CN102866322B - 一种触摸装置检测方法 - Google Patents

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田志民
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Abstract

本发明涉及一种触摸装置检测方法，该触摸装置包含电容屏、电容屏控制芯片，电容屏上设置有多根交叉放置的驱动线和感测线，检测时，依次驱动所有驱动线，量取每根驱动线和感测线之间的互电容值，通过判断所述互电容值是否在阀值区间内，从而检测出该触摸装置是否存在缺陷。本发明所述的触摸装置的检测方法，利用侦测电容的方法来检测触摸装置是否存在异常，代替了传统的机械式检测步骤，方法简便，可以快速准确的判断该触摸装置是否存在异常，从而避免了不良品流入下一道工序，节约了成本。

Description

一种触摸装置检测方法
技术领域
本发明涉及一种触摸装置检测方法，尤其是投射电容式触摸屏缺陷检测方法。
背景技术
触摸屏作为一种新型的人机交互界面，以其易于使用、坚固耐用、反应速度快、节省空间等优点，广泛地被应用各种数字信息系统所使用，其中投射电容式触摸屏凭借其高舒适和高互动的人性化用户体验，为信息处理的人机交互界面提供了良好的解决方案。
近年众多厂家积极投入研发和生产电容式触摸屏，但电容式触摸屏生产工艺相当复杂，除少数大厂外，众多刚进入该领域的中小型企业生产效率低，不良率居高不下。因此完善的制程检测手段是众多生产企业提高效率和产品质量的关键。工厂生产测试目的是提高成品率，降低成本，在生产阶段分拣出有问题的产品，避免流入下一个阶段，造成浪费。
传统检测触摸装置的方法大都停留在机械式测试阶段，常见的有利用机械臂模拟手指在产品上进行划线、打点等动作来模拟实际人的操作方式，然后读取数据并处理，判定产品是否合格。该检测需利用机械臂来仿真手指的操作，所以需要提前设定机械臂以保证模拟操作时的准确性。这样务必增加了难度，而且浪费了时间。
因此我们希望能够为广大用户提供一种更加便捷的方法来解决以上问题。
发明内容
本发明实际所要解决的技术问题是提供一种可检测投射电容式触摸屏是否存在缺陷的方法。
为了实现本发明的上述目的，本发明提供了一种电容式触摸屏的缺陷检测方法，所述触摸屏上设有一根或多根交叉放置的驱动线和感测线，通过依次驱动所有驱动线，量取每根驱动线和感测线之间的互电容值，通过对比上述互电容值是否均在阀值区间内从而检测出该电容式触摸屏是否有缺陷存在。
本发明所述的触摸装置的检测方法，利用侦测电容的方法来检测触摸装置是否存在异常，代替了传统的机械式检测步骤，不但方法更加简便，而且可以快速准确的判断该触摸装置是否存在异常，从而避免了不良品流入下一道工序，节约了成本。
附图说明
图1为投射式电容屏原理及示意图；
图2为两根驱动线短路时测量值；
图3为两根感测线短路时测量值；
图4为驱动线断路时测量值；
图5为感测线断路时测量值；
图6为驱动线和感测线之间短路时测量值。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的说明。
本发明所述的触摸装置检测的方法，首先涉及电容式触摸屏的结构。参考图1所示，该电容触摸屏10主要由驱动线20和感测线30组成为电极矩阵，驱动线20和感测线30交叉放置，在交叉处形成互感电容50，驱动线20和感测线30的电极分别构成了互感电容50的两极，当手指触摸电容屏，与触摸点70附近的两个电极产生耦合电容，造成这两个电极之间电容量的变化，检测时，驱动线20通过驱动电路40分时依序发出信号，当一根或多根驱动线同时驱动时，其余驱动线通过芯片内部接地。对应的感测线30同时接收信号，该接收信号通过运算放大器60后输出给检测端，根据该耦合电容值的变化，可计算出每一个触摸点坐标。
在生产中，电容屏模组制作过程中的制造缺陷，通常分为以下五类：
A.两根驱动线短路；
B.两根感测线短路；
C.驱动线断路；
D.感测线断路；
E.驱动线和感测线短路。
本实施例中，以6条驱动线和6条感测线组成的电容触摸屏为例。测量的互电容值分为三类。
第一类，表示驱动线与感测线交叠点之间的互电容，此时x表示驱动线序号，y表示感测线序号，用Ctxry表示
第二类，表示驱动线之间的互电容，此时x表示实际驱动的驱动线序号，y表示与之构成互电容被配置为感测线功能的驱动线序号，用Ctxty表示
第三类，表示感测线之间的互电容，此时x表示被配置为驱动线进行实际驱动的感测线序号，y表示与之构成互电容的相邻感测线序号，用Crxry表示
合格电容触摸屏测量值会落在一个合理范围内，通常定义为：Thr1＜＜Thr2＜C＜Thr3＜＜Thr4，C表示实际测量值，Thr1-Thr4分别表示阀值1-阀值4，以下结合附图，分五种情况分别进行讨论。
A，两根驱动线短路。
测试方法为：首先驱动一根驱动线，然后将与其相邻的驱动线配置成感测线，其余驱动线不驱动，当针对短路对应的两根驱动线进行检测时，测量得到的电容值远大于其余正常行的值。如附图2所示为检测驱动线短路时得出的一屏互电容测量值Ctxty表示针对第Y根驱动线配置为感测线时与相邻第X根驱动线之间的互电容值，例如在TX3与TX4短路的情况下，设置TX3为驱动线，TX4则为感测线，获取互电容值C34；设置TX3为感测线，TX4则为驱动线，获取互电容值C43。此时有C34，C43＞Thr4。
B，两根感测线短路。
测试方法为：针对两根感测线，将其中一根配置为感测线，将该感测线相邻的另外一根感测线配置成驱动线，当短路对应的两根感测线检测时，测量值远大于其余正常列的值。如附图3所示为检测感测线短路时得出的一屏互电容测量值Crxry表示针对第Y根感测线与相邻被配置为驱动线的第X根感测线之间的互电容值，例如，RX3与RX4短路，先将RX3配置成驱动线，获取与RX4的互电容值C34，再将RX4配置成驱动线，获取与RX3的互电容值C43，则C34，C43＞Thr4。
C，驱动线断路。
测试方法为：逐一驱动驱动线，由于驱动线断点以远的部分和感测线上交叠电容没有电荷累积，所以这些地方测量值都远小于其余驱动线的值。以驱动线从左向右驱动为例，如果断在左边源头处，整个驱动线都受影响，小于正常值，如果断在中间，则断点以左电容值正常，断点以右电容值不正常。如附图4所示，Ctxry表示针对第Y根感测线与其及第X根驱动线之间交叠点处的互电容值，如果驱动线TX3从左向右驱动，断路点在TX3与RX3交汇处右侧，则有C31，C32，C33正常，C34，C35，C36＜Thr1，此时检测结果为驱动线TX3为断路状态。
D，感测线断路。
测试方法为：逐一驱动该驱动线，由于对应的断路点以远感测线部分与驱动线之间的交叠电容没有电荷累积，所以这些地方互电容测量值都远小于正常值。以感测线下端连接芯片例，如果断在下面靠近芯片处，整个感测线都受影响，如果断在中间，则断点以下至芯片端电容值正常，断点以上不正常。如附图5所示，Ctxry表示针对第Y根感测线与其及第X根驱动线之间交叠点处的互电容值，如果感测线RX3断路点在TX3与RX3交汇点下方，则有C13，C23，C33＜Thr1，C43，C53，C63正常，此时检测结果为感测线RX3为断路状态。
E，驱动线与感测线短路。
测试方法为：未短路驱动线驱动时，对应感测线有通过短路驱动线到地的回路，所以整体值偏小，而当对应短路的驱动线驱动时，由于对应短路感测线的运算放大器直接被驱动，其对应感测线测量值远大于其余感测线对应值，且数值都接近饱和。如附图6所示，Ctxry表示针对第Y根感测线与其及第X根驱动线之间交叠点处的互电容值，如果驱动线TX3与感测线RX3短路，则有Thr1＜Ctx3＜Thr2(x≠3)，且C33＞Thr4。
以上五种情况，通过检测得到不同的电容值，来判断该电容屏是否存在以上五种缺陷之中的一种或多种。
本实施例中虽然以6*6的电容屏为例，但并不局限于6*6的阵列，形如M*N(M，N均为自然数)形式的电容屏均可参考本实施例实施检测。以上所述仅为本发明的较佳实施例，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所做的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (5)

1.一种触摸装置检测的方法，触摸装置包含电容屏、电容屏控制芯片，所述电容屏上设置有多根交叉放置的驱动线和感测线，包括以下步骤：
依次驱动所有驱动线，量取每根驱动线和感测线之间的互电容值，通过判断所述互电容值是否在阀值区间内，从而检测出该触摸装置是否存在缺陷，
其特征在于：所述缺陷为驱动线之间的短路时，采用如下方式检测：
首先驱动一根驱动线TXi，然后将与其相邻的驱动线TXi+1配置成感测线，其余驱动线不驱动，通过芯片内部接地，测量该驱动线与相邻驱动线之间的互电容值，然后设置TXi为感测线，TXi+1则为驱动线，测试它们之间的互电容值，对于所有驱动线依次重复上述操作，当针对互相短路的两根驱动线进行检测时，测量得到这两根驱动线之间的互电容值远大于或远小于正常驱动线之间的测量值。
2.一种触摸装置检测的方法，触摸装置包含电容屏、电容屏控制芯片，所述电容屏上设置有多根交叉放置的驱动线和感测线，包括以下步骤：
依次驱动所有驱动线，量取每根驱动线和感测线之间的互电容值，通过判断所述互电容值是否在阀值区间内，从而检测出该触摸装置是否存在缺陷，
其特征在于：当缺陷为感测线之间的短路时，采用如下方式检测：
首先所有驱动线不驱动，通过芯片内部接地，将一根感测线配置成驱动线进行驱动，测量该感测线与其相邻感测线之间的互电容值，然后将其相邻的感测线配置为驱动线，将该感测线作为感测线，测量它们之间的互电容值，对于所有感测线依次重复上述操作，当针对互相短路的两根感测线进行检测时，测量得到这两根感测线之间的互电容值远大于或远小于正常感测线之间的测量值。
3.一种触摸装置检测的方法，触摸装置包含电容屏、电容屏控制芯片，所述电容屏上设置有多根交叉放置的驱动线和感测线，包括以下步骤：
依次驱动所有驱动线，量取每根驱动线和感测线之间的互电容值，通过判断所述互电容值是否在阀值区间内，从而检测出该触摸装置是否存在缺陷，
其特征在于：当缺陷为驱动线断路时，采用如下方式检测：从左到右逐一驱动驱动线，同时其余不驱动的驱动线通过芯片内部接地，由于驱动线断点以远的部分和感测线上交叠电容没有电荷累积，所以这些地方测量值都远小于其余驱动线的值，对应断路的驱动线断点以远的所有与感测线交叠点的互电容值远小于正常的的互电容测量值。
4.一种触摸装置检测的方法，触摸装置包含电容屏、电容屏控制芯片，所述电容屏上设置有多根交叉放置的驱动线和感测线，包括以下步骤：
依次驱动所有驱动线，量取每根驱动线和感测线之间的互电容值，通过判断所述互电容值是否在阀值区间内，从而检测出该触摸装置是否存在缺陷，
其特征在于：当缺陷为感测线断路时，采用如下方式检测：逐一驱动该驱动线，同时其余不驱动的驱动线通过芯片内部接地，由于对应的断路点以远感测线部分与驱动线之间的交叠电容没有电荷累积，所以这些地方互电容测量值都远小于正常值，对应断路的感测线断点以上的所有与驱动线交叠点的互电容值远小于正常的驱互电容测量值，应断路的感测线断点以下的所有与驱动线交叠点的互电容值为正常值。
5.一种触摸装置检测的方法，触摸装置包含电容屏、电容屏控制芯片，所述电容屏上设置有多根交叉放置的驱动线和感测线，包括以下步骤：
依次驱动所有驱动线，同时其余不驱动的驱动线通过芯片内部接地，量取每根驱动线和感测线之间的互电容值，通过判断所述互电容值是否在阀值区间内，从而检测出该触摸装置是否存在缺陷，
其特征在于：当缺陷为驱动线与感测线之间的短路时，采用如下方式检测：未短路驱动线与短路感测线交叠点测量值较正常测量值偏小，而短路的驱动线与感测线交叠点测量值远大于正常测量值，且数值都接近饱和；或者，未短路驱动线与短路感测线交叠点测量值较正常测量值偏大，而短路的驱动线与感测线交叠点测量值远大于正常测量值。
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