CN112904256A - 一种自动测试机的线路自检方法 - Google Patents
一种自动测试机的线路自检方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN112904256A CN112904256A CN202110109675.XA CN202110109675A CN112904256A CN 112904256 A CN112904256 A CN 112904256A CN 202110109675 A CN202110109675 A CN 202110109675A CN 112904256 A CN112904256 A CN 112904256A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- testing machine
- automatic testing
- value
- time
- comparison
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 19
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 82
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 claims abstract description 14
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 claims description 9
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 9
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract description 5
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 4
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R35/00—Testing or calibrating of apparatus covered by the other groups of this subclass
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
Abstract
本发明涉及自动测试机技术领域,具体地说是一种自动测试机的线路自检方法。其特征在于包括如下步骤:S1,设置驱动信号发生器的输出电平;S2,设置接收信号比较器处的比较电压值、比较时间值的初始值;S3,驱动信号发生器在输出实际高电平;S4,将实际高电平的电压值与比较电压值进行比较,根据比较结果标记;S5,单步提高比较电压值、比较时间值,重复步骤S3‑S4,直至到达结束值;S6,绘制时间‑电压二维图;S7,判断待检自动测试机线路是否发生异常及发生异常的位置。同现有技术相比,利用自动测试机数字测试通道自身的比较功能去监测当前通道的信号,无需借用外部仪器,实现了从传输时间上去精准定位故障位置,而非简单定性判断故障与否的功能。
Description
技术领域
本发明涉及自动测试机技术领域,具体地说是一种自动测试机的线路自检方法。
背景技术
如图1所示,自动测试机通道由3部分组成,一是自动测试机内部芯片,包括驱动信号发生器和接收信号比较器,二是芯片外部连接的PCB电路板,扩展自动测试机的外部功能,三是PCB电路板由缆线向外延伸到探针端,探针为自动测试机与外部连接的末端接口。
在自动测试机的生产、组装、测试等过程中由于各种原因会导致线路包括PCB板接口,缆线等接触不良,从而导致信号中断影响测试,因此需要对自动测试机的线路进行自检。目前传统的检测方案是通过Diag的程式Force电流/电压,通过测量判断是否能得到期望的电压或者电流,从而判断当前设备线路是否正常。该方法虽然能够迅速检出当前的自动测试机通道是否连接正常,但是只能定性的判断自动测试机通道线路是否正常,无法检测出自动测试机通道线路出现异常的位置。
因此,设计一种自动测试机的线路自检方法,利用自动测试机数字测试通道自身的比较功能去监测当前通道的信号,无需借用外部仪器,实现了从传输时间上去精准定位故障位置,而非简单定性判断故障与否的功能。
发明内容
本发明为克服现有技术的不足,提供一种自动测试机的线路自检方法,利用自动测试机数字测试通道自身的比较功能去监测当前通道的信号,无需借用外部仪器,实现了从传输时间上去精准定位故障位置,而非简单定性判断故障与否的功能。
为实现上述目的,设计一种自动测试机的线路自检方法,其特征在于包括如下步骤:
S1,设置待检自动测试机的驱动信号发生器的输出电平为0V;
S2,设置待检自动测试机的接收信号比较器处的比较电压值、比较时间值的初始值;
S3,待检自动测试机的驱动信号发生器在T1时刻输出实际高电平;
S4,待检自动测试机的接收信号比较器将步骤S3中实际高电平的电压值与步骤S2中的比较电压值进行比较,当实际电压值低于比较电压值,标记测试结果为fail,当实际电压值高于比较电压值,标记测试结果为pass;
S5,单步提高待检自动测试机的接收信号比较器处的比较电压值、比较时间值,重复步骤S3-S4,直至待检自动测试机接收信号比较器处的比较电压值、比较时间值到达结束值;
S6,根据测试结果绘制时间-电压二维图;
S7,根据时间-电压二维图中电压转折处的位置判断待检自动测试机线路是否发生异常及发生异常的位置。
所述的步骤S3中实际高电平的电压值为2.5V,所述的比较电压值的初始值为0V,单步增长0.05V,结束值为2.6V;比较时间值的初始值为T1-1ns,单步增长0.1ns,结束值为T1+12ns,T1为待检自动测试机的驱动信号发生器输出实际高电平的时间。
所述的待检自动测试机内设有控制芯片、PCB电路线、缆线,控制芯片的驱动信号发生器连接电阻的一端,电阻的另一端分别连接控制芯片的接收信号比较器、PCB电路线一端,PCB电路线另一端连接缆线一端,缆线另一端设有探针。
所述的步骤S7中的判断方法具体包括如下步骤:
S71,分别将线路正常、控制芯片与PCB电路线连接点断开、PCB电路线与缆线连接点断开的自动测试机进行步骤S1-S6的操作,获取这三种情况下的时间-电压二维图;
S72,将待检自动测试机的时间-电压二维图与步骤S71中的时间-电压二维图进行对比,判断待检自动测试机线路是否发生异常及发生异常的位置。
本发明同现有技术相比,利用自动测试机数字测试通道自身的比较功能去监测当前通道的信号,无需借用外部仪器,实现了从传输时间上去精准定位故障位置,而非简单定性判断故障与否的功能。
附图说明
图1为自动测试机通道线路结构的示意图。
图2为传统测试方法中自动测试机线路结构及信号传送方向。
图3为本发明测试方法中自动测试机线路结构及信号传送方向。
图4为本实施例一中时间-电压二维图。
图5为抽象后的图4中的时间-电压二维图。
图6为线路正常的自动测试机的时间-电压二维图。
图7为PCB电路线与缆线连接点断开的自动测试机的时间-电压二维图。
图8为控制芯片与PCB电路线连接点断开的自动测试机的时间-电压二维图。
参见图1至图8,其中,U是控制芯片,PCB是PCB电路线,CL是缆线,P是探针,PMU是测量单元,电阻是R,驱动信号发生器是DRV,接受信号比较器是CMP。
具体实施方式
下面根据附图对本发明做进一步的说明。
实施例一:
自动测试机通道接收端,即自动测试机内部芯片中的接收信号比较器CMP并不是一个连续抓取模拟信号的装置,它只能比较当前监测点的电压,因此接收信号比较器CMP不能直观的获得信号变化。因此本实施例在接收信号比较器CMP处使用二维扫描的方式,可以体现处反射信号在线路中的状态。
自动测试机的驱动信号发生器DRV发送一次信号,在接收信号比较器CMP处设置比较电压值和比较时间值,从比较时间和比较电压两个维度扫描去,获得当前抓取信号的电压。多次发射并改变接收信号比较器CMP处设置的比较电压值和比较时间值,获得多个测试结果,将测试结果综合起来可以获得一个时间和电压的二维图, 可以直观的模拟出信号传输中的变化。
本实施例对待检自动测试机的线路进行自检,具体包括如下步骤:
S1,设置待检自动测试机的驱动信号发生器DRV的输出电平为0V;
S2,设置待检自动测试机的接收信号比较器CMP处的比较电压值、比较时间值的初始值;
S3,待检自动测试机的驱动信号发生器DRV在T1时刻输出实际高电平;
S4,待检自动测试机的接收信号比较器CMP将步骤S3中实际高电平的电压值与步骤S2中的比较电压值进行比较,当实际电压值低于比较电压值,标记测试结果为fail,当实际电压值高于比较电压值,标记测试结果为pass;
S5,单步提高待检自动测试机的接收信号比较器CMP处的比较电压值、比较时间值,重复步骤S3-S4,直至待检自动测试机接收信号比较器CMP处的比较电压值、比较时间值到达结束值;
S6,根据测试结果绘制时间-电压二维图;
S7,根据时间-电压二维图中电压转折处的位置判断待检自动测试机线路是否发生异常及发生异常的位置。
所述的步骤S3中实际高电平的电压值为2.5V,所述的比较电压值的初始值为0V,单步增长0.05V,结束值为2.6V;比较时间值的初始值为T1-1ns,单步增长0.1ns,结束值为T1+12ns,T1为待检自动测试机的驱动信号发生器DRV输出实际高电平的时间。
所述的待检自动测试机内设有控制芯片U、PCB电路线PCB、缆线CL,控制芯片U的驱动信号发生器DRV连接电阻R的一端,电阻R的另一端分别连接控制芯片U的接收信号比较器CMP、PCB电路线PCB一端,PCB电路线PCB另一端连接缆线CL一端,缆线CL另一端设有探针P。
所述的步骤S7中的判断方法具体包括如下步骤:
S71,分别将线路正常、控制芯片U与PCB电路线PCB连接点断开、PCB电路线PCB与缆线CL连接点断开的自动测试机进行步骤S1-S6的操作,获取这三种情况下的时间-电压二维图;
S72,将待检自动测试机的时间-电压二维图与步骤S71中的时间-电压二维图进行对比,判断待检自动测试机线路是否发生异常及发生异常的位置。
本实施例中了便于观察第一个沿的状况,将比较时间值的初始值设为T1-1ns。由于接收信号比较器接收到信号所需最长时间为10ns,比较时间值的结束值大于10ns稍有余量即可,因此本实施例将比较时间值的结束值设为T1+12ns。
本实施例步骤S4中,将fail用“-”表示,将pass用“*”表示,获得的时间-电压二维图如图4所示。“*”与“-”的变化位置即为实际信号的位置,信号的变化因为线路阻抗的变化引起的,因此“*”与“-”变化曲线间接体现了线路阻抗变化。因此可以将图4抽象出来,得到如图5所示的时间-电压二维图。
本实施例中发射信号经由PCB电路板到缆线,再从缆线末端反射回并在接收信号比较器处被监测。
如图3所示,O点为驱动信号发生器DRV与接收信号比较器的连接点,A点为自动测试机内部芯片与PCB电路板的连接点,B点为PCB电路板与缆线的连接点,C点为缆线末端的探针端。
本实施例中驱动信号发生器DRV的输出阻抗 Z1= 500hm,信号传输匹配阻抗Z2 =500hm。
根据信号反射TDR原理,当信号在线路传输中,如果有线路阻抗变化信号会有阶跃跳变。因此自动测试机的驱动信号发生器DRV发出V0=2.5V的信号后,接收信号比较器可在O点检测到信号的第一个阶跃端,之后信号的观测电压被抬高为V1,V1=V0* Z1/(Z1+Z2)=2.5*50/(50+50)= 1.25V,反应在时间-电压二维图上即为第一个沿。
如果自动测试机的线路连接正常,则信号当过A点,B点时,电压保持不变。
当信号在缆线末端开路会变为2.5V ,信号从探针处反射到接收信号比较器处,接收信号比较器处可以检测到升为2.5V电压的信号,反应在时间-电压二维图上即为第二个沿。
如果在传输路径上有断开的情形,即自动测试机线路出现异常,那么反射信号将提前被接收信号比较器检测到。
步骤S71中,线路正常的自动测试机获取的时间-电压二维图如图6所示,时间长度为10ns。PCB电路线PCB与缆线CL连接点断开的自动测试机获取的时间-电压二维图如图7所示,时间长度为4ns。控制芯片U与PCB电路线PCB连接点断开的自动测试机获取的时间-电压二维图如图8所示,时间长度小于1ns。图6-图8中,O点为驱动信号发生器DRV与接收信号比较器CMP的连接点,A点为控制芯片U与PCB电路线PCB的连接点,B点为PCB电路线PCB与缆线CL的连接点,C点为缆线CL末端的探针P。
根据图6-图8的时间-电压二维图,可以得出:
当第二个转折点出现在10ns的位置,则说明自动测试机的线路正常;
当第二个转折点出现在4-10ns的位置,则说明缆线CL出现异常;
当第二个转折点出现在1-4ns的位置,则说明PCB电路线PCB出现异常;
当第二个转折点出现在<1ns的位置,则说明控制芯片U内部出现异常;
当第二个转折点出现在>10ns 的位置,或者观察不到转折点,则说明控制芯片 U出现异常。
因此将本实施例待检自动测试机的时间-二维图与图6-图8进行对比,判断待检自动测试机是否出现异常及发生异常的位置。参考图4-5可知,本实施例待检自动测试机的时间-电压二维图出现第二个转折点为位置为10ns,则本实施例的待检自动测试机的线路正常。
Claims (4)
1.一种自动测试机的线路自检方法,其特征在于包括如下步骤:
S1,设置待检自动测试机的驱动信号发生器(DRV)的输出电平为0V;
S2,设置待检自动测试机的接收信号比较器(CMP)处的比较电压值、比较时间值的初始值;
S3,待检自动测试机的驱动信号发生器(DRV)在T1时刻输出实际高电平;
S4,待检自动测试机的接收信号比较器(CMP)将步骤S3中实际高电平的电压值与步骤S2中的比较电压值进行比较,当实际电压值低于比较电压值,标记测试结果为fail,当实际电压值高于比较电压值,标记测试结果为pass;
S5,单步提高待检自动测试机的接收信号比较器(CMP)处的比较电压值、比较时间值,重复步骤S3-S4,直至待检自动测试机接收信号比较器(CMP)处的比较电压值、比较时间值到达结束值;
S6,根据测试结果绘制时间-电压二维图;
S7,根据时间-电压二维图中电压转折处的位置判断待检自动测试机线路是否发生异常及发生异常的位置。
2.根据权利要求1所述的一种自动测试机的线路自检方法,其特征在于:所述的步骤S3中实际高电平的电压值为2.5V,所述的比较电压值的初始值为0V,单步增长0.05V,结束值为2.6V;比较时间值的初始值为T1-1ns,单步增长0.1ns,结束值为T1+12ns,T1为待检自动测试机的驱动信号发生器(DRV)输出实际高电平的时间。
3.根据权利要求1所述的一种自动测试机的线路自检方法,其特征在于:所述的待检自动测试机内设有控制芯片(U)、PCB电路线(PCB)、缆线(CL),控制芯片(U)的驱动信号发生器(DRV)连接电阻(R)的一端,电阻(R)的另一端分别连接控制芯片(U)的接收信号比较器(CMP)、PCB电路线(PCB)一端,PCB电路线(PCB)另一端连接缆线(CL)一端,缆线(CL)另一端设有探针(P)。
4.根据权利要求1所述的一种自动测试机的线路自检方法,其特征在于:所述的步骤S7中的判断方法具体包括如下步骤:
S71,分别将线路正常、控制芯片(U)与PCB电路线(PCB)连接点断开、PCB电路线(PCB)与缆线(CL)连接点断开的自动测试机进行步骤S1-S6的操作,获取这三种情况下的时间-电压二维图;
S72,将待检自动测试机的时间-电压二维图与步骤S71中的时间-电压二维图进行对比,判断待检自动测试机线路是否发生异常及发生异常的位置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202110109675.XA CN112904256B (zh) | 2021-01-27 | 2021-01-27 | 一种自动测试机的线路自检方法 |
TW110127221A TWI763565B (zh) | 2021-01-27 | 2021-07-23 | 自動測試機的線路自檢方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202110109675.XA CN112904256B (zh) | 2021-01-27 | 2021-01-27 | 一种自动测试机的线路自检方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN112904256A true CN112904256A (zh) | 2021-06-04 |
CN112904256B CN112904256B (zh) | 2024-05-10 |
Family
ID=76120529
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202110109675.XA Active CN112904256B (zh) | 2021-01-27 | 2021-01-27 | 一种自动测试机的线路自检方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN112904256B (zh) |
TW (1) | TWI763565B (zh) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113687219A (zh) * | 2021-09-15 | 2021-11-23 | 上海华岭集成电路技术股份有限公司 | 测试板的在线检测方法 |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10243548A (ja) * | 1997-02-24 | 1998-09-11 | Toko Electric Co Ltd | 高圧配電線の地絡検出装置 |
KR19980069406A (ko) * | 1997-02-28 | 1998-10-26 | 김영환 | 알에스-485 방식을 이용하는 통신 시스템 및 라인 셀프 테스트 방법 |
US20060161827A1 (en) * | 2004-12-30 | 2006-07-20 | Teradyne, Inc. | Over-voltage test for automatic test equipment |
US20110001501A1 (en) * | 2009-07-02 | 2011-01-06 | Fluke Corporation | Internal self-check resistance bridge and method |
CN201732158U (zh) * | 2010-08-10 | 2011-02-02 | 中国人民解放军63961部队 | 自检装置 |
CN103414602A (zh) * | 2013-07-30 | 2013-11-27 | 硅谷数模半导体(北京)有限公司 | 测试设备和测试Dongle设备的测试系统 |
CN109270480A (zh) * | 2018-10-15 | 2019-01-25 | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 | 检测源监控单元的方法 |
CN109782155A (zh) * | 2019-03-13 | 2019-05-21 | 胜达克半导体科技(苏州)有限公司 | 一种自动测试设备及自动测试系统 |
CN211453866U (zh) * | 2019-12-30 | 2020-09-08 | 深圳市松旭机电设备有限公司 | 线路板测试机构 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3989488B2 (ja) * | 2005-01-19 | 2007-10-10 | オー・エイチ・ティー株式会社 | 検査装置及び検査方法並びに検査装置用センサ |
CN106556771B (zh) * | 2016-11-24 | 2019-03-08 | 江西洪都航空工业集团有限责任公司 | 一种火工品电路自检测方法 |
CN107831369B (zh) * | 2017-12-19 | 2020-07-03 | 成都信息工程大学 | 一种带自检和校正的接地电阻监测仪 |
-
2021
- 2021-01-27 CN CN202110109675.XA patent/CN112904256B/zh active Active
- 2021-07-23 TW TW110127221A patent/TWI763565B/zh active
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10243548A (ja) * | 1997-02-24 | 1998-09-11 | Toko Electric Co Ltd | 高圧配電線の地絡検出装置 |
KR19980069406A (ko) * | 1997-02-28 | 1998-10-26 | 김영환 | 알에스-485 방식을 이용하는 통신 시스템 및 라인 셀프 테스트 방법 |
US20060161827A1 (en) * | 2004-12-30 | 2006-07-20 | Teradyne, Inc. | Over-voltage test for automatic test equipment |
US20110001501A1 (en) * | 2009-07-02 | 2011-01-06 | Fluke Corporation | Internal self-check resistance bridge and method |
CN201732158U (zh) * | 2010-08-10 | 2011-02-02 | 中国人民解放军63961部队 | 自检装置 |
CN103414602A (zh) * | 2013-07-30 | 2013-11-27 | 硅谷数模半导体(北京)有限公司 | 测试设备和测试Dongle设备的测试系统 |
CN109270480A (zh) * | 2018-10-15 | 2019-01-25 | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 | 检测源监控单元的方法 |
CN109782155A (zh) * | 2019-03-13 | 2019-05-21 | 胜达克半导体科技(苏州)有限公司 | 一种自动测试设备及自动测试系统 |
CN211453866U (zh) * | 2019-12-30 | 2020-09-08 | 深圳市松旭机电设备有限公司 | 线路板测试机构 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113687219A (zh) * | 2021-09-15 | 2021-11-23 | 上海华岭集成电路技术股份有限公司 | 测试板的在线检测方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN112904256B (zh) | 2024-05-10 |
TW202229896A (zh) | 2022-08-01 |
TWI763565B (zh) | 2022-05-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US20070001683A1 (en) | System for testing wiring characteristics | |
US5268644A (en) | Fault detection and isolation in automotive wiring harness by time-domain reflectometry | |
WO2010119532A1 (ja) | 検出回路及び電気回路の異常検出装置、並びに、その異常検出装置を用いる検出システム及び電子システム | |
JP2009204329A (ja) | 回路ボード検査システム及び検査方法 | |
JP6314392B2 (ja) | 測定装置および測定方法 | |
US20080061796A1 (en) | Signal detecting apparatus and signal detecting system | |
CN114062840A (zh) | 用于ate测试机接口板卡连接器导通的测试装置和测试方法 | |
JP6104578B2 (ja) | 検査装置および検査方法 | |
CN112904256A (zh) | 一种自动测试机的线路自检方法 | |
CN111965563A (zh) | 排线检测装置 | |
CN109031088A (zh) | 一种电路板多路电流测试方法及其系统 | |
KR100897982B1 (ko) | 프로브카드 니들과 패드간의 미스 얼라인 방지 패턴 및 그방법 | |
KR100310971B1 (ko) | 와이어 하네스 시험방법 및 이를 수행하기 위한 시스템 | |
CN113064041B (zh) | 场效应晶体管的导通电阻测量方法及测量装置 | |
JP2012149914A (ja) | プリント基板劣化検査装置および劣化検査方法 | |
CN114487905A (zh) | 一种线缆连接线连接状态及精度的测试装置和测试方法 | |
JP2007333387A (ja) | 半導体検査装置 | |
KR20190027164A (ko) | 스위치 접점의 간헐적 접촉불량 검출 장치 | |
TWI832652B (zh) | 電源量測裝置 | |
US11486921B2 (en) | Protection adapter for oscilloscope probes | |
CN211741497U (zh) | 一种电压电流源测试电路 | |
JP4876026B2 (ja) | 基板検査装置 | |
CN110324196B (zh) | 缆线运作监测系统 | |
CN107526024B (zh) | 一种检测接口简化转换装置 | |
CN117686945A (zh) | 一种线缆开路或短路的检测系统或方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
CB02 | Change of applicant information |
Address after: 201799 Room 103, 1st Floor, Building 1, No. 480 Huapu Road, Qingpu District, Shanghai Applicant after: Sundak Semiconductor Technology (Shanghai) Co.,Ltd. Address before: 201799 1st floor, building 1, 1130 qinghewan Road, Qingpu District, Shanghai Applicant before: Sundec semiconductor technology (Shanghai) Co.,Ltd. |
|
CB02 | Change of applicant information | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |