CN102809707A - 使用互电容器测量的触摸面板测试 - Google Patents

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Abstract

在不使用触摸电容性触摸面板的表面的工具的情况下测试所述面板以检查驱动线和感测线中的短路和开路的存在或不存在。在测试的第一级期间，依序驱动所述触摸面板的驱动线，同时浮动剩余的驱动线。读取感测线以指示经驱动的驱动线是否短接到邻近的驱动线、开路或耦合到开路的感测线。在测试的第二级期间，驱动驱动线，同时浮动或启用交替的感测线。获取所述经启用的感测线上的信号以指示所述经启用的感测线是否短接到邻近的感测线。可重复此第二级，交换所述感测线的角色，以确定短路和/或开路的位置。

Description

使用互电容器测量的触摸面板测试
相关申请案的交叉参考
本申请案依据35U.S.C.§119(e)主张2011年5月19日申请的题目为“基于互电容器测量的面板测试方法(PANEL TEST METHOD BASED ON MUTUAL CAPACITORMEASUREMENT)”的第61/488,119号美国临时申请案和2011年6月9日申请的题目为“使用互电容器测量来测试触摸面板的方法(METHOD OF TESTING A TOUCH PANELUSING MUTUAL CAPACITOR MEASURMENTS)”的第61/495,139号美国临时申请案的权益。第61/488,119号和第61/495,139号美国临时申请案以全文引用方式并入本文。
技术领域
本发明涉及一种触摸面板，且更特定来说涉及触摸面板测试。
背景技术
触摸面板是人机接口(HMI)，其允许电子装置的操作者使用例如手指、尖笔等等手段提供对装置的输入。举例来说，操作者可使用他或她的手指来操纵电子显示器上的图像，所述电子显示器例如为附接到移动计算装置的显示器、个人计算机(PC)或连接到网络的终端。在一些情况下，操作者可同时使用两个或两个以上手指来提供唯一命令，例如：放大命令，其通过使两个手指移动彼此远离而执行；缩小命令，其通过使两个手指朝向彼此移动而执行；等等。
触摸屏是电子视觉显示器，其并入有上覆于显示器的触摸面板以检测屏幕的显示区域内的触摸的存在和/或位置。触摸屏在例如一体式计算机、平板计算机、卫星导航装置、游戏装置和智能电话等装置中是常见的。触摸屏使操作者能够与下伏于触摸面板的显示器显示的信息直接交互，而不是与由鼠标或触摸板控制的指针间接交互。电容性触摸面板常常与触摸屏装置一起使用。电容性触摸面板通常包含以例如氧化铟锡(ITO)等透明导体涂覆的例如玻璃等绝缘体。由于人体也是电导体，因此触摸面板的表面导致面板的静电场的失真，其可作为电容改变来测量。
发明内容
描述用于在不使用触摸电容性触摸面板的表面的工具的情况下测试所述面板以检查其驱动和感测线中的短路和开路的存在或不存在的技术。在一个或一个以上实施方案中，所述技术可实施为具有两个或两个以上测试级(例如，第一测试级和第二级)的测试。在测试的第一级期间，依序驱动触摸面板的驱动线，同时浮动其它驱动线。读取感测线上的所得信号以指示经驱动的驱动线是否短接到邻近的驱动线、开路、耦合到开路的感测线，还是不具有短路或开路。在测试的第二级期间，驱动驱动线，同时浮动或启用交替感测线。读取经启用的感测线上的信号以指示经启用的感测线是否短接到邻近的感测线。可重复此第二级，切换交替感测线的角色，以确定短路和/或开路的实际位置。
提供此发明内容以用简化形式介绍概念的选择，其在下文的具体实施方式中进一步描述。此发明内容既定不识别所主张标的物的关键特征或基本特征，也既定不用作确定所主张标的物的范围的辅助。
附图说明
参考附图描述详细描述内容。描述内容和图中的不同例子中的相同的参考数字和/或标记的使用可指示类似或相同的项目。
图1是描绘具有驱动线和感测线栅格的电容性触摸面板中的邻近的驱动线之间的短路的图解说明。
图2A是说明根据本发明在两根驱动线一起短接时且在读取感测线的情况下的经启用的驱动线与邻近的浮动驱动线的功能等效电路的图。
图2B是说明根据本发明的实例实施方案在两根驱动线未一起短接时且在读取感测线的情况下的经启用的驱动线与邻近的浮动驱动线的功能等效电路的图。
图2C是说明在两根驱动线一起短接时的经启用的驱动线与邻近的接地驱动线的功能等效电路的图，以更好地说明本发明的一个原理。
图3是说明根据本发明的实例实施方案用于确定邻近的驱动线之间的短路或驱动线与感测线之间的开路的方法的流程图。
图4是说明感测通道低噪声放大器电路的简化模型的图。
图5A是说明正常情况下的经短接的感测线的简化模型的图。
图5B是说明在低噪声放大器的一个通道被停用时经短接的感测线的简化模型的图。
图6A和6B是描绘根据本发明的实例实施方案在分别测量奇数和偶数感测线以确定邻近的感测线之间的短路时的电容性触摸面板的图解说明。
图7是说明根据本发明的实例实施方案的用于确定邻近的感测线之间的短路的方法的流程图。
图8是说明根据本发明的实例实施方案的使用测试系统经受测试的触摸面板的方框图。
具体实施方式
概述
触摸面板可具有任何数目个缺陷，其可在制造过程期间通过测试而检测出。触摸面板可具有来自电路板上的较差的焊料连接或由于其它制造缺陷而引起的短路和开路。传统上通过系统地将包含一个或一个以上电容性探针(对象)的工具触摸到面板表面，模拟正常使用期间的手指触摸，且确定所述触摸是否被面板准确地检测到，来测试电容性触摸面板。出故障的触摸面板可由于(例如)触摸面板电路的感测线与驱动线中的短路或开路而无法准确地检测到电容性探针进行的触摸中的一者或一者以上。
在测试设置期间，触摸面板被组件紧固在测试固定装置(例如，夹具或其它工具)中，所述组件将电容性探针(对象)触摸到面板的表面，且随后从所述表面抬起那些探针。测量由触摸产生的电容中的任何改变且与预期值进行比较。所测量值与预期值之间的显著差异指示触摸面板中的缺陷。当测试完成时，从测试固定装置移除触摸面板。
为了充分地测试触摸面板，必须将电容性探针触摸到面板且在触摸面板表面上的多个位置处进行测量。因此，对触摸面板的测试是耗时的过程，尤其对于较大的触摸面板来说更是如此。将触摸面板连接到测试固定装置以及从测试固定装置断开触摸面板的时间增加了总的测试时间，从而降低了测试处理量并增加了劳动成本。所述测试过程还需要昂贵的测试固定装置(例如，测试夹具和/或其它定位工具)。另外，如果电容性探针未准确地定位在触摸面板上，使得在预期的地方未检测到触摸，则测试可不正确地发出错误信号，例如“假肯定”。另外，如果以过大的力与触摸面板相抵地放置电容性探针，则触摸面板可被损坏。
因此，本文中所描述的技术允许针对电容性触摸面板的驱动线和感测线中的短路和开路的存在来测试电容性触摸面板，而不使用触摸面板表面的工具。所述技术可实施为具有两个或两个以上测试级(例如，第一测试级和第二级)的测试。在测试的第一级期间，触摸面板的驱动线中的每一者被依序驱动(例如，被启用或激活)，而其它驱动线是浮动的(例如，处于停用或去活状态)。取得感测线上的所得信号以指示被驱动的驱动线是否短接到邻近的驱动线、是否为开路、是否耦合到开路的感测线，或是否没有短路也没有开路。在所述测试的第二级期间，驱动线被全部驱动(例如，被启用或激活)，同时交替的感测线是浮动的(例如，被停用或去活)，且剩余的感测线被启用(例如，被激活)。取得被启用的感测线上的信号以指示被启用的感测线是否短接到邻近的感测线。第二级可重复，从而交换交替感测线和剩余感测线的角色，以确定任何短路的实际位置。
通过以特定模式驱动和浮动驱动线和感测线，可检测到短路和开路，而无需面板表面上的“外部触摸”。因此，所述技术促进对触摸面板的测试，其不需要必须进行校准的专用的测试固定装置(例如，测试夹具、外部电容性探针或其它昂贵的测试设备)。另外，与先前的测试方法相比，所述测试更快、更不易出错且更廉价。在若干实施方案中，依据所使用的处理器的速度，对触摸面板的测试可在五十毫秒(50ms)或更短内执行。
实例实施方案
在下文所描述的实例实施方案中，测试在两个级中进行。在第一级中，通过依序驱动每一驱动线，允许其它驱动线浮动且读取感测线，而检测驱动线/感测线中的开路以及驱动线之间的短路。感测线上的不同电压指示短路和开路的发生。在第二级中，检测且任选地定位邻近的感测线之间的任何短路。
第一级
图1描绘其中可实施根据本发明的实例实施方案的测试的第一级的触摸面板100。触摸面板100可包括电容性触摸面板，所述电容性触摸面板包含彼此靠近布置(例如，沿着平行轨道、大体上平行的轨道等)的驱动线(电极)110A到110F(统称为110)，例如横杆ITO驱动迹线/轨道。如图所示，驱动线110是细长的(例如，沿着纵轴延伸)。举例来说，每一驱动线110可沿着支撑表面(例如，触摸面板100的衬底)上的轴延伸。驱动线110具有一间距(例如，驱动线110的邻近轴之间的实质上重复的间隔)。在若干实施方案中，驱动线110还具有特征性间隔，其包括驱动线110的邻近边缘之间的最小距离。
触摸面板100还包含跨越驱动线110彼此靠近布置(例如，沿着平行轨道、大体上平行的轨道等)的感测线(电极)120A到120F(统称为120)，例如横杆ITO传感器迹线/轨道。感测线110是细长的(例如，沿着纵轴延伸)。举例来说，每一传感器电极120可沿着支撑表面(例如，触摸面板100的衬底)上的轴延伸。感测线120也具有一间距(例如，感测线120的邻近轴之间的实质上重复的间隔)。在若干实施方案中，感测线120还具有特征性间隔，其包括感测线120的邻近边缘之间的最小距离。
一个或一个以上电容性触摸面板100可与触摸屏组合件包含在一起。触摸屏组合件可包含显示器屏幕，例如LCD屏幕，其中传感器层和驱动层例如用保护性覆盖物(例如，附接到其的玻璃)而夹在LCD屏幕与接合层之间。所述保护性覆盖物可包含保护性涂层、抗反射涂层等。保护性覆盖物可包括触摸表面，在触摸表面上，操作者可使用一个或一个以上手指、尖笔等将命令输入到触摸屏组合件。所述命令可用于操纵例如由LCD屏幕显示的图形。此外，所述命令可用作对连接到电容性触摸面板100的电子装置的输入，所述电子装置例如为多媒体装置或另一电子装置。
如图1中所示，驱动线110和感测线120界定坐标系统，其中每一坐标位置(像素)包括形成于驱动线110中的一者与感测线120中的一者之间的每一相交点处的电容器。因此，驱动线110经配置以连接到电流源(例如，从触摸屏控制器(TSC)150)以用于在每一电容器处产生局部静电场，其中由手指和/或尖笔在每一电容器处产生的局部静电场中的改变导致与对应的坐标位置处的触摸相关联的电容的减小。以此方式，可同时(或至少大体上同时)在不同的坐标位置处感测到一个以上触摸。在若干实施方案中，驱动线110可被电流源并行驱动，例如，在将一组不同的信号提供给驱动线110的情况下。在其它实施方案中，驱动线110可被电流源串行驱动，例如，在一次驱动每一驱动线110或驱动线110的子组中的一者的情况下。
感测线120与驱动线110电绝缘(例如，使用电介质层等)。举例来说，感测线120可提供于一个衬底(例如，包括安置于玻璃衬底上的感测层)上，且驱动线110可提供于单独衬底(例如，包括安置于另一衬底上的驱动层)上。在此二层配置中，感测层可安置于驱动层上方(例如，相对于触摸表面)。举例来说，感测层可比驱动层定位得更靠近触摸表面。然而，此配置仅以实例方式提供且不打算限制本发明。因此，可提供其中驱动层比感测层定位得更靠近触摸表面且/或其中感测层和驱动层包括同一层的其它配置。举例来说，在1.5层实施方案(例如，其中驱动层和感测层包含于同一层上但彼此物理上分离)中，一个或一个以上跨接线可用于将驱动线110的部分连接在一起。类似地，跨接线可用于将感测线120的部分连接在一起。
因此，如图1中所示，可将触摸面板100视为包含驱动线110和感测线120的栅格。驱动线110从触摸屏控制器(TSC)150接收驱动信号，而在感测线120上产生的信号被路由到TSC150以用于处理。在操作期间，TSC150在驱动线100上产生信号。在感测线120上感测到的对应的信号指示由一个或一个以上电容性对象(例如，手指、尖笔等)在触摸面板100的表面上的触摸位置。因此，电容性对象进行的触摸的位置可能难以或不可能确定驱动电极110和感测电极120是否短接在一起或具有开路。因此，图1说明短接在一起的两个驱动线110(例如，驱动线110B和110C)。在图1中，此短路被表示为标记为“RS”的电阻。如下文所描述，在测试期间在感测线120上读取的特定值指示以下存在：(a)驱动线110中的邻近者之间的短路，或(b)驱动线110或感测线120上的开路，或(c)没有这些缺陷。
在图1中所说明的实例中，驱动线110A包含低有效驱动元件，意味着在“0”(或无效驱动信号)被施加到其启用引脚时，驱动线110A被启用(“被驱动”)，且在“1”(或有效驱动信号)被施加到其启用引脚时，驱动线110A被停用(“浮动”)。在附图中，驱动线110A还包含对形成栅格的导电带上的电阻进行建模的电阻性元件。在所展示的实例中，驱动线110B被启用且剩余的驱动线110A和110C到110F是浮动的(被停用)。当测试驱动线110B与邻近的驱动线(例如，驱动线110A或110C)之间的短路，或驱动线110B与感测线120中的一者之间的开路时，驱动线110B被驱动，而剩余的驱动线110A和110C到110F保持浮动。随后同时读取感测线120。如下文更详细地描述，感测线120上的约“预期”或“正常”值(下文界定)的信号的存在指示不存在短路或开路，约正常值的两倍的信号指示驱动线110C与邻近的驱动线(110B或100C)之间的短路，而具有“0”或接近“0”的值的信号指示驱动线110C上或在其上读取到“0”值的感测线上的开路。参考图2A到2C来描述此确定隐含的原理。
图2A说明短接到驱动线110C的驱动线110B的电路模型200，其中，如上文所描述，电阻器RS对短路建模，且电容器CM是触摸面板100的节点电容器，其对互电容建模。举例来说，可在驱动线110中的每一者与感测线120中的每一者的相交点处对节点电容器CM建模。当进入驱动元件115B中的驱动电压是V时(例如，其中V表示电压波形的振幅)，每一感测线120A到120F感测到约CMV(上文所论述的“正常”值)的第一预定范围中的电荷，如图2B中所说明的电路模型210所示。然而，当邻近的驱动线被短接时，感测线110B耦合到被电压V驱动的两个节点电容器CM，因此，进入感测线120A的电荷将具有约2CMV(约“正常”值的两倍)的第二预定范围中的值，其取决于RS的值。值2CMV与CMV之间的差可充分大以进行测量，从而允许检测到邻近的驱动线之间的短路。当驱动线110或感测线120开路时，进入对应的感测线120的电荷在包含“0”的第三预定范围中。因此，当驱动线110B与感测线120A开路，或感测线120A具有开路时，在感测线120A上测量到的信号在第三预定范围内，至少大约零伏(0V)。
因为信号可由于制造变化、电压变化等而略微变化，所以本文在下文中所描述的测试过程(方法)将信号值与第一、第二和第三预定范围而不是与精确值进行比较。举例来说，感测线120上的电压可比CMV略小或略大，但驱动线/感测线不具有短路或开路。因此，当对应的感测线120上的信号落入第一预定范围内时(例如，CMV±Δ1)，测试方法(其可由图1的触摸屏控制器(TSC)150实施)将对应的驱动线/感测线110/120辨识为不含有短路或开路，如上文所论述。可基于对已知的良好触摸面板和/或较差的触摸面板的数据分析来确定“可接受”的预定范围。指示上文所论述的缺陷的可接受的第一和第二预定范围可经类似地确定且用于实施本文中所论述的测试过程。为了简化以下论述，值“CMV”、“2CMV”和“0”可分别用于指代第一、第二和第三预定范围。
当一个驱动线110被驱动时，剩余的驱动线110浮动而不接地。如果剩余的驱动线110接地，如图2C中所说明的电路模型220中所示，则检测不到短路。参看图2C，输入电压是V，但因为两个电阻器实际上并联，所以输入电压减小一半到0.5V，而电容加倍(2CM)。感测线上的电压因此为(0.5V)(2CM)或CMV，其为在不存在短路时所产生的相同电压。因此，将剩余的驱动线110接地将阻止使用本发明的技术对短路的检测。
将了解，为了完全地测试触摸面板100，或至少其区域的大部分，第一级可经实施以测试驱动线110中的多者之间以及驱动线110与感测线120中的多者之间的连接。在图3中所说明的实例方法300中，驱动线110中的每一者被依序激活以测试驱动线110及其相邻的驱动线110之间以及驱动线110与感测线120中的每一者之间的连接。在驱动线110被依序驱动(例如，逐个地)的情况下，可使用单一测试图像，且依据所使用的处理器的速度，可在少于至少约十毫秒(10ms)内执行测试的第一级。
图3说明根据本发明的实例实施方案用于执行对触摸面板(例如，触摸面板100)的测试的第一级的过程(方法)300。如图所示，可首先初始化测试的参数(方框301)。启用待测试的下一驱动线且浮动剩余的驱动线(方框305)。举例来说，参考图1，将待测试的“下一”驱动线初始化到第一驱动线，驱动线110A。因此，如图所示，驱动线110A被启用且剩余的驱动线110B到110F被停用，且保持浮动。随后读取来自感测线的信号(方框310)。举例来说，如图1中所示，可同时读取全部感测线120。
随后识别短路和开路(方框315)。如上文图2A到2C的论述中所描述，感测线120中的任一者上的落在第一预定范围之外(例如，充分不同于CMV)的信号指示缺陷。第二预定范围内的值(例如，2CMV的预定范围内的值)指示驱动线110A与其仅邻近的驱动线110B之间的短路。第三预定范围内的值(例如，“0”的预定范围内的值)指示驱动线110A上的开路或具有零伏(0V)读数的对应的感测线120上的开路。通过使用这些值，可识别且在需要时记录短路和开路。举例来说，当识别短路或开路时，触摸面板可作为无用而被丢弃，或被识别(例如，标志)为修复/整修。在此实例中，在线120中的每一者上读取的信号为CMV，指示：(1)驱动线110A与任何邻近的驱动线(110B)之间没有短路，以及(2)驱动线110A或感测线120A到120F中的任一者上没有开路。
随后做出是否还有驱动线要测试的确定(决策方框320)。当做出还有驱动线要测试(例如，驱动线110B到110F)的确定时(决策方框320处的“是”)，方法(过程)300循环回以启用下一驱动线，同时浮动剩余驱动线(方框305)，其中选择下一驱动线(例如，驱动线110B)。
图1中展示此状态(即，驱动线110B经启用)。在此实例中，重复过程300。当以电压V启用和驱动驱动线110B时，感测线120A到120F可具有电压2CMV，指示驱动线110B与邻近的驱动线(110A或110C)之间的短路。在必要的情况下，可通过回想到过程300的先前反复并未指示驱动线110A与110B之间的短路，进而指示短路是在驱动线110B与110C之间；通过在稍后步骤中确定驱动线110C短接到邻近的驱动线(例如，驱动线110B或驱动线110D，或者驱动线110B和驱动线110D两者)而不短接到驱动线110D；或通过使用其它技术(例如，使用采用电容性探针的固定装置的额外测试等等)，来确定短路的位置。
当已测试所需数目的驱动线(例如，所有驱动线、随机取样的驱动线等等)(例如，驱动线110A到110F)时，例如做出不再有驱动线要测试的确定(决策方框320处的“否”)时，过程300前进到测试的第二级(方框701)，图7中所示的过程(方法)700说明其实例。在前进到第二级之前，预期所描述的测试过程300可已定位驱动线110中的邻近者之间的所有短路(如果存在)、驱动线110中的任何开路以及感测线120中的任何开路。
第二级
测试的第二级检测邻近感测线120之间的短路。在第二级中，如正常使用中那样依序驱动驱动线110A到110F，且在两个阶段中感测感测线120A到120F。在每一阶段中，感测线120A到120F中的一半(例如，图1所示的触摸面板100的感测线120B、120D和120F)经启用，且剩余一半(例如，图1所示的触摸面板100的感测线120A、120C和120E)浮动。
图4说明形成图1中的触摸屏控制器(TSC)150的一部分的感测通道低噪声放大器(LNA)电路的电路模型400。感测线120的输出中的每一者耦合到感测通道LNA电路，例如感测通道LNA电路400。感测通道LNA电路400包含放大器405A，其具有连接到参考电压VREF的正端子和通过电容器CF并联地耦合到其输出VOUT进而形成反馈环路且通过上文论述的面板互电容器CM耦合到电压V的负端子。电压V是在感测线120中的一者上产生。LNA电路400充当电荷放大器电路，其将电荷信号转换为电压信号。通过使用放大器输出的公式，且仅考虑交流(AC)信号，可根据面板互电容器CM的值、电压V的值和电容器CM的值通过等式VOUT＝CMV/CF来确定输出电压VOUT。
图5A说明描绘短接在一起的两个感测线(例如，感测线120A和120B)的电路模型500。虽然从面板互电容器CM收集的总电荷为2CMV，但电荷转移到两个反馈电容器CF中(在其之间划分)。因此，经短接的感测线120A和120B中的每一者载运电荷CMV，且输出VOUT0和VOUT1处的值是CMV/CF。因此，因为电压至少大致与当未发生短路时的实例相同，所以未检测到短路。
图5B说明根据本发明的实例实施方案的电路模型550，其中感测线120(例如，感测线120的LNA 405)经停用，从而允许检测邻近的感测线(例如，感测线120A和120B)之间的短路。通过停用LNA 405B(通过从图5B移除LNA 405B说明)，LNA的输入和输出变为高阻抗。经停用的感测线120B变为浮动电容器。因为所有电荷现在被引导到一个感测通道(例如，感测线120A)中，所以输出电压VOUT0＝2CMV/CF。因为当短路发生时(例如VOUT0＝2CMV/CF)和当短路未发生时(例如VOUT0＝CMV/CF)VOUT0不同，所以可检测到短路。因此，如图4、5A和5B所示，可通过以预定模式启用和浮动感测线120来产生指示感测线120之间的短路的存在或不存在的电压。
图6A说明当驱动线110全部被驱动、感测线120中的第一组交替感测线(例如，感测线120A、120C和120E)经启用且同样交替的第二组剩余感测线120(例如，感测线120B、120D和120F)浮动(经停用)，且读取第一组感测线120(例如，感测线120A、120C和120E)上的信号时，图1所示的触摸面板100。(为了参考，下文中以参考数字120(第一)指代第一组感测线120(例如，感测线120A、120C和120E)，且以参考数字120(第二)指代第二组感测线120(例如，感测线120B、120D和120F))。通过使用这些读数，可检测感测线120(第一)与感测线120(第二)之间的短路的存在。图6B说明当角色颠倒时，例如驱动线110全部被驱动、感测线120(第二)经启用且感测线120(第一)浮动(经停用)，且读取感测线120(第二)上的信号时，图1所示的触摸面板100。如图7中描述，通过使用此第二组读数，可确定短路的位置。
图7说明根据本发明的实例实施方案的用于执行对触摸面板100的测试的第二级的过程(方法)700。如图示，可例如在图3中说明的测试的第一级之后起始过程700(方框701)。启用第一组交替感测线，且停用(浮动)剩余的交替感测线(第二组交替感测线)(方框705)。举例来说，如图1、6A和6B所示，启用第一组感测线120(第一)，同时浮动第二组感测线120(第二)。随后驱动驱动线(方框710)，且读取第一组感测线(方框715)。举例来说，如图1所示，可驱动所有驱动线110，且读取第一组感测线120(第一)的感测线。基于此读取，可做出所述感测线中的一者或一者以上之间是否存在短路的确定(方框720)。因此，如图1所示，做出第一组感测线120(第一)中的一个或一个以上感测线与第二组感测线120(第二)中的相邻一者之间是否存在短路的确定。举例来说，可做出感测线120B短接到相邻者(例如，感测线120A或感测线120C，或者感测线120A和感测线120C两者)的确定。然而应注意，此时不做出关于哪些感测线120短接在一起的确定(例如，感测线120B是否短接到感测线120A或感测线120C，或者感测线120A和感测线120C两者)。(在下文论述的方框740中做出此确定。)
接着，停用(浮动)第一组交替感测线，且启用第二组交替感测线(方框725)。举例来说，如图1、6A和6B所示，浮动第一组感测线120(第一)，同时浮动第二组感测线120(第二)。随后驱动驱动线(方框730)，且读取第二组感测线(方框735)。举例来说，如图1所示，可驱动所有驱动线110，且读取第二组感测线120(第二)中的感测线。基于此读取，可做出所述感测线中的一者或一者以上之间是否存在短路的确定(方框740)。因此，如图1所示，做出第二组感测线120(第二)中的一个或一个以上感测线与第一组感测线120(第一)中的相邻一者之间是否存在短路的确定。举例来说，可做出感测线120C短接到相邻者(例如，感测线120B或感测线120D，或者感测线120B和感测线120D两者)的确定。
使用(方框720中)先前确定的关于感测线之间的短路的信息，也可定位感测线之间的短路(方框740中)。举例来说，当做出感测线120B短接到相邻者(例如，感测线120A或120C)的确定(方框720中)，且做出感测线120A也短接到相邻者但感测线120C未短接到相邻者的确定(方框740中)时，则可确定感测线120A与感测线120B之间存在短路。使用同一测试方法，可确定感测线120B是否短接到感测线120A和120C两者。将了解，可以不同组合启用和停用感测线120、驱动驱动线110且读取感测线120上的信号，以根据本发明的原理确定短路的存在和位置。
方框705、710、715和720中实施的测试步骤可为了论述的清楚而称为测试的第二级的“第一阶段”，而方框725、730、735和740中实施的测试步骤称为测试的第二级的“第二阶段”。因此将了解，当确定触摸面板100中的任何短路的实际位置时执行第一阶段和第二阶段两者，以便在触摸面板制造过程期间跟踪和发现触摸面板100中的缺陷。然而，当仅执行测试以确定感测线是否短接而不确定短路的位置时，可执行第一阶段而不执行第二阶段。因此，在第二级中，可确定感测线120A到120F之间的短路且任选地确定这些短路的位置。
将了解，可根据本发明的原理修改过程(方法)700以确定非邻近的感测线120之间的短路。作为一个实例，再次参见图1，通过确定(1)感测线120A和感测线120F两者均短接到另一感测线和(2)剩余感测线120B到120E中的任一者均未短接到另一感测线，来定位感测线120A与120F之间的短路。基于前述论述，所属领域的技术人员现在将认识到，确定非邻近的感测线之间的短路的其它方法可为可能的。将了解，可取决于触摸面板的特定布局而裁定根据本发明技术的测试。举例来说，一些布局(例如，线间隔和装置几何形状)使得更有可能在驱动线和感测线中的特定者之间发生短路或开路。因此，根据本发明技术的测试可着重于这些特定驱动线和感测线之间的连接。
实例测试系统
图8说明根据本发明技术的实例实施方案的耦合到经受测试的触摸面板100的测试系统800。测试系统800可以多种方式配置。在图1中，将测试系统800说明为包含处理器810和存储器820。处理器810提供测试系统100的处理功能性，且可包含任一数目的处理器、微控制器或其它处理系统，以及用于存储由测试系统100存取或产生的数据和其它信息的驻留或外部存储器。处理器810可执行实施本文描述的技术和模块的一个或一个以上软件程序。处理器810不受形成其的材料或其中采用的处理机制的限制，且因此可经由半导体和/或晶体管(例如，电子集成电路(IC))等等来实施。
存储器820是非暂时计算机存储装置的实例，其提供存储功能性以存储与测试系统的操作相关联的各种数据，例如上文提到的软件程序和代码段、计算机指令和/或其它数据，以指令测试系统800的处理器810和其它元件执行本文描述的技术。虽然展示单个存储器820，但可采用存储器的广泛多种类型和组合。存储器820可与处理器810成一体式，可为独立存储器，或两者的组合。存储器可例如包含可装卸式和不可装卸式存储器元件，例如RAM、ROM、快闪(例如，SD卡、迷你SD卡、微型SD卡)、磁性、光学、USB存储器装置等等。
将测试系统800说明为包含测试模块830，其可存储在存储器820中且可由处理器810执行。测试模块830表示用来在不使用触摸面板100的表面的工具的情况下测试电容性触摸面板100以检查其驱动线和感测线中是否有短路和开路的功能性。举例来说，测试模块830可实施本发明的技术(例如，可分别实施图3和7中的过程(方法)300和700)以测试一个或一个以上触摸面板100以检查面板100的驱动线和感测线中是否有短路和开路。
在测试设置期间，测试系统800耦合到触摸面板100。测试系统800例如经由测试模块830与触摸屏控制器(TSC)150(也参见图1)介接以控制驱动线110、读取感测线120且处理感测线120上的信号。在测试的第一级期间，测试模块830可致使触摸面板100根据图3的过程(方法)300操作(例如，通过供应用以控制TSC 150的操作的指令)，使得可检测短路或开路。在测试的第二级期间，测试模块830可致使触摸面板100可根据图7的过程(方法)700操作(例如，通过供应用以控制TSC 150的操作的指令)，使得可检测且任选地定位邻近的感测线120之间的短路。测试系统800不采用外部电容性探针(“手指”)或其它对象来触摸触摸面板100的表面，从而减少测试设置、执行和拆卸时间，且降低对触摸面板100自身带来损坏的可能性。
大体上，本文描述的技术中的任一者均可使用软件、固件、硬件(例如，固定逻辑电路)、手动处理或这些实施方案的组合来实施。如本文使用的术语“模块”和“功能性”大体上表示软件、固件、硬件或其组合。图8的测试系统800中的模块之间的通信可为有线的、无线的或其组合。在例如软件实施方案的情况下，模块表示当在例如图8所示的测试系统800的处理器810等处理器上执行时执行指定任务的可执行指令。程序代码可存储在一个或一个以上非暂时计算机存储装置中，非暂时计算机存储装置的实例是与图8的测试系统800相关联的存储器820。
将了解，本文描述的技术无需一定限于作为“二级”测试的实施方案。而是，本文以上将测试论述为以若干测试“级”执行是为了清楚地解释本发明技术的目的。因此，在不脱离本发明的范围和精神的情况下，根据所描述技术的测试可表征为在单个测试级或多个测试级中执行。而且，术语“第一级”和“第二级”仅用以识别两个测试级，且不一定暗示第一级必须在第二级之前执行。而是，第二级可在第一级之前执行。此外，所述两个级不必一起执行。在一些测试环境中，执行第一级而不执行第二级，且在其它环境中，执行第二级而不执行第一级。
结论
虽然已用特定于结构特征和/或过程操作的语言描述了标的物，但应理解，所附权利要求书中界定的标的物不一定限于上文描述的特定特征或动作。而是，揭示上文描述的特定特征和动作以作为实施权利要求书的实例形式。

Claims (20)

1.一种电容性触摸面板，其包括：
多个驱动线，其彼此靠近布置；
多个感测线，其跨越所述多个驱动线而彼此靠近布置；以及
控制器，其耦合到所述多个驱动线和所述多个感测线，所述控制器可操作以：
驱动所述驱动线中的至少第一者，同时浮动剩余的驱动线；以及
读取所述感测线以检测所述经驱动的驱动线与所述剩余的驱动线中的邻近者之间的短路或开路。
2.根据权利要求1所述的电容性触摸面板，其中所述控制器进一步经配置而以一个或一个以上不同组合启用所述感测线中的至少一些感测线，同时浮动所述感测线中的其它感测线，且读取所述感测线以检测所述感测线中的两者或两者以上之间的短路。
3.根据权利要求2所述的电容性触摸面板，其中所述控制器经配置以启用所述感测线中的第一组交替感测线且浮动所述感测线中的第二组交替感测线。
4.根据权利要求3所述的电容性触摸面板，其中所述控制器经配置以随后启用所述感测线中的所述第二组交替感测线且浮动所述感测线中的所述第一组交替感测线。
5.根据权利要求4所述的电容性触摸面板，其中所述控制器经配置以在所述感测线中的所述第一组交替感测线经启用且所述感测线中的所述第二组交替感测线浮动时读取所述感测线。
6.根据权利要求5所述的电容性触摸面板，其中所述控制器经配置以在所述感测线中的所述第二组交替感测线经启用且所述感测线中的所述第一组交替感测线浮动时再次读取所述感测线。
7.一种用于测试电容性触摸面板的方法，所述电容性触摸面板具有彼此靠近布置的驱动线和跨越所述驱动线而彼此靠近布置的感测线，所述方法包括：
驱动所述驱动线中的至少第一者，同时浮动剩余的驱动线；以及
读取所述感测线以检测所述经驱动的驱动线与所述剩余的驱动线中的邻近者之间的短路或开路的存在或不存在中的至少一者。
8.根据权利要求7所述的方法，其进一步包括以一个或一个以上不同组合启用所述感测线中的至少一些感测线，同时浮动所述感测线中的其它感测线，且读取所述感测线以检测所述感测线中的两者或两者以上之间的短路。
9.根据权利要求8所述的方法，其中以一个或一个以上不同组合启用所述感测线中的至少一些感测线同时浮动所述感测线中的其它感测线包括：启用所述感测线中的第一组交替感测线且浮动所述感测线中的第二组交替感测线。
10.根据权利要求9所述的方法，其中以一个或一个以上不同组合启用所述感测线中的至少一些感测线同时浮动所述感测线中的其它感测线进一步包括：随后启用所述感测线中的所述第二组交替感测线且浮动所述感测线中的所述第一组交替感测线。
11.根据权利要求10所述的方法，其中读取所述感测线以检测所述感测线中的两者或两者以上之间的短路包括：在所述感测线中的所述第一组交替感测线经启用且所述感测线中的所述第二组交替感测线浮动时的第一时间读取所述感测线。
12.根据权利要求11所述的方法，其中读取所述感测线以检测所述感测线中的两者或两者以上之间的短路包括：在所述感测线中的所述第二组交替感测线经启用且所述感测线中的所述第一组交替感测线浮动时的第二时间读取所述感测线。
13.根据权利要求11所述的方法，其进一步包括通过比较所述第一时间从所述感测线读取的信号与所述第二时间从所述感测线读取的信号来确定所述感测线中的至少两者之间的所述短路的位置。
14.一种经配置以测试电容性触摸面板的测试系统，所述电容性触摸面板具有彼此靠近布置的驱动线和跨越所述驱动线而彼此靠近布置的感测线，所述测试系统包括：
存储器，其可操作以存储一个或一个以上模块；以及
处理器，其可操作以执行所述一个或一个以上模块以：
致使耦合到所述多个驱动线和所述多个感测线的控制器驱动所述驱动线中的至少第一者，同时浮动剩余的驱动线；以及
致使所述控制器读取所述感测线以检测所述经驱动的驱动线与所述剩余的驱动线中的邻近者之间的短路或开路的存在或不存在中的至少一者。
15.根据权利要求14所述的测试系统，其中处理器可操作以执行所述一个或一个以上模块以致使所述控制器以一个或一个以上不同组合启用所述感测线中的至少一些感测线，同时浮动所述感测线中的其它感测线，且读取所述感测线以检测所述感测线中的两者或两者以上之间的短路。
16.根据权利要求15所述的测试系统，其中处理器可操作以执行所述一个或一个以上模块以致使所述控制器启用所述感测线中的第一组交替感测线且浮动所述感测线中的第二组交替感测线。
17.根据权利要求16所述的测试系统，其中处理器可操作以执行所述一个或一个以上模块以致使所述控制器随后启用所述感测线中的所述第二组交替感测线且浮动所述感测线中的所述第一组交替感测线。
18.根据权利要求17所述的测试系统，其中处理器可操作以执行所述一个或一个以上模块以致使所述控制器在所述感测线中的所述第一组交替感测线经启用且所述感测线中的所述第二组交替感测线浮动时的第一时间读取所述感测线。
19.根据权利要求18所述的测试系统，其中处理器可操作以执行所述一个或一个以上模块以致使所述控制器在所述感测线中的所述第二组交替感测线经启用且所述感测线中的所述第一组交替感测线浮动时的第二时间读取所述感测线。
20.根据权利要求19所述的测试系统，其中处理器可操作以执行所述一个或一个以上模块以通过比较所述第一时间从所述感测线读取的信号与所述第二时间从所述感测线读取的信号来确定所述感测线中的所述至少两者之间的短路的位置。
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Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103529354A (zh) * 2013-10-31 2014-01-22 京东方科技集团股份有限公司 一种电路测试方法及电路测试系统
CN103926496A (zh) * 2013-01-10 2014-07-16 上海海尔集成电路有限公司 触摸屏模组的测试装置和方法以及触摸屏模组
CN104252259A (zh) * 2013-06-27 2014-12-31 群嘉精密股份有限公司 输入装置检测方法
CN105044940A (zh) * 2015-07-29 2015-11-11 合肥京东方光电科技有限公司 一种面板及其测试方法
CN105606948A (zh) * 2016-02-01 2016-05-25 北京集创北方科技股份有限公司 一种电路检测方法及系统
CN105676053A (zh) * 2016-02-23 2016-06-15 上海芯什达电子技术有限公司 一种触摸屏缺陷检测系统
CN105842574A (zh) * 2014-11-21 2016-08-10 中华映管股份有限公司 触控面板测试装置及其测试方法
CN106054013A (zh) * 2016-05-20 2016-10-26 北京集创北方科技股份有限公司 触摸装置检测方法及触摸装置
CN106249933A (zh) * 2015-06-11 2016-12-21 意法半导体亚太私人有限公司 紧凑型触摸屏控制器
CN106462273A (zh) * 2014-05-13 2017-02-22 巴科股份有限公司 具有监视功能的触摸屏显示器
CN106908685A (zh) * 2017-02-23 2017-06-30 武汉华星光电技术有限公司 一种互电容式触摸显示装置的测试系统及其测试方法
CN107407985A (zh) * 2015-02-27 2017-11-28 夏普株式会社 触控面板控制基板的检查方法以及触控面板控制器
CN109613381A (zh) * 2014-11-21 2019-04-12 意法半导体亚太私人有限公司 短路检测模块
CN110082631A (zh) * 2019-04-29 2019-08-02 昆山龙腾光电有限公司 触控面板的测试方法及测试装置
CN110582744A (zh) * 2017-04-21 2019-12-17 佩拉泰克控股有限公司 检测多个手动交互
CN110858109A (zh) * 2018-08-09 2020-03-03 意法半导体股份有限公司 自测试方法及对应电路和设备

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8810532B2 (en) * 2011-04-22 2014-08-19 Pixart Imaging, Inc. In-situ detection of touchscreen panel shorts
US9921683B2 (en) * 2012-05-30 2018-03-20 Silicon Laboratories Inc. Detection of defects in touch sensors
CN103529314B (zh) * 2012-07-05 2016-07-06 瀚宇彩晶股份有限公司 触控测试系统及其触控测试方法
CN103926497A (zh) * 2013-01-10 2014-07-16 上海海尔集成电路有限公司 触摸屏模组的测试装置和方法以及触摸屏模组
CN103941109B (zh) * 2013-01-21 2017-07-28 宸鸿科技(厦门)有限公司 触控面板的测试装置
CN103969538B (zh) * 2013-01-24 2016-11-16 上海天马微电子有限公司 内嵌式触摸屏的电测试方法
GB2510600B (en) * 2013-02-08 2015-05-20 R & D Core Ltd Calibration of Contact Sensor
KR101515281B1 (ko) * 2013-03-04 2015-04-27 주식회사 동부하이텍 터치 스크린의 신호 처리 회로
KR101452097B1 (ko) * 2013-03-28 2014-10-16 삼성전기주식회사 터치스크린 장치
KR20150004714A (ko) * 2013-07-03 2015-01-13 삼성전자주식회사 입력장치 및 이를 구비한 휴대 단말기
KR20150011583A (ko) * 2013-07-23 2015-02-02 엘지디스플레이 주식회사 표시장치
US9696831B2 (en) * 2014-09-26 2017-07-04 Symbol Technologies, Llc Touch sensor and method for detecting touch input
TWI560588B (en) * 2015-01-09 2016-12-01 Au Optronics Corp Touch panel and method for detecting the same
CN105955524B (zh) * 2016-04-20 2019-01-22 厦门天马微电子有限公司 触摸屏及其检测方法、触摸显示装置
KR102578806B1 (ko) * 2016-10-31 2023-09-14 엘지디스플레이 주식회사 터치형 표시패널 및 그의 쇼트 리페어 방법
TW201839418A (zh) * 2017-04-26 2018-11-01 原相科技股份有限公司 電容式感測裝置及對應的短路測試方法
CN108181541B (zh) * 2018-01-29 2020-07-31 北京京东方光电科技有限公司 触控面板的检测装置及检测方法
CN113421508B (zh) * 2021-06-28 2022-05-31 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 显示面板检测系统

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007226228A (ja) * 2006-02-20 2007-09-06 Samsung Electronics Co Ltd 表示装置及びその感知部検査方法
US20070236244A1 (en) * 2003-07-22 2007-10-11 Sony Corporation Test method, semiconductor device, and display
CN101369201A (zh) * 2008-08-20 2009-02-18 上海广电光显技术有限公司 一种红外触摸屏的故障管快速查找方法
CN101408826A (zh) * 2008-11-17 2009-04-15 友达光电股份有限公司 电容式触控面板的感测装置
CN101739189A (zh) * 2008-11-26 2010-06-16 旭曜科技股份有限公司 接触点检测方法以及使用接触点检测方法的触控面板

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000098974A (ja) * 1998-09-24 2000-04-07 Pioneer Electronic Corp 容量性発光素子ディスプレイ装置及びその駆動方法
GB2428306B (en) 2005-07-08 2007-09-26 Harald Philipp Two-dimensional capacitive position sensor
US7932898B2 (en) 2005-09-20 2011-04-26 Atmel Corporation Touch sensitive screen
US7864160B2 (en) 2005-10-05 2011-01-04 3M Innovative Properties Company Interleaved electrodes for touch sensing
TWI444876B (zh) 2007-04-05 2014-07-11 Qrg Ltd 二維位置感應器
DE112008001245T5 (de) 2007-05-07 2010-03-04 Atmel Corp., San Jose Zweidimensionaler Positionssensor
TW201008118A (en) 2008-04-10 2010-02-16 Atmel Corp Capacitive touch screen with noise suppression
US20100156811A1 (en) 2008-12-22 2010-06-24 Ding Hua Long New pattern design for a capacitive touch screen
US20100156846A1 (en) 2008-12-23 2010-06-24 Flextronics Ap, Llc Single substrate capacitive touch panel
US9495042B2 (en) 2009-04-14 2016-11-15 Atmel Corporation Two-dimensional position sensor
US8279197B2 (en) * 2009-08-25 2012-10-02 Pixart Imaging Inc. Method and apparatus for detecting defective traces in a mutual capacitance touch sensing device
US20110057905A1 (en) * 2009-09-04 2011-03-10 Hong-Chih Yu Touch Panel and Inspection Method Thereof
US8810532B2 (en) * 2011-04-22 2014-08-19 Pixart Imaging, Inc. In-situ detection of touchscreen panel shorts

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20070236244A1 (en) * 2003-07-22 2007-10-11 Sony Corporation Test method, semiconductor device, and display
JP2007226228A (ja) * 2006-02-20 2007-09-06 Samsung Electronics Co Ltd 表示装置及びその感知部検査方法
CN101369201A (zh) * 2008-08-20 2009-02-18 上海广电光显技术有限公司 一种红外触摸屏的故障管快速查找方法
CN101408826A (zh) * 2008-11-17 2009-04-15 友达光电股份有限公司 电容式触控面板的感测装置
CN101739189A (zh) * 2008-11-26 2010-06-16 旭曜科技股份有限公司 接触点检测方法以及使用接触点检测方法的触控面板

Cited By (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103926496A (zh) * 2013-01-10 2014-07-16 上海海尔集成电路有限公司 触摸屏模组的测试装置和方法以及触摸屏模组
WO2014108048A1 (zh) * 2013-01-10 2014-07-17 上海海尔集成电路有限公司 触摸屏模组的测试装置和方法以及触摸屏模组
CN104252259A (zh) * 2013-06-27 2014-12-31 群嘉精密股份有限公司 输入装置检测方法
CN104252259B (zh) * 2013-06-27 2017-04-12 群嘉精密股份有限公司 输入装置检测方法
CN103529354B (zh) * 2013-10-31 2016-10-05 京东方科技集团股份有限公司 一种电路测试方法及电路测试系统
WO2015062302A1 (zh) * 2013-10-31 2015-05-07 京东方科技集团股份有限公司 一种电路测试方法及电路测试系统
US9746509B2 (en) 2013-10-31 2017-08-29 Boe Technology Group Co., Ltd. Circuit testing method and circuit testing system
CN103529354A (zh) * 2013-10-31 2014-01-22 京东方科技集团股份有限公司 一种电路测试方法及电路测试系统
CN106462273A (zh) * 2014-05-13 2017-02-22 巴科股份有限公司 具有监视功能的触摸屏显示器
US10241618B2 (en) 2014-05-13 2019-03-26 Barco Nv Touchscreen display with monitoring functions
CN106462273B (zh) * 2014-05-13 2020-01-14 巴科股份有限公司 具有监视功能的触摸屏显示器
CN105842574A (zh) * 2014-11-21 2016-08-10 中华映管股份有限公司 触控面板测试装置及其测试方法
CN109613381A (zh) * 2014-11-21 2019-04-12 意法半导体亚太私人有限公司 短路检测模块
CN109613381B (zh) * 2014-11-21 2021-11-16 意法半导体亚太私人有限公司 短路检测模块
CN107407985A (zh) * 2015-02-27 2017-11-28 夏普株式会社 触控面板控制基板的检查方法以及触控面板控制器
CN106249933A (zh) * 2015-06-11 2016-12-21 意法半导体亚太私人有限公司 紧凑型触摸屏控制器
CN105044940A (zh) * 2015-07-29 2015-11-11 合肥京东方光电科技有限公司 一种面板及其测试方法
CN105606948A (zh) * 2016-02-01 2016-05-25 北京集创北方科技股份有限公司 一种电路检测方法及系统
CN105676053B (zh) * 2016-02-23 2018-09-25 上海芯什达电子技术有限公司 一种触摸屏缺陷检测系统
CN105676053A (zh) * 2016-02-23 2016-06-15 上海芯什达电子技术有限公司 一种触摸屏缺陷检测系统
CN106054013A (zh) * 2016-05-20 2016-10-26 北京集创北方科技股份有限公司 触摸装置检测方法及触摸装置
CN106908685A (zh) * 2017-02-23 2017-06-30 武汉华星光电技术有限公司 一种互电容式触摸显示装置的测试系统及其测试方法
CN106908685B (zh) * 2017-02-23 2019-09-27 武汉华星光电技术有限公司 一种互电容式触摸显示装置的测试系统及其测试方法
CN110582744A (zh) * 2017-04-21 2019-12-17 佩拉泰克控股有限公司 检测多个手动交互
CN110582744B (zh) * 2017-04-21 2023-07-21 佩拉泰克控股有限公司 检测多个手动交互
CN110858109A (zh) * 2018-08-09 2020-03-03 意法半导体股份有限公司 自测试方法及对应电路和设备
CN110858109B (zh) * 2018-08-09 2023-08-11 意法半导体股份有限公司 自测试方法及对应电路和设备
CN110082631B (zh) * 2019-04-29 2021-08-17 昆山龙腾光电股份有限公司 触控面板的测试方法及测试装置
CN110082631A (zh) * 2019-04-29 2019-08-02 昆山龙腾光电有限公司 触控面板的测试方法及测试装置

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CN102809707B (zh) 2017-12-08
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