CN103529354B - 一种电路测试方法及电路测试系统 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种电路测试方法及系统，用于进行包括电容触摸屏的测量，电容触摸屏包括由若干横向排布的感应线组成的第一电极矩阵和由若干纵向排布的感应线组成的第二电极矩阵；该方法包括：当测试第一电极矩阵或第二电极矩阵中某一感应线时，将第一电极矩阵和第二电极矩阵中除待测感应线之外的其他感应线均配置为地线，为待测感应线上输送第一电压，检测待测感应线上的电流，当待测感应线上有电流产生，则判定待测感应线为短路状态；重复上述步骤，依次对其他感应线进行测试。本发明所提供的方法，无需在触摸屏的母基板上为制作短路棒预留空间，节约母基板上空间，操作简单，测试过程简单，可测试电容式触摸屏中每一感应线上的短路状况。

Description

一种电路测试方法及电路测试系统
技术领域
本发明涉及电路测试方法及电路测试系统，尤其涉及一种电容式触摸屏的电路测试方法及电路测试系统。
背景技术
市场上有各种各样的电容式触摸屏，都是采用开放的电场结构，电容触摸屏正是利用开放电场易受外界干扰的原理制成的。投射式电容式触摸屏（capacitive projected Touch panel）是在电容式触摸屏上增加两组存在不同平面又相互垂直的感应线（X、Y）与驱动线所构成，由于X、Y感应线的架构在不同表面（或者在同一表面但在横竖交叉处要做绝缘处理），其相交处形成一电容节点，当电流经驱动线通过其中之一的感应线时，另一层感应线及与侦测电容值变化的电子回路相通。操作时，控制器先后供电流予不同层之驱动线，因而使各节点与感应线间形成一特定电场，当手指或触动媒介接近时，控制器迅速测知在节点与感应线间的电容值改变，进而确认触动的位置。
如图1所示为透射式电容触摸屏面板的示意图，图2所示为透射式电容触摸屏的工作原理图。一般需要测试电容触摸屏上垂直设置的两组感应线中每一感应线的电阻是否正常，从而确认触摸屏组成模块后可否正常工作。如图1和图2所示，现有技术中，可以使用以下方法测试电容触摸屏：在感应线尾端接上短路棒（shorting bar）10，通过测量感应线的头和短路棒即可得电阻电容。
但是此方法有缺点，比如需要在母基板上为制作短路棒预留空间，这样会在母基板上会浪费许多空间，还需要切除短路棒，并且当测量的感应线与其相邻的感应线之间有短路时，则此方法量出的电阻值也会正常，无法查觉不正常电阻。
发明内容
本发明的目的是提供一种电路测试方法及系统，测试方法简单，可以测试电容式触摸屏上每条感应线。
本发明所提供的技术方案如下：
一种电路测试方法，用于进行包括电容触摸屏的测量，所述电容触摸屏包括由若干横向排布的感应线组成的第一电极矩阵和由若干纵向排布的感应线组成的第二电极矩阵，所述第一电极矩阵的感应线和所述第二电极矩阵的感应线相交处形成电容节点；所述的方法包括：
步骤1、当测试第一电极矩阵或第二电极矩阵中某一感应线时，将所述第一电极矩阵和所述第二电极矩阵中除待测感应线之外的其他感应线均配置为地线，并为所述待测感应线上输送第一电压，检测所述待测感应线上的电流，当所述待测感应线上有电流产生，则判定所述待测感应线为短路状态；
步骤2、重复上述步骤1，依次对所述第一电极矩阵和所述第二电极矩阵中的其他感应线进行测试。
进一步的，所述第一电压为直流电压。
进一步的，所述方法还包括：
步骤3、当测试由第一电极矩阵的第一感应线和第二电极矩阵的第二感应线形成的电容节点时，
将所述第一感应线配置为地线，为所述第一电极矩阵除所述第一感应线之外的其他感应线上输送第二电压；
为所述第二感应线上输送第三电压，将所述第二电极矩阵除所述第二感应线之外的其他感应线配置为地线；
检测所述第一感应线上的电流，当所述第一感应线上有电流产生，则判定所述待测电容节点处的第一感应线和第二感应线短路，当所述第一感应线上无电流产生，则判定所述待测电容节点处的第一感应线和第二感应线开路；
步骤4、重复上述步骤3，依次对所述第一电极矩阵和所述第二电极矩阵中的其他感应线形成的电容节点进行测试。
进一步的，所述第二电压与所述第三电压均为直流电压，且所述第二电压与所述第三电压相同。
一种电路测试系统，用于进行包括电容触摸屏的测量，所述电容触摸屏包括由若干横向排布的感应线组成的第一电极矩阵和由若干纵向排布的感应线组成的第二电极矩阵，所述第一电极矩阵的感应线和所述第二电极矩阵的感应线相交处形成电容节点；所述的系统包括：
第一配置模块，用于当测试第一电极矩阵或第二电极矩阵中某一感应线时，将所述第一电极矩阵和所述第二电极矩阵中除待测感应线之外的其他感应线均配置为地线；
第二配置模块，用于为所述待测感应线上输送第一电压；
第一检测模块，用于检测所述待测感应线上的电流。
进一步的，所述第一电压为直流电压。
进一步的，所述系统还包括：
第三配置模块，用于当测试由第一电极矩阵的第一感应线和第二电极矩阵的第二感应线形成的电容节点时，将所述第一感应线配置为地线；
第四配置模块，用于为所述第一电极矩阵除所述第一感应线之外的其他感应线上输送第二电压；
第五配置模块，用于为所述第二感应线上输送第三电压；
第六配置模块，用于将所述第二电极矩阵除所述第二感应线之外的其他感应线配置为地线；
第二检测模块，用于检测所述第一感应线上的电流。
进一步的，所述第二电压与所述第三电压均为直流电压，且所述第二电压与所述第三电压相同。
本发明的有益效果如下：
本发明所提供的方法，无需在触摸屏的母基板上为制作短路棒预留空间，节约母基板上空间，并且无需进行切除短路棒等操作，操作简单，测试过程简单，可测试电容式触摸屏中每一感应线上的短路状况。
附图说明
图1为投射式电容触摸屏的示意图；
图2为现有技术中对投射式电容触摸屏进行测试的原理示意图；
图3为本发明所提供的电路测试方法的流程图；
图4表示本发明所提供的电路测试方法中步骤1待测感应线短路的原理示意图；
图5表示本发明所提供的电路测试方法中步骤3待测电容节点处开路的原理示意图。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的原理和特征进行描述，所举实例只用于解释本发明，并非用于限定本发明的范围。
针对现有技术中对于投射式电容触摸屏的测试存在需要母基板浪费空间、需要切除短路棒、测试结果有可能不准的问题，本发明提供一种电路测试方法，其测试方法简单，可以对没有为短路棒预留空间的触摸屏进行测试，且可以测试每一条感应线是否正常，从而确认触摸屏组成模块后可否正常工作。
首先对投射式电容触摸屏进行以下说明。如图4和图5所示，投射式电容触摸屏通常包括第一电极矩阵（图2和图4中所示的Matrix Switch Channels）和第二电极矩阵（图2和图4中所示的Multiplexer Channels），其中第一电极矩阵由若干横向排布的感应线组成，第二电极矩阵由若干纵向排布的感应线组成，第一电极矩阵和第二电极矩阵的感应线相交处形成电容节点。
本发明所提供的电路测试方法可以实现对所述第一电极矩阵和所述第二电极矩阵中的每一感应线进行short（短路）测试。
具体地，如图3和图4所示，本发明所提供的电路测试方法包括：
步骤1、当测试第一电极矩阵或第二电极矩阵中某一感应线时，将所述第一电极矩阵和所述第二电极矩阵中除待测感应线之外的其他感应线均配置为地线，并为所述待测感应线上输送第一电压，检测所述待测感应线上的电流，当所述待测感应线上有电流产生，则判定所述待测感应线为短路状态；
步骤2、重复上述步骤1，依次对所述第一电极矩阵和所述第二电极矩阵中的其他感应线进行测试。
采用上述方案，如图4所示，以第二电极矩阵中的第3根感应线为例，将除待测感应线之外的其他所有感应线给接地（Ground）讯号,给待测感应线接入一电压信号，如待测感应线上有电流产生（如图4所示第3根感应线上I≠0），则判定待测感应线short（短路），如此方法可对每条感应线进行short（短路）测试，并且只要量测试感应线的一端即可测试得知该感应线有无short（短路）。
优选的，所述第一电压为直流电压，即，给待测感应线输送一DC讯号。
此外，本发明所提供的电路测试方法还可以对由第一电极矩阵的感应线和第二电极矩阵的感应线相交处形成的电容节点（测试点，Test Pad）进行测试，以测试第一电极矩阵的感应线和第二电极矩阵的感应线相交处的开短路状况。
如图5所示，本发明所提供的电路测试方法可以采用以下步骤对电容节点处进行测试：
步骤3、当测试由第一电极矩阵的第一感应线和第二电极矩阵的第二感应线形成的电容节点时，
将所述第一感应线配置为地线，为所述第一电极矩阵除所述第一感应线之外的其他感应线上输送第二电压；
为所述第二感应线上输送第三电压，将所述第二电极矩阵除所述第二感应线之外的其他感应线配置为地线；
检测所述第一感应线上的电流，当所述第一感应线上有电流产生，则判定所述待测电容节点处的第一感应线和第二感应线短路，当所述第一感应线上无电流产生，则判定所述待测电容节点处的第一感应线和第二感应线开路；
步骤4、重复上述步骤3，依次对所述第一电极矩阵和所述第二电极矩阵中的其他感应线形成的电容节点进行测试。
优选的，所述第二电压与所述第三电压均为直流电压，且所述第二电压与所述第三电压相同。
采用上述方案，可以确认横向排列的第一电极矩阵的感应线和纵向排列的第二电极矩阵的感应线在相交处是短路还是开路。以图5中A测试点为例，A测试点处第一电极矩阵的第一感应线和第二电极矩阵的第二感应线相交。将第一电极矩阵的第一感应线上接上Ground讯号，而第一电极矩阵的其它感应线上接入一DC电压,在第二电极矩阵的第二感应线上也接入一DC电压,第二电极矩阵的其他感应线上接上Ground讯号，如此，若第一感应线上测得有电流，则判定A测试点处第一感应线和第二感应线短路，若第一感应线上无电流，则判定A测试点处第一感应线和第二感应线开路。
需要说明的是，由于第二感应线上输送的DC电压与第一电极矩阵上的其他感应线上输送的DC电压一样，由此保证第二电极矩阵的感应线无论是短路或开路，都不会影响对A测试点的测量结果。
此外，需要说明的是，本发明所提供的电路测试方法不仅可以对投射式电容触摸屏（capacitive projected Touch panel）进行测试，也可以用于LCD和OLED的测试，比如：测试LCD的栅线与源漏极之间的开路和短路状况等。
此外，本发明还提供了一种电路测试系统，用于进行包括电容触摸屏的测量，所述电容触摸屏包括由若干横向排布的感应线组成的第一电极矩阵和由若干纵向排布的感应线组成的第二电极矩阵，所述第一电极矩阵的感应线和所述第二电极矩阵的感应线相交处形成电容节点；所述的系统包括：
第一配置模块，用于当测试第一电极矩阵或第二电极矩阵中某一感应线时，将所述第一电极矩阵和所述第二电极矩阵中除待测感应线之外的其他感应线均配置为地线；
第二配置模块，用于为所述待测感应线上输送第一电压；
第一检测模块，用于检测所述待测感应线上的电流。
进一步的，所述第一电压为直流电压。
进一步的，所述系统还包括：
第三配置模块，用于当测试由第一电极矩阵的第一感应线和第二电极矩阵的第二感应线形成的电容节点时，将所述第一感应线配置为地线；
第四配置模块，用于为所述第一电极矩阵除所述第一感应线之外的其他感应线上输送第二电压；
第五配置模块，用于为所述第二感应线上输送第三电压；
第六配置模块，用于将所述第二电极矩阵除所述第二感应线之外的其他感应线配置为地线；
第二检测模块，用于检测所述第一感应线上的电流。
进一步的，所述第二电压与所述第三电压均为直流电压，且所述第二电压与所述第三电压相同。
以上所述是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明所述原理的前提下，还可以作出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (4)

1.一种电路测试方法，用于进行包括电容触摸屏的测量，所述电容触摸屏包括由若干横向排布的感应线组成的第一电极矩阵和由若干纵向排布的感应线组成的第二电极矩阵，所述第一电极矩阵的感应线和所述第二电极矩阵的感应线相交处形成电容节点；其特征在于，所述的方法包括：
步骤1、当测试第一电极矩阵或第二电极矩阵中某一感应线时，将所述第一电极矩阵和所述第二电极矩阵中除待测感应线之外的其他感应线均配置为地线，并为所述待测感应线上输送第一电压，检测所述待测感应线上的电流，当所述待测感应线上有电流产生，则判定所述待测感应线为短路状态；
步骤2、重复上述步骤1，依次对所述第一电极矩阵和所述第二电极矩阵中的其他感应线进行测试；
所述方法还包括：
步骤3、当测试由第一电极矩阵的第一感应线和第二电极矩阵的第二感应线形成的电容节点时，
将所述第一感应线配置为地线，为所述第一电极矩阵除所述第一感应线之外的其他感应线上输送第二电压；
为所述第二感应线上输送第三电压，将所述第二电极矩阵除所述第二感应线之外的其他感应线配置为地线；
检测所述第一感应线上的电流，当所述第一感应线上有电流产生，则判定所述待测电容节点处的第一感应线和第二感应线短路，当所述第一感应线上无电流产生，则判定所述待测电容节点处的第一感应线和第二感应线开路；
步骤4、重复上述步骤3，依次对所述第一电极矩阵和所述第二电极矩阵中的其他感应线形成的电容节点进行测试；
所述第一电压为直流电压，所述第二电压与所述第三电压均为直流电压。
2.根据权利要求1所述的电路测试方法，其特征在于，所述第二电压与所述第三电压相同。
3.一种电路测试系统，用于进行包括电容触摸屏的测量，所述电容触摸屏包括由若干横向排布的感应线组成的第一电极矩阵和由若干纵向排布的感应线组成的第二电极矩阵，所述第一电极矩阵的感应线和所述第二电极矩阵的感应线相交处形成电容节点；其特征在于，所述的系统包括：
第一配置模块，用于当测试第一电极矩阵或第二电极矩阵中某一感应线时，将所述第一电极矩阵和所述第二电极矩阵中除待测感应线之外的其他感应线均配置为地线；
第二配置模块，用于为所述待测感应线上输送第一电压；
第一检测模块，用于检测所述待测感应线上的电流；
所述系统还包括：
第三配置模块，用于当测试由第一电极矩阵的第一感应线和第二电极矩阵的第二感应线形成的电容节点时，将所述第一感应线配置为地线；
第四配置模块，用于为所述第一电极矩阵除所述第一感应线之外的其他感应线上输送第二电压；
第五配置模块，用于为所述第二感应线上输送第三电压；
第六配置模块，用于将所述第二电极矩阵除所述第二感应线之外的其他感应线配置为地线；
第二检测模块，用于检测所述第一感应线上的电流；
所述第一电压为直流电压，所述第二电压与所述第三电压均为直流电压,。
4.根据权利要求3所述的电路测试系统，其特征在于，所述第二电压与所述第三电压相同。
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Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103529354B (zh) 2013-10-31 2016-10-05 京东方科技集团股份有限公司 一种电路测试方法及电路测试系统
CN104317470B (zh) * 2014-11-14 2017-06-13 深圳市华星光电技术有限公司 互电容式ogs触摸面板及其制造方法
CN105116276B (zh) * 2015-09-15 2019-03-01 深圳市华星光电技术有限公司 一种电容屏的检测装置
CN105606948A (zh) * 2016-02-01 2016-05-25 北京集创北方科技股份有限公司 一种电路检测方法及系统
CN105676053B (zh) * 2016-02-23 2018-09-25 上海芯什达电子技术有限公司 一种触摸屏缺陷检测系统
CN106054013B (zh) * 2016-05-20 2018-11-30 北京集创北方科技股份有限公司 触摸装置检测方法及触摸装置
CN106293203A (zh) * 2016-07-29 2017-01-04 京东方科技集团股份有限公司 触控电极结构、其开路短路测试方法、触摸屏及显示装置
KR102578806B1 (ko) * 2016-10-31 2023-09-14 엘지디스플레이 주식회사 터치형 표시패널 및 그의 쇼트 리페어 방법
CN107230443B (zh) * 2017-06-30 2019-10-25 武汉华星光电技术有限公司 内嵌式触摸屏测试电路
CN108411342B (zh) * 2018-03-15 2019-06-07 北方工业大学 一种基于伪电阻的预测电极短路的方法及系统
CN108491116B (zh) * 2018-03-22 2021-01-26 武汉华星光电技术有限公司 内嵌式触控显示面板的触控单元检测方法及其检测系统
CN108646127B (zh) * 2018-04-19 2021-04-02 张家港康得新光电材料有限公司 触摸屏短路位置检测结构及检测方法
IT201800008022A1 (it) 2018-08-09 2020-02-09 St Microelectronics Srl Procedimento di autotest, circuito e dispositivo corrispondenti
TW202202862A (zh) * 2020-04-28 2022-01-16 日商日本電產理德股份有限公司 檢查裝置以及檢查方法
CN113238114B (zh) * 2021-07-12 2021-10-22 深圳市永达电子信息股份有限公司 一种通用型触摸屏自动检测装置和方法
CN116840323A (zh) * 2022-03-23 2023-10-03 群创光电股份有限公司 感测电子装置

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03252566A (ja) * 1990-03-01 1991-11-11 Fujitsu Ltd 電源間ショートの検出方法
CN101329380A (zh) * 2007-06-19 2008-12-24 安捷伦科技有限公司 在测试电路组件节点间短路时使用超节点的方法和设备
JP2011220916A (ja) * 2010-04-13 2011-11-04 Nidec-Read Corp 検査装置
TW201142681A (en) * 2010-03-29 2011-12-01 Internat Test & Amp Engineering Services Co Ltd Capacitance type touch panel inspection system and inspection method
CN102809707A (zh) * 2011-05-19 2012-12-05 马克西姆综合产品公司 使用互电容器测量的触摸面板测试
CN203012068U (zh) * 2012-12-26 2013-06-19 成都市中州半导体科技有限公司 一种开/短路测试系统

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001201765A (ja) * 2000-01-18 2001-07-27 Toshiba Corp 液晶表示装置及びその検査方法
JP2005258128A (ja) * 2004-03-12 2005-09-22 Tohoku Pioneer Corp 自発光表示モジュールおよび同モジュールを搭載した電子機器、ならびに同モジュールにおける欠陥状態の検証方法
US8519722B1 (en) * 2008-10-22 2013-08-27 Cypress Semiconductor Corporation Method and apparatus for testing projected capacitance matrices and determining the location and types of faults
TWM396960U (en) * 2010-07-29 2011-01-21 Chunghwa Picture Tubes Ltd Display device having repair and detect structure
US20130320994A1 (en) * 2012-05-30 2013-12-05 3M Innovative Properties Company Electrode testing apparatus
CN103529354B (zh) * 2013-10-31 2016-10-05 京东方科技集团股份有限公司 一种电路测试方法及电路测试系统

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03252566A (ja) * 1990-03-01 1991-11-11 Fujitsu Ltd 電源間ショートの検出方法
CN101329380A (zh) * 2007-06-19 2008-12-24 安捷伦科技有限公司 在测试电路组件节点间短路时使用超节点的方法和设备
TW201142681A (en) * 2010-03-29 2011-12-01 Internat Test & Amp Engineering Services Co Ltd Capacitance type touch panel inspection system and inspection method
JP2011220916A (ja) * 2010-04-13 2011-11-04 Nidec-Read Corp 検査装置
CN102809707A (zh) * 2011-05-19 2012-12-05 马克西姆综合产品公司 使用互电容器测量的触摸面板测试
CN203012068U (zh) * 2012-12-26 2013-06-19 成都市中州半导体科技有限公司 一种开/短路测试系统

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