JP2011527440A - Lc共振周波数シフトを用いた静電容量方式タッチスクリーンパネルの検査装置および検査方法 - Google Patents
Lc共振周波数シフトを用いた静電容量方式タッチスクリーンパネルの検査装置および検査方法 Download PDFInfo
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Abstract
Description
また、電気的共振現象を利用した検査回路を用いるので、共振現象が有する固有の安定性により静電気ショックや外部EMIなどの電気的衝撃に強く、機械的振動や温湿度変化などの外部環境変化要因に非常に鈍感である。測定においても、電圧または電流ではなく、周波数をカウンタで数えながら測定することにより、1/1000以上の測定精度を保つことができる。
Claims (6)
- 静電容量方式タッチスクリーンパネル(CTSP)のITOセンサー電極間の静電容量と結合して電気的共振を起こすLC共振回路を含むLC共振部と、
前記LC共振部に接続され前記LC共振部のLC共振回路を発振し、共振周波数の波形を矩形波に変換するOPアンプ駆動部と、
前記LC共振部に接続され前記LC共振回路と前記CTSPのITOセンサー電極とを対として並列連結するリレー部と、
前記OPアンプ駆動部に接続され前記リレー部を駆動し、前記OPアンプ駆動部から出力される前記矩形波をカウントして周波数を測定し、CTSPの不良有無を判断するマイコン部とを含んでなることを特徴とする、LC共振周波数シフトを用いた静電容量方式タッチスクリーンパネルの検査装置。 - 前記マイコン部は、前記LC共振回路のC値にITO電極間の静電容量が加わった値だけ発生するLC共振周波数シフトを測定し、これを平均値で割って正規化した計算値が良品の共振周波数シフトの範囲内に含まれるか否かによってCTSPの不良有無を判断することを特徴とする、請求項1に記載のLC共振周波数シフトを用いた静電容量方式タッチスクリーンパネル検査装置。
- 前記良品の共振周波数シフトの範囲は、LC共振周波数シフトを平均値で割って正規化し、ユーザーによって指定された良品の範囲に存在するか否かで判断することを特徴とする、請求項2に記載のLC共振周波数シフトを用いた静電容量方式タッチスクリーンパネル検査装置。
- LC共振周波数シフトを用いた静電容量方式タッチスクリーンパネル(CTSP)の検査方法において、
CTSPのITOセンサー電極間の静電容量と結合して電気的共振を起こすLC共振回路、前記LC共振回路を発振すると同時にマイコン部が周波数カウントを行えるように矩形波に変換するOPアンプ駆動部、リレー部およびマイコン部を含み、
純粋なLCのみの発振による基準共振周波数を得るために、CTSPとLC共振回路とを連結させていない状態でLC共振回路のみの基準共振周波数を前記マイコン部が周波数カウントによって測定してその値を格納する第1段階と、
前記マイコン部の信号によって動作するリレー部がCTSPのITOセンサー電極とLC共振回路をそれぞれ対として順次並列連結を行い、この際、ITO電極間の静電容量がLC共振回路のC値に加わって発生する共振周波数シフト値を前記マイコン部で測定し格納する第2段階と、
前記第2段階を反復して前記マイコン部で測定した様々なCTSPの共振周波数シフトの分布を求め、良品の範囲を設定して前記マイコン部のメモリに格納しておく第3段階と、
格納された特定チャネル間の共振周波数シフト値を前記マイコン部が正規化によって計算し、前記マイコン部に格納された良品の範囲値と比較して、良品の範囲内にあるか良品の範囲を外れるかによって良好/不良を判定する第4段階とを含んでなることを特徴とする、LC共振周波数シフトを用いた静電容量方式タッチスクリーンパネルの検査方法。 - 前記第4段階は、前記LC共振回路のC値にITO電極間の静電容量が加わった値だけ発生するLC共振周波数シフトを測定し、これを平均値で割って正規化した計算値が良品の共振周波数シフトの範囲内に含まれるか否かによってCTSPの不良有無を判断することを特徴とする、請求項4に記載のLC共振周波数シフトを用いた静電容量方式タッチスクリーンパネルの検査方法。
- 前記良品の共振周波数シフトの範囲は、LC共振周波数シフトを平均値で割って正規化し、ユーザーによって指定された良品の範囲に存在するか否かで判断することを特徴とする、請求項5に記載のLC共振周波数シフトを用いた静電容量方式タッチスクリーンパネルの検査方法。
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CN102636718B (zh) * | 2012-05-10 | 2014-08-20 | 意力(广州)电子科技有限公司 | 互电容触摸屏检测方法 |
US20130320994A1 (en) * | 2012-05-30 | 2013-12-05 | 3M Innovative Properties Company | Electrode testing apparatus |
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KR20160025440A (ko) * | 2014-08-27 | 2016-03-08 | 삼성전자주식회사 | 터치 패널 및 이를 구비한 좌표 측정 시스템 |
CN105467259B (zh) * | 2015-11-16 | 2018-06-29 | 上海天马微电子有限公司 | 检测电容感测线路的检测电路、电容式触摸屏和检测方法 |
CN106155447A (zh) * | 2016-07-14 | 2016-11-23 | 深圳市唯酷光电有限公司 | 电容屏及液晶手写装置 |
JP7248568B2 (ja) * | 2016-07-22 | 2023-03-29 | ハーマン インターナショナル インダストリーズ インコーポレイテッド | 触覚による操縦誘導システム |
CN107037352B (zh) * | 2017-04-06 | 2020-01-17 | 芯海科技(深圳)股份有限公司 | 一种电容式触控按键芯片检测标定系统及方法 |
CN107462273B (zh) * | 2017-07-17 | 2020-05-12 | 江苏邦融微电子有限公司 | 一种电容式传感器模组的量产测试装置及其方法 |
US11474135B2 (en) * | 2019-04-03 | 2022-10-18 | Cirrus Logic, Inc. | Auto-centering of sensor frequency of a resonant sensor |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57121201A (en) * | 1980-12-31 | 1982-07-28 | Ibm | Method of trimming metal thin film resistor |
JPH11326424A (ja) * | 1998-05-13 | 1999-11-26 | Seiko Epson Corp | 半導体素子検査装置及び半導体素子検査方法 |
JP2001311750A (ja) * | 2000-04-27 | 2001-11-09 | Sharp Corp | シート抵抗測定方法 |
JP2002164398A (ja) * | 2000-11-27 | 2002-06-07 | Tokyo Instruments Inc | 容量センサー及び容量測定方法 |
JP2004066266A (ja) * | 2002-08-02 | 2004-03-04 | Toyota Motor Corp | レーザ溶接品質検査方法及び装置 |
JP2005274225A (ja) * | 2004-03-23 | 2005-10-06 | Kawaguchiko Seimitsu Co Ltd | タッチパネル検査装置 |
JP2008042725A (ja) * | 2006-08-09 | 2008-02-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 入力装置 |
JP2009101699A (ja) * | 2009-01-09 | 2009-05-14 | Seiko Epson Corp | 液滴吐出装置およびインクジェットプリンタ |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH077038B2 (ja) * | 1986-05-19 | 1995-01-30 | 株式会社リードエレクトロニクス | プリント基板検査装置 |
US5057969A (en) * | 1990-09-07 | 1991-10-15 | International Business Machines Corporation | Thin film electronic device |
KR19990025832A (ko) * | 1997-09-18 | 1999-04-06 | 윤종용 | 특정 주파수대의 잡음 측정을 위한 공진회로를 갖는 검사용기판 |
KR100491987B1 (ko) * | 2002-09-25 | 2005-05-30 | 마이크로 인스펙션 주식회사 | Pdp 패널의 유전체 검사장치 |
JP3989488B2 (ja) * | 2005-01-19 | 2007-10-10 | オー・エイチ・ティー株式会社 | 検査装置及び検査方法並びに検査装置用センサ |
US7932898B2 (en) * | 2005-09-20 | 2011-04-26 | Atmel Corporation | Touch sensitive screen |
KR101209042B1 (ko) * | 2005-11-30 | 2012-12-06 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치 및 그 검사 방법 |
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Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57121201A (en) * | 1980-12-31 | 1982-07-28 | Ibm | Method of trimming metal thin film resistor |
JPH11326424A (ja) * | 1998-05-13 | 1999-11-26 | Seiko Epson Corp | 半導体素子検査装置及び半導体素子検査方法 |
JP2001311750A (ja) * | 2000-04-27 | 2001-11-09 | Sharp Corp | シート抵抗測定方法 |
JP2002164398A (ja) * | 2000-11-27 | 2002-06-07 | Tokyo Instruments Inc | 容量センサー及び容量測定方法 |
JP2004066266A (ja) * | 2002-08-02 | 2004-03-04 | Toyota Motor Corp | レーザ溶接品質検査方法及び装置 |
JP2005274225A (ja) * | 2004-03-23 | 2005-10-06 | Kawaguchiko Seimitsu Co Ltd | タッチパネル検査装置 |
JP2008042725A (ja) * | 2006-08-09 | 2008-02-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 入力装置 |
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