KR101453019B1 - 터치 패널 및 터치 패널의 양불 검사 방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명의 일실시예는 N행과 M열의 매트릭스(matrix) 형태로 배치된 복수의 센서 패드; 일측은 상기 복수의 센서 패드 각각과 연결되며, 상기 일측에서 타측으로 연장되어 형성되는 복수의 신호 배선; 및 상기 복수의 신호 배선의 타측에서 연장되어 형성되며, 상기 복수의 신호 배선의 양불을 검사하기 위한 프로브가 접촉되고, N/n (n은 자연수)행과 nM열의 매트릭스 형태로 배치된 복수의 테스트 포인트를 포함하는 터치 패널을 제공한다.

Description

터치 패널 및 터치 패널의 양불 검사 방법 {TOUCH PANEL AND INSPECTION METHOD FOR TOUCH PANEL}
본 발명은 터치 패널 및 터치 패널의 양불 검사 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 터치 패널 및 터치 패널에 포함되는 신호 배선 및 센서 패드의 양불 검사를 위한 방법에 관한 것이다.
터치 스크린 패널은 영상 표시 장치의 화면에 표시된 문자나 도형을 사람의 손가락이나 다른 접촉수단으로 접촉하여 사용자의 명령을 입력하는 장치로서, 영상 표시 장치 위에 부착되어 사용된다. 터치 스크린 패널은 사람의 손가락 등으로 접촉된 접촉 위치를 전기적 신호로 변환한다. 상기 전기적 신호는 입력 신호로서 이용된다.
터치 패널은 기판 위에 형성되어 있는 복수의 센서 패드 및 센서 패드에 연결되어 있는 복수의 신호 배선을 포함한다. 센서 패드로 입력된 터치 신호가 입력 신호로 이용될 수 있도록, 터치 신호를 복수의 신호 배선을 통하여 터치 패널을 구동시키기 위한 구동 장치로 전달하게 된다.
각 신호 배선은 한 쪽 끝이 센서 패드에 연결되어 있으며 다른 쪽 끝은 기판의 아래 가장자리까지 뻗어 있다. 이때, 신호 배선의 선폭은 수 마이크로미터 내지 수십 마이크로미터 수준으로 상당히 좁게 형성된다.
신호 배선 및 센서 패드가 끊어지지 않고, 양호하게 형성되었는지 확인 하기 위하여 신호 배선에 프로브를 접촉하여 양불 검사를 하게 된다.
그런데, 신호 배선의 선폭이 수 마이크로미터 내지 수십 마이크로미터 수준으로 상당히 좁게 형성되어 프로브를 정확하게 신호 배선에 접촉하여 양불 검사를 진행하기가 상당히 어렵다. 게다가, 프로브의 직경이 신호 배선의 선폭보다 큰 값을 가지고 있는 경우, 검사하고자 하는 신호 배선에 정확하게 접촉되기는 더더욱 어려워 신호 배선의 양불 검사에 어려움이 따른다.
또한, 선폭이 좁은 신호 배선의 양불 검사가 원자재 상태에서는 어려워 모듈 상태에서만 검사를 진행함에 따라, 불량 원자재로 인한 터치 패널의 로스(LOSS)가 많이 발생하였다.
본 발명이 해결하고자 하는 과제는 터치 패널에 포함되는 센서 패드 및 신호 배선의 정확한 양불 검사할 수 있는 터치 패널 및 이러한 터치 패널의 양불 검사 방법을 제공하는 것이다.
이러한 과제를 해결하기 위한 본 발명의 일 실시예에 따른 터치 패널은 N행과 M열의 매트릭스(matrix) 형태로 배치된 복수의 센서 패드; 일측은 상기 복수의 센서 패드 각각과 연결되며, 상기 일측에서 타측으로 연장되어 형성되는 복수의 신호 배선; 및 상기 복수의 신호 배선의 타측에서 연장되어 형성되며, 상기 복수의 신호 배선 및 상기 복수의 센서 패드의 양불을 검사하기 위한 프로브가 접촉되고, N/n (n은 자연수)행과 nM열의 매트릭스 형태로 배치된 복수의 테스트 포인트를 포함한다.
상기 복수의 테스트 포인트는, ITO, 메탈 및 은 중 적어도 하나를 사용하여 형성될 수 있으며, 상기 ITO 를 이용하여 형성된 후, 상기 메탈로 도금될 수도 있다.
상기 복수의 신호 배선 중 어느 하나인 제1 신호 배선의 일측은 상기 복수의 센서 패드 중 어느 하나인 제1 센서 패드와 연결되고, 상기 제1 신호 배선의 타측은 상기 복수의 테스트 포인트 중 어느 하나인 제1 테스트 포인트와 연결될 수 있고, 상기 제1 센서 패드가 (a행, b열)에 배치된 센서 패드이고, 상기 n이 2인 경우, 상기 a ≤ N/2이면 상기 제1 테스트 포인트는 [(N/2+1-a)행, 2b열]에 배치된 테스트 포인트이고, a > N/2 이면 상기 제1 테스트 포인트는 [(N+1-a)행, (2b-1)열)]에 배치된 테스트 포인트일 수 있다.
상기 복수의 테스트 포인트는 상기 복수의 신호 배선의 타측의 후단으로 연장되어 형성되고, 상기 복수의 신호 배선의 타측은 상기 터치 패널의 구동 장치가 실장된 회로기판과 연결되는 본딩 영역일 수 있다.
본 발명의 다른 실시예에 따르면, N행과 M열의 매트릭스(matrix) 형태로 배치된 복수의 센서 패드 및 일측이 상기 복수의 센서 패드 각각과 연결되며, 상기 일측에서 타측으로 연장되어 형성되는 복수의 신호 배선을 포함하는 터치 패널의 양불 검사 방법에 있어서, 상기 복수의 신호 배선 각각의 타측에서 연장되고, N/n(n은, 자연수)행과 nM열의 매트릭스 형태로 배치되는 복수의 테스트 포인트를 형성하는 단계; 및 프로브를 상기 복수의 테스트 포인트에 접촉하여, 상기 복수의 신호 배선 및 상기 복수의 센서 패드의 양불 검사를 수행하는 단계를 포함하는 터치 패널 양불 검사 방법이 제공된다.
상기 복수의 테스트 포인트를 형성하는 단계는, ITO, 메탈 및 은 중 적어도 하나를 사용하여 상기 복수의 테스트 포인트를 형성하거나, 상기ITO를 사용하여 복수의 테스트 포인트를 형성하는 단계; 및 상기 ITO로 형성된 복수의 테스트 포인트를 상기 메탈로 도금하는 단계를 포함할 수 있다.
이와 같이 본 발명의 실시예에 따른 터치 패널 양불 검사 방법 및 터치 패널에 의하면 간단한 방법을 통하여, 정확하게 센서 패드 및 신호 배선의 양불 검사를 할 수 있다.
또한, 본 발명의 일 실시예에 따르면, 터치 패널의 원자재 상태에서 양불 검사를 진행 할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 터치 패널을 포함한 터치 검출 장치의 분해 평면도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 터치 패널을 포함한 터치 검출 장치의 구성을 설명하기 위한 블록도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 터치 패널의 구성을 나타낸 도면이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 터치 패널의 센서 패드, 신호 배선 및 테스트 포인트의 연결을 도시한 도면이다.
도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 터치 패널의 양불 검사 방법을 도시한 순서도이다.
본 명세서에서 사용되는 용어에 대해 간략히 설명하고, 본 발명에 대해 구체적으로 설명하기로 한다.
본 발명에서 사용되는 용어는 본 발명에서의 기능을 고려하면서 가능한 현재 널리 사용되는 일반적인 용어들을 선택하였으나, 이는 당 분야에 종사하는 기술자의 의도 또는 판례, 새로운 기술의 출현 등에 따라 달라질 수 있다. 또한, 특정한 경우는 출원인이 임의로 선정한 용어도 있으며, 이 경우 해당되는 발명의 설명 부분에서 상세히 그 의미를 기재할 것이다. 따라서 본 발명에서 사용되는 용어는 단순한 용어의 명칭이 아닌, 그 용어가 가지는 의미와 본 발명의 전반에 걸친 내용을 토대로 정의되어야 한다.
명세서 전체에서 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있음을 의미한다. 또한, 명세서에 기재된 "...부", "모듈" 등의 용어는 적어도 하나의 기능이나 동작을 처리하는 단위를 의미하며, 이는 하드웨어 또는 소프트웨어로 구현되거나 하드웨어와 소프트웨어의 결합으로 구현될 수 있다. 그리고 어떤 부분이 다른 부분과 "연결"되어 있다고 할 때, 이는 직접적으로 연결되어 있는 경우뿐 아니라, 그 중간에 다른 시스템을 두고 연결되어 있는 경우도 포함한다.
아래에서는 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. 그리고 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다.
이하에서는 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세히 설명하기로 한다.
이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다.
먼저, 도 1 및 도 2를 참고하여 본 발명의 일 실시예에 따른 터치 패널을 포함한 터치 검출 장치에 대하여 상세하게 설명한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 터치 패널을 포함한 터치 검출 장치의 분해 평면도이고, 도 2는 본 발명의 일 실시예에 터치 패널을 포함한 터치 검출 장치의 구성을 설명하기 위한 블록도이다.
도 1 및 도 2을 참고하면, 본 발명의 실시예에 따른 터치 검출 장치는 터치 패널(100)과 구동 장치(200) 및 이 둘을 연결하는 회로 기판(20)을 포함한다.
터치 패널(100)은 기판(15) 위에 형성되어 있는 복수의 센서 패드(110) 및 센서 패드(110)에 연결되어 있는 복수의 신호 배선(120)을 포함한다. 기판(15)은 투명한 소재의 유리 또는 플라스틱 필름 등으로 만들어질 수 있다.
각 신호 배선(120)은 한 쪽 끝이 센서 패드(110)에 연결되어 있으며 다른 쪽 끝은 기판(15)의 아래 가장자리까지 뻗어 있다. 신호 배선(120)의 선폭은 수 마이크로미터 내지 수십 마이크로미터 수준으로 상당히 좁게 형성될 수 있어 전술한 바와 같이, 신호 배선(120)의 양불 검사에 어려움이 따른다.
센서 패드(110)와 신호 배선(120)은 투명한 도전성 물질로 이루어질 수 있다.
한편, 커버 유리(10)에 센서 패드(110)와 신호 배선(120)이 직접 패터닝 될 수 있다. 이 경우 커버 유리(10), 센서 패드(110), 신호 배선(120)이 일체형으로 구현되기 때문에 기판(15)은 생략될 수 있다.
터치 패널(100)을 구동하기 위한 구동 장치(200)는 인쇄 회로 기판이나 가요성 회로 필름과 같은 회로 기판(20) 위에 형성될 수 있으나 이에 한정되지 않으며 기판(15) 또는 커버 유리(10)의 일부에 직접 실장될 수도 있다. 구동 장치(200)는 터치 검출부(210), 터치 정보 처리부(220), 메모리(230) 및 제어부(240) 등을 포함할 수 있으며, 하나 이상의 직접회로(IC) 칩으로 구현될 수 있으며, 터치 검출부(210), 터치 정보 처리부(220), 메모리(230), 제어부(240)는 각각 분리되거나, 둘 이상의 구성 요소들이 통합되어 구현될 수 있다.
터치 검출부(210)는 센서 패드(110) 및 신호 배선(120)과 연결된 복수의 스위치와 복수의 커패시터를 포함할 수 있으며, 제어부(240)로부터 신호를 받아 터치 검출을 위한 회로들을 구동하고, 터치 검출 결과에 대응하는 전압을 출력한다. 또한 터치 검출부(210)는 증폭기 및 아날로그-디지털 변환기를 포함할 수 있으며, 센서 패드(110)의 전압 변화의 차이를 변환, 증폭 또는 디지털화하여 메모리(230)에 기억시킬 수 있다.
터치 정보 처리부(220)는 메모리(230)에 기억된 디지털 전압을 처리하여 터치 여부, 터치 면적 및 터치 좌표 등의 필요한 정보를 생성한다.
제어부(240)는 터치 검출부(210) 및 터치 정보 처리부(220)를 제어하며, 마이크로 컨트롤 유닛(micro control unit, MCU)을 포함할 수 있으며, 펌 웨어를 통해 정해진 신호 처리를 수행할 수 있다.
메모리(240)는 터치 검출부(210)로부터 검출된 전압 변화의 차이에 기초한 디지털 전압과 터치 검출, 면적 산출, 터치 좌표 산출에 이용되는 미리 정해진 데이터 또는 실시간 수신되는 데이터를 기억한다.
이하, 도 3을 참조하여, 본 발명의 일 실시예에 따른 터치 패널의 구성에 대하여 살펴보도록 한다. 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 터치 패널의 구성을 나타낸 도면이다.
본 발명의 일 실시예에 따른 터치 패널은, 복수의 센서 패드(110), 복수의 신호 배선(120) 및 복수의 테스트 포인트(130)를 포함한다.
복수의 센서 패드(110)는 도 3에 도시된 바와 같이, N행과 M열로 이루어진 매트릭스 형태로 배치된다. 복수의 센서 패드(110)는 사각형 또는 마름모꼴일 수 있으나 이와 다른 형태일 수도 있으며, 균일한 형태의 다각형 형태일 수도 있다. 센서 패드(110)는 인접한 다각형의 매트릭스 형태로 배열될 수 있다.
복수의 신호 배선(120)의 일측은 복수의 센서 패드(110)와 연결되며, 도 3에 도시된 바와 같이, 복수의 신호 배선(120)의 타측은 후술할 테스트 포인트(130)와 연결된다. 이때, 신호 배선(120)의 선폭은 수 마이크로미터 내지 수십 마이크로미터 수준으로 상당히 좁게 형성될 수 있고, 신호 배선(120)간 간격 또한 수 마이크로 내지 수십 마이크로 수준으로 상당히 좁게 형성될 수 있다.
본 명세서에서 신호 배선(120)의 일측은, 신호 배선(120) 중 센서 패드(110)와 연결된 쪽을, 신호 배선(120)의 타측은, 테스트 포인트(130)와 연결되는 쪽을 의미하는 것으로 사용된다.
센서 패드(110)와 신호 배선(120)은 ITO(indium-tin-oxide), ATO(Antimony Tin Oxide), IZO(indium-zinc-oxide), CNT(carbon nanotube), 그래핀(graphene) 등의 투명한 도전성 물질로 이루어질 수 있다.
센서 패드(110)와 신호 배선(120)은, 예를 들어 ITO 막을 기판(15) 위에 스퍼터링(sputtering) 등의 방법으로 적층한 다음 포토리소그래피 (photolithography) 등의 에칭 방법을 사용하여 패터닝함으로써 동시에 형성할 수 있다.
테스트 포인트(130)는 복수의 신호 배선(120) 각각의 타측에서 연장되어 형성된다. 테스트 포인트(130)는 복수의 신호 배선(120) 및 복수의 센서 패드(110)의 양불을 검사하기 위한 프로브가 접촉되는 포인트로서, 도 3에 도시된 바와 같이, 각각의 테스트 포인트(130) 간의 간격은 복수의 신호 배선(120)의 선간 간격보다 크므로, 테스트 포인트(130)에 프로브를 접촉하여 신호 배선(120)의 양불을 검사하기가 용이해진다.
본 발명의 일실시예에 따르면, 복수의 센서 패드(110)가 N행과 M열로 이루어진 매트릭스 형태로 배치되고, 테스트 포인트(130)는 N/n(n은, 자연수)행과 nM열의 매트릭스 형태로 배치된다. 즉, 테스트 포인트(130)는 센서 패드(110)의 배치에 비하여 보다 적은 행을 갖고, 보다 많은 열을 갖도록 배치된다. 이와 같은 배치를 통하여 기판의 가장자리 부근에 위치한 좁은 폭을 갖는 일정 영역(예컨대, 센서 패드없이 신호 배선들만 배치되어 있는 기판상의 비센싱 영역)에도 테스트 포인트(130)의 형성이 가능해질 수 있다. 예를 들어, 6행(N행)과 8열(M열)로 이루어진 복수의 센서 패드(110)와 연결되는 복수의 테스트 포인트(130)는 3행(=6/2) 16열(=8*2)의 매트릭스 형태로 배치될 수 있다.
테스트 포인트(130)는 도 3에 도시된, 원형 이외에, 프로브 접촉이 가능한 다양한 형태일 수 있으며, ITO, 메탈 및 은 중 적어도 어느 하나를 사용하여 형성될 수 있다. 테스트 포인트(130)가 ITO 및 메탈 도금을 통해 이루어진 경우, ITO 만으로 테스트 포인트(130)가 형성된 경우보다, 양불 검사의 정확도가 향상될 수 있다.
센서 패드(110), 신호 배선(120) 및 테스트 포인트(130)는 도 3에서 도시된 바와 같이 각각 1:1:1 로 매칭될 수 있다. 일 실시예에 따르면, 테스트 포인트(130)는 신호 배선(120) 타측의 후단으로 연장되어 형성될 수 있는데, 신호 배선의 타측은 터치 패널의 구동 장치가 실장된 회로 기판과 연결되는 본딩(bonding) 영역(121)일 수 있다.
센서 패드(110), 신호 배선(120) 및 테스트 포인트(130)의 연결에 대해서는 이하, 도 4를 참조하여 보다 상세하게 살펴보도록 한다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 터치 패널의 센서 패드, 신호 배선 및 테스트 포인트의 연결을 도시한 도면이다. 도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 터치 패널의 센서 패드, 신호 배선 및 테스트 포인트의 연결을 보다 명확하게 설명하기 위하여, 테스트 포인트의 배치 부분을 확대하여 도시한 바, 센서 패드 및 신호 배선의 배치를 도시한 부분과 그 배율이 상이함을 전제하고 설명한다.
도 4에 도시된 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따르면, N(=6)행 M(=8) 열의 매트릭스 형태로 복수의 센서 패드(110)가 배치될 수 있다.
센서 패드(110)는 신호 배선(120)을 통하여 테스트 포인트(130)와 연결되는데, 복수의 센서 패드(110) 중 어느 하나인 제1 센서 패드(110-1)는, 제1 신호 배선(120-1)의 일측과 연결되고, 제1 신호 배선(120-1)의 타측은 제1 테스트 포인트(130-1)와 연결될 수 있다. 이와 같이, 센서 패드(110),신호 배선(120) 및 테스트 포인트(130)은 1:1:1 로 매칭이 될 수 있다.
센서 패드(110)가 N행과 M열로 이루어진 매트릭스 형태로 배치되어 있다면, 테스트 포인트(130)는 N/n(n은, 자연수)행과 nM열로 배치되고, 이때 n이 2라면, 복수의 센서 패드(110)중 a행 b열의 센서 패드(110)는 a ≤ N/2이면 [(N/2+1-a)행, 2b열]에 배치된 테스트 포인트(130)와 연결되고, a > N/2 이면 [(N+1-a행), (2b-1)열)]에 배치된 테스트 포인트(130)와 연결될 수 있다.
이와 같이, 센서 패드(110)의 배치에 대하여 일정한 규칙에 따라 배치된 테스트 포인트(130)를 통해 테스트 포인트(130) 별로 각각 상응하는 센서 패드(110)와 신호 배선의 양불을 검사할 수 있다.
예를 들어, 도 4에 도시된 바와 같이, 6(=N)행 8(=M)열의 매트릭스 형태로 복수의 센서 패드(110)가 배치되어 있고, n = 2라고 가정하자. 6(=N)행 8(=M)열의 매트릭스 형태로 배치된 복수의 센서 패드(110)는 3(=N/n=6/2)행 16(=Nm=2*8)열의 테스트 포인트(130)와 연결될 수 있다.
이때, 1열에 배치된 센서 패드(110)를 살펴 보면, 1(=a)행 1(=b)열의 센서패드는, 1(=a) ≤ 3(=N/2=6/2) 이므로, 3(=N/2+1-a= 6/2+1-1)행 2(=2b=2*1)열의 테스트 포인트와, 2(=a)행 1(=b)열의 센서 패드는, 2(=a) ≤ 3(=N/2=6/2)이므로, 2(=N/2+1-a = 6/2+1-2)행 2(=2b=2*1)열의 테스트 포인트와, 3(=a)행 1(=b)열의 센서 패드는, 2(=a) ≤ 3(=N/2=6/2)이므로, 1(=N/2+1-a = 6/2+1-3)행 2(=2b=2*1)열의 테스트 포인트와, 4(=a)행 1(=b)열의 센서 패드는, 4(=a) > 3(=N/2=6/2)이므로, 3(=N+1-a= 6+1-4)행 1(=2b-1)열의 테스트 포인트와, 5(=a)행 1(=b)열의 센서 패드는 2(=N+1-a= 6+1-5)행 1(=2b-1)열의 테스트 포인트와, 마지막으로 6(=a)행 1(=b)열의 센서패드는 1(=N+1-a = 6+1-6)행 1(=2b-1)열의 테스트 포인트와 연결될 수 있다.
이와 같이, 센서 패드(110)의 행과 열(a행 b열)을 알면, 정확하게 어떤 테스트 포인트(a ≤ N/2이면 (N/2+1-a)행 및 2b열, a > N/2 이면 (N+1-a)행 및 2b-1열)를 프로브로 접촉하여 검사해야 하는지 알 수 있어, 테스트 포인트의 프로브 검사 시 이상이 있는 경우, 이상이 있는 센서 패드와 신호 배선의 위치를 정확히 파악하여 보다 빠르게 불량을 개선할 수 있다.
이하, 도 5를 참조하여 본 발명의 다른 실시예에 따른 터치 패널의 양불 검사 방법에 대하여 살펴보도록 한다. 도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 터치 패널의 양불 검사 방법을 도시한 순서도 이다.
본 발명의 다른 실시예에 따른 터치 패널은, 전술한 N행과 M열로 이루어진 매트릭스 형태로 배치된 복수의 센서 패드(110) 및 복수의 신호 배선(120)을 포함한다.
이러한 터치 패널의 양불 검사를 위하여, 복수의 신호 배선(120) 각각의 타측에서 연장되고 N/n(n은, 자연수)행과 nM열의 매트릭스 형태로 배치되는 테스트 포인트(130)를 형성한다(S510). 그리고, 이러한 테스트 포인트(130)에 프로브 핀을 접촉시켜, 복수의 신호 배선(120) 및 복수의 센서 패드(110)의 양불 검사를 한다(S520).
이와 같이, 본 발명에 따르면 단순히 복수의 센서 패드(110) 및 복수의 신호 배선(120)을 포함하는 터치 패널만이 형성된 상태, 즉 원자재 상태에서 복수의 신호 배선(120)과 연결되는 테스트 포인트(130)를 만들어 양불 검사를 함으로써, 터치 패널을 포함하는 터치 감지 장치의 불량률을 현저히 줄일 수 있다.
또한, 신호 배선(120) 간의 선폭이 마이크로 단위로 굉장히 좁더라도, 신호 배선(120)과 연결되는 테스트 포인트(130)의 간격을 프로브 접촉이 쉽도록 넓게 형성하여 양불 검사를 함으로써, 양불 검사의 정확도를 높일 수 있다.
전술한 본 개시의 설명은 예시를 위한 것이며, 본 개시가 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 자는 본 개시의 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 쉽게 변형이 가능하다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 예를 들어, 단일형으로 설명되어 있는 각 구성 요소는 분산되어 실시될 수도 있으며, 마찬가지로 분산된 것으로 설명되어 있는 구성 요소들도 결합된 형태로 실시될 수 있다.
본 개시의 보호 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 균등 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.
10: 커버 유리, 15: 기판,
20: 회로 기판, 100: 터치 패널,
110: 센서 패드, 120: 신호 배선,
130: 테스트 포인트, 200: 구동 장치,
210: 터치 검출부, 230: 메모리,
240: 제어부

Claims (10)

  1. N행과 M열의 매트릭스(matrix) 형태로 배치된 복수의 센서 패드;
    일측은 상기 복수의 센서 패드 각각과 연결되며, 상기 일측에서 타측으로 연장되어 형성되는 복수의 신호 배선; 및
    상기 복수의 신호 배선의 타측에서 연장되어 형성되며, 상기 복수의 신호 배선 및 상기 복수의 센서 패드의 양불을 검사하기 위한 프로브가 접촉되고, N÷n(n은 N의 약수)행과 n×M열의 매트릭스 형태로 배치된 복수의 테스트 포인트를 포함하는, 터치 패널.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 복수의 테스트 포인트는,
    ITO, 메탈 및 은 중 적어도 하나를 사용하여 형성되는 것을 특징으로 하는, 터치 패널.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 복수의 테스트 포인트는,
    상기 ITO를 이용하여 형성된 후, 상기 메탈로 도금되는 것을 특징으로 하는, 터치 패널.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 복수의 신호 배선 중 어느 하나인 제1 신호 배선의 일측은 상기 복수의 센서 패드 중 어느 하나인 제1 센서 패드와 연결되고, 상기 제1 신호 배선의 타측은 상기 복수의 테스트 포인트 중 어느 하나인 제1 테스트 포인트와 연결되는 것을 특징으로 하는, 터치 패널.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 제1 센서 패드가 (a행, b열)에 배치된 센서 패드이고 상기 n이 2이고, 상기 N 이 짝수인 경우, 상기 a ≤ N/2이면 상기 제1 테스트 포인트는 [(N/2+1-a)행, 2b열]에 배치된 테스트 포인트이고, a > N/2 이면 상기 제1 테스트 포인트는 [(N+1-a)행, (2b-1)열)]에 배치된 테스트 포인트인 것을 특징으로 하는, 터치 패널.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 복수의 테스트 포인트는 상기 복수의 신호 배선의 타측의 후단으로 연장되어 형성되고,
    상기 복수의 신호 배선의 타측은 상기 터치 패널의 구동 장치가 실장된 회로기판과 연결되는 본딩(bonding) 영역인 것을 특징으로 하는, 터치 패널.
  7. N행과 M열의 매트릭스(matrix) 형태로 배치된 복수의 센서 패드 및 일측이 상기 복수의 센서 패드 각각과 연결되며, 상기 일측에서 타측으로 연장되어 형성되는 복수의 신호 배선을 포함하는 터치 패널의 양불 검사 방법에 있어서,
    상기 복수의 신호 배선 각각의 타측에서 연장되고, N÷n(n은 N의 약수)행과 n×M열의 매트릭스 형태로 배치되는 복수의 테스트 포인트를 형성하는 단계; 및
    프로브를 상기 복수의 테스트 포인트에 접촉하여, 상기 복수의 신호 배선 및 상기 복수의 센서 패드의 양불 검사를 수행하는 단계를 포함하는, 터치 패널 양불 검사 방법.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 복수의 테스트 포인트를 형성하는 단계는,
    ITO, 메탈 및 은 중 적어도 하나를 사용하여 상기 복수의 테스트 포인트를 형성하는 것을 특징으로 하는, 터치 패널 양불 검사 방법.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 복수의 테스트 포인트를 형성하는 단계는,
    상기ITO를 사용하여 복수의 테스트 포인트를 형성하는 단계; 및
    상기 ITO로 형성된 복수의 테스트 포인트를 상기 메탈로 도금하는 단계를 포함하는, 터치 패널 양불 검사 방법.
  10. 제7항 내지 제9항 중 어느 한 항에 따른 방법을 실행하기 위한 컴퓨터 프로그램을 기록한 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체.
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