(11)에 접속되고 소스가 대응하는 신호선(12)에 접속되고 드레인이 화소 전극(14)에 접속된 구성으로 되어 있다. 또한, 이들의 화소 전극(14)에는 보조 용량(15)의 일단이 접속되고 이 보조 용량(15)의 타단에는 보조 용량선(이하, Cs선이라고 한다: 16)이 접속되어 있다.
또한, 각 주사선(11)은 어레이 기판(100)의 도면 상의 측단부에 설치된 주사선 구동 회로(18)에 각각 접속되고 각 신호선(12)은 어레이 기판(100)의 도면 상의 하단부에 설치된 신호선 구동 회로(19)에 각각 접속되어 있다. 각 보조 용량선(16)은 공통 접속되고 배선(31)을 통해 기판 하측의 가장자리 단부에 형성된 입출력 단자군으로서의 외측 리드 본딩(Outer Lead Bonding : 이하, OLB라고 약기한다) 패드군(20) 중 OLB 패드(26)에 접속되어 있다.
그리고, 각 주사선(11)에 대해서는 주사선 구동 회로(18)에 의해서, 상측으로부터 순서대로 수평 주사 주기에 대응하는 전압이 인가된다. 또한, 각 신호선(12)에는 신호선 구동 회로(19)에 포함되는 영상 신호 공급선으로서의 비디오 버스로부터 영상 신호에 대응하는 전압이 인가된다. 이 때문에, 박막 트랜지스터(13)는 주사선(11)으로부터의 선택 신호가 인가되는 타이밍으로 온 상태가 되어 신호선(12)으로부터의 영상 신호에 대응하는 전압을 샘플링하여 화소 전극(14)에 제공한다. 이 때문에, 액정층에는 화소 전극(14)에 가해진 전압과, 대향 전극(203)에 가해진 전압과의 차분이 인가되고, 그 전계에 의해 액정층이 구동되어 표시 동작이 행해진다.
도 11에 도시한 종래의 액정 표시 장치는 주사선 구동 회로(18) 및 신호선 구동 회로(19)가 어레이 기판(100) 상에 형성되고 또한 박막 트랜지스터(13)의 활성층이 되는 반도체층이 다결정 실리콘(polycrystalline silicon)을 포함하는 것으로써, p-Si형 TFT·LCD라고 불린다. 이에 대하여 박막 트랜지스터의 반도체층이 비정질 실리콘(amorphous silicon)을 포함하는 액정 표시 장치가 a-Si형 TFT·LCD라고 불린다. 반도체층이 비정질 실리콘을 포함하는 TFT는 다결정 실리콘을 포함하는 TFT에 비하여 이동도가 낮기 때문에, 구동 회로에 이용할 수 없다. 이 때문에, a-Si형 TFT·LCD는 어레이 기판(100) 상에 구동 회로를 설치하는 것은 곤란하다. 따라서, a-Si형 TFT·LCD의 어레이 기판은 화소 부분만으로 구성되고, 도 12에 도시한 바와 같이 구동 회로는 내장되지 않은 구성이 된다. 이 구동 회로는 반도체 집적 회로(드라이버 IC)로서 어레이 기판(100)과는 별도로 작성되고, 어레이 기판(100)의 OLB 패드(211 ∼ 21n, 221 ∼ 22n)에 TAB(Tape Automated Bonding) 등의 기법을 이용하여 접속된다.
도 11에 도시한 p-Si형 TFT·LCD의 어레이 기판과 도 12에 도시한 a-Si형 TFT·LCD의 어레이 기판과의 상위점 중 하나는 OLB 패드이다. a-Si형 TFT·LCD에서는 신호선과 주사선이 직접 OLB 패드로 인출된다. 따라서, OLB 패드의 수나 피치는 신호선이나 주사선의 수나 피치와 동등하다. 한편, p-Si형 TFT·LCD에서는 신호선과 주사선은 내장된 구동 회로(18, 19)에 의해 구동되기 때문에, 직접 OLB 패드에 인출되지는 않는다. OLB 패드로부터 입력되는 것은 내장된 구동 회로(18, 19)의 입력이고, 그 개수는 일반적으로 신호선이나 주사선의 수보다 1자릿수 정도작다. 따라서, 접속의 신뢰성 확보를 위해서 OLB 패드의 피치도 크게 할 수 있다. 이상 설명한 OLB 패드의 상위점을 통합하면 표 1과 같아지며, a-Si형 TFT·LCD에 비하여 p-Si형 TFT·LCD에서는 프로브의 정밀도는 낮아도 되며, 설비 투자액이 적게 해결된다는 장점이 있다. 또, 표 1은 PC(퍼스널 컴퓨터)용으로서 일반적인 10.4인치 XGA(Extended Graphics Array) 대응의 액정 표시 장치의 경우를 나타내고수치는 개략치이다.
패드수 패드 피치
a-Si형 TFT·LCD 4000 60[㎛]
p-Si형 TFT·LCD 200 160[㎛]
상기한 OLB 패드의 차이는 어레이 공정 중 검사에도 영향을 미친다. a-Si 형 TFT·LCD에서는 어레이 공정 중에서 신호선이 형성되면, 단락, 단선의 검사(이하, OS(Open Short) 검사라고도 한다)가 실시된다. 이것은 신호선의 일단에 접속된 OLB 패드와 타단에 설치된 프로빙·패드에 프로브를 갖다대고, 소정의 전압을 인가하고, 이 때 흐르는 전류를 측정하는 검사이다. 여기서, 신호선이 정상적으로 형성되어 있으면 인가 전압과 신호선의 저항으로부터 정해지는 소정의 전류가 관찰된다. 만약, 신호선이 단선(오픈)하고 있으면 전류는 흐르지 않으므로, 단선 불량을 검출할 수 있다. 또한, 검사 시에 주사선이나 보조 용량선에, 신호선과는 다른 전압을 인가해두면, 신호선이 이들과 단락(쇼트)됐을 때에는 이상한 전류가 흐르기 때문에 단락 불량을 검출할 수 있다.
한편, p-Si형 TFT·LCD의 어레이 공정에서는 OS 검사가 없다. 이것은 신호선 끝에 프로브를 갖다 대기 위한 OLB 패드가 없기 때문이다.
상술한 바와 같이, p-Si형 TFT·LCD의 어레이 공정에서는 OS 검사는 실행되지 않는다. 어레이 공정의 마지막에는 어레이 테스트를 행하지만, p-Si형 TFT·LCD에서는 내장된 구동 회로를 통해 화소 부분을 검사하기 위해 S/N(신호 대잡음비)이 좋지 못하고, 선결함의 검출율은 충분하지 않다. 이상으로부터 a-Si형 TFT·LCD에 비교하여 p-Si형 TFT·LCD에서는 신호선의 단선, 단락 등의 불량의 검출율은 낮아진다. 이 결과, 불량 어레이의 셀 공정으로의 유입이 많고 셀 공정에서 쓸데 없는 제조 비용을 발생시키게 된다.
또한, p-Si형 TFT·LCD의 어레이로 OS 검사를 실시하려고 하면, 신호선의 양단에 프로브를 갖다 대는 프로빙 패드가 필요해진다. 이 프로빙 패드는 OLB 패드와 거의 동일한 크기가 필요해진다. 이것을 신호선(12)과 신호선 구동 회로(19) 간에 설치하면, 신호선 구동 회로(19)의 점유 면적이 증대하게 된다. 이 결과, 제품인 액정 모듈의 조밀함을 잃게 된다.
또한, 프로빙 패드를 설치한다고 해도 그 피치는 신호선의 피치와 동등해지고, p-Si형 TFT·LCD의 어레이 기판의 검사에, a-Si형 TFT·LCD의 어레이 기판 검사용 고정밀도의 프로브가 필요해진다. 이것은 설비 투자액의 증대가 된다.
본 발명은 상기한 문제점을 해결하기 위해 이루어진 것으로, 어레이 기판 상에 형성된 신호선 구동 회로의 면적을 증대시키지 않고, 어레이 기판의 0S 검사를 행하면서, 제조 비용을 삭감할 수 있는 어레이 기판 및 그 검사 방법 및 액정 표시 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.
도 1은 본 발명에 따른 액정 표시 장치의 제1 실시 형태의 구성을 나타내는 등가 회로도.
도 2는 제1 실시 형태의 제1 변형예를 나타내는 등가 회로도.
도 3은 제1 실시 형태의 제2 변형예를 나타내는 등가 회로도.
도 4는 본 발명에 따른 액정 표시 장치의 제2 실시 형태의 구성을 나타내는 등가 회로도.
도 5는 본 발명에 따른 액정 표시 장치의 제3 실시 형태의 구성을 나타내는 등가 회로도.
도 6은 제3 실시 형태의 제1 변형예를 나타내는 등가 회로도.
도 7은 제3 실시 형태의 제2 변형예를 나타내는 등가 회로도.
도 8은 본 발명에 따른 액정 표시 장치의 제4 실시 형태의 구성을 나타내는 등가 회로도.
도 9는 본 발명에 따른 액정 표시 장치의 제5 실시 형태의 구성을 나타내는 등가 회로도.
도 10은 액티브 매트릭스형 액정 표시 장치의 일반적인 구성을 나타내는 모식도.
도 11은 종래의 다결정 실리콘형 액정 표시 장치의 구성을 나타내는 등가 회로도.
도 12는 종래의 비정질 실리콘형 액정 표시 장치의 구성을 나타내는 등가 회로도.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
11, 104 : 주사선
12, 103 : 신호선
13 : 박막 트랜지스터(스위칭 소자=TFT)
14, 106 : 화소 전극
15 : 보조 용량
16 : 보조 용량선(Cs선)
18 : 주사선 구동 회로
19 : 신호선 구동 회로
19a : 시프트 레지스터
19b, 60a, 60b, 105 : 스위칭 소자
20 : OLB 패드군
211 ∼ 21n, 221 ∼ 22n, 21 ∼ 27, 23a, 23b, 23c, 27A, 27B, 28A, 28B : OLB 패드
31, 32, 32A, 32B, 37A, 37B : 배선
33A, 33B : 다이오드
35 : 저항
36 : 스위치
41, 42, 42A, 42B : 전압원
50a, 50b, 50c : 비디오 버스
60 : 스위치 회로
100 : 어레이 기판
101 : 절연성 기판(어레이 기판)
102a : 표시 영역
102b : 비표시 영역
110 : 구동 회로
120 : 외부 단자
200 : 대향 기판
201 : 절연성 기판(대향 기판)
203 : 대향 전극
300 : 시일(seal)재
301 : 주입구
본 발명에 따른 어레이 기판은, 기판과, 이 기판 상에 형성된 복수 라인의 주사선과, 이 주사선과 교차하도록 상기 기판 상에 형성된 복수 라인의 신호선과, 상기 주사선과 상기 신호선의 각 교차부에 설치되어 대응하는 주사선에 게이트가접속되고, 대응하는 신호선에 소스가 접속된 박막 트랜지스터와, 각 박막 트랜지스터에 대응하여 설치되어 박막 트랜지스터의 드레인에 접속된 화소 전극과, 상기 기판의 가장자리 단부에 설치되어 외부와의 신호의 입출력에 사용되는 입출력 단자를 복수 포함하는 입출력 단자군과, 상기 주사선을 구동하는 주사선 구동 회로와, 상기 신호선을 구동하는 신호선 구동 회로와, 상기 기판 상에 형성되어 상기 각 신호선의 타단을 상기 입출력 단자군 중 적어도 하나의 입출력 단자에 공통 접속하는 제1 배선을 포함한 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 화소 전극에 각각 대응하여 설치되어 일단이 대응하는 화소 전극에 접속되는 보조 용량과, 상기 보조 용량의 타단에 접속된 보조 용량선을 포함하고, 이들의 보조 용량선은 상기 입출력 단자군 중 하나의 입출력 단자에 공통으로 접속되도록 구성해도 된다.
또한, 상기 각 신호선의 타단을 각각 저항을 통해 상기 제1 배선에 접속하는 것이 바람직하다.
또한, 상기 각 신호선의 타단을 각각 외부로부터 온, 오프 제어하는 것이 가능한 스위칭 소자를 통해 상기 제1 배선에 접속하는 것이 바람직하다.
또한, 상기 각 신호선의 타단을 각각 다이오드를 통해, 상기 제1 배선에 접속하는 것이 바람직하다.
또한, 상기 제1 배선은 상호 다른 상기 입출력 단자에 접속된 제2 배선과 제3 배선을 포함하고, 상기 신호선의 타단에 애노드가 접속되고 상기 제2 배선에 캐소드가 접속된 제1 다이오드와, 상기 신호선의 타단에 캐소드가 접속되고 상기제3 배선에 애노드가 접속된 제2 다이오드를 상기 신호선마다 설치하도록 구성해도 된다.
또한, 상기 제2 및 제3 배선은 상기 주사선 구동 회로 또는 상기 신호선 구동 회로의 입출력 신호용 배선과 겸용하도록 구성해도 된다.
또한, 일단이 상기 입출력 단자군 중 적어도 하나의 입출력 단자에 접속된 비디오 버스를 더 포함하고, 상기 신호선 구동 회로는 신호선마다 설치된 선택 스위치를 포함하고, 각 선택 스위치는 일단이 대응하는 신호선에 접속되고 타단이 비디오 버스에 접속되도록 구성해도 된다.
또한, k를 자연수로 하여 끝에서부터 세어 2k-1번째의 신호선과 인접하는 2k 번째의 신호선에 각각 접속된 상기 선택 스위치의 타단이 상기 비디오 버스에 공통으로 접속되도록 구성해도 된다.
또한, 상기 제1 배선은 상호 다른 상기 입출력 단자에 접속된 제2 내지 제5 배선을 포함하고, 상기 신호선 타단에 애노드가 접속된 제1 다이오드와, 상기 신호선 타단에 캐소드가 접속된 제2 다이오드를 상기 신호선마다 설치하고, 상기 복수의 신호선을 적어도 제1 및 제2 신호선군으로 분할하고, 상기 제1 신호선군에 속하는 신호선의 타단에 애노드가 접속된 상기 제1 다이오드는 캐소드가 제2 배선에 접속되고, 상기 제1 신호선군에 속하는 신호선의 타단에 캐소드가 접속된 상기 제2 다이오드는 애노드가 제3 배선에 접속되고, 상기 제2 신호선군에 속하는 신호선의 타단에 애노드가 접속된 상기 제1 다이오드는 캐소드가 제4 배선에 접속되고, 상기 제2 신호선군에 속하는 신호선의 타단에 캐소드가 접속된 상기 제2 다이오드는 애노드가 제5 배선에 접속되도록 구성해도 된다.
또한, 본 발명에 따른 액정 표시 장치는 상술한 어레이 기판과, 제2 기판 상에 형성된 대향 전극을 갖는 대향 기판과, 상기 어레이 기판과 상기 대향 기판 간에 협지된 액정층을 포함한 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명에 따른 어레이 기판의 검사 방법은 상술한 어레이 기판을 검사함에 있어서, 상기 배선이 접속된 상기 입출력 단자와, 이 입출력 단자 이외 중 적어도 영상 신호를 공급하는 입출력 단자 간에 소정의 전압을 인가하고, 이 전압이 인가된 상기 입출력 단자에 흐르는 전류를 측정하는 것을 특징으로 한다.
이하, 본 발명의 실시 형태를 도면을 참조하여 설명한다.
(제1 실시 형태)
도 1은 본 발명에 따른 액정 표시 장치의 제1 실시 형태에 따른 어레이 기판(100)의 구성을 나타내는 등가 회로도이다.
이 실시 형태에 따른 어레이 기판(100)은 주사용 복수의 주사선(11)과, 이들의 주사선에 교차하는 영상 신호용 복수의 신호선(12)을 구비하고, 이들 주사선(11)과 신호선(12)이 교차하는 각 교차부 근방에 각각 스위칭 소자로서의 박막 트랜지스터(13)가 설치되며, 이들 각 박막 트랜지스터(13)는 소스가 신호선(12)에, 드레인이 화소 전극(14)에, 게이트가 주사선(11)에 각각 접속된 구성으로 되어 있다. 또한, 각 화소 전극(14)은 보조 용량(15) 일단에 접속되고, 각 보조 용량(15)의 타단은 보조 용량선(16)에 접속된 구성으로 되어 있다.
또한, 어레이 기판(100)은 대향하는 대향 전극(도시하지 않음)을 갖는 대향기판(도시하지 않음)이 소정의 간극으로 대향하도록 배치되어 있고, 이들 어레이 기판(100)과 대향 기판 간에 액정층이 협지된 구성으로 되어 있다. 또한, 어레이 기판(100)의 주사선(11) 한쪽의 배치단부, 즉 도면의 좌단부에는 주사선(11)을 상측에서부터 순서대로 구동하는 주사선 구동 회로(18)가 설치되고, 신호선(12)의 한쪽의 배치단부, 즉 도면의 하단부에는 영상 신호를 공급하는 신호선 구동 회로(19)가 설치되어 있다. 신호선 구동 회로(19)는 시프트 레지스터(19a) 및 스위칭 소자(19b)를 포함하고, 시프트 레지스터(19a)가 스위칭 소자(19b)를 제어함으로써 영상 신호를 신호선(12)에 공급하도록 되어 있다.
또한 신호선 구동 회로(19)가 설치된 하단부에서의 어레이 기판의 가장자리 단부에, OLB 패드(21 ∼ 27)를 포함하는 OLB 패드군(20)이 설치되고, 이 중 OLB 패드(21, 22)는 주사선 구동 회로(18)의 입력 단자에 접속되어 있다. k를 논 네가티브 정수로 하였을 때, OLB 패드(23a)는 도 1의 좌측에서부터 세어 (3k+1)번째의 신호선(12)에 접속된 스위칭 소자(19b)의 소스에 비디오 버스(50a)를 통해 접속되고, OLB 패드(23b)는 도 1의 좌측에서부터 세어 (3k+2)번째의 신호선(12)에 접속된 스위칭 소자(19b)의 소스에 비디오 버스(50b)를 통해 접속되고, OLB 패드(23c)는 도 1의 좌측에서부터 세어 (3k+3)번째의 신호선(12)에 접속된 스위칭 소자(19b)의 소스에 비디오 버스(50c)를 통해 접속되어 있다. OLB 패드(24)는 신호선 구동 회로(19)의 전원용 패드로, 도 1 중에서는 한 라인으로 나타내고 있지만, 실제로는 복수 라인이다. OLB 패드(25)는 신호선 구동 회로(19)의 제어 신호용 패드로, 도 1 중에서는 한 라인으로 나타내고 있지만 실제로는 복수 라인이다. 마찬가지로,OLB 패드(21)는 주사선 구동 회로(18)의 전원용 패드로, 도 1 중에서는 한 라인으로 나타내고 있지만, 실제로는 복수 라인이다. OLB 패드(22)는 주사선 구동 회로(18)의 제어 신호용 패드이고, 도 1 중에서는 한 라인으로 나타내고 있지만, 실제로는 복수 라인이다. OLB 패드(26)는 어레이 기판 상에 설치된 배선(3)을 통해 모든 Cs선(16)에 접속되고, 또 하나의 OLB 패드(27)는 신호선(12)의 타단, 즉 도 1의 상부의 배치단을 공통 접속하고 또한 어레이 기판 상에 설치된 배선(32)에 접속되어 있다.
이러한 구성에 의해, 예를 들면 OLB 패드(23a)에 전압원(41)을 접속하고 OLB 패드(27)에 또 하나의 전압원(42)을 접속하고, OLB 패드(23a) 및 OLB 패드(27) 간에 소정의 시험 전압을 인가함과 함께, 전압원(41)으로부터 OLB 패드(23a)에 흐르는 전류치를 측정함으로써, 신호선(12)에 영상 신호를 공급하는 비디오 버스(50a) 및 신호선(12)의 단선이나 단락을 검출할 수 있다. 또한, 마찬가지로 하여, OLB 패드(23b)에 전압원(41)을 접속하고, OLB 패드(27)에 또 하나의 전압원(42)을 접속하고, OLB 패드(23b) 및 OLB 패드(27) 간에 소정의 시험 전압을 인가함과 함께, 전압원(41)로부터 OLB 패드(23b)에 흐르는 전류치를 측정함으로써, 신호선(12)에 영상 신호를 공급하는 비디오 버스(50b) 및 신호선(12)의 단선이나 단락을 검출할 수 있다. 또한, 마찬가지로 신호선(12)에 영상 신호를 공급하는 비디오 버스(50c) 및 신호선(12)의 단선이나 단락을 검출할 수 있다.
그러므로, 이 제1 실시 형태에 따르면, 비디오 버스 및 신호선(12)의 단선이나 단락을 검사하기 위해서, 신호선(12)과 신호선 구동 회로(19) 간에 프로빙 패드를 설치하지 않고 끝나기 때문에, 신호선 구동 회로(19)의 점유 면적의 증대가 회피되어, 제품 모듈의 조밀함을 유지할 수 있다. 또한, 프로브는 현재까지와 같이 OLB 패드군(20)에 접촉시키는 것만으로 해결되므로 고정밀도 또한 고가격의 비정질 실리콘용 프로브는 불필요해진다. 이에 따라, 제조 비용을 삭감할 수 있다.
또, 표시 장치로서 화상을 출력할 때에는 각 신호선(12)이 단락되어 있으면 정상적으로 화상을 출력할 수 없으므로, 상기 검사 후, 배선(32)을 분리한다.
그런데, 도 1에 도시한 제1 실시 형태에서는 신호선(12)의 각 타단을 배선(32)에 직접 접속하였지만, 도 2에 도시한 바와 같이, 각 신호선(12)의 타단부에 각각 저항(35)을 설치하고, 이 저항(35)을 통해 신호선(12)을 배선(32)에 접속함으로써, 신호선(12)이 배선(32)을 통해 단락한다는 사태를 미연에 방지할 수 있다.
또한, 도 3에 도시한 바와 같이, 상기 저항(35) 대신에 외부로부터 온, 오프 제어하는 것이 가능한 스위치(36), 예를 들면 트랜지스터를 설치하고, 신호선(12)을 이 스위치(36)를 통해 배선(32)에 접속하고, 비디오 버스(50a, 50b, 50c) 및 신호선(12)의 단선이나 단락을 검사하는 경우에 이 스위치(36)를 온 상태로 하고, 그 이외의 경우에는 이 스위치(36)를 오프 상태로 함으로써, 검사 시의 전류의 확보와 비검사 시의 각 신호선(12) 상호간의 단락 방지를 보다 확실하게 할 수 있다.
(제2 실시 형태)
도 4는 본 발명에 따른 액정 표시 장치의 제2 실시 형태에 따른 어레이 기판(100)의 구성을 나타내는 등가 회로도이다. 도 4 중 도 1과 동일한 요소에는 동일한 부호를 붙이고 그 설명을 생략한다. 이 실시 형태는 OLB 패드군(20) 중 OLB 패드(27A, 27B)에 각각 일단이 접속되고, 타단부가 어레이 기판 반대의 가장자리 단부, 즉 도면의 상단부에 위치하도록 어레이 기판(100) 상에 인출된 배선(32A, 32B)을 설치함과 함께, 각 신호선(12)을 배선(32A)에 접속하는 경로에 다이오드(33A)를 설치하고, 각 신호선(12)을 배선(32B)에 접속하는 경로에 다이오드(33B)를 설치한 점이 도 1과 구성상 다르고, 이 이외의 구성은 도 1에 도시한 것과 동일하다. 또, 다이오드(33A)는 그 애노드가 어레이 기판 상 배선(32A)에 접속되고, 그 캐소드가 신호선(12)에 접속되어 있는데 비하여, 다이오드(33B)는 그 애노드가 신호선(12)에 접속되고 그 캐소드가 어레이 기판 상 배선(32B)에 접속되어 있다.
상기한 바와 같이 구성된 제2 실시 형태의 검사 방법에 대하여, 특히 도 1과 구성을 다르게 하는 부분을 중심으로 하여 이하에 설명한다.
각 신호선(12)에 대응하여 설치된 다이오드(33A, 33B)는 신호선(12)에 대하여 다른 방향으로 접속되어 있다. 여기서, OLB 패드(27A)에 전압원(42A)을 접속하고 OLB 패드(27B)에 전압원(42B)를 접속한다. 그리고, 전압원(42A)에 의해 배선(32A)에 정상적인 신호선 전위보다 낮은 전위를 인가하고, 전압원(42B)에 의해 배선(32B)에 정상적인 신호선 전위보다도 높은 전위를 인가한다. 이 때, 신호선(12)의 전위가 정상적인 경우에는 다이오드(33A, 33B)는 모두 오프 상태가 되어 전류는 흐르지 않는다.
여기서, 만일 신호선(12)에 이상한 전압이 발생한 경우를 고려한다. 일례로서, 신호선(12)의 전위가 정상적인 전위보다도 낮아지면 다이오드(33A)가 온 상태가 되고, 신호선(12)과 배선(32A) 간에 전류가 흐른다. 이 전류는 신호선의 전위가 정상적으로 되돌아가서, 배선(32A)의 전위보다도 커질 때까지 계속 흐른다. 반대로, 신호선의 전위가 정상적인 전위보다도 커지면 다이오드(33B)가 온 상태가 되고, 신호선(12)과 배선(32B) 간에 전류가 흐른다. 이 전류는 신호선(12)의 전위가 정상적으로 되돌아가, 배선(32B)의 전위보다 낮아질 때까지 계속 흐른다. 이상의 동작에 의해 두개의 다이오드(33A, 33B)는 신호선(12)에 발생한 이상한 전압을 배선(32A, 32B)을 통해 외부로 밀어냄으로써, 신호선(12)을 파괴로부터 보호하고 있다. 이들 다이오드의 보호 기능에 대해서는, 본원과 동일한 출원인에 의해서 출원된 일본 특허출원 평10-271514호 등에 제안되어 있다.
상술한 바와 같이, 보호 기능을 갖게 한 다이오드(33A, 33B)를 구비한 경우에도 배선(32A, 32B)과 비디오 버스(50a, 50b, 50c) 간의 전류를 OLB 패드(23a, 23b, 23c) 외부에서 측정함으로써, 신호선(12)의 OS 검사를 실시할 수 있다. 즉, 배선(32A)을 이용하는 경우에는 전압원(42A)에 의해, 이 배선(32A)의 전위를 정상적인 신호선 전위보다 높게 하고, 다이오드(33A)를 온 상태로 하고, 비디오 버스(50a, 50b, 50c)로부터 배선(32A)까지의 전류 경로를 확보한다. 그리고, 배선(32A)과 신호선(12)에 영상 신호를 공급하는 비디오 버스(50a, 50b, 50c) 간에 소정의 전압을 인가하고, 전류를 측정함으로써 신호선(12) 및 비디오 버스(50a, 50b, 50c)의 단선(오픈)이나 단락(쇼트)의 불량의 유무를 검출할 수 있다. 또한, 배선(32B)을 이용하는 경우에는 반대로 전압원(42B)에 의해 배선(32B)의 전위를 정상적인 신호선(12)의 전위보다 낮게 하고 다이오드(33B)를 온 상태로 하여 OS 검사를 행한다.
여기서, 검사 시에 배선(32A, 33B), 비디오 버스(50a, 50b, 50c), Cs선(16), 주사선(11)의 각 전위를 표 2와 같이 설정한다.
전극 설정 전위
배선 32A 2V
배선 32B 2V
비디오 버스 5V
Cs선 15V
주사선 -5V
이 때는 배선(32B)에 접속된 다이오드(33B)가 온 상태가 된다. 신호선(12)이 정상으로 단선이나 단락이 없는 경우, 비디오 버스의 전압 5[V]와, 배선(32B)의 전압 2[V] 및 신호선이나 비디오 버스의 저항치에 의해서 결정되는 전류(정상치)가 관측된다. 이하, 고장의 종류에 따라 관찰되는 전류치가 어떻게 변화할지에 대하여 설명한다.
(1) 신호선(12)의 단선
신호선(12)이 단선한 경우, 전류가 흐르는 경로가 없어지기 때문에, 관찰 전류는 거의 0[A]가 된다.
(2) 신호선(12)과 Cs선(16)과의 단락
신호선(12)과 Cs선(16)이 단락한 경우, 15[V]의 Cs선(16)으로부터 5[V]의 비디오 버스(50a, 50b, 50c)를 향하여 불량에 기인하는 이상 전류가 흐른다. 이 이상 전류는 정상 전류와는 방향이 반대가 된다. 따라서, 신호선(12)과 Cs선(16)과의 단락이 발생한 경우, 관찰되는 전류치는 정상치보다 작아진다.
(3) 신호선(12)과 주사선(11)과의 단락
신호선(12)과 주사선(11)이 단락한 경우, 5[V]의 비디오 버스(50a, 50b, 50c)로부터 -5[V]의 주사선(11)을 향하여 불량에 기인하는 이상 전류가 흐른다. 이 이상 전류는 정상 전류와 방향이 동일해진다. 따라서, 신호선(12)과 주사선(11)과의 단락이 발생한 경우, 관찰되는 전류치는 정상치보다 커진다.
상술한 정상 및 이상의 모드와 관찰되는 전류치와의 관계를 통합하면 아래의 표 3과 같아진다.
정상/이상(모드) 관찰된 전류
신호선 정상 정상치
신호선 단선 전류≒0
신호선-Cs선 단락 정상치에 비해 과소한 전류
신호선-주사선 단락 정상치에 비해 과대한 전류
이와 같이, 도 4에 도시한 제2 실시 형태에 있어서도, 각 선(신호선, 주사선, Cs선)의 전위를 적당하게 설정함으로써, 불량의 유무뿐만아니라 불량의 종류를 특정할 수 있기 때문에 유효한 불량 해석이 가능해진다.
이와같이, 제2 실시 형태에 따르면, 제1 실시 형태와 마찬가지로, 비디오 버스 및 신호선(12)의 단선이나 단락을 검사하기 위해서, 신호선(12)과 신호선 구동 회로(19) 간에 프로빙 패드를 설치하지 않고 해결되므로 신호선 구동 회로(19)의 점유 면적의 증대가 회피되고, 제품 모듈의 조밀함을 유지할 수 있다. 또한, 프로브는 현재까지와 같이 OLB 패드군(20)에 접촉시키는 것만으로 해결되므로, 고정밀도 또한 고가격의 비정질 실리콘용 프로브는 불필요해지며 제조 비용을 삭감할 수있다.
또 본 실시예 중 배선(32A, 32B)은 검사 전용 배선일 필요는 없고, 예를 들면 주사선 구동 회로(18) 혹은 신호선 구동 회로(19) 전원의 배선과 겸용하는 것도 가능하다.
(제3 실시 형태)
다음에, 본 발명에 따른 액정 표시 장치의 제3 실시 형태를 도 5를 참조하여 설명한다. 이 제3 실시 형태는 p-Si형 TFT·LCD에서 신호선 구동 회로의 일부분, 예를 들면 신호선에 직접 접속하는 스위칭 소자를 포함하는 스위칭 회로를 어레이 기판 상에 남기고, 다른 구동 회로 부분을 외부 부착으로 한 구성으로 되어 있다. 도 5는 이 실시 형태의 액정 표시 장치에 관한 어레이 기판(100)의 구성을 나타내는 등가 회로도이다. 이 어레이 기판(100)은 도 1에 도시한 제1 실시 형태에 따른 어레이 기판에 있어서, 신호선 구동 회로(19)를 p 채널 TFT를 포함하는 스위칭 소자(60b)를 갖는 스위치 회로(60)로 치환함과 함께, 스위칭 소자(13) 및 주사선 구동 회로(18)를 구성하는 TFT를 p 채널 TFT로 치환한 구성으로 되어 있다.
이 스위치 회로(60)의 스위칭 소자(60a)가 각 신호선(12)마다 설치되고, 드레인이 대응하는 신호선(12)에 접속된 구성으로 되어 있다. k를 l에서 n까지의 자연수(k=1, …, n)로 하였을 때, 도 5의 좌측에서부터 세어 2k-1번째의 신호선(12)에 접속된 스위칭 소자(60a)의 소스와, 인접하는 2k번째의 신호선에 접속된 스위칭 소자(60a)의 소스와는 공통으로 접속되어 비디오 버스(50k)를 통해 OLB 패드(23k)에 접속되는 구성으로 되어 있다. 또한, 도 5 좌측에서부터 세어 홀수번째의 신호선(12)에 접속된 스위칭 소자(60a)의 게이트는 공통으로 OLB 패드(24)에 접속되고, 짝수번째의 신호선(12)에 접속된 스위칭 소자(60a)의 게이트는 공통으로 OLB 패드(25)에 접속된 구성으로 되어 있다. 따라서, 이 제3 실시 형태에서는 영상 신호는 우선 홀수번째의 신호선(12)으로 보내진 후, 짝수번째의 신호선(12)으로 보내지는 구성으로 되어 있다. 또, 영상 신호는 우선 짝수번째의 신호선(12)으로 보내진 후, 홀수번째의 신호선(12)에 보내지는 구성으로 해도 된다.
이와 같이 구성된 본 실시 형태에 따른 어레이 기판에 있어서, 예를 들면 OLB 패드(23i; i=1, …, n)에 전압원(41)을 접속하고, OLB 패드(27)에 또 하나의 전압원(42)을 접속하고, OLB 패드(23i) 및 OLB 패드(27) 간에 소정의 시험 전압을 인가함과 함께, 전압원(41)으로부터 OLB 패드(23i)에 흐르는 전류치를 측정함으로써, 신호선(12)에 영상 신호를 공급하는 비디오 버스(50i) 및 신호선(12)의 단선이나 단락을 용이하게 검출할 수 있다.
그러므로, 이 제3 실시 형태에 따르면, 비디오 버스(50i: i=1, …, n) 및 신호선(12)의 단선이나 단락을 검사하기 위해서, 신호선(12)과 어레이 기판 상에 형성된 신호선 구동 회로(스위치 회로 ; 60) 간에 프로빙 패드를 설치하지 않고 해결되므로, 신호선 구동 회로(스위치 회로 ; 60)의 점유 면적의 증대가 회피되어 제품 모듈이 조밀함을 유지할 수 있다.
또한, 이 실시 형태의 액정 표시 장치에서 Cs선(16)을 이용하여 화소 검사하는 경우에는, 어레이 기판(100) 상에 설치된 스위치 회로(60)를 통해서 행하기 때문에, 신호선 구동 회로(19)가 내장된 p-Si형 TFT·LCD의 경우에 비하여, 높은 S/N 비를 얻을 수 있다.
또한, 표시 장치로서 화상을 출력할 때에는 각 신호선(12)이 단락하면 정상적으로 화상을 출력할 수 없기 때문에, 상기 검사 후 배선(32)을 분리한다.
그런데, 도 5에 도시한 제3 실시 형태에서는 신호선(12)의 각 타단을 배선(32)에 직접 접속하였지만, 도 6에 도시한 바와 같이 각 신호선(12)의 타단부에 각각 저항(35)을 설치하고, 이 저항(35)을 통해 신호선(12)을 배선(32)에 접속함으로써, 신호선(12)이 배선(32)을 통해 단락되는 사태를 미연에 방지할 수 있다.
또한, 도 7에 도시한 바와 같이, 상기 저항(35) 대신에 외부로부터 온, 오프 제어하는 것이 가능한 스위치(36), 예를 들면 트랜지스터를 설치하고, 신호선(12)을 이 스위치(36)를 통해 배선(32)에 접속하고, 비디오 버스(50i: i = 1, …, n) 및 신호선(12)의 단선이나 단락을 검사하는 경우에 이 스위치(36)를 온 상태로 하고, 그 이외의 경우에는 이 스위치(36)를 오프 상태로 함으로써, 검사 시의 전류의 확보와 비검사 시의 각 신호선(12) 상호 간의 단락 방지를 보다 확실하게 할 수 있다.
(제4 실시 형태)
다음에, 본 발명에 따른 액정 표시 장치의 제4 실시 형태를 도 8을 참조하여 설명한다. 이 제4 실시 형태의 액정 표시 장치는 하이브리드형으로, 그 어레이 기판의 등가 회로를 도 8에 도시한다. 이 어레이 기판(100)은 도 5에 도시한 제3 실시 형태에 따른 어레이 기판에 있어서, 배선(32) 대신에 배선(32A, 32B)을 설치함과 함께, OLB 패드(27) 대신에 배선(32A)에 접속된 OLB 패드(27A) 및 배선(32B)에 접속된 OLB 패드(27B)를 설치하고, 또한 각 신호선(12)을 배선(32A)에 접속하는 다이오드(33A) 및 각 신호선(12)을 배선(32B)에 접속하는 다이오드(33B)를 새롭게 설치한 구성으로 되어 있다. 다이오드(33A)는 애노드가 배선(32A)에 접속되며, 캐소드가 신호선(12)에 접속된 구성으로 되어 있다. 또한, 다이오드(33B)는 애노드가 신호선(12)에 접속되며, 캐소드가 배선(32B)에 접속된 구성으로 되어 있다.
이와 같이 구성된 본 실시 형태의 어레이 기판의 검사 방법은 도 4에 도시한 제2 실시 형태의 경우와 마찬가지로 하여 행할 수 있다. 즉, 제2 실시 형태의 경우와 같이, 각 선(신호선, 주사선, Cs선)의 전위를 적당하게 설정함으로써, 불량의 유무뿐만아니라 불량의 종류를 특정할 수 있다.
또, 이 실시 형태의 액정 표시 장치에서 Cs선(16)을 이용하여 화소 검사하는 경우에는 어레이 기판(100) 상에 설치된 스위치 회로(60)를 통해 행하므로, 신호선 구동 회로(19)가 내장된 p-Si형 TFT·LCD의 경우에 비하여 높은 S/N 비를 얻을 수 있다.
(제5 실시 형태)
다음에, 본 발명에 따른 액정 표시 장치의 제5 실시 형태를 도 9를 참조하여설명한다. 이 제5 실시 형태의 액정 표시 장치의 어레이 기판의 등가 회로를 도 9에 도시한다. 이 어레이 기판(100)은 도 8에 도시한 제4 실시 형태에 따른 어레이 기판에 있어서, 어레이 기판(100) 상에 설치된 배선(37A, 37B)과, 배선(37A)에 접속된 OLB 패드(28A) 및 배선(37B)에 접속된 OLB 패드(28B)를 새롭게 설치한 구성으로 되어 있다. 본 실시 형태에서는 도면 상에서 좌측에서부터 세어 짝수번째의 신호선(12)에 접속된 다이오드(33A, 33B)는 배선(32A, 32B)을 통해 OLB 패드(27A, 27B)에 각각 접속되지만, 홀수번째의 신호선(12)에 접속된 다이오드(33A, 33B)는 배선(37A, 37B)을 통해 OLB 패드(28A, 28B)에 각각 접속된 구성으로 되어 있다. 짝수번째의 신호선(12)에 접속된 다이오드(33A)는 애노드가 배선(32A)에 접속되고, 캐소드가 상기 신호선(12)에 접속된 구성으로 되어 있고, 짝수번째의 신호선(12)에 접속된 다이오드(33B)는 애노드가 상기 신호선(12)에 접속되고, 캐소드가 배선(32B)에 접속된 구성으로 되어 있다. 또한, 홀수번째의 신호선(12)에 접속된 다이오드(33A)는 애노드가 배선(37A)에 접속되고, 캐소드가 상기 신호선(12)에 접속된 구성으로 되어 있고, 홀수번째의 신호선(12)에 접속된 다이오드(33B)는 애노드가 상기 신호선(12)에 접속되고, 캐소드가 배선(37B)에 접속된 구성으로 되어 있다.
이와 같이 구성된 제5 실시 형태에서는, 제4 실시 형태의 경우와 마찬가지로, 각 선(신호선, 주사선, Cs선)의 전위를 적당하게 선택함으로써, 불량의 유무뿐만아니라 불량의 종류를 특정할 수 있다.
또한, 이 제5 실시 형태에서는 끝에서부터 세어 홀수번째와 짝수번째의 신호선에 각각 다른 전압을 인가하는 것이 가능한 구성으로 되어 있으므로, 예를 들면 홀수번째의 신호선을 검사하고 있을 때, 인접하는 짝수번째의 신호선에 전압을 인가함으로써, 인접하는 신호선 간의 단락도 검사할 수 있다.
또, 이 실시 형태의 액정 표시 장치에서 Cs선(16)을 이용하여 화소 검사하는 경우에는 어레이 기판(100) 상에 설치된 스위치 회로(60)를 통해서 행하기 때문에, 신호선 구동 회로(19)가 내장된 p-Si형 TFT·LCD인 경우에 비하여, 높은 S/N 비를 얻을 수 있다.
이상 진술한 바와 같이, 본 발명에 따르면 어레이 기판 상에 형성된 신호선 구동 회로의 면적을 증대시키지 않고, 어레이 기판의 OS 검사를 행할 수 있음과 함께 제조 비용을 삭감할 수 있다.

Claims (20)

  1. 기판과,
    상기 기판 상에 형성된 복수개의 주사선과,
    상기 주사선과 교차하도록 상기 기판 상에 형성된 복수개의 신호선과,
    상기 주사선과 상기 신호선의 각 교차부에 설치되고, 대응하는 주사선에 게이트가 접속되고, 대응하는 신호선에 소스가 접속된 박막 트랜지스터와,
    각 박막 트랜지스터에 대응하여 설치되고 박막 트랜지스터의 드레인에 접속된 화소 전극과,
    상기 기판의 가장자리 단부에 설치되고 외부와의 신호의 입출력에 사용되는 입출력 단자를 복수개 포함하는 입출력 단자군과,
    상기 주사선을 구동하는 주사선 구동 회로와,
    상기 신호선을 구동하는 신호선 구동 회로와,
    상기 기판 상에 형성되고 상기 입출력 단자군 중 적어도 하나의 입출력 단자에 접속하는 제1 배선과,
    상기 각 신호선의 타단을 상기 제1 배선에 접속하는 다이오드
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 어레이 기판.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 화소 전극에 각각 대응하여 설치되고 일단이 대응하는 화소 전극에 접속되는 보조 용량과,
    상기 보조 용량의 타단에 접속된 보조 용량선을 포함하고, 이들 보조 용량선은 상기 입출력 단자군 중 하나의 입출력 단자에 공통으로 접속되는 것을 특징으로 하는 어레이 기판.
  3. 삭제
  4. 삭제
  5. 삭제
  6. 제1항에 있어서,
    상기 제1 배선은 상호 다른 상기 입출력 단자에 접속된 제2 배선과 제3 배선을 포함하고,
    상기 신호선의 타단에 애노드가 접속되고 상기 제2 배선에 캐소드가 접속된 제1 다이오드와, 상기 신호선의 타단에 캐소드가 접속되고 상기 제3 배선에 애노드가 접속된 제2 다이오드를 상기 신호선마다 설치한 것을 특징으로 하는 어레이 기판.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 제2 및 제3 배선은 상기 주사선 구동 회로 또는 상기 신호선 구동 회로의 입출력 신호용 배선과 겸용하는 것을 특징으로 하는 어레이 기판.
  8. 제1항에 있어서,
    일단이 상기 입출력 단자군 중 적어도 하나의 입출력 단자에 접속된 비디오 버스를 더 포함하고,
    상기 신호선 구동 회로는 신호선마다 설치된 선택 스위치를 포함하고, 각 선택 스위치는 일단이 대응하는 신호선에 접속되고 타단이 비디오 버스에 접속된 것을 특징으로 하는 어레이 기판.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 화소 전극에 각각 대응하여 설치되고 일단이 대응하는 화소 전극에 접속되는 보조 용량과, 상기 보조 용량의 타단에 접속된 보조 용량선을 포함하고, 이들 보조 용량선은 상기 입출력 단자군 중 하나의 입출력 단자에 공통으로 접속되는 것을 특징으로 하는 어레이 기판.
  10. 삭제
  11. 삭제
  12. 삭제
  13. 삭제
  14. 제8항에 있어서,
    k가 자연수일 때, 끝에서부터 2k-1번째의 신호선과 인접하는 2k번째의 신호선에 각각 접속된 상기 선택 스위치의 타단이 상기 비디오 버스에 공통으로 접속되는 것을 특징으로 하는 어레이 기판.
  15. 제8항에 있어서,
    상기 제1 배선은 상호 다른 상기 입출력 단자에 접속된 제2 내지 제5 배선을 포함하고,
    상기 신호선의 타단에 애노드가 접속된 제1 다이오드와 상기 신호선의 타단에 캐소드가 접속된 제2 다이오드를 상기 신호선마다 설치하고,
    상기 복수의 신호선을 적어도 제1 및 제2 신호선군으로 분할하고,
    상기 제1 신호선군에 속하는 신호선의 타단에 애노드가 접속된 상기 제1 다이오드는 캐소드가 제2 배선에 접속되고,
    상기 제1 신호선군에 속하는 신호선의 타단에 캐소드가 접속된 상기 제2 다이오드는 애노드가 제3 배선에 접속되고,
    상기 제2 신호선군에 속하는 신호선의 타단에 애노드가 접속된 상기 제1 다이오드는 캐소드가 제4 배선에 접속되고,
    상기 제2 신호선군에 속하는 신호선의 타단에 캐소드가 접속된 상기 제2 다이오드는 애노드가 제5 배선에 접속된 것을 특징으로 하는 어레이 기판.
  16. 제15항에 있어서,
    상기 제1 신호선군은 끝에서부터 홀수번째의 신호선을 포함하고, 상기 제2 신호선군은 끝에서부터 짝수번째의 신호선을 포함하는 것을 특징으로 하는 어레이 기판.
  17. 제16항에 있어서,
    k가 자연수일 때, 끝에서부터 2k-1번째의 신호선과 인접하는 2k번째의 신호선에 각각 접속된 상기 선택 스위치의 타단이 상기 비디오 버스에 공통으로 접속된 것을 특징으로 하는 어레이 기판.
  18. 제1항에 기재된 어레이 기판과,
    제2 기판 상에 형성된 대향 전극을 포함하는 대향 기판과,
    상기 어레이 기판과 상기 대향 기판 간에 협지된 액정층을 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치.
  19. 제1항에 기재된 어레이 기판을 검사하는 검사 방법으로서,
    상기 배선이 접속된 상기 입출력 단자와, 상기 입출력 단자 이외에 적어도 영상 신호를 공급하는 입출력 단자 간에 소정의 전압을 인가하고, 상기 전압이 인가된 상기 입출력 단자에 흐르는 전류를 측정하는 것을 특징으로 하는 어레이 기판의 검사 방법.
  20. 주사선 각각이, 주사선 구동 회로에 일단이 접속되어 기판 상에 형성된 제2 배선을 통해, 입출력 단자군 중 신호선 및 보조 용량선과 접속된 입출력 단자 이외의 입출력 단자에 접속되도록 구성된 제2항에 기재된 어레이 기판을 검사하는 검사 방법으로서,
    상기 제2 배선 또는 상기 보조 용량선이 접속된 상기 입출력 단자와, 상기 입출력 단자 이외에 적어도 영상 신호를 공급하는 입출력 단자 간에 소정의 전압을 인가하고,
    상기 전압이 인가된 상기 입출력 단자에 흐르는 전류를 측정하는 것을 특징으로 하는 어레이 기판의 검사 방법.
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