KR101713184B1 - 자기 정전용량방식 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법 - Google Patents

자기 정전용량방식 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법 Download PDF

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Abstract

터치 센서의 쇼트 불량 여부를 빠르고 정확하게 검사할 수 있는 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법이 개시된다. 전극패드를 이용한 터치 센서의 쇼트 불량(short defection)을 감지하기 위한 방법은, 복수개의 전극패드 중 서로 인접한 전극패드를 각각 그룹화하여 복수개의 전극그룹을 정의하는 단계, 복수개의 전극그룹 간의 쇼트 불량을 테스트하기 위한 그룹테스트를 수행하는 단계, 전극그룹에 포함된 복수개의 전극패드 간의 쇼트 불량을 테스트하기 위한 개별테스트를 수행하는 단계, 및 그룹테스트 및 개별테스트 중 적어도 어느 하나에서 쇼트 불량이 감지되면 터치 센서의 쇼트 불량으로 판단하는 단계를 포함한다.

Description

자기 정전용량방식 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법{METHOD FOR DETECTING SHORT DEFECTION OF SELF-CAPACITANCE TYPE TOUCH SENSOR}
본 발명은 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법에 관한 것으로서, 보다 자세하게는 자기 정전용랴방식 터치 센서의 쇼트 불량 여부를 빠르고 정확하게 검사할 수 있는 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법에 관한 것이다.
일반적으로 개인휴대단말기에는 공간활용성이 높고 사용이 편리함 이점으로 인해 터치스크린 또는 터치전극패드와 같은 터치패널의 장착이 보편화되고 있다.
터치패널은 크게 정전용량 방식, 압력식 저항막 방식, 적외선 감지방식, 표면 초음파 방식으로 구분될 수 있으며, 그중에서도 최근에는 정전용량 방식의 터치패널이 각광 받고 있다.
최근에는 소비자의 니즈를 반영하여 터치패널의 슬림화, 경량화, 테두리 최소화(Bezel-Less)에 기여할 수 있도록 터치 센서를 일체화하기 위한 다양한 시도가 이루어지고 있다.
참고로, 터치 센서의 일체화는, 터치 센서가 일체화되는 대상(디스플레이패널 또는 커버글라스)에 따라 크게 인셀(In-Cell) 방식 또는 온셀(On-Cell) 방식으로 구분될 수 있다.
인셀 방식 중 하나로서, AIT(Advanced In-cell Touch)기술은 터치 센서를 LCD Cell 내에 내장시킨 터치 기술로, 보다 우수한 터치감도를 제공할 수 있으며, 패널 두께와 베젤 넓이를 줄여 한층 더 슬림한 디자인을 구현 가능한 이점으로 인해 널리 사용되고 있다.
한편, AIT 터치패널의 제조시에는 터치 센서와 터치 감지 회로가 중복적으로 잘못 연결된 상태에 해당되는 쇼트(short) 불량 문제가 터치 센서 노드 배선에서 발생할 수 있기 때문에, 쇼트 불량 여부를 검사하는 공정이 필수적으로 요구된다.
그러나, 기존에는 쇼트 불량 여부를 감지하기 위해 복잡한 장비를 이용하여 검사 공정을 수행해야 하기 때문에, 검사 자체가 매우 번거롭고 불편한 문제점이 있으며, 생산비가 증가하고 생산 시간이 지연되는 문제점이 있다.
이에 따라 최근에는 터치 센서의 쇼트 불량 여부를 보다 빠르고 정확하게 검사하기 위한 다양한 검토가 이루어지고 있으나, 아직 미흡하여 이에 대한 개발이 요구되고 있다.
본 발명은 자기 정전용량방식 터치 센서의 쇼트 불량 여부를 빠르고 정확하게 검사할 수 있는 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법을 제공한다.
특히, 본 발명은 전극그룹을 테스트하는 그룹테스트 및 전극패드를 개별적으로 테스트 개별테스트를 수행하여 쇼트 불량 여부를 감지할 수 있는 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법을 제공한다.
또한, 본 발명은 기준전극그룹(또는 기준전극패드) 및 대상전극그룹(또는 기준전극패드)에 차별화된 전기신호를 인가하고, 기준전극그룹(또는 기준전극패드) 및 대상전극그룹(또는 기준전극패드)으로부터 측정되는 전기적 측정값을 이용하여 쇼트 불량 여부를 감지할 수 있는 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법을 제공한다.
또한, 본 발명은 쇼트 불량 검사 공정을 간소화할 수 있으며, 보다 효율적이고 정확한 검사가 가능한 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법을 제공한다.
또한, 본 발명은 쇼트 불량 검사의 편의성을 향상시킬 수 있으며, 검사 시간을 단축하고 검사 비용을 절감할 수 있는 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법을 제공한다.
상술한 본 발명의 목적들을 달성하기 위한 본 발명의 바람직한 실시예에 따르면, 전극패드를 이용한 자기 정전용량방식 터치 센서의 쇼트 불량(short defection)을 감지하기 위한 방법은, 복수개의 전극패드 중 적어도 하나의 기준전극패드와 기준전극패드를 제외한 나머지 대상전극패드를 정의하는 단계, 기준전극패드와 대상전극패드에 차별화된 전기신호를 인가하는 단계, 기준전극패드 및 대상전극패드로부터 전기적 특성값을 측정하는 단계, 대상전극패드 중 기준전극패드에서 측정된 전기적 특성값과 인접한 전기적 특성값을 갖는 특정전극패드의 유무를 확인하는 단계, 및 특정전극패드가 적어도 하나 존재하면 쇼트 불량으로 판단하는 단계를 포함하며, 상기 복수개의 전극그룹 중 각각은 그룹화된 전극패드 중 적어도 하나를 출력라인에 선택적으로 연결하는 멀티플렉서를 포함하며, 상기 그룹테스트를 수행하는 단계에서 멀티플렉서는 각 전극그룹에서 그룹화된 전극패드를 모두 상기 출력라인에 연결하여 쇼트 불량을 그룹 단위로 테스트하며, 상기 개별테스트를 수행하는 단계에서 멀티플렉서는 각 전극그룹에서 그룹화된 전극패드를 하나씩 출력라인에 연결하여 쇼트 불량을 전극패드 단위로 테스트하되, 복수개의 전극그룹에서의 상기 개별테스트가 동시에 수행될 수 있다.
참고로, 본 발명에 따른 터치 센서는 통상의 인셀(In-Cell) 또는 온셀(On-cell) 방식으로 제공되거나, 커버글라스의 외면(또는 내면)에 부착되는 구조(Add-on)로 제공될 수 있으며, 터치 센서의 제공 방식에 의해 본 발명이 제한되거나 한정되는 것은 아니다.
터치패널의 터치 센서를 구성하는 복수개의 전극패드 중 서로 인접한 전극패드는 각각 그룹화되어 복수개의 전극그룹(electrode group)을 형성할 수 있으며, 전극그룹의 형태 및 구조는 요구되는 조건 및 설계 사양에 따라 적절히 변경될 수 있다. 예컨데, 10*8 행렬 형태로 제공되는 80개의 전극패드는 4개 단위 기준(2*2 행렬 형태)으로 그룹화되어 총 20개의 전극그룹을 형성할 수 있다. 경우에 따라서는 복수개의 전극패드가 10*1 행렬, 1*8 행렬 또는 여타 다른 행렬 형태로 그룹화되어 전극그룹을 형성하는 것이 가능하다. 다르게는 서로 인접한 전극그룹이 일부 전극패드를 공유하도록 구성하는 것도 가능하다.
복수개의 전극패드를 일일이 검사하는 방식의 경우에는 전극패드의 갯수가 증가함에 따라 연산량 및 전력 소모가 증가할 수 있다. 하지만, 서로 인접한 전극패드를 그룹화하여 검사하거나, 특정 조건하에서 복수개의 전극패드를 동시에 검사할 경우에는 검사 대상 및 횟수를 줄일 수 있어 연산량 및 전력 소모를 낮추고 검사 시간을 단축할 수 있다.
특정 전극그룹에 포함되는 복수개의 전극패드의 사이에는 스위치가 제공될 수 있으며, 특정 전극그룹에 포함된 복수개의 전극패드는 스위치를 통해 전기적으로 서로 연결되거나 분리될 수 있다. 일 예로, 그룹테스트시에는 전극그룹에 포함된 복수개의 전극패드가 전기적으로 서로 연결되어 하나의 전극으로 간주될 수 있고, 개별테스트시에는 전극그룹에 포함된 복수개의 전극패드가 전기적으로 서로 분리되어 개별적인 전극으로 간주될 수 있다.
그룹테스트는 요구되는 조건 및 설계 사양에 따라 다양한 방식으로 구현될 수 있다. 일 예로, 복수개의 전극그룹 간의 쇼트 불량을 테스트하기 위한 그룹테스트를 수행하는 단계는, 복수개의 전극그룹 중 적어도 하나의 기준전극그룹과 기준전극그룹을 제외한 나머지 대상전극그룹을 정의하는 단계, 기준전극그룹 및 대상전극그룹에 각각 차별화된 전기신호를 인가하는 단계, 기준전극그룹 및 대상전극그룹으로부터 전기적 특성값을 측정하는 단계, 대상전극그룹 중 기준전극그룹에서 측정된 전기적 특성값과 인접한 전기적 특성값을 갖는 특정전극그룹의 유무를 확인하는 단계, 및 특정전극그룹이 적어도 하나 존재하면 전극그룹 간의 쇼트 불량으로 판단하는 단계를 포함할 수 있다.
기준전극그룹은 요구되는 조건 및 검사 환경에 따라 다양하게 정의될 수 있다. 일 예로, 첫번째 그룹테스트 공정에서는 특정 행렬로 배치된 전극그룹 중 1행 1열에 배치된 전극그룹이 기준전극그룹으로 정의될 수 있고, 두번째 그룹테스트 공정에서는 특정 행렬로 배치된 전극그룹 중 1행 2열에 배치된 전극그룹이 기준전극그룹으로 정의될 수 있다. 이러한 방식으로 테스트 공정별로 서로 다른 전극그룹이 기준전극그룹으로 순차적으로 정의될 수 있다. 경우에 따라서는 테스트 시간을 단축할 수 있도록 2개 이상의 전극그룹이 기준전극그룹으로 정의될 수 있으며, 기준전극그룹의 갯수 및 위치에 의해 본 발명이 제한되거나 한정되는 것은 아니다. 다르게는 기준전극그룹을 랜덤하게 정의하는 것도 가능하다.
참고로, 본 발명에서 기준전극그룹(및/또는 대상전극그룹)에 전기신호가 인가된다 함은, 전압 신호의 종류인 통상의 그라운드 전압 및 전원 전압을 포함하는 DC 전압, AC 전압이 기준전극그룹에 인가되거나, 펄스 신호, 커패시턴스 로드(capacitance load) 및 전류원 등과 같은 다른 전기신호가 기준전극그룹에 인가될 수 있는 것으로 이해될 수 있다.
또한, 본 발명에서 기준전극그룹과 대상전극그룹에 차별화된 전기신호를 인가한다 함은, 기준전극그룹에 인가되는 전기신호와 대상전극그룹에 인가되는 전기신호가 서로 다른 것으로 이해될 수 있다. 일 예로, 기준전극그룹에 인가되는 전압과 대상전극그룹에 인가되는 전압이 서로 다를 수 있다. 또한, 기준전극그룹과 대상전극그룹에 인가되는 전압이 서로 다르다 함은, 기준전극그룹과 대상전극그룹에 각각 인가되는 전압이 서로 다른 주파수, 진폭, 파형 등이 다른 펄스 파형을 갖는 것으로 이해될 수 있다.
또한, 본 발명에서 기준전극그룹 및 대상전극그룹으로부터 측정되는 전기적 특성값이라 함은, 기준전극그룹 및 대상전극그룹으로부터 측정될 수 있는 전기적 특성에 대한 측정값을 의미하며, 전기적 측정값의 종류 및 특성에 의해 본 발명이 제한되거나 한정되는 것은 아니다. 일 예로, 기준전극그룹 및 대상전극그룹으로부터 측정되는 전기적 특성값으로서, 기준전극그룹 및 대상전극그룹에 대한 터치 데이터로 사용될 수 있는 커패시턴스값이 이용될 수 있다.
그룹테스트에서는 전극그룹에 포함된 복수개의 전극패드가 하나의 전극으로 간주되기 때문에, 전극그룹에 포함된 복수개의 전극패드 간에 쇼트 불량이 발생하더라도, 전극그룹 간에 쇼트 불량이 발생하지 않는 한 정상 판정이 나올 수 있다. 따라서, 그룹테스트를 수행한 결과 정상 판정이 나온 경우에는 전극그룹에 포함되는 복수개의 전극패드 간의 쇼토 불량을 테스트하기 위한 개별테스트를 수행할 수 있다.
개별테스트는 요구되는 조건 및 설계 사양에 따라 다양한 방식으로 구현될 수 있다. 일 예로, 전극그룹에 포함된 복수개의 전극패드 간의 쇼트 불량을 테스트하기 위한 개별테스트를 수행하는 단계는, 전극그룹에 포함된 복수개의 전극패드 중 적어도 하나의 기준전극패드와 기준전극패드를 제외한 나머지 대상전극패드를 정의하는 단계, 기준전극패드 및 대상전극패드에 각각 차별화된 전기신호를 인가하는 단계, 기준전극패드 및 대상전극패드로부터 전기적 특성값을 측정하는 단계, 대상전극패드 중 기준전극패드에서 측정된 전기적 특성값과 인접한 전기적 특성값을 갖는 특정전극패드의 유무를 확인하는 단계, 및 특정전극패드가 적어도 하나 존재하면 전극그룹에 포함된 복수개의 전극패드 간의 쇼트 불량으로 판단하는 단계를 포함할 수 있다.
기준전극패드 및 대상전극패드는 요구되는 조건 및 검사 환경에 따라 다양하게 정의될 수 있다. 기준전극패드는 1개만이 정의되거나, 2개 이상 정의되는 것이 가능하다.
한편, 개별테스트는 복수개의 전극그룹 별로 각각 동시에 수행되는 것이 바람직하다. 즉, 복수개의 전극그룹에 대해 전극그룹 하나씩 순차적으로 개별테스트를 진행하는 것도 가능하지만, 이 경우에는 불가피하게 연산량, 전력 소모 및 검사 시간이 증가하게 된다. 하지만, 복수개의 전극그룹에 별로 개별테스트를 동시에 수행할 경우에는 연산량 및 전력 소모를 낮추는 것이 가능하며, 검사 시간을 단축하는 것이 가능하다. 일 예로, 복수개의 전극그룹에는 각각 기준전극패드 및 대상전극패드가 서로 동일한 조건으로 정의될 수 있고, 복수개의 전극그룹에 각각 정의된 기준전극패드 및 대상전극패드에는 차별화된 전기신호가 동시에 인가될 수 있으며, 복수개의 전극그룹에 각각 정의된 기준전극패드 및 대상전극패드로부터 전기적 특성값을 동시에 측정하여, 복수개의 전극그룹에서 각각 특정전극패드의 유무를 동시에 확인할 수 있다.
본 발명에 따른 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법에 의하면, 터치 센서의 쇼트 불량 여부를 빠르고 정확하게 검사할 수 있다.
특히, 본 발명에 따르면 전극그룹을 테스트하는 그룹테스트 및 전극패드를 개별적으로 테스트 개별테스트를 수행하여 쇼트 불량 여부를 감지할 수 있다. 그룹테스트에서는 복수개의 전극패드를 포함하는 전극그룹을 테스트할 수 있기 때문에, 복수개의 전극패드를 일일이 테스트하는 방식에 비해 테스트 대상을 줄일 수 있어 쇼트 불량 테스트 공정을 간소화하고 테스트에 관련된 데이터 및 시간을 줄이는 것이 가능하다. 또한, 개별테스트에서는 각 전극패드를 개별적으로 테스트할 수 있기 때문에, 그룹테스트에서 검출하지 못한 전극패드 간의 쇼트 불량까지 검출하는 것이 가능하다. 따라서, 쇼트 불량 검사의 편의성을 향상시킬 수 있으며, 검사 시간을 단축하고 검사 비용을 절감할 수 있다.
또한, 본 발명에 따르면 전극패드의 개별테스트가 복수개의 전극그룹 별로 각각 동시에 수행될 수 있기 때문에, 개별테스트 횟수를 현저하게 줄이는 것이 가능하며, 연산량 및 전력 소모를 낮추고, 검사 시간을 단축하는 것이 가능하다.
또한, 본 발명에 따르면 기준전극그룹(또는 기준전극패드) 및 대상전극그룹(또는 기준전극패드)에 차별화된 전기신호를 인가하고, 기준전극그룹(또는 기준전극패드) 및 대상전극그룹(또는 기준전극패드)으로부터 측정되는 전기적 측정값을 이용하여 쇼트 불량 여부를 감지할 수 있기 때문에, 쇼트 불량 검사의 편의성을 향상시킬 수 있으며, 검사 시간을 단축하고 검사 비용을 절감할 수 있다.
또한, 본 발명에 따르면 복잡한 장비 및 검사 공정을 수행하지 않고, 단순히 차별화된 전기신호에 따라 전극그룹(또는 전극패드)로부터 측정되는 전기적 측정값을 이용하여 쇼트 불량을 감지할 수 있기 때문에, 쇼트 불량 검사 공정을 간소화할 수 있으며, 보다 효율적이고 정확한 검사를 가능하게 한다.
또한, 본 발명에 따르면 기준전극그룹(기준전극패드)에서 측정된 전기적 특성값과 인접한 전기적 특성값을 갖는 특정전극그룹(특정전극패드)의 유무를 확인하여 쇼트 불량을 감지하거나, 대상전극그룹(대상전극패드) 중 기설정된 이탈 범위에 해당하는 전기적 특성값을 갖는 특정전극패드의 유무를 확인하여 쇼트 불량을 감지할 수 있기 때문에, 검사 정확도를 보다 향상시킬 수 있다.
도 1은 본 발명에 따른 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 2는 본 발명에 따른 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법으로서, 그룹테스트를 수행하는 단계를 설명하기 위한 도면이다.
도 3은 본 발명에 따른 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법으로서, 개별테스트를 수행하는 단계를 설명하기 위한 도면이다.
도 4 내지 도 6은 전극그룹이 정의된 패널을 설명하기 위한 도면이다.
도 7은 정상적인 패널의 배선 상태를 설명하기 위한 도면이다.
도 8 및 도 9는 쇼트 불량이 발생된 패널의 배선 상태를 설명하기 위한 도면이다.
도 10은 본 발명에 따른 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법으로서, 정상적인 패널의 그룹테스트 결과를 설명하기 위한 도면이다.
도 11 및 도 12는 본 발명에 따른 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법으로서, 쇼트 불량이 발생된 패널의 그룹테스트 결과를 설명하기 위한 도면이다.
도 13은 본 발명에 따른 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법으로서, 정상적인 패널의 개별테스트 결과를 설명하기 위한 도면이다.
도 14 및 도 15는 본 발명에 따른 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법으로서, 쇼트 불량이 발생된 패널의 개별테스트 결과를 설명하기 위한 도면이다.
이하 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세하게 설명하지만, 본 발명이 실시예에 의해 제한되거나 한정되는 것은 아니다. 참고로, 본 설명에서 동일한 번호는 실질적으로 동일한 요소를 지칭하며, 이러한 규칙 하에서 다른 도면에 기재된 내용을 인용하여 설명할 수 있고, 당업자에게 자명하다고 판단되거나 반복되는 내용은 생략될 수 있다.
도 1은 본 발명에 따른 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법을 설명하기 위한 도면이고, 도 2는 본 발명에 따른 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법으로서, 그룹테스트를 수행하는 단계를 설명하기 위한 도면이며, 도 3은 본 발명에 따른 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법으로서, 개별테스트를 수행하는 단계를 설명하기 위한 도면이다.
또한, 도 4 내지 도 6은 전극그룹이 정의된 패널을 설명하기 위한 도면이고, 도 7은 정상적인 패널의 배선 상태를 설명하기 위한 도면이며, 도 8 및 도 9는 쇼트 불량이 발생된 패널의 배선 상태를 설명하기 위한 도면이다.
또한, 도 10은 본 발명에 따른 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법으로서, 정상적인 패널의 그룹테스트 결과를 설명하기 위한 도면이고, 도 11 및 도 12는 본 발명에 따른 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법으로서, 쇼트 불량이 발생된 패널의 그룹테스트 결과를 설명하기 위한 도면이다.
또한, 도 13은 본 발명에 따른 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법으로서, 정상적인 패널의 개별테스트 결과를 설명하기 위한 도면이고, 도 14 및 도 15는 본 발명에 따른 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법으로서, 쇼트 불량이 발생된 패널의 개별테스트 결과를 설명하기 위한 도면이다.
본 발명은 터치 센서 노드 배선에서의 쇼트 불량 여부, 즉 터치 센서와 터치 감지 회로가 중복적으로 잘못 연결되었는지 여부를 검사하기 위해 제공된다.
도 1 내지 도 3에 도시한 바와 같이, 본 발명에 따른 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법은, 복수개의 전극패드(110) 중 서로 인접한 전극패드(110)를 각각 그룹화하여 복수개의 전극그룹(200)을 정의하는 단계(S10), 복수개의 전극그룹(200) 간의 쇼트 불량을 테스트하기 위한 그룹테스트를 수행하는 단계(S20), 전극그룹(200)에 포함된 복수개의 전극패드(110) 간의 쇼트 불량을 테스트하기 위한 개별테스트를 수행하는 단계(S30), 및 그룹테스트 및 개별테스트 중 적어도 어느 하나에서 쇼트 불량이 감지되면 터치 센서의 쇼트 불량으로 판단하는 단계(S40)를 포함한다.
참고로, 본 발명에 따른 터치 센서는 통상의 인셀(In-Cell) 또는 온셀(On-cell) 방식으로 제공되거나, 커버글라스의 외면(또는 내면)에 부착되는 구조(Add-on)로 제공될 수 있으며, 터치 센서의 제공 방식에 의해 본 발명이 제한되거나 한정되는 것은 아니다.
이하에서는 본 발명에 따른 터치 센서가 인셀 타입으로 구성된 예를 들어 설명하기로 한다. 일반적으로 인셀 타입 터치 센서는 화면출력장치의 구성요소 중 전극패드(110) 및 제어라인을 공용으로 사용할 수 있다. 여기서, 제어라인이라 함은, 화상픽셀을 위한 게이트라인 및 데이터라인(미도시) 중 어느 하나일 수 있다. 또한, 화상픽셀이라 함은, RGB를 묶은 한 픽셀, 즉 하나의 화소단위를 의미하며, 하나의 화상픽셀에는 'R', 'G', 'B' 각각을 위한 데이터라인과 게이트라인이 제공될 수 있다.
먼저, 복수개의 전극패드(110) 중 서로 인접한 전극패드(110)를 각각 그룹화하여 복수개의 전극그룹(200)을 정의한다.
참고로, 복수개의 전극패드(110)를 일일이 검사하는 방식의 경우에는 전극패드(110)의 갯수가 증가함에 따라 연산량 및 전력 소모가 증가할 수 있다. 가령, 10*8 행렬 형태로 전극패드(110)가 제공될 경우에는, 80개의 전극패드(110)를 개별적으로 검사해야 하기 때문에, 연산량 및 전력 소모가 증가할 수 있다. 하지만, 서로 인접한 전극패드(110)를 그룹화하여 검사할 경우에는 검사 대상을 줄일 수 있어 연산량 및 전력 소모를 낮출 수 있다.
가령, 도 4 내지 도 6을 참조하면, 상기 터치패널(100)의 터치 센서를 구성하는 복수개의 전극패드(110) 중 서로 인접한 전극패드(110)는 각각 그룹화되어 복수개의 전극그룹(electrode group)(200)을 형성할 수 있다. 일 예로, 10*8 행렬 형태로 제공되는 80개의 전극패드(110)는 4개 단위 기준(2*2 행렬 형태)으로 그룹화되어 총 20개의 전극그룹(200)을 형성할 수 있다. 경우에 따라서는 복수개의 전극패드가 10*1 행렬, 1*8 행렬 또는 여타 다른 행렬 형태로 그룹화되어 전극그룹을 형성하는 것이 가능하며, 전극그룹의 형태에 의해 본 발명이 제한되거나 한정되는 것은 아니다. 다르게는 서로 인접한 전극그룹이 일부 전극패드를 공유하도록 구성하는 것도 가능하다.
특정 전극그룹(200)에 포함되는 복수개의 전극패드(110)의 사이에는 스위치가 제공될 수 있으며, 특정 전극그룹(200)에 포함된 복수개의 전극패드(110)는 스위치를 통해 전기적으로 서로 연결되거나 분리될 수 있다. 일 예로, 후술할 그룹테스트시에는 전극그룹(200)에 포함된 복수개의 전극패드(110)가 전기적으로 서로 연결되어 하나의 전극으로 간주(도 5 참조)될 수 있고, 후술할 개별테스트시에는 전극그룹(200)에 포함된 복수개의 전극패드(110)가 전기적으로 서로 분리되어 개별적인 전극으로 간주(도 6 참조)될 수 있다.
참고로, 후술할 개별테스트를 수행하는 경우, 특정 전극그룹(200)에 포함된 전극패드(201~204) 간의 전기적 연결은 해제(도 6 참조)될 수 있고, 각 전극그룹(200)에 제공되는 멀티플렉서(210)는 특정 전극그룹(200)에 속한 4개의 전극패드(201~204) 중 어느 하나를 출력라인에 선택적으로 연결할 수 있다.
이와 같이, 특정 전극그룹(200)에 포함된 복수개의 전극패드(110)가 전기적으로 연결될 경우에는, 특정 전극그룹(200)이 하나의 전극으로 인식될 수 있으며, 총 5*4=20개의 전극그룹(200)을 검사함으로써 전극그룹(200) 간의 쇼트 불량을 감지하는 것이 가능하다. 이와 같이, 80개의 전극패드(110)를 검사하는 방식과 달리, 단순히 20개의 전극그룹(200)만을 검사하면 되기 때문에, 연산량 및 전력 소모를 낮추는 것이 가능하다.
아울러, 전술 및 도시한 본 발명의 실시예에서는 전극그룹(200)이 전극그룹(200) 간의 쇼트 불량 검사시 사용된 예를 들어 설명하고 있지만, 터치 조작 감지시에도 개별 전극패드(110) 뿐만 아니라 전극그룹(200)을 이용하여 터치 조작을 감지하는 것이 가능하다.
다음, 복수개의 전극그룹(200)이 정의되면, 복수개의 전극그룹(200) 간의 쇼트 불량을 테스트하기 위한 그룹테스트를 수행한다.
상기 그룹테스트는 요구되는 조건 및 설계 사양에 따라 다양한 방식으로 구현될 수 있다. 일 예로, 도 2를 참조하면, 상기 복수개의 상기 전극그룹(200) 간의 쇼트 불량을 테스트하기 위한 그룹테스트를 수행하는 단계는, 복수개의 전극그룹(200) 중 적어도 하나의 기준 전극그룹(220)과 기준 전극그룹(220)을 제외한 나머지 대상 전극그룹(230)을 정의하는 단계(S21), 상기 기준 전극그룹(220) 및 대상 전극그룹(230)에 각각 차별화된 전기신호를 인가하는 단계(S22), 상기 기준 전극그룹(220) 및 대상 전극그룹(230)으로부터 전기적 특성값을 측정하는 단계(S23), 상기 대상 전극그룹(230) 중 기준 전극그룹(220)에서 측정된 전기적 특성값과 인접한 전기적 특성값을 갖는 특정 전극그룹(240)의 유무를 확인하는 단계(S24), 및 상기 특정 전극그룹(240)이 적어도 하나 존재하면 전극그룹(200) 간의 쇼트 불량으로 판단하는 단계(S25)를 포함할 수 있다.
도 7을 참조하면, 정상적인 패널(100)에는 복수개의 전극패드(110)로 이루어진 복수개의 전극그룹(200)이 정의되며, 각 전극그룹(200)은 전극그룹(200)배선(120)을 통해 터치감지회로(300)에 각각 연결된다. 전술한 바와 같이, 그룹테스트시에는 전극그룹(200)에 포함된 복수개의 전극패드(110)가 전기적으로 서로 연결되어 하나의 전극으로 간주될 수 있다.
반면, 전극그룹(200) 간의 쇼트 불량이 발생된 쇼트 불량 패널(100)의 일 예로서, 도 8을 참조하면, 공정오류 등의 원인에 의해 특정 전극그룹(200)에 연결된 전극그룹(200)배선(120)이 다른 전극그룹(200)에 연결될 경우 쇼트 불량이 발생한다.
쇼트 불량이 발생된 쇼트 불량 패널(100)의 다른 일 예로서, 도 9를 참조하면, 각 전극그룹(200)에 연결된 전극그룹(200)배선(120)은 서로 절연된 상태를 유지하여야 하지만, 인접한 전극그룹(200)배선(120)이 서로 연결될 경우 쇼트 불량이 발생한다.
본 발명의 일 실시예에 따른 그룹테스트는, 미리 정의된 기준 전극그룹(220)에 기설정된 전압을 인가하여 기준 전극그룹(220)으로부터 비정상적인 전기적 특성값이 출력되도록 한 상태에서, 기준 전극그룹(220)에 인가되는 기설정된 전압과 차별화된 전압이 인가되는 나머지 대상 전극그룹(230)의 전기적 특성값을 측정하여 쇼트 불량 여부를 판단할 수 있도록 구성된다.
먼저, 복수개의 전극그룹(200) 중 적어도 하나의 기준 전극그룹(220)과 기준 전극그룹(220)을 제외한 나머지 대상 전극그룹(230)을 정의한다.
상기 기준 전극그룹(220)은 요구되는 조건 및 검사 환경에 따라 다양하게 정의될 수 있다. 일 예로, 첫번째 그룹테스트 공정에서는 5(행)*4(열)로 배치된 전극그룹(200) 중 1행 1열에 배치된 전극그룹(200)이 기준 전극그룹(220)으로 정의될 수 있고, 두번째 그룹테스트 공정에서는 5(행)*4(열)로 배치된 전극그룹(200) 중 1행 2열에 배치된 전극그룹(200)이 기준 전극그룹(220)으로 정의될 수 있다. 이러한 방식으로 테스트 공정별로 서로 다른 전극그룹(200)이 기준 전극그룹(220)으로 순차적으로 정의될 수 있다.
참고로, 본 발명의 실시예에서는 복수개의 전극그룹(200) 중 단 하나의 기준 전극그룹(220)만이 정의된 예를 들어 설명하고 있지만, 경우에 따라서는 테스트 시간을 단축할 수 있도록 2개 이상의 전극그룹이 기준 전극그룹으로 정의될 수 있으며, 기준 전극그룹의 갯수 및 위치에 의해 본 발명이 제한되거나 한정되는 것은 아니다. 다르게는 기준 전극그룹을 랜덤하게 정의하는 것도 가능하다.
상기 대상 전극그룹(230)은 복수개의 전극그룹(200) 중 기준 전극그룹(220)를 제외한 나머지 전극그룹(200)들로 정의될 수 있다.
다음, 상기 기준 전극그룹(220)과 대상 전극그룹(230)에 차별화된 전기신호를 인가한다.
여기서, 상기 기준 전극그룹(220)과 대상 전극그룹(230)에 차별화된 전기신호를 인가한다 함은, 기준 전극그룹(220)에 인가되는 전기신호와 대상 전극그룹(230)에 인가되는 전기신호가 서로 다른 것으로 이해될 수 있다. 일 예로, 기준 전극그룹(220)에 인가되는 전압과 대상 전극그룹(230)에 인가되는 전압이 서로 다를 수 있다. 또한, 기준 전극그룹(220)과 대상 전극그룹(230)에 인가되는 전압이 서로 다르다 함은, 기준 전극그룹(220)과 대상 전극그룹(230)에 각각 인가되는 전압이 서로 다른 주파수, 진폭, 파형 등이 다른 펄스 파형을 갖는 것으로 이해될 수 있다.
이하에서는, 상기 기준 전극그룹(220)에 기설정된 전압이 인가되고, 대상 전극그룹(230)에는 기준 전극그룹(220)에 인가되는 기설정된 전압과 다른 크기의 전압이 인가되도록 구성된 예를 들어 설명하기로 한다.
전술한 바와 같이, 복수개의 전극그룹(200) 중 미리 정의된 기준 전극그룹(220)에는 기설정된 전압이 인가되고, 복수개의 전극그룹(200) 중 기준 전극그룹(220)를 제외한 나머지 대상 전극그룹(230)에는 차별화된 전압이 인가된다.
참고로, 본 발명에서 기준 전극그룹(220)(및/또는 대상 전극그룹)에 기설정된 전기신호가 인가된다 함은, 전압 신호의 종류인 통상의 그라운드 전압 및 전원 전압을 포함하는 DC 전압, AC 전압이 기준 전극그룹(220)에 인가되거나, 펄스 신호, 커패시턴스 로드(capacitance load) 및 전류원 등과 같은 다른 전기신호가 기준 전극그룹(220)에 인가될 수 있는 것으로 이해될 수 있다.
다음, 상기 기준 전극그룹(220) 및 대상 전극그룹(230)으로부터 전기적 특성값을 측정한다.
참고로, 본 발명에서 기준 전극그룹(220) 및 대상 전극그룹(230)으로부터 측정되는 전기적 특성값이라 함은, 기준 전극그룹(220) 및 대상 전극그룹(230)으로부터 측정될 수 있는 전기적 특성에 대한 측정값을 의미하며, 전기적 측정값의 종류 및 특성에 의해 본 발명이 제한되거나 한정되는 것은 아니다. 이하에서는, 상기 기준 전극그룹(220) 및 대상 전극그룹(230)으로부터 측정되는 전기적 특성값으로서, 기준 전극그룹(220) 및 대상 전극그룹(230)에 대한 터치 데이터로 사용될 수 있는 커패시턴스값이 이용된 예를 들어 설명하기로 한다.
일 예로, 상기 패널(100)에는 5(행)*4(열)=20개의 전극그룹(200)이 정의될 수 있고, 각 전극그룹(200)은 20개의 전극그룹(200)배선(120)에 의해 각각 터치감지회로(300)에 연결될 수 있다. 또한, 각 전극그룹(200)의 수평 방향을 따라서는 게이트라인(미도시)이 배치될 수 있고, 각 전극그룹(200)의 수직 방향을 따라서는 데이터라인(미도시)이 배치될 수 있다.
참고로, 상기 게이트라인은 디스플레이 패널(100)을 구동하는 게이트 구동신호를 제공하기 위해 구비될 수 있다. 상기 전극그룹(200)에 포함된 전극패드(110)(또는 노드)는 디스플레이 패널(100)에 포함되는 공통전극(Vcom)일 수 있으며, 상기 전극패드(110)는 공통전극의 역할을 수행함과 동시에, 터치 패널(100)의 터치센서패드의 역할을 함께 수행할 수 있다.
도 10을 참조하면, 정상 패널(100)의 경우, 5*4 행렬 형태를 갖는 각 전극그룹(200)으로부터 커패시턴스를 측정한 결과, 복수개의 전극그룹(200) 중 1행 1열에 배치된 기준 전극그룹(220)을 제외하고, 나머지 대상 전극그룹(230)에서는 예컨데 '100'이라는 커패시턴스값이 동일하게 산출될 수 있다.
상기 기준 전극그룹(220) 및 대상 전극그룹(230)으로부터 전기적 특성값을 측정하는 동안, 상기 기준 전극그룹(220)에는 기설정된 전압(비정상적인 전압)이 인가되는 상태가 유지되고, 상기 대상 전극그룹(230)에는 다른 전압(정상적인 전압)이 인가되는 상태가 유지되기 때문에, 상기 기준 전극그룹(220)으로부터는 비정상적인 캐패시턴스값이 측정될 수 있고, 상기 대상 전극그룹(230)에서는 정상적인 캐패시턴스값이 측정될 수 있다.
일 예로, 상기 기준 전극그룹(220)에 비정상적인 전압이 인가되는 동안 기준 전극그룹(220)으로부터는 ADC(Analog Digital Converter) full에 해당하는 커패시턴스값이 측정될 수 있다. 이와 같은 현상은, 터치감지회로(300)의 경우 커패시턴스에 출입하는 전류 또는 전하를 측정하는 방식을 기반으로 하기 때문에, 기준 전극그룹(220)에 측정하려는 커패시턴스와 무관하게 비정상적으로 전류가 통과될 경우, 비정상적인 커패시턴스값이 측정될 수 있다. 예컨데, 1행 1열에 배치된 기준 전극그룹(220)에 비정상적인 전압이 인가되는 동안, 기준 전극그룹(220)으로부터는 '0'이라는 커패시턴스값이 산출될 수 있다.
이와 같이 정상 패널(100)의 경우, 복수개의 전극그룹(200) 중 1행 1열에 배치된 기준 전극그룹(220)에 비정상적인 전압이 인가되는 동안, 기준 전극그룹(220)에서는 '0'이라는 커패시턴스값이 산출되고, 정상적인 전압이 인가되는 나머지 대상 전극그룹(230)에서는 '100'이라는 커패시턴스값이 동일하게 산출되기 때문에, 1행 1열에 배치된 기준 전극그룹(220)이 나머지 대상 전극그룹(230)과 전기적으로 쇼트되지 있지 않음을 알 수 있다.
반면, 쇼트 불량이 발생된 패널(100)인 경우, 상기 대상 전극그룹(230) 중 기준 전극그룹(220)에서 측정된 전기적 특성값과 인접한 전기적 특성값을 갖는 특정 전극그룹(240)의 유무를 확인하고, 상기 특정 전극그룹(240)이 적어도 하나 존재하면 쇼트 불량으로 판단할 수 있다.
도 11을 참조하면, 쇼트 불량이 발생된 패널(100)인 경우, 1행 1열에 배치된 기준 전극그룹(220)에 비정상적인 전압을 인가하고, 나머지 대상 전극그룹(230)에 정상적인 전압을 인가한 상태에서, 5(행)*4(열)=20개의 전극그룹(200)(기준 전극그룹 및 대상 전극그룹)로부터 커패시턴스값을 측정한 결과, 1행 1열에 배치된 기준 전극그룹(220)으로부터는 예컨데 '0'이라는 커패시턴스값이 측정될 수 있고, 5행 1열에 배치된 대상 전극그룹(230)으로부터는 예컨데 '10'이라는 커패시턴스값이 측정될 수 있으며, 5행 1열에 배치된 대상 전극그룹(230)을 제외한 나머지 18개의 대상 전극그룹(230)으로부터는 '100'이라는 커패시턴스값이 동일하게 산출될 수 있다.
상기와 같이, 5행 1열에 배치된 대상 전극그룹(230)에는 비정상적인 전압이 인가되지 않았음에도 불구하고, 5행 1열에 배치된 대상 전극그룹(230)에서 측정된 커패시턴스값(예컨데 '10')은 1행 1열에 배치된 기준 전극그룹(220)에서 측정된 커패시턴스값(예컨데 '0')과 인접한 범위를 갖기 때문에, 5행 1열에 배치된 대상 전극그룹(230)은 특정 전극그룹(240)으로 분류될 수 있다.
아울러, 본 발명에서 특정 전극그룹(240)이라 함은, 복수개의 대상 전극그룹(230) 중 기준 전극그룹(220)에서 측정된 전기적 특성값과 인접한 전기적 특성값을 갖는 특정 대상 전극그룹(230)로 이해될 수 있다. 경우에 따라서는, 복수개의 대상 전극그룹의 전기적 특성값을 서로 비교하여, 복수개의 대상 전극그룹 중 기설정된 이탈 범위에 해당하는 전기적 특성값을 갖는 특정 대상 전극그룹을 특정 전극그룹으로 분류하는 것이 가능하다.
이와 같이, 5행 1열에 배치된 대상 전극그룹(230)이 특정 전극그룹(240)으로 분류됨에 따라, 다시 말해서, 적어도 하나의 특정 전극그룹(240)이 존재함에 따라, 전극그룹(200) 간에 쇼트 불량이 발생되었다고 판단할 수 있다. 보다 구체적으로, 이 경우에는 5행 1열에 배치된 대상 전극그룹(230)이 1행 1열에 배치된 대상 전극그룹(230)과 전기적으로 쇼트되었다고 판단할 수 있다.
도 12를 참조하면, 쇼트 불량이 발생된 패널(100)의 다른 일 예로서, 1행 1열에 배치된 기준 전극그룹(220)에 비정상적인 전압을 인가하고, 나머지 대상 전극그룹(230)에 정상적인 전압을 인가한 상태에서, 5(행)*4(열)=20개의 전극그룹(200)(기준 전극그룹 및 대상 전극그룹)로부터 커패시턴스값을 측정한 결과, 1행 1열에 배치된 기준 전극그룹(220)으로부터는 예컨데 '0'이라는 커패시턴스값이 측정될 수 있고, 2행 1열에 배치된 대상 전극그룹(230)으로부터는 예컨데 '5'이라는 커패시턴스값이 측정될 수 있으며, 2행 1열에 배치된 대상 전극그룹(230)을 제외한 나머지 18개의 대상 전극그룹(230)으로부터는 '100'이라는 커패시턴스값이 동일하게 산출될 수 있다.
상기와 같이, 2행 1열에 배치된 대상 전극그룹(230)에는 비정상적인 전압이 인가되지 않았음에도 불구하고, 2행 1열에 배치된 대상 전극그룹(230)에서 측정된 커패시턴스값(예컨데 '5')은 1행 1열에 배치된 기준 전극그룹(220)에서 측정된 커패시턴스값(예컨데 '0')과 인접한 범위를 갖기 때문에, 2행 1열에 배치된 대상 전극그룹(230)은 특정 전극그룹(240)으로 분류될 수 있다.
이와 같이, 2행 1열에 배치된 대상 전극그룹(230)이 특정 전극그룹(240)으로 분류됨에 따라, 다시 말해서, 적어도 하나의 특정 전극그룹(240)이 존재함에 따라, 쇼트 불량이 발생되었다고 판단할 수 있다. 보다 구체적으로, 이 경우에는 2행 1열에 배치된 대상 전극그룹(230)이 1행 1열에 배치된 대상 전극그룹(230)과 전기적으로 쇼트되었다고 판단할 수 있다.
다음, 상기 전극그룹(200)에 포함된 복수개의 전극패드(110) 간의 쇼트 불량을 테스트하기 위한 개별테스트를 수행한다.
전술한 바와 같이 전극그룹(200)을 이용하여 그룹테스트를 수행할 경우에는, 예컨데 80개의 전극패드(110)를 검사하는 방식과 달리, 단순히 20개의 전극그룹(200)만을 검사하면 되기 때문에, 연산량 및 전력 소모를 낮추는 것이 가능하며, 검사 시간을 단축하는 것이 가능하다.
하지만, 상기 그룹테스트에서는 전극그룹(200)에 포함된 복수개의 전극패드(110) 간에 쇼트 불량이 발생한 경우인데도 불구하고 정상 판정이 나올 수 있다. 즉, 상기 그룹테스트에서는 전극그룹(200)에 포함된 복수개의 전극패드(110)가 하나의 전극으로 간주되기 때문에, 전극그룹(200)에 포함된 복수개의 전극패드(110) 간에 쇼트 불량이 발생하더라도, 전극그룹(200) 간에 쇼트 불량이 발생하지 않는 한 정상 판정이 나올 수 있다.
따라서, 전술한 그룹테스트를 수행한 결과 정상 판정이 나온 경우에는 전극그룹(200)에 포함되는 복수개의 전극패드(110) 간의 쇼토 불량을 테스트하기 위한 개별테스트를 수행할 수 있다.
상기 개별테스트는 요구되는 조건 및 설계 사양에 따라 다양한 방식으로 구현될 수 있다. 일 예로, 도 3을 참조하면, 상기 전극그룹(200)에 포함된 복수개의 전극패드(110) 간의 쇼트 불량을 테스트하기 위한 개별테스트를 수행하는 단계는, 상기 전극그룹(200)에 포함된 복수개의 전극패드(110) 중 적어도 하나의 기준전극패드(220')와 기준전극패드(220')를 제외한 나머지 대상전극패드(230')를 정의하는 단계(S31), 상기 기준전극패드(220') 및 대상전극패드(230')에 각각 차별화된 전기신호를 인가하는 단계(S32), 상기 기준전극패드(220') 및 대상전극패드(230')로부터 전기적 특성값을 측정하는 단계(S33), 상기 대상전극패드(230') 중 기준전극패드(220')에서 측정된 전기적 특성값과 인접한 전기적 특성값을 갖는 특정전극패드(240')의 유무를 확인하는 단계(S34), 및 상기 특정전극패드(240')가 적어도 하나 존재하면 전극그룹(200)에 포함된 복수개의 전극패드(110) 간의 쇼트 불량으로 판단하는 단계(S35)를 포함할 수 있다.
도 13을 참조하면, 정상적인 패널(100)에는 복수개의 전극패드(110)로 이루어진 복수개의 전극그룹(200)이 정의되며, 각 전극그룹(200)에 포함된 각 전극패드(201~204)는 전극패드배선(220)을 통해 터치감지회로(300)에 각각 연결된다. 전술한 바와 같이, 개별테스트시에는 전극그룹(200)에 포함된 복수개의 전극패드(201~204)가 전기적으로 서로 분리되어 개별적인 전극으로 간주될 수 있다.
반면, 전극그룹(200)에 포함된 전극패드(201~204) 간의 쇼트 불량이 발생된 쇼트 불량 패널(100)의 일 예로서, 도 14 및 도 15를 참조하면, 공정오류 등의 원인에 의해 특정 전극그룹(200)에 포함된 특정 전극패드(201)에 연결된 전극패드배선(220)이 동일한 전극그룹(200)에 속하는 다른 전극패드(202)에 연결되거나, 동일한 전극그룹(200)에 속하는 인접한 전극패드배선(220)이 서로 연결될 경우될 경우 쇼트 불량이 발생한다.
본 발명의 일 실시예에 따른 개별테스트는, 특정 전극그룹(200)에 포함되는 복수개의 전극패드(201~204) 중 미리 정의된 기준전극패드(220')에 기설정된 전압을 인가하여 기준전극패드(220')로부터 비정상적인 전기적 특성값이 출력되도록 한 상태에서, 기준전극패드(220')에 인가되는 기설정된 전압과 차별화된 전압이 인가되는 나머지 대상전극패드(230')의 전기적 특성값을 측정하여 쇼트 불량 여부를 판단할 수 있도록 구성된다.
먼저, 특정 전극그룹(200)에 포함된 복수개의 전극패드(201~204) 중 적어도 하나의 기준전극패드(220')와 기준전극패드(220')를 제외한 나머지 대상전극패드(230')를 정의한다.
상기 기준전극패드(220')는 요구되는 조건 및 검사 환경에 따라 다양하게 정의될 수 있다. 일 예로, 첫번째 개별테스트 공정에서는 특정 전극그룹(200)에 속하는 2(행)*2(열)로 배치된 전극패드(201~204) 중 1행 1열에 배치된 전극패드(201)가 기준전극패드(220')로 정의될 수 있고, 두번째 개별테스트 공정에서는 특정 전극그룹(200)에 속하는 2(행)*2(열)로 배치된 전극패드(201~204) 중 1행 2열에 배치된 전극패드(202)가 기준전극패드(220')로 정의될 수 있다. 이러한 방식으로 테스트 공정별로 특정 전극그룹(200)에 속하는 서로 다른 전극패드(201~204)가 기준전극패드(220')로 순차적으로 정의될 수 있다. 가령, 특정 전극그룹(200)이 4개의 전극패드(201~204)를 포함할 경우, 개별테스트 공정은 4개의 전극패드(201~204)를 순차적으로 기준전극패드(220')로 정의하여 총 4번이 수행될 수 있다.
참고로, 본 발명의 실시예에서는 특정 전극그룹(200)에 속하는 복수개의 전극패드(201~204) 중 단 하나의 기준전극패드(220')만이 정의된 예를 들어 설명하고 있지만, 경우에 따라서는 테스트 시간을 단축할 수 있도록 2개 이상의 전극패드가 기준전극패드로 정의될 수 있으며, 기준전극패드의 갯수 및 위치에 의해 본 발명이 제한되거나 한정되는 것은 아니다.
상기 대상전극패드(230')는 특정 전극그룹(200)에 속하는 복수개의 전극패드(201~204) 중 기준전극패드(220')를 제외한 나머지 전극패드(201~204)들로 정의될 수 있다.
다음, 특정 전극그룹(200)에 속하는 기준전극패드(220')와 대상전극패드(230')에 차별화된 전기신호를 인가한다.
여기서, 특정 전극그룹(200)에 속하는 기준전극패드(220')와 대상전극패드(230')에 차별화된 전기신호를 인가한다 함은, 기준전극패드(220')에 인가되는 전기신호와 대상전극패드(230')에 인가되는 전기신호가 서로 다른 것으로 이해될 수 있다. 일 예로, 기준전극패드(220')에 인가되는 전압과 대상전극패드(230')에 인가되는 전압이 서로 다를 수 있다. 또한, 기준전극패드(220')와 대상전극패드(230')에 인가되는 전압이 서로 다르다 함은, 기준전극패드(220')와 대상전극패드(230')에 각각 인가되는 전압이 서로 다른 주파수, 진폭, 파형 등이 다른 펄스 파형을 갖는 것으로 이해될 수 있다.
이하에서는, 특정 전극그룹(200)에 속하는 기준전극패드(220')에 기설정된 전압이 인가되고, 특정 전극그룹(200)에 속하는 대상전극패드(230')에는 기준전극패드(220')에 인가되는 기설정된 전압과 다른 크기의 전압이 인가되도록 구성된 예를 들어 설명하기로 한다.
전술한 바와 같이, 특정 전극그룹(200)에 속하는 복수개의 전극패드(201~204) 중 미리 정의된 기준전극패드(220')에는 기설정된 전압이 인가되고, 특정 전극그룹(200)에 속하는 복수개의 전극패드(201~204) 중 기준전극패드(220')를 제외한 나머지 대상전극패드(230')에는 차별화된 전압이 인가된다.
참고로, 본 발명에서 기준전극패드(220')(및/또는 대상전극패드)에 기설정된 전기신호가 인가된다 함은, 전압 신호의 종류인 통상의 그라운드 전압 및 전원 전압을 포함하는 DC 전압, AC 전압이 기준전극패드(220')에 인가되거나, 펄스 신호, 커패시턴스 로드(capacitance load) 및 전류원 등과 같은 다른 전기신호가 기준전극패드(220')에 인가될 수 있는 것으로 이해될 수 있다.
다음, 특정 전극그룹(200)에 속하는 기준전극패드(220') 및 대상전극패드(230')로부터 전기적 특성값을 측정한다.
참고로, 본 발명에서 특정 전극그룹(200)에 속하는 기준전극패드(220') 및 대상전극패드(230')로부터 측정되는 전기적 특성값이라 함은, 특정 전극그룹(200)에 속하는 기준전극패드(220') 및 대상전극패드(230')로부터 측정될 수 있는 전기적 특성에 대한 측정값을 의미하며, 전기적 측정값의 종류 및 특성에 의해 본 발명이 제한되거나 한정되는 것은 아니다. 이하에서는, 특정 전극그룹(200)에 속하는 기준전극패드(220') 및 대상전극패드(230')로부터 측정되는 전기적 특성값으로서, 기준전극패드(220') 및 대상전극패드(230')에 대한 터치 데이터로 사용될 수 있는 커패시턴스값이 이용된 예를 들어 설명하기로 한다.
일 예로, 상기 패널(100)에 10*8 행렬 형태로 제공되는 80개의 전극패드(110)는 4개 단위 기준(2*2 행렬 형태)으로 그룹화되어 총 5(행)*4(열)=20개의 전극그룹(200)을 형성할 수 있으며, 각 전극그룹(200)에 포함된 4개의 전극패드(201~204)에는 각각 전극패드배선(220)이 연결될 수 있다.
다시 도 13을 참조하면, 정상 패널(100)의 경우, 특정 전극그룹(200)에 포함된 2*2 행렬 형태를 갖는 각 전극패드(201~204)로부터 커패시턴스를 측정한 결과, 복수개의 전극패드(201~204) 중 1행 1열에 배치된 기준전극패드(220')를 제외하고, 나머지 대상전극패드(230')에서는 예컨데 '100'이라는 커패시턴스값이 동일하게 산출될 수 있다.
특정 전극그룹(200)에 포함된 기준전극패드(220') 및 대상전극패드(230')로부터 전기적 특성값을 측정하는 동안, 상기 기준전극패드(220')에는 기설정된 전압(비정상적인 전압)이 인가되는 상태가 유지되고, 상기 대상전극패드(230')에는 다른 전압(정상적인 전압)이 인가되는 상태가 유지되기 때문에, 상기 기준전극패드(220')로부터는 비정상적인 캐패시턴스값이 측정될 수 있고, 상기 대상전극패드(230')에서는 정상적인 캐패시턴스값이 측정될 수 있다.
일 예로, 특정 전극그룹(200)에 포함된 기준전극패드(220')에 비정상적인 전압이 인가되는 동안 기준전극패드(220')로부터는 ADC(Analog Digital Converter) full에 해당하는 커패시턴스값이 측정될 수 있다. 이와 같은 현상은, 터치감지회로(300)의 경우 커패시턴스에 출입하는 전류 또는 전하를 측정하는 방식을 기반으로 하기 때문에, 기준전극패드(220')에 측정하려는 커패시턴스와 무관하게 비정상적으로 전류가 통과될 경우, 비정상적인 커패시턴스값이 측정될 수 있다. 예컨데, 특정 전극그룹(200)에 포함된 1행 1열에 배치된 기준전극패드(220')에 비정상적인 전압이 인가되는 동안, 기준전극패드(220')로부터는 '0'이라는 커패시턴스값이 산출될 수 있다.
이와 같이 정상 패널(100)의 경우, 특정 전극그룹(200)에 포함된 복수개의 전극패드(201~204) 중 1행 1열에 배치된 기준전극패드(220')에 비정상적인 전압이 인가되는 동안, 기준전극패드(220')에서는 '0'이라는 커패시턴스값이 산출되고, 특정 전극그룹(200)에 포함된 복수개의 전극패드(201~204) 중 정상적인 전압이 인가되는 나머지 대상전극패드(230')에서는 '100'이라는 커패시턴스값이 동일하게 산출되기 때문에, 1행 1열에 배치된 기준전극패드(220')가 나머지 대상전극패드(230')와 전기적으로 쇼트되지 있지 않음을 알 수 있다.
반면, 쇼트 불량이 발생된 패널(100)인 경우, 특정 전극그룹(200)에 포함된 대상전극패드(230') 중 기준전극패드(220')에서 측정된 전기적 특성값과 인접한 전기적 특성값을 갖는 특정전극패드(240')의 유무를 확인하고, 상기 특정전극패드(240')가 적어도 하나 존재하면 특정 전극그룹(200)에 포함된 전극패드(201~204) 간에 쇼트 불량이 발생한 것으로 판단할 수 있다.
다시 도 14를 참조하면, 쇼트 불량이 발생된 패널(100)인 경우, 특정 전극그룹(200)에 포함된 2(행)*2(열)=4개의 전극패드(201~204) 중 1행 1열에 배치된 기준전극패드(220')에 비정상적인 전압을 인가하고, 나머지 대상전극패드(230')에 정상적인 전압을 인가한 상태에서, 4개의 전극패드(201~204)(기준전극패드 및 대상전극패드)로부터 커패시턴스값을 측정한 결과, 1행 1열에 배치된 기준전극패드(220')로부터는 예컨데 '0'이라는 커패시턴스값이 측정될 수 있고, 1행 2열에 배치된 대상전극패드(230')로부터는 예컨데 '10'이라는 커패시턴스값이 측정될 수 있으며, 1행 2열에 배치된 대상전극패드(230')를 제외한 나머지 3개의 대상전극패드(230')로부터는 '100'이라는 커패시턴스값이 동일하게 산출될 수 있다.
상기와 같이, 특정 전극그룹(200)에 포함된 2(행)*2(열)=4개의 전극패드(201~204) 중 1행 2열에 배치된 대상전극패드(230')에는 비정상적인 전압이 인가되지 않았음에도 불구하고, 1행 2열에 배치된 대상전극패드(230')에서 측정된 커패시턴스값(예컨데 '10')은 1행 1열에 배치된 기준전극패드(220')에서 측정된 커패시턴스값(예컨데 '0')과 인접한 범위를 갖기 때문에, 1행 2열에 배치된 대상전극패드(230')는 특정전극패드(240')로 분류될 수 있다.
아울러, 본 발명에서 특정전극패드(240')라 함은, 특정 전극그룹(200)에 포함된 복수개의 대상전극패드(230') 중 기준전극패드(220')에서 측정된 전기적 특성값과 인접한 전기적 특성값을 갖는 특정 대상전극패드(230')로 이해될 수 있다. 경우에 따라서는, 특정 전극그룹에 포함된 복수개의 대상전극패드의 전기적 특성값을 서로 비교하여, 복수개의 대상전극패드 중 기설정된 이탈 범위에 해당하는 전기적 특성값을 갖는 특정 대상전극패드를 특정전극패드로 분류하는 것이 가능하다.
이와 같이, 특정 전극그룹(200)에 포함된 복수개의 전극패드(201~204) 중 1행 2열에 배치된 대상전극패드(230')가 특정전극패드(240')로 분류됨에 따라, 다시 말해서, 적어도 하나의 특정전극패드(240')가 존재함에 따라, 특정 전극그룹(200)에 포함된 복수개의 전극패드(201~204) 간에 쇼트 불량이 발생되었다고 판단할 수 있다. 보다 구체적으로, 이 경우에는 특정 전극그룹(200)에 포함된 복수개의 전극패드(201~204) 중 1행 2열에 배치된 대상전극패드(230')가 1행 1열에 배치된 대상전극패드(230')와 전기적으로 쇼트되었다고 판단할 수 있다.
도 15를 참조하면, 쇼트 불량이 발생된 패널(100)의 다른 일 예로서, 특정 전극그룹(200)에 포함된 2(행)*2(열)=4개의 전극패드(201~204) 중 1행 2열에 배치된 기준전극패드(220')에 비정상적인 전압을 인가하고, 나머지 대상전극패드(230')에 정상적인 전압을 인가한 상태에서, 4개의 전극패드(201~204)(기준전극패드 및 대상전극패드)로부터 커패시턴스값을 측정한 결과, 1행 2열에 배치된 기준전극패드(220')로부터는 예컨데 '0'이라는 커패시턴스값이 측정될 수 있고, 2행 1열에 배치된 대상전극패드(230')로부터는 예컨데 '10'이라는 커패시턴스값이 측정될 수 있으며, 2행 1열에 배치된 대상전극패드(230')를 제외한 나머지 3개의 대상전극패드(230')로부터는 '100'이라는 커패시턴스값이 동일하게 산출될 수 있다.
상기와 같이, 특정 전극그룹(200)에 포함된 2(행)*2(열)=4개의 전극패드(110) 중 2행 1열에 배치된 대상전극패드(230')에는 비정상적인 전압이 인가되지 않았음에도 불구하고, 2행 1열에 배치된 대상전극패드(230')에서 측정된 커패시턴스값(예컨데 '10')은 1행 2열에 배치된 기준전극패드(220')에서 측정된 커패시턴스값(예컨데 '0')과 인접한 범위를 갖기 때문에, 2행 1열에 배치된 대상전극패드(230')는 특정전극패드(240')로 분류될 수 있다.
이와 같이, 특정 전극그룹(200)에 포함된 2(행)*2(열)=4개의 전극패드(201~204) 중 2행 1열에 배치된 대상전극패드(230')가 특정전극패드(240')로 분류됨에 따라, 다시 말해서, 특정 전극그룹(200)에 포함된 복수개의 전극패드(201~204) 중 적어도 하나의 특정전극패드(240')가 존재함에 따라, 쇼트 불량이 발생되었다고 판단할 수 있다. 보다 구체적으로, 이 경우에는 2행 1열에 배치된 대상전극패드(230')가 1행 2열에 배치된 대상전극패드(230')와 전기적으로 쇼트되었다고 판단할 수 있다.
한편, 상기 개별테스트는 복수개의 전극그룹(200) 별로 각각 동시에 수행되는 것이 바람직하다.
복수개의 전극그룹(200)에 대해 전극그룹(200) 하나씩 순차적으로 개별테스트를 진행하는 것도 가능하지만, 이 경우에는 불가피하게 연산량, 전력 소모 및 검사 시간이 증가하게 된다. 하지만, 복수개의 전극그룹(200)에 별로 개별테스트를 동시에 수행할 경우에는 연산량 및 전력 소모를 낮추는 것이 가능하며, 검사 시간을 단축하는 것이 가능하다.
예를 들어, 5(행)*4(열)=20개의 전극그룹(200)이 정의되고, 각 전극그룹(200)이 2(행)*2(열)=4개의 전극패드(201~204)를 포함하는 경우, 복수개의 전극그룹(200)에 대해 순차적으로 개별테스트를 진행하는 경우에는, 하나의 전극그룹(200) 별로 4번씩 개별테스트를 수행해야 하기 때문에, 20개 전극그룹(200)에 대해 모두 개별테스트를 수행할 경우에는 총 4*20=80번의 개별테스트를 수행해야 한다.
반면, 복수개의 전극그룹(200) 별로 개별테스트를 동시에 수행할 경우에는 전체적인 개별테스트 횟수를 줄일 수 있다.
일 예로, 복수개의 전극그룹(200)에는 각각 기준전극패드(220') 및 대상전극패드(230')가 서로 동일한 조건으로 정의될 수 있고, 복수개의 전극그룹(200)에 각각 정의된 기준전극패드(220') 및 대상전극패드(230')에는 차별화된 전기신호가 동시에 인가될 수 있으며, 복수개의 전극그룹(200)에 각각 정의된 기준전극패드(220') 및 대상전극패드(230')로부터 전기적 특성값을 동시에 측정하여, 복수개의 전극그룹(200)에서 각각 특정전극패드(240')의 유무를 동시에 확인할 수 있다.
가령, 도 14를 참조하면, 5(행)*4(열)=20개의 전극그룹(200)이 정의되고, 각 전극그룹(200)이 2(행)*2(열)=4개의 전극패드(201~204)를 포함하는 경우, 1행 1열에 배치된 전극그룹(200)에 포함된 2(행)*2(열)=4개의 전극패드(201~204) 중, 1행 1열에 배치된 전극패드(201)가 기준전극패드(220')로 정의되고, 나머지 전극패드(202~204)를 대상전극패드(230')로 정의될 수 있으며, 나머지 19개의 전극그룹(200)에서도 동일한 조건으로 기준전극패드(220')는 1행 1열에 배치된 전극패드(201)로 정의될 수 있고, 나머지 전극패드(202~204)가 대상전극패드(230')로 정의될 수 있다.
복수개의 전극그룹(200) 별로 기준전극패드(220') 및 대상전극패드(230')가 서로 동일한 조건으로 정의된 상태에서, 각 전극그룹(200)에 정의된 기준전극패드(220') 및 대상전극패드(230')에 차별화된 전기신호가 동시에 인가될 수 있으며, 각 전극그룹(200)에 정의된 기준전극패드(220') 및 대상전극패드(230')에서 전기적 특성값을 동시에 측정하여, 각 전극그룹(200)에서 각각 특정전극패드(240')의 유무를 동시에 확인할 수 있다. 이와 같은 방식의 경우에는, 각 전극그룹(200)에 포함된 전극패드(201~204) 갯수에 대응하는 횟수로만 개별테스트를 진행하면 되기 때문에, 다시 말해서 총 20개의 전극그룹(200)에 대한 개별테스트는 각각의 전극그룹(200)에 포함된 4개의 전극패드(201~204) 개수만큼 총 4회만을 수행하면 되기 때문에, 연산량 및 전력 소모를 낮추고, 검사 시간을 단축하는 것이 가능하다.
본 발명에 따르면, 5(행)*4(열)=20개의 전극그룹(200)이 정의되고, 각 전극그룹(200)이 2(행)*2(열)=4개의 전극패드(201~204)를 포함하는 경우, 쇼트 불량 테스트를 수행하기 위해, 20회의 그룹테스트 및 4회의 개별테스트를 합쳐 총 24회의 테스트만을 수행하면 되기 때문에, 80개의 전극패드(110)를 순차적으로 검사하는 방식에 비해 테스트 공정을 간소화하는 것이 바람직하다. 더욱이 그룹테스트시 쇼트 불량이 감지되면 개별테스트를 별도로 수행할 필요없이 20회 미만의 그룹테스트 조건으로만 터치 센서의 쇼트 불량 테스트를 완료할 수 있다.
전술 및 도시한 본 발명의 실시예에서는 기준전극패드(220') 및 대상전극패드(230')가 복수개의 전극그룹(200) 별로 서로 동일한 조건으로 정의된 상태에서, 복수개의 전극그룹(200) 별로 개별테스트를 동시에 수행한 예를 들어 설명하고 있지만, 경우에 따라서는 기준전극패드 및 대상전극패드가 복수개의 전극그룹 별로 서로 다르게 정의된 조건에서, 복수개의 전극그룹 별로 개별테스트를 동시에 수행하는 것도 가능하다. 예컨데, 5(행)*4(열)=20개의 전극그룹이 정의되고, 각 전극그룹이 2(행)*2(열)=4개의 전극패드를 포함하는 경우, 1행 1열에 배치된 전극그룹에서는 1행 1열에 배치된 전극패드가 기준전극패드로 정의될 수 있고, 1행 2열에 배치된 전극그룹에서는 1행 2열에 배치된 전극패드가 기준전극패드로 정의될 수 있으며, 1행 1열에 배치된 전극그룹 및 1행 2열에 배치된 전극그룹에서는 동시에 개별테스트가 수행될 수 있다.
상술한 바와 같이, 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만 해당 기술분야의 숙련된 당업자라면 하기의 청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
100 : 패널 110 : 전극패드
120 : 전극그룹배선 200 : 전극그룹
220 : 기준전극그룹 230 : 대상전극그룹
240 : 특정전극그룹 220' : 기준전극패드
230' : 대상전극패드 240' : 특정전극패드
300 : 터치감지회로

Claims (10)

  1. 자기 정전용량방식의 전극패드를 이용한 터치 센서의 쇼트 불량(short defection)을 감지하기 위한 방법에 있어서,
    복수개의 전극패드 중 서로 인접한 전극패드를 각각 그룹화하여 복수개의 전극그룹을 정의하는 단계;
    복수개의 상기 전극그룹 간의 쇼트 불량을 테스트하기 위한 그룹테스트를 수행하는 단계;
    상기 전극그룹에 포함된 복수개의 전극패드 간의 쇼트 불량을 테스트하기 위한 개별테스트를 수행하는 단계; 및
    상기 그룹테스트 및 상기 개별테스트 중 적어도 어느 하나에서 쇼트 불량이 감지되면 터치 센서의 쇼트 불량으로 판단하는 단계;를 포함하며,
    상기 복수개의 전극그룹 중 각각은 상기 그룹화된 전극패드 중 적어도 하나를 출력라인에 선택적으로 연결하는 멀티플렉서를 포함하며,
    상기 그룹테스트를 수행하는 단계에서 상기 멀티플렉서는 각 전극그룹에서 상기 그룹화된 전극패드를 모두 상기 출력라인에 연결하여 쇼트 불량을 그룹 단위로 테스트하며,
    상기 개별테스트를 수행하는 단계에서 상기 멀티플렉서는 각 전극그룹에서 상기 그룹화된 전극패드를 하나씩 상기 출력라인에 연결하여 쇼트 불량을 전극패드 단위로 테스트하되, 상기 복수개의 전극그룹에서의 상기 개별테스트가 동시에 수행되는 것을 특징으로 하는 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 전극그룹에 포함된 복수개의 전극패드는 전기적으로 연결되거나 분리 가능하게 제공되되,
    상기 그룹테스트를 수행하는 단계에서, 상기 전극그룹에 포함된 복수개의 전극패드는 전기적으로 서로 연결되어 하나의 전극으로 간주되고,
    상기 개별테스트를 수행하는 단계에서, 상기 전극그룹에 포함된 복수개의 전극패드는 전기적으로 서로 분리되어 개별적인 전극으로 간주되는 것을 특징으로 하는 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 복수개의 상기 전극그룹 간의 쇼트 불량을 테스트하기 위한 그룹테스트를 수행하는 단계는,
    복수개의 상기 전극그룹 중 적어도 하나의 기준전극그룹과 상기 기준전극그룹을 제외한 나머지 대상전극그룹을 정의하는 단계;
    상기 기준전극그룹 및 상기 대상전극그룹에 각각 차별화된 전기신호를 인가하는 단계;
    상기 기준전극그룹 및 상기 대상전극그룹으로부터 전기적 특성값을 측정하는 단계;
    상기 대상전극그룹 중, 상기 기준전극그룹에서 측정된 상기 전기적 특성값과 인접한 전기적 특성값을 갖는 특정전극그룹의 유무를 확인하는 단계; 및
    상기 특정전극그룹이 적어도 하나 존재하면 상기 전극그룹 간의 쇼트 불량으로 판단하는 단계;
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 기준전극그룹 및 상기 대상전극그룹으로부터 전기적 특성값을 측정하는 단계에서,
    상기 기준전극그룹에는 기설정된 전압이 인가되는 상태가 유지되고, 상기 대상전극그룹에는 상기 기설정된 전압과 다른 전압이 인가되는 상태가 유지되는 것을 특징으로 하는 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법.
  5. 제2항에 있어서,
    상기 전극그룹에 포함된 복수개의 전극패드 간의 쇼트 불량을 테스트하기 위한 개별테스트를 수행하는 단계는,
    상기 전극그룹에 포함된 복수개의 전극패드 중 적어도 하나의 기준전극패드와 상기 기준전극패드를 제외한 나머지 대상전극패드를 정의하는 단계;
    상기 기준전극패드 및 상기 대상전극패드에 각각 차별화된 전기신호를 인가하는 단계;
    상기 기준전극패드 및 상기 대상전극패드로부터 전기적 특성값을 측정하는 단계;
    상기 대상전극패드 중, 상기 기준전극패드에서 측정된 상기 전기적 특성값과 인접한 전기적 특성값을 갖는 특정전극패드의 유무를 확인하는 단계; 및
    상기 특정전극패드가 적어도 하나 존재하면 상기 전극그룹에 포함된 복수개의 전극패드 간의 쇼트 불량으로 판단하는 단계;
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 전극그룹에 포함된 복수개의 전극패드 간의 쇼트 불량을 테스트하기 위한 개별테스트를 수행하는 단계에서,
    상기 개별테스트는 복수개의 전극그룹 별로 각각 동시에 수행되는 것을 특징으로 하는 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법.
  7. 제6항에 있어서,
    복수개의 상기 전극그룹에는 각각 상기 기준전극패드 및 상기 대상전극패드가 서로 동일한 조건으로 정의되고,
    복수개의 상기 전극그룹에 각각 정의된 상기 기준전극패드 및 상기 대상전극패드에는 상기 차별화된 전기신호가 동시에 인가되며,
    복수개의 상기 전극그룹에 각각 정의된 상기 기준전극패드 및 상기 대상전극패드로부터 상기 전기적 특성값을 동시에 측정하여, 복수개의 상기 전극그룹에서 각각 상기 특정전극패드의 유무를 동시에 확인하는 것을 특징으로 하는 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법.
  8. 제5항에 있어서,
    상기 기준전극패드 및 상기 대상전극패드로부터 전기적 특성값을 측정하는 단계에서,
    상기 기준전극패드에는 기설정된 전압이 인가되는 상태가 유지되고, 상기 대상전극패드에는 상기 기설정된 전압과 다른 전압이 인가되는 상태가 유지되는 것을 특징으로 하는 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법.
  9. 제3항 또는 제5항에 있어서,
    상기 전기적 특성값은 커패시턴스값을 포함하는 것을 특징으로 하는 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법.
  10. 제3항 또는 제5항에 있어서,
    상기 차별화된 전기신호는 DC 전압, AC 전압, 펄스 신호, 커패시턴스 로드(capacitance load) 및 전류원 중 어느 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법.
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