JP6400824B2 - タッチパネルコントロール基板の検査方法、及びタッチパネルコントローラ - Google Patents

タッチパネルコントロール基板の検査方法、及びタッチパネルコントローラ Download PDF

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Description

本発明は、タッチパネルコントロール基板の検査方法、及びタッチパネルコントローラに関し、特に、静電容量方式のタッチパネルを駆動するためのタッチパネルコントロール基板の検査方法、及びタッチパネルコントローラに関するものである。
従来からタッチパネル装置のタッチ位置検出方式として種々の方式が知られている。特に、静電容量を利用する静電容量方式のタッチパネル装置は、操作者の指先で直接タッチ操作を行ったり、導電性材料からなる簡便なスタイラスペンを介してタッチ操作を行ったりすることができることから、高い利便性を有している。
一般に、静電容量方式のタッチパネル装置は、複数の駆動線（第１電極）と複数のセンス線（第２電極）とを立体交差するよう配置した構造のタッチパネル本体と、タッチパネル本体を制御するタッチパネルコントローラとを備える。
タッチパネルコントローラは、接続コネクタを介してタッチパネルに接続されており、駆動線に駆動信号を印加するとともに、センス線で生じたセンス信号（応答信号）に基づいてタッチ位置を検出する。具体的には、タッチパネル本体に導電性の物体が接近あるいは接触することにより、複数の駆動線と複数のセンス線との交差部に形成される静電容量が変化する。タッチパネルコントローラは、センス線で生じたセンス信号から、駆動線とセンス線との交差位置であるタッチパネル本体の各座標における信号強度を検出することにより、タッチ位置を検出することができる。
通常、タッチパネルコントローラおよび接続コネクタはプリント基板やフレキシブル基板に実装されてタッチパネルコントロール基板を構成する。タッチパネルコントロール基板作製時に行なわれる検査工程では、タッチパネルコントロール基板にタッチパネル本体を接続し、タッチパネル本体をタッチしたときのタッチ位置の検出の可否に基づいてタッチパネルコントロール基板の良否を判断している。
特許文献１には、このようなタッチパネルの検査に用いる検査装置として、人の指に近い押圧力でタッチパネル本体にタッチさせることができるプローブを備えたタッチパネル検査装置が記載されている。特許文献１のタッチパネル検査装置によれば、効率良く正確にタッチパネル本体の検査を行うことができる。
日本国公開特許公報「特開２０１３−１７４９３９号公報（２０１３年９月５日公開）」
タッチパネルコントール基板を構成するプリント基板（またはフレキシブル基板）やタッチパネルコントローラなどは、供給者において詳細な良否検査が実施されている。
そのため、タッチパネルコントロール基板の良否検査では、タッチパネルコントロール基板作製工程で発生する「実装不良（オープン不良、ショート不良）」に関する検査を実施すればよく、検査実施者が自身の指でタッチパネル本体をタッチして行う検査や、特許文献１のタッチパネル検査装置を用いた詳細な検査は必須ではない。
一方で、特許文献１のタッチパネル検査装置を用いた検査や、検査実施者自身の指でタッチパネル本体をタッチして行う従来の検査を実施するためには、タッチパネルコントロール基板にタッチパネル本体を接続する必要があり、通常、１製品あたり数十秒の時間が必要である。また、特許文献１のタッチパネル検査装置や、検査実施者自身の指でタッチパネル本体をタッチする時間も必要であり、通常、１製品あたり数十秒から数分の時間を要する。このように、従来の検査方法では、検査時間が増大し、タッチパネルコントロール基板の製造コストが上昇するという問題がある。
さらに、近年、タッチパネルのパネルサイズの大型化が進んでいる。大型のタッチパネルでは、駆動線やセンス線の本数増加と、タッチする面積の拡大を伴うため、タッチパネル本体をタッチして行う検査方法では、製造コストがますます上昇するという問題が生じる。
本発明は、上記の問題点を解決するためになされたものであり、その目的は、接続コネクタを介してタッチパネルコントローラをタッチパネル本体に接続してタッチパネル本体を駆動することなく、タッチパネルコントローラと接続コネクタとを基板に実装する工程における実装不良の検査を簡便に行うことができるタッチパネルコントロール基板の検査方法、及びタッチパネルコントローラを提供することにある。
上記の課題を解決するために、本発明の一態様に係るタッチパネルコントロール基板の検査方法は、タッチパネル本体が備える複数の信号線に対して接続コネクタを介して駆動信号を供給するタッチパネルコントローラを備えたタッチパネルコントロール基板の検査方法であって、上記接続コネクタを介して上記信号線のそれぞれに電気的に接続される複数の接続端子に上記駆動信号を供給する供給ステップと、上記接続端子に供給された上記駆動信号に応じて当該接続端子以外の他の接続端子において得られる応答に基づいて、当該接続端子と当該他の接続端子との電気的な接続状態を検知する検知ステップとを含んでいることを特徴とする。
また、上記の課題を解決するために、本発明の一態様に係るタッチパネルコントロール基板の検査方法は、タッチパネル本体が備える複数の信号線に対して接続コネクタを介して駆動信号を供給するタッチパネルコントローラを備えたタッチパネルコントロール基板の検査方法であって、上記接続コネクタを介して上記信号線に電気的に接続される接続端子に上記駆動信号を供給する供給ステップと、上記駆動信号を供給された上記接続端子の静電容量値を測定するとともに、上記静電容量値に基づいて、当該接続端子と他の接続端子との電気的な接続状態を検知する検知ステップとを含んでいることを特徴とする。
また、上記の課題を解決するために、本発明の一態様に係るタッチコントローラは、タッチパネル本体が備える複数の信号線に対して接続コネクタを介して駆動信号を供給するタッチパネルコントローラであって、上記接続コネクタを介して上記信号線のそれぞれに電気的に接続される複数の接続端子と、上記接続端子に上記駆動信号を供給する駆動回路と、上記接続端子に供給された上記駆動信号に応じて当該接続端子以外の他の接続端子において得られる応答に基づいて、当該接続端子と当該他の接続端子との電気的な接続状態を検知する検知部と、を備えていることを特徴とする。
本発明の一態様によれば、接続コネクタを介してタッチパネルコントローラをタッチパネル本体に接続してタッチパネル本体を駆動することなく、タッチパネルコントローラと接続コネクタとを基板に実装する工程における実装不良の検査を簡便に行うためのタッチパネルコントロール基板の検査方法、およびタッチパネルコントローラを提供することができる。
本発明の実施形態１に係るタッチパネル装置の各構成を示す概略図である。 タッチパネルコントローラの構成を示す概略図である。 本発明の実施形態１に係るタッチパネルコントローラの概略構成を示すブロック図である。 駆動回路の一例としてのインバータ回路の構成及び動作を示す図である。 電圧測定回路の一例としてのコンパレータ回路の構成及び動作を示す図である。 本発明の実施形態２に係るタッチパネルコントローラの概略構成を示すブロック図である。 本発明の実施形態３に係るタッチパネルコントローラの概略構成を示すブロック図である。 本発明の実施形態４に係るタッチパネルコントローラの概略構成を示すブロック図である。 本発明の実施形態５に係るタッチパネルコントローラの概略構成を示すブロック図である。 容量検出回路の一例としてのアナログ積分器の構成及び動作を示す図である。 本発明の実施形態６に係るタッチパネルコントローラの概略構成を示すブロック図である。 本発明の実施形態７に係るタッチパネルコントローラの概略構成を示すブロック図である。 本発明の実施形態８に係るタッチパネルコントローラの概略構成を示すブロック図である。 本発明の実施形態９に係るタッチパネル装置の概略構成を示すブロック図である。 マルチプレクサの構成を示す回路図である。 短絡不良を検査するときのタッチパネルコントロール基板の概略構成を示すブロック図である。 断線不良を検査するときのタッチパネルコントロール基板の概略構成を示すブロック図である。
〔実施形態１〕
以下、本発明の実施の形態について、図１〜図５に基づいて詳細に説明する。
図１は、本発明の実施形態１に係るタッチパネル装置１の各構成を示す概略図である。タッチパネル装置１は、タッチパネル本体１０と、タッチパネルコントロール基板２０とを備えている。
タッチパネル本体１０は、タッチセンサーシート１１と、タッチパネルコントロール基板２０と接続するための接続ケーブル１２・１３を備えている。
タッチセンサーシート１１には、図示しない複数の駆動線（信号線）と複数のセンス線（信号線）とが立体交差するよう設けられている。
タッチパネルコントロール基板２０は、プリント基板２１上に、タッチパネルコントローラ１００、タッチセンサーシート１１の接続ケーブル１２・１３を接続する接続用コネクタ２３・２４、電源・インターフェース用コネクタ２５を備えている。
図２はタッチパネルコントローラの構成を示す概略図である。
図２に示すように、タッチパネルコントローラ１００は、タッチパネル本体１０の駆動線に電気的に接続され、駆動線に駆動信号を印加するための端子（駆動線用端子）、タッチパネル本体１０のセンス線に電気的に接続され、センス線で生じたセンス信号（応答信号）を受け取るための端子（センス線用端子）、電源端子、及びインターフェース端子を備えている。駆動線用端子とセンス線用端子は、タッチセンサーシート１１と接続するための接続用コネクタ２３・２４（接続コネクタ）に接続されている。また、電源端子とインターフェース端子は、電源・インターフェース用コネクタ２５に接続されている。
従来の検査工程では、接続ケーブル１２・１３及び接続用コネクタ２３・２４を介してタッチパネル本体１０にタッチパネルコントロール基板２０を接続するとともに、電源・インターフェース用コネクタ２５を介してタッチパネルコントロール基板２０にパソコンや試験用検査装置などを接続して、電源及び制御信号を接続した状態で、タッチセンサーシート１１上をタッチ用の治具や検査実施者自身の指でタッチして検査を実施していた。
これに対して、本実施形態のタッチパネル装置１では、タッチパネルコントローラ１００が後述する特徴的な構成を備えているため、タッチパネルコントローラ１００をタッチパネル本体１０に接続してタッチパネル本体１０を駆動することなく、タッチパネルコントロール基板２０の実装工程における実装不良の検査を簡便に行うことができる。
＜タッチパネルコントローラの構成＞
図３は、本実施形態のタッチパネルコントローラの概略構成を示すブロック図である。タッチパネルコントローラ１００は、ｉヶの駆動線用端子１０１Ｅ・１０２Ｅ・１０３Ｅ（接続端子）と、ｊヶのセンス線用端子１１１Ｆ・１１２Ｆ・１１３Ｆ（接続端子）と、電圧測定結果出力用端子１２４とを備えている。タッチパネル装置１において、ｉヶの各駆動線用端子はタッチパネル本体１０の各駆動線に接続され、ｊヶの各センス線用端子はタッチパネル本体１０の各センス線に接続される。
駆動線用端子１０１Ｅ・１０２Ｅ・１０３Ｅには、駆動線用端子と駆動線用駆動回路１０１Ａ・１０２Ａ・１０３Ａとの接続を切り替えるスイッチ１０１Ｃ・１０２Ｃ・１０３Ｃ、及び、駆動線用端子と駆動線用電圧測定回路１０１Ｂ・１０２Ｂ・１０３Ｂ（検知部、電圧測定部）との接続を切り替えるスイッチ１０１Ｄ・１０２Ｄ・１０３Ｄが接続されている。
センス線用端子１１１Ｆ・１１２Ｆ・１１３Ｆには、センス線容量検出回路１１１Ａ・１１２Ａ・１１３Ａ、センス線用端子とセンス線用駆動回路１１１Ｂ・１１２Ｂ・１１３Ｂとの接続を切り替えるスイッチ１１１Ｄ・１１２Ｄ・１１３Ｄ、及び、センス線用端子とセンス線用電圧測定回路１１１Ｃ・１１２Ｃ・１１３Ｃ（検知部、電圧測定部）との接続を切り替えるスイッチ１１１Ｅ・１１２Ｅ・１１３Ｅが接続されている。
駆動線用端子と駆動線用駆動回路との接続を切り替えるスイッチ１０１Ｃ・１０２Ｃ・１０３Ｃ、及びセンス線用端子とセンス線用駆動回路との接続を切り替えるスイッチ１１１Ｄ・１１２Ｄ・１１３Ｄには、駆動回路切替回路１２１が接続されている。
駆動線用駆動回路１０１Ａ・１０２Ａ・１０３Ａ及びセンス線用駆動回路１１１Ｂ・１１２Ｂ・１１３Ｂには、駆動信号生成部１２０が接続されている。
駆動線用端子と駆動線用電圧測定回路の接続を切り替えるスイッチ１０１Ｄ、１０２Ｄ、１０３Ｄ、及び、センス線用端子とセンス線用電圧測定回路の接続を切り替えるスイッチ１１１Ｅ、１１２Ｅ、１１３Ｅには、電圧測定回路切替回路１２２が接続されている。
駆動線用電圧測定回路１０１Ｂ・１０２Ｂ・１０３Ｂ及びセンス線用電圧測定回路１１１Ｃ・１１２Ｃ・１１３Ｃには、電圧測定結果判定回路１２３（検知部、演算部）が接続されている。電圧測定結果判定回路１２３には電圧測定結果出力用端子１２４が接続されている。
図４は、駆動回路の一例としてのインバータ回路の構成及び動作を示す図である。
駆動線用駆動回路は駆動線用端子に駆動信号を供給し、センス線用駆動回路はセンス線用端子に駆動信号を供給する。
駆動線用駆動回路１０１Ａ・１０２Ａ・１０３Ａとして、例えば図４に示すインバータ回路１３０を用いることができる。また、センス線用駆動回路１１１Ｂ・１１２Ｂ・１１３Ｂとして、同じく図４に示すインバータ回路１３０を用いることができる。
図４に示すように、インバータ回路１３０は、ＰＭＯＳトランジスタとＮＭＯＳトランジスタで形成されている。インバータ回路１３０は、入力端子１３０ＡにＬｏｗレベルの信号を入力すると、出力端子１３０ＢにはＨｉｇｈレベルの信号が出力され、入力端子１３０ＡにＨｉｇｈレベルの信号を入力すると、出力端子１３０ＢにはＬｏｗレベルの信号が出力される。
図５は、電圧測定回路の一例としてのコンパレータ回路の構成及び動作を示す図である。
駆動線用電圧測定回路１０１Ｂ・１０２Ｂ・１０３Ｂ及びセンス線用電圧測定回路１１１Ｃ・１１２Ｃ・１１３Ｃとしては、例えば図５に示すコンパレータ回路１４０を用いることができる。
コンパレータ回路１４０は入力端子１４０Ａの電圧値と参照電圧Ｖｒｅｆの電圧値を比較する。入力端子電圧がＶｒｅｆよりも大きい場合は出力端子１４０ＢにＨｉｇｈレベルを出力し、入力端子電圧がＶｒｅｆよりも小さい場合は出力端子１４０ＢにＬｏｗレベルを出力する。
後述するように、電圧測定回路１０１Ｂ・１０２Ｂ・１０３Ｂ・１１１Ｃ・１１２Ｃ・１１３Ｃでは、駆動線用端子１０１Ｅ・１０２Ｅ・１０３Ｅまたはセンス線用端子１１１Ｆ・１１２Ｆ・１１３Ｆの電圧が０Ｖであるか否かを判定すればよいので、参照電圧Ｖｒｅｆとしては、例えば０．１Ｖのように、０Ｖを超える値を選定すれば良い。
電圧測定結果判定回路１２３は、電圧測定回路１０１Ｂ・１０２Ｂ・１０３Ｂ・１１１Ｃ・１１２Ｃ・１１３Ｃの出力結果を、電圧測定結果出力用端子１２４に順次、出力する。または、電圧測定回路１０１Ｂ・１０２Ｂ・１０３Ｂ・１１１Ｃ・１１２Ｃ・１１３Ｃの出力レベルを論理演算して、電圧測定結果出力用端子１２４に出力しても良い。
たとえば、電圧測定結果判定回路１２３で、ＯＲ演算（論理和の演算）を実施した場合には、複数個の電圧測定回路の少なくともひとつ以上の電圧測定回路でＨｉｇｈレベルを出力している際に、電圧測定結果出力用端子１２４にはＨｉｇｈレベルが出力される。また、電圧測定結果判定回路１２３で、ＡＮＤ演算（論理積の演算）を実施した場合には、複数個の電圧測定回路の少なくともひとつ以上の電圧測定回路でＬｏｗレベルを示している際に、電圧測定結果出力用端子１２４にはＬｏｗレベルが出力される。
＜タッチパネルコントロール基板の検査方法＞
タッチパネルコントロール基板２０には上述の構造を有するタッチパネルコントローラ１００が実装されている。タッチパネルコントローラ１００は複数個の駆動線用端子及びセンス線用端子を備えており、任意の端子が他の端子と短絡（ショート）した場合は短絡不良（ショート不良）になる。また、任意の端子とタッチパネルコントロール基板に実装されている接続用コネクタ２３・２４との間の電気的接続が断線（オープン）した場合は断線不良（オープン不良）になる。
タッチパネル本体１０を接続することなく、タッチパネルコントロール基板作製工程で発生する「実装不良（オープン不良、ショート不良）」を検査する方法を下記に示す。
駆動回路切替回路１２１を用いて、スイッチ１０１Ｃ・１０２Ｃ・１０３Ｃ・１１１Ｄ・１１２Ｄ・１１３Ｄを順次切り替え、複数存在する駆動線用端子及びセンス線用端子のひとつからＨｉｇｈレベルの信号（駆動信号）を出力する（供給ステップ）。
そして、電圧測定回路切替回路１２２は、スイッチ１０１Ｄ、１０２Ｄ、１０３Ｄ、１１１Ｅ、１１２Ｅ、１１３Ｅを順次切り替え、あるいは、全端子を接続し、電圧測定回路は、複数存在する駆動線用端子及びセンス線用端子の電圧を測定する（検知ステップ）ともに、端子同士の電気的接続の有無を示す２値の何れか（ＨｉｇｈはたはＬＯＷ）を出力する。
この際、Ｈｉｇｈレベルの信号を出力している端子と該端子の電圧測定回路とを接続するスイッチは、接続しないように制御する。
＜短絡不良＞
タッチパネルコントロール基板２０が短絡不良（ショート不良）を有している場合は、タッチパネルコントローラ１００から出力されたＨｉｇｈレベルの信号が、タッチパネルコントロール基板２０の不良箇所を介して、タッチパネルコントローラ１００の別端子（他の接続端子）に入力される（戻ってくる）。タッチパネルコントローラ１００の別端子に入力される電圧は、タッチパネルコントロール基板２０での短絡状態に依存するものの、０Ｖを超える値である。
タッチパネルコントロール基板２０の不良箇所を介して入力される信号を電圧測定回路で測定する。入力される信号レベルは０Ｖを超えているので、電圧測定回路はＨｉｇｈレベルの信号を出力する（電圧測定結果出力ステップ）。電圧測定回路の測定結果は、電圧測定結果判定回路１２３を経て、電圧測定結果出力用端子１２４に出力される。電圧測定結果判定回路１２３で、ＯＲ演算を実施する（演算ステップ）と、電圧測定結果出力用端子１２４にはＨｉｇｈレベルが出力される。
以上のように、短絡不良（ショート不良）を有している場合は、電圧測定結果出力用端子１２４にはＨｉｇｈレベルが出力される。
＜断線不良＞
タッチパネルコントロール基板が断線不良（オープン不良）となっているかの検査は、タッチパネルコントロール基板に実装されている接続用コネクタ２３・２４の全端子を短絡するためのショートケーブルなどの治具を用いて容易に検査できる。
具体的には、タッチパネルコントロール基板の外部で接続用コネクタ２３・２４にショートケーブルを接続することにより、駆動線およびセンス線を故意に短絡（ショート）状態として、各端子を短絡させた状態で検査を開始する。
タッチパネルコントロール基板２０で電気的接続が断線（オープン）した場合は、タッチパネルコントローラ１００から出力されたＨｉｇｈレベルの信号が、タッチパネルコントロール基板２０に実装されている接続用コネクタ２３・２４まで達しない。接続用コネクタ２３・２４にはショートケーブルなどの治具を用いて、駆動線とセンス線を短絡（ショート）しているが、Ｈｉｇｈレベルの信号は接続用コネクタ２３・２４まで達しないので、タッチパネルコントローラの別端子に入力されない（戻ってこない）。このため、タッチパネルコントローラ１００の別端子に入力される電圧は０Ｖである。
入力される信号レベルは０Ｖであるので、電圧測定回路はＬｏｗレベルの信号を出力する。電圧測定回路の測定結果は、電圧測定結果判定回路１２３を経て、電圧測定結果出力用端子１２４に出力される。電圧測定結果判定回路１２３で、ＡＮＤ演算を実施する（演算ステップ）と、電圧測定結果出力用端子１２４にはＬｏｗレベルが出力される。
以上のように、断線不良（オープン不良）を有している場合は、電圧測定結果出力用端子１２４にはＬｏｗレベルが出力される。
以上のように、タッチパネルコントローラ１００は、駆動線用端子、駆動線用駆動回路、駆動線用電圧測定回路、駆動線用端子と駆動線用駆動回路の接続を切り替えるスイッチ、駆動線用端子と駆動線用電圧測定回路の接続を切り替えるスイッチ、センス線用端子、センス線用駆動回路、センス線用電圧測定回路、センス線用端子とセンス線用駆動回路の接続を切り替えるスイッチ、センス線用端子とセンス線用電圧測定回路の接続を切り替えるスイッチ、駆動回路切替回路、駆動信号生成部、電圧測定回路切替回路、電圧測定結果判定回路、電圧測定結果出力用端子を備えている。
タッチパネルコントローラ１００は、駆動線用端子及びセンス線用端子に順次駆動用信号を出力して、出力した端子以外の端子の電圧を測定し、その電圧測定結果に基づいて測定結果を出力するテスト機能を内蔵している。すなわち、駆動線用電圧測定回路、センス線用電圧測定回路、及び電圧測定結果判定回路は検知部を構成しており、上記検知部は、駆動線用端子またはセンス線用端子に供給されたＨｉｇｈレベルの信号に応じて他の駆動線用端子またはセンス線用端子において得られる応答に基づいて、駆動線用端子またはセンス線用端子同士の電気的な接続状態（短絡または断線）を検知する。
上記のテスト機能を内蔵することにより、タッチパネル本体１０を接続することなく、タッチパネルコントロール基板２０の作製工程で発生する「実装不良（オープン不良、ショート不良）」を検査することが可能になる。
〔実施形態２〕
本発明の他の実施形態について、図６に基づいて説明する。なお、説明の便宜上、前記実施形態にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を省略する。
図６は、本実施形態のタッチパネルコントローラの概略構成を示すブロック図である。
タッチパネルコントローラ２００は、図３に示す実施形態１のタッチパネルコントローラ１００の構成に対して、電圧測定結果判定回路及び、電圧測定結果出力用端子を変更したものである。具体的には、タッチパネルコントローラ２００は、２ヶの電圧測定結果判定回路１２３Ａ・１２３Ｂと、２ヶの電圧測定結果出力用端子１２４Ａ・１２４Ｂとを備えている。
電圧測定結果判定回路１２３Ａ（第１演算部）では、複数ある電圧測定結果についてＯＲ演算を実行し、演算結果を電圧測定結果出力用端子１２４Ａに出力する。電圧測定結果判定回路１２３Ｂ（第２演算部）では、複数ある電圧測定結果についてＡＮＤ演算を実行し、演算結果を電圧測定結果出力用端子１２４Ｂに出力する。
短絡不良（ショート不良）が発生している場合は、複数ある電圧測定回路の少なくともひとつはＨｉｇｈレベルの信号を出力する。電圧測定結果判定回路１２３ＡでＯＲ演算を実行すると、電圧測定結果出力用端子１２４ＡにＨｉｇｈレベルの信号が出力される。
断線不良（オープン不良）が発生している場合は、複数ある電圧測定回路の少なくともひとつはＬｏｗレベルの信号を出力する。電圧測定結果判定回路１２３ＢでＡＮＤ演算を実行すると、電圧測定結果出力用端子１２４ＢにＬｏｗレベルの信号が出力される。
したがって、電圧測定結果出力用端子１２４ＡにＨｉｇｈレベルの信号が出力される場合は短絡不良（ショート不良）が発生していると判断でき、電圧測定結果出力用端子１２４ＢにＬｏｗレベルの信号が出力される場合は断線不良（オープン不良）が発生していると判断できる。
実施形態１のタッチパネルコントローラ１００は、電圧測定結果判定回路をひとつしか備えていないため、短絡不良（ショート不良）か断線不良（オープン不良）のどちらか一方しか検査できない。これに対して本実施形態のタッチパネルコントローラ２００は、短絡不良（ショート不良）と断線不良（オープン不良）の両方を検査できるように、電圧測定結果判定回路と電圧測定結果出力用端子とを、それぞれ複数個備えている。
このため、短絡不良（ショート不良）と断線不良（オープン不良）の両方の不良に対する検査が可能となり、タッチパネルコントロール基板の品質が向上する。
〔実施形態３〕
本発明の他の実施形態について、図７に基づいて説明する。なお、説明の便宜上、前記実施形態にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を省略する。
図７は、本実施形態のタッチパネルコントローラの概略構成を示すブロック図である。タッチパネルコントローラ３００は、ｉヶの駆動線用端子３０１Ｅ・３０２Ｅ・３０３Ｅと、ｊヶのセンス線用端子３１１Ｆ・３１２Ｆ・３１３Ｆと、電圧測定結果出力用端子３２４とを備えている。
駆動線用端子３０１Ｅ・３０２Ｅ・３０３Ｅには、駆動線用端子と駆動線用駆動回路３０１Ａ・３０２Ａ・３０３Ａの接続を切り替えるスイッチ３０１Ｃ・３０２Ｃ・３０３Ｃ、駆動線用端子と電圧測定回路３３０（電圧測定部）の接続を切り替えるスイッチ３０１Ｄ・３０２Ｄ・３０３Ｄが接続されている。
センス線用端子３１１Ｆ・３１２Ｆ・３１３Ｆには、センス線容量検出回路３１１Ａ・３１２Ａ・３１３Ａ、センス線用端子とセンス線用駆動回路３３１の接続を切り替えるスイッチ３１１Ｄ・３１２Ｄ・３１３Ｄ、及びセンス線用端子と電圧測定回路３３０の接続を切り替えるスイッチ３１１Ｅ・３１２Ｅ・３１３Ｅが接続されている。
駆動線用端子と駆動線用駆動回路の接続を切り替えるスイッチ３０１Ｃ・３０２Ｃ・３０３Ｃ・及びセンス線用端子とセンス線用駆動回路の接続を切り替えるスイッチ３１１Ｄ・３１２Ｄ・３１３Ｄには、駆動回路切替回路３２１が接続されている。
駆動線用駆動回路３０１Ａ・３０２Ａ・３０３Ａとセンス線用駆動回路３３１には、駆動信号生成部３２０が接続されている。
駆動線用端子と電圧測定回路の接続を切り替えるスイッチ３０１Ｄ・３０２Ｄ・３０３Ｄ、及び、センス線用端子と電圧測定回路の接続を切り替えるスイッチ３１１Ｅ・３１２Ｅ・３１３Ｅには、電圧測定回路切替回路３２２が接続されている。
電圧測定回路３３０には、電圧測定結果判定回路３２３が接続されている。電圧測定結果判定回路３２３には電圧測定結果出力用端子３２４が接続されている。
センス線用駆動回路３３１は、駆動線用駆動回路３０１Ａ・３０２Ａ・３０３Ａと同じ回路を用いることも可能である。具体的には、これらの駆動回路として、図４に示すようなＰＭＯＳトランジスタとＮＭＯＳトランジスタで形成されたインバータ回路１３０を用いることができる。
インバータ回路１３０は、入力端子１３０ＡにＬｏｗレベルの信号を入力すると、出力端子１３０ＢにはＨｉｇｈレベルの信号が出力され、入力端子１３０ＡにＨｉｇｈレベルの信号を入力すると、出力端子１３０ＢにはＬｏｗレベルの信号が出力される。
電圧測定回路３３０としては、図５に示すようなコンパレータ回路１４０を用いることができる。コンパレータ回路１４０は入力端子１４０Ａの電圧値と参照電圧Ｖｒｅｆの電圧値を比較する。入力端子電圧がＶｒｅｆよりも大きい場合は出力端子１４０ＢにＨｉｇｈレベルを出力し、入力端子電圧がＶｒｅｆよりも小さい場合は出力端子１４０ＢにＬｏｗレベルを出力する。
前述したように、電圧測定回路３３０では、駆動線用端子３０１Ｅ・３０２Ｅ・３０３Ｅまたはセンス線用端子３１１Ｆ・３１２Ｆ・３１３Ｆの電圧が０Ｖかどうかを判定すればよいので、参照電圧Ｖｒｅｆとしては、例えば０．１Ｖのように、０Ｖを超える値を選定すれば良い。
電圧測定結果判定回路３２３は、電圧測定回路３３０の出力結果を、電圧測定結果出力用端子３２４に順次、出力する。または、電圧測定回路３３０の出力レベルを論理演算して、電圧測定結果出力用端子３２４に出力しても良い。
たとえば、電圧測定結果判定回路３２３で、ＯＲ演算を実施した場合には、複数ある電圧測定結果の少なくともひとつ以上の電圧測定結果でＨｉｇｈレベルを出力している際に、電圧測定結果出力用端子３２４にはＨｉｇｈレベルが出力される。また、電圧測定結果判定回路３２３で、ＡＮＤ演算を実施した場合には、複数ある電圧測定結果の少なくともひとつ以上の電圧測定結果でＬｏｗレベルを示している際に、電圧測定結果出力用端子３２４にはＬｏｗレベルが出力される。
本実施形態のタッチパネルコントローラ３００を備えるタッチパネルコントロール基板２０の検査方法は、実施形態１で説明した検査方法と同様であり、タッチパネル本体１０を接続することなく、タッチパネルコントロール基板作製工程で発生する「実装不良（オープン不良、ショート不良）」を検査することができる。
実施形態１のタッチパネルコントローラ１００は、電圧測定回路とセンス線用駆動回路を複数個備えているが、本実施形態のタッチパネルコントローラ３００は、電圧測定回路とセンス線用駆動回路を各々１個に削減している。このため、タッチパネルコントローラ３００の回路規模が小さくなるのでチップサイズの縮小が可能となり、タッチパネルコントローラ３００やタッチパネルコントロール基板２０のコスト削減が可能となる。
〔実施形態４〕
本発明の他の実施形態について、図８に基づいて説明する。なお、説明の便宜上、前記実施形態にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を省略する。
図８は、本実施形態のタッチパネルコントローラの概略構成を示すブロック図である。
タッチパネルコントローラ４００は、図７に示す実施形態３のタッチパネルコントローラ３００の構成に対して、電圧測定結果判定回路及び、電圧測定結果出力用端子を変更したものである。タッチパネルコントローラ４００は、２ヶの電圧測定結果判定回路３２３Ａ・３２３Ｂと、２ヶの電圧測定結果出力用端子３２４Ａ・３２４Ｂとを備えている。
電圧測定結果判定回路３２３Ａ（第１演算部）では、複数ある電圧測定結果についてＯＲ演算を実行し、演算結果を電圧測定結果出力用端子３２４Ａに出力する。電圧測定結果判定回路３２３Ｂ（第２演算部）では、複数ある電圧測定結果についてＡＮＤ演算を実行し、演算結果を電圧測定結果出力用端子３２４Ｂに出力する。
短絡不良（ショート不良）が発生している場合は、複数ある電圧測定結果の少なくともひとつはＨｉｇｈレベルの信号を出力する。電圧測定結果判定回路３２３ＡでＯＲ演算を実行すると、電圧測定結果出力用端子３２４ＡにＨｉｇｈレベルの信号が出力される。
断線不良（オープン不良）が発生している場合は、複数ある電圧測定結果の少なくともひとつはＬｏｗレベルの信号を出力する。電圧測定結果判定回路３２３ＢでＡＮＤ演算を実行すると、電圧測定結果出力用端子３２４ＢにＬｏｗレベルの信号が出力される。
したがって、電圧測定結果出力用端子３２４ＡにＨｉｇｈレベルの信号が出力される場合は短絡不良（ショート不良）が発生していると判断でき、電圧測定結果出力用端子３２４ＢにＬｏｗレベルの信号が出力される場合は断線不良（オープン不良）が発生していると判断できる。
実施形態３のタッチパネルコントローラ３００は、電圧測定結果判定回路をひとつしか備えていないため、短絡不良（ショート不良）か断線不良（オープン不良）のどちらか一方しか検査できない。これに対して本実施形態のタッチパネルコントローラ４００は、短絡不良（ショート不良）と断線不良（オープン不良）の両方を検査できるように、電圧測定結果判定回路と電圧測定結果出力用端子とを、それぞれ複数個備えている。
このため、短絡不良（ショート不良）と断線不良（オープン不良）の両方の不良に対する検査が可能となり、タッチパネルコントロール基板の品質が向上する。
また、タッチパネルコントローラ４００は、電圧測定回路とセンス線用駆動回路を各々１個に削減している。このため、タッチパネルコントローラ４００の回路規模が小さくなるのでチップサイズの縮小が可能となり、タッチパネルコントローラ４００やタッチパネルコントロール基板２０のコスト削減が可能となる。
〔実施形態５〕
本発明の他の実施形態について、図９〜図１０に基づいて説明する。なお、説明の便宜上、前記実施形態にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を省略する。
図９は、本実施形態のタッチパネルコントローラの概略構成を示すブロック図である。タッチパネルコントローラ５００は、ｉヶの駆動線用端子５０１Ｅ・５０２Ｅ・５０３Ｅと、ｊヶのセンス線用端子５１１Ｆ・５１２Ｆ・５１３Ｆと、容量測定結果出力用端子５２４とを備えている。
駆動線用端子５０１Ｅ・５０２Ｅ・５０３Ｅには、駆動線用端子と駆動線用駆動回路５０１Ａ・５０２Ａ・５０３Ａとの接続を切り替えるスイッチ５０１Ｃ・５０２Ｃ・５０３Ｃ、及び駆動線用端子と駆動線用容量検出回路５３０（静電容量測定部）との接続を切り替えるスイッチ５０１Ｄ・５０２Ｄ・５０３Ｄが接続されている。
センス線用端子５１１Ｆ・５１２Ｆ・５１３Ｆには、センス線用端子とセンス線用駆動回路５３１との接続を切り替えるスイッチ５１１Ｄ・５１２Ｄ・５１３Ｄ、及びセンス線用端子とセンス線容量検出回路５１１Ａ・５１２Ａ・５１３Ａ（静電容量測定部）との接続を切り替えるスイッチ５１１Ｅ・５１２Ｅ・５１３Ｅが接続されている。
駆動線用端子と駆動線用駆動回路との接続を切り替えるスイッチ５０１Ｃ・５０２Ｃ・５０３Ｃ、及びセンス線用端子とセンス線用駆動回路との接続を切り替えるスイッチ５１１Ｄ・５１２Ｄ・５１３Ｄには、駆動回路切替回路５２１が接続されている。
駆動線用駆動回路５０１Ａ・５０２Ａ・５０３Ａとセンス線用駆動回路５３１には、駆動信号生成部５２０が接続されている。
駆動線用端子と駆動線用容量検出回路との接続を切り替えるスイッチ５０１Ｄ・５０２Ｄ・５０３Ｄ、及び、センス線用端子とセンス線容量検出回路との接続を切り替えるスイッチ５１１Ｅ・５１２Ｅ・５１３Ｅには、容量検出回路切替回路５２２が接続されている。
駆動線用容量検出回路５３０とセンス線容量検出回路５１１Ａ・５１２Ａ・５１３Ａには、容量測定結果判定回路５２３が接続されている。容量測定結果判定回路５２３には容量測定結果出力用端子５２４が接続されている。
センス線用駆動回路５３１は、駆動線用駆動回路５０１Ａ・５０２Ａ・５０３Ａと同じ回路を用いることも可能である。このような駆動回路として、図４に示すようなＰＭＯＳトランジスタとＮＭＯＳトランジスタで形成されたインバータ回路１３０を用いることができる。
インバータ回路１３０は、入力端子１３０ＡにＬｏｗレベルの信号を入力すると、出力端子１３０ＢにはＨｉｇｈレベルの信号が出力され、入力端子１３０ＡにＨｉｇｈレベルの信号を入力すると、出力端子１３０ＢにはＬｏｗレベルの信号が出力される。
図１０は、容量検出回路の一例としてのアナログ積分器の構成及び動作を示す図である。
駆動線用容量検出回路５３０として、図１０に示すようなアナログ積分器５４０を用いることできる。また、センス線容量検出回路５１１Ａ・５１２Ａ・５１３Ａとして、同じく図１０示すアナログ積分器５４０を用いることができる。
アナログ積分器５４０は、一方の入力が容量値Ｃｘを有する測定対象容量５４０Ｄに接続され、他方の入力がＧＮＤに接続されたオペアンプ５４０Ａを有している。オペアンプ５４０Ａの出力とオペアンプ５４０Ａの一方の入力との間には、容量Ｃｉｎｔを有する積分容量５４０ＢとリセットスイッチＲＳＴとが互いに並行に配置されている。
タッチパネルコントロール基板２０にタッチパネル本体１０を接続していない状態では、測定対象容量５４０Ｄは、タッチパネルコントロール基板２０上の配線（タッチパネルコントローラの駆動線用端子とセンス線用端子に接続される配線）で形成される寄生容量に対応する。
後述するように、容量検出回路では、測定対象容量５４０Ｄの容量値Ｃｘが大きいと検出精度は良くなる。このため、タッチパネルコントロール基板２０にタッチパネル本体１０を接続して検査を行うことすることが望ましい。
図１０を用いて、アナログ積分器５４０の動作を説明する。アナログ積分器５４０には測定対象容量５４０Ｄが接続されている。測定対象容量５４０Ｄの一方の端子には、ドライブスイッチＤＲＶと、リリーススイッチＲＥＬが接続されている。ドライブスイッチＤＲＶ、及び、リリーススイッチＲＥＬを「オン」「オフ」することで、測定対象容量５４０Ｄには、電源５４０Ｅ（ＶＤＤ）あるいはＧＮＤが接続される。
タッチパネルコントローラ５００の駆動回路を用いて、タッチパネル本体１０の駆動線に供給される信号レベルのＨｉｇｈレベルまたはＬｏｗレベルの変化は、２ヶのスイッチＤＲＶ・ＲＥＬの「オン」または「オフ」に相当する。駆動線に供給される信号レベルのＨｉｇｈレベルをＶＤＤ、ＬｏｗレベルをＧＮＤとした場合、測定対象容量５４０Ｄに電源５４０ＥあるいはＧＮＤを接続されるのと同等になる。
はじめに、ドライブスイッチＤＲＶとリセットスイッチＲＳＴを「オン」にして、リリーススイッチＲＥＬを「オフ」にする。オペアンプは利得が大きく、バーチャルショートとなるため、オペアンプ５４０Ａの出力電圧ＶｏｕｔはＧＮＤレベル（０Ｖ）に等しくなる。測定対象容量５４０Ｄの端子間電圧はＶＤＤとなり、Ｑｘ＝Ｃｘ*ＶＤＤの電荷が蓄積される。
次に、ドライブスイッチＤＲＶとリセットスイッチＲＳＴを「オフ」にして、リリーススイッチＲＥＬを「オン」にする。オペアンプ５４０Ａは利得が大きく、バーチャルショートとなるため、測定対象容量５４０Ｄと積分容量５４０Ｂの接続点の電圧はＧＮＤになる。オペアンプ５４０Ａの出力電圧をＶｏｕｔとすると、積分容量５４０Ｂの端子間電圧はＶｏｕｔとなり、Ｑｉｎｔ＝Ｃｉｎｔ*Ｖｏｕｔの電荷が蓄積される。Ｑｉｎｔは前述のＱｘと等しいので、Ｃｉｎｔ*Ｖｏｕｔ＝Ｃｘ*ＶＤＤが成立する。
したがって、Ｖｏｕｔ＝（Ｃｘ／Ｃｉｎｔ）*ＶＤＤ、Ｃｘ＝（Ｖｏｕｔ／ＶＤＤ）*Ｃｉｎｔとなる。ＶＤＤ及びＣｉｎｔは既知であるので、オペアンプ５４０Ａの出力電圧Ｖｏｕｔから、Ｃｘを算出することが可能である。
＜検査方法＞
タッチパネル本体１０を接続することなく、タッチパネルコントロール基板作製工程で発生する「実装不良（オープン不良、ショート不良）」を検査する方法を下記に示す。
駆動回路切替回路５２１を用いて、スイッチ５０１Ｃ・５０２Ｃ・５０３Ｃ・５１１Ｄ・５１２Ｄ・５１３Ｄを順次切り替え、複数存在する駆動線用端子及びセンス線用端子のひとつからＨｉｇｈレベルの信号を出力する。そして、容量検出回路切替回路５２２を用いて、スイッチ５０１Ｄ・５０２Ｄ・５０３Ｄ・５１１Ｅ・５１２Ｅ・５１３Ｅを順次切り替え、複数存在する駆動線用端子及びセンス線用端子の容量を測定する。この際、Ｈｉｇｈレベルの信号を出力している端子と該端子の容量検出回路とを接続するスイッチは、接続しないように制御する。
タッチパネルコントロール基板作製工程で発生する「実装不良（オープン不良、ショート不良）」を検査する場合には、必ずしも正確な容量値を知る必要はなく、良否判定の指標となる容量値との大小関係を知るだけで十分な場合もある。良否判定の指標となる容量値をＣｃｒｉとすると、電圧換算値であるＶｃｒｉ＝（Ｃｃｒｉ／Ｃｉｎｔ）*ＶＤＤとオペアンプ５４０Ａの出力電圧Ｖｏｕｔを比較する。Ｖｃｒｉと出力電圧Ｖｏｕｔとを比較した結果、Ｖｏｕｔ＞Ｖｃｒｉの場合はＣｘ＞Ｃｃｒｉであり、Ｖｏｕｔ＜Ｖｃｒｉの場合はＣｘ＜Ｃｒｉである。このように、オペアンプ５４０Ａの出力電圧Ｖｏｕｔに基づいて、良否判定を行うことができる。
（短絡不良）
タッチパネルコントロール基板２０が短絡不良（ショート不良）を有している場合は、容量値Ｃｘ（静電容量値）が大きくなる。容量値Ｃｘが、短絡不良（ショート不良）と判断する指標となる容量値Ｃｓｈｏｒｔを超えるとき、容量検出回路からＨｉｇｈレベルの信号を出力する（静電容量測定結果出力ステップ）ようにする。
容量検出回路の出力は、容量測定結果判定回路５２３を経て、容量測定結果出力用端子５２４に出力される。容量測定結果判定回路５２３で、ＯＲ演算を実施すると、容量測定結果出力用端子５２４にはＨｉｇｈレベルが出力される。
以上のように、短絡不良（ショート不良）を有している場合は、容量測定結果出力用端子５２４にはＨｉｇｈレベルが出力される。
（断線不良）
タッチパネルコントロール基板２０が断線不良（オープン不良）を有している場合は、容量値Ｃｘが小さくなる。容量値Ｃｘが、断線不良（オープン不良）と判断する指標となる容量値Ｃｏｐｅｎより小さいとき、容量検出回路からＬｏｗレベルの信号を出力するようにする。
容量検出回路の出力は、容量測定結果判定回路５２３を経て、容量測定結果出力用端子５２４に出力される。容量測定結果判定回路５２３で、ＡＮＤ演算を実施すると、容量測定結果出力用端子５２４にはＬｏｗレベルが出力される。
以上のように、断線不良（オープン不良）を有している場合は、容量測定結果出力用端子５２４にはＬｏｗレベルが出力される。
〔実施形態６〕
本発明の他の実施形態について、図１１に基づいて説明する。なお、説明の便宜上、前記実施形態にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を省略する。
図１１は、本実施形態のタッチパネルコントローラの概略構成を示すブロック図である。
タッチパネルコントローラ６００は、図９に示す実施形態５のタッチパネルコントローラ５００の構成に対して、容量測定結果判定回路及び、容量測定結果出力用端子を変更したものである。タッチパネルコントローラ６００は、２ヶの容量測定結果判定回路５２３Ａ・５２３Ｂと、２ヶの容量測定結果出力用端子５２４Ａ・５２４Ｂとを備えている。
容量測定結果判定回路５２３Ａ（第１演算部）では、複数ある容量測定結果についてＯＲ演算を実行し、演算結果を容量測定結果出力用端子５２４Ａに出力する。容量測定結果判定回路５２３Ｂ（第２演算部）では、複数ある容量測定結果についてＡＮＤ演算を実行し、演算結果を容量測定結果出力用端子５２４Ｂに出力する。
短絡不良（ショート不良）が発生している場合は、複数ある容量検出回路の少なくともひとつはＨｉｇｈレベルの信号を出力する。容量測定結果判定回路５２３ＡでＯＲ演算を実行すると、容量測定結果出力用端子５２４ＡにＨｉｇｈレベルの信号が出力される。
断線不良（オープン不良）が発生している場合は、複数ある容量検出回路の少なくともひとつはＬｏｗレベルの信号を出力する。容量測定結果判定回路５２３ＢでＡＮＤ演算を実行すると、容量測定結果出力用端子５２４ＢにＬｏｗレベルの信号が出力される。
したがって、容量測定結果出力用端子５２４ＡにＨｉｇｈレベルの信号が出力される場合は短絡不良（ショート不良）が発生していると判断でき、容量測定結果出力用端子５２４ＢにＬｏｗレベルの信号が出力される場合は断線不良（オープン不良）が発生していると判断できる。
実施形態５のタッチパネルコントローラ５００は、容量測定結果判定回路をひとつしか備えていないため、短絡不良（ショート不良）か断線不良（オープン不良）のどちらか一方しか検査できない。これに対して本実施形態のタッチパネルコントローラ６００は、短絡不良（ショート不良）と断線不良（オープン不良）の両方を検査できるように、容量測定結果判定回路と容量測定結果出力用端子とを、それぞれ複数個備えている。
このため、短絡不良（ショート不良）と断線不良（オープン不良）の両方の不良に対する検査が可能となり、タッチパネルコントロール基板の品質が向上する。
〔実施形態７〕
本発明の他の実施形態について、図１２に基づいて説明する。なお、説明の便宜上、前記実施形態にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を省略する。
図１２は、本実施形態のタッチパネルコントローラの概略構成を示すブロック図である。
タッチパネルコントローラ７００は、ｋヶの配線用端子７０１Ｅ・７０２Ｅ・７０３Ｅ・７０４Ｅと、容量検出結果出力用端子７２４とを備えている。
配線用端子７０１Ｅ・７０２Ｅ・７０３Ｅ・７０４Ｅには、配線用端子と配線用駆動回路７０１Ａ・７０２Ａ・７０３Ａ・７０４Ａとの接続を切り替えるスイッチ７０１Ｃ・７０２Ｃ・７０３Ｃ・７０４Ｃ、及び配線用端子と配線用容量検出回路７０１Ｂ・７０２Ｂ・７０３Ｂ・７０４Ｂ（静電容量測定部）との接続を切り替えるスイッチ７０１Ｄ・７０２Ｄ・７０３Ｄ・７０４Ｄが接続されている。
配線用端子と駆動回路の接続を切り替えるスイッチ７０１Ｃ・７０２Ｃ・７０３Ｃ・７０４Ｃには、駆動回路切替回路７２１が接続されている。配線用駆動回路７０１Ａ・７０２Ａ・７０３Ａ・７０４Ａには、駆動信号生成部７２０が接続されている。
配線用端子と容量検出回路の接続を切り替えるスイッチ７０１Ｄ・７０２Ｄ・７０３Ｄ・７０４Ｄには、容量検出回路切替回路７２２が接続されている。
配線用容量検出回路７０１Ｂ・７０２Ｂ・７０３Ｂ・７０４Ｂには、容量検出結果判定回路７２３が接続されており、容量検出結果判定回路７２３には容量検出結果出力用端子７２４が接続されている。
上記の構成によれば、タッチパネルコントローラ７００のスイッチ７０１Ｃ・７０２Ｃ・７０３Ｃ・７０４Ｃ・７０１Ｄ・７０２Ｄ・７０３Ｄ・７０４Ｄを切り替えることにより、ｋヶの配線用端子７０１Ｅ・７０２Ｅ・７０３Ｅ・７０４Ｅのタッチパネル本体１０における接続先を、駆動線とセンス線との間で切り替えることができる。すなわち、ｋヶの配線用端子７０１Ｅ・７０２Ｅ・７０３Ｅ・７０４Ｅのそれぞれを、駆動線用の端子として用いることができ、センス線用の端子として用いることもできる。
このように、タッチパネルコントローラ７００は、タッチパネル本体１０と接続したときに、タッチセンサーシート１１の駆動線とセンス線を入れ替えて動作させることが可能であるため、より高精度なタッチ認識が可能になる。
＜検査方法＞
タッチパネル本体１０を接続することなく、タッチパネルコントロール基板作製工程で発生する「実装不良（オープン不良、ショート不良）」を検査する方法を下記に示す。
駆動回路切替回路７２１を用いて、スイッチ７０１Ｃ・７０２Ｃ・７０３Ｃ・７０４Ｃを順次切り替え、複数存在する配線用端子のひとつからＨｉｇｈレベルの信号を出力する。そして、容量検出回路切替回路７２２を用いて、スイッチ７０１Ｄ・７０２Ｄ・７０３Ｄ・７０４Ｄを順次切り替え、複数存在する配線用端子の容量を測定する。この際、Ｈｉｇｈレベルの信号を出力している端子と該端子の容量検出回路とを接続するスイッチは、接続しないように制御する。
（短絡不良）
タッチパネルコントロール基板２０が短絡不良（ショート不良）を有している場合は、容量検出回路が検出する容量値が大きくなる。検出された容量値が、短絡不良（ショート不良）と判断する指標となる容量値Ｃｓｈｏｒｔを超えるとき、容量検出回路からＨｉｇｈレベルの信号を出力するようにする。
容量検出回路の出力は、容量検出結果判定回路７２３を経て、容量検出結果出力用端子７２４に出力される。容量検出結果判定回路７２３で、ＯＲ演算を実施すると、容量検出結果出力用端子７２４にはＨｉｇｈレベルが出力される。
以上のように、短絡不良（ショート不良）を有している場合は、容量検出結果出力用端子７２４にはＨｉｇｈレベルが出力される。
（断線不良）
タッチパネルコントロール基板２０が断線不良（オープン不良）を有している場合は、容量検出回路が検出する容量値が小さくなる。検出された容量値が、断線不良（オープン不良）と判断する指標となる容量値Ｃｏｐｅｎより小さいとき、容量検出回路からＬｏｗレベルの信号を出力するようにする。
容量検出回路の出力は、容量検出結果判定回路７２３を経て、容量検出結果出力用端子７２４に出力される。容量検出結果判定回路７２３で、ＡＮＤ演算を実施すると、容量検出結果出力用端子７２４にはＬｏｗレベルが出力される。
以上のように、断線不良（オープン不良）を有している場合は、容量検出結果出力用端子７２４にはＬｏｗレベルが出力される。
以上のように、タッチパネルコントローラ７００は、配線用端子、配線用駆動回路、配線用容量検出回路、配線用端子と配線用駆動回路の接続を切り替えるスイッチ、配線用端子と配線用容量検出回路の接続を切り替えるスイッチ、駆動回路切替回路、駆動信号生成部、容量検出回路切替回路、容量検出結果判定回路、容量検出結果出力用端子を備えている。
タッチパネルコントローラ７００は、配線用端子に順次駆動用信号を出力して、出力した端子以外の端子の容量値を測定し、容量値測定結果に基づいて測定結果を出力するテスト機能を内蔵している。
上記のテスト機能を内蔵することにより、タッチパネル本体を接続することなく、タッチパネルコントロール基板作製工程で発生する「実装不良（オープン不良、ショート不良）」を検査することが可能になる。
〔実施形態８〕
本発明の他の実施形態について、図１３に基づいて説明する。なお、説明の便宜上、前記実施形態にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を省略する。
図１３は、本実施形態のタッチパネルコントローラの概略構成を示すブロック図である。
タッチパネルコントローラ８００は、図１２に示す実施形態７のタッチパネルコントローラ７００の構成に対して、容量検出結果判定回路及び、容量検出結果出力用端子を変更したものである。タッチパネルコントローラ８００は、２ヶの容量検出結果判定回路７２３Ａ・７２３Ｂと、２ヶの容量検出結果出力用端子７２４Ａ・７２４Ｂとを備えている。
容量検出結果判定回路７２３Ａ（第１演算部）では、複数ある容量検出結果についてＯＲ演算を実行し、演算結果を容量検出結果出力用端子７２４Ａに出力する。容量検出結果判定回路７２３Ｂ（第２演算部）では、複数ある容量検出結果についてＡＮＤ演算を実行し、演算結果を容量検出結果出力用端子７２４Ｂに出力する。
短絡不良（ショート不良）が発生している場合は、複数ある容量検出回路の少なくともひとつはＨｉｇｈレベルの信号を出力する。容量検出結果判定回路７２３ＡでＯＲ演算を実行すると、容量検出結果出力用端子７２４ＡにＨｉｇｈレベルの信号が出力される。
断線不良（オープン不良）が発生している場合は、複数ある容量検出回路の少なくともひとつはＬｏｗレベルの信号を出力する。容量検出結果判定回路７２３ＢでＡＮＤ演算を実行すると、容量検出結果出力用端子７２４ＢにＬｏｗレベルの信号が出力される。
したがって、容量検出結果出力用端子７２４ＡにＨｉｇｈレベルの信号が出力される場合は短絡不良（ショート不良）が発生していると判断でき、容量検出結果出力用端子７２４ＢにＬｏｗレベルの信号が出力される場合は断線不良（オープン不良）が発生していると判断できる。
実施形態７のタッチパネルコントローラ７００は、容量検出結果判定回路をひとつしか備えていないため、短絡不良（ショート不良）か断線不良（オープン不良）のどちらか一方しか検査できない。これに対して本実施形態のタッチパネルコントローラ８００は、短絡不良（ショート不良）と断線不良（オープン不良）の両方を検査できるように、容量検出結果判定回路と容量検出結果出力用端子を複数個備えている。
このため、短絡不良（ショート不良）と断線不良（オープン不良）の両方の不良に対する検査が可能となり、タッチパネルコントロール基板の品質が向上する。
〔実施形態９〕
本発明の他の実施形態について、図１４〜図１７に基づいて説明する。なお、説明の便宜上、前記実施形態にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を省略する。
図１４は、本実施形態のタッチパネル装置の概略構成を示すブロック図である。
タッチパネル装置９０１は、タッチパネル本体１０と、タッチパネルコントロール基板９２０とを備えている。
タッチパネルコントロール基板９２０は、タッチパネルコントローラ９００と、接続用コネクタ２６とを備えている。
タッチパネルコントローラ９００は、マルチプレクサ９０４と、ドライバ９０５と、センスアンプ９０６と、タイミングジェネレータ９０７と、ＡＤ変換器９０８と、容量分布計算部９０９と、タッチ認識部９１０とを備えている。
タッチパネルコントローラ９００は一つの集積回路で構成され、基板に実装されている。タッチパネルコントローラ９００の信号線ＨＬ１・ＨＬ２・・・ＨＬＭおよび、ＶＬ１・ＶＬ２・・・ＶＬＭは基板上の配線で接続用コネクタ２６に接続されている。
タッチパネル本体１０と接続用コネクタ２６の間は、接続ケーブルでつながり、信号線ＨＬ１・ＨＬ２・・・ＨＬＭはタッチパネル本体１０の水平方向に延びる電極につながり、ＶＬ１・ＶＬ２・・・ＶＬＭはタッチパネル本体１０の垂直方向に延びる電極につながる。
ドライバ９０５は、符号系列に基づいてドライブラインＤＬ１〜ＤＬＭに電圧を印加する。センスアンプ９０６は、各静電容量に対応する電荷の線形和を、センスラインＳＬ１〜ＳＬＭを通して読み出して、ＡＤ変換器９０８に供給する。なお、ドライバ９０５として、実施形態７の配線用駆動回路７０１Ａ・７０２Ａ・７０３Ａ・７０４Ａと同様の回路を用いることができ、センスアンプ９０６として、実施形態７の配線用容量検出回路７０１Ｂ・７０２Ｂ・７０３Ｂ・７０４Ｂと同様の回路を用いることができる。
マルチプレクサ９０４は、信号線ＨＬ１〜ＨＬＭをドライバ９０５のドライブラインＤＬ１〜ＤＬＭに接続し、信号線ＶＬ１〜ＶＬＭをセンスアンプ９０６のセンスラインＳＬ１〜ＳＬＭに接続する第１接続状態と、信号線ＨＬ１〜ＨＬＭをセンスアンプ９０６のセンスラインＳＬ１〜ＳＬＭに接続し、信号線ＶＬ１〜ＶＬＭをドライバ９０５のドライブラインＤＬ１〜ＤＬＭに接続する第２接続状態とを切替える。
図１５は、マルチプレクサの構成を示す回路図である。マルチプレクサ９０４は、直列に接続された４個のＣＭＯＳスイッチＳＷ１〜ＳＷ４を有している。タイミングジェネレータ９０７からの制御線ＣＬは、ＣＭＯＳスイッチＳＷ１のＣＭＯＳスイッチＳＷ２と反対側の一端と、ＣＭＯＳスイッチＳＷ２とＣＭＯＳスイッチＳＷ３との間と、ＣＭＯＳスイッチＳＷ４のＣＭＯＳスイッチＳＷ３と反対側の一端と、反転器ｉｎｖの入力とに接続されている。反転器ｉｎｖの出力は、ＣＭＯＳスイッチＳＷ１とＣＭＯＳスイッチＳＷ２との間と、ＣＭＯＳスイッチＳＷ３とＣＭＯＳスイッチＳＷ４との間とに接続されている。信号線ＨＬ１〜ＨＬＭは、ＣＭＯＳスイッチＳＷ１・ＳＷ２に接続されている。信号線ＶＬ１〜ＶＬＭは、ＣＭＯＳスイッチＳＷ３・ＳＷ４に接続されている。ドライブラインＤＬ１〜ＤＬＭは、ＣＭＯＳスイッチＳＷ１・ＳＷ４に接続されている。センスラインＳＬ１〜ＳＬＭは、ＣＭＯＳスイッチＳＷ２・ＳＷ３に接続されている。
制御線ＣＬの信号をＬｏｗにすると、信号線ＨＬ１〜ＨＬＭは、ドライブラインＤＬ１〜ＤＬＭにつながり、信号線ＶＬ１〜ＶＬＭは、センスラインＳＬ１〜ＳＬＭにつながる。制御線ＣＬの信号をＨｉｇｈにすると、信号線ＨＬ１〜ＨＬＭは、センスラインＳＬ１〜ＳＬＭにつながり、信号線ＶＬ１〜ＶＬＭは、ドライブラインＤＬ１〜ＤＬＭにつながる。
ＡＤ変換器９０８は、センスラインＳＬ１〜ＳＬＭを通して読み出した各静電容量に対応する電荷の線形和をＡＤ変換して容量分布計算部９０９に供給する。
容量分布計算部９０９は、ＡＤ変換器９０８から供給された各静電容量に対応する電荷の線形和と符号系列とに基づいて、タッチパネル本体１０上の静電容量分布を計算してタッチ認識部９１０に供給する。タッチ認識部９１０は、容量分布計算部９０９から供給された静電容量分布に基づいて、タッチパネル本体１０上のタッチされた位置を認識する。
タイミングジェネレータ９０７は、ドライバ９０５の動作を規定する信号と、センスアンプ９０６の動作を規定する信号と、ＡＤ変換器９０８の動作を規定する信号とを生成して、ドライバ９０５、センスアンプ９０６、及びＡＤ変換器９０８に供給する。
＜検査方法＞
タッチパネル本体１０を接続することなく、タッチパネルコントロール基板作製工程で発生する「実装不良（オープン不良、ショート不良）」を検査する方法を下記に示す。
以下の説明では、信号線ＨＬ１〜ＨＬＭをドライバ９０５のドライブラインＤＬ１〜ＤＬＭに接続するとともに信号線ＶＬ１〜ＶＬＭをセンスアンプ９０６のセンスラインＳＬ１〜ＳＬＭに接続した状態を第１接続状態とし、信号線ＨＬ１〜ＨＬＭをセンスアンプ９０６のセンスラインＳＬ１〜ＳＬＭに接続するとともに信号線ＶＬ１〜ＶＬＭをドライバ９０５のドライブラインＤＬ１〜ＤＬＭに接続した状態を第２接続状態とする。
（短絡不良）
（ＨＬ１〜ＨＬＭ内でのショート不良検出）
図１６は、短絡不良を検査するときのタッチパネルコントロール基板の概略構成を示すブロック図である。
まず、第１接続状態にしてドライブラインＤＬ１〜ＤＬＭに一斉に駆動信号を出力する。このとき、列を成して配列された各信号線ＨＬ１〜ＨＬＭに対応する各ドライブラインＤＬ１〜ＤＬＭに対して駆動信号を出力する際、互いに隣り合うドライブラインＤＬ１〜ＤＬＭに対して互いに異なる駆動信号を供給する。
例えば、ドライブラインＤＬ１〜ＤＬＭのうち、ドライブラインＤＬ１・ＤＬ３・ＤＬ５・・・には“Ｈ”の駆動信号を供給し、ドライブラインＤＬ２・ＤＬ４・ＤＬ６・・・には“Ｌ”の駆動信号を供給する。これにより、互いに隣り合う信号線ＨＬ１〜ＨＬＭ（ドライブラインＤＬ１〜ＤＬＭ）には、互いに異なる静電容量が保持される。
次に、第２接続状態に切り換え、センスアンプ９０６で信号線ＨＬ１〜ＨＬＭの静電容量を読み出す。このとき、信号線ＨＬ１〜ＨＬＭの間でショート不良がある場合、信号線ＨＬ１〜ＨＬＭの静電容量（電圧換算される場合は、電圧レベル）が変化するため、本来保持されているはずの静電容量と、読み出された信号線ＨＬ１〜ＨＬＭの静電容量とを比較することによって、信号線ＨＬ１〜ＨＬＭ内でのショート不良を検出することができる。
また、ドライブラインＤＬ１〜ＤＬＭに供給する駆動信号のパターンを変更して再度測定する事で、ショート不良の検出精度を上げる事が出来る。
なお、信号線ＨＬ１〜ＨＬＭの状態は配線等の容量で保持されているが、保持時間が短い場合はコネクタ部を使用して保持容量を接続すれば良い。
（ＶＬ１〜ＶＬＭ内でのショート不良検出）
ＨＬ１〜ＨＬＭ内でのショート不良検出の場合と同様に、第２接続状態にしてドライブラインＤＬ１〜ＤＬＭに一斉に駆動信号を出力した後、第１接続状態に切り換え、センスアンプ９０６で信号線ＶＬ１〜ＶＬＭの静電容量を読み出す。
これにより、信号線ＶＬ１〜ＶＬＭ内でのショート不良を検出することができる。
（ＨＬ１〜ＨＬＭ、ＶＬ１〜ＶＬＭ間でのショート不良検出）
まず、第１接続状態にして、信号線ＨＬ１〜ＨＬＭ（第１接続端子群）に“Ｈ”の駆動信号を出力する（第１供給ステップ）。次に、第２接続状態にして、信号線ＶＬ１〜ＶＬＭ（第２接続端子群）に“Ｌ”の駆動信号を出力する（第２供給ステップ）と共に、センスアンプ９０６で信号線ＨＬ１〜ＨＬＭの静電容量を読み出す。
信号線ＨＬ１〜ＨＬＭと信号線ＶＬ１〜ＶＬＭと間でのショート不良があれば、信号線ＨＬ１〜ＨＬＭの中で“Ｈ”の電位状態を保持できない信号線が現れる。そのため、本来保持されているはずの静電容量と、読み出された信号線ＨＬ１〜ＨＬＭの静電容量とを比較することによって、信号線ＨＬ１〜ＨＬＭと信号線ＶＬ１〜ＶＬＭとの間でのショート不良を検出することができる。
また、同様にして、信号線ＶＬ１〜ＶＬＭに“Ｈ”の駆動信号を供給してセンスアンプ９０６で信号線ＶＬ１〜ＶＬＭの静電容量を読み出す事により、信号線ＨＬ１〜ＨＬＭと信号線ＶＬ１〜ＶＬＭと間でのショート不良の検出精度を上げる事ができる。
（断線不良）
図１７は、断線不良を検査するときのタッチパネルコントロール基板の概略構成を示すブロック図である。
断線不良を検査する場合、図１７に示すように、タッチパネルコントロール基板２０の外部で接続用コネクタ２６にショートケーブル２７を接続することにより、信号線ＨＬ１〜ＨＬＭと信号線ＶＬ１〜ＶＬＭとを故意に短絡（ショート）状態とする。
次に、第１接続状態にして、信号線ＨＬ１〜ＨＬＭに同じ駆動信号を供給し、センスアンプ９０６で信号線ＶＬ１〜ＶＬＭの静電容量を読み出す。
信号線ＶＬ１〜ＶＬＭにオープン不良がある場合、信号線ＨＬ１〜ＨＬＭに供給された駆動信号に応じた静電容量が信号線ＶＬ１〜ＶＬＭに保持されないため、本来保持されているはずの静電容量と、読み出された信号線ＶＬ１〜ＶＬＭの静電容量とを比較することによって、信号線ＶＬ１〜ＶＬＭのオープン不良を検出することができる。
次に、第２接続状態にして、信号線ＶＬ１〜ＶＬＭに同じ駆動信号を供給し、センスアンプ９０６で信号線ＨＬ１〜ＨＬＭの静電容量を読み出す。
信号線ＨＬ１〜ＨＬＭにオープン不良がある場合、信号線ＶＬ１〜ＶＬＭに供給された駆動信号に応じた静電容量が信号線ＨＬ１〜ＨＬＭに保持されないため、本来保持されているはずの静電容量と、読み出された信号線ＨＬ１〜ＨＬＭの静電容量とを比較することによって、信号線ＨＬ１〜ＨＬＭのオープン不良を検出することができる。
＜付記事項＞
前述の実施形態５〜９の検査方法は、容量検出回路を用いた検査方法である。容量検出回路では、測定対象容量の容量値が大きいほうが、検出精度は良くなる。このため、タッチパネルコントロール基板２０にタッチパネル本体１０を接続して、タッチパネルコントロール基板作製工程で発生する「実装不良（オープン不良、ショート不良）」の検査を実施することが望ましい。ただし、タッチパネル本体１０を接続する場合であっても、検査時にタッチパネル本体１０をタッチする必要はないので、従来の検査方法に比べて、検査時間が短縮され、タッチパネルコントロール基板２０の製造コストの上昇を抑制する利点がある。
〔まとめ〕
本発明の態様１に係るタッチパネルコントロール基板（２０）の検査方法は、タッチパネル本体（１０）が備える複数の信号線に対して接続コネクタ（２３・２４）を介して駆動信号を供給するタッチパネルコントローラ（１００・２００・３００・４００・５００・６００・７００・８００・９００）を備えたタッチパネルコントロール基板の検査方法であって、上記接続コネクタを介して上記信号線のそれぞれに電気的に接続される複数の接続端子（駆動線用端子１０１Ｅ、センス線用端子１１１Ｆ、配線用端子７０１Ｅ）に上記駆動信号を供給する供給ステップと、上記接続端子に供給された上記駆動信号に応じて当該接続端子以外の他の接続端子において得られる応答に基づいて、当該接続端子と当該他の接続端子との電気的な接続状態を検知する検知ステップとを含んでいることを特徴とする。
上記の検査方法によれば、検知ステップを実行することにより、接続端子と当該他の接続端子との電気的な接続状態を検知することができる。
そのため、タッチパネルコントロール基板をタッチパネル本体に接続してタッチパネル本体を駆動することなく、接続端子と当該他の接続端子との電気的な接続状態を検知することができ、接続端子と接続コネクタとの間における配線の短絡または断線などの配線不良を検出することができる。
これにより、タッチパネルコントロール基板の実装工程における実装不良の検査を簡便に行うことができる。
本発明の態様２に係るタッチパネルコントロール基板の検査方法は、上記態様１において、上記検知ステップは、上記接続端子に上記駆動信号を供給したときの上記他の接続端子の電圧に応じて、接続端子と当該他の接続端子との電気的接続の有無に対応する２値の信号の何れか一方を出力する電圧測定結果出力ステップと、上記接続端子のそれぞれに対応する上記信号を演算する演算ステップと、を含んでいてもよい。
上記の検査方法によれば、検知ステップを実行することにより、上記他の接続端子の電圧に応じて、上記接続端子と上記他の接続端子との短絡を検知することができる。
また、演算ステップを実行することにより、何れかの接続端子に配線不良がある場合に不良判定することができる。
なお、上記検知ステップは、上記他の接続端子の静電容量値を測定し、当該静電容量値に基づいて接続端子と当該他の接続端子との電気的接続の有無に対応する２値の信号の何れか一方を出力する静電容量測定結果出力ステップと、上記接続端子のそれぞれに対応する上記信号を演算する演算ステップと、を含んでいてもよい。
上記の検査方法によれば、検知ステップを実行することにより、上記他の接続端子の静電容量値に応じて、上記接続端子と上記他の接続端子との短絡を検知することができる。
また、演算ステップを実行することにより、何れかの接続端子に配線不良がある場合に不良判定することができる。
なお、上記演算ステップでは、上記信号の論理和を演算してもよい。
上記の検査方法によれば、簡便な方法により、上記接続端子と上記他の接続端子との短絡を検知して不良判定することができる。
なお、上記供給ステップ及び上記検知ステップのうちの少なくとも何れか一方は、タッチパネルコントロール基板の外部で上記接続端子と上記他の接続端子とを短絡させた状態で行い、上記演算ステップでは、上記信号の論理積を演算してもよい。
上記の検査方法によれば、簡便な方法により、上記他の接続端子と接続コネクタとの間の断線を検知して不良判定することができる。
本発明の態様３に係るタッチパネルコントロール基板の検査方法は、タッチパネル本体が備える複数の信号線に対して接続コネクタを介して駆動信号を供給するタッチパネルコントローラを備えたタッチパネルコントロール基板の検査方法であって、上記接続コネクタを介して上記信号線に電気的に接続される接続端子に上記駆動信号を供給する供給ステップと、上記駆動信号を供給された上記接続端子の静電容量値を測定するとともに、上記静電容量値に基づいて、当該接続端子と他の接続端子との電気的な接続状態を検知する検知ステップとを含んでいることを特徴とする。
上記の検査方法によれば、駆動信号を供給した接続端子の静電容量値を測定することにより、供給した駆動信号に応じて本来保持される静電容量値と、測定された静電容量値との関係から、上記接続端子と上記他の接続端子との短絡、及び上記他の接続端子と接続コネクタとの間の断線を検知することができる。
本発明の態様４に係るタッチパネルコントロール基板の検査方法は、上記態様３において、上記接続端子は、列を成して配列されており、上記供給ステップでは、互いに隣り合う上記接続端子に対して互いに異なる駆動信号を供給し、上記検知ステップでは、上記接続端子の静電容量値に基づいて、当該接続端子と隣の接続端子との電気的な接続状態を検知してもよい。
上記の検査方法によれば、供給ステップにおいて、互いに隣り合う上記接続端子に対して互いに異なる駆動信号を供給するため、検知ステップにおいて、接続端子の静電容量値に基づいて正確な良否判定をすることができる。
本発明の態様５に係るタッチパネルコントロール基板の検査方法は、上記態様３において、上記供給ステップは、複数の上記接続端子のうちの一部の接続端子によって構成される第１接続端子群に対して第１の駆動信号を供給する第１供給ステップと、複数の上記接続端子のうちの他の一部の接続端子によって構成される第２接続端子群に対して上記第１の駆動信号とは異なる第２の駆動信号を供給する第２供給ステップと、を含み、上記検知ステップでは、上記第１接続端子群に含まれる接続端子の静電容量値に基づいて、当該接続端子と上記第２接続端子群に含まれる接続端子との電気的な接続状態を検知してもよい。
上記の検査方法によれば、供給ステップにおいて、第１接続端子群に含まれる接続端子に第１の駆動信号を供給するとともに、第２接続端子群に含まれる接続端子には第２の駆動信号を供給する。そのため、検知ステップにおいて、第１接続端子群に含まれる接続端子の静電容量値に基づいて、第１接続端子群に含まれる接続端子と第２接続端子群に含まれる接続端子との電気的な接続状態を検知し、良否判定をすることができる。
なお、上記供給ステップ及び上記検知ステップのうちの少なくとも何れか一方は、タッチパネルコントロール基板の外部で上記接続端子と上記他の接続端子とを短絡させた状態で行ってもよい。
上記の検査方法によれば、接続端子の断線不良を検知し、良否判定をすることができる。
本発明の態様６に係るタッチパネルコントローラ（１００・２００・３００・４００・５００・６００・７００・８００・９００）は、タッチパネル本体（１０）が備える複数の信号線に対して接続コネクタ（２３・２４）を介して駆動信号を供給するタッチパネルコントローラであって、上記接続コネクタを介して上記信号線のそれぞれに電気的に接続される複数の接続端子（駆動線用端子１０１Ｅ、センス線用端子１１１Ｆ、配線用端子７０１Ｅ）と、上記接続端子に上記駆動信号を供給する駆動回路（駆動線用駆動回路１０１Ｃ、センス線用駆動回路１１１Ｄ、配線用駆動回路７０１Ｃ）と、上記接続端子に供給された上記駆動信号に応じて当該接続端子以外の他の接続端子（駆動線用端子１０２Ｅ、センス線用端子１１２Ｆ、配線用端子７０２Ｅ）において得られる応答に基づいて、当該接続端子と当該他の接続端子との電気的な接続状態を検知する検知部（駆動線用電圧測定回路１０１Ｂ、センス線用電圧測定回路１１１Ｃ、電圧測定回路３３０、駆動線用容量検出回路５３０、センス線容量検出回路５１１Ａ、配線用容量検出回路７０１Ｂ、電圧測定結果判定回路１２３、容量測定結果判定回路５２３）と、を備えていることを特徴とする。
上記の構成によれば、検知部を備えていることにより、接続端子と当該他の接続端子との電気的な接続状態を検知することができる。
そのため、タッチパネルコントローラをタッチパネル本体に接続してタッチパネル本体を駆動することなく、接続端子と当該他の接続端子との電気的な接続状態を検知することができ、接続端子と接続コネクタとの間における配線の短絡または断線などの配線不良を検出することができる。
これにより、タッチパネルコントローラと接続コネクタとを基板に実装する工程における実装不良の検査を簡便に行うことができる。
本発明の態様７に係るタッチパネルコントローラは、上記態様６において、上記検知部は、上記接続端子に上記駆動信号を供給したときの上記他の接続端子の電圧に応じて、接続端子と当該他の接続端子との電気的接続の有無に対応する２値の信号の何れか一方を出力する電圧測定部（駆動線用電圧測定回路１０１Ｂ、センス線用電圧測定回路１１１Ｃ、電圧測定回路３３０）と、上記接続端子のそれぞれに対応する上記信号を演算する演算部（電圧測定結果判定回路１２３、容量測定結果判定回路５２３）と、を備えていてもよい。
上記の構成によれば、上記他の接続端子の電圧に応じて、上記接続端子と上記他の接続端子との短絡を検知することができる。また、治具などを用いて、タッチパネルコントロール基板の外部において接続端子同士を短絡させておくことによって、上記他の接続端子と接続コネクタとの間の断線を検知することができる。
また、接続端子のそれぞれに対応する上記信号を演算することによって、何れかの接続端子に配線不良がある場合に不良判定することができる。
本発明の態様８に係るタッチパネルコントローラは、上記態様６において、上記検知部は、上記他の接続端子の静電容量値を測定し、当該静電容量値に基づいて接続端子と当該他の接続端子との電気的接続の有無に対応する２値の信号の何れか一方を出力する静電容量測定部（駆動線用容量検出回路５３０、センス線容量検出回路５１１Ａ、配線用容量検出回路７０１Ｂ）と、上記接続端子のそれぞれに対応する上記信号を演算する演算部と、を備えていてもよい。
上記の構成によれば、上記他の接続端子の静電容量値に応じて、上記接続端子と上記他の接続端子との短絡、及び上記他の接続端子と接続コネクタとの間の断線を検知することができる。
また、接続端子のそれぞれに対応する上記信号を演算することによって、何れかの接続端子に配線不良がある場合に不良判定することができる。
なお、上記演算部として、上記信号の論理和を演算する第１演算部（電圧測定結果判定回路１２３Ａ、容量測定結果判定回路５２３Ａ）と、上記信号の論理積を演算する第２演算部（電圧測定結果判定回路１２３Ｂ、容量測定結果判定回路５２３Ｂ）とを備えていてもよい。
上記の構成によれば、上記接続端子と上記他の接続端子との短絡を検知して不良判定することができるとともに、上記他の接続端子と接続コネクタとの間の断線を検知して不良判定することができる。
これにより、何れかの接続端子に配線不良がある場合に正確に不良判定することができる。
本発明は上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。さらに、各実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を組み合わせることにより、新しい技術的特徴を形成することができる。
本発明は、静電容量式のタッチパネル装置のタッチパネルコントロール基板の製造工程における検査に利用することができる。
１、９０１ タッチパネル装置
１０ タッチパネル本体
２０ タッチパネルコントロール基板
２３、２４、２６ 接続用コネクタ（接続コネクタ）
１００、２００、３００、４００、５００、６００、７００、８００、９００ タッチパネルコントローラ
１０１Ａ・１０２Ａ・１０３Ａ 駆動線用駆動回路（駆動回路）
１１１Ｂ・１１２Ｂ・１１３Ｂ センス線用駆動回路（駆動回路）
３０１Ａ・３０２Ａ・３０３Ａ 駆動線用駆動回路（駆動回路）
３３１ センス線用駆動回路（駆動回路）
５０１Ａ・５０２Ａ・５０３Ａ 駆動線用駆動回路（駆動回路）
５３１ センス線用駆動回路（駆動回路）
７０１Ａ・７０２Ａ・７０３Ａ・７０４Ａ 配線用駆動回路（駆動回路）
９０５ ドライバ（駆動回路）
１０１Ｂ・１０２Ｂ・１０３Ｂ 駆動線用電圧測定回路（検知部、電圧測定部）
１１１Ｃ・１１２Ｃ・１１３Ｃ センス線用電圧測定回路（検知部、電圧測定部）
３３０ 電圧測定回路（検知部、電圧測定部）
１０１Ｅ・１０２Ｅ・１０３Ｅ 駆動線用端子（接続端子）
１１１Ｆ・１１２Ｆ・１１３Ｆ センス線用端子（接続端子）
３０１Ｅ・３０２Ｅ・３０３Ｅ 駆動線用端子（接続端子）
３１１Ｆ・３１２Ｆ・３１３Ｆ センス線用端子（接続端子）
５０１Ｅ・５０２Ｅ・５０３Ｅ 駆動線用端子（接続端子）
５１１Ｆ・５１２Ｆ・５１３Ｆ センス線用端子（接続端子）
７０１Ｅ・７０２Ｅ・７０３Ｅ・７０４Ｅ 配線用端子（接続端子）
１１１Ａ・１１２Ａ・１１３Ａ センス線容量検出回路（検知部、静電容量測定部）
３１１Ａ・３１２Ａ・３１３Ａ センス線容量検出回路（検知部、静電容量測定部）
５１１Ａ・５１２Ａ・５１３Ａ センス線容量検出回路（検知部、静電容量測定部）
５３０ 駆動線用容量検出回路（検知部、静電容量測定部）
７０１Ｂ・７０２Ｂ・７０３Ｂ・７０４Ｂ 配線用容量検出回路（検知部、静電容量測定部）
９０６ センスアンプ（検知部、静電容量測定部）
１２３ 電圧測定結果判定回路（検知部、演算部）
１２３Ａ 電圧測定結果判定回路（検知部、第１演算部）
１２３Ｂ 電圧測定結果判定回路（検知部、第２演算部）
３２３ 電圧測定結果判定回路（検知部、演算部）
３２３Ａ 電圧測定結果判定回路（検知部、第１演算部）
３２３Ｂ 電圧測定結果判定回路（検知部、第２演算部）
５２３ 容量測定結果判定回路（検知部、演算部）
５２３Ａ 容量測定結果判定回路（検知部、第１演算部）
５２３Ｂ 容量測定結果判定回路（検知部、第２演算部）
７２３ 容量検出結果判定回路（検知部、演算部）
７２３Ａ 容量検出結果判定回路（検知部、第１演算部）
７２３Ｂ 容量検出結果判定回路（検知部、第２演算部）
Ｃｘ 容量値（静電容量値）

Claims (8)

  1. タッチパネル本体が備える複数の信号線に対して接続コネクタを介して駆動信号を供給するタッチパネルコントローラを備えたタッチパネルコントロール基板の検査方法であって、
    上記接続コネクタを介して上記信号線のそれぞれに電気的に接続される複数の接続端子に上記駆動信号を供給する供給ステップと、
    上記接続端子に供給された上記駆動信号に応じて当該接続端子以外の他の接続端子において得られる応答に基づいて、当該接続端子と当該他の接続端子との電気的な接続状態を検知する検知ステップとを含んでいることを特徴とするタッチパネルコントロール基板の検査方法。
  2. 上記検知ステップは、
    上記接続端子に上記駆動信号を供給したときの上記他の接続端子の電圧に応じて、当該接続端子と当該他の接続端子との電気的接続の有無に対応する２値の信号の何れか一方を出力する電圧測定結果出力ステップと、
    上記接続端子のそれぞれに対応する上記電圧測定結果出力ステップにおいて出力された上記信号を演算する演算ステップと、を含んでいることを特徴とする請求項１に記載のタッチパネルコントロール基板の検査方法。
  3. タッチパネル本体が備える複数の信号線に対して接続コネクタを介して駆動信号を供給するタッチパネルコントローラを備えたタッチパネルコントロール基板の検査方法であって、
    上記接続コネクタを介して上記信号線に電気的に接続される接続端子に上記駆動信号を供給する供給ステップと、
    上記駆動信号を供給された上記接続端子の静電容量値を測定するとともに、上記静電容量値に基づいて、当該接続端子と他の接続端子との電気的な接続状態を検知する検知ステップとを含んでいることを特徴とするタッチパネルコントロール基板の検査方法。
  4. 上記接続端子は、列を成して配列されており、
    上記供給ステップでは、互いに隣り合う上記接続端子に対して互いに異なる駆動信号を供給し、
    上記検知ステップでは、上記接続端子の静電容量値に基づいて、当該接続端子と隣の接続端子との電気的な接続状態を検知することを特徴とする請求項３に記載のタッチパネルコントロール基板の検査方法。
  5. 上記供給ステップは、
    複数の上記接続端子のうちの一部の接続端子によって構成される第１接続端子群に対して第１の駆動信号を供給する第１供給ステップと、
    複数の上記接続端子のうちの他の一部の接続端子によって構成される第２接続端子群に対して上記第１の駆動信号とは異なる第２の駆動信号を供給する第２供給ステップと、を含み、
    上記検知ステップでは、上記第１接続端子群に含まれる接続端子の静電容量値に基づいて、当該接続端子と上記第２接続端子群に含まれる接続端子との電気的な接続状態を検知することを特徴とする請求項３に記載のタッチパネルコントロール基板の検査方法。
  6. タッチパネル本体が備える複数の信号線に対して接続コネクタを介して駆動信号を供給するタッチパネルコントローラであって、
    上記接続コネクタを介して上記信号線のそれぞれに電気的に接続される複数の接続端子と、
    上記接続端子に上記駆動信号を供給する駆動回路と、
    上記接続端子に供給された上記駆動信号に応じて当該接続端子以外の他の接続端子において得られる応答に基づいて、当該接続端子と当該他の接続端子との電気的な接続状態を検知する検知部と、を備えていることを特徴とするタッチパネルコントローラ。
  7. 上記検知部は、
    上記接続端子に上記駆動信号を供給したときの上記他の接続端子の電圧に応じて、当該接続端子と当該他の接続端子との電気的接続の有無に対応する２値の信号の何れか一方を出力する電圧測定部と、
    上記接続端子のそれぞれに対応する上記電圧測定部から出力された上記信号を演算する演算部と、を備えていることを特徴とする請求項６に記載のタッチパネルコントローラ。
  8. 上記検知部は、
    上記他の接続端子の静電容量値を測定し、当該静電容量値に基づいて当該接続端子と当該他の接続端子との電気的接続の有無に対応する２値の信号の何れか一方を出力する静電容量測定部と、
    上記接続端子のそれぞれに対応する上記静電容量測定部から出力された上記信号を演算する演算部と、を備えていることを特徴とする請求項６に記載のタッチパネルコントローラ。
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