KR20160110021A - 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법 - Google Patents

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KR20160110021A
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touch sensor
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윤일현
신형철
장홍재
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솔로몬 시스테크 리미티드
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Abstract

터치 센서의 쇼트 불량 여부를 빠르고 정확하게 검사할 수 있는 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법이 개시된다. 전극패드를 이용한 터치 센서의 쇼트 불량(short defection)을 감지하기 위한 방법은, 복수개의 전극패드 중 적어도 하나의 기준전극패드와 기준전극패드를 제외한 나머지 대상전극패드를 정의하는 단계, 기준전극패드와 대상전극패드에 차별화된 전기신호를 인가하는 단계, 기준전극패드 및 대상전극패드로부터 전기적 특성값을 측정하는 단계, 대상전극패드 중 기준전극패드에서 측정된 전기적 특성값과 인접한 전기적 특성값을 갖는 특정전극패드의 유무를 확인하는 단계, 및 특정전극패드가 적어도 하나 존재하면 쇼트 불량으로 판단하는 단계를 포함한다.

Description

터치 센서의 쇼트 불량 감지방법{METHOD FOR DETECTING SHORT DEFECTION OF TOUCH SENSOR}
본 발명은 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법에 관한 것으로서, 보다 자세하게는 터치 센서의 쇼트 불량 여부를 빠르고 정확하게 검사할 수 있는 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법에 관한 것이다.
일반적으로 개인휴대단말기에는 공간활용성이 높고 사용이 편리함 이점으로 인해 터치스크린 또는 터치전극패드와 같은 터치패널의 장착이 보편화되고 있다.
터치패널은 크게 정전용량 방식, 압력식 저항막 방식, 적외선 감지방식, 표면 초음파 방식으로 구분될 수 있으며, 그중에서도 최근에는 정전용량 방식의 터치패널이 각광 받고 있다.
최근에는 소비자의 니즈를 반영하여 터치패널의 슬림화, 경량화, 테두리 최소화(Bezel-Less)에 기여할 수 있도록 터치 센서를 일체화하기 위한 다양한 시도가 이루어지고 있다.
참고로, 터치 센서의 일체화는, 터치 센서가 일체화되는 대상(디스플레이패널 또는 커버글라스)에 따라 크게 인셀(In-Cell) 방식 또는 온셀(On-Cell) 방식으로 구분될 수 있다.
인셀 방식 중 하나로서, AIT(Advanced In-cell Touch)기술은 터치 센서를 LCD Cell 내에 내장시킨 터치 기술로, 보다 우수한 터치감도를 제공할 수 있으며, 패널 두께와 베젤 넓이를 줄여 한층 더 슬림한 디자인을 구현 가능한 이점으로 인해 널리 사용되고 있다.
한편, AIT 터치패널의 제조시에는 터치 센서와 터치 감지 회로가 중복적으로 잘못 연결된 상태에 해당되는 쇼트 불량 문제가 터치 센서 노드 배선에서 발생할 수 있기 때문에, 쇼트 불량 여부를 검사하는 공정이 필수적으로 요구된다.
그러나, 기존에는 쇼트 불량 여부를 감지하기 위해 복잡한 장비를 이용하여 검사 공정을 수행해야 하기 때문에, 검사 자체가 매우 번거롭고 불편한 문제점이 있으며, 생산비가 증가하고 생산 시간이 지연되는 문제점이 있다.
이에 따라 최근에는 터치 센서의 쇼트 불량 여부를 보다 빠르고 정확하게 검사하기 위한 다양한 검토가 이루어지고 있으나, 아직 미흡하여 이에 대한 개발이 요구되고 있다.
본 발명은 터치 센서의 쇼트 불량 여부를 빠르고 정확하게 검사할 수 있는 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법을 제공한다.
특히, 본 발명은 기준전극패드 및 대상전극패드에 차별화된 전기신호를 인가하고, 기준전극패드 및 대상전극패드로부터 측정되는 전기적 측정값을 이용하여 쇼트 불량 여부를 감지할 수 있는 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법을 제공한다.
또한, 본 발명은 쇼트 불량 검사 공정을 간소화할 수 있으며, 보다 효율적이고 정확한 검사가 가능한 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법을 제공한다.
또한, 본 발명은 쇼트 불량 검사의 편의성을 향상시킬 수 있으며, 검사 시간을 단축하고 검사 비용을 절감할 수 있는 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법을 제공한다.
상술한 본 발명의 목적들을 달성하기 위한 본 발명의 바람직한 실시예에 따르면, 전극패드를 이용한 터치 센서의 쇼트 불량(short defection)을 감지하기 위한 방법은, 복수개의 전극패드 중 적어도 하나의 기준전극패드와 기준전극패드를 제외한 나머지 대상전극패드를 정의하는 단계, 기준전극패드와 대상전극패드에 차별화된 전기신호를 인가하는 단계, 기준전극패드 및 대상전극패드로부터 전기적 특성값을 측정하는 단계, 대상전극패드 중 기준전극패드에서 측정된 전기적 특성값과 인접한 전기적 특성값을 갖는 특정전극패드의 유무를 확인하는 단계, 및 특정전극패드가 적어도 하나 존재하면 쇼트 불량으로 판단하는 단계를 포함한다.
참고로, 본 발명에 따른 터치 센서는 통상의 인셀(In-Cell) 또는 온셀(On-cell) 방식으로 제공되거나, 커버글라스의 외면(또는 내면)에 부착되는 구조로 제공될 수 있으며, 터치 센서의 제공 방식에 의해 본 발명이 제한되거나 한정되는 것은 아니다.
기준전극패드는 요구되는 조건 및 검사 환경에 따라 다양하게 정의될 수 있으며, 대상전극패드는 복수개의 전극패드 중 기준전극패드를 제외한 나머지 전극패드들로 정의될 수 있다. 일 예로, 소정 행렬로 배치된 전극패드 중 특정 위치의 전극패드가 기준전극패드로 정의될 수 있는 바, 테스트 순서별로 서로 다른 전극패드가 기준전극패드로 순차적으로 정의될 수 있다. 경우에 따라서는 테스트 시간을 단축할 수 있도록 2개 이상의 전극패드가 기준전극패드로 정의될 수 있으며, 기준전극패드의 갯수 및 위치에 의해 본 발명이 제한되거나 한정되는 것은 아니다.
본 발명에서 기준전극패드와 대상전극패드에 차별화된 전기신호를 인가한다 함은, 기준전극패드에 인가되는 전기신호와 대상전극패드에 인가되는 전기신호가 서로 다른 것으로 이해될 수 있다. 일 예로, 기준전극패드에 기설정된 전압이 인가되고, 대상전극패드에는 기준전극패드에 인가되는 기설정된 전압과 다른 전압이 인가될 수 있다. 여기서, 기준전극패드(및/또는 대상전극패드)에 기설정된 전기신호가 인가된다 함은, 기준전극패드(및/또는 대상전극패드)에 통상의 DC 전압, AC 전압, 펄스 신호, 커패시턴스 로드(capacitance load) 및 전류원 중 어느 하나가 인가되는 것으로 이해될 수 있다.
또한, 본 발명에서 기준전극패드 및 대상전극패드로부터 측정되는 전기적 특성값이라 함은, 기준전극패드 및 대상전극패드로부터 측정될 수 있는 전기적 특성에 대한 측정값을 의미하며, 전기적 측정값의 종류 및 특성에 의해 본 발명이 제한되거나 한정되는 것은 아니다. 일 예로, 기준전극패드 및 대상전극패드로부터 측정되는 전기적 특성값으로서, 기준전극패드 및 대상전극패드에 대한 터치 데이터로 사용될 수 있는 커패시턴스값이 이용될 수 있다.
본 발명의 다른 바람직한 실시예에 따르면, 터치 센서의 쇼트 불량(short defection)을 감지하기 위한 방법은, 복수개의 전극패드 중 적어도 하나의 기준전극패드와 기준전극패드를 제외한 나머지 대상전극패드를 정의하는 단계, 기준전극패드와 대상전극패드에 차별화된 전기신호를 인가하는 단계, 대상전극패드로부터 전기적 특성값을 측정하는 단계, 대상전극패드의 전기적 특성값을 서로 비교하여 대상전극패드 중 기설정된 이탈 범위에 해당하는 전기적 특성값을 갖는 특정전극패드의 유무를 확인하는 단계, 및 대상전극패드 중 이탈 범위에 해당하는 전기적 특성값을 갖는 특정전극패드가 적어도 하나 존재하면, 쇼트 불량으로 판단하는 단계를 포함한다.
반면, 본 발명의 다른 실시예에 따르면 대상전극패드 중에서 특정전극패드를 분류하기 위해, 기준전극패드에서 측정된 전기적 특성값을 기준으로 하지 않고, 각 대상전극패드에서 측정된 전기적 특성값을 서로 비교한 후, 각 대상전극패드 중에서 기설정된 이탈 범위에 해당하는 전기적 특성값을 갖는 특정 대상전극패드를 특정전극패드로 분류할 수 있다.
또한, 본 발명의 다른 실시예에서도, 특정전극패드의 전기적 특성값이 기준전극패드로부터 측정된 전기적 특성값을 기준으로 기설정된 기준 범위 내에 있는지 여부를 확인하는 단계가 추가될 수 있으며, 특정전극패드에서 측정된 전기적 특성값이 상기 기준 범위 내에 해당할 경우 쇼트 불량으로 판단함으로써, 테스트 신뢰성을 높이는 것이 가능하다.
본 발명에 따른 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법에 의하면, 터치 센서의 쇼트 불량 여부를 빠르고 정확하게 검사할 수 있다.
특히, 본 발명에 따르면 기준전극패드 및 대상전극패드에 차별화된 전기신호를 인가하고, 기준전극패드 및 대상전극패드로부터 측정되는 전기적 측정값을 이용하여 쇼트 불량 여부를 감지할 수 있다. 따라서, 쇼트 불량 검사의 편의성을 향상시킬 수 있으며, 검사 시간을 단축하고 검사 비용을 절감할 수 있다.
또한, 본 발명에 따르면 복잡한 장비 및 검사 공정을 수행하지 않고, 단순히 차별화된 전기신호에 따라 전극패드로부터 측정되는 전기적 측정값을 이용하여 쇼트 불량을 감지할 수 있기 때문에, 쇼트 불량 검사 공정을 간소화할 수 있으며, 보다 효율적이고 정확한 검사를 가능하게 한다.
또한, 본 발명에 따르면 기준전극패드에서 측정된 전기적 특성값과 인접한 전기적 특성값을 갖는 특정전극패드의 유무를 확인하여 쇼트 불량을 감지하거나, 대상전극패드 중 기설정된 이탈 범위에 해당하는 전기적 특성값을 갖는 특정전극패드의 유무를 확인하여 쇼트 불량을 감지할 수 있기 때문에, 기생값에 따른 오류없이 검사 정확도를 보다 향상시킬 수 있다.
도 1은 본 발명에 따른 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 2는 정상적인 패널의 배선 상태를 설명하기 위한 도면이다.
도 3 및 도 4는 쇼트 불량이 발생된 패널의 배선 상태를 설명하기 위한 도면이다.
도 5는 본 발명에 따른 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법으로서, 정상적인 패널을 테스트한 결과를 설명하기 위한 도면이다.
도 6 및 도 7은 본 발명에 따른 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법으로서, 쇼트 불량이 발생된 패널을 테스트한 결과를 설명하기 위한 도면이다.
이하 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세하게 설명하지만, 본 발명이 실시예에 의해 제한되거나 한정되는 것은 아니다. 참고로, 본 설명에서 동일한 번호는 실질적으로 동일한 요소를 지칭하며, 이러한 규칙 하에서 다른 도면에 기재된 내용을 인용하여 설명할 수 있고, 당업자에게 자명하다고 판단되거나 반복되는 내용은 생략될 수 있다.
도 1은 본 발명에 따른 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법을 설명하기 위한 도면이고, 도 2는 정상적인 패널의 배선 상태를 설명하기 위한 도면이다.
또한, 도 3 및 도 4는 쇼트 불량이 발생된 패널의 배선 상태를 설명하기 위한 도면이고, 도 5는 본 발명에 따른 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법으로서, 정상적인 패널을 테스트한 결과를 설명하기 위한 도면이며, 도 6 및 도 7은 본 발명에 따른 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법으로서, 쇼트 불량이 발생된 패널을 테스트한 결과를 설명하기 위한 도면이다.
본 발명은 터치 센서 노드 배선에서의 쇼트 불량 여부, 즉 터치 센서와 터치 감지 회로가 중복적으로 잘못 연결되었는지 여부를 검사하기 위해 제공된다.
도 1에 도시한 바와 같이, 본 발명에 따른 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법은, 복수개의 전극패드(110) 중 적어도 하나의 기준전극패드(112)와 기준전극패드(112)를 제외한 나머지 대상전극패드(114)를 정의하는 단계(S10), 기준전극패드(112)와 대상전극패드(114)에 차별화된 전기신호를 인가하는 단계(S20), 기준전극패드(112) 및 대상전극패드(114)로부터 전기적 특성값을 측정하는 단계(S30), 대상전극패드(114) 중 기준전극패드(112)에서 측정된 전기적 특성값과 인접한 전기적 특성값을 갖는 특정전극패드(116)의 유무를 확인하는 단계(S40), 및 특정전극패드(116)가 적어도 하나 존재하면 쇼트 불량으로 판단하는 단계(S50)를 포함한다.
참고로, 본 발명에 따른 터치 센서는 통상의 인셀(In-Cell) 또는 온셀(On-cell) 방식으로 제공되거나, 커버글라스의 외면(또는 내면)에 부착되는 구조로 제공될 수 있으며, 터치 센서의 제공 방식에 의해 본 발명이 제한되거나 한정되는 것은 아니다.
이하에서는 본 발명에 따른 터치 센서가 인셀 타입으로 구성된 예를 들어 설명하기로 한다. 일반적으로 인셀 타입 터치 센서는 화면출력장치의 구성요소 중 전극패드 및 제어라인을 공용으로 사용할 수 있다. 여기서, 제어라인이라 함은, 화상픽셀을 위한 게이트라인 및 데이터라인(미도시) 중 어느 하나일 수 있다. 또한, 화상픽셀이라 함은, RGB를 묶은 한 픽셀, 즉 하나의 화소단위를 의미하며, 하나의 화상픽셀에는 'R', 'G', 'B' 각각을 위한 데이터라인과 게이트라인이 제공될 수 있다.
도 2를 참조하면, 인셀 타입 터치 센서를 갖는 정상적인 패널(100)에는 복수개의 전극패드(110)가 배치되며, 각 전극패드(110)는 전극패드배선(120)을 통해 터치감지회로(200)에 각각 연결된다.
반면, 쇼트 불량이 발생된 쇼트 불량 패널(100)의 일 예로서, 도 3을 참조하면, 공정오류 등의 원인에 의해 특정 전극패드(110)에 연결된 전극패드배선(120)이 다른 전극패드에 연결될 경우 쇼트 불량이 발생한다.
쇼트 불량이 발생된 쇼트 불량 패널(100)의 다른 일 예로서, 도 4를 참조하면, 각 전극패드(110)에 연결된 전극패드배선(120)은 서로 절연된 상태를 유지하여야 하지만, 인접한 전극패드배선(120)이 서로 연결될 경우 쇼트 불량이 발생한다.
본 발명은 미리 정의된 기준전극패드(112)에 기설정된 전압을 인가하여 기준전극패드(112)로부터 비정상적인 전기적 특성값이 출력되도록 한 상태에서,
기준전극패드(112)에 인가되는 기설정된 전압과 차별화된 전압이 인가되는 나머지 대상전극패드(114)의 전기적 특성값을 측정하여 쇼트 불량 여부를 판단할 수 있도록 구성된다.
먼저, 복수개의 전극패드(110) 중 적어도 하나의 기준전극패드(112)와 기준전극패드(112)를 제외한 나머지 대상전극패드(114)를 정의한다.
상기 기준전극패드(112)는 요구되는 조건 및 검사 환경에 따라 다양하게 정의될 수 있다. 일 예로, 상기 첫번째 쇼트 불량 테스트 공정에서는 5(행)*4(열)로 배치된 전극패드(110) 중 1행 1열에 배치된 전극패드가 기준전극패드(112)로 정의될 수 있고, 두번째 쇼트 불량 테스트 공정에서는 5(행)*4(열)로 배치된 전극패드(110) 중 1행 2열에 배치된 전극패드가 기준전극패드(112)로 정의될 수 있다. 이러한 방식으로 테스트 공정별로 서로 다른 전극패드(110)가 기준전극패드(112)로 순차적으로 정의될 수 있다.
참고로, 본 발명의 실시예에서는 복수개의 전극패드 중 단 하나의 기준전극패드만이 정의된 예를 들어 설명하고 있지만, 경우에 따라서는 테스트 시간을 단축할 수 있도록 2개 이상의 전극패드가 기준전극패드로 정의될 수 있으며, 기준전극패드의 갯수 및 위치에 의해 본 발명이 제한되거나 한정되는 것은 아니다.
상기 대상전극패드(114)는 복수개의 전극패드(110) 중 기준전극패드(112)를 제외한 나머지 전극패드들로 정의될 수 있다.
다음, 상기 기준전극패드(112)와 대상전극패드(114)에 차별화된 전기신호를 인가한다.
여기서, 상기 기준전극패드(112)와 대상전극패드(114)에 차별화된 전기신호를 인가한다 함은, 기준전극패드에 인가되는 전기신호와 대상전극패드에 인가되는 전기신호가 서로 다른 것으로 이해될 수 있다. 일 예로, 기준전극패드(112)에 인가되는 전압과 대상전극패드(114)에 인가되는 전압이 서로 다를 수 있다. 여기서, 기준전극패드(112)와 대상전극패드(114)에 인가되는 전압이 서로 다르다 함은, 기준전극패드(112)와 대상전극패드(114)에 각각 인가되는 전압이 서로 다른 주파수, 진폭, 파형 등이 다른 펄스 파형을 갖는 것으로 이해될 수 있다.
이하에서는, 상기 기준전극패드(112)에 기설정된 전압이 인가되고, 대상전극패드(114)에는 기준전극패드(112)에 인가되는 기설정된 전압과 다른 크기의 전압이 인가되도록 구성된 예를 들어 설명하기로 한다.
전술한 바와 같이, 미리 정의된 기준전극패드(112)에는 기설정된 전압이 인가되고, 복수개의 전극패드(110) 중 기준전극패드(112)를 제외한 나머지 대상전극패드(114)에는 차별화된 전압이 인가된다.
참고로, 본 발명에서 기준전극패드(112)(및/또는 대상전극패드)에 기설정된 전기신호가 인가된다 함은, 전압 신호의 종류인 통상의 그라운드 전압 및 전원 전압을 포함하는 DC 전압, AC 전압이 기준전극패드(112)에 인가되거나, 펄스 신호, 커패시턴스 로드(capacitance load) 및 전류원 등과 같은 다른 전기신호가 기준전극패드(112)에 인가될 수 있는 것으로 이해될 수 있다.
다음, 상기 기준전극패드(112) 및 대상전극패드(114)로부터 전기적 특성값을 측정한다.
참고로, 본 발명에서 기준전극패드(112) 및 대상전극패드(114)로부터 측정되는 전기적 특성값이라 함은, 기준전극패드(112) 및 대상전극패드(114)로부터 측정될 수 있는 전기적 특성에 대한 측정값을 의미하며, 전기적 측정값의 종류 및 특성에 의해 본 발명이 제한되거나 한정되는 것은 아니다. 이하에서는, 상기 기준전극패드(112) 및 대상전극패드(114)로부터 측정되는 전기적 특성값으로서, 기준전극패드(112) 및 대상전극패드(114)에 대한 터치 데이터로 사용될 수 있는 커패시턴스값이 이용된 예를 들어 설명하기로 한다.
일 예로, 상기 패널(100)에는 5(행)*4(열)=20개의 전극패드(110)가 배치될 수 있고, 각 전극패드(110)는 20개의 전극패드배선(120)에 의해 각각 터치감지회로(200)에 연결될 수 있다. 또한, 각 전극패드(110)의 수평 방향을 따라서는 게이트라인(미도시)이 배치될 수 있고, 각 전극패드(110)의 수직 방향을 따라서는 데이터라인(미도시)이 배치될 수 있다.
참고로, 상기 게이트라인은 디스플레이 패널(100)을 구동하는 게이트 구동신호를 제공하기 위해 구비될 수 있다. 상기 전극패드(110)(또는 노드)는 디스플레이 패널(100)에 포함되는 공통전극(Vcom)일 수 있으며, 상기 전극패드(110)는 공통전극의 역할을 수행함과 동시에, 터치 패널(100)의 터치센서패드의 역할을 함께 수행할 수 있다.
도 5를 참조하면, 정상 패널(100)의 경우, 5*4 행렬 형태를 갖는 각 전극패드(110)로부터 커패시턴스를 측정한 결과, 복수개의 전극패드(110) 중 1행 1열에 배치된 기준전극패드(112)를 제외하고, 나머지 대상전극패드(114)에서는 예컨데 '100'이라는 커패시턴스값이 동일하게 산출될 수 있다.
상기 기준전극패드(112) 및 대상전극패드(114)로부터 전기적 특성값을 측정하는 동안, 상기 기준전극패드(112)에는 기설정된 전압(비정상적인 전압)이 인가되는 상태가 유지되고, 상기 대상전극패드(114)에는 다른 전압(정상적인 전압)이 인가되는 상태가 유지되기 때문에, 상기 기준전극패드(112)로부터는 비정상적인 캐패시턴스값이 측정될 수 있고, 상기 대상전극패드(114)에서는 정상적인 캐패시턴스값이 측정될 수 있다.
일 예로, 상기 기준전극패드(112)에 비정상적인 전압이 인가되는 동안 기준전극패드(112)로부터는 ADC(Analog Digital Converter) full에 해당하는 커패시턴스값이 측정될 수 있다. 이와 같은 현상은, 터치감지회로(200)의 경우 커패시턴스에 출입하는 전류 또는 전하를 측정하는 방식을 기반으로 하기 때문에, 기준전극패드(112)에 측정하려는 커패시턴스와 무관하게 비정상적으로 전류가 통과될 경우, 비정상적인 커패시턴스값이 측정될 수 있다. 예컨데, 1행 1열에 배치된 기준전극패드(112)에 비정상적인 전압이 인가되는 동안, 기준전극패드(112)로부터는 '0'이라는 커패시턴스값이 산출될 수 있다.
이와 같이 정상 패널(100)의 경우, 복수개의 전극패드(110) 중 1행 1열에 배치된 기준전극패드(112)에 비정상적인 전압이 인가되는 동안, 기준전극패드(112)에서는 '0'이라는 커패시턴스값이 산출되고, 정상적인 전압이 인가되는 나머지 대상전극패드(114)에서는 '100'이라는 커패시턴스값이 동일하게 산출되기 때문에, 1행 1열에 배치된 기준전극패드(112)가 나머지 대상전극패드(114)와 전기적으로 쇼트되지 있지 않음을 알 수 있다.
반면, 쇼트 불량이 발생된 패널(100)인 경우, 상기 대상전극패드(114) 중 기준전극패드(112)에서 측정된 전기적 특성값과 인접한 전기적 특성값을 갖는 특정전극패드(116)의 유무를 확인하고, 상기 특정전극패드(116)가 적어도 하나 존재하면 쇼트 불량으로 판단할 수 있다.
도 6을 참조하면, 쇼트 불량이 발생된 패널(100)인 경우, 1행 1열에 배치된 기준전극패드(112)에 비정상적인 전압을 인가하고, 나머지 대상전극패드(114)에 정상적인 전압을 인가한 상태에서, 5(행)*4(열)=20개의 전극패드(기준전극패드 및 대상전극패드)로부터 커패시턴스값을 측정한 결과, 1행 1열에 배치된 기준전극패드(112)로부터는 예컨데 '0'이라는 커패시턴스값이 측정될 수 있고, 5행 1열에 배치된 대상전극패드(114)로부터는 예컨데 '10'이라는 커패시턴스값이 측정될 수 있으며, 5행 1열에 배치된 대상전극패드(114)를 제외한 나머지 18개의 대상전극패드(114)로부터는 '100'이라는 커패시턴스값이 동일하게 산출될 수 있다.
상기와 같이, 5행 1열에 배치된 대상전극패드(114)에는 비정상적인 전압이 인가되지 않았음에도 불구하고, 5행 1열에 배치된 대상전극패드(114)에서 측정된 커패시턴스값(예컨데 '10')은 1행 1열에 배치된 기준전극패드(112)에서 측정된 커패시턴스값(예컨데 '0')과 인접한 범위를 갖기 때문에, 5행 1열에 배치된 대상전극패드(114)는 특정전극패드(116)로 분류될 수 있다.
아울러, 본 발명에서 특정전극패드(116)라 함은, 복수개의 대상전극패드(114) 중 기준전극패드(112)에서 측정된 전기적 특성값과 인접한 전기적 특성값을 갖는 특정 대상전극패드(114)로 이해될 수 있다.
이와 같이, 5행 1열에 배치된 대상전극패드(114)가 특정전극패드(116)로 분류됨에 따라, 다시 말해서, 적어도 하나의 특정전극패드(116)가 존재함에 따라, 쇼트 불량이 발생되었다고 판단할 수 있다. 보다 구체적으로, 이 경우에는 5행 1열에 배치된 대상전극패드(114)가 1행 1열에 배치된 대상전극패드(114)와 전기적으로 쇼트되었다고 판단할 수 있다.
도 7을 참조하면, 쇼트 불량이 발생된 패널(100)의 다른 일 예로서, 1행 1열에 배치된 기준전극패드(112)에 비정상적인 전압을 인가하고, 나머지 대상전극패드(114)에 정상적인 전압을 인가한 상태에서, 5(행)*4(열)=20개의 전극패드(110)(기준전극패드 및 대상전극패드)로부터 커패시턴스값을 측정한 결과, 1행 1열에 배치된 기준전극패드(112)로부터는 예컨데 '0'이라는 커패시턴스값이 측정될 수 있고, 2행 1열에 배치된 대상전극패드(114)로부터는 예컨데 '5'이라는 커패시턴스값이 측정될 수 있으며, 2행 1열에 배치된 대상전극패드(114)를 제외한 나머지 18개의 대상전극패드(114)로부터는 '100'이라는 커패시턴스값이 동일하게 산출될 수 있다.
상기와 같이, 2행 1열에 배치된 대상전극패드(114)에는 비정상적인 전압이 인가되지 않았음에도 불구하고, 2행 1열에 배치된 대상전극패드(114)에서 측정된 커패시턴스값(예컨데 '5')은 1행 1열에 배치된 기준전극패드(112)에서 측정된 커패시턴스값(예컨데 '0')과 인접한 범위를 갖기 때문에, 2행 1열에 배치된 대상전극패드(114)는 특정전극패드(116)로 분류될 수 있다.
이와 같이, 2행 1열에 배치된 대상전극패드(114)가 특정전극패드(116)로 분류됨에 따라, 다시 말해서, 적어도 하나의 특정전극패드(116)가 존재함에 따라, 쇼트 불량이 발생되었다고 판단할 수 있다. 보다 구체적으로, 이 경우에는 2행 1열에 배치된 대상전극패드(114)가 1행 1열에 배치된 대상전극패드(114)와 전기적으로 쇼트되었다고 판단할 수 있다.
한편, 본 발명의 다른 바람직한 실시예에 따르면, 터치 센서의 쇼트 불량(short defection)을 감지하기 위한 방법은, 복수개의 전극패드(110) 중 적어도 하나의 기준전극패드(112)와 기준전극패드(112)를 제외한 나머지 대상전극패드(114)를 정의하는 단계, 기준전극패드(112)와 대상전극패드(114)에 차별화된 전기신호를 인가하는 단계, 대상전극패드(114)로부터 전기적 특성값을 측정하는 단계, 대상전극패드(114)의 전기적 특성값을 서로 비교하여 대상전극패드(114) 중 기설정된 이탈 범위에 해당하는 전기적 특성값을 갖는 특정전극패드(116)의 유무를 확인하는 단계, 및 대상전극패드(114) 중 이탈 범위에 해당하는 전기적 특성값을 갖는 특정전극패드(116)가 적어도 하나 존재하면, 쇼트 불량으로 판단하는 단계를 포함한다. 아울러, 전술한 구성과 동일 및 동일 상당 부분에 대해서는 동일 또는 동일 상당한 참조 부호를 부여하고, 그에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.(도 1 내지 도 7 참조)
전술한 실시예에서는 각 전극패드(기준전극패드 및 대상전극패드)로부터 전기적 특성값을 측정한 후, 기준전극패드에서 측정된 전기적 특성값과 인접한 전기적 특성값을 갖는 특정전극패드의 유무를 확인하도록 구성되어 있다. 다시 말해서, 전술한 실시예에서는 기준전극패드에서 측정된 전기적 특성값을 기준으로 대상전극패드 중에서 특정전극패드를 분류할 수 있다.
반면, 본 발명의 다른 실시예에 따르면 대상전극패드(114) 중에서 특정전극패드(116)를 분류하기 위해, 기준전극패드(112)에서 측정된 전기적 특성값을 기준으로 하지 않고, 각 대상전극패드(114)에서 측정된 전기적 특성값을 서로 비교한 후, 각 대상전극패드(114) 중에서 기설정된 이탈 범위에 해당하는 전기적 특성값을 갖는 특정 대상전극패드(114)를 특정전극패드(116)로 분류할 수 있다.
가령, 도 7을 참조하면, 5(행)*4(열)=20개의 전극패드(110)(기준전극패드 및 대상전극패드) 중, 1행 1열에 배치된 기준전극패드(112)에 비정상적인 전압을 인가하고, 나머지 대상전극패드(114)에 정상적인 전압을 인가한 상태에서, 기준전극패드(112)를 제외한 나머지 19개의 대상전극패드(114)로부터 커패시턴스값을 측정한 결과, 1행 1열에 배치된 기준전극패드(112)로부터는 예컨데 '0'이라는 커패시턴스값이 측정될 수 있고, 2행 1열에 배치된 대상전극패드(114)로부터는 예컨데 '5'이라는 커패시턴스값이 측정될 수 있으며, 2행 1열에 배치된 대상전극패드(114)를 제외한 나머지 18개의 대상전극패드(114)로부터는 '100'이라는 커패시턴스값이 동일하게 산출될 수 있다.
상기와 같이, 2행 1열에 배치된 대상전극패드(114)에는 비정상적인 전압이 인가되지 않았음에도 불구하고, 2행 1열에 배치된 대상전극패드(114)에서 측정된 커패시턴스값(예컨데 '5')은 나머지 다른 18개의 대상전극패드(114)에서 측정된 커패시턴스값(예컨데 '100')과 달리 이탈 범위를 갖기 때문에, 2행 1열에 배치된 대상전극패드(114)는 특정전극패드(116)로 분류될 수 있다.
또한, 본 발명의 다른 실시예에서도, 특정전극패드(116)의 전기적 특성값이 기준전극패드(112)로부터 측정된 전기적 특성값을 기준으로 기설정된 기준 범위 내에 있는지 여부를 확인하는 단계가 추가될 수 있으며, 상기 특정전극패드(116)에서 측정된 전기적 특성값이 상기 기준 범위 내에 해당할 경우 쇼트 불량으로 판단함으로써, 테스트 신뢰성을 높이는 것이 가능하다.
상술한 바와 같이, 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만 해당 기술분야의 숙련된 당업자라면 하기의 청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
100 : 패널 110 : 전극패드
112 : 기준전극패드 114 : 대상전극패드
116 : 특정전극패드 120 : 전극패드배선
200 : 터치감지회로

Claims (8)

  1. 전극패드를 이용한 터치 센서의 쇼트 불량(short defection)을 감지하기 위한 방법에 있어서,
    복수개의 전극패드 중 적어도 하나의 기준전극패드와 상기 기준전극패드를 제외한 나머지 대상전극패드를 정의하는 단계;
    상기 기준전극패드와 상기 대상전극패드에 차별화된 전기신호를 인가하는 단계;
    상기 기준전극패드 및 상기 대상전극패드로부터 전기적 특성값을 측정하는 단계;
    상기 대상전극패드 중, 상기 기준전극패드에서 측정된 상기 전기적 특성값과 인접한 전기적 특성값을 갖는 특정전극패드의 유무를 확인하는 단계; 및
    상기 특정전극패드가 적어도 하나 존재하면 쇼트 불량으로 판단하는 단계;
    를 포함하는 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 기준전극패드 및 상기 대상전극패드로부터 전기적 특성값을 측정하는 단계에서,
    상기 기준전극패드에는 상기 기설정된 전압이 인가되는 상태가 유지되고, 상기 대상전극패드에는 상기 기설정된 전압과 다른 전압이 인가되는 상태가 유지되는 것을 특징으로 하는 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 전기적 특성값은 커패시턴스값을 포함하는 것을 특징으로 하는 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 기준전극패드와 상기 대상전극패드에 차별화된 전기신호를 인가하는 단계에서,
    상기 기준전극패드 및 상기 대상전극패드에는 DC 전압, AC 전압, 펄스 신호, 커패시턴스 로드(capacitance load) 및 전류원 중 어느 하나가 인가되는 것을 특징으로 하는 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법.
  5. 전극패드를 이용한 인셀 타입 터치 센서의 쇼트 불량(short defection)을 감지하기 위한 방법에 있어서,
    복수개의 전극패드 중 적어도 하나의 기준전극패드와 상기 기준전극패드를 제외한 나머지 대상전극패드를 정의하는 단계;
    상기 기준전극패드와 상기 대상전극패드에 차별화된 전기신호를 인가하는 단계;
    상기 대상전극패드로부터 전기적 특성값을 측정하는 단계;
    상기 대상전극패드의 전기적 특성값을 서로 비교하여, 상기 대상전극패드 중 기설정된 이탈 범위에 해당하는 전기적 특성값을 갖는 특정전극패드의 유무를 확인하는 단계; 및
    상기 특정전극패드가 적어도 하나 존재하면 쇼트 불량으로 판단하는 단계;
    를 포함하는 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 특정전극패드의 전기적 특성값이 상기 기준전극패드로부터 측정된 전기적 특성값을 기준으로 기설정된 기준 범위 내에 있는지 여부를 확인하는 단계를 더 포함하고,
    상기 특정전극패드에서 측정된 전기적 특성값이 상기 기준 범위 내에 해당하면, 쇼트 불량으로 판단하는 것을 특징으로 하는 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법.
  7. 제5항에 있어서,
    상기 대상전극패드로부터 전기적 특성값을 측정하는 단계에서,
    상기 기준전극패드에는 상기 기설정된 전압이 인가되는 상태가 유지되고, 상기 대상전극패드에는 상기 기설정된 전압과 다른 전압이 인가되는 상태가 유지되는 것을 특징으로 하는 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법.
  8. 제5항에 있어서,
    상기 전기적 특성값은 커패시턴스값을 포함하는 것을 특징으로 하는 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법.
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