CN107407985A - 触控面板控制基板的检查方法以及触控面板控制器 - Google Patents

触控面板控制基板的检查方法以及触控面板控制器 Download PDF

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Abstract

提供一种可以简便地进行安装不良的检查的触控面板控制基板的检测方法。基于根据被提供至第一驱动线用端子(101E)的驱动信号而在其他的驱动线用端子(102E·103E)中所得到的响应，检测第一驱动线用端子(101E)和驱动线用端子(102E·103E)的电性连接状态。

Description

触控面板控制基板的检查方法以及触控面板控制器
技术领域
本发明涉及触控面板控制基板的检查方法以及触控面板控制器，特别是涉及用于驱动静电电容方式的触控面板控制基板的检查方法以及触控面板控制器。
背景技术
现有技术中，已知有各种方式作为触控面板装置的触摸位置检测方式。特别是利用静电电容的静电电容方式的触控面板装置，由于可以利用操作者的指尖直接进行触控操作，或者通过由导电性材料制成的简便的手写笔来进行触控操作，因此具有较高的便利性。
一般来说，静电电容方式的触控面板装置包括：与多条驱动线(第一电极)和多条感应线(第二电极)以立体交叉而配置构造的触控面板本体、和控制触控面板本体的触控面板控制器。
触控面板控制器通过连接器连接于触控面板，在施加驱动信号至驱动线的同时，基于感应线生成的感应信号(响应信号)检测出触摸位置。具体地说，通过使导电性的物体接近或者接触触控面板本体，在多条驱动线和多条感应线的交叉部所形成的静电电容会产生变化。触控面板控制器通过由感应线生成的感应信号，在驱动线和感应线的交叉位置的触控面板本体的各坐标中检测出信号强度，从而可以检测出触摸位置。
通常，触控面板控制器以及连接器构成为安装于印刷基板或柔性基板的触控面板控制基板。在触控面板控制基板制作时进行的检查工程中，将触控面板本体连接于触控面板控制基板，基于可否在触摸触控面板本体时检测出触摸位置而判断触控面板控制基板的优劣。
在专利文献1中，作为用于这样的触控面板的检查的检查装置，记载了具备探针的触控面板检查装置，该探针可以以接近人的手指的按压力来接触触控面板本体。根据专利文献1的触控面板检查装置，可以有效且准确地进行触控面板本体的检查。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本国公开专利公报「特开2013-174939号公报(2013年9月5日公开)」
发明内容
本发明所要解决的技术问题
构成触控面板控制基板的印刷基板(或者是柔性基板)和触控面板控制器等，由供应商实施详细地优劣检查。
因此，在触控面板控制基板的优劣检查中可以实施与触控面板控制基板制作工程中发生的“安装不良(开路不良，短路不良)”相关的检查，检查实施者没有必要一定用自身的手指来进行触摸触控面板本体的检查，或使用专利文献1的触控面板检查装置进行详细地检查。
另一方面，为了实施使用专利文献1的触控面板检查装置的检查，或用检查实施者自身的手指来进行触摸触控面板本体的现有的检查，有必要将触控面板本体连接至触控面板控制基板，通常，每一制品需要几十秒的时间。此外，用专利文献1的触控面板检查装置或检查实施者自身的手指来进行触摸触控面板本体也需要时间，通常，每一制品需要几十秒到几分钟的时间。这样，在现有的检测方法中，存在如下问题：检查时间增大，且触控面板控制基板的制造成本上升。
进一步的，近年来，正开展着触控面板的面板尺寸的大型化。在大型的触控面板中，由于伴随着驱动线和感应线的条数增加以及触摸面积的扩大，则在进行触摸触控面板本体的检查方法中，会产生制造成本越来越上升的问题。
本发明是为了解决上述问题点而完成的，其目的在于提供一种触控面板控制基板的检查方法以及触控面板控制器，该触控面板控制基板的检查方法通过连接器将触控面板控制器连接至触控面板本体而不驱动触控面板本体，从而可以在将触控面板控制器和连接器安装于基板的工程中简便地进行安装不良的检查。
用于解决技术问题的手段
为了解决上述课题，本发明的一个方式涉及的触控面板控制基板的检查方法，是包括针对触控面板本体具备的多条信号线，通过连接器提供驱动信号的触控面板控制器的触控面板控制基板的检查方法，其特征在于，包含：通过所述连接器将所述驱动信号提供至分别电性连接于所述信号线的多个的连接端子的提供步骤；基于根据被提供至所述连接端子的所述驱动信号在该连接端子以外的其他的连接端子中所得到的响应，检测该连接端子与该其他的连接端子的电性连接状态的检测步骤。
此外，为了解决上述课题，本发明的一种方式涉及的触控面板控制基板的检查方法，是包括触控面板控制器的触控面板控制基板的检查方法，所述触控面板控制器针对触控面板本体具备的多条信号线，通过连接器提供驱动信号，其特征在于，包含：通过所述连接器，将所述驱动信号提供至电性连接于所述信号线的连接端子的提供步骤；在测定提供有所述驱动信号的所述连接端子的静电电容值的同时，基于所述静电电容值，检测该连接端子与相邻的连接端子的电性连接状态的检测步骤。
此外，为了解决上述课题，本发明的一种方式涉及的触控面板控制器，是针对触控面板本体具备的多条信号线，通过连接器提供驱动信号的触控面板控制器，其特征在于，包括：通过所述连接器分别电性连接于所述信号线的多个连接端子；提供所述驱动信号至所述连接端子的驱动电路；基于根据被提供至所述连接端子的所述驱动信号而在该连接端子以外的其他的连接端子中所得到的响应，检测该连接端子与该其他的连接端子的电性连接状态的检测部。
发明效果
根据本发明的一个方式，可以提供一种触控面板控制基板的检查方法以及触控面板控制器，该触控面板控制基板的检查方法用于不驱动通过连接器使触控面板控制器连接至触控面板本体的触控面板本体，就在将触控面板控制器和连接器安装于基板的工程中简便地进行安装不良的检查。
附图说明
[图1]是表示本发明的实施方式一涉及的触控面板装置的各构成的概略图。
[图2]是表示触控面板控制器的构成的概略图。
[图3]是表示本发明的实施方式一涉及的触控面板控制器的概略构成的框图。
[图4]是表示作为驱动电路的一个示例的逆变器电路的构成以及动作的图。
[图5]是表示作为电压测定电路的一个示例的比较器电路的构成以及动作的图。
[图6]是表示本发明的实施方式二涉及的触控面板控制器的概略构成的框图。
[图7]是表示本发明的实施方式三涉及的触控面板控制器的概略构成的框图。
[图8]是表示本发明的实施方式四涉及的触控面板控制器的概略构成的框图。
[图9]是表示本发明的实施方式五涉及的触控面板控制器的概略构成的框图。
[图10]是表示作为电容检测电路的一个示例的模拟积分器的构成以及动作的图。
[图11]是表示本发明的实施方式六涉及的触控面板控制器的概略构成的框图。
[图12]是表示本发明的实施方式七涉及的触控面板控制器的概略构成的框图。
[图13]是表示本发明的实施方式八涉及的触控面板控制器的概略构成的框图。
[图14]是表示本发明的实施方式九涉及的触控面板控制器的概略构成的框图。
[图15]是表示复用器的构成的电路图。
[图16]是表示检查短路不良时的触控面板控制基板的概略构成的框图。
[图17]是表示检查断线不良时的触控面板控制基板的概略构成的框图。
具体实施方式
〔实施方式一〕
以下，基于图1～图5对本发明的实施方式进行详细地说明。
图1是表示本发明的实施方式一涉及的触控面板装置的各构成的概略图。触控面板装置1包括触控面板本体10和触控面板控制基板20。
触控面板本体10包括：触控传感器片11、用于与触控面板控制基板20连接的连接电缆12·13。
在触控传感器片11上以立体交叉设置了未图示的多条驱动线(信号线)和多条感应线(信号线)。
触控面板控制基板20包括：连接印刷基板21上的触控面板控制器100、触控传感器片11的连接电缆12·13的连接用连接器23·24、电源·接口用连接器25。
图2是表示触控面板控制器的构成的概略图。
如图2所示，触控面板控制器100包括：用于电性连接于触控面板本体10的驱动线，并施加驱动信号至驱动线的端子(驱动线用端子)；用于电性连接于触控面板本体10的感应线，并接收感应线生成的感应信号(响应信号)的端子(感应线用端子)；电源端子及接口端子。驱动线用端子和感应线用端子被连接至用于与触控传感器片11连接的连接用连接器23·24(连接器)。此外，电源端子和接口端子被连接至电源·接口用连接器25。
现有的检查工程中，在通过连接电缆12·13及连接用连接器23·24将触控面板控制基板20连接至触控面板本体10的同时，通过电源·接口用连接器25将计算机或试验用检查装置等连接至触控面板控制基板20，在连接了电源及控制信号的状态下，在触控传感器片11上用触摸用的治具或检查实施者自身的手指来实施触摸检查。
针对于此，本实施方式的触控面板装置1中，由于触控面板控制器100具备后述特征的构成，可以不驱动使触控面板控制器100连接至触控面板本体10的触控面板本体10，就在触控面板控制基板20的安装工程中简便地进行安装不良的检查。
<触控面板控制器的构成>
图3是表示本实施方式的触控面板控制器的概略构成的框图。触控面板控制器100包括：i个的驱动线用端子101E·102E·103E(连接端子)、j个的感应线用端子111F·112F·113F(连接端子)、和电压测定结果输出用端子124。在触控面板装置1中，i个的各驱动线用端子连接于触控面板本体10的各驱动线，j个的各感应线用端子连接于触控面板本体10的各感应线。
驱动线用端子101E·102E·103E连接有切换驱动线用端子和驱动线用驱动电路101A·102A·103A连接的开关101C·102C·103C，以及切换驱动线用端子和驱动线用电压测定电路101B·102B·103B(检测部、电压测定部)连接的开关101D·102D·103D。
感应线用端子111F·112F·113F连接有切换感应线电容检测电路111A·112A·113A、感应线用端子和感应线用驱动电路111B·112B·113B连接的开关111D·112D·113D，以及切换感应线用端子和感应线用电压测定电路111C·112C·113C(检测部、电压测定部)连接的开关111E·112E·113E。
切换驱动线用端子和驱动线用驱动电路连接的开关101C·102C·103C，以及切换感应线用端子和感应线用驱动电路连接的开关111D·112D·113D连接有驱动电路切换电路121。
驱动线用驱动电路101A·102A·103A以及感应线用驱动电路111B·112B·113B连接有驱动信号生成部120。
切换驱动线用端子和驱动线用电压测定电路的连接的开关101D·102D·103D，以及切换感应线用端子和感应线用电压测定电路的连接的开关111E·112E·113E连接有电压测定电路切换电路122。
驱动线用电压测定电路101B·102B·103B以及感应线用电压测定电路111C·112C·113C连接有电压测定结果判定电路123(检测部、运算部)。电压测定结果判定电路123连接有电压测定结果输出用端子124。
图4是表示作为驱动电路的一个示例的逆变器电路的构成以及动作的图。
驱动线用驱动电路提供驱动信号至驱动线用端子，感应线用驱动电路提供驱动信号至感应线用驱动端子。
作为驱动线用驱动电路101A·102A·103A，可以使用例如图4所示的逆变器电路130。此外，作为感应线用驱动电路111B·112B·113B可以同样地使用图4所示的逆变器电路130。
如图4所示，逆变器电路130由PMOS晶体管和NMOS晶体管而形成。当逆变器电路130输入低电平信号至输入端子130A时，输出端子130B输出高电平信号，当输入高电平信号至输入端子130A时，输出端子130B输出低电平信号。
图5是表示作为电压测定电路的一个示例的比较器电路的构成以及动作的图。
作为驱动线用电压测定电路101B·102B·103B以及感应线用电压测定电路111C·112C·113C，可以使用例如图5所示的比较器电路140。
比较器电路140比较输入端子140A的电压值和参考电压Vref的电压值。在输入端子电压大于Vref的情况下输出高电平至输出端子140B，在输入端子电压小于Vref的情况下输出低电平至输出端子140B。
如后述的，在电压测定电路101B·102B·103B·111C·112C·113C中，由于可以判定驱动线用端子101E·102E·103E或者感应线用端子111F·112F·113F的电压是否为0，作为参考电压Vref，可以选定例如0.1V这样的超过0V的值。
电压测定结果判定电路123将电压测定电路101B·102B·103B·111C·112C·113C的输出结果依次输出至电压测定结果输出用端子124。或者，电压测定结果判定电路123也可以对电压测定电路101B·102B·103B·111C·112C·113C的输出电平进行逻辑运算，并将结果输出至电压测定结果输出用端子124。
例如，在电压测定结果判定电路123实施了或运算(逻辑和的运算)的情况下，在多个电压测定电路的至少一个的电压测定电路上输出高电平时，电压测定结果输出用端子124输出高电平。此外，在电压测定结果判定电路123实施了与运算(逻辑积的运算)的情况下，在多个电压测定电路的至少一个的电压测定电路上输出低电平时，电压测定结果输出用端子124输出低电平。
<触控面板控制基板的检测方法>
触控面板控制基板20上安装了具有上述构造的触控面板控制器100。触控面板控制器100包括多个的驱动线用端子以及多个的感应线用端子，在任意的端子与其他的端子短路(short)了的情况下成为短路不良(short不良)。此外，在任意的端子与安装于触控面板控制基板上的连接用连接器23·24之间的电性连接断开了(开路)的情况下则成为断线不良(开路不良)。
下面表示不连接触控面板本体10，就检查在触控面板控制基板制作工程中发生的“安装不良(开路不良，短路不良)的方法。
使用驱动电路切换电路121依次切换开关101C·102C·103C·111D·112D·113D，并从多个存在的驱动线用端子以及感应线用端子的一个中输出高电平信号(驱动信号)(提供步骤)。
并且，电压测定电路切换电路122依次切换开关101D·102D·103D·111E·112E·113E，或者连接所有端子，电压测定电路在测定多个存在的驱动线用端子及感应线用端子的电压(检测步骤)时，输出表示有无端子之间的电性连接的双值的任一个(高或低)。
这个时候，连接输出高电平的信号的端子和该端子的电压测定电路的开关被控制为不连接。
<短路不良>
在触控面板控制基板20具有短路不良(short不良)的情况下，从触控面板控制器100输出的高电平的信号通过触控面板控制基板20的故障地方，会输入(返回)至触控面板控制器100的其他端子(其他的连接端子)。虽然由触控面板控制基板20的短路状态而决定，输入至触控面板控制器100的其他端子的电压是超过0V的值。
由电压测定电路来测定通过触控面板控制基板20的故障地方而输入的信号。由于所输入的信号超过0V，电压测定电路输出高电平的信号(电压测定结果输出步骤)。电压测定电路的测定结果经由电压测定结果判定电路123，输出至电压测定结果输出用端子124。当电压测定结果判定电路123实施或运算(运算步骤)时，电压测定结果输出用端子124输出高电平。
如以上那样，在具有短路不良(short不良)的情况下，电压测定结果输出用端子124输出高电平。
<断线不良>
触控面板控制基板是否有断线不良(开路不良)的检查，可以使用短电缆等容易地检查，该短电缆用于将被安装于触控面板控制基板上的连接用连接器23·24的所有端子短路。
具体地说，通过将短电缆连接至触控面板控制基板的外部上的连接用连接器23·24，作为驱动线以及感应线有意短路(short)的状态，在各端子被短路的状态下开始检查。
在触控面板控制基板20上的电性连接断线(开路)了的情况下，从触控面板控制器100所输入的高电平的信号没有到达被安装于触控面板控制基板20的连接用连接器23·24。连接用连接器23·24虽然使用短电缆等治具将驱动线和感应线短路，由于高电平的信号没有到达连接用连接器23·24，因此不会被输入(不会返回)至触控面板控制器的其他端子。因此，被输入至触控面板控制器100的其他端子的电压为0V。
由于所输入的信号电平为0V，电压测定电路输出低电平的信号。电压测定电路的测定结果经由电压测定结果判定电路123，被输出至电压测定结果输出用端子124。当电压测定结果判定电路123实施与运算(运算步骤)时，电压测定结果输出用端子124输出低电平。
如以上那样，在具有断线不良(开路不良)的情况下，电压测定结果输出用端子124输出低电平。
如以上那样，触控面板控制器100包括：驱动线用端子、驱动线用驱动电路、驱动线用电压测定电路、切换驱动线用端子和驱动线用驱动电路的连接的开关、切换驱动线用端子和驱动线用电压测定电路的连接的开关、感应线用端子、感应线用驱动电路、感应线用电压测定电路、切换感应线用端子和感应线用驱动电路的连接的开关、切换感应线用端子和感应线用电压测定电路的连接的开关、驱动电路切换电路、驱动信号生成部、电压测定电路切换电路、电压测定结果判定电路、电压测定结果输出用端子。
触控面板控制器100在驱动线用端子以及感应线用端子上依次输出驱动用信号，并测定输出的端子以外的端子的电压，内置基于该电压测定结果而输出测定结果的测试功能。即，驱动线用电压测定电路、感应线用电压测定电路以及电压测定结果判定电路构成了检测部，所述检测部基于根据被提供至驱动线用端子或者感应线用端子的高电平的信号而在其他的驱动线用端子或者感应线用端子中所得到的响应，检测驱动线用端子或者感应线用端子之间的电性连接状态(短路或者断线)。
通过内置所述测试功能，不连接触控面板本体10，就可以检查在触控面板控制基板制作工程中发生的“安装不良(开路不良，短路不良)”。
〔实施方式二〕
基于图6对本发明的其他实施方式进行说明。另外，为了方便说明，对与所述实施方式中说明的部件具有相同功能的部件标注相同标记，并省略其说明。
图6是表示本实施方式的触控面板控制器的概略构成的框图。
触控面板控制器200相对于图3所示的实施方式一的触控面板控制器100的构成，变更了电压测定结果判定电路以及电压测定结果输出用端子。具体地说，触控面板控制器200包括2个的电压测定结果判定电路123A·123B和2个的电压测定结果输出用端子124A·124B。
在电压测定结果判定电路123A(第一运算部)上，对有多个的电压测定结果执行或运算，并将结果输出至电压测定结果输出用端子124A。在电压测定结果判定电路123B(第二运算部)上，对有多个的电压测定结果执行与运算，并将结果输出至电压测定结果输出用端子124B。
在发生了短路不良(short不良)的情况下，有多个的电压测定电路的至少一个输出高电平的信号。当电压测定结果判定电路123A执行或运算时，电压测定结果输出用端子124A输出高电平的信号。
在发生了断线不良(开路不良)的情况下，有多个的电压测定电路的至少一个输出低电平的信号。当电压测定结果判定电路123B执行与运算时，电压测定结果输出用端子124B输出低电平的信号。
因此，可以判断在电压测定结果输出用端子124A输出高电平的信号的情况下发生了短路不良(short不良)，可以判断在电压测定结果输出用端子124B输出低电平的信号的情况下发生了断线不良(开路不良)。
实施方式一的触控面板控制器100由于仅具备一个电压测定结果判定电路，只能检查是短路不良(short不良)或断线不良(开路不良)的哪一个。针对于此的本实施方式的触控面板控制器200，为使可以检查短路不良(short不良)和断线不良(开路不良)的两者，且分别具备多个电压测定结果判定电路和电压测定结果输出用端子。
因此，针对短路不良(short不良)和断线不良(开路不良)的两者的故障的检查成为可能，从而提高触控面板控制基板的品质。
〔实施方式三〕
基于图7对本发明的其他实施方式进行说明。另外，为了方便说明，对与所述实施方式中说明的部件具有相同功能的部件标注相同标记，并省略其说明。
图7是表示本实施方式的触控面板控制器的概略构成的框图。触控面板控制器300包括i个的驱动线用端子301E·302E·303E、j个的感应线用端子311F·312F·313F和电压测定结果输出用端子324。
驱动线用端子301E·302E·303E连接有切换驱动线用端子和驱动线用驱动电路301A·302A·303A的连接的开关301C·302C·303C、以及切换驱动线用端子和电压测定电路330(电压测定部)的连接的开关301D·302D·303D。
感应线用端子311F·312F·313F连接有切换感应线电容检测电路311A·312A·313A、感应线用端子和感应线用驱动电路311连接的开关311D·312D·313D，以及切换感应线用端子和电压测定电路330连接的开关311E·312E·313E。
切换驱动线用端子和驱动线用驱动电路连接的开关301C·302C·303C，以及切换感应线用端子和感应线用驱动电路连接的开关311D·312D·313D连接有驱动电路切换电路321。
驱动线用驱动电路301A·302A·303A以及感应线用驱动电路311连接有驱动信号生成部320。
切换驱动线用端子和驱动线用电压测定电路的连接的开关301D·302D·303D，以及切换感应线用端子和感应线用电压测定电路的连接的开关311E·312E·313E连接有电压测定电路切换电路322。
电压测定电路切换电路322连接有电压测定结果判定电路323。电压测定结果判定电路323连接有电压测定结果输出用端子324。
感应线用驱动电路331也可以使用与驱动线用驱动电路301A·302A·303A相同的电路。具体地说，作为这些驱动电路，可以使用由图4所示的PMOS晶体管和NMOS晶体管所形成的逆变器电路130。
当逆变器电路130输入低电平信号至输入端子130A时，输出端子130B输出高电平信号，当输入高电平信号至输入端子130A时，输出端子130B输出低电平信号。
作为电压测定电路330，可以使用例如图5所示的比较器电路140。比较器电路140比较输入端子140A的电压值和参考电压Vref的电压值。在输入端子电压大于Vref的情况下输出高电平至输出端子140B，在输入端子电压小于Vref的情况下输出低电平至输出端子140B。
如所述的，在电压测定电路330中，由于可以判定驱动线用端子301E·302E·303E或者感应线用端子311F·312F·313F的电压是否为0，作为参考电压Vref，可以选定例如0.1V这样的超过0V的值。
电压测定结果判定电路323将电压测定电路330的输出结果依次输出至电压测定结果输出用端子324。此外，电压测定结果判定电路323也可以对电压测定电路330的输出电平进行逻辑运算，并将结果输出至电压测定结果输出用端子324。
例如，在电压测定结果判定电路323实施了或运算的情况下，在多个电压测定电路的至少一个的电压测定电路上输出高电平时，电压测定结果输出用端子324输出高电平。此外，在电压测定结果判定电路323实施了与运算情况下，在多个电压测定电路的至少一个的电压测定电路上输出低电平时，电压测定结果输出用端子324输出低电平。
包括本实施方式的触控面板控制器300的触控面板控制基板20的检查方法与由实施方式一说明的检查方法相同，可以不连接触控面板本体10，就检查在触控面板控制基板制作工程中发生的“安装不良(开路不良，短路不良)。
实施方式一的触控面板控制器100虽然具备多个电压测定电路和感应线用驱动电路，本实施方式的触控面板控制器300将电压测定电路和感应线用驱动电路各自削减成一个。因此，由于触控面板控制器300的电路规模变小，芯片尺寸的缩小成为可能，从而使触控面板控制器300和触控面板控制基板20的成本削减成为可能。
〔实施方式四〕
基于图8对本发明的其他实施方式进行说明。另外，为了方便说明，对与所述实施方式中说明的部件具有相同功能的部件标注相同标记，并省略其说明。
图8是表示本实施方式的触控面板控制器的概略构成的框图。
触控面板控制器400相对于图7所示的实施方式三的触控面板控制器300的构成，变更了电压测定结果判定电路以及电压测定结果输出用端子。触控面板控制器400包括2个的电压测定结果判定电路323A·323B，和2个的电压测定结果输出用端子324A·324B。
在电压测定结果判定电路323A(第一运算部)上，对有多个的电压测定结果执行或运算，并将结果输出至电压测定结果输出用端子324A。在电压测定结果判定电路323B(第二运算部)上，对有多个的电压测定结果执行与运算，并将结果输出至电压测定结果输出用端子324B。
在发生了短路不良(short不良)的情况下，有多个的电压测定电路的至少一个输出高电平的信号。当电压测定结果判定电路323A执行或运算时，电压测定结果输出用端子324A输出高电平的信号。
在发生了断线不良(开路不良)的情况下，有多个的电压测定电路的至少一个输出低电平的信号。当电压测定结果判定电路323B执行与运算时，电压测定结果输出用端子324B输出低电平的信号。
因此，可以判断在电压测定结果输出用端子324A输出高电平的信号的情况下发生了短路不良(short不良)，可以判断在电压测定结果输出用端子324B输出低电平的信号的情况下发生了断线不良(开路不良)。
实施方式三的触控面板控制器300由于仅具备一个电压测定结果判定电路，只能检查是短路不良(short不良)或断线不良(开路不良)的哪一个。针对于此的本实施方式的触控面板控制器400，为使可以检查短路不良(short不良)和断线不良(开路不良)的两者，分别具备多个电压测定结果判定电路和电压测定结果输出用端子。
因此，针对短路不良(short不良)和断线不良(开路不良)的两者的故障的检查成为可能，从而提高触控面板控制基板的品质。
此外，触控面板控制器400将电压测定电路和感应线用驱动电路各自削减成一个。因此，由于触控面板控制器400的电路规模变小，芯片尺寸的缩小成为可能，从而触控面板控制器400和触控面板控制基板20的成本削减成为可能。
〔实施方式五〕
基于图9～图10对本发明的其他实施方式进行说明。另外，为了方便说明，对与所述实施方式中说明的部件具有相同功能的部件标注相同标记，并省略其说明。
图9是表示本实施方式的触控面板控制器的概略构成的框图。触控面板控制器500包括i个的驱动线用端子501E·502E·503E、j个的感应线用端子511F·512F·513F和电容测定结果输出用端子524。
驱动线用端子501E·502E·503E连接有切换驱动线用端子和驱动线用驱动电路501A·502A·503A的连接的开关501C·502C·503C，以及切换驱动线用端子和驱动线用电容检测电路530(静电电容测定部)的连接的开关501D·502D·503D。
感应线用端子511F·512F·513F连接有切换感应线用端子和感应线用驱动电路531的连接的开关511D·512D·513D，以及切换感应线用端子和感应线电容检测电路511A·512A·513A(静电电容测定部)的连接的开关511E·512E·513E。
切换驱动线用端子和驱动线用驱动电路的连接的开关501C·502C·503C，以及切换感应线用端子和感应线用驱动电路的连接的开关511D·512D·513D连接有驱动电路切换电路521。
驱动线用驱动电路501A·502A·503A和感应线用驱动电路531连接有驱动信号生成部520。
切换驱动线用端子和驱动线用电容检测电路的连接的开关501D·502D·503D，以及切换感应线用端子和感应线电容检测电路的连接的开关511E·512E·513E连接有电容检测电路切换电路522。
驱动线用电容检测电路530和感应线电容检测电路511A·512A·513A连接有电容测定结果判定电路523。电容测定结果判定电路523连接有电容测定结果输出用端子524。
感应线用驱动电路531也可以使用与驱动线用驱动电路501A·502A·503A相同的电路。作为这些驱动电路，可以使用由图4所示的PMOS晶体管和NMOS晶体管所形成的逆变器电路130。
当逆变器电路130输入低电平信号至输入端子130A时，输出端子130B输出高电平信号，当输入高电平信号至输入端子130A时，输出端子130B输出低电平信号。
图10是表示作为电容检测电路的一个示例的模拟积分器的构成以及动作的图。
作为驱动线用电容检测电路530，可以使用如图10所示的模拟积分器540。此外，作为感应线电容检测电路511A·512A·513A，使用同样如图10所示的模拟积分器540。
模拟积分器540具有将一边的输入连接至具有电容值Cx的测定对象电容540D，将另一边的输入连接至GND的运算放大器540A。在运算放大器540A的输出和运算放大器540A的一边输入之间，互相并行地配置具有电容Cint的积分电容540B和复位开关RST。
在触控面板本体10没有连接于触控面板控制基板20的状态下，测定对象电容540D与由触控面板控制基板20上的配线而形成的寄生电容对应。
如后述，在电容检测电路中，测定对象电容540D的电容值Cx越大检测精度越好。因此，期待进行触控面板本体10连接于触控面板控制基板20的检查。
用图10说明模拟积分器540的动作。模拟积分器540连接有测定对象电容540D。测定对象电容540D的一边的端子连接有驱动开关DRV和释放开关REL。通过“开启(open)”“关闭(off)”驱动开关DRV以及释放开关REL，测定对象电容540D连接有电源540E(VDD)或者GND。
使用触控面板控制器500的驱动电路，提供至触控面板本体10的驱动线的信号电平的高电平或者低电平的变化，相当于2个开关DRV·REL的“开启”或者“关闭”。在提供至驱动线的信号电平的高电平作为VDD、低电平作为GND的情况下，与测定对象电容540D连接有电源540E或者GND是同等的。
首先，使驱动开关DRV和复位开关RST为“开启”，使释放开关REL为“关闭”。由于运算放大器放大增益而虚拟短路，运算放大器540A的输出电压Vout变为与GND电平(0V)相等。测定对象电容540D的端子间电压变为VDD，Qx＝Cx*VDD的电荷被存储。
接着，使驱动开关DRV和复位开关RST为“关闭”，使释放开关REL为“开启”。由于运算放大器540A放大增益而虚拟短路，测定对象电容540D和积分电容540B的连接点的电压变为GND。当运算放大器540A的输出电压作为Vout，积分电容540B的端子间电压变为Vout，并存储Qint＝Cint*Vout的电荷。由于Qint与所述Qx相等，则Cint*Vout＝Cx*VDD成立。
因此，Vout＝(Cx/Cint)*VDD，Cx＝(Vout/VDD)*Cint。由于VDD以及Cint是已知的，从运算放大器540A的输出电压Vout可以算出Cx。
<检查方法>
下面表示不连接触控面板本体10，就检查在触控面板控制基板制作工程中发生的“安装不良(开路不良，短路不良)的方法。
使用驱动电路切换电路521依次切换开关501C·502C·503C·511D·512D·513D，并从多个存在的驱动线用端子以及感应线用端子的一个中输出高电平信号。并且，使用电压测定电路切换电路522依次切换开关501D·502D·503D·511E·512E·513E，并测定多个存在的驱动线用端子以及感应线用端子的电容。这时，与输出高电平的信号的端子和该端子的电容检测电路连接的开关，以不连接而进行控制。
在检查在触控面板控制基板制作工程中发生的“安装不良(开路不良，短路不良)的情况下，也存在如下情况：无需必须知道正确的容量值，只需知道和成为好坏判定的指标的电容值的大小关系就足够。当Ccri作为好坏判定的指标的电容值时，将作为电压换算值的Vcri＝(Ccri/Cint)*VDD与运算放大器540A的输出电压Vout进行比较。Vcri与输出电压Vout比较的结果在Vout>Vcri的情况下为Cx>Ccri，在Vout<Vcri的情况下为Cx<Ccri。这样，基于运算放大器540A的输出电压Vout，可以进行好坏判定。
(短路不良)
在触控面板控制基板20具有短路不良(short不良)的情况下，电容值Cx(静电电容值)变大。在电容值Cx超过成为判断短路不良(short不良)的指标的电容值Cshort时，使高电平的信号从电容检测电路输出(静电电容测定结果输出步骤)。
电容检测电路的输出经由电容测定结果判定电路523，输出至电容测定结果输出用端子524。当在电容测定结果判定电路523上实施或运算时，电容测定结果输出用端子524输出高电平。
如上这样在具有短路不良(short不良)的情况下，电容测定结果输出用端子524输出高电平。
(断线不良)
在触控面板控制基板20具有断线不良(开路不良)的情况下，电容值Cx(静电电容值)变小。在电容值Cx比成为判断短路不良(short不良)的指标的电容值Cshort更小时，使低电平的信号从电容检测电路输出。
电容检测电路的输出经由电容测定结果判定电路523，被输出至电容测定结果输出用端子524。当在电容测定结果判定电路523上实施与运算时，电容测定结果输出用端子524输出低电平。
如上这样在具有断线不良(开路不良)的情况下，电容测定结果输出用端子524输出低电平。
〔实施方式六〕
基于图11对本发明的其他实施方式进行说明。另外，为了方便说明，对与所述实施方式中说明的部件具有相同功能的部件标注相同标记，并省略其说明。
图11是表示本实施方式的触控面板控制器的概略构成的框图。
触控面板控制器600相对于图9所示的实施方式五的触控面板控制器500的构成，变更了电容测定结果判定电路以及电容测定结果输出用端子。触控面板控制器600包括2个的电容测定结果判定电路523A·523B，和2个的电容测定结果输出用端子524A·524B。
在电容测定结果判定电路523A(第一运算部)上，对有多个的电容测定结果执行或运算，并将运算结果输出至电容测定结果输出用端子524A。在电容测定结果判定电路523B(第二运算部)上，对有多个的电容测定结果执行与运算，并将运算结果输出至电容测定结果输出用端子524B。
在发生了短路不良(short不良)的情况下，有多个的电容测定电路的至少一个输出高电平的信号。当电容测定结果判定电路523A执行或运算时，电容测定结果输出用端子524A输出高电平的信号。
在发生了断线不良(开路不良)的情况下，有多个的电容测定电路的至少一个输出低电平的信号。当电容测定结果判定电路523B执行与运算时，电容测定结果输出用端子524B输出低电平的信号。
因此，可以判断在电容测定结果输出用端子524A输出高电平的信号的情况下发生了短路不良(short不良)，可以判断在电容测定结果输出用端子524B输出低电平的信号的情况下发生了断线不良(开路不良)。
实施方式五的触控面板控制器500由于仅具备一个电容测定结果判定电路，只能检查是短路不良(short不良)或断线不良(开路不良)的哪一个。针对于此的本实施方式的触控面板控制器600，为使可以检查短路不良(short不良)和断线不良(开路不良)的两者，分别具备多个电容测定结果判定电路和电容测定结果输出用端子。
因此，针对短路不良(short不良)和断线不良(开路不良)的两者的故障的检查成为可能，从而提高触控面板控制基板的品质。
〔实施方式七〕
基于图12对本发明的其他实施方式进行说明。另外，为了方便说明，对与所述实施方式中说明的部件具有相同功能的部件标注相同标记，并省略其说明。
图12是表示本实施方式的触控面板控制器的概略构成的框图。
触控面板控制器700包括k个的配线用端子701E·702E·703E·704E和电容检测结果输出用端子724。
配线用端子701E·702E·703E·704E连接有切换配线用端子和配线用驱动电路701A·702A·703A·704A的连接的开关701C·702C·703C·704C，以及切换配线用端子和配线用电容检测电路701B·702B·703B·704B(静电电容测定部)的连接的开关701D·702D·703D·704D。
切换配线用端子和配线电路的连接的开关701C·702C·703C·704C连接有驱动电路切换电路721。配线用驱动电路701A·702A·703A·704A连接有驱动信号生成部720。
切换配线用端子和电容检测电路的连接的开关701D·702D·703D·704D连接有电容检测电路切换电路722。
电容检测电路701B·702B·703B·704B连接有电容检测结果判定电路723，电容检测结果判定电路723连接有电容检测结果输出用端724。
根据上述构成，通过切换触控面板控制器700的开关701C·702C·703C·704C·701D·702D·703D·704D，可以在驱动线和感应线之间切换k个的配线用端子701E·702E·703E·704E的触控面板本体10中的连接端。即，可以分别将k个的配线用端子701E·702E·703E·704E作为驱动线用的端子使用，也可以作为感应线用的端子使用。
这样，触控面板控制器700在与触控面板本体10连接时，由于可以更换触控传感器片11的驱动线和感应线来动作，从而可以更精确地触控识别。
<检查方法>
下面表示不连接触控面板本体10，就检查在触控面板控制基板制作工程中发生的“安装不良(开路不良，短路不良)的方法。
使用驱动电路切换电路721依次切换开关701C·702C·703C·704C，并从多个存在的配线用端子的一个中输出高电平信号。并且，使用电容测定电路切换电路722依次切换开关701D·702D·703D·704D，并测定多个存在的配线用端子的电容。这时，与输出高电平的信号的端子和该端子的电容检测电路连接的开关被控制为不连接。
(短路不良)
在触控面板控制基板20具有短路不良(short不良)的情况下，电容检测电路所检测出的电容值变大。在所检测出的电容值超过成为判断短路不良(short不良)的指标的电容值Cshort时，使高电平的信号从电容检测电路输出。
电容检测电路的输出经由电容检测结果判定电路723，输出至电容检测结果输出用端子724。当在电容测定结果判定电路723上实施或运算时，电容检测结果输出用端子724输出高电平。
如上这样在具有短路不良(short不良)的情况下，电容检测结果输出用端子724输出高电平。
(断线不良)
在触控面板控制基板20具有断线不良(开路不良)的情况下，电容检测电路所检测出的电容值变小。在所检测出的电容值比成为判断短路不良(short不良)的指标的电容值Cshort更小时，使低电平的信号从电容检测电路输出。
电容检测电路的输出经由电容检测结果判定电路723，输出至电容检测结果输出用端子724。当在电容检测结果判定电路723上实施与运算时，电容检测结果输出用端子724输出低电平。
如上这样在具有断线不良(开路不良)的情况下，电容检测结果输出用端子724输出低电平。
如上这样触控面板控制器700包括：配线用端子、配线用驱动电路、配线用电容检测电路、切换配线用端子和配线用驱动电路的连接的开关、切换配线用端子和配线用电容检测电路的连接的开关、驱动电路切换电路、驱动信号生成部、电容检测电路切换电路、电容检测结果判定电路、电容检测结果输出用端子。
触控面板控制器700在配线用端子上依次输出驱动用信号，并测定输出的端子以外的端子的电容值，且内置基于该电容值测定结果而输出测定结果的测试功能。
通过内置所述测试功能，不连接触控面板本体，就可以检查在触控面板控制基板制作工程中发生的“安装不良(开路不良，短路不良)”。
〔实施方式八〕
基于图13对本发明的其他实施方式进行说明。另外，为了方便说明，对与所述实施方式中说明的部件具有相同功能的部件标注相同标记，并省略其说明。
图13是表示本实施方式的触控面板控制器的概略构成的框图。
触控面板控制器800相对于图12所示的实施方式七的触控面板控制器700的构成，变更了电容检测结果判定电路以及电容检测结果输出用端子。触控面板控制器800包括2个的电容检测结果判定电路723A·723B，和2个的电容检测结果输出用端子724A·724B。
在电容测定结果判定电路723A(第一运算部)上，对有多个的电容测定结果执行或运算，并将运算结果输出至电容测定结果输出用端子724A。在电容测定结果判定电路723B(第二运算部)上，对有多个的电容测定结果执行与运算，并将运算结果输出至电容测定结果输出用端子724B。
在发生了短路不良(short不良)的情况下，有多个的电容检测电路的至少一个输出高电平的信号。当电容测定结果判定电路723A执行或运算时，电容测定结果输出用端子724A输出高电平的信号。
在发生了断线不良(开路不良)的情况下，有多个的电容检测电路的至少一个输出低电平的信号。当电容测定结果判定电路723B执行与运算时，电容测定结果输出用端子724B输出低电平的信号。
因此，可以判断在电容测定结果输出用端子724A输出高电平的信号的情况下发生了短路不良(short不良)，可以判断在电容测定结果输出用端子724B输出低电平的信号的情况下发生了断线不良(开路不良)。
实施方式七的触控面板控制器700由于仅具备一个电容测定结果判定电路，只能检查是短路不良(short不良)或断线不良(开路不良)的哪一个。针对于此的本实施方式的触控面板控制器800，为使可以检查短路不良(short不良)和断线不良(开路不良)的两者，分别具备多个电容测定结果判定电路和电容测定结果输出用端子。
因此，针对短路不良(short不良)和断线不良(开路不良)的两者的故障的检查成为可能，从而提高触控面板控制基板的品质。
〔实施方式九〕
基于图14～图17对本发明的其他实施方式进行说明。另外，为了方便说明，对与所述实施方式中说明的部件具有相同功能的部件标注相同标记，并省略其说明。
图14是表示本实施方式的触控面板装置的概略构成的框图。
触控面板装置901包括触控面板本体10和触控面板控制基板920。
触控面板控制基板920包括触控面板控制器900和连接用连接器26。
触控面板控制器900包括：多路复用器904、驱动器905、读出放大器906、定时发生器907、AD转换器908、电容分布计算部909和触控识别部910。
触控面板控制器900由一个集成电路构成，且被安装于基板上。触控面板控制器900的信号线HL1·HL2···HLM，以及VL1·VL2···VLM用基板上的配线连接于连接用连接器26。
触控面板本体10和连接用连接器26之间用连接电缆连接，信号线HL1·HL2···HLM连接于向触控面板本体10的水平方向延伸的电极，信号线VL1·VL2···VLM连接于向触控面板本体10的垂直方向延伸的电极。
驱动器905基于代码序列在驱动线DL1～DLM上施加电压。读出放大器906通过感应线SL1～SLM读取与各静电电容对应的电荷的的线形和，并将线形和提供至AD转换器908。另外，作为驱动器905，可以使用与实施方式七的配线用驱动电路701A·702A·703A·704A相同的电路，作为读出放大器906，可以使用与实施方式七的配线用电容检测电路701B·702B·703B·704B相同的电路。
多路复用器904切换以下状态：信号线HL1～HLM连接至驱动器905的驱动线DL1～DLM、且信号线VL1～VLM连接至读出放大器906的感应线SL1～SLM的第一连接状态；信号线HL1～HLM连接至读出放大器906的感应线SL1～SLM、且信号线VL1～VLM连接至驱动器905的驱动线DL1～DLM的第二连接状态。
图15是表示多路复用器的构成的电路图。多路复用器904具有串联连接的4个CMOS开关SW1～SW4。来自定时发生器907的控制线CL被连接至CMOS开关SW1的CMOS开关SW2的相反侧的一端、CMOS开关SW2与CMOS开关SW3之间、CMOS开关SW4的CMOS开关SW3的相反侧的一端、和逆变器inv的输入。逆变器inv的输出在CMOS开关SW1和CMOS开关SW2之间，且CMOS开关SW3和CMOS开关SW4之间连接。信号线HL1～HLM连接至CMOS开关SW1·SW2。信号线VL1～VLM连接至CMOS开关SW3·SW4。驱动线DL1～DLM连接至CMOS开关SW1·SW4。感应线SL1～SLM连接至CMOS开关SW2·SW3。
当使控制线CL的信号为低时，信号线HL1～HLM连接至驱动线DL1～DLM，信号线VL1～VLM连接至感应线SL1～SLM。当使控制线CL的信号为高时，信号线HL1～HLM连接至感应线SL1～SLM，信号线VL1～VLM连接至驱动线DL1～DLM。
AD转换器908将通过感应线SL1～SLM而读取出的与各静电电容对应的电荷的的线形和进行AD转换，并提供至电容分布计算部909。
电容分布计算部909基于从AD转换器908所提供的与各静电电容对应的电荷的的线形和与代码序列，对触控面板本体10上的静电电容分布进行计算并提供至触控识别部910。触控识别部910基于从电容分布计算部909所提供的静电电容分布，识别触控面板本体10上的被触摸的位置。
定时发生器907生成规定驱动器905的动作的信号、规定读出放大器906的动作的信号、规定AD转换器908的动作的信号，并提供至驱动器905、读出放大器906以及AD转换器908。
<检查方法>
下面表示不连接触控面板本体10，就检查在触控面板控制基板制作工程中发生的“安装不良(开路不良，短路不良)的方法。
在以下说明中，将信号线HL1～HLM连接至驱动器905的驱动线DL1～DLM的同时信号线VL1～VLM连接至读出放大器906的感应线SL1～SLM的状态作为第一连接状态，将信号线HL1～HLM连接至读出放大器906的感应线SL1～SLM的同时信号线VL1～VLM连接至驱动器905的驱动线DL1～DLM的状态作为第二连接状态。
(短路不良)
(信号线HL1～HLM内的短路不良检测)
图16是表示检查短路不良时的触控面板控制基板的概略构成的框图。
首先，以第一连接状态同时将驱动信号输出至驱动线DL1～DLM。这时，针对与成列排列的各信号线HL1～HLM对应的各驱动线DL1～DLM输出驱动信号时，针对彼此相邻的驱动线DL1～DLM提供不同的驱动信号。
例如，在驱动线DL1～DLM中，提供“H”的驱动信号至驱动线DL1·DL3·DL5···，提供“L”驱动信号至驱动线DL2·DL4·DL6···。由此，彼此相邻的信号线HL1～HLM(驱动线DL1～DLM)保持有不同的静电电容。
接着，切换到第二连接状态，通过读出放大器906读取信号线HL1～HLM的静电电容。这时，在信号线HL1～HLM之间存在短路不良的情况下，由于信号线HL1～HLM的静电电容(在换算为电压的情况下，为电压电平)产生变化，因此通过比较本来应该保持的静电电容和所读取的信号线HL1～HLM的静电电容，可以在信号线HL1～HLM内检测出短路不良。
此外，通过变更提供至驱动线DL1～DLM的驱动信号的图案并再度测定，可以提高短路不良的检测精度。
另外，虽然用配线等的电容来保持信号线HL1～HLM的状态，在保持时间较短的情况下也可以使用连接部来连接保持电容。
(信号线VL1～VLM内的短路不良检测)
与HL1～HLM内的短路不良检测的情况相同，以第二连接状态同时将驱动信号输出至驱动线DL1～DLM后，切换到第一连接状态，通过读出放大器906读取信号线VL1～VLM的静电电容。
由此，可以在信号线VL1～VLM内检测出短路不良。
(信号线HL1～HLM、信号线VL1～VLM之间的短路不良检测)
首先，以第一连接状态将“H”的驱动信号输出至信号线HL1～HLM(第一连接端子群)(第一提供步骤)。接着，以第二连接状态将“L”的驱动信号输出至信号线VL1～VLM(第二连接端子群)(第二提供步骤)的同时，通过读出放大器906读取信号线HL1～HLM的静电电容。
若在信号线HL1～HLM和信号线VL1～VLM之间的存在短路不良，信号线HL1～HLM中会出现不能保持“H”的电位状态的信号线。因此，通过比较本来应该保持的静电电容和所读取的信号线HL1～HLM的静电电容，可以检测在信号线HL1～HLM和信号线VL1～VLM之间的短路不良。
此外，同样的，通过将“H”的驱动信号提供至信号线VL1～VLM并通过读出放大器906读取信号线VL1～VLM的静电电容，可以提高在信号线HL1～HLM和信号线VL1～VLM之间的短路不良的检测精度。
(断线不良)
图17是表示检查断线不良时的触控面板控制基板的概略构成的框图。
如图17所示，在检查断线不良的情况下，通过在触控面板控制基板20的外部将短电缆27连接至连接用连接器26，使信号线HL1～HLM和信号线VL1～VLM为有意短路(short)的状态。
接着，以第一连接状态提供相同的驱动信号至信号线HL1～HLM，并通过读出放大器906读取信号线VL1～VLM的静电电容。
在信号线VL1～VLM上存在开路不良的情况下，由于不能将与提供至信号线HL1～HLM的驱动信号对应的静电电容保持在信号线VL1～VLM上，通过比较本来应该保持的静电电容和所读取的信号线VL1～VLM的静电电容，可以检测出信号线VL1～VLM的开路不良。
接着，以第二连接状态提供相同的驱动信号至信号线VL1～VLM，并通过读出放大器906读取信号线HL1～HLM的静电电容。
在信号线HL1～HLM上存在开路不良的情况下，由于不能将与提供至信号线VL1～VLM的驱动信号对应的静电电容保持在信号线HL1～HLM上，通过比较本来应该保持的静电电容和所读取的信号线HL1～HLM的静电电容，可以检测出信号线HL1～HLM的开路不良。
<附记事项>
所述实施方式5～9的检查方法，是使用电容检测电路的检查方法。在电容检测电路中，测定对象电容的电容值较大的话，检测精度会变好。因此，期待将触控面板本体10连接至触控面板控制基板20，并实施在触控面板控制基板制作工程中发生的“安装不良(开路不良，短路不良)”。但是，即使在连接触控面板本体10的情况下，由于在检查时没有触摸触控面板本体10的必要，相比现有的检查方法，有缩短检查时间，抑制触控面板控制基板20的制造成本上升的优点。
〔总结〕
本发明的方式一涉及的触控面板控制基板(20)的检测方法是包括触控面板控制器(100·200·300·400·500·600·700·800·900)的触控面板控制基板的检测方法，所述触控面板控制器针对触控面板本体(10)具备的多条信号线，通过连接器(23·24)提供驱动信号，其特征在于，包含：通过所述连接器，将所述驱动信号提供至分别电性连接于所述信号线的多个的连接端子的提供步骤；基于根据被提供至所述连接端子的所述驱动信号在该连接端子以外的其他的连接端子中所得到的响应，检测该连接端子与该其他的连接端子的电性连接状态的检测步骤。
根据上述的检查方法，通过执行检测步骤，可以检测该连接端子与该其他的连接端子的电性连接状态。
因此，将触控面板控制基板连接至触控面板本体而不驱动触控面板本体，可以检测该连接端子与该其他的连接端子的电性连接状态，也可以在连接端子与连接器之间检测配线的短路或者断线等配线故障。
由此，可以在触控面板控制基板的安装工程中简便地进行安装不良的检查。
本发明的方式二涉及的触控面板控制基板的检查方法，在上述方式一中，所述检测步骤也可以包含：根据提供所述驱动信号至所述连接端子时的所述其他的连接端子的电压，输出连接端子和该其他的连接端子有无电性连接所对应的双值的信号的任一者的电压测定结果输出步骤；对分别与所述连接端子对应的所述信号进行运算的运算步骤。
根据上述的检查方法，通过执行检测步骤，可以根据所述其他的连接端子的电压，检测所述连接端子和所述其他的连接端子的短路。
此外，通过执行运算步骤，在与任一个的连接端子存在配线故障的情况下可以进行故障判定。
另外，所述检测步骤也可以包含：测定所述其他的连接端子的静电电容值，基于该静电电容值输出连接端子和该其他的连接端子有无电性连接所对应的双值的信号的任一者的静电电容测定结果输出步骤；对分别与所述连接端子对应的所述信号进行运算的运算步骤。
根据上述的检查方法，通过执行检测步骤，根据所述其他的连接端子的静电电容值，可以检测所述连接端子和所述其他的连接端子的短路。
此外，通过执行运算步骤，在与任一个的连接端子存在配线故障的情况下可以进行故障判定。
另外，所述运算步骤也可以运算所述信号的逻辑或。
根据所述的检查方法，可以通过简便的方法检测所述连接端子和所述其他的连接端子的短路并进行故障判定。
另外，所述提供步骤及所述检测步骤中的至少任一个在使触控面板控制基板的外部的所述连接端子和所述其他的连接端子短路的状态下进行，在所述运算步骤中也可以运算所述信号的逻辑与。
根据上述的检查方法，可以通过简便的方法检测所述连接端子和所述其他的连接端子的短路并进行故障判定。
本发明的方式三涉及的触控面板控制基板的检查方法，是包括触控面板控制器的触控面板控制基板的检查方法，所述触控面板控制器针对触控面板本体具备的多条信号线，通过连接器提供驱动信号，其特征在于，包含：通过所述连接器，将所述驱动信号提供至电性连接于所述信号线的连接端子的提供步骤；在测定提供有所述驱动信号的所述连接端子的静电电容值的同时，基于所述静电电容值，检测该连接端子与该其他的连接端子的电性连接状态的检测步骤。
根据上述的检查方法，通过测定已提供驱动信号的连接端子的静电电容值，从根据提供的驱动信号而本来保持的静电电容值与所测定的静电电容值的关系，可以检测所述连接段子和所述其他的连接端子的短路，以及所述其他的连接端子和连接器之间的断线。
本发明的方式四涉及的触控面板控制基板的检查方法，在上述方式三中，所述连接端子成列而排列，在所述提供步骤中，针对彼此相邻的所述连接端子提供不同的驱动信号，在所述检测步骤中，基于所述连接端子的静电电容值，也可以检测该连接端子与该其他的连接端子的电性连接状态。
根据上述的检查方法，在提供步骤中，由于针对彼此相邻的所述连接端子提供不同的驱动信号，可以在检测步骤中基于连接端子的静电电容值进行正确的优劣判定。
本发明的方式五涉及的触控面板控制基板的检查方法，在上述方式三中，所述提供步骤包含：针对根据由多个所述连接端子中的一部分的连接端子所构成的第一连接端子群而提供第一驱动信号的第一提供步骤；针对根据由多个所述连接端子中的一部分的连接端子所构成的第二连接端子群而提供与所述第一驱动信号不同的第二驱动信号的第二提供步骤；所述检测步骤也可以基于所述第一连接端子群所包含的连接端子的静电电容值，检测该连接端子与所述第二连接端子群所包含的连接端子的电性连接状态。
根据上述的检查方法，在提供步骤中，在提供第一驱动信号至第一连接端子群所包含的连接端子的同时，提供第二驱动信号至第二连接端子群所包含的连接端子。因此，在检测步骤中，可以基于第一连接端子群所包含的连接端子的静电电容值，检测第一连接端子群所包含的连接端子与第二连接端子群所包含的连接端子的电性连接状态，进行优劣判定。
另外，所述提供步骤及所述检测步骤中的至少任一个，也可以在使触控面板控制基板的外部的所述连接端子和所述其他的连接端子短路的状态下进行。
根据上述的检查方法，可以检测连接端子的断线不良，并进行优劣判定。
本发明的方式六涉及的触控面板控制器(100·200·300·400·500·600·700·800·900)，是针对触控面板本体(10)所具备的多条信号线，通过连接器(23·24)提供驱动信号的触控面板控制器，其特征在于，包括：通过所述连接器分别电性连接于所述信号线的多个连接端子(驱动线用端子101E、感应线用端子111F、配线用端子701E)、将所述驱动信号提供至所述连接端子的驱动电路(驱动线用驱动电路101C、感应线用驱动电路111D、配线用驱动电路701C)、基于在与提供至所述连接端子的所述驱动信号对应的该连接端子以外的其他的连接端子(驱动子102E、感应线用端子112F、配线用端子702E)中所得到的响应，检测该连接端子与该其他的连接端子的电性连接的检测部(驱动线用电压测定电路101B、感应线用电压测定电路111C、电压测定电路330、驱动线用电容检测电路530、感应线用电容检测电路511A、配线用电容检测电路701B、电压测定结果判定电路123、电容测定结果判定电路523)。
根据上述构成，由于具备检测部，可以检测连接端子与该其他的连接端子的电性连接状态。
因此，将触控面板控制基板连接至触控面板本体而不驱动触控面板本体，可以检测连接端子与该其他的连接端子的电性连接状态，也可以在连接端子与连接器之间检测配线的短路或者断线等配线故障。
由此，可以在触控面板控制基板的安装工程中简便地进行安装不良的检查。
本发明的方式七涉及的触控面板控制器，在上述方式六中，所述检测部也可以包括：电压测定部(驱动线用电压测定电路101B、感应线用电压测定电路111C、电压测定电路330)，其根据提供所述驱动信号至所述连接端子时的所述其他的连接端子的电压，输出连接端子和该其他的连接端子有无电性连接所对应的双值的信号的任一者；运算部(电压测定结果判定电路123、电容测定结果判定电路523)，其对分别与所述连接端子对应的所述信号进行运算。
根据上述构成，可以根据所述其他的连接端子的电压，检测所述连接端子和所述其他的连接端子的短路。此外，通过使用治具等使在触控面板控制基本的外部的连接端子之间短路，可以检测所述其他的连接端子和连接器之间的断线。
此外，通过对分别与连接端子对应的所述信号进行运算，可以在与任一个的连接端子存在配线故障的情况下可以进行故障判定。
本发明的方式八涉及的触控面板控制器，在所述方式六中，所述检测部也可以包括：静电电容测定部(驱动线用电容检测电路530、感应线用电容检测电路511A、配线用电容检测电路701B)，其测定所述其他的连接端子的静电电容值，基于该静电电容值输出连接端子和该其他的连接端子有无电性连接所对应的双值的信号的任一者；运算部，对分别与所述连接端子对应的所述信号进行运算。
根据上述构成，根据所述其他的连接端子的静电电容值，可以检测所述连接端子和所述其他的连接端子的短路，以及所述其他的连接端子和连接器之间的断线。
此外，通过对分别与所述连接端子对应的所述信号进行运算，在与任一个的连接端子存在配线故障的情况下可以进行故障判定。
另外，作为所述运算部，也可以包括运算所述信号的逻辑或的第一运算部(电压测定结果判定电路123A、电容测定结果判定电路523A)，和运算所述信号的逻辑与的第二运算部(电压测定结果判定电路123B、电容测定结果判定电路523B)。
根据上述构成，在可以检测所述连接端子和所述其他的连接端子的短路而进行故障判定的同时，可以检测所述其他的连接端子和连接器之间的断线而进行故障判定。
由此，可以在与任一个的连接端子存在配线故障的情况下可以进行正确的故障判定。
本发明不限于上述各实施方式，能在权利要求所示的范围中进行各种变更，将在不同的实施方式中分别公开的技术手段适当组合得到的实施方式也包含于本发明的技术范围。进一步的，能通过将各实施方式中分别公开的技术手段组合而形成新的技术特征。
产业上的实用性
本发明可以应用于在静电电容式的触控面板装置的触控面板控制基板的制造工程中的检查。
符号说明
1、901 触控面板装置
10 触控面板本体
20 触控面板控制基板
23、24、26 连接用连接器(连接器)
100、200、300、400、500、600、700、800、900 触控面板控制器
101A·102A·103A 驱动线用驱动电路(驱动电路)
111B·112B·113B 感应线用驱动电路(驱动电路)
301A·302A·303A 驱动线用驱动电路(驱动电路)
331 感应线用驱动电路(驱动电路)
501A·502A·503A 驱动线用驱动电路(驱动电路)
531 感应线用驱动电路(驱动电路)
701A·702A·703A·704A 配线用驱动电路(驱动电路)
905 驱动器(驱动电路)
101B·102B·103B 驱动线用电压测定电路(检测部、电压测定部)
111C·112C·113C 感应线用电压测定电路(检测部、电压测定部)
330 电压测定电路(检测部、电压测定部)
101E·102E·103E 驱动线用端子(连接端子)
111F·112F·113F 感应线用端子(连接端子)
301E·302E·303E 驱动线用端子(连接端子)
311F·312F·313F 感应线用端子(连接端子)
501E·502E·503E 驱动线用端子(连接端子)
511F·512F·513F 感应线用端子(连接端子)
701E·702E·703E·704E 配线用端子(连接端子)
111A·112A·113A 感应线电容检测电路(检测部、静电电容测定部)
311A·312A·313A 感应线电容检测电路(检测部、静电电容测定部)
511A·512A·513A 感应线用电容检测电路(检测部、静电电容测定部)
530 驱动线用电容检测电路(检测部、静电电容测定部)
701B·702B·703B·704B 配线用电容检测电路(检测部、静电电容测定部)
906 感应放大器(检测部、静电电容测定部)
123 电压测定结果判定电路(检测部、运算部)
123A 电压测定结果判定电路(检测部、第一运算部)
123B 电压测定结果判定电路(检测部、第二运算部)
323 电压测定结果判定电路(检测部、运算部)
323A 电压测定结果判定电路(检测部、第一运算部)
323B 电压测定结果判定电路(检测部、第二运算部)
523 电容测定结果判定电路(检测部、运算部)
523A 电容测定结果判定电路(检测部、第一运算部)
523B 电容测定结果判定电路(检测部、第二运算部)
723 电容检测结果判定电路(检测部、运算部)
723A 电容测定结果判定电路(检测部、第一运算部)
723B 电容测定结果判定电路(检测部、第二运算部)
Cx 电容值(静电电容值)

Claims (8)

1.一种触控面板控制基板的检查方法，是包括触控面板控制器的触控面板控制基板的检查方法，所述触控面板控制器针对触控面板本体具备的多条信号线，通过连接器提供驱动信号，其特征在于，包含：
通过所述连接器，将所述驱动信号提供至分别电性连接于所述信号线的多个连接端子的提供步骤；
基于根据被提供至所述连接端子的所述驱动信号在该连接端子以外的其他的连接端子中所得到的响应，检测该连接端子与该其他的连接端子的电性连接状态的检测步骤。
2.根据权利要求1所述的触控面板控制基板的检查方法，其特征在于，所述检测步骤包含：
根据将所述驱动信号提供至所述连接端子时的所述其他的连接端子的电压，输出连接端子和该其他的连接端子有无电性连接所对应的双值的信号的任一者的电压测定结果输出步骤；
对分别与所述连接端子对应的所述信号进行运算的运算步骤。
3.一种触控面板控制基板的检查方法，是包括触控面板控制器的触控面板控制基板的检查方法，所述触控面板控制器针对触控面板本体具备的多条信号线，通过连接器提供驱动信号，其特征在于，包含：
通过所述连接器，将所述驱动信号提供至电性连接于所述信号线的连接端子的提供步骤；
在测定提供有所述驱动信号的所述连接端子的静电电容值的同时，基于所述静电电容值，检测该连接端子与其他的连接端子的电性连接状态的检测步骤。
4.根据权利要求3所述的触控面板控制基板的检查方法，其特征在于：
所述连接端子成列而排列；
在所述提供步骤中，针对彼此相邻的所述连接端子提供不同的驱动信号；
在所述检测步骤中，基于所述连接端子的静电电容值，检测该连接端子与相邻的连接端子的电性连接状态。
5.根据权利要求3所述的触控面板控制基板的检查方法，其特征在于：
所述提供步骤包含：
针对由多个所述连接端子中的一部分的连接端子所构成的第一连接端子群而提供第一驱动信号的第一提供步骤；
针对由多个所述连接端子中的另一部分的连接端子所构成的第二连接端子群而提供与所述第一驱动信号不同的第二驱动信号的第二提供步骤；
在所述检测步骤中，基于所述第一连接端子群所包含的连接端子的静电电容值，检测该连接端子与所述第二连接端子群所包含的连接端子的电性连接状态。
6.一种触控面板控制器，是针对触控面板本体具备的多条信号线，通过连接器提供驱动信号的触控面板控制器，其特征在于，包括：
通过所述连接器分别电性连接于所述信号线的多个连接端子；
提供所述驱动信号至所述连接端子的驱动电路；
基于根据被提供至所述连接端子的所述驱动信号而在该连接端子以外的其他的连接端子中所得到的响应，检测该连接端子与该其他的连接端子的电性连接状态的检测部。
7.根据权利要求6所述的触控面板控制器，其特征在于：
所述检测部包括：
电压测定部，其根据提供所述驱动信号至所述连接端子时的所述其他的连接端子的电压，输出连接端子和该其他的连接端子有无电性连接所对应的双值的信号的任一者；
运算部，其对分别与所述连接端子对应的所述信号进行运算。
8.根据权利要求6所述的触控面板控制器，其特征在于：
所述检测部包括：
静电电容测定部，其测定所述其他的连接端子的静电电容值，基于该静电电容值输出连接端子和该其他的连接端子有无电性连接所对应的双值的信号的任一者；
运算部，其对分别与所述连接端子对应的所述信号进行运算。
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