CN108181541B - 触控面板的检测装置及检测方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种触控面板的检测装置及检测方法，属于显示设备领域。该检测装置包括接线模块，用于将至少一个第一触控电极的引线接地；处理模块，用于对至少一个第二触控电极的电容值进行逐一检测，并根据每个第二触控电极的电容值判断对应的第二触控电极是否断路，每个第二触控电极至少与一个第一触控电极相邻，在检测时，将至少一个第一触控电极接地，第二触控电极与引线接地的第一触控电极构成电容，若第二触控电极没有断路，则检测到的电容值相比于没有将第一触控电极接地时更大，若断路则第二触控电极的电容值基本无变化，使引线完好的触控电极和引线断裂的触控电极之间的电容差异更明显，有利于更加准确的检测出触控电极是否断路。

Description

触控面板的检测装置及检测方法
技术领域
本发明涉及显示设备领域，特别涉及一种触控面板的检测装置及检测方法。
背景技术
自电容触控面板是一种常见的触控面板，通常包括矩阵布置的多个触控电极，每个触控电极单独通过一条引线与控制芯片连接，控制芯片通过引线对每个触控电极进行检测，根据每个触控电极的电容变化确定触摸发生的位置。
若触控电极的引线出现断裂的情况，则当手指触摸到触控电极所在区域时，触控面板会无法检测到手指的触摸，从而影响触控面板的正常使用，因此需要对触控面板进行检测。
目前在对触控面板进行检测时，通常是在触控电极未被触摸的情况下，对触控电极进行充电，并检测充电过程中一定时间段内触控电极的电容变化值，若变化值较大的则认为与该触控电极连接的引线完好，若变化值较小的则认为与该触控电极连接的引线断裂。但由于在该时间段内，引线完好的触控电极和引线断裂的触控电极的电容变化值的差异较小，导致这种检测方法容易出现误判和漏判的情况，从而影响产品的良率。
发明内容
为了解决目前对自电容触控面板的检测不准确导致产品的良率低的问题，本发明实施例提供了一种触控面板的检测装置及检测方法。所述技术方案如下：
一方面，本发明实施例提供了一种触控面板的检测装置，所述触控面板包括呈矩阵布置的多个触控电极，所述检测装置包括：
接线模块，用于将所述多个触控电极中的至少一个第一触控电极的引线接地；
处理模块，用于对所述多个触控电极中的至少一个第二触控电极的电容值进行逐一检测，并根据每个所述第二触控电极的电容值判断对应的所述第二触控电极是否断路，每个所述第二触控电极至少与一个所述第一触控电极相邻。
可选地，任意两个所述第二触控电极之间均至少间隔有一个所述第一触控电极。
可选地，每个与所述第二触控电极紧邻的触控电极均为所述第一触控电极。
可选地，所述处理模块用于对目标方向的一组所述第二触控电极的电容值进行逐一检测，所述目标方向为行方向或列方向，所述目标方向的一组所述第二触控电极与所述目标方向的至少一组所述第一触控电极相邻。
可选地，所述处理模块用于，当所述第二触控电极在所述第一触控电极的引线接地前后的电容变化值低于第一设定值时，判断所述第二触控电极断路。
可选地，所述处理模块用于，当所述第二触控电极在所述第一触控电极的引线接地后的电容值低于第二设定值时，判断所述第二触控电极断路。
可选地，所述处理模块用于通过与所述第二触控电极连接的引线向所述第二触控电极发送脉冲信号，并根据所述第二触控电极产生的电压信号确定所述第二触控电极的电容值。
另一方面，本发明实施例还提供了一种触控面板的检测方法，所述触控面板包括呈矩阵布置的多个触控电极，所述检测方法包括：
将所述多个触控电极中的至少一个第一触控电极的引线接地；
对所述多个触控电极中的至少一个第二触控电极的电容值进行逐一检测；
根据每个所述第二触控电极的电容值判断对应的所述第二触控电极是否断路，每个所述第二触控电极至少与一个所述第一触控电极相邻。
可选地，任意两个所述第二触控电极之间均至少间隔有一个所述第一触控电极。
可选地，每个与所述第二触控电极紧邻的触控电极均为所述第一触控电极。
可选地，所述将所述多个触控电极中的至少一个第一触控电极的引线接地，包括：
将沿目标方向布置的至少一组所述第一触控电极接地；
相应地，所述对所述多个触控电极中的至少一个第二触控电极的电容值进行逐一检测，包括：
对沿所述目标方向布置的一组所述第二触控电极的电容值进行逐一检测；
其中，所述目标方向为行方向或列方向，所述目标方向的一组所述第二触控电极与所述目标方向的至少一组所述第一触控电极相邻。
可选地，所述根据每个所述第二触控电极的电容值判断对应的所述第二触控电极是否断路，包括：
当所述第二触控电极在所述第一触控电极的引线接地前后的电容变化值低于第一设定值时，判断所述第二触控电极断路。
可选地，所述根据每个所述第二触控电极的电容值判断对应的所述第二触控电极是否断路，包括：
当所述第二触控电极在所述第一触控电极的引线接地后的电容值低于第二设定值时，判断所述第二触控电极断路。
可选地，所述对所述多个触控电极中的至少一个第二触控电极的电容值进行逐一检测，包括：
通过与所述第二触控电极连接的引线向所述第二触控电极发送脉冲信号，根据所述第二触控电极产生的电压信号确定所述第二触控电极的电容值。
本发明实施例提供的技术方案带来的有益效果是：在检测时，通过将与第二触控电极相邻的至少一个第一触控电极接地，使得第二触控电极与引线接地的第一触控电极构成电容，若第二触控电极(即当前被检测的触控电极)的引线完好，即没有断裂，则检测到的电容值相比于没有将第一触控电极接地时更大，若第二触控电极的引线断裂，则第二触控电极的电容值相比于没有将第一触控电极接地时基本无变化，这使得引线完好的触控电极和引线断裂的触控电极之间的电容差异更明显，有利于更加准确的检测出触控电极是否断路。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是一种自电容触控面板的局部结构示意图；
图2是本发明实施例提供的一种触控面板的检测装置的结构示意图；
图3是本发明实施例提供的一种触控面板的检测过程示意图；
图4是本发明实施例提供的触控电极的充电过程曲线；
图5是本发明实施例提供的一种第一触控电极和第二触控电极的分布示意图；
图6是本发明实施例提供的另一种第一触控电极和第二触控电极的分布示意图；
图7是本发明实施例提供的一种触控面板的检测方法的流程图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明实施方式作进一步地详细描述。
为了更好的理解本发明，以下对自电容触控面板的结构进行简单的说明。
图1是一种自电容触控面板的局部结构示意图，如图1所示，该自电容触控面板包括衬底基板(未示出)和呈矩阵状布置在衬底基板上的多个触控电极2，每个触控电极2对应设置有一根引线3，每个触控电极2分别通过对应的引线3与触控检测芯片1连接，每个触控电极2分别与地构成电容，在手指触摸触控电极2时，会使被触摸的触控电极2的电容增大，触控检测芯片1通过依次检测各触控电极2的电容，根据触控电极2的电容变化情况就可以判断出被触摸的触控电极2，从而确定被触摸的位置。
图2是本发明实施例提供的一种触控面板的检测装置的结构示意图，如图2所示，该检测装置10包括接线模块11和处理模块12。其中，接线模块11用于将多个触控电极中的至少一个第一触控电极的引线接地；处理模块12用于对多个触控电极中的至少一个第二触控电极的电容值进行逐一检测，并根据每个第二触控电极的电容值判断对应的第二触控电极是否断路，每个第二触控电极至少与一个第一触控电极相邻。
图3是本发明实施例提供的一种触控面板的检测过程示意图，该检测过程用于对图3中所示触控面板的一个触控电极(如图3中的触控电极22)进行检测。如图3所示，该被检测的触控电极22周围相邻有8个触控电极(如图3中的触控电极21)，被检测的触控电极为第二触控电极22，与第二触控电极22相邻的触控电极均为第一触控电极21。在图3所示的检测过程中，与第二触控电极22相邻的8个第一触控电极21的引线均通过接线模块11接地，处理模块12与第二触控电极22的引线连接，以对第二触控电极22进行电容值检测。
需要说明的是，第一触控电极和第二触控电极仅用于区分当前被检测的触控电极和与当前被检测的触控电极相邻的触控电极，在不同的检测过程中，例如在第一次检测和第二次检测中，第二次检测时的第一触控电极可能为第一次检测时的第二触控电极，第二次检测时的第二触控电极也可能为第一次检测时的第一触控电极。
虽然图3所示的第二触控电极共与8个第一触控电极相邻，但容易想到的是，对于触控面板上不同位置的第二触控电极，与之相邻的第一触控电极的数量也可能不同，例如当第二触控电极处于触控面板的边缘时，则与之相邻的第一触控电极只有5个，当第二触控电极处于触控面板的角落时，则与之相邻的第一触控电极只有3个。
此外，在对第二触控电极22进行检测时，也可以只将与之相邻的部分(1个～7个)第一触控电极21接地，以图3所示的检测过程为例，也可以只将图3中所示的8个第一触控电极21中的1个、2个或4个接地。
在检测时，通过将与第二触控电极相邻的至少一个第一触控电极接地，使得第二触控电极与引线接地的第一触控电极构成电容(图3中所示电容仅为示意，并非表示在第一触控电极和第二触控电极之间实际连接有电容)，若第二触控电极(即当前被检测的触控电极)的引线完好，即没有断裂，则检测到的电容值相比于没有将第一触控电极接地时更大，若第二触控电极的引线断裂，则第二触控电极的电容值相比于没有将第一触控电极接地时基本无变化，这使得引线完好的触控电极和引线断裂的触控电极之间的电容差异更明显，有利于更加准确的检测出触控电极是否断路。
图4是本发明实施例提供的触控电极的充电过程曲线，图中的曲线1和2为引线没有断裂的触控电极的充电曲线，其中，曲线1为第一触控电极接地时第二触控电极的充电曲线，曲线2为第一触控电极未接地时第二触控电极的充电曲线。曲线3和4为引线断裂的第二触控电极的充电曲线，其中曲线3为第一触控电极接地时第二触控电极的充电曲线，曲线4为第一触控电极未接地时第二触控电极的充电曲线。如图4所示，触控电极在充电过程中，随着充电时间t的增加，所检测到的触控电极产生的电压信号的电压值U越大，当充电时间达到一定程度时(如图4中的100％T)，电压信号基本保持不变，此时充电过程结束。对比曲线1和曲线3或曲线2和曲线4可知，充电相同的时间，引线完好的触控电极产生的电压信号的电压比引线断裂的触控电极产生的电压信号的电压要高。
处理模块12可以用于通过与第二触控电极22连接的引线向第二触控电极22发送脉冲信号，并根据第二触控电极22产生的电压信号确定第二触控电极22的电容值。处理模块12通过引线发送脉冲信号即是对第二触控电极22进行充电，再根据检测到的第二触控电极22产生的电压信号就可以得出第二触控电极22的电容值。
处理模块12可以用于，当第二触控电极22在第一触控电极21的引线接地前后的电容变化值低于第一设定值时，判断第二触控电极22断路。对比曲线1和曲线2可知，将第一触控电极21接地后，引线完好的第二触控电极22上产生的电压信号的电压会有一个较大的上升(如图4中的线段B所示)，而对比曲线3和曲线4可知，将第一触控电极21接地后，引线断裂的第二触控电极22上产生的电压信号的电压上升幅度较小(如图4中的线段b所示)。因此可以根据将第一触控电极21接地后，第二触控电极22的电容值的变化幅度判断第二触控电极22的引线是否断裂。其中第一设定值可以根据试验检测设定，例如对多个已知引线未断裂的触控电极进行检测，获取在将紧邻这些触控电极的其他触控电极接地前后，这些触控电极的电容变化值，以其中最小的电容变化值为第一设定值，或者以比其中最小的电容变化值还小10％～20％的数值作为第一设定值。
需要说明的是，当第二触控电极有多个时，第二触控电极22在第一触控电极21的引线接地前后的电容变化值指的是，当前正在被检测的第二触控电极22相邻的第一触控电极21的引线接地前后，正在被检测的第二触控电极22的电容变化值。
在本发明的另一种实施例中，处理模块12也可以用于当第二触控电极22在第一触控电极21的引线接地后的电容值低于第二设定值时，判断第二触控电极22断路。对比曲线1和曲线3或曲线2和曲线4可知，充电相同的时间，引线完好的触控电极产生的电压信号的电压比引线断裂的触控电极产生的电压信号的电压要高，且在将第一触控电极接地后，引线完好的触控电极上产生的信号的电压会更高，因此根据将第一触控电极21接地后检测到的第二触控电极22的电容值的大小也可以判断其引线是否断裂。其中第二设定值也可以根据试验检测设定，例如对多个已知引线断裂的触控电极进行检测(与引线断裂的触控电极相邻的其他触控电极接地或不接地均可)，获取这些触控电极上产生的电压信号的电压值，以其中的最大值作为第二设定值，或者以比该最大值大10％～20％的数值作为第二设定值。
需要说明的是，当第二触控电极有多个时，第二触控电极22在第一触控电极21的引线接地后的电容值指的是，当前正在被检测的第二触控电极22相邻的第一触控电极21的引线接地后，正在被检测的第二触控电极22的电容值。
在获取第一设定值和第二设定值的过程中，对于已知引线未断裂的触控电极和已知引线断裂的触控电极的判断，可以采用现有的检测方法进行判断。
由图4容易知道，在检测过程中，充电时间达到100％T时，引线完好的与引线断裂的第二触控电极产生的电压信号的电压值相差最大，因此可以在充电时间达到100％T时进行检测，有利于更好的检测出第二触控电极的引线是否断裂。
图5是本发明实施例提供的一种第一触控电极和第二触控电极的分布示意图，该检测过程可以在一次接线操作后，对多个第二触控电极进行检测，以提高检测的效率。如图5所示，多个第二触控电极均与处理模块连接，以分别检测这些第二触控电极的电容值，判断这些第二触控电极的引线是否断裂。
如图5所示，任意两个第二触控电极22之间均可以至少间隔有一个第一触控电极21。
由于相邻的第二触控电极22之间都间隔有一个第一触控电极21，则每个第二触控电极22周围都有多个第一触控电极21可以接地，有利于增大第一触控电极21和第二触控电极22之间形成的总电容，有利于提高检测的准确性。
每个第二触控电极22紧邻的触控电极均为第一触控电极21。这样在进行检测时，可以将与每个第二触控电极22相邻的第一触控电极21都接地，这样可以最大限度的增大第一触控电极21和第二触控电极22之间形成的电容，有利于提高检测的准确性。同时由于在检测过程中，无法确定与第二触控电极22相邻的第一触控电极21的引线是否完好，若相邻的第一触控电极21的引线是断裂的，则即使将该第一触控电极21的引线接地也不会使检测到的第二触控电极22的电容值增大，因此将与第二触控电极22相邻的第一触控电极21都接地，即使有部分第一触控电极21的引线是断裂的，但是只要有至少1个第一触控电极21的引线完好，则也会使检测到的第二触控电极22的电容值增大，而所有的第一触控电极21的引线都断裂的几率相比于一个第一触控电极21的引线断裂的几率要小的多。
图6是本发明实施例提供的另一种第一触控电极和第二触控电极的分布示意图，该检测过程可以在一次接线操作后，对一行第二触控电极22进行检测，以提高检测的效率。一行第二触控电极22均与处理模块12连接。
处理模块12可以用于对目标方向(如图6中的X方向)的一组第二触控电极22的电容值进行逐一检测，目标方向为行方向，目标方向的一组第二触控电极22与目标方向的一组第一触控电极21相邻。如图6所示，一组第二触控电极包括沿行方向排列的一行第二触控电极，一组第一触控电极包括沿行方向排列的一行第一触控电极。
如图6所示，一组第二触控电极22位于触控面板的边缘，该组第二触控电极仅与一组第一触控电极21相邻，当第二触控电极22不位于触控面板的边缘时，一组第二触控电极22则与两组第一触控电极21相邻，这时可以将与该组第二触控电极22相邻的两组第一触控电极21都接地，以增大第一触控电极21和第二触控电极22之间形成的电容，提高检测的准确性。
容易想到的是，在其他实施例中，目标方向也可以为列方向(如图6中的Y方向)，则一组第二触控电极包括沿列方向排列的一列第二触控电极，一组第一触控电极包括沿列方向排列的一列第一触控电极，从而对一列第二触控电极进行检测。
图7是本发明实施例提供的一种触控面板的检测方法的流程图，该检测方法采用图2所示的检测装置对如图1所示的触控面板进行检测。如图7所示，该检测方法包括：
S11：将多个触控电极中的至少一个第一触控电极的引线接地。
其中，被检测的触控电极为第二触控电极，与第二触控电极相邻的触控电极均为第一触控电极，每个第二触控电极至少与一个第一触控电极相邻。
步骤S11可以由前述的接线模块执行。
参照图3，在检测过程中，与第二触控电极22相邻的8个第一触控电极21的引线均接地。在其他实施例中，也可以只将与第二触控电极22相邻的部分第一触控电极21接地，以图3所示的检测过程为例，也可以只将图3中所示的8个第一触控电极21中的1个、2个或4个接地。
此外，也可以采用如图5或5所示的方式对第一触控电极的引线接地。
S12：对多个触控电极中的至少一个第二触控电极的电容值进行逐一检测。
步骤S12可以由前述的处理模块执行。
具体可以通过与第二触控电极连接的引线向第二触控电极发送脉冲信号，并根据第二触控电极产生的电压信号确定第二触控电极的电容值。通过引线发送脉冲信号即是对第二触控电极进行充电，再根据检测到的第二触控电极产生的电压信号就可以得出第二触控电极的电容值。
当只检测一个第二触控电极时，可以采用如图3所示的方式对第一触控电极的引线接地。
此外也可以在一次接线操作后，对多个第二触控电极进行检测，以提高检测的效率。当对多个第二触控电极进行检测时，可以采用图5所示的方式对第一触控电极的引线接地。
可选地，任意两个第二触控电极22之间均可以至少间隔有一个第一触控电极21。
由于相邻的第二触控电极22之间都间隔有一个第一触控电极21，则每个第二触控电极22周围都有多个第一触控电极21可以接地，有利于增大第一触控电极21和第二触控电极22之间形成的总电容，有利于提高检测的准确性。
每个第二触控电极22紧邻的触控电极均为第一触控电极21。这样在进行检测时，可以将与每个第二触控电极22相邻的第一触控电极21都接地，这样可以最大限度的增大第一触控电极21和第二触控电极22之间形成的电容，有利于提高检测的准确性。同时由于在检测过程中，无法确定与第二触控电极22相邻的第一触控电极21的引线是否完好，若相邻的第一触控电极21的引线是断裂的，则即使将该第一触控电极21的引线接地也不会使检测到的第二触控电极22的电容值增大，因此将与第二触控电极22相邻的第一触控电极21都接地，即使有部分第一触控电极21的引线是断裂的，但是只要有至少1个第一触控电极21的引线完好，则也会使检测到的第二触控电极22的电容值增大，而所有的第一触控电极21的引线都断裂的几率相比于一个第一触控电极21的引线断裂的几率要小的多。
此外，也可以采用图6所示的方式对第一触控电极21的引线接地。该检测过程可以在一次接线操作后，对一行第二触控电极22进行检测，以提高检测的效率。
在执行步骤S11时，可以将沿目标方向布置的至少一组第一触控电极接地。相应地，在执行步骤S12时，可以对沿目标方向布置的一组第二触控电极22的电容值进行逐一检测，目标方向为行方向(如图6中的X方向)。
其中，目标方向的一组第二触控电极22与目标方向的至少一组第一触控电极21相邻。一组第二触控电极包括沿行方向排列的一行第二触控电极，一组第一触控电极包括沿行方向排列的一行第一触控电极。
如图6所示，一组第二触控电极22位于触控面板的边缘，该组第二触控电极22仅与一组第一触控电极21相邻，当第二触控电极22不位于触控面板的边缘时，一组第二触控电极22则与两组第一触控电极21相邻，这时可以将与该组第二触控电极22相邻的两组第一触控电极21都接地，以增大第一触控电极21和第二触控电极22之间形成的电容，提高检测的准确性。
容易想到的是，在其他实施例中，目标方向也可以为列方向(如图6中的Y方向)，则一组第二触控电极包括沿列方向排列的一列第二触控电极，一组第一触控电极包括沿列方向排列的一列第一触控电极，从而对一列第二触控电极进行检测。
S13：根据每个第二触控电极的电容值判断对应的第二触控电极是否断路。
步骤S13可以由前述的处理模块执行。
当第二触控电极22在第一触控电极21的引线接地前后的电容变化值低于第一设定值时，判断第二触控电极22断路。将第一触控电极21接地后，引线断裂的第二触控电极22上产生的电压信号的电压上升幅度较小。因此可以根据将第一触控电极21接地后，第二触控电极22的电容值的变化幅度判断第二触控电极22的引线是否断裂。
在本发明的另一种实施例中，也可以当第二触控电极22在第一触控电极21的引线接地后的电容值低于第二设定值时，判断第二触控电极22断路。由于充电相同的时间，引线完好的触控电极产生的电压信号的电压比引线断裂的触控电极产生的电压信号的电压要高，且在将第一触控电极21接地后，引线完好的触控电极上产生的信号的电压会更高，因此根据将第一触控电极21接地后检测到的第二触控电极22的电容值的大小也可以判断其引线是否断裂。
第一设定值和第二设定值均可以根据试验检测设定，具体可以参照前述装置部分实施例。
在检测时，通过将与第二触控电极相邻的至少一个第一触控电极接地，使得第二触控电极与引线接地的第一触控电极构成电容，若第二触控电极(即当前被检测的触控电极)的引线完好，即没有断裂，则检测到的电容值相比于没有将第一触控电极接地时更大，若第二触控电极的引线断裂，则第二触控电极的电容值相比于没有将第一触控电极接地时基本无变化，这使得引线完好的触控电极和引线断裂的触控电极之间的电容差异更明显，有利于更加准确的检测出触控电极是否断路。
以上所述仅为本发明的较佳实施例，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (12)

1.一种触控面板的检测装置，其特征在于，所述触控面板为自电容触控面板，所述触控面板包括呈矩阵布置的多个触控电极，所述检测装置包括：
接线模块，用于将所述多个触控电极中的至少一个第一触控电极的引线接地；
处理模块，用于通过与所述多个触控电极中的至少一个第二触控电极连接的引线向所述第二触控电极发送脉冲信号，根据所述第二触控电极产生的电压信号逐一确定所述多个触控电极中的至少一个第二触控电极的电容值，并根据每个所述第二触控电极的电容值判断对应的所述第二触控电极是否断路，每个所述第二触控电极至少与一个所述第一触控电极相邻。
2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，任意两个所述第二触控电极之间均至少间隔有一个所述第一触控电极。
3.根据权利要求2所述的检测装置，其特征在于，每个与所述第二触控电极紧邻的触控电极均为所述第一触控电极。
4.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述处理模块用于对目标方向的一组所述第二触控电极的电容值进行逐一检测，所述目标方向为行方向或列方向，所述目标方向的一组所述第二触控电极与所述目标方向的至少一组所述第一触控电极相邻。
5.根据权利要求1～4任一项所述的检测装置，其特征在于，所述处理模块用于，当所述第二触控电极在所述第一触控电极的引线接地前后的电容变化值低于第一设定值时，判断所述第二触控电极断路。
6.根据权利要求1～4任一项所述的检测装置，其特征在于，所述处理模块用于，当所述第二触控电极在所述第一触控电极的引线接地后的电容值低于第二设定值时，判断所述第二触控电极断路。
7.一种触控面板的检测方法，所述触控面板为自电容触控面板，所述触控面板包括呈矩阵布置的多个触控电极，其特征在于，所述检测方法包括：
将所述多个触控电极中的至少一个第一触控电极的引线接地；
通过与所述多个触控电极中的至少一个第二触控电极连接的引线向所述第二触控电极发送脉冲信号，根据所述第二触控电极产生的电压信号逐一确定所述多个触控电极中的至少一个第二触控电极的电容值；
根据每个所述第二触控电极的电容值判断对应的所述第二触控电极是否断路，每个所述第二触控电极至少与一个所述第一触控电极相邻。
8.根据权利要求7所述的检测方法，其特征在于，任意两个所述第二触控电极之间均至少间隔有一个所述第一触控电极。
9.根据权利要求8所述的检测方法，其特征在于，每个与所述第二触控电极紧邻的触控电极均为所述第一触控电极。
10.根据权利要求7所述的检测方法，其特征在于，所述将所述多个触控电极中的至少一个第一触控电极的引线接地，包括：
将沿目标方向布置的至少一组所述第一触控电极接地；
相应地，所述对所述多个触控电极中的至少一个第二触控电极的电容值进行逐一检测，包括：
对沿所述目标方向布置的一组所述第二触控电极的电容值进行逐一检测；
其中，所述目标方向为行方向或列方向，所述目标方向的一组所述第二触控电极与所述目标方向的至少一组所述第一触控电极相邻。
11.根据权利要求7～10任一项所述的检测方法，其特征在于，所述根据每个所述第二触控电极的电容值判断对应的所述第二触控电极是否断路，包括：
当所述第二触控电极在所述第一触控电极的引线接地前后的电容变化值低于第一设定值时，判断所述第二触控电极断路。
12.根据权利要求7～10任一项所述的检测方法，其特征在于，所述根据每个所述第二触控电极的电容值判断对应的所述第二触控电极是否断路，包括：
当所述第二触控电极在所述第一触控电极的引线接地后的电容值低于第二设定值时，判断所述第二触控电极断路。
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110164344B (zh) * 2019-06-06 2022-09-16 京东方科技集团股份有限公司 一种显示面板及显示装置
CN111857435B (zh) * 2020-07-28 2024-04-19 京东方科技集团股份有限公司 一种触控显示面板及其测试方法、显示装置
CN113741741B (zh) * 2021-09-17 2024-03-15 京东方科技集团股份有限公司 自容式触摸屏的断线位置检测方法、装置、设备和介质

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103324366A (zh) * 2012-03-20 2013-09-25 晨星软件研发(深圳)有限公司 电容检测装置及应用该电容检测装置的电容式触控系统
CN103969538A (zh) * 2013-01-24 2014-08-06 上海天马微电子有限公司 内嵌式触摸屏的电测试方法
CN104484071A (zh) * 2014-12-25 2015-04-01 上海天马微电子有限公司 一种触控面板和触控装置及其驱动方法
CN105975129A (zh) * 2016-05-04 2016-09-28 厦门天马微电子有限公司 显示面板及其测试方法、使用方法

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5193942B2 (ja) * 2009-05-14 2013-05-08 京セラディスプレイ株式会社 静電容量型タッチパネル装置
US8581879B2 (en) * 2010-01-21 2013-11-12 Apple Inc. Negative pixel compensation
US9122361B2 (en) * 2011-05-19 2015-09-01 Qualcomm Technologies, Inc. Touch panel testing using mutual capacitor measurements
CN103927038B (zh) * 2013-06-09 2017-08-29 上海天马微电子有限公司 一种内嵌式触摸屏及其电压检测方法
CN104516609B (zh) * 2014-12-19 2018-06-12 深圳市华星光电技术有限公司 内嵌式触摸面板的检测方法及制造方法
TWI588694B (zh) * 2015-06-12 2017-06-21 群創光電股份有限公司 觸控顯示裝置
CN105093593B (zh) * 2015-09-11 2018-10-30 京东方科技集团股份有限公司 显示基板及其测试方法、显示装置
CN105301429B (zh) * 2015-11-05 2018-05-29 深圳市华星光电技术有限公司 自电容触控面板的缺陷检测装置与检测方法
CN106873226B (zh) * 2017-04-28 2019-11-26 上海中航光电子有限公司 一种触控显示面板
US10311766B2 (en) * 2017-06-30 2019-06-04 Wuhan China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd. Test circuit for in-cell touch screen
CN107402675B (zh) * 2017-07-28 2019-08-02 Oppo广东移动通信有限公司 一种触摸操作的响应方法、装置、存储介质及终端
CN107506091B (zh) * 2017-09-28 2021-05-14 京东方科技集团股份有限公司 触控检测芯片、触控面板及触控检测方法
KR102456333B1 (ko) * 2017-10-23 2022-10-19 엘지디스플레이 주식회사 터치표시장치 및 패널
KR102377696B1 (ko) * 2017-11-09 2022-03-24 엘지디스플레이 주식회사 터치 표시 장치 및 터치 구동 회로
JP2019101713A (ja) * 2017-12-01 2019-06-24 シャープ株式会社 タッチセンサ内蔵型の表示装置およびその駆動方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103324366A (zh) * 2012-03-20 2013-09-25 晨星软件研发(深圳)有限公司 电容检测装置及应用该电容检测装置的电容式触控系统
CN103969538A (zh) * 2013-01-24 2014-08-06 上海天马微电子有限公司 内嵌式触摸屏的电测试方法
CN104484071A (zh) * 2014-12-25 2015-04-01 上海天马微电子有限公司 一种触控面板和触控装置及其驱动方法
CN105975129A (zh) * 2016-05-04 2016-09-28 厦门天马微电子有限公司 显示面板及其测试方法、使用方法

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