KR101530190B1 - 접촉 감지 패널 검사 장치 및 방법 - Google Patents

접촉 감지 패널 검사 장치 및 방법 Download PDF

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Abstract

접촉 감지 패널에 포함된 감지 전극 및 배선패턴의 정전용량을 측정하고, 상기 측정된 정전용량에 기초하여 상기 접촉 감지 패널의 불량여부를 판단하는 접촉 감지 패널 검사 장치 및 방법이 개시된다.
접촉 감지 패널, 감지 전극, 배선패턴, 검사, 불량

Description

접촉 감지 패널 검사 장치 및 방법{APPRATUS AND METHOD FOR TESTING TOUCH SENSING PANEL}
접촉 감지 패널 검사 장치 및 방법이 개시된다. 특히, 접촉 감지 패널에 포함된 감지 전극 및 배선패턴에 대한 불량 발생 여부를 검사할 수 있는 접촉 감지 패널 검사 장치 및 방법이 개시된다.
최근, 다양한 정보기기의 출현으로 인해, 이러한 정보기기를 제어할 수 있는 입력 장치에 대한 관심이 증폭되고 있다.
특히, 터치(touch) 스크린이나 터치 키 등과 같이, 접촉 입력 기반의 입력 장치에 대한 연구가 많이 진행되고 있다.
터치 스크린이나 터치 키 등의 접촉 감지 장치는 접촉이 발생하면, 상기 접촉이 발생한 위치를 파악하여 상기 접촉에 따라 전자기기의 동작을 제어함으로써, 사용자에게 직관적인 입력 인터페이스를 제공해 줄 수 있다.
일반적으로 접촉 감지 장치에는 감지 전극과 배선패턴으로 구성된 접촉 감지 패널이 포함될 수 있다.
보통, 접촉 감지 패널에 불량이 발생하였는지 여부에 대한 검사는 육안으로 실시되고 있다.
하지만, 육안으로는 접촉 감지 패널의 불량여부를 정확히 검사하기 어려운 점이 있다. 특히, 접촉 감지 패널에 포함된 감지 전극들은 투명한 색을 갖는 경우가 있어, 이러한 감지 전극에 불량이 발생한 경우, 육안으로는 불량 발생 여부를 식별하는데 한계가 있을 수 있다.
따라서, 접촉 감지 패널의 불량여부를 정확히 판단할 수 있는 검사 방안에 대한 연구가 필요하다.
접촉 감지 패널에 포함된 감지 전극 및 배선패턴의 정전용량을 측정하여 접촉 감지 패널의 불량여부를 판단함으로써, 접촉 감지 패널의 불량여부를 정확히 판단할 수 있는 접촉 감지 패널 검사 장치 및 방법을 제공하고자 한다.
또한, 접촉 감지 패널에 포함된 감지 전극에 대한 전압 응답 패턴을 기초로 시상수를 측정하여 접촉 감지 패널의 불량여부를 판단함으로써, 접촉 감지 패널의 불량여부를 정확히 판단할 수 있는 접촉 감지 패널 검사 장치 및 방법을 제공하고자 한다.
본 발명의 일실시예에 따른 접촉 감지 패널 검사 장치는 접촉 감지 패널에 포함된 감지 전극 및 배선패턴의 정전용량을 측정하는 측정부 및 상기 측정된 정전용량에 기초하여 상기 접촉 감지 패널의 불량여부를 판단하는 판단부를 포함한다.
또한, 본 발명의 또 다른 일실시예에 따른 접촉 감지 패널 검사 장치는 접촉 감지 패널에 포함된 감지 전극에 대한 전압 응답 패턴에 기초하여 시상수를 측정하는 측정부 및 상기 측정된 시상수에 기초하여 상기 접촉 감지 패널의 불량여부를 판단하는 판단부를 포함한다.
또한, 본 발명의 일실시예에 따른 접촉 감지 패널 검사 방법은 접촉 감지 패널에 포함된 감지 전극 및 배선패턴의 정전용량을 측정하는 단계 및 상기 측정된 정전용량에 기초하여 상기 접촉 감지 패널의 불량여부를 판단하는 단계를 포함한 다.
또한, 본 발명의 또 다른 일실시예에 따른 접촉 감지 패널 검사 방법은 접촉 감지 패널에 포함된 감지 전극에 대한 전압 응답 패턴에 기초하여 시상수를 측정하는 단계 및 상기 측정된 시상수에 기초하여 상기 접촉 감지 패널의 불량여부를 판단하는 단계를 포함한다.
접촉 감지 패널에 포함된 감지 전극 및 배선패턴의 정전용량을 측정하여, 접촉 감지 패널의 불량여부를 판단할 수 있는 접촉 감지 패널 검사 장치 및 방법을 제공함으로써, 접촉 감지 패널의 불량여부를 정확히 판단할 수 있다.
또한, 접촉 감지 패널에 포함된 감지 전극에 대한 전압 응답 패턴을 기초로 시상수를 측정하여, 접촉 감지 패널의 불량여부를 판단하는 접촉 감지 패널 검사 장치 및 방법을 제공함으로써, 접촉 감지 패널의 불량여부를 정확히 판단할 수 있다.
한편, 접촉 감지 패널의 감지 채널 별로, 또는 감지 전극과 배선패턴을 서로 구분하여 불량 발생 여부를 판단할 수 있는 접촉 감지 패널 검사 장치 및 방법을 제공함으로써, 접촉 감지 패널의 생산 및 제조 공정의 수율을 높이는 데에 기여할 수 있다.
이하에서, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 실시예들을 상세히 설명한다. 그러나, 본 발명이 실시예들에 의해 제한되거나 한정되는 것은 아니다. 또 한, 각 도면에 제시된 동일한 참조 부호는 동일한 부재를 나타낸다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 접촉 감지 패널 검사 장치를 도시한 도면이다.
도 1을 참조하면, 접촉 감지 패널(110) 및 접촉 감지 패널 검사 장치(140)가 도시되어 있다.
보통, 접촉 감지 패널(110)은 도 1에 도시된 바와 같이, 적어도 하나의 감지 전극(111, 112, 113, 114), 적어도 하나의 배선패턴(121, 122, 123, 124) 및 적어도 하나의 본딩패드(131, 132, 133, 134)를 포함할 수 있다.
여기서, 적어도 하나의 감지 전극(111, 112, 113, 114)은 접촉에 따라 정전용량의 변화를 발생시킬 수 있는 모든 전극을 의미한다. 예컨대, 적어도 하나의 감지 전극(111, 112, 113, 114)는 ITO 전극일 수 있다.
또한, 적어도 하나의 배선패턴(121, 122, 123, 124)은 적어도 하나의 감지 전극(111, 112, 113, 114)과 적어도 하나의 본딩패드(131, 132, 133, 134)를 전기적으로 연결하기 위한 도선으로, 전기 전도성을 가진 모든 물질로 형성 가능하다. 예컨대, 적어도 하나의 배선패턴(121, 122, 123, 124)은 은(silver)으로 형성 가능하다.
이하에서는 적어도 하나의 감지 전극(111, 112, 113, 114), 적어도 하나의 배선패턴(121, 122, 123, 124) 및 적어도 하나의 본딩패드(131, 132, 133, 134)의 연결관계를 설명하기로 한다.
먼저, 본 명세서에서는 적어도 하나의 감지 전극(111, 112, 113, 114)을 각 각 감지 전극 1(111), 감지 전극 2(112), 감지 전극 3(113) 및 감지 전극 4(114)로 명명하고, 적어도 하나의 배선패턴을 각각 배선패턴 1(121), 배선패턴 2(122), 배선패턴 3(123) 및 배선패턴 4(124)로 명명하며, 적어도 하나의 본딩패드(131, 132, 133, 134)를 각각 본딩패드 1(131), 본딩패드 2(132), 본딩패드 3(133) 및 본딩패드 4(134)로 명명하기로 한다.
감지 전극 1(111)은 도 1에 도시된 바와 같이, 배선패턴 1(121)을 통해 본딩패드 1(131)과 연결될 수 있고, 감지 전극 2(112)는 배선패턴 2(122)를 통해 본딩패드 2(132)와 연결될 수 있다.
그리고, 감지 전극 3(113)은 배선패턴 3(123)을 통해 본딩패드 3(133)과 연결될 수 있고, 감지 전극 4(114)는 배선패턴 4(124)를 통해 본딩패드 4(134)와 연결될 수 있다.
본 발명의 일실시예에 따른 접촉 감지 패널 검사 장치(140)는 측정부(141), 판단부(142)를 포함한다.
측정부(141)는 접촉 감지 패널(110)에 포함된 적어도 하나의 감지 전극(111, 112, 113, 114) 및 적어도 하나의 감지 전극(111, 112, 113, 114) 각각에 연결된 적어도 하나의 배선패턴(121, 122, 123, 124)의 정전용량(capacitance)을 측정한다.
판단부(142)는 상기 측정된 정전용량에 기초하여 접촉 감지 패널(110)의 불량여부를 판단한다.
본 발명의 일실시예에 따르면, 측정부(141)는 접촉 감지 패널(110)의 감지 채널 별로 상기 감지 채널 각각에 연결된 적어도 하나의 감지 전극(111, 112, 113, 114) 및 적어도 하나의 배선패턴(121, 122, 123, 124)의 정전용량을 측정할 수 있다.
이때, 본 발명의 일실시예에 따르면, 측정부(141)는 각 감지 채널 별로 감지 전극의 정전용량과 배선패턴의 정전용량의 합을 측정할 수 있다.
예컨대, 감지 전극 1(111)과 배선패턴 1(121)이 연결되어 있는 채널을 감지 채널 1, 감지 전극 2(112)와 배선패턴 2(122)가 연결되어 있는 채널을 감지 채널 2, 감지 전극 3(113)과 배선패턴 3(123)이 연결되어 있는 채널을 감지 채널 3 및 감지 전극 4(114)와 배선패턴 4(124)가 연결되어 있는 채널을 감지 채널 4라고 가정하자.
측정부(141)는 본딩패드 1(131)과 접촉하여 감지 채널 1에 연결되어 있는 감지 전극 1(111)의 정전용량과 배선패턴 1(121)의 정전용량의 합을 측정할 수 있다.
또한, 측정부(141)는 본딩패드 2(132)와 접촉하여 감지 채널 2에 연결되어 있는 감지 전극 2(112)의 정전용량과 배선패턴 2(122)의 정전용량의 합을 측정할 수 있다.
또한, 측정부(141)는 본딩패드 3(133)과 접촉하여 감지 채널 3에 연결되어 있는 감지 전극 3(113)의 정전용량과 배선패턴 3(123)의 정전용량의 합을 측정할 수 있다.
또한, 측정부(141)는 본딩패드 4(134)와 접촉하여 감지 채널 4에 연결되어 있는 감지 전극 4(114)의 정전용량과 배선패턴 4(124)의 정전용량의 합을 측정할 수 있다.
이때, 본 발명의 일실시예에 따르면, 판단부(142)는 상기 감지 채널 별로 측정한 정전용량이 선정된(predetermined) 임계 범위 이내에 포함되는지 여부를 판단하여, 상기 감지 채널 중 적어도 하나의 감지 채널에서 측정한 정전용량이 상기 선정된 임계 범위를 벗어나는 경우, 접촉 감지 패널(110)이 불량인 것으로 판단할 수 있다.
예컨대, 측정부(141)가 감지 채널 1에서 측정한 정전용량을 C1이라고 하고, 감지 채널 2에서 측정한 정전용량을 C2라고 하며, 감지 채널 3에서 측정한 정전용량을 C3라고 하고, 감지 채널 4에서 측정한 정전용량을 C4라고 가정하자.
그리고, 선정된 임계 범위의 상한을 Cmax라고 하고, 하한을 Cmin이라고 가정하자.
이때, 본 발명의 일실시예에 따르면, 상기 선정된 임계 범위는 접촉 감지 패널(110) 이외에 다른 복수의 접촉 감지 패널에 포함된 감지 전극들 및 배선패턴들의 정전용량을 측정하여 통계적으로 산출된 정전용량 분포 범위일 수 있다.
예컨대, 상기 선정된 임계 범위는 복수의 접촉 감지 패널에 포함된 감지 전극들 및 배선패턴들의 정전용량을 측정하고, 상기 측정된 정전용량의 평균 및 표준편차를 이용하여 산출될 수 있다. 즉, 상기 선정된 임계 범위는 감지 전극 및 배선패턴이 정상인 것으로 판정되기 위한 정전용량 조건 범위를 의미한다.
판단부(142)는 C1, C2, C3, C4가 Cmin과 Cmax의 범위 이내에 포함되는지 여부를 판단한다.
만약, 판단부(142)의 판단결과, C1, C2, C3, C4 중에서 어느 하나 정전용량이라도 Cmin과 Cmax의 범위를 벗어나는 경우, 판단부(142)는 접촉 감지 패널(110)이 불량인 것으로 판단할 수 있다.
이때, 본 발명의 일실시예에 따르면, 접촉 감지 패널 검사 장치(140)는 접촉 감지 패널(110)의 불량여부에 대한 판단 결과를 디스플레이하는 표시부(143)를 더 포함할 수 있다.
또한, 본 발명의 일실시예에 따르면, 표시부(143)는 상기 감지 채널 별로 측정한 정전용량이 상기 선정된 임계 범위 이내에 포함되는지 여부에 대한 판단 결과를 디스플레이할 수 있다.
예컨대, 판단부(142)가 C1, C2, C3, C4 중에서 C1이 Cmin과 Cmax의 범위를 벗어나는 것으로 판단한 경우, 표시부(143)는 감지 채널 1에서 불량이 발생하였음을 디스플레이할 수 있다.
결국, 본 발명의 일실시예에 따른 접촉 감지 패널 검사 장치(140)는 불량이 발생한 감지 채널을 표시부(143)를 통해 출력함으로써, 특정한 감지 채널에서 지속적으로 불량이 발생하는 경우, 해당 감지 채널의 생산 공정 혹은 생산 라인만을 수정하여 제조 상의 불량 발생 요인을 보다 효과적으로 제거할 수 있다.
또한, 본 발명의 일실시예에 따르면, 판단부(142)는 상기 감지 채널 중에서 적어도 하나의 감지 채널에서 측정한 정전용량이 상기 선정된 임계 범위를 벗어나는 경우, 상기 적어도 하나의 감지 채널에서 측정한 정전용량을 감지 전극의 불량 조건 및 배선패턴의 불량 조건과 각각 비교하여 상기 적어도 하나의 감지 채널에 연결된 감지 전극 및 배선 패턴의 불량여부를 각각 판단할 수 있다.
이때, 상기 감지 전극의 불량 조건은 접촉 감지 패널(110)이 아닌 복수의 다른 접촉 감지 패널에 포함된 감지 전극들의 정전용량을 측정하여 통계적으로 산출한 정전용량의 분포 범위를 의미하고, 상기 배선패턴의 불량 조건은 접촉 감지 패널(110)이 아닌 복수의 다른 접촉 감지 패널에 포함된 배선패턴들의 정전용량을 측정하여 통계적으로 산출한 정전용량의 분포 범위를 의미한다.
이와 관련하여 판단부(142)의 동작을 예를 들어 상세히 설명하기로 한다.
먼저, 상기 선정된 임계 범위의 하한이 80, 상한이 100이라고 가정하자.
그리고, 감지 전극이 불량이 아닌 경우, 정전용량 분포 범위가 하한이 50, 상한이 60이라고 가정하자.
그리고, 배선패턴이 불량이 아닌 경우, 정전용량 분포 범위가 하한이 30, 상한이 40이라고 가정하자.
만약, 측정부(141)가 감지 채널 1에 대해 정전용량을 측정한 결과, C1이 20인 것으로 측정된 경우, 판단부(142)는 접촉 감지 패널(110)을 불량으로 판단함과 동시에, C1과 상기 감지 전극의 불량 조건 및 상기 배선패턴의 불량 조건을 비교하여 배선패턴 1(121)을 불량으로 판단할 수 있다.
이는 배선패턴 1(121)이 측정부(141)와 가까운 쪽에 연결되어 있어, 배선패턴 1(121)에서 크랙(crack) 등의 불량이 발생한 경우, C1이 정상 배선패턴의 정전용량 분포 범위의 하한 값보다 작은 값으로 측정될 수 있기 때문이다.
반면, 측정부(141)가 감지 채널 1에 대해 정전용량을 측정한 결과, C1이 45인 것으로 측정된 경우, 판단부(142)는 접촉 감지 패널(110)을 불량으로 판단함과 동시에, C1과 상기 감지 전극의 불량 조건 및 상기 배선패턴의 불량 조건을 비교하여 감지 전극 1(121)을 불량으로 판단할 수 있다.
즉, 판단부(142)는 C1이 정상 배선패턴의 정전용량 분포범위의 상한 값보다 크기 때문에, 배선패턴은 정상적으로 형성되었으나, C1이 상기 선정된 임계 범위의 하한 값보다는 작은 값이므로, 감지전극 1(121)에서 불량이 발생한 것으로 판단할 수 있다.
상기와 같이, 감지 전극과 배선패턴 중 불량이 발생한 요소를 구분하여 판단함으로써, 생산 공정에서 불량률이 높은 단계를 찾을 수 있다. 즉, 상대적으로 감지 전극보다 배선패턴에서 불량이 자주 발생하는 것으로 나타나면, 배선패턴 제조 공정을 수정하여 불량률을 낮춤으로써, 제품 전체의 수율을 높일 수 있을 것이다. 따라서, 본 실시예에 따른 검사 장치 및 방법은 단순히 제품의 불량 여부를 판단하는 것 이외에 제품의 생산 수율을 높이는 데 기여할 수 있다.
또한, 본 발명이 일실시예에 따르면, 측정부(141) 및 판단부(142)는 하나의 칩(chip)으로 구현될 수 있다.
즉, 도 1의 실시예에서는 측정부(141) 및 판단부(142)를 별도의 구성요소로 구분하고 있지만, 본 발명의 다른 실시예에서는 측정부(141) 및 판단부(142)를 하나의 칩으로 구현할 수 있다.
이상, 도 1을 참조하여, 정전용량을 측정하고, 측정된 정전용량을 기초로 접촉 감지 패널(110)의 불량여부를 판단하는 접촉 감지 패널 검사 장치(120)에 대한 본 발명의 실시예를 상세히 설명하였다.
하지만, 본 발명의 또 다른 일실시예에 따른 접촉 감지 패널 검사 장치(120)는 전술한 실시예와는 달리, 적어도 하나의 감지 전극(111, 112, 113, 114)에 대한 전압 응답 패턴에 기초하여 시상수를 측정한 후 상기 시상수를 이용하여 접촉 감지 패널(110)의 불량여부를 판단할 수 있다. 따라서, 이하에서는 본 발명의 또 다른 일실시예에 따른 접촉 감지 패널 검사 장치(120)에 대해 상세히 설명하기로 한다.
먼저, 접촉 감지 패널(110)에 포함되어 있는 적어도 하나의 감지 전극(111, 112, 113, 114)과 적어도 하나의 배선패턴(121, 122, 123, 124)는 RC 회로로 표현될 수 있다. 이와 관련하여, 적어도 하나의 감지 전극(111, 112, 113, 114)과 적어도 하나의 배선패턴(121, 122, 123, 124) 중 어느 하나의 감지 전극과 배선패턴을 RC 회로로 표현한 도면이 도 2에 도시되어 있다.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 감지 전극과 배선패턴에 대한 등가회로를 도시한 도면이다.
이하에서는 도 2에 도시된 등가회로에 대해 감지 전극 1(111)과 배선패턴 1(121)을 이용하여 설명하기로 한다.
감지 전극 1(111)과 배선패턴 1(121)은 도 2에 도시된 바와 같이, RC 1차 회로로 표현될 수 있다.
여기서, 저항 R(210)은 배선패턴 1(121)의 저항을 의미하고, 커패시터 C(220)는 감지 전극 1(111)의 정전용량을 의미한다.
도면부호 240에 도시된 그래프는 도 2에 도시된 회로에 전원이 공급되는 경우, 커패시터 C(220) 양단의 전압 V(230) 변화를 나타낸 그래프이다.
커패시터 C(220) 양단의 전압 V(230)는 시상수(time constant)의 크기에 따라 정상(stable)상태까지 도달하는 시간이 달라지는데, 보통, 시상수가 클수록 커패시터 C(220) 양단의 전압 V(230)가 정상상태까지 도달하는 시간이 많이 소모된다.
따라서, 도면부호 240에서 응답곡선 1(241), 응답곡선 2(242), 응답곡선 3(243)에 대한 시상수의 크기는 응답곡선 1(241), 응답곡선 2(242), 응답곡선 3(243)의 순으로 증가한다.
만약, 배선패턴 1(121)이 불량이거나 감지 전극 1(111)이 불량인 관계로, 배선패턴 1(121)의 저항이 정상적인 배선패턴의 저항 값 범위에 속하지 않거나 감지 전극 1(111)의 정전용량이 정상적인 감지 전극의 정전용량의 범위에 속하지 아니한 경우, 도 2에 도시된 회로에 대한 시상수 값은 배선패턴 1(121)과 감지 전극 1(111)이 정상인 경우 도출될 수 있는 시상수 값의 범위에 속하지 않을 수 있다.
따라서, 본 발명의 일실시예에 따른 접촉 감지 패널 검사 장치(120)는 접촉 감지 패널(110)에 포함된 적어도 하나의 감지 전극(111, 112, 113, 114)에 대한 전압 응답 패턴에 기초하여 시상수를 측정한 후 상기 측정된 시상수를 이용하여 접촉 감지 패널(110)의 불량여부를 판단할 수 있다.
이와 관련하여, 측정부(141)는 접촉 감지 패널(110)에 포함된 적어도 하나의 감지 전극(111, 112, 113, 114)에 대한 전압 응답 패턴에 기초하여 시상수를 측정한다.
판단부(142)는 상기 측정된 시상수에 기초하여 접촉 감지 패널(110)의 불량여부를 판단한다.
본 발명의 일실시예에 따르면, 측정부(141)는 접촉 감지 패널(110)의 감지 채널 별로 적어도 하나의 감지 전극(111, 112, 113, 114)에 대한 전압 응답 패턴에 기초하여 시상수를 측정할 수 있다.
또한, 본 발명의 일실시예에 따르면, 측정부(141)는 상기 감지 채널 별로 적어도 하나의 감지 전극(111, 112, 113, 114) 및 적어도 하나의 배선패턴(121, 122, 123, 124)에 소정의 전압을 공급하고, 상기 공급된 전압에 의한 적어도 하나의 감지 전극(111, 112, 113, 114)의 전압변화를 측정함으로써, 상기 전압 응답 패턴을 추출할 수 있다. 이때, 상기 전압 응답 패턴은, 저항과 커패시터로 표현되는 등가 회로에 전압을 공급함으로써 발생하는 과도 응답으로 나타날 수 있다.
예컨대, 측정부(141)는 감지 채널 1에 전원을 공급하여 감지 전극 1(111)에 대한 전압 응답 패턴을 기초로 감지 채널 1에 대한 시상수를 측정할 수 있다.
또한, 측정부(141)는 감지 채널 2에 전원을 공급하여 감지 전극 2(112)에 대한 전압 응답 패턴을 기초로 감지 채널 2에 대한 시상수를 측정할 수 있다.
또한, 측정부(141)는 감지 채널 3에 전원을 공급하여 감지 전극 3(113)에 대한 전압 응답 패턴을 기초로 감지 채널 3에 대한 시상수를 측정할 수 있다.
또한, 측정부(141)는 감지 채널 4에 전원을 공급하여 감지 전극 4(114)에 대한 전압 응답 패턴을 기초로 감지 채널 4에 대한 시상수를 측정할 수 있다.
이때, 본 발명의 일실시예에 따르면, 판단부(142)는 상기 감지 채널 별로 측정한 시상수가 선정된 임계 범위 이내에 포함되는지 여부를 판단하여, 상기 감지 채널 중 적어도 하나의 감지 채널에서 측정한 시상수가 상기 선정된 임계 범위를 벗어나는 경우, 접촉 감지 패널(110)이 불량인 것으로 판단할 수 있다.
예컨대, 측정부(141)가 감지 채널 1에 대한 시상수를 τ1으로 측정하였고, 감지 채널 2에 대한 시상수를 τ2로 측정하였으며, 감지 채널 3에 대한 시상수를 τ3로 측정하였고, 감지 채널 4에 대한 시상수를 τ4로 측정하였다고 가정하자.
그리고, 선정된 임계 범위의 상한을 τmax라고 하고, 하한을 τmin이라고 가정하자.
이때, 본 발명의 일실시예에 따르면, 상기 선정된 임계 범위는 접촉 감지 패널(110) 이외에 다른 복수의 접촉 감지 패널에 포함된 감지 전극들에 대한 전압 응답 패턴에 기초하여, 통계적으로 산출된 시상수 분포 범위일 수 있다.
예컨대, 상기 선정된 임계 범위는 복수의 접촉 감지 패널에 포함된 감지 전 극들 및 배선패턴들에 대한 시상수를 측정하고, 상기 측정된 시상수의 평균 및 표준편차를 이용하여 산출될 수 있다. 즉, 상기 선정된 임계 범위는 감지 전극 및 배선패턴이 정상인 것으로 판정되기 위한 시상수 조건 범위를 의미한다.
판단부(142)는 τ1, τ2, τ3, τ4가 τmin과 τmax의 범위 이내에 포함되는지 여부를 판단한다.
만약, 판단부(142)의 판단결과, τ1, τ2, τ3, τ4 중에서 어느 하나 시상수라도 τmin과 τmax의 범위를 벗어나는 경우, 판단부(142)는 접촉 감지 패널(110)이 불량인 것으로 판단할 수 있다.
이때, 본 발명의 일실시예에 따르면, 접촉 감지 패널(110)는 접촉 감지 패널(110)의 불량여부에 대한 판단 결과를 디스플레이하는 표시부(143)를 더 포함할 수 있다.
또한, 본 발명의 일실시예에 따르면, 표시부(143)는 상기 감지 채널 별로 측정한 시상수가 상기 선정된 임계 범위 이내에 포함되는지 여부에 대한 판단 결과를 디스플레이할 수 있다.
예컨대, 판단부(142)가 τ1, τ2, τ3, τ4 중에서 τ1이 τmin과 τmax의 범위를 벗어나는 것으로 판단한 경우, 표시부(143)는 감지 채널 1에서 불량이 발생하였음을 디스플레이할 수 있다.
결국, 본 발명의 일실시예에 따른 접촉 감지 패널 검사 장치(140)는 불량이 발생한 감지 채널을 표시부(143)를 통해 출력함으로써, 특정한 감지 채널에서 지속 적으로 불량이 발생하는 경우, 해당 감지 채널의 생산 공정 혹은 생산 라인만을 수정하여 제조 상의 불량 발생 요인을 보다 효과적으로 제거할 수 있다.
또한, 본 발명의 일실시예에 따르면, 측정부(141) 및 판단부(142)는 하나의 칩으로 구현될 수 있다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 접촉 감지 패널 검사 방법을 도시한 순서도이다.
단계(S310)에서는 접촉 감지 패널에 포함된 감지 전극 및 배선패턴의 정전용량을 측정한다.
단계(S320)에서는 단계(S310)에서 측정한 정전용량에 기초하여 상기 접촉 감지 패널의 불량여부를 판단한다.
본 발명의 일실시예에 따르면, 단계(S310)에서는 상기 접촉 감지 패널의 감지 채널 별로 상기 감지 채널 각각에 연결된 상기 감지 전극 및 상기 배선패턴의 정전용량을 측정할 수 있다.
이때, 본 발명의 일실시예에 따르면, 단계(S320)에서는 상기 감지 채널 별로 측정한 정전용량이 선정된 임계 범위 이내에 포함되는지 여부를 판단하여, 상기 감지 채널 중 적어도 하나의 감지 채널에서 측정한 정전용량이 상기 선정된 임계 범위를 벗어나는 경우, 상기 접촉 감지 패널을 불량으로 판단할 수 있다.
또한, 본 발명의 일실시예에 따르면, 상기 선정된 임계 범위는 상기 접촉 감지패널을 제외한 복수의 다른 접촉 감지 패널에 포함된 감지 전극들 및 배선패턴들의 정전용량을 측정하여 통계적으로 산출된 정전용량 분포 범위일 수 있다.
도 4는 본 발명의 또 다른 일실시예에 따른 접촉 감지 패널 검사 방법을 도시한 순서도이다.
단계(S410)에서는 접촉 감지 패널에 포함된 감지 전극에 대한 전압 응답 패턴에 기초하여 시상수를 측정한다.
단계(S420)에서는 단계(S410)에서 측정한 시상수에 기초하여 상기 접촉 감지 패널의 불량여부를 판단한다.
본 발명의 일실시예에 따르면, 단계(S410)에서는 상기 접촉 감지 패널의 감지 채널 별로 상기 감지 채널 각각에 연결된 상기 감지 전극 및 배선패턴에 대한 전압 응답 패턴을 기초하여 시상수를 측정할 수 있다.
이때, 본 발명의 일실시예에 따르면, 단계(S420)에서는 상기 감지 채널 별로 측정한 시상수가 선정된 임계 범위 이내에 포함되는지 여부를 판단하여, 상기 감지 채널 중 적어도 하나의 감지 채널에서 측정한 시상수가 상기 선정된 임계 범위를 벗어나는 경우, 상기 접촉 감지 패널을 불량으로 판단할 수 있다.
또한, 본 발명의 일실시예에 따르면, 상기 선정된 임계 범위는 상기 접촉 감지 패널을 제외한 복수의 다른 접촉 감지 패널에 포함된 감지 전극들에 대한 전압 응답 패턴에 기초하여, 통계적으로 산출된 시상수 분포 범위일 수 있다.
또한, 본 발명의 일실시예에 따르면, 단계(S410)에서는 상기 감지 채널 각각에 연결된 상기 감지 전극 및 상기 배선패턴에 소정의 전압을 공급하고, 상기 공급된 전압에 의한 상기 감지 전극 및 상기 배선패턴의 전압변화를 측정함으로써, 상기 전압 응답 패턴을 추출할 수 있다.
이상, 도 3 및 도 4를 참조하여 본 발명에 따른 접촉 감지 패널 검사 방법에 대한 다양한 실시예들을 설명하였다. 여기서, 본 발명에 따른 접촉 감지 패널 검사 방법에 대한 실시예들은 도 1 및 도 2를 이용하여 설명한 접촉 감지 패널 검사 장치의 실시예들과 대응될 수 있으므로, 이에 대한 보다 상세한 설명은 생략하기로 한다.
본 발명의 일실시예에 따른 접촉 감지 패널 검사 방법은 다양한 컴퓨터 수단을 통하여 수행될 수 있는 프로그램 명령 형태로 구현되어 컴퓨터 판독 가능 매체에 기록될 수 있다. 상기 컴퓨터 판독 가능 매체는 프로그램 명령, 데이터 파일, 데이터 구조 등을 단독으로 또는 조합하여 포함할 수 있다. 상기 매체에 기록되는 프로그램 명령은 본 발명을 위하여 특별히 설계되고 구성된 것들이거나 컴퓨터 소프트웨어 당업자에게 공지되어 사용 가능한 것일 수도 있다. 컴퓨터 판독 가능 기록 매체의 예에는 하드 디스크, 플로피 디스크 및 자기 테이프와 같은 자기 매체(magnetic media), CD-ROM, DVD와 같은 광기록 매체(optical media), 플롭티컬 디스크(floptical disk)와 같은 자기-광 매체(magneto-optical media), 및 롬(ROM), 램(RAM), 플래시 메모리 등과 같은 프로그램 명령을 저장하고 수행하도록 특별히 구성된 하드웨어 장치가 포함된다. 프로그램 명령의 예에는 컴파일러에 의해 만들어지는 것과 같은 기계어 코드뿐만 아니라 인터프리터 등을 사용해서 컴퓨터에 의해서 실행될 수 있는 고급 언어 코드를 포함한다. 상기된 하드웨어 장치는 본 발명의 동작을 수행하기 위해 하나 이상의 소프트웨어 모듈로서 작동하도록 구성될 수 있으며, 그 역도 마찬가지이다.
이상과 같이 본 발명에서는 구체적인 구성 요소 등과 같은 특정 사항들과 한정된 실시예 및 도면에 의해 설명되었으나 이는 본 발명의 보다 전반적인 이해를 돕기 위해서 제공된 것일 뿐, 본 발명은 상기의 실시예에 한정되는 것은 아니며, 본 발명이 속하는 분야에서 통상적인 지식을 가진 자라면 이러한 기재로부터 다양한 수정 및 변형이 가능하다.
따라서, 본 발명의 사상은 설명된 실시예에 국한되어 정해져서는 아니되며, 후술하는 특허청구범위뿐 아니라 이 특허청구범위와 균등하거나 등가적 변형이 있는 모든 것들은 본 발명 사상의 범주에 속한다고 할 것이다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 접촉 감지 패널 검사 장치를 도시한 도면이다.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 감지 전극과 배선패턴의 등가회로를 도시한 도면이다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 접촉 감지 패널 검사 방법을 도시한 순서도이다.
도 4는 본 발명의 또 다른 일실시예에 따른 접촉 감지 패널 검사 방법을 도시한 순서도이다.

Claims (20)

  1. 삭제
  2. 접촉 감지 패널에 포함된 감지 전극 및 배선패턴의 정전용량을 측정하는 측정부; 및
    상기 측정된 정전용량에 기초하여 상기 접촉 감지 패널의 불량여부를 판단하는 판단부
    를 포함하고,
    상기 측정부는
    감지 채널을 통해 상기 감지 전극 및 상기 배선패턴과 연결되고, 상기 감지 채널 별로 상기 감지 전극 및 상기 배선패턴의 정전용량을 측정하며,
    상기 판단부는
    상기 정전용량이 선정된(predetermined) 임계 범위 이내에 포함되는지 여부를 판단하여, 상기 감지 채널 중 적어도 하나에서 측정한 정전용량이 상기 선정된 임계 범위를 벗어나는 경우, 상기 접촉 감지 패널을 불량으로 판단하는 접촉 감지 패널 검사 장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 접촉 감지 패널의 불량여부에 대한 판단 결과를 디스플레이하는 표시부
    를 더 포함하는 접촉 감지 패널 검사 장치.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 표시부는
    상기 감지 채널 별로 측정한 정전용량이 상기 선정된 임계 범위 이내에 포함되는지 여부에 대한 판단 결과를 디스플레이하는 접촉 감지 패널 검사 장치.
  5. 제2항에 있어서,
    상기 판단부는
    상기 감지 채널 중 적어도 하나에서 측정한 정전용량이 상기 선정된 임계 범위를 벗어나는 경우, 상기 측정한 정전용량을 감지 전극의 불량 조건 및 배선패턴의 불량 조건과 각각 비교하여, 상기 감지 채널 별로 상기 감지 전극 및 상기 배선패턴에 대한 불량 여부를 각각 판단하는 접촉 감지 패널 검사 장치.
  6. 제2항에 있어서,
    상기 선정된 임계 범위는
    상기 접촉 감지 패널을 제외한 복수의 다른 접촉 감지 패널에 포함된 감지 전극 및 배선패턴의 정전용량을 측정하여, 통계적으로 산출된 정전용량 분포 범위인 접촉 감지 패널 검사 장치.
  7. 접촉 감지 패널에 포함된 감지 전극에 대한 전압 응답 패턴에 기초하여 시상수를 측정하는 측정부; 및
    상기 측정된 시상수에 기초하여 상기 접촉 감지 패널의 불량여부를 판단하는 판단부
    를 포함하는 접촉 감지 패널 검사 장치.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 측정부는
    상기 감지 전극 및 배선패턴과 연결된 각각의 감지 채널로부터 추출한 전압 응답 패턴에 기초하여 시상수를 측정하고,
    상기 판단부는
    상기 시상수가 선정된(predetermined) 임계 범위 이내에 포함되는지 여부를 판단하여, 상기 감지 채널 중 적어도 하나에서 측정한 시상수가 상기 선정된 임계 범위를 벗어나는 경우, 상기 접촉 감지 패널을 불량으로 판단하는 접촉 감지 패널 검사 장치.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 접촉 감지 패널의 불량여부에 대한 판단 결과를 디스플레이하는 표시부
    를 더 포함하는 접촉 감지 패널 검사 장치.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 표시부는
    상기 감지 채널 별로 측정한 시상수가 상기 선정된 임계 범위 이내에 포함되는지 여부에 대한 판단 결과를 디스플레이하는 접촉 감지 패널 검사 장치.
  11. 제8항에 있어서,
    상기 선정된 임계 범위는
    상기 접촉 감지 패널을 제외한 복수의 다른 접촉 감지 패널에 포함된 감지 전극들에 대한 전압 응답 패턴에 기초하여, 통계적으로 산출된 시상수 분포 범위인 접촉 감지 패널 검사 장치.
  12. 제8항에 있어서,
    상기 측정부는
    상기 감지 채널 각각에 연결된 상기 감지 전극 및 상기 배선패턴에 소정의 전압을 공급하고, 상기 공급된 전압에 의한 상기 감지 전극 및 상기 배선패턴의 전압 변화를 측정함으로써 상기 전압 응답 패턴을 추출하는 접촉 감지 패널 검사 장치.
  13. 제2항 또는 제7항에 있어서,
    상기 측정부 및 판단부는 하나의 칩으로 구현되는 접촉 감지 패널 검사 장치.
  14. 삭제
  15. 접촉 감지 패널에 포함된 감지 전극 및 배선패턴의 정전용량을 측정하는 단계; 및
    상기 측정된 정전용량에 기초하여 상기 접촉 감지 패널의 불량여부를 판단하는 단계
    를 포함하고,
    상기 측정하는 단계는
    감지 채널 별로 상기 감지 채널 각각에 연결된 상기 감지 전극 및 상기 배선패턴의 정전용량을 측정하고,
    상기 판단하는 단계는
    상기 감지 채널 별로 측정한 정전용량이 선정된(predetermined) 임계 범위 이내에 포함되는지 여부를 판단하여, 상기 감지 채널 중 적어도 하나에서 측정한 정전용량이 상기 선정된 임계 범위를 벗어나는 경우, 상기 접촉 감지 패널을 불량으로 판단하는 접촉 감지 패널 검사 방법.
  16. 제15항에 있어서,
    상기 선정된 임계 범위는
    상기 접촉 감지 패널을 제외한 복수의 다른 접촉 감지 패널에 포함된 감지 전극 및 배선패턴의 정전용량을 측정하여 통계적으로 산출된 정전용량 분포 범위인 접촉 감지 패널 검사 방법.
  17. 접촉 감지 패널에 포함된 감지 전극에 대한 전압 응답 패턴에 기초하여 시상수를 측정하는 단계; 및
    상기 측정된 시상수에 기초하여 상기 접촉 감지 패널의 불량여부를 판단하는 단계
    를 포함하는 접촉 감지 패널 검사 방법.
  18. 제17항에 있어서,
    상기 측정하는 단계는
    상기 감지 전극 및 배선 패턴과 연결된 감지 채널 각각으로부터 추출한 전압 응답 패턴에 기초하여 시상수를 측정하고,
    상기 판단하는 단계는
    상기 감지 채널 별로 측정한 시상수가 선정된(predetermined) 임계 범위 이내에 포함되는지 여부를 판단하여, 상기 감지 채널 중 적어도 하나에서 측정한 시상수가 상기 선정된 임계 범위를 벗어나는 경우, 상기 접촉 감지 패널을 불량으로 판단하는 접촉 감지 패널 검사 방법.
  19. 제18항에 있어서,
    상기 선정된 임계 범위는
    상기 접촉 감지 패널을 제외한 복수의 다른 접촉 감지 패널에 포함된 감지 전극들에 대한 전압 응답 패턴에 기초하여, 통계적으로 산출된 시상수 분포 범위인 접촉 감지 패널 검사 방법.
  20. 제18항에 있어서,
    상기 측정하는 단계는,
    상기 감지 채널 각각에 연결된 상기 감지 전극 및 상기 배선패턴에 소정의 전압을 공급하고, 상기 공급된 전압에 의한 상기 감지 전극 및 배선패턴의 전압 변화를 측정함으로써 상기 전압 응답 패턴을 추출하는 접촉 감지 패널 검사 방법.
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