JP3989488B2 - 検査装置及び検査方法並びに検査装置用センサ - Google Patents
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Description
即ち、交流検査信号が印加された検査対象導電体の状態を非接触で検査可能な検査装置に用いる検査装置用センサであって、検査対象導体の信号供給部位に近接して位置決め可能で前記検査対象導体に交流検査信号を供給する給電センサ板と、前記給電センサ板より検査信号が供給された前記検査対象導体の検査信号検出部位に近接して位置決め可能で前記検査対象導体よりの検査信号を検出する検出センサ板とからなる第1のセンサ板組と、前記第1のセンサ板組の給電センサ板位置決め位置に合わせて前記第1のセンサ板組の検出センサ板を位置決め配置すると共に前記第1のセンサ板組の検出センサ板位置決め位置に合わせて前記第1のセンサ板組の給電センサ板を位置決め配置可能な第2のセンサ板組とからなり、前記第1あるいは第2のセンサ板組の前記給電センサ板と前記検出センサ板のいずれかを前記検査対象導体との対向面積が縦長となるセンサ板とするとともに、他方を前記検査対象導体との対向面積が縦短となるセンサ板とすることを特徴とする。
〔第1の実施の形態例〕
ここで、図3における各素子をインピーダンス表示すると、
Z7=Z1+Z2+Z3+Z4となる。また、Z5、Z6は並列接続であるから
合成インピーダンスZ8は
Z9=Z7+Z8 となる。
ここで全体に流れる電流Iはオームの法則より
I=(E/Z9)となる。
このことから、増幅器51の出力電圧VOUTは
一方、導電パターンに断線箇所があれば断線箇所より先に検査信号が到達しないか、到達してもごくわずかとなり、検出センサ板30の検出信号レベルは低下する。このため、検出センサ板30出力の大きな低下が検出されれば当該箇所がパターン断線箇所であると判別できる。
続くステップS4において、増幅回路50を起動して検出センサ板20からの検査信号レベルを増幅回路50で一定の信号レベルとなるように増幅し、一組目の検出センサ板30の検査信号検出に備える。
続くステップS6において、検査信号アナログ−デジタル変換部64で増幅回路50で一定の信号レベルとなるように増幅された一組目のセンサ板よりのアナログ検出信号を、対応するデジタル信号に変換して例えばRAM63に順次格納する。
以上の説明では、2組のセンサ板を用いて基板の検査を行う例を説明した。しかし、近年は大型基板の検査要求が強まってきており、短時間で広範囲のパターンの検査を行う必要が高まってきた。
以上の説明では、長短2つのセンサ板の組を交互に同じ検査対象導体に位置決めして一組のセンサ板組とし、基板検査にいくつかのセンサ板組を用い、互いの組毎に異なる周波数の検査信号を用いて同時に他の場所の検査対象導体に検査を行う例を説明した。
上述した第1の実施の形態例では、長短2つのセンサ板の組を交互に同じ検査対象導体の両端部に位置決めして一組のセンサ板組として検査を行う例を説明した。
15 列状検査対象導電パターン
20 給電センサ板
30 検出センサ板
50 増幅回路
51 増幅器
52ノイズフィルタ
55,56 同調回路
60 制御部
61 CPU
62 ROM
63 RAM
64 A/D変換部
65 信号供給部
66 表示部
70 ロボットコントローラ
80 スカラーロボット
Claims (13)
- 延設された一方端部と他方端部を有する導電パターンを検査対象として非接触で検査可能な検査装置に用いる検査装置用センサであって、
前記導電パターンの前記一方端部近傍に配置され、交流検査信号を供給する第1の給電センサ板と、前記導電パターンの前記他方端部近傍に配置され、前記導電パターンを伝搬する前記交流検査信号を検査信号として検出する第1の検出センサ板と、の対からなる第1のセンサ板組と、
前記導電パターンの前記他方端部近傍に配置され、交流検査信号を供給する第2の給電センサ板と、前記導電パターンの前記一方端部近傍に配置され、前記導電パターンを伝搬する前記交流検査信号を検査信号として検出する第2の検出センサ板と、の対からなる第2のセンサ板組とを具備し、
前記第1の給電センサ板は、前記導電パターンの前記一方端部側から前記他方端部側に向かう前記延設方向に前記導電パターンを覆うように延伸し、
前記第2の給電センサ板は、前記導電パターンの前記他方端部側から前記一方端部側に向かう前記延設方向に前記導電パターンを覆うように延伸することを特徴とする検査装置用センサ。 - 延設された一方端部と他方端部を有する導電パターンを検査対象として非接触で検査可能な検査装置に用いる検査装置用センサであって、
前記導電パターンの前記一方端部近傍に配置され、交流検査信号を供給する第1の給電センサ板と、前記導電パターンの前記他方端部近傍に配置され、前記導電パターンを伝搬する前記交流検査信号を検査信号として検出する第1の検出センサ板と、の対からなる第1のセンサ板組と、
前記導電パターンの前記他方端部近傍に配置され、交流検査信号を供給する第2の給電センサ板と、前記導電パターンの前記一方端部近傍に配置され、前記導電パターンを伝搬する前記交流検査信号を検査信号として検出する第2の検出センサ板と、の対からなる第2のセンサ板組とを具備し、
前記第1の検出センサ板は、前記導電パターンの前記他方端部側から前記一方端部側に向かう前記延設方向に前記導電パターンを覆うように延伸し、
前記第2の検出センサ板は、前記導電パターンの前記一方端部側から前記他方端部側に向かう前記延設方向に前記導電パターンを覆うように延伸することを特徴とする検査装置用センサ。 - 前記導電パターンの前記一方端部と前記他方端部が隣接する導電パターンとほぼ等間隔で複数配置された検査対象パターンに対して、
前記第1の給電センサ板と前記第1の検出センサ板を検査対象となる前記導電パターンの前記一方端部と前記他方端部に位置決めした際に、前記第2の給電センサ板が前記第1の検出センサ板と前記等間隔の距離を離間して配置され、前記第2の検出センサ板が前記第1の給電センサ板と前記等間隔の距離を離間して配置されることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の検査装置用センサ。 - 延設された一方端部と他方端部を有する導電パターンを検査対象として非接触で検査可能な検査装置であって、
前記導電パターンの前記一方端部近傍に配置され、交流検査信号を供給する第1の給電センサ板と、前記導電パターンの前記他方端部近傍に配置され、前記導電パターンを伝搬する前記交流検査信号を検査信号として検出する第1の検出センサ板と、の対からなる第1のセンサ板組と、
前記導電パターンの前記他方端部近傍に配置され、交流検査信号を供給する第2の給電センサ板と、前記導電パターンの前記一方端部近傍に配置され、前記導電パターンを伝搬する前記交流検査信号を検査信号として検出する第2の検出センサ板と、の対からなる第2のセンサ板組と、
前記第1の給電センサ板と前記第2の給電センサ板に選択的に交流検査信号を供給可能な検査信号供給手段と、
前記第1の検出センサ板あるいは前記第2の検出センサ板よりの検査信号を受け取り前記検査対象導体の状態を検査可能な検査信号検出手段とを具備し、
前記第1の給電センサ板は、前記導電パターンの前記一方端部側から前記他方端部側に向かう前記延設方向に前記導電パターンを覆うように延伸し、
前記第2の給電センサ板は、前記導電パターンの前記他方端部側から前記一方端部側に向かう前記延設方向に前記導電パターンを覆うように延伸することを特徴とする検査装置。 - 延設された一方端部と他方端部を有する導電パターンを検査対象として非接触で検査可能な検査装置であって、
前記導電パターンの前記一方端部近傍に配置され、交流検査信号を供給する第1の給電センサ板と、前記導電パターンの前記他方端部近傍に配置され、前記導電パターンを伝搬する前記交流検査信号を検査信号として検出する第1の検出センサ板と、の対からなる第1のセンサ板組と、
前記導電パターンの前記他方端部近傍に配置され、交流検査信号を供給する第2の給電センサ板と、前記導電パターンの前記一方端部近傍に配置され、前記導電パターンを伝搬する前記交流検査信号を検査信号として検出する第2の検出センサ板と、の対からなる第2のセンサ板組と、
前記第1の給電センサ板と前記第2の給電センサ板に選択的に交流検査信号を供給可能な検査信号供給手段と、
前記第1の検出センサ板あるいは前記第2の検出センサ板よりの検査信号を受け取り前記検査対象導体の状態を検査可能な検査信号検出手段とを具備し、
前記第1の検出センサ板は、前記導電パターンの前記他方端部側から前記一方端部側に向かう前記延設方向に前記導電パターンを覆うように延伸し、
前記第2の検出センサ板は、前記導電パターンの前記一方端部側から前記他方端部側に向かう前記延設方向に前記導電パターンを覆うように延伸することを特徴とする検査装置。 - 前記第1のセンサ板組及び前記第2のセンサ板組による検査が時間的に連続して行うことを特徴とする請求項4又は請求項5に記載の検査装置。
- 各センサ板組毎に異なる周波数の交流検査信号を供給する検査信号供給手段と、
各センサ板組毎の給電された検査信号のみを検出する検査信号検出手段と、
前記検査信号検出手段の検出結果が正常時の検出結果と異なるか否かで検査対象の良否を判別可能とする検査手段とを備えることを特徴とする請求項4乃至請求項6のいずれかに記載の検査装置。 - 交流検査信号は0.5MHz乃至1.2MHZの範囲で少なくとも0.1MHz以上異なる周波数の検査信号を使用することを特徴とする請求項7に記載の検査装置。
- 前記検査信号検出手段は、対となる給電センサ板に供給される交流検査信号の周波数に同調する同調回路を備え、前記同調回路の同調周波数のみを検出可能に構成されることを特徴とする請求項7又は請求項8に記載の検査装置。
- 前記同調回路はLC共振回路で構成されていることを特徴とする請求項9に記載の検査装置。
- 前記検査対象となる前記導電パターンは、正常な導電パターンよりの検出結果と測定した検出結果とを比較して測定した検出結果が正常な前記導電パターンよりの検出結果に対して所定範囲内の場合に正常と判断することを特徴とする請求項4乃至請求項10のいずれかに記載の検査装置。
- 請求項4又は請求項5に記載の検査装置における検査方法であって、
検査対象となる前記導体パターンの一方端部近傍に第1の給電センサ板を位置決めすると共に、当該導電パターンの他方端部近傍に第1の検出センサ板を位置決めし、
続いて前記位置決めされた前記第1の給電センサ板から交流検査信号を供給し、
前記第1の検出センサ板が検出した前記導電パターンを伝搬した検査信号と、正常な導電パターンの基準の検出信号とを比較して前記導電パターンの状態を検出し、
引き続き、前記導体パターンの一方端部近傍に第2の検出センサ板を位置決めすると共に、当該導電パターンの他方端部近傍に第2の給電センサ板を位置決めし、
続いて前記位置決めされた前記第2の給電センサ板から交流検査信号を供給し、
前記第2の検出センサ板が検出した前記導電パターンを伝搬した検査信号と、正常な導電パターンの基準の検出信号とを比較して前記導電パターンの状態を検出し、
1つの前記導電パターンに対して複数回の検査を実施して前記導電パターンの良否を検査することを特徴とする検査方法。 - 検査対象となる導電パターンに対する検査は、正常な導電パターンから得られた基準検出結果と、検出した検出結果とを比較して、前記基準検出結果に対して所定範囲内の場合に正常と判断することを特徴とする請求項12に記載の検査方法。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005012008A JP3989488B2 (ja) | 2005-01-19 | 2005-01-19 | 検査装置及び検査方法並びに検査装置用センサ |
CN2006800027417A CN101107537B (zh) | 2005-01-19 | 2006-01-19 | 检查装置和检查方法及检查装置用传感器 |
KR1020077018813A KR101196587B1 (ko) | 2005-01-19 | 2006-01-19 | 검사 장치 및 검사 방법 및 검사 장치용 센서 |
PCT/JP2006/301167 WO2006078057A1 (ja) | 2005-01-19 | 2006-01-19 | 検査装置及び検査方法並びに検査装置用センサ |
TW095102037A TW200632339A (en) | 2005-01-19 | 2006-01-19 | Inspection device, inspection method, and sensor for inspection device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005012008A JP3989488B2 (ja) | 2005-01-19 | 2005-01-19 | 検査装置及び検査方法並びに検査装置用センサ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006200994A JP2006200994A (ja) | 2006-08-03 |
JP3989488B2 true JP3989488B2 (ja) | 2007-10-10 |
Family
ID=36692423
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005012008A Active JP3989488B2 (ja) | 2005-01-19 | 2005-01-19 | 検査装置及び検査方法並びに検査装置用センサ |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3989488B2 (ja) |
KR (1) | KR101196587B1 (ja) |
CN (1) | CN101107537B (ja) |
TW (1) | TW200632339A (ja) |
WO (1) | WO2006078057A1 (ja) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100971220B1 (ko) * | 2009-08-17 | 2010-07-20 | 주식회사 에프티랩 | Lc공진주파수 변이를 이용한 정전용량방식 터치스크린패널의 검사방법 |
KR101214955B1 (ko) * | 2009-12-11 | 2012-12-24 | 마이크로 인스펙션 주식회사 | 회로기판의 검사장치 |
JP5605153B2 (ja) | 2010-10-15 | 2014-10-15 | ソニー株式会社 | 給電装置、給電方法および給電システム |
JP5580247B2 (ja) * | 2011-04-27 | 2014-08-27 | 株式会社ユニオンアロー・テクノロジー | パターン検査装置 |
WO2012169458A1 (ja) * | 2011-06-09 | 2012-12-13 | シャープ株式会社 | パターン検査方法およびパターン検査装置 |
JP2013210247A (ja) * | 2012-03-30 | 2013-10-10 | Nidec-Read Corp | 絶縁検査装置及び絶縁検査方法 |
JP6375661B2 (ja) * | 2014-03-26 | 2018-08-22 | 日本電産リード株式会社 | 抵抗測定装置、基板検査装置、検査方法、及び検査用治具のメンテナンス方法 |
JP6202452B1 (ja) * | 2016-06-01 | 2017-09-27 | オー・エイチ・ティー株式会社 | 非接触型基板検査装置及びその検査方法 |
CN112904256A (zh) * | 2021-01-27 | 2021-06-04 | 胜达克半导体科技(上海)有限公司 | 一种自动测试机的线路自检方法 |
US20230136914A1 (en) * | 2021-10-29 | 2023-05-04 | Keysight Technologies, Inc. | Sensor device for detecting electrical defects based on resonance frequency |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002090407A (ja) * | 2000-09-11 | 2002-03-27 | Oht Inc | 検査装置及び検査方法 |
JP4623887B2 (ja) * | 2001-08-27 | 2011-02-02 | オー・エイチ・ティー株式会社 | 検査装置用センサ及び検査装置 |
JP4246987B2 (ja) | 2002-11-27 | 2009-04-02 | 日本電産リード株式会社 | 基板検査装置および基板検査方法 |
JP3978178B2 (ja) * | 2002-11-30 | 2007-09-19 | オー・エイチ・ティー株式会社 | 回路パターン検査装置及び回路パターン検査方法 |
-
2005
- 2005-01-19 JP JP2005012008A patent/JP3989488B2/ja active Active
-
2006
- 2006-01-19 WO PCT/JP2006/301167 patent/WO2006078057A1/ja not_active Application Discontinuation
- 2006-01-19 TW TW095102037A patent/TW200632339A/zh unknown
- 2006-01-19 KR KR1020077018813A patent/KR101196587B1/ko active IP Right Grant
- 2006-01-19 CN CN2006800027417A patent/CN101107537B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW200632339A (en) | 2006-09-16 |
KR20070104420A (ko) | 2007-10-25 |
WO2006078057A1 (ja) | 2006-07-27 |
JP2006200994A (ja) | 2006-08-03 |
KR101196587B1 (ko) | 2012-11-02 |
CN101107537B (zh) | 2010-06-23 |
CN101107537A (zh) | 2008-01-16 |
TWI373622B (ja) | 2012-10-01 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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|
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S202 | Request for registration of non-exclusive licence |
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|
S805 | Written request for registration of cancellation of non-exclusive licence |
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R350 | Written notification of registration of transfer |
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|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130727 Year of fee payment: 6 |
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