JP2001201765A - 液晶表示装置及びその検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 列電極駆動回路の面積を増大させずに、低精
度で低価格の多結晶シリコン用プローバを用いて、多結
晶シリコンアレイ基板の断線、短絡検査を行い得る液晶
表示装置及びその検査方法を提供する。 【解決手段】 基板面に行電極及び列電極、これらの各
交差部にそれぞれ設けられたスイッチング素子を介して
接続される画素電極，基板の縁端部に設けられた複数の
入出力端子、行電極駆動回路、並びに入出力端子を介し
て外部から加えられる映像信号を列電極の一端に加える
列電極駆動回路を有するマトリクスアレイ基板と、画素
電極に対向電極を対向させる対向基板と、画素電極及び
対向電極間に挟持された液晶層とを備えるものにおい
て、列電極の他端を少なくとも一つの入出力端子に共通
接続するアレイ基板上配線を基板面に形成したものであ
る。そして、アレイ基板上配線が接続された入出力端子
と、これらの入出力端子以外の少なくとも映像信号を供
給する入出力端子との間に所定の電圧を印加し、そのと
きの電流を測定して不良を検出する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は液晶表示装置（Liqu
id Crystal Display：以下単にＬＣＤとも言う）及びそ
の検査方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】一般に液晶表示装置は軽量、薄型で、低
消費電力であるため、テレビ、携帯情報端末あるいはグ
ラフィックディスプレイなどの表示素子として広く利用
されている。特に、スイッチング素子として薄膜トラン
ジスタ（Thin Film Transistor:ＴＦＴ）を用いたマト
リクス型の液晶表示装置は、高速応答性に優れ、高精細
化に適しており、ディスプレイ画面の高画質化、大型化
及びカラー画像化を実現するものとして注目されてい
る。

【０００３】従来、この種の液晶表示装置として、例え
ば図３に示すものが知られている。図３に示す液晶表示
装置は、透光性基板の一主面にマトリクス状に配設され
た走査用の行電極１１及び映像信号用の列電極１２を有
し、これら行電極１１及び列電極１２の各交差部分にそ
れぞれスイッチング素子としての薄膜トランジスタ１３
が設けられている。これら各薄膜トランジスタ１３には
それぞれ画素電極１４が接続され、さらに、これらの画
素電極１４には対向電極１６が対向配置され、これらの
間に液晶層１５が装入されている。

【０００４】また、各行電極１１は基板の図面上の側端
部に設けられた行電極駆動回路１８にそれぞれ接続さ
れ、各列電極１２は基板の図面上の下端部に設けられた
列電極駆動回路１９にそれぞれ接続されている。各対向
電極１６は対向基板上配線３１に共通接続され、この対
向基板上配線３１は、基板の下方の縁端に形成された入
出力端子群としてのアウタリードボンディング（Outer
Lead Bonding：以下、ＯＬＢと略記する）パット群２０
中のＯＬＢパッド２６を介して、図示を省略した対向電
極駆動回路にそれぞれ接続されている。

【０００５】そして、各行電極１１に対しては、行電極
駆動回路１８によって、上方から順に水平走査周期に対
応する電圧が印加される。また、各列電極１２には列電
極駆動回路１９に含まれる映像信号供給電極としてのビ
デオバスから映像信号に対応する電圧が印加される。こ
のため、薄膜トランジスタ１３は、行電極１１からの選
択信号が印加されるタイミングでオン状態になり、列電
極１２からの映像信号に対応する電圧をサンプリングし
て画素電極１４に与える。このため、液晶層１５には、
画素電極１４に加わった電圧と、対向電極駆動回路から
対向電極１６に加わった電圧との差分が充電され、その
電界によって液晶層１５が駆動されて表示動作が行われ
る。

【０００６】以上は行電極駆動回路１８及び列電極駆動
回路１９がガラス基板上に形成される場合であり、トラ
ンジスタを形成する半導体材料として、多結晶シリコン
（polycrystalline silicon）を用いる液晶表示装置が
ｐ−Ｓｉ型ＴＦＴ・ＬＣＤと呼ばれ、非晶質シリコン
（amorphous silicon）を用いる液晶表示装置がａ−Ｓ
ｉ型ＴＦＴ・ＬＣＤと呼ばれる。非晶質シリコンは多結
晶シリコンに比べ、トランジスタ特性が劣るため、ガラ
ス基板上に駆動回路を設けることは困難である。従っ
て、ａ−Ｓｉ型ＴＦＴ・ＬＣＤのアレイ基板は画素部分
のみで構成され、図４に示すように駆動回路は内蔵され
ない構成となる。この駆動回路は半導体集積回路（ドラ
イバIC）としてアレイ基板とは別途作成され、アレイ基
板のＯＬＢパッド１１１〜１１ｎ及び１２１〜１２ｎに
ＴＡＢ（Tape Automated Bonding）等の技法を用いて接
続される。

【０００７】図３に示す多結晶シリコンを用いたアレイ
基板と図４に示す非晶質シリコンを用いたアレイ基板と
の相違点の一つは、ＯＬＢパッドである。非晶質シリコ
ンでは列電極と行電極が直接ＯＬＢパッドに引き出され
る。従って、ＯＬＢパッドの数やピッチは列電極や行電
極の数やピッチと同等である。一方、多結晶シリコンで
は、列電極と行電極は、内蔵駆動回路によって駆動され
るため、直接ＯＬＢパッドに引き出されることはない。
ＯＬＢパッドから入力されるのは、内蔵駆動回路の入力
であり、その本数は、一般に列電極や行電極の数より１
桁程度小さい。従って、接続の信頼性確保のためＯＬＢ
パッドのピッチも大きくできる。以上説明したＯＬＢパ
ッドの相違点をまとめると表１のようになり、非晶質シ
リコンに比べ多結晶シリコンでは、プローバの精度は低
くてもよく、設備投資額が少なくて済むというメリット
がある。なお、表１はＰＣ（パーソナルコンピュータ）
用として一般的な１０．４インチＸＧＡ（Extended Gra
phics Array）対応の液晶表示装置の場合を示し、数値
は概略値である。

【０００８】

【表１】 上記のＯＬＢパッドの違いはアレイ工程中の検査にも影
響を与える。非晶質シリコンでは、アレイ工程中で列電
極が形成されると、短絡、断線の検査（以下、ＯＳ検査
とも言う）が実施される。これは列電極の一端に接続さ
れたＯＬＢパッドと他端に設けられたプロービング・パ
ッドにプローブを当て、所定の電圧を印加し、このとき
流れる電流を測定する検査である。ここで、列電極が正
常に形成されておれば、印加電圧と列電極の抵抗から決
められる所定の電流が観察される。もし、列電極が断線
（オープン）しておれば電流は流れないので、断線不良
を検出できる。また、検査時に行電極や補助容量電極
に、列電極とは異なる電圧を印加しておけば、列電極が
それらと短絡（ショート）したときには異常な電流が流
れるため、短絡不良を検出することができる。

【０００９】一方、多結晶シリコンのアレイ工程ではＯ
Ｓ検査がない。これは、列電極の端にプローブを当てる
ためのＯＬＢパッドが無いためである。

【００１０】

【発明が解決しようとする課題】上述したとおり、多結
晶シリコンアレイ工程ではＯＳ検査は実行されない。ア
レイ工程の最後ではアレイテストを行うが、多結晶シリ
コンでは内蔵駆動回路を介して画素部分を検査するため
Ｓ／Ｎ（信号対雑音比）が悪く、線欠陥の検出率は十分
ではない。以上から非結晶シリコンに比べ多結晶シリコ
ンでは、列電極の断線、短絡等の不良の検出率は低くな
る。この結果、不良アレイのセル工程への流れ込みが多
く、セル工程で無駄な製造コストを発生させることにな
る。

【００１１】また、多結晶シリコンアレイでＯＳ検査を
実施しようとすると、列電極の両端にプローブを当てる
プロービングパッドが必要になる。このプロービングパ
ッドはＯＬＢパッドとほぼ同じ大きさが必要となる。こ
れを列電極１２と列電極駆動回路１９との間に設ける
と、列電極駆動回路１９の占有面積が増大することにな
る。この結果、製品である液晶モジュールのコンパクト
さが失われてしまう。

【００１２】さらに、プロービングパッドを設けたとし
ても、そのピッチは列電極のピッチと同等となり、多結
晶シリコンアレイ基板の検査に高精度な非晶質シリコン
アレイ基板検査用のプローバが必要になる。これは設備
投資額の増大となる。

【００１３】本発明は上記の問題点を解決するためにな
されたもので、その目的は列電極駆動回路の面積を増大
させずに、低精度で低価格の多結晶シリコン用プローバ
を用いて、多結晶シリコンアレイ基板のＯＳ検査を行
い、不良アレイのセル工程への流れ込みを低減し、製造
コストを削減することのできる液晶表示装置及びその検
査方法を提供するにある。

【００１４】

【課題を解決するための手段】請求項１に係る発明は、
透光性の基板の一主面にマトリクス状に配設された走査
用の行電極及び映像信号用の列電極、これら行電極及び
列電極の各交差部にそれぞれ設けられたスイッチング素
子、これらのスイッチング素子にそれぞれ接続される画
素電極，基板の縁端部に設けられ、外部との信号の入出
力に使用される複数の入出力端子、行電極駆動回路、並
びに入出力端子を介して外部から加えられる映像信号を
列電極の一端に加える映像信号供給電極を含んでなる列
電極駆動回路を有するマトリクスアレイ基板と、画素電
極に対向させる対向電極を有し、マトリクスアレイ基板
に対向配置された対向基板と、画素電極及び対向電極間
に挟持された液晶層とを備え、行電極からの走査信号に
より列電極からの映像信号を、スイッチング素子を介し
て、画素電極に供給し、液晶層に電界を加える液晶表示
装置において、基板の一主面に形成され、各列電極の他
端を少なくとも一つの入出力端子に共通接続するアレイ
基板上配線を備えた、ことを特徴とするものである。

【００１５】請求項２に係る発明は、請求項１に記載の
液晶表示装置において、各列電極の他端を、それぞれ抵
抗を介して、アレイ基板上配線に接続したことを特徴と
してするものである。

【００１６】請求項３に係る発明は、請求項１に記載の
液晶表示装置において、各列電極の他端を、それぞれ外
部からオン、オフ制御することが可能なトランジスタを
介して、アレイ基板上配線に接続したことを特徴とする
ものである。

【００１７】請求項４に係る発明は、請求項１に記載の
液晶表示装置において、各列電極の他端を、それぞれダ
イオードを介して、アレイ基板上配線に接続したことを
特徴とするものである。

【００１８】請求項５に係る発明は、請求項４に記載の
液晶表示装置において、アレイ基板上配線は、互いに異
なる入出力端子に接続された第１のアレイ基板上配線と
第２のアレイ基板上配線とを含み、列電極の他端にアノ
ードが接続され、第１のアレイ基板上配線にカソードが
接続された第１のダイオードと、列電極の他端にカソー
ドが接続され、第２のアレイ基板上配線にアノードが接
続された第２のダイオードとを列電極毎に設けたことを
特徴とするものである。

【００１９】請求項６に係る発明は請求項５に記載の液
晶表示装置において、第１及び第２のアレイ基板上配線
は、マトリクスアレイ基板上の行電極駆動回路または列
電極駆動回路の入出力信号等の入出力端子群中の配線と
兼用することを特徴とするものである。

【００２０】請求項７に係る発明は、請求項１乃至６の
いずれか１項に記載の液晶表示装置を検査するに当た
り、アレイ基板上配線が接続された入出力端子と、これ
らの入出力端子以外の少なくとも映像信号を供給する入
出力端子との間に所定の電圧を印加し、この電圧が印加
された入出力端子に流れる電流を測定することにより、
列電極の断線及び短絡、列電極の行電極を含む他の電極
に対する短絡のうち、少なくとも一つの不良を検出する
ことを特徴とする液晶表示装置の検査方法である。

【００２１】

【発明の実施の形態】以下、本発明を図面に示す好適な
実施形態に基づいて詳細に説明する。

【００２２】図１は本発明に係る液晶表示装置の第１の
実施形態の構成を示す等価回路図である。

【００２３】この実施形態は、マトリクス状に配設され
た走査線とも呼ばれる走査用の行電極１１と信号線とも
呼ばれる映像信号用の列電極１２とを有し、これら行電
極１１と列電極１２とが交差する各交差部の近傍にそれ
ぞれスイッチング素子としての薄膜トランジスタ１３が
設けられ、これら各薄膜トランジスタ１３のソース電極
は列電極１２に、ドレイン電極は画素電極１４に、ゲー
ト電極は行電極１１にそれぞれ接続され、これらがマト
リクスアレイ基板を構成している。

【００２４】また、マトリクスアレイ基板の画素電極１
４に対向する対向電極１６を有する対向基板が、画素電
極１４と対向電極１６とが所定の間隙で対向するように
配置されており、これら画素電極１４と対向電極１６と
の間に液晶層１５が挟持されている。また、マトリクス
アレイ基板の行電極１１の一方の配設端部、すなわち、
図面の左端部には行電極１１を上方のものから順に駆動
する行電極駆動回路１８が設けられ、列電極１２の一方
の配設端部、すなわち、図面の下端部には映像信号を供
給する列電極駆動回路１９が設けられている。列電極駆
動回路１９はシフトレジスタ１９ａ及びスイッチング素
子１９ｂを含み、シフトレジスタ１９ａがスイッチング
素子１９ｂを駆動することによって映像信号を列電極１
２に供給するようになっている。

【００２５】さらに、列電極駆動回路１９が設けられた
下端部におけるマトリクスアレイ基板の縁端に、ＯＬＢ
パッド２１〜２６を含むＯＬＢパッド群２０が設けら
れ、このうち、ＯＬＢパッド２１，２２は行電極駆動回
路１８の入力端子に接続され、ＯＬＢパッド２３はスイ
ッチング素子１９ｂのソースに接続されている。また、
ＯＬＢパッド２４，２５はシフトレジスタ１９ａの入力
端子に接続され、ＯＬＢパッド２６は、対向基板上に配
線された対向基板上配線３１に接続され、もう一つのＯ
ＬＢパッド２７は列電極１２の他端、すなわち、図面の
上部の配設端を共通接続し、かつ、アレイ基板上に配線
されたアレイ基板上配線３２に接続されている。

【００２６】かかる構成により、例えば、ＯＬＢパッド
２３に電圧源４１を接続し、ＯＬＢパッド２７にもう一
つの電圧源４２を接続し、ＯＬＢパッド２３及びＯＬＢ
パッド２７間に所定の試験電圧を印加すると共に、電圧
源４１からＯＬＢパッド２３に流れる電流値を測定する
ことによって、列電極１２に映像信号を供給するビデオ
バス及び列電極１２の断線や短絡を検出することができ
る。

【００２７】かくして、この第１の実施形態によれば、
ビデオバス及び列電極１２の断線や短絡を検査するため
に、列電極１２と列電極駆動回路１９との間にプロービ
ングパッドを設けないで済むことから、列電極駆動回路
１９の占有面積の増大が回避され、製品モジュールのコ
ンパクトさを維持することができる。また、プローブは
これまで通りＯＬＢパッド群２０に当接させるだけで済
むため、高精度かつ高価格の非晶質シリコン用のプロー
バは不要となる。

【００２８】なお表示装置として出画するときには各列
電極１２が短絡していると正常に出画できないため、上
記検査の後、アレイ基板上配線３２を切り離す。

【００２９】ところで、図１に示した第１の実施形態で
は、列電極１２の各他端をアレイ基板上配線３２に直接
接続したが、各列電極１２の他端部にそれぞれ抵抗を設
け、この抵抗を介して列電極１２をアレイ基板上配線３
２に接続することによって、列電極１２がアレイ基板上
配線３２を介して短絡するという事態を未然に防ぐこと
ができる。

【００３０】また、図示を省略するが、上記抵抗の代わ
りに外部からオン、オフ制御することが可能なトランジ
スタを設け、列電極１２をこのトランジスタを介してア
レイ基板上配線３２に接続し、ビデオバス及び列電極１
２の断線や短絡を検査する場合にこのトランジスタをオ
ン状態とし、それ以外の場合にはこのトランジスタをオ
フ状態にすることによって、検査時の電流の確保と非検
査時の各列電極１２相互間の短絡をより確実に防止する
ことができる。

【００３１】図２は本発明に係る液晶表示装置の第２の
実施形態の構成を示す等価回路図である。図中、図１と
同一の要素には同一の符号を付してその説明を省略す
る。この実施形態はＯＬＢパッド群２０中のＯＬＢパッ
ド２７及び２８にそれぞれ一端が接続され、他端部がア
レイ基板の反対の縁端部、すなわち、図面の上端部に位
置するように引き回されたアレイ基板上配線３２Ａ 及
び３２Ｂを設けると共に、各列電極１２をアレイ基板上
配線３２Ａに接続する経路にダイオード３３Ａを設け、
各列電極１２をアレイ基板上配線３２Ｂに接続する経路
にダイオード３３Ｂを設けた点が図１と構成を異にし、
これ以外の構成は図１に示したものと同一である。な
お、ダイオード３３Ａはそのアノードがアレイ基板上配
線３２Ａに接続され、そのカソードが列電極１２に接続
されているのに対して、ダイオード３３Ｂはそのアノー
ドが列電極１２に接続され、そのカソードがアレイ基板
上配線３２Ｂに接続されている。

【００３２】上記のように構成された第２の実施形態の
検査方法について、特に、図１と構成を異にする部分を
中心にして以下に説明する。

【００３３】各列電極１２に対応して設けられたダイオ
ード３３Ａ，３３Ｂは列電極１２に対して異なる向きで
接続されている。ここで、ＯＬＢパッド２７に電圧源４
２を接続し、ＯＬＢパッド２８に電圧源４３を接続す
る。そして、電圧源４２によりアレイ基板上配線３２Ａ
に正常な列電極電位よりも低い電位を印加し、電圧源４
３によりアレイ基板上配線３２Ｂに正常な列電極電位よ
りも高い電位を印加する。このとき、列電極１２の電位
が正常な場合には、ダイオード３３Ａ，３３Ｂはいずれ
もオフ状態となり、電流は流れない。

【００３４】ここで、万一、列電極１２に異常な電圧が
発生した場合を考える。一例として、列電極の電位が正
常な電位よりも低くなるとダイオード３３Ａがオン状態
となり、列電極１２とアレイ基板上配線３２Ｂ間に電流
が流れる。この電流は列電極の電位が正常に戻り、アレ
イ基板上配線３２Ａの電位よりも高くなるまで流れ続け
る。逆に、列電極の電位が正常な電位よりも高くなると
ダイオード３３Ｂがオン状態となり、列電極１２とアレ
イ基板上配線３２Ａとの間に電流が流れる。この電流は
列電極１２の電位が正常に戻り、アレイ基板上配線３２
Ａ上の電位より低くなるまで流れ続ける。以上の動作に
より二つのダイオード３３Ａ，３３Ｂは列電極１２に発
生した異常な電圧をアレイ基板上配線３２Ａ，アレイ基
板上配線３２Ｂを通して外部に逃がすことにより、列電
極１２を破壊から保護している。これらのダイオードの
保護機能については、本願と同一の出願人によって出願
された特願平１０−２７１５１４号等に提案されてい
る。

【００３５】上述したように、保護機能を持たせたダイ
オード３３Ａ，３３Ｂを備えるものにおいても、アレイ
基板上配線３２Ａ，３２Ｂとビデオバス間の電流を、Ｏ
ＬＢパッド２３の外部にて測定することにより、列電極
１２のＯＳ検査を実施することができる。すなわち、ア
レイ基板上配線３２Ａを用いる場合には電圧源４２によ
り、このアレイ基板上配線３２Ａの電位を正常な列電極
電位より高くし、ダイオード３３Ａをオン状態にし、ビ
デオバスからダイオード３３Ａまでの電流経路を確保す
る。そして、アレイ基板上配線３２Ａと列電極１２に映
像信号を供給するビデオバスとの間に所定の電圧を印加
し、電流を測定することにより、列電極１２及びビデオ
バスの断線（オープン）や短絡（ショート）の不良の有
無を検出することができる。また、アレイ基板上配線３
２Ｂを用いる場合は、逆に電圧源４３によりアレイ基板
上配線３２Ｂの電位を正常な列電極１２の電位より低く
し、ダイオード３３Ｂをオン状態にしてＯＳ検査を行
う。

【００３６】ここで、検査時にアレイ基板上配線３２
Ａ，３３Ｂ、ビデオバス、図示省略のＣ_s線（補助容量
線）、行電極の各電位を表２のように設定する。

【００３７】

【表２】 この時は、アレイ基板上配線３２Ｂに接続されたダイオ
ード３３Ｂがオン状態となる。列電極が正常で断線や短
絡がない場合、ビデオバスの電圧５［Ｖ］と、アレイ基
板上配線３２Ｂの電圧２［Ｖ］との電位差３［Ｖ］の電
圧が図示を省略した測定回路に印加される。そして、こ
の電圧と列電極やビデオバスの抵抗値によって決まる電
流（正常値）が観測される。以下、故障の種類によって
観察される電流値がどのように変化するかについて説明
する。 （１）列電極の断線 列電極が断線した場合、電流の流れる経路が無くなるた
め、観察電流はほぼ０［Ａ］となる。 （２）列電極とＣｓ線（補助容量線）との短絡 列電極とＣｓ線とが短絡した場合、１５［Ｖ］のＣｓ線
から５［Ｖ］のビデオバスに向かって不良に起因する異
常電流が流れる。この異常電流は、正常電流とは向きが
逆になる。従って、列電極とＣｓ線との短絡が発生した
場合、観察される電流値は正常値より小さくなる。 （３）列電極と行電極との短絡 列電極と行電極とが短絡した場合、５［Ｖ］のビデオバ
スから−５［Ｖ］の行電極に向かって不良に起因する異
常電流が流れる。この異常電流は、正常電流と向きが同
じとなる。従って、列電極と行電極との短絡が発生した
場合、観察される電流値は正常値より大きくなる。

【００３８】上述した正常及び異常のモードと観察され
る電流値との関係をまとめると下記の表３の通りにな
る。

【００３９】

【表３】 このように、図２に示した第２の実施形態においても、
各電極の電位を適宜に設定することによって、不良の有
無だけでなく、不良の種類を特定することができるた
め、有効な不良解析が可能となる。

【００４０】かくして、第２の実施形態によれば、第１
の実施形態と同様に、ビデオバス及び列電極１２の断線
や短絡を検査するために、列電極１２と列電極駆動回路
１９との間にプロービングパッドを設けないで済むこと
から、列電極駆動回路１９の占有面積の増大が回避さ
れ、製品モジュールのコンパクトさを維持することがで
きる。また、プローブはこれまで通りＯＬＢパッド群２
０に当接させるだけで済むため、高精度かつ高価格の非
晶質シリコン用のプローバは不要となる。

【００４１】なお本実施例中のアレイ基板上配線３２Ａ
と３２Ｂは検査専用の配線である必要はなく、例えば行
電極駆動回路１８或いは列電極駆動回路１９の電源の配
線と兼用することも可能である。

【００４２】

【発明の効果】以上の説明によって明らかなように、本
発明によれば、列電極駆動回路の面積を増大させずに、
低精度で低価格の多結晶シリコン用プローバを用いて、
多結晶シリコンアレイのＯＳ検査を行い、不良アレイの
セル工程への流れ込みを低減し、製造コストを削減する
ことができる。

【００４３】また、本発明によれば、検査時に各電極の
電位を適宜設定することによって、不良の有無だけでな
く、不良の種類を特定することができるため、有効な不
良解析が可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る液晶表示装置の第１の実施形態の
構成を示す等価回路図。

【図２】本発明に係る液晶表示装置の第２の実施形態の
構成を示す等価回路図。

【図３】従来の多結晶シリコン型液晶表示装置の構成を
示す等価回路図。

【図４】従来の非晶質シリコン型液晶表示装置の構成を
示す等価回路図。

【符号の説明】

１１ 行電極 １２ 列電極 １３ 薄膜トランジスタ １４ 画素電極 １５ 液晶層 １６ 対向電極 １８ 行電極駆動回路 １９ 列電極駆動回路 ２０ アウタリードボンディングパッド群 ２１〜２７ アウタリードボンディングパッド（入出力
端子） ３１ 対向基板上配線 ３２，３２Ａ，３２Ｂ アレイ基板上配線 ４１，４２ 電圧源

フロントページの続き Ｆターム(参考） 2G014 AA02 AA03 AB21 AC09 AC10 2G036 AA22 AA27 BA33 BB12 CA06 2H088 EA02 FA13 HA02 HA06 HA08 MA20 2H092 GA40 GA51 GA59 JA24 JB22 JB31 KA04 KA05 NA13 NA14 NA15 NA16 NA29 PA06

Claims (7)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】透光性の基板の一主面にマトリクス状に配
   設された走査用の行電極及び映像信号用の列電極、これ
   ら行電極及び列電極の各交差部にそれぞれ設けられたス
   イッチング素子、これらのスイッチング素子にそれぞれ
   接続される画素電極，前記基板の縁端部に設けられ、外
   部との信号の入出力に使用される複数の入出力端子、行
   電極駆動回路、並びに前記入出力端子を介して外部から
   加えられる映像信号を前記列電極の一端に加える映像信
   号供給電極を含んでなる列電極駆動回路を有するマトリ
   クスアレイ基板と、前記画素電極に対向させる対向電極
   を有し、前記マトリクスアレイ基板に対向配置された対
   向基板と、前記画素電極及び前記対向電極間に挟持され
   た液晶層とを備え、前記行電極からの走査信号により前
   記列電極からの映像信号を、前記スイッチング素子を介
   して、前記画素電極に供給し、前記液晶層に電界を加え
   る液晶表示装置において、 前記基板の一主面に形成され、前記各列電極の他端を少
   なくとも一つの前記入出力端子に共通接続するアレイ基
   板上配線を備えた、ことを特徴とする液晶表示装置。
2. 【請求項２】前記各列電極の他端を、それぞれ抵抗を介
   して、前記アレイ基板上配線に接続したことを特徴とす
   る請求項１に記載の液晶表示装置。
3. 【請求項３】前記各列電極の他端を、それぞれ外部から
   オン、オフ制御することが可能なトランジスタを介し
   て、前記アレイ基板上配線に接続したことを特徴とする
   請求項１に記載の液晶表示装置。
4. 【請求項４】前記各列電極の他端を、それぞれダイオー
   ドを介して、前記アレイ基板上配線に接続したことを特
   徴とする請求項１に記載の液晶表示装置。
5. 【請求項５】前記アレイ基板上配線は、互いに異なる前
   記入出力端子に接続された第１のアレイ基板上配線と第
   ２のアレイ基板上配線とを含み、前記列電極の他端にア
   ノードが接続され、前記第１のアレイ基板上配線にカソ
   ードが接続された第１のダイオードと、前記列電極の他
   端にカソードが接続され、前記第２のアレイ基板上配線
   にアノードが接続された第２のダイオードとを前記列電
   極毎に設けたことを特徴とする請求項４に記載の液晶表
   示装置。
6. 【請求項６】前記第１及び第２のアレイ基板上配線は、
   前記マトリクスアレイ基板上の前記行電極駆動回路また
   は前記列電極駆動回路の入出力信号等の前記入出力端子
   群中の配線と兼用することを特徴とする請求項５に記載
   の液晶表示装置。
7. 【請求項７】請求項１乃至６のいずれか１項に記載の液
   晶表示装置を検査するに当たり、前記アレイ基板上配線
   が接続された前記入出力端子と、これらの入出力端子以
   外の少なくとも映像信号を供給する前記入出力端子との
   間に所定の電圧を印加し、この電圧が印加された前記入
   出力端子に流れる電流を測定することにより、前記列電
   極の断線及び短絡、前記列電極の前記行電極を含む他の
   電極に対する短絡のうち、少なくとも一つの不良を検出
   することを特徴とする液晶表示装置の検査方法。