KR20130136358A - 터치 센서 검사 방법 및 장치 - Google Patents

터치 센서 검사 방법 및 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR20130136358A
KR20130136358A KR1020120117995A KR20120117995A KR20130136358A KR 20130136358 A KR20130136358 A KR 20130136358A KR 1020120117995 A KR1020120117995 A KR 1020120117995A KR 20120117995 A KR20120117995 A KR 20120117995A KR 20130136358 A KR20130136358 A KR 20130136358A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
sensor
specific
capacitance value
sensor pad
reference range
Prior art date
Application number
KR1020120117995A
Other languages
English (en)
Other versions
KR101413087B1 (ko
Inventor
오영진
정익찬
Original Assignee
크루셜텍 (주)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 크루셜텍 (주) filed Critical 크루셜텍 (주)
Priority to PCT/KR2013/004934 priority Critical patent/WO2013183921A1/ko
Publication of KR20130136358A publication Critical patent/KR20130136358A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101413087B1 publication Critical patent/KR101413087B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/0412—Digitisers structurally integrated in a display
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/0416—Control or interface arrangements specially adapted for digitisers
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/044—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32—LAYERED PRODUCTS
    • B32B—LAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B2457/00—Electrical equipment
    • B32B2457/20—Displays, e.g. liquid crystal displays, plasma displays
    • B32B2457/208—Touch screens
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2203/00—Indexing scheme relating to G06F3/00 - G06F3/048
    • G06F2203/041—Indexing scheme relating to G06F3/041 - G06F3/045
    • G06F2203/04103—Manufacturing, i.e. details related to manufacturing processes specially suited for touch sensitive devices
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2203/00—Indexing scheme relating to G06F3/00 - G06F3/048
    • G06F2203/041—Indexing scheme relating to G06F3/041 - G06F3/045
    • G06F2203/04111—Cross over in capacitive digitiser, i.e. details of structures for connecting electrodes of the sensing pattern where the connections cross each other, e.g. bridge structures comprising an insulating layer, or vias through substrate

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Position Input By Displaying (AREA)

Abstract

본 발명의 일실시예는 a) 고립된 형태로 배치된 복수의 센서 패드를 충전시킨 후 플로팅 시키는 단계; b) 상기 복수의 센서 패드 중 선택된 특정 센서 패드를 제외한 인접 센서 패드에 특정 크기의 전원 전압 및 접지 중 적어도 하나를 인가하여 상기 특정 센서 패드의 정전용량 값을 검출하는 단계; 및 c) 상기 검출된 정전용량 값과 소정의 기준 범위를 비교하여 상기 특정 센서 패드가 불량인지 여부를 검사하는 단계를 포함하는 터치 센서 검사 방법을 제공한다.

Description

터치 센서 검사 방법 및 장치{METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING TOUCH SENSOR}
본 발명은 터치 센서를 검사하는 방법 및 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 터치 센서가 불량인지 여부를 검사하는 터치 센서 검사 방법 및 장치에 관한 것이다.
터치 스크린 패널은 영상 표시 장치의 화면에 표시된 문자나 도형을 사람의 손가락이나 다른 접촉수단으로 접촉하여 사용자의 명령을 입력하는 장치로서, 영상 표시 장치 위에 부착되어 사용된다. 터치 스크린 패널은 사람의 손가락 등으로 접촉된 접촉 위치를 전기적 신호로 변환한다. 상기 전기적 신호는 입력 신호로서 이용된다.
터치 스크린 패널을 구현하는 방식으로는 저항막 방식, 광감지 방식 및 정전 용량 방식 등이 알려져 있다. 이 중 정전 용량 방식의 터치 패널은 사람의 손 또는 물체가 접촉될 때 도전성 감지 패턴이 주변의 다른 감지 패턴 또는 접지 전극 등과 형성하는 정전용량의 변화를 감지함으로써 접촉 위치를 전기적 신호로 변환한다.
폭넓게 활용되는 터치 패널 시장의 수요를 맞추기 위해, 터치 패널의 대량양산시스템을 갖춰야 할 뿐만 아니라, 대량양산시스템에 있어 생산된 터치 패널의 불량을 판별해내는 검사는 필수적이다.
종래의 경우, 터치 패널의 대량 양산에 있어서, 사람의 손으로 일일이 검사하는 수동적인 방식이 일반적이었으나, 최근 다양한 형태의 기계적인 검사 장치가 공지된 바 있다. 하지만, 검사하고자 하는 터치 패널을 지그에 고정하고, 검사하고자 하는 지점의 수만큼 검사봉을 터치 패널 상측에 설치하여 차례대로 혹은 무작위로 각 검사봉을 터치 패널의 표면에 접촉시켜 검사하는 정도였다.
그래서 하나의 터치패널을 검사하는데 상당한 시간이 소요될 뿐 아니라 터치 패널의 표면에 접촉시켜야 하는 다수 개의 검사봉이 필요하여 검사장치의 구조가 복잡해지는 단점이 있었다. 또한, 다수 개의 검사봉으로 지그에 고정하여 검사할 수 있는 터치패널의 크기가 제한되어 있어서 다양한 크기의 터치패널을 검사하고자 할 때 지그를 교체해야 하는 번거로움이 있었다.
본 발명이 해결하고자 하는 과제는 간소화된 방식으로 터치 센서의 불량 여부를 검사할 수 있는 터치 센서 검사 방법 및 장치를 제공하는 것이다.
이러한 과제를 해결하기 위한 본 발명의 한 실시예에 따른 센서 패드 판벌 방법은, a) 고립된 형태로 배치된 복수의 센서 패드를 충전시킨 후 플로팅 시키는 단계; b) 상기 복수의 센서 패드 중 선택된 특정 센서 패드를 제외한 인접 센서 패드에 특정 크기의 전원 전압 및 접지 중 적어도 하나를 인가하여 상기 특정 센서 패드의 정전용량 값을 검출하는 단계; 및 c) 상기 검출된 정전용량 값과 소정의 기준 범위를 비교하여 상기 특정 센서 패드가 불량인지 여부를 검사하는 단계를 포함하는 터치 센서 검사 방법을 포함한다.
본 발명의 한 실시예에 따르면, 상기 c) 단계는, 상기 정전용량 값이 상기 기준 범위에 포함되는지 여부를 검사하되, 상기 기준 범위에 포함되지 않는 경우, 상기 특정 센서 패드를 불량으로 판별할 수 있다.
본 발명의 한 실시예에 따르면, 상기 b) 단계에서, 상기 정전용량 값은, 상기 인접 센서 패드에 전압을 인가하여 검출된 값과 상기 인접 센서 패드에 접지를 인가하여 검출된 값을 차분한 값을 포함할 수 있다.
본 발명의 한 실시예에 따르면, 상기 c) 단계에서, 상기 기준 범위는 상기 인접 센서 패드에 전압을 인가하는지, 접지를 인가하는지에 따라 상이하게 설정될 수 있다.
본 발명의 한 실시예에 따르면, 상기 c) 단계에서, 상기 기준 범위는, 상기 특정 센서 패드 및 상기 인접 센서 패드의 정전용량 값을 합한 전체 정전용량 값에서 상기 전체 정전용량 값 중 최고치와 최저치를 차감한 값을, 상기 특정 센서 패드 및 상기 인접 센서 패드의 개수에서 2를 차감한 값으로 나눈 값에 미리 설정된 허용 오차 범위를 포함할 수 있다.
본 발명의 다른 실시예에 따른 터치 센서 검사 장치는, 고립된 형태로 배치된 복수의 센서 패드; 상기 복수의 센서 패드를 충전 및 플로팅 시키는 충전부; 상기 복수의 센서 패드 중 선택된 특정 센서 패드를 제외한 인접 센서 패드에 특정 크기의 전원 전압 및 접지 중 적어도 하나를 인가하여 상기 특정 센서 패드의 정전용량 값을 검출하는 검출부; 및 상기 검출된 정전용량 값과 소정의 기준 범위를 비교하여 상기 특정 센서 패드가 불량인지 여부를 검사하는 검사부를 포함한다.
본 발명의 다른 실시예에 따른 터치 센서 검사 방법은, 복수의 구동 라인, 상기 복수의 구동 라인과 교차되는 방향으로 배열된 복수의 감지 라인 및 상기 구동 라인과 감지 라인의 교차점에 형성되는 복수의 센서 노드를 포함하는 터치 센서를 검사하는 방법에 있어서, a) 상기 센서 노드 중 선택된 특정 센서 노드를 지나는 특정 구동 라인 및 특정 감지 라인을 제외한 인접 구동 라인 및 인접 감지 라인에 특정 크기의 전원 전압 및 접지 중 적어도 하나를 인가하여 상기 특정 센서 노드의 정전용량 값을 검출하는 단계; 및 b) 상기 검출된 정전용량 값과 소정의 기준 범위를 비교하여 상기 특정 센서 노드가 불량인지 여부를 검사하는 단계를 포함한다.
상기 b) 단계는, 상기 정전용량 값이 상기 기준 범위에 포함되는지 여부를 검사하되, 상기 기준 범위에 포함되지 않는 경우, 상기 특정 센서 노드를 불량으로 판별할 수 있다.
본 발명의 다른 실시예에 따른 터치 센서 검사 장치는, 복수의 구동 라인, 상기 복수의 구동 라인과 교차되는 방향으로 배열된 복수의 감지 라인 및 상기 구동 라인과 감지 라인의 교차점에 형성되는 복수의 센서 노드; 상기 센서 노드 중 선택된 특정 센서 노드를 지나는 특정 구동 라인 및 특정 감지 라인을 제외한 인접 구동 라인 및 인접 감지 라인에 특정 크기의 전원 전압 및 접지 중 적어도 하나를 인가하여 상기 특정 센서 노드의 정전용량 값을 검출하는 검출부; 및 상기 검출된 정전용량 값과 소정의 기준 범위를 비교하여 상기 특정 센서 노드가 불량인지 여부를 검사하는 검사부를 포함한다.
이와 같이 본 발명의 실시예에 따른 터치 센서 검사 방법에 의하면, 센서 패드 또는 센서 노드를 직접 터치하지 않아도 검사하려는 센서 패드를 제외한 센서 패드에 전압 또는 접지를 인가하여 검출된 정전용량 값을 이용하여 터치 센서의 불량 여부를 검사할 수 있다.
본 발명의 효과는 상기한 효과로 한정되는 것은 아니며, 본 발명의 상세한 설명 또는 특허청구범위에 기재된 발명의 구성으로부터 추론 가능한 모든 효과를 포함하는 것으로 이해되어야 한다.
도 1은 본 발명의 한 실시예에 따른 터치 센서 검사 장치의 분해 평면도이다.
도 2는 본 발명의 다른 실시예에 따른 터치 센서 검사 장치의 분해 평면도이다.
도 3은 터치 센서의 불량 여부를 판별하는 기준 범위에 대한 일 예를 설명하기 위한 터치 스크린 패널의 분해 평면도이다.
도 4 는 본 발명의 한 실시예에 따른 인접 센서 패드에 전압 또는 접지를 인가하는 검출부의 등가회로를 예시한 회로도이다.
도 5는 도 1에 도시한 터치 센서 검사 장치를 이용하여 센서 패드를 검사하는 일 예에 관한 도면이다.
도 6은 도 2에 도시한 터치 센서 검사 장치를 이용하여 센서 노드를 검사하는 일 예에 관한 도면이다.
도 7은 본 발명의 한 실시예에 따른 터치 센서 검사 방법을 도시한 흐름도이다.
도 8은 본 발명의 다른 실시예에 따른 터치 센서 검사 방법을 도시한 흐름도이다.
본 명세서에서 사용되는 용어에 대해 간략히 설명하고, 본 발명에 대해 구체적으로 설명하기로 한다.
본 발명에서 사용되는 용어는 본 발명에서의 기능을 고려하면서 가능한 현재 널리 사용되는 일반적인 용어들을 선택하였으나, 이는 당 분야에 종사하는 기술자의 의도 또는 판례, 새로운 기술의 출현 등에 따라 달라질 수 있다. 또한, 특정한 경우는 출원인이 임의로 선정한 용어도 있으며, 이 경우 해당되는 발명의 설명 부분에서 상세히 그 의미를 기재할 것이다. 따라서 본 발명에서 사용되는 용어는 단순한 용어의 명칭이 아닌, 그 용어가 가지는 의미와 본 발명의 전반에 걸친 내용을 토대로 정의되어야 한다.
명세서 전체에서 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있음을 의미한다. 또한, 명세서에 기재된 "...부", "모듈" 등의 용어는 적어도 하나의 기능이나 동작을 처리하는 단위를 의미하며, 이는 하드웨어 또는 소프트웨어로 구현되거나 하드웨어와 소프트웨어의 결합으로 구현될 수 있다. 그리고 어떤 부분이 다른 부분과 "연결"되어 있다고 할 때, 이는 직접적으로 연결되어 있는 경우뿐 아니라, 그 중간에 다른 시스템을 두고 연결되어 있는 경우도 포함한다.
아래에서는 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. 그리고 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다.
이하에서는 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세히 설명하기로 한다.
이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 1은 본 발명의 한 실시예에 따른 터치 센서 검사 장치의 분해 평면도이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 한 실시예에 따른 터치 센서 검사 장치(100)는 센서 패드(110), 충전부(120), 검출부(130) 및 검사부(140)를 포함한다.
센서 패드(110)는 터치 입력을 검출하기 위하여 기판 상에 패터닝 된 전극으로서 손가락이나 도전체와 같은 터치입력도구와의 사이에서 터치정전용량(Ct)을 형성한다.
센서 패드(110)는 고립된 형태로 배치될 수 있다. 예를 들어 복수의 센서 패드(110)는 사각형 또는 마름모꼴일 수 있으나 이와 다른 형태일 수도 있으며, 균일한 형태의 다각형 형태일 수도 있다. 센서 패드(110)는 인접한 다각형의 매트릭스 형태로 배열될 수 있다.
또한, 센서 패드(110)는 각각 신호 배선(도시 생략)과 연결될 수 있으며, 센서 패드(110) 및 신호 배선은 투명 도전체로 형성될 수 있다. 예를 들어, 센서 패드(110) 및 신호 배선은 ITO(Indium Tin Oxide), ATO(Antimony Tin Oxide), CNT(Carbon Nano Tube), IZO(Indium Zinc Oxide) 등의 투명 물질로 형성될 수 있다. 그러나, 다른 예에서는 센서 패드(110)가 메탈로 형성될 수도 있다.
충전부(120)는 복수의 센서 패드를 충전 및 플로팅 시킨다. 예를 들어, 충전부(120)는 트랜지스터 또는 스위치를 턴 온 하여 충전 신호를 인가하고, 이후 턴 오프하여, 충전된 전하가 센서 패드(110)에 고립되도록 할 수 있다. 이와 같이, 센서 패드(110)에 충전된 전하가 고립되어 있는 상태를 플로팅(floating) 상태라 한다.
검출부(130)는 복수의 센서 패드 중 선택된 특정 센서 패드를 제외한 인접 센서 패드에 특정 크기의 전원 전압 및 접지 중 적어도 하나를 인가하여 특정 센서 패드의 정전용량 값을 검출한다.
이 때, 검출부(130)는 인접 센서 패드에 특정 크기의 전원 전압 또는 접지만 인가하여 특정 센서 패드의 정전용량 값을 검출할 수 있다. 또한, 인접 센서 패드에 특정 크기의 전원 전압 및 접지를 각각 인가하여, 전압 인가시 및 접지 인가시에 대하여 특정 센서 패드의 정전용량 값을 검출할 수도 있다. 이러한 경우, 정전용량 값은 인접 센서 패드에 전압을 인가하여 검출된 값과 상기 인접 센서 패드에 접지를 인가하여 검출된 값을 차분한 값을 포함할 수 있다.
또한, 정전용량 값은 센서 패드(110)들 간에 형성되는 기생정전용량 값에 따른 차이를 반영한 값을 포함할 수 있다. 이와 관련하여, 도 4를 참조하여 후술하기로 한다. 이 때, 기생정전용량은 센서 패드(110)에 부수되는 정전용량으로 센서패드(110), 신호 배선, 표시 장치 등에 의하여 발생하는 임의의 기생정전용량을 포함할 수 있다.
검사부(140)는 검출된 정전용량 값과 소정의 기준 범위를 비교하여 특정 센서 패드가 불량인지 여부를 검사한다.
검사부(140)는 정전용량 값이 기준 범위에 포함되는지 여부를 검사할 수 있다. 예를 들어, 검사부(140)는 정전용량 값이 기준 범위에 포함되지 않는 경우, 특정 센서 패드를 불량으로 판별할 수 있다.
이 때, 기준 범위는 인접 센서 패드에 전압을 인가하는지, 접지를 인가하는지에 따라 상이하게 설정될 수 있다.
또한, 기준 범위는, 특정 센서 패드의 정전용량 값 및 인접 센서 패드의 정전용량 값을 합한 전체 정전용량 값에서 전체 정전용량 값 중 최고치와 최저치를 차감한 값을, 특정 센서 패드 및 인접 센서 패드의 개수에서 2를 차감한 값으로 나눈 값에 미리 설정된 허용 오차 범위를 포함할 수 있으며, 이와 관련하여 도 4를 참조하여 후술하기로 한다.
따라서, 터치 센서 검사 장치(100)는 센서 패드를 직접 터치하지 않아도 검사하려는 센서 패드를 제외한 센서 패드에 전압 또는 접지를 인가하여 검출된 정전용량 값을 이용하여 센서 패드의 불량 여부를 검사할 수 있다.
도 2는 본 발명의 다른 실시예에 따른 터치 센서 검사 장치의 분해 평면도이다.
도 2를 참조하면, 본 발명의 다른 실시예에 따른 터치 센서 검사 장치(200)는 센서 노드(210), 검출부(220) 및 검사부(230)를 포함한다.
센서 노드(210)는 복수의 구동 라인, 복수의 구동 라인과 교차되는 방향으로 배열된 복수의 감지 라인 및 구동 라인과 감지 라인의 교차점에 형성되는 복수의 노드를 포함하는 개념이다. 이 때, 복수의 구동 라인과 복수의 감지 라인은 복수의 다이아몬드 모양 또는 막대 모양이 일렬로 배치된 규칙적인 패턴으로 형성될 수 있다.
또한, 센서 노드(210)는 두 개의 패턴층을 형성할 수 있다. 즉, 제1 패턴층은 기판 위에 행 방향을 따라 연결된 복수의 구동 라인이 배치될 수 있으며, 행 단위로 신호 배선과 연결될 수 있다. 또한, 제2 패턴층은 열 방향을 따라 연결된 복수의 감지 라인이 배치될 수 있으며, 열 단위로 신호 배선과 연결될 수 있다. 여기서, 제1패턴층과 제2패턴층 사이에는 절연 물질로 이루어진 절연막층이 포함될 수 있다. 이 때, 구동 라인과 감지 라인이 배치되는 방향은 서로 바뀔 수 있다. 즉, 행 방향에 복수의 감지 라인이 배치되고, 열 방향에 복수의 구동 라인이 배치될 수도 있다.
다른 예로, 센서 노드(210)는 한 개의 기판 위에 행 방향의 패턴 및 열 방향의 패턴을 포함할 수 있으며, 행 방향의 패턴과 열 방향의 패턴이 교차하는 부분에 절연 물질이 형성될 수 있다.
검출부(220)는 센서 노드 중 선택된 특정 센서 노드를 지나는 특정 구동 라인 및 특정 감지 라인을 제외한 인접 구동 라인 및 인접 감지 라인에 특정 크기의 전원 전압 및 접지 중 적어도 하나를 인가하여 특정 센서 노드의 정전용량 값을 검출한다.
이 때, 검출부(220)는 인접 구동 라인 및 인접 감지 라인에 특정 크기의 전원 전압 또는 접지만 인가하여 특정 센서 노드의 정전용량 값을 검출할 수 있다. 또한, 인접 구동 라인 및 인접 감지 라인에 특정 크기의 전원 전압 및 접지를 각각 인가하여, 전압 인가시 및 접지 인가시에 대하여 특정 센서 노드의 정전용량 값을 검출할 수도 있다. 이러한 경우, 정전용량 값은 인접 구동 라인 및 인접 감지 라인에 전압을 인가하여 검출된 값과 인접 구동 라인 및 인접 감지 라인에 접지를 인가하여 검출된 값을 차분한 값을 포함할 수 있다.
검사부(230)는 검출된 정전용량 값과 소정의 기준 범위를 비교하여 특정 센서 노드가 불량인지 여부를 검사한다.
검사부(230)는 정전용량 값이 기준 범위에 포함되는지 여부를 검사할 수 있으며, 정전용량 값이 기준 범위에 포함되지 않는 경우, 특정 센서 노드를 불량으로 판별할 수 있다.
이 때, 기준 범위는 인접 구동 라인 및 인접 감지 라인에 전압을 인가하는지, 접지를 인가하는지에 따라 상이하게 설정될 수 있다.
이하에서는, 도 3 및 도 4를 참조하여 터치 센서의 불량 여부를 판별하는 기준 범위를 설정하는 일 예에 대하여 설명하기로 한다.
도 3은 터치 센서의 불량 여부를 판별하는 기준 범위에 대한 일 예를 설명하기 위한 터치 스크린 패널의 분해 평면도이며, 도 3은 도 1에 도시된 센서 패드를 포함하는 터치 스크린 패널에 대한 불량 여부를 검사하는 장치를 예시로서 나타낸 도면이다. 또한, 도 4 는 본 발명의 한 실시예에 따른 인접 센서 패드에 전압 또는 접지를 인가하는 검출부의 등가 회로를 예시한 회로도이다. 고체의 형태를 가진 모든 매질은 공기 또는 자유공간의 유전율보다 높기 때문에, 도선과 도선이 하나의 매질 위에 형성되어 있는 물체는 각 도체에 자연스럽게 기생용량이 발생될 수 있다. 따라서, 정전용량 방식의 터치 스크린 패널(TSP)과 집적 회로(IC)를 포함하는 터치 모듈은 각각의 기생정전용량(Cp)을 가지고 있다.
터치 스크린 패널이 정상적인 허용오차 범위 내로 관리되기 위해서, 터치 모듈이나 터치 스크린 패널에 발생하는 기생정전용량은 각각 허용하는 오차 범위 이내로 임피던스가 형성된다. 예를 들어, 집적 회로(IC; Integrated Circuit)의 pin이 가지고 있는 고유의 기생정전용량(Cp-ic), FPCB(FLEXIBLE PCB)의 패턴 간 상호 작용에 의해 발생하는 기생정전용량(Cp-fpcb), 터치 스크린 패널의 패턴 간 상호 작용에 의해 발생하는 기생정전용량(Cp-tsp)는 각각 허용하는 오차 범위 이내로 임피던스가 형성될 수 있다.
만약 터치 스크린 패널에 형성되어 있는 센서 패드의 구조가 비슷한 범위의 기생정전용량(Cp-tsp)을 갖도록 설계되어 있다면, 터치 모듈에서 IC가 인식하는 각 센서 패드(또는 센서 노드)들의 값은 모두 일정 범위 내에 속하게 된다.
특히, 도 3에 도시한 형태의 터치 스크린 패널과 같이 행(Row) 방향에 형성되어 있는 동일한 사이즈의 센서 패드들이 거의 비슷한 길이의 신호 배선(Trace)으로 IC(도시 생략)와 연결되면, 동일 행에 형성된 센서 패드들의 정전용량 값은 비슷한 값들을 갖게 된다.
예를 들어, 센서 패드와 신호 배선의 연결이 단선(Open)되어 있으면 기생정전용량이 작아지고, 단락(Short)된 경우에는 기생정전용량의 크기가 커지게 되므로, 해당 센서 패드의 정전용량 값은 기생정전용량의 차이만큼 주변 센서 패드의 정전용량 값 보다 크거나 작게 된다.
따라서, 인체 또는 테스트용 도구에 의한 직접적인 접촉이 발생되지 않더라도, 특정 센서 패드의 정전용량 값이 다음의 [수학식 1]에 의해 결정된 범위 안에 들지 않으면 불량으로 판별할 수 있다.
[수학식 1]
(행 방향의 전체 센서 패드에 대한 합 - 동일 행 방향 중 최고치 - 동일 행 방향 중 최저치) / (행 방향의 전체 센서 패드의 개수 - 2) ± 허용 오차
이 때, 동일한 행에 위치한 센서 패드들 중 복수 개의 센서 패드가 불량인 경우에 대비하여, 센서 패드 중 최고치 및 최저치를 제외하고 [수학식 1]에 적용하여 이전 계산 값과 비교하는 과정을 반복하여, 결과 값의 편차가 허용하는 범위 이내로 획득한 값들을 이용하여 기준 범위를 설정할 수 있다.
또한, 행 방향의 전체 센서 패드가 불량일 경우를 대비하여, 상한값(Satuation 값)(Short)과 하한값(under limit)을 유효 센서 패드로부터 배제하도록 범위를 설정한다.
이러한 비교 판정하는 방법은 테스트 단계에서 정확한 기준 범위를 설정하지 못 하였을 때 사용하는 방법으로서, IC 내부 회로에서 자가 테스트를 통해 조립 상태를 판단하는 경우에 유효하다. 또한, 기준 범위가 분명한 경우는 [수학식 1] 대신 기준 범위를 상수로 메모리의 특정 위치에 저장하여 비교하거나, 테스트 장비의 설정 값을 지정하여 사용할 수 있다.
전술한 바와 같은 방법은, 인체 또는 외부 테스트용 도구의 터치 조건이 아닌 상태에서 검사를 진행한다. 즉, 테스트하려는 특정 센서 패드를 제외한 인접 센서 패드의 상태를 접지(GND)로 설정하여 테스트하고, 해당 인접 센서 패드의 상태를 특정 크기의 전원 전압(Vcc) 상태로 설정하여 테스트를 반복하게 되면, 센서 패드에서의 정전용량은 도 4a 및 도 4b와 같은 등가 회로와 같이 나타낼 수 있다.
도 4a 및 도 4b에 도시된 등가 회로와 같이, 인접 센서 패드(주변의 센서 패드)를 제어함에 따라 기생정전용량의 방향을 달리하여 테스트하려는 특정 센서 패드의 정전용량 값(Sensing Data)을 취득할 경우 외부의 접촉이 있는 것과 유사하게 특정 센서 패드와 컨트롤러(Controller) 간의 연결 상태 및 해당 센서 패드의 감도를 검출해낼 수 있다.
한편, 터치 센서 검사 장치는 컨트롤러에 포함될 수 있으나, 이에 한정되지 않는다.
도 5는 도 1에 도시한 터치 센서 검사 장치를 이용하여 센서 패드를 검사하는 일 예에 관한 도면이다.
도 5에는 도 1을 참조하여 설명한 센서 패드, 즉 고립된 형태로 배치된 복수의 센서 패드를 포함하는 터치 스크린 패널을 예시하였다.
센서 패드가 고립된 형태로 배치되고 인접한 다각형의 매트릭스 형태로 배열된 경우, 터치 센서 검사 장치(500)는 센서 패드들을 충전 및 플로팅 시킨 후, 테스트하려는 특정 센서 패드(10)를 제외한 센서 패드에 특정 크기의 전원 전압(Vcc) 및 접지(GND) 중 적어도 하나를 인가하여 특정 센서 패드(10)의 정전용량 값을 검출할 수 있다.
예를 들어, 터치 센서 검사 장치(500)는 특정 센서 패드(10)를 제외한 모든 센서 패드에 접지(GND)를 인가하여 특정 센서 패드(10)의 정전용량 값을 검출하고, 다시 특정 센서 패드(10)를 제외한 모든 센서 패드에 특정 크기의 전원 전압(Vcc)을 인가하여 특정 센서 패드(10)의 정전용량 값을 검출할 수 있다.
이후, 터치 센서 검사 장치(500)는 검출된 정전용량 값과 기준 범위를 비교하여, 특정 센서 패드(10)가 불량인지 여부를 검사할 수 있다.
도 6은 도 2에 도시한 터치 센서 검사 장치를 이용하여 센서 노드를 검사하는 일 예에 관한 도면이다.
도 6에 도시한 터치 스크린 패널(600)은 도 2에서 전술한 센서 노드를 포함한다. 즉, 센서 노드는 복수의 구동 라인, 복수의 구동 라인과 교차되는 방향으로 배열된 복수의 감지 라인 및 구동 라인과 감지 라인의 교차점에 형성되는 복수의 노드를 일컫는 개념이다.
터치를 인식하기 위해 스캔하는 방식은 Self Capacitance 방식(이하, Self 방식)과, Mutual Capacitance 방식(Mutual 방식)을 포함하며, 스캔 방식에 따라 특정 센서 패드의 불량을 검사하는 방법이 상이할 수 있다.
먼저, 도 6에 도시한 터치 스크린 패널이 Mutual 방식인 경우, 터치 센서 검사 장치(600)는 테스트하려는 특정 센서 노드(C2R3)와 상관 있는 구동 라인과 감지 라인, 즉 C2 라인과 R3 라인 이외에 C1, C3, C4, C5, R1, R2, R4, R5, R6 라인에 모두 접지를 인가한 후 특정 센서 노드의 정전용량 값을 검출하고, 해당 취득 프로세스가 종료되면 C1, C3, C4, C5, R1, R2, R4, R5, R6라인에 모두 특정 크기의 전원 전압(Vcc)을 인가하여 특정 센서 노드(C2R3)의 정전용량 값을 검출할 수 있다. 이후, 터치 센서 검사 장치(600)는 검출된 정전용량 값과 기준 범위를 비교하여, 특정 센서 노드(C2R3)가 불량인지 여부를 검사할 수 있다.
도 7은 본 발명의 한 실시예에 따른 터치 센서 검사 방법을 도시한 흐름도이다. 도 7에서 설명되는 터치 센서 검사 방법은 도 1에 도시한 터치 센서 검사 장치에 대한 터치 센서 검사 방법이다.
도 7을 참조하면, 단계 S110에서, 터치 센서 검사 장치(100)는 복수의 센서 패드를 충전 및 플로팅 시킨다.
단계 S120에서, 터치 센서 검사 장치(100)는 복수의 센서 패드 중 선택된 특정 센서 패드를 제외한 인접 센서 패드에 특정 크기의 전원 전압 및 접지 중 적어도 하나를 인가한다.
단계 S130에서, 터치 센서 검사 장치(100)는 인접 센서 패드에 특정 크기의 전원 전압 및 접지 중 적어도 하나를 인가한 후, 특정 센서 패드의 정전용량 값을 검출한다. 이 때, 정전용량 값은 인접 센서 패드에 전압을 인가하여 검출된 값과 인접 센서 패드에 접지를 인가하여 검출된 값을 차분한 값을 포함할 수 있다. 또한, 정전용량 값은 센서 패드들 간에 형성되는 기생정전용량 값에 따른 차이를 반영한 값을 포함할 수 있다.
단계 S140에서, 터치 센서 검사 장치(100)는 검출된 정전용량 값과 소정의 기준 범위를 비교하여 특정 센서 패드가 불량인지 여부를 검사한다. 즉, 터치 센서 검사 장치(100)는 정전용량 값이 기준 범위에 포함되는지 여부를 검사할 수 있으며, 기준 범위에 포함되지 않는 경우, 특정 센서 패드를 불량으로 판별할 수 있다.
이 때, 기준 범위는 인접 센서 패드에 전압을 인가하는지, 접지를 인가하는지에 따라 상이하게 설정될 수 있다.
또한, 기준 범위는, 특정 센서 패드 및 인접 센서 패드의 정전용량 값을 합한 전체 정전용량 값에서 전체 정전용량 값 중 최고치와 최저치를 차감한 값을, 특정 센서 패드 및 상기 인접 센서 패드의 개수에서 2를 차감한 값으로 나눈 값에 미리 설정된 허용 오차 범위를 포함할 수 있다.
이러한 단계[(S120) 내지 (S140)]를 반복함으로써 지속적으로 특정 센서 패드의 정전용량 값을 검출하고, 검출된 정전용량 값과 기준 범위를 비교하여 특정 센서 패드의 불량 여부를 검사할 수 있다.
도 8은 본 발명의 다른 실시예에 따른 터치 센서 검사 방법을 도시한 흐름도이다. 도 7에서 설명되는 터치 센서 검사 방법은 도 2에 도시한 터치 센서 검사 장치에 대한 터치 센서 검사 방법이다.
도 8을 참조하면, 단계 S210에서, 센서 노드 중 선택된 특정 센서 노드를 지나는 특정 구동 라인 및 특정 감지 라인을 제외한 인접 구동 라인 및 인접 감지 라인에 특정 크기의 전원 전압 및 접지 중 적어도 하나를 인가한다.
단계 S220에서, 터치 센서 검사 장치(200)는 인접 구동 라인 및 인접 감지 라인에 특정 크기의 전원 전압 및 접지 중 적어도 하나를 인가한 후, 특정 센서 노드의 정전용량 값을 검출한다.
단계 S230에서, 터치 센서 검사 장치(200)는 검출된 정전용량 값과 소정의 기준 범위를 비교하여 특정 센서 노드가 불량인지 여부를 검사한다.
이러한 단계[(S210) 내지 (S230)]를 반복함으로써 지속적으로 특정 센서 노드의 정전용량 값을 검출하고, 검출된 정전용량 값과 기준 범위를 비교하여 특정 센서 노드의 불량 여부를 검사할 수 있다.
전술한 본 개시의 설명은 예시를 위한 것이며, 본 개시가 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 자는 본 개시의 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 쉽게 변형이 가능하다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 예를 들어, 단일형으로 설명되어 있는 각 구성 요소는 분산되어 실시될 수도 있으며, 마찬가지로 분산된 것으로 설명되어 있는 구성 요소들도 결합된 형태로 실시될 수 있다.
본 개시의 보호 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 균등 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.

Claims (9)

  1. a) 고립된 형태로 배치된 복수의 센서 패드를 충전시킨 후 플로팅 시키는 단계;
    b) 상기 복수의 센서 패드 중 선택된 특정 센서 패드를 제외한 인접 센서 패드에 특정 크기의 전원 전압 및 접지 중 적어도 하나를 인가하여 상기 특정 센서 패드의 정전용량 값을 검출하는 단계; 및
    c) 상기 검출된 정전용량 값과 소정의 기준 범위를 비교하여 상기 특정 센서 패드가 불량인지 여부를 검사하는 단계를 포함하는 터치 센서 검사 방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 c) 단계는, 상기 정전용량 값이 상기 기준 범위에 포함되는지 여부를 검사하되,
    상기 기준 범위에 포함되지 않는 경우, 상기 특정 센서 패드를 불량으로 판별하는 것인 터치 센서 검사 방법.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 b) 단계에서, 상기 정전용량 값은, 상기 인접 센서 패드에 전압을 인가하여 검출된 값과 상기 인접 센서 패드에 접지를 인가하여 검출된 값을 차분한 값을 포함하는 것인 터치 센서 검사 방법.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 c) 단계에서, 상기 기준 범위는 상기 인접 센서 패드에 전압을 인가하는지, 접지를 인가하는지에 따라 상이하게 설정되는 것인 터치 센서 검사 방법.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 c) 단계에서,
    상기 기준 범위는, 상기 특정 센서 패드 및 상기 인접 센서 패드의 정전용량 값을 합한 전체 정전용량 값에서 상기 전체 정전용량 값 중 최고치와 최저치를 차감한 값을, 상기 특정 센서 패드 및 상기 인접 센서 패드의 개수에서 2를 차감한 값으로 나눈 값에 미리 설정된 허용 오차 범위를 포함하는 것인 터치 센서 검사 방법.
  6. 고립된 형태로 배치된 복수의 센서 패드;
    상기 복수의 센서 패드를 충전 및 플로팅 시키는 충전부;
    상기 복수의 센서 패드 중 선택된 특정 센서 패드를 제외한 인접 센서 패드에 특정 크기의 전원 전압 및 접지 중 적어도 하나를 인가하여 상기 특정 센서 패드의 정전용량 값을 검출하는 검출부; 및
    상기 검출된 정전용량 값과 소정의 기준 범위를 비교하여 상기 특정 센서 패드가 불량인지 여부를 검사하는 검사부를 포함하는 터치 센서 검사 장치.
  7. 복수의 구동 라인, 상기 복수의 구동 라인과 교차되는 방향으로 배열된 복수의 감지 라인 및 상기 구동 라인과 감지 라인의 교차점에 형성되는 복수의 센서 노드를 포함하는 터치 센서를 검사하는 방법에 있어서,
    a) 상기 센서 노드 중 선택된 특정 센서 노드를 지나는 특정 구동 라인 및 특정 감지 라인을 제외한 인접 구동 라인 및 인접 감지 라인에 특정 크기의 전원 전압 및 접지 중 적어도 하나를 인가하여 상기 특정 센서 노드의 정전용량 값을 검출하는 단계; 및
    b) 상기 검출된 정전용량 값과 소정의 기준 범위를 비교하여 상기 특정 센서 노드가 불량인지 여부를 검사하는 단계를 포함하는 터치 센서 검사 방법.
  8. 제 7 항에 있어서,
    상기 b) 단계는, 상기 정전용량 값이 상기 기준 범위에 포함되는지 여부를 검사하되,
    상기 기준 범위에 포함되지 않는 경우, 상기 특정 센서 노드를 불량으로 판별하는 것인 터치 센서 검사 방법.
  9. 복수의 구동 라인, 상기 복수의 구동 라인과 교차되는 방향으로 배열된 복수의 감지 라인 및 상기 구동 라인과 감지 라인의 교차점에 형성되는 복수의 센서 노드;
    상기 센서 노드 중 선택된 특정 센서 노드를 지나는 특정 구동 라인 및 특정 감지 라인을 제외한 인접 구동 라인 및 인접 감지 라인에 특정 크기의 전원 전압 및 접지 중 적어도 하나를 인가하여 상기 특정 센서 노드의 정전용량 값을 검출하는 검출부; 및
    상기 검출된 정전용량 값과 소정의 기준 범위를 비교하여 상기 특정 센서 노드가 불량인지 여부를 검사하는 검사부를 포함하는 터치 센서 검사 장치.
KR1020120117995A 2012-06-04 2012-10-23 터치 센서 검사 방법 및 장치 KR101413087B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/KR2013/004934 WO2013183921A1 (ko) 2012-06-04 2013-06-04 터치 센서 검사 방법 및 장치

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR20120060010 2012-06-04
KR1020120060010 2012-06-04

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20130136358A true KR20130136358A (ko) 2013-12-12
KR101413087B1 KR101413087B1 (ko) 2014-08-06

Family

ID=49983196

Family Applications (12)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020120090539A KR101410414B1 (ko) 2012-06-04 2012-08-20 모션 감지 기능을 가지는 터치 스크린 패널
KR1020120101479A KR101382435B1 (ko) 2012-06-04 2012-09-13 터치 검출 장치 및 터치 검출 방법
KR20120117434A KR101482988B1 (ko) 2012-06-04 2012-10-22 터치 검출 장치
KR1020120117433A KR101416562B1 (ko) 2012-06-04 2012-10-22 터치 검출 장치
KR1020120117995A KR101413087B1 (ko) 2012-06-04 2012-10-23 터치 센서 검사 방법 및 장치
KR1020120120539A KR101453347B1 (ko) 2012-06-04 2012-10-29 노이즈 감소를 위한 터치 검출 방법 및 장치
KR1020120120540A KR101427782B1 (ko) 2012-06-04 2012-10-29 터치 검출 방법 및 장치
KR20120122449A KR101482931B1 (ko) 2012-06-04 2012-10-31 터치 검출 방법 및 장치
KR1020120130768A KR101390003B1 (ko) 2012-06-04 2012-11-19 터치 감지 방법 및 장치
KR1020130006459A KR101473186B1 (ko) 2012-06-04 2013-01-21 터치 검출 장치 및 방법
KR1020130024587A KR101461925B1 (ko) 2012-06-04 2013-03-07 시인성 개선을 위한 터치 검출장치
KR1020130064288A KR101447664B1 (ko) 2012-06-04 2013-06-04 오버 드라이브 구동 방식의 터치 검출 장치 및 터치 검출 방법

Family Applications Before (4)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020120090539A KR101410414B1 (ko) 2012-06-04 2012-08-20 모션 감지 기능을 가지는 터치 스크린 패널
KR1020120101479A KR101382435B1 (ko) 2012-06-04 2012-09-13 터치 검출 장치 및 터치 검출 방법
KR20120117434A KR101482988B1 (ko) 2012-06-04 2012-10-22 터치 검출 장치
KR1020120117433A KR101416562B1 (ko) 2012-06-04 2012-10-22 터치 검출 장치

Family Applications After (7)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020120120539A KR101453347B1 (ko) 2012-06-04 2012-10-29 노이즈 감소를 위한 터치 검출 방법 및 장치
KR1020120120540A KR101427782B1 (ko) 2012-06-04 2012-10-29 터치 검출 방법 및 장치
KR20120122449A KR101482931B1 (ko) 2012-06-04 2012-10-31 터치 검출 방법 및 장치
KR1020120130768A KR101390003B1 (ko) 2012-06-04 2012-11-19 터치 감지 방법 및 장치
KR1020130006459A KR101473186B1 (ko) 2012-06-04 2013-01-21 터치 검출 장치 및 방법
KR1020130024587A KR101461925B1 (ko) 2012-06-04 2013-03-07 시인성 개선을 위한 터치 검출장치
KR1020130064288A KR101447664B1 (ko) 2012-06-04 2013-06-04 오버 드라이브 구동 방식의 터치 검출 장치 및 터치 검출 방법

Country Status (1)

Country Link
KR (12) KR101410414B1 (ko)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20150071543A (ko) * 2013-12-18 2015-06-26 엘지디스플레이 주식회사 터치전극의 정전용량 산출 장치 및 방법
KR101671835B1 (ko) * 2015-07-17 2016-11-04 주식회사 지2터치 논터치 방식의 터치스크린 모듈 검사 장치 및 방법
KR20190005410A (ko) 2017-07-06 2019-01-16 동우 화인켐 주식회사 터치 센서 검사 장치 및 방법
KR20200107500A (ko) * 2019-03-08 2020-09-16 동우 화인켐 주식회사 터치센서 검사장치
US11275465B2 (en) 2020-02-06 2022-03-15 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. Self-checking circuit, touch sensing device, and electronic device

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102119774B1 (ko) * 2013-12-18 2020-06-16 엘지디스플레이 주식회사 표시장치 및 그 구동방법
WO2015119462A1 (ko) * 2014-02-08 2015-08-13 주식회사 센트론 복수 개의 독립적인 감지전극을 서로 연결하여 특정 감지전극에 대한 터치입력정보를 획득하는 방법
KR101585918B1 (ko) * 2014-04-15 2016-01-15 크루셜텍 주식회사 터치 검출 장치
KR102294702B1 (ko) 2014-06-03 2021-08-26 동우 화인켐 주식회사 터치 패널
KR101522141B1 (ko) * 2014-07-29 2015-05-20 주식회사 동부하이텍 스마트 기기 및 이를 제어하는 방법
KR101582940B1 (ko) 2014-12-10 2016-01-07 주식회사 지2터치 터치 신호 검출 장치 및 터치 신호 검출 방법
KR20160110021A (ko) * 2015-03-12 2016-09-21 솔로몬 시스테크 리미티드 터치 센서의 쇼트 불량 감지방법
KR101687218B1 (ko) * 2015-06-09 2016-12-16 크루셜텍 (주) 시인성 개선을 위한 플렉서블 터치 검출 장치
KR102625601B1 (ko) 2016-01-26 2024-01-17 삼성디스플레이 주식회사 터치 표시 장치 및 이의 제조 방법
KR102596177B1 (ko) * 2016-07-29 2023-11-01 삼성전자 주식회사 전자 장치 및 전자 장치의 터치 입력 처리 방법
KR102580125B1 (ko) * 2016-07-29 2023-09-18 엘지디스플레이 주식회사 더미터치링크라인을 가진 인셀터치방식 표시장치
CN106843575B (zh) * 2017-01-11 2020-01-17 武汉华星光电技术有限公司 混合内嵌式触摸面板驱动电路及检测方法
KR102341411B1 (ko) 2017-03-31 2021-12-22 삼성디스플레이 주식회사 터치 센서, 그의 구동 방법 및 표시 장치
KR102430320B1 (ko) 2017-12-11 2022-08-09 삼성디스플레이 주식회사 터치 센서 및 이를 포함하는 터치 표시 장치
KR102479079B1 (ko) * 2017-12-29 2022-12-19 엘지디스플레이 주식회사 터치표시장치, 터치구동회로 및 터치구동방법
KR20200102036A (ko) 2019-02-20 2020-08-31 삼성디스플레이 주식회사 표시장치 및 터치센서
KR102150881B1 (ko) 2019-03-21 2020-09-02 동우 화인켐 주식회사 터치센서 및 이를 형성하는 노광 마스크
KR102520036B1 (ko) * 2019-03-21 2023-04-07 동우 화인켐 주식회사 터치센서용 노광 마스크
KR20220018116A (ko) 2020-08-05 2022-02-15 삼성디스플레이 주식회사 터치 감지 장치, 그를 포함하는 표시 장치, 및 그의 구동 방법
CN112578952B (zh) * 2020-12-30 2022-11-08 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 电容式触摸屏装置及其读取方法

Family Cites Families (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100420945B1 (ko) 2001-12-14 2004-03-02 주식회사 맥퀸트전자 인체접촉강도 감지장치 및 이를 이용한 인체접촉강도감지방법
KR20070064769A (ko) * 2005-12-19 2007-06-22 삼성전자주식회사 액정 표시 장치
KR20090012514A (ko) * 2007-07-30 2009-02-04 에이디반도체(주) 정전용량센서를 이용하는 터치스크린
KR101486933B1 (ko) * 2008-04-30 2015-01-30 (주)멜파스 터치스크린 패널, 터치스크린 장치 및 터치스크린 제어장치
KR101496844B1 (ko) * 2008-07-28 2015-02-27 삼성디스플레이 주식회사 터치 스크린 표시 장치 및 그 구동 방법
KR100973139B1 (ko) * 2008-08-20 2010-07-29 영남대학교 산학협력단 터치키 응용을 위한 풀 디지털 방식 정전용량 센서 및 그 동작 방법
CN101833387B (zh) * 2009-03-13 2013-09-11 宸鸿光电科技股份有限公司 感压式触控装置
US9417739B2 (en) * 2009-05-29 2016-08-16 3M Innovative Properties Company High speed multi-touch touch device and controller therefor
JP2011100438A (ja) * 2009-06-05 2011-05-19 Rohm Co Ltd 静電容量式入力装置
JP2010286981A (ja) * 2009-06-10 2010-12-24 Sanyo Electric Co Ltd 静電容量型タッチセンサ用の信号処理回路
US8279189B2 (en) * 2009-08-11 2012-10-02 Atmel Corporation Touch-sensitive user interface
JP2011060021A (ja) * 2009-09-10 2011-03-24 Aitesu:Kk 静電容量式タッチパネルの検査装置、検査方法、及び検査シート
KR101103825B1 (ko) * 2009-10-19 2012-01-06 주식회사 애트랩 멀티 터치를 감지할 수 있는 터치 패널 및 이 장치의 멀티 터치 감지 방법
KR101124521B1 (ko) * 2009-11-24 2012-03-16 주식회사 윈터치 터치패드 기능을 구비한 타블렛
KR101082162B1 (ko) 2009-12-03 2011-11-09 삼성모바일디스플레이주식회사 터치 스크린 패널 일체형 평판표시장치
KR101631892B1 (ko) * 2010-01-28 2016-06-21 삼성전자주식회사 터치 패널 및 이를 구비한 전자기기
KR101726623B1 (ko) * 2010-03-16 2017-04-14 엘지디스플레이 주식회사 터치 패널
JP5531768B2 (ja) * 2010-05-13 2014-06-25 ソニー株式会社 情報入力装置
JP2012003554A (ja) 2010-06-17 2012-01-05 Alps Electric Co Ltd 静電容量式近接センサ装置、及びそれを用いた入力装置
US20120013565A1 (en) 2010-07-16 2012-01-19 Perceptive Pixel Inc. Techniques for Locally Improving Signal to Noise in a Capacitive Touch Sensor
TWI436244B (zh) 2010-08-13 2014-05-01 Raydium Semiconductor Corp 觸控輸入裝置及其掃描方法
JP2010272143A (ja) 2010-08-27 2010-12-02 Elo Touchsystems Inc 投影型静電容量方式センサおよび感圧タッチセンサを用いたデュアルセンサタッチスクリーン
KR101085089B1 (ko) 2010-09-04 2011-11-18 이성호 레벨시프트를 이용한 정전식 터치 검출수단, 검출방법 및 터치스크린패널과, 그러한 정전식 터치스크린패널을 내장한 표시장치
KR101085088B1 (ko) 2010-09-01 2011-11-18 이성호 레벨시프트를 이용한 정전식 터치 검출수단, 검출방법 및 터치스크린패널과, 그러한 정전식 터치스크린패널을 내장한 표시장치
KR101085086B1 (ko) 2010-09-29 2011-11-18 이성호 레벨시프트를 이용한 정전식 터치 검출수단, 검출방법 및 터치스크린패널과, 그러한 정전식 터치스크린패널을 내장한 표시장치
US9454268B2 (en) * 2010-10-12 2016-09-27 Parade Technologies, Ltd. Force sensing capacitive hybrid touch sensor
KR20120049019A (ko) * 2010-11-08 2012-05-16 삼성모바일디스플레이주식회사 정전용량형 터치 패널
KR101374312B1 (ko) * 2011-10-21 2014-03-14 주식회사 지2터치 전압변동을 이용한 정전식 터치 검출수단, 검출방법 및 터치스크린패널과, 그러한 정전식 터치스크린패널을 내장한 표시장치

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20150071543A (ko) * 2013-12-18 2015-06-26 엘지디스플레이 주식회사 터치전극의 정전용량 산출 장치 및 방법
KR101671835B1 (ko) * 2015-07-17 2016-11-04 주식회사 지2터치 논터치 방식의 터치스크린 모듈 검사 장치 및 방법
KR20190005410A (ko) 2017-07-06 2019-01-16 동우 화인켐 주식회사 터치 센서 검사 장치 및 방법
KR20200107500A (ko) * 2019-03-08 2020-09-16 동우 화인켐 주식회사 터치센서 검사장치
US11275465B2 (en) 2020-02-06 2022-03-15 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. Self-checking circuit, touch sensing device, and electronic device

Also Published As

Publication number Publication date
KR20130136356A (ko) 2013-12-12
KR101473186B1 (ko) 2014-12-16
KR101413087B1 (ko) 2014-08-06
KR20130136376A (ko) 2013-12-12
KR101447664B1 (ko) 2014-10-07
KR20130136350A (ko) 2013-12-12
KR101416562B1 (ko) 2014-07-10
KR101482988B1 (ko) 2015-01-16
KR20130136362A (ko) 2013-12-12
KR20130136361A (ko) 2013-12-12
KR20130136353A (ko) 2013-12-12
KR101390003B1 (ko) 2014-04-25
KR20130136374A (ko) 2013-12-12
KR20130136360A (ko) 2013-12-12
KR20130136414A (ko) 2013-12-12
KR20130136364A (ko) 2013-12-12
KR20130136357A (ko) 2013-12-12
KR101410414B1 (ko) 2014-06-20
KR101427782B1 (ko) 2014-08-07
KR101453347B1 (ko) 2014-10-21
KR101461925B1 (ko) 2014-11-14
KR101382435B1 (ko) 2014-04-18
KR101482931B1 (ko) 2015-01-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101413087B1 (ko) 터치 센서 검사 방법 및 장치
CN102809707B (zh) 使用互电容器测量的触摸面板测试
US8279197B2 (en) Method and apparatus for detecting defective traces in a mutual capacitance touch sensing device
JP4889833B2 (ja) 静電容量式タッチパネルの検査装置、及び検査方法
KR101103825B1 (ko) 멀티 터치를 감지할 수 있는 터치 패널 및 이 장치의 멀티 터치 감지 방법
TWI469022B (zh) 電容性觸控式螢幕系統以及偵測電容性觸控式螢幕系統上之觸摸的方法
KR102030635B1 (ko) 터치 패널의 검사 장치 및 그 방법
TW201447683A (zh) 力感測ｘ－ｙ觸控感測器
KR20120083246A (ko) 지문 판독기를 구비한 정전용량 방식 터치 스크린 또는 터치 패널
US10248265B2 (en) Touch detecting panel
US9213057B2 (en) Testing system and testing method for touch device
KR20110083196A (ko) 터치패널의 검사장치
US20140292708A1 (en) Touchscreen apparatus
KR101848534B1 (ko) 멀티-터치 크로스바-네트워크 센서로부터 데이터를 획득하기 위한 방법 및 장치
KR101502907B1 (ko) 터치 검출 장치 및 방법
JP2011090358A (ja) 静電容量式タッチパネルの検査装置、及び検査方法
CN106054013B (zh) 触摸装置检测方法及触摸装置
KR101473187B1 (ko) 정전기 보호 기능을 가진 터치 검출 장치
JP2011060021A (ja) 静電容量式タッチパネルの検査装置、検査方法、及び検査シート
CN104520792A (zh) 用于大型触摸屏的电极配置
JP6369589B1 (ja) 静電容量式タッチパネル
US20120287078A1 (en) Multi-touch detection method and device thereof
JP6303753B2 (ja) タッチパネル検査装置、及びタッチパネル検査方法
JP6001764B2 (ja) タッチ検出モジュールおよび該タッチ検出モジュールにおける接触体のタッチ検出方法
KR20170019740A (ko) 터치 센서 검사 장치

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170324

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180427

Year of fee payment: 5