CN106054013B - 触摸装置检测方法及触摸装置 - Google Patents
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Abstract
公开了一种触摸装置检测方法,触摸装置包括M条通道和控制模块,其中,M为大于等于2的整数,包括:将M条通道中相邻的2k条通道分为一组,其中,k=1;将划分后的每组通道的其中相邻的2k‑1条的通道接地或者固定电平;向其他未接地或固定电平的通道施加驱动信号获取各通道的检测数据;判断所述检测数据是否在预设阈值区间内;当所述检测数据未在预设阈值区间内,则对应的通道之间存在缺陷;将k递增之后,重复以上步骤直至2k≥M。本发明还提供一种触摸装置,能够快速检测任意通道之间是否存在短路,解决了现有的触摸屏缺陷检测技术存在的只能检测相邻通道的短路、扩展性差、检测覆盖面低的技术缺陷。
Description
技术领域
本发明属于触摸屏缺陷检测领域,更具体地,涉及一种触摸装置检测方法及触摸装置。
背景技术
触摸屏由于其坚固耐用、反应速度快、节省空间等优点在各种电子设备领域得到了越来越多的应用。投射式电容触摸屏产品目前正在成为市场主流产品。其扫描原理如图1所示,图1A、1B中的示出的电极阵列通常在玻璃基板112表面用ITO(铟锡氧化物)制成,横向和纵向ITO电极交叉处形成若干个互感电容,也即两组电极分别构成电容的两极,发生触摸时,触摸处相邻电极耦合情况产生变化,从而互电容值发生改变,通过扫描捕获到电容值的改变,即得到触摸位置。以一个4根行线、4根列线构成的触摸屏为例,行线和列线的电极分别构成互感电容的两极,当手指107触碰触摸屏对应的像素点103对应的位置时,像素点103附近的两个电极耦合发生变化,引起互感电容105值的变化,驱动电路102对行线,也即驱动线Drive Line100分时依次施加驱动信号,对列线,也即感测线Sense Line104逐列进行感测,感测信号通过运算放大器输出,通过检测对应电容值的变化得到触摸点的位置坐标。
图2中示出了电容触摸装置可能出现的几种故障,驱动源514和516施加驱动信号至对应的2条驱动线502和504,520和522为电极交叉处形成的互感电容,感测线506、508的感测信号通过运算放大器510、512输出,CFB为补偿电容。故障503为驱动线502和504之间的短路故障,507为感测线506和508之间的短路故障,509为驱动线502和感测线506之间的短路故障,511为断路故障。
电容屏装置和电容屏控制模块可能存在驱动线之间、感测线之间、以及驱动线与感测线之间的短路缺陷,因此触摸屏产品成型前需要对其电气参数如电容值进行测试,以保证产品良率。现有的触摸装置检测方法通常通过施加驱动信号驱动电极阵列的各通道,并通过检测互电容值的变化,根据电容测量的差值变化判断缺陷是否存在。但上述检测方法只能对相邻通道的短路缺陷进行检测,在实践中具有局限性。
发明内容
本发明的目的在于提供一种检测感测线之间、驱动线之间短路缺陷的触摸装置检测方法及触摸装置。
根据本发明的一方面,提供一种触摸装置检测方法,触摸装置包括M条通道和控制模块,其中,M为大于等于2的整数,包括:将M条通道中相邻的2k条通道分为一组,其中,k=1;将划分后的每组通道的其中相邻的2k-1条的通道接地或者固定电平;向其他未接地或固定电平的通道施加驱动信号获取各通道的检测数据;判断所述检测数据是否在预设阈值区间内;当所述检测数据未在预设阈值区间内,则对应的通道之间存在缺陷;将k+1赋予k,重复以上步骤直至2k≥M。
优选地,所述M条通道由交叉设置的M1条通道和M2条通道形成,其中,M1+M2=M。
优选地,所述M条通道由M1×M2个触点阵列引出,其中,M=M1×M2。
根据本发明的另一方面,提供一种触摸装置,包括:M条通道,控制模块,包括驱动电路和检测电路,其中,所述驱动电路用于提供驱动信号;所述检测电路用于获取检测数据。
优选地,所述检测电路还用于将M条通道中相邻的2k条通道分为一组;将划分后的每组通道的其中相邻的2k-1条的通道接地或者固定电平;所述驱动电路用于向其他未接地或固定电平的通道施加驱动信号;所述检测电路用于获取各通道的检测数据;判断所述检测数据是否在预设阈值区间内;当所述检测数据未在预设阈值区间内,则对应的通道之间存在缺陷。
优选地,所述M条通道由交叉设置的M1条通道和M2条通道形成,其中,M1+M2=M。
优选地,所述M条通道由M1×M2个触点阵列引出,其中,M=M1×M2。
本发明能够快速检测任意通道之间是否存在短路,解决了现有的触摸装置缺陷检测技术存在的只能检测相邻通道的短路、扩展性差、检测覆盖面低的技术缺陷。
附图说明
通过以下参照附图对本发明实施例的描述,本发明的上述以及其他目的、特征和优点将更为清楚,在附图中:
图1A-图1B示出了投射式电容触摸屏的工作原理示意图;
图2示出了电容触摸屏的常见的几种短路缺陷原理示意图;
图3示出了本发明实施例提供的触摸装置检测方法的流程图;
图4A-图4C示出了8通道的触摸装置的检测步骤的示意图;
图5示出了8通道的触摸装置的检测数据的示意图;
图6示出了本发明实施例提供的触摸装置的原理示意图;
图7示出了本发明另一实施例提供的触摸装置的原理示意图。
具体实施方式
以下将参照附图更详细地描述本发明的各种实施例。在各个附图中,相同的元件采用相同或类似的附图标记来表示。为了清楚起见,附图中的各个部分没有按比例绘制。
本发明可以各种形式呈现,以下将描述其中一些示例。
图3示出了本发明实施例提供的触摸装置检测方法的流程图。其中,触摸装置包含M个通道和控制模块,其中,M为大于等于2的整数。如图3所示,所述方法包括:
在步骤S301中,将M条通道中相邻的2k条通道分为一组,其中,k=1。
在步骤S302中,将划分后的每组通道的其中相邻的2k-1条的通道接地或者固定电平。
在步骤S303中,向其他未接地或固定电平的通道施加驱动信号获取各通道的检测数据。
在步骤S304中,判断所述检测数据是否在预设阈值区间内。
在步骤S305中,当所述检测数据未在预设阈值区间内,则对应的通道之间存在缺陷。
在步骤S306中,将k递增之后,重复以上步骤直至2k≥M。
在本实施例中,第一次检测时,如图4A所示,将M条通道依次两条通道分为一组,即相邻的2条通道分为一组,每组的其中1条通道接地或者固定电平,例如,M=8时,将M条通道分为4组,即第1通道和第2通道一组、第3通道和第4通道一组、第5通道和第6通道一组、第7通道和第8通道一组;将其中的第2、4、6、8通道的一端接地或者固定电平,而在其中的第1、3、5、7通道的一端施加驱动信号,在第1-8通道的另一端获取检测数据,此时可以根据检测数据判断如下通道之间是否有短路存在,即(1,2)、(1,4)、(1,6)、(1,8)、(2,3)、(2,5)、(2,7)、(3,4)、(3,6)、(3,8)、(4,5)、(4,7)、(5,6)、(5,8)、(6,7)、(7,8)。如果以上组合的通道之间有短路存在,会导致对应的两个通道得到的检测数据有异常。此时的检测数据如图5所示,从图中可知,第2通道和第3通道的检测数据分别为10、11,检测数据的数值与预设阈值2000偏差较大,远远低于正常值,由此判定第2通道和第3通道之间存在短路。其中,短路不仅仅指短路阻抗非常小的短路,还可以指一定阻抗的微短路,这个微短路的阻抗大小可以通过采集到的检测数据来判断,即可以通过修改预设阈值来检测出不同阻值的短路,并给出短路阻抗。
第二次检测时,如图4B所示,将M条通道依次四条通道分为一组,即相邻的4条通道分为一组,每组的其中2条通道接地或者固定电平,例如M=8时,将M条通道分为2组,即第1通道、第2通道、第3通道和第4通道一组、第5通道、第6通道、第7通道和第8通道一组;将其中的第3、4、7、8通道的一端接地或者固定电平,而在其中的第1、2、5、6通道的一端施加驱动信号,在第1-8通道的另一端获取检测数据,此时可以根据检测数据判断如下通道之间是否有短路存在,即(1,3)、(1,4)、(1,7)、(1,8)、(2,3)、(2,4)、(2,7)、(2,8)、(3,5)、(3,6)、(4,5)、(4,6)、(5,7)、(5,8)、(6,7)、(6,8)。如果以上组合的通道之间有短路存在,会导致对应的两个通道得到的检测数据有异常。
第三次检测时,如图4C所示,将M条通道依次八条通道分为一组,即相邻的8条通道分为一组,每组的其中4条通道接地或者固定电平,例如M=8时,将M条通道分为1组,即第1通道、第2通道、第3通道和第4通道、第5通道、第6通道、第7通道和第8通道一组;将其中的第5、6、7、8通道的一端接地或者固定电平,而在其中的第1、2、3、4通道的一端施加驱动信号,在第1-8通道的另一端获取检测数据,此时可以根据检测数据判断如下通道之间是否有短路存在,即(1,5)、(1,6)、(1,7)、(1,8)、(2,5)、(2,6)、(2,7)、(2,8)、(3,5)、(3,6)、(3,7)、(3,8)、(4,5)、(4,6)、(4,7)、(4,8)。如果以上组合的通道之间有短路存在,会导致对应的两个通道得到的检测数据有异常。
在一个优选的实施例中,所述M条通道由交叉设置的M1条通道和M2条通道形成,其中,M1+M2=M。
在本实施例中,任何一条通道均可以配置成驱动线,也可以配置成感测线。
在一个优选的实施例中,所述M条通道由M1×M2个触点阵列引出,其中,M=M1×M2。
在本实施例中,任何一条通道均可以配置成驱动线,也可以配置成感测线。
图5示出了本发明实施例提供的触摸装置的原理示意图。如图5所示,该触摸装置包括交叉设置的M1条通道和M2条通道形成的M条通道和控制模块,其中,所述电容屏设置有交叉设置的M1条通道和M2条通道,其中,M1+M2=M,任意通道均可以配置成驱动线,也可以配置成感测线。
在本实施例中,将M1条通道可配置成驱动线,将M2条通道配置成感测线。
具体地,以一个4*4电容触摸屏,即具有4条驱动线Drive Line和4条Sense Line的电容屏为例,共有M=M1+M2=8条通道。其中,第1通道、第2通道、第3通道和第4通道配置成驱动线;第5通道、第6通道、第7通道和第8通道配置成感测线。
第一次检测时,将8条通道依次两条通道分为一组,即相邻的2条通道分为一组,每组的其中1条通道接地或者固定电平,即第1通道和第2通道一组、第3通道和第4通道一组、第5通道和第6通道一组、第7通道和第8通道一组;将其中的第2、4、6、8通道的一端接地或者固定电平,而在其中的第1、3、5、7通道的一端施加驱动信号,在第1-8通道的另一端获取检测数据,此时可以根据检测数据判断如下通道之间是否有短路存在,即(1,2)、(1,4)、(1,6)、(1,8)、(2,3)、(2,5)、(2,7)、(3,4)、(3,6)、(3,8)、(4,5)、(4,7)、(5,6)、(5,8)、(6,7)、(7,8)。如果以上组合的通道之间有短路存在,会导致对应的两个通道得到的检测数据有异常。
第二次检测时,将8条通道依次四条通道分为一组,即相邻的4条通道分为一组,每组的其中2条通道接地或者固定电平,即第1通道、第2通道、第3通道和第4通道一组、第5通道、第6通道、第7通道和第8通道一组;将其中的第3、4、7、8通道的一端接地或者固定电平,而在其中的第1、2、5、6通道的一端施加驱动信号,在第1-8通道的另一端获取检测数据,此时可以根据检测数据判断如下通道之间是否有短路存在,即(1,3)、(1,4)、(1,7)、(1,8)、(2,3)、(2,4)、(2,7)、(2,8)、(3,5)、(3,6)、(4,5)、(4,6)、(5,7)、(5,8)、(6,7)、(6,8)。如果以上组合的通道之间有短路存在,会导致对应的两个通道得到的检测数据有异常。
第三次检测时,将8条通道依次八条通道分为一组,即相邻的8条通道分为一组,每组的其中4条通道接地或者固定电平,即第1通道、第2通道、第3通道和第4通道、第5通道、第6通道、第7通道和第8通道一组;将其中的第5、6、7、8通道的一端接地或者固定电平,而在其中的第1、2、3、4通道的一端施加驱动信号,在第1-8通道的另一端获取检测数据,此时可以根据检测数据判断如下通道之间是否有短路存在,即(1,5)、(1,6)、(1,7)、(1,8)、(2,5)、(2,6)、(2,7)、(2,8)、(3,5)、(3,6)、(3,7)、(3,8)、(4,5)、(4,6)、(4,7)、(4,8)。如果以上组合的通道之间有短路存在,会导致对应的两个通道得到的检测数据有异常。
图6示出了本发明另一实施例提供的触摸装置的原理示意图。如图6所示,该触摸装置包括由M1×M2个触点阵列引出的M条通道,其中,M=M1×M2。
在本实施例中,每一个触点均引出一条通道。具体地检测步骤与上一实施例的检测步骤一致,在此不再赘述。
本发明能够快速检测任意通道之间是否存在短路,解决了现有的触摸屏缺陷检测技术存在的只能检测相邻通道的短路、扩展性差、检测覆盖面低的技术缺陷。
依照本发明的实施例如上文所述,这些实施例并没有详尽叙述所有的细节,也不限制该发明仅为所述的具体实施例。显然,根据以上描述,可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例,是为了更好地解释本发明的原理和实际应用,从而使所属技术领域技术人员能很好地利用本发明以及在本发明基础上的修改使用。本发明的保护范围应当以本发明权利要求所界定的范围为准。
Claims (6)
1.一种触摸装置检测方法,触摸装置包括M条通道和控制模块,其中,M为大于2的整数,其特征在于,包括:
将M条通道中相邻的2k条通道分为一组,其中,k=1;
将划分后的每组通道的其中相邻的2k-1条的通道接地或者固定电平;
向其他未接地或固定电平的通道施加驱动信号获取各通道的检测数据;
判断所述检测数据是否在预设阈值区间内;
当所述检测数据未在预设阈值区间内,则对应的通道之间存在缺陷;
将k递增之后,重复以上步骤直至2k≥M,以检测M条通道中任意通道之间是否存在缺陷。
2.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,所述M条通道由交叉设置的M1条通道和M2条通道形成,其中,M1+M2=M。
3.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,所述M条通道由M1×M2个触点阵列引出,其中,M=M1×M2。
4.一种触摸装置,其特征在于,包括:
M条通道,其中,M为大于2的整数,
控制模块,包括驱动电路和检测电路,
其中,所述检测电路还用于将M条通道中相邻的2k条通道分为一组,其中,k=1;将划分后的每组通道的其中相邻的2k-1条的通道接地或者固定电平;
所述驱动电路用于向其他未接地或固定电平的通道施加驱动信号;
所述检测电路用于获取各通道的检测数据;判断所述检测数据是否在预设阈值区间内;当所述检测数据未在预设阈值区间内,则对应的通道之间存在缺陷;以及将k递增之后,重复以上步骤直至2k≥M,以检测M条通道中任意通道之间是否存在缺陷。
5.根据权利要求4所述的触摸装置,其特征在于,所述M条通道由交叉设置的M1条通道和M2条通道形成,其中,M1+M2=M。
6.根据权利要求4所述的装置,其特征在于,所述M条通道由M1×M2个触点阵列引出,其中,M=M1×M2。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201610341839.0A CN106054013B (zh) | 2016-05-20 | 2016-05-20 | 触摸装置检测方法及触摸装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201610341839.0A CN106054013B (zh) | 2016-05-20 | 2016-05-20 | 触摸装置检测方法及触摸装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN106054013A CN106054013A (zh) | 2016-10-26 |
CN106054013B true CN106054013B (zh) | 2018-11-30 |
Family
ID=57177437
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201610341839.0A Active CN106054013B (zh) | 2016-05-20 | 2016-05-20 | 触摸装置检测方法及触摸装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN106054013B (zh) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106526398B (zh) * | 2016-10-28 | 2019-08-27 | 昆山国显光电有限公司 | 电容式触摸屏的检测方法及检测装置 |
KR102634473B1 (ko) * | 2016-12-23 | 2024-02-06 | 주식회사 엘엑스세미콘 | 패널구동장치 및 표시장치 |
CN107450786B (zh) * | 2017-08-07 | 2021-03-23 | 京东方科技集团股份有限公司 | 触控控制器、包括其的触控面板以及检测电路故障的方法 |
CN107863054A (zh) * | 2017-11-07 | 2018-03-30 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | 一种修复感测信号线的方法、装置和显示装置 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101739189B (zh) * | 2008-11-26 | 2015-02-18 | 旭曜科技股份有限公司 | 接触点检测方法以及使用接触点检测方法的触控面板 |
JP5678742B2 (ja) * | 2010-07-22 | 2015-03-04 | 三菱電機株式会社 | 表示装置 |
US9122361B2 (en) * | 2011-05-19 | 2015-09-01 | Qualcomm Technologies, Inc. | Touch panel testing using mutual capacitor measurements |
CN102866322B (zh) * | 2012-08-29 | 2015-08-05 | 北京集创北方科技有限公司 | 一种触摸装置检测方法 |
TWI472979B (zh) * | 2012-10-22 | 2015-02-11 | Superc Touch Coporation | 可重組感測點之觸控面板裝置及感測方法 |
CN103969538B (zh) * | 2013-01-24 | 2016-11-16 | 上海天马微电子有限公司 | 内嵌式触摸屏的电测试方法 |
CN103226424A (zh) * | 2013-04-17 | 2013-07-31 | 敦泰科技有限公司 | 电容式触控设备检测方法和装置以及电容式触控设备 |
TWI494813B (zh) * | 2013-06-20 | 2015-08-01 | Focaltech Systems Ltd | 積體觸控有機發光二極體顯示裝置 |
CN103529354B (zh) * | 2013-10-31 | 2016-10-05 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种电路测试方法及电路测试系统 |
-
2016
- 2016-05-20 CN CN201610341839.0A patent/CN106054013B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN106054013A (zh) | 2016-10-26 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |