CN111857435B - 一种触控显示面板及其测试方法、显示装置 - Google Patents

一种触控显示面板及其测试方法、显示装置 Download PDF

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Abstract

本申请公开了一种触控显示面板及其测试方法、显示装置，用以提高裂纹测试准确率。本申请实施例提供的一种触控显示面板，所述触控显示面板包括：显示区，以及围绕所述显示区的周边区；所述显示区包括：触控电极，与所述触控电极电连接的触控信号线；所述周边区包括：裂纹测试引线，与所述裂纹测试引线电连接的第一驱动芯片；所述裂纹测试引线分布于所述显示区的四周；所述触控信号线从所述显示区延伸到所述周边区，所述裂纹测试引线与部分所述触控信号线电连接；所述第一驱动芯片被配置为：向所述裂纹测试引线提供测试信号，获得所述触控电极的电容值。

Description

一种触控显示面板及其测试方法、显示装置
技术领域
本申请涉及显示技术领域，尤其涉及一种触控显示面板及其测试方法、显示装置。
背景技术
有机发光二极管(Organic-Light-Emitting Diode，OLED)显示屏质地柔软，在制作的过程中存在屏幕边缘受损导致断裂(crack)的风险，进而在信赖性过程中存在crack恶化导致屏幕显示异常的风险。
为了对OLED产品在制作过程中是否存在crack进行判断，现有技术通常在显示面板的边缘形成一圈金属线作为显示面板裂纹检测(Panel Crack Detect，PCD)PCD线，PCD线在显示屏四周边缘构成导线回路，通过测试PCD线的电阻和电压以对PCD走线是否存在Crack进行监控，进而对OLED屏边缘是否受损进行判断。但是，在对产品进行设计时，不同产品PCD线的阻抗设计值不同，如果PCD线的阻抗与驱动芯片的固有特性不匹配时，利用PCD线的进行电阻和电压测试准确率较低，存在一定的误判导致良率损失。
发明内容
本申请实施例提供了一种触控显示面板及其测试方法、显示装置，用以提高裂纹测试准确率。
本申请实施例提供的一种触控显示面板，所述触控显示面板包括：显示区，以及围绕所述显示区的周边区；
所述显示区包括：触控电极，与所述触控电极电连接的触控信号线；
所述周边区包括：裂纹测试引线，与所述裂纹测试引线电连接的第一驱动芯片；
所述裂纹测试引线分布于所述显示区的四周；
所述触控信号线从所述显示区延伸到所述周边区，所述裂纹测试引线与部分所述触控信号线电连接；
所述第一驱动芯片被配置为：向所述裂纹测试引线提供测试信号，获得所述触控电极的电容值。
本申请实施例提供的触控显示面板，在周边区设置的裂纹测试引线的一端与触控信号线电连接，裂纹测试引线的另一端与第一驱动芯片电连接，从而可以通过裂纹测试引线对触控电极的电容值进行测试，进而可以根据测试获得的电容值确定裂纹测试引线是否存在裂纹，该测试结果不会受到裂纹测试引线的阻抗以及第一驱动芯片的属性的影响，测试结果准确率高，可以避免由于裂纹测试误判导致的触控显示面板的良率损失。
可选地，所述触控电极包括：多个触控驱动电极，以及多个触控感应电极；
所述触控信号线包括：多条第一触控信号线和多条第二触控信号线；
所述触控驱动电极在第一方向通过所述第一触控信号线电连接，所述触控感应电极在第二方向上通过第二触控信号线电连接，所述第一方向和所述第二方向交叉，所述第一驱动芯片指向所述显示区的方向与所述第一方向平行；
所述裂纹测试引线包括：第一裂纹测试引线，第二裂纹测试引线；
在所述显示区远离所述第一驱动芯片的一侧，所述第一裂纹测试引线与一条所述第一触控信号线电连接；
所述第二裂纹测试引线与一条所述第二触控信号线电连接；
所述第一驱动芯片被配置为：向所述第一裂纹测试引线和所述第二裂纹测试引线提供测试信号，分别获得所述触控驱动电极的第一电容值和所述触控感应电极的第一电容值。
本申请实施例提供的触控显示面板，第一裂纹测试引线与第一触控信号线电连接，第二裂纹测试引线与第二触控信号线电连接，从而可以通过获得的触控驱动电极的电容值以及触控感应电极的电容值分别确定两条裂纹测试引线是否存在裂纹，即当裂纹测试引线存在裂纹时，可以根据获得的电容值判断出具体哪条裂纹测试引线存在裂纹，当需要对出现裂纹的位置进行分析时，可以缩小裂纹位置排查的范围，提高裂纹分析效率。
可选地，所述触控显示面板还包括：多条第一触控引线和多条第二触控引线；
未与所述第一裂纹测试引线电连接的所述第一触控信号线，通过所述第一触控引线与所述第一驱动芯片一一对应电连接；
未与所述第二裂纹测试引线电连接的所述第二触控信号线，通过所述第二触控引线与所述第一驱动芯片一一对应电连接。
可选地，所述触控显示面板还包括：第三触控引线和第四触控引线，
与所述第一裂纹测试引线电连接的所述第一触控信号线，还通过所述第三触控引线与所述第一驱动芯片电连接；
与所述第二裂纹测试引线电连接的所述第二触控信号线，还通过所述第四触控引线与所述第一驱动芯片电连接；
所述第一驱动芯片还被配置为：向所述第三触控引线和所述第四触控引线提供测试信号，分别获得所述触控驱动电极的第二电容值和所述触控感应电极的第二电容值。
本申请实施例提供的触控显示面板，还设置有第三触控引线和第四触控引线，从而可以将对触控电极的电容测试与裂纹测试独立进行。并且裂纹测试引线也不会对后续触控显示面板正常的触控造成影响。
可选地，所述周边区还包括：第一开关晶体管，第二开关晶体管，第三开关晶体管，第四开关晶体管，以及第二驱动芯片；
所述第二驱动芯片与第一开关晶体管、第二开关晶体管、第三开关晶体管以及第四开关晶体管的栅极电连接；
所述第一开关晶体管的第一级与所述第一裂纹测试引线电连接，所述第一开关晶体管的第二级与所述第一驱动芯片电连接；
所述第二开关晶体管的第一级与所述第二裂纹测试引线电连接，所述第二开关晶体管的第二级与所述第一驱动芯片电连接；
所述第三开关晶体管的第一级与所述第三触控引线电连接，所述第三开关晶体管的第二级与所述第一驱动芯片电连接；
所述第四开关晶体管的第一级与所述第四触控引线电连接，所述第四开关晶体管的第二级与所述第一驱动芯片电连接；
所述第二驱动芯片被配置为：控制所述第一开关晶体管和所述第二开关晶体管打开，或者控制所述第三开关晶体管和所述第四开关晶体管打开。
可选地，所述周边区还包括：与所述第一驱动芯片电连接的第二驱动芯片；
所述第二驱动芯片被配置为：向所述第一驱动芯片提供第一控制信号，以使所述第一驱动芯片向所述第一裂纹测试引线和所述第二裂纹测试引线提供测试信号；向所述第一驱动芯片提供第二控制信号，以使所述第一驱动芯片向第三触控引线和所述第四触控引线提供测试信号。
可选地，所述第一裂纹测试引线与所述第一驱动芯片指向所述显示区的方向的最后一条所述第一触控信号线电连接；
在所述第一裂纹测试引线指向所述第二裂纹测试引线的方向上，所述第二裂纹测试引线与第一条所述第二触控信号线电连接。
这样，第一裂纹测试引线和第二裂纹测试引线可以尽可能多的围绕显示区，提高触控显示面板密封效果检测准确度。
本申请实施例提供的一种触控显示面板的测试方法，所述方法包括：
通过所述第一驱动芯片向所述裂纹测试引线提供测试信号，获得所述触控电极的第一电容值；
根据所述触控电极的第一电容值，确定所述裂纹测试引线是否存在裂纹。
本申请实施例提供的触控显示面板的测试方法，通过裂纹测试引线对触控电极的电容值进行测试，进而可以根据测试获得的电容值确定裂纹测试引线是否存在裂纹，该测试结果不会受到裂纹测试引线的阻抗以及第一驱动芯片的属性的影响，测试结果准确率高，可以避免由于裂纹测试误判导致的触控显示面板的良率损失。
可选地，所述触控电极包括：多个触控驱动电极，以及多个触控感应电极；所述触控信号线包括：多条第一触控信号线和多条第二触控信号线；
通过所述第一驱动芯片向所述裂纹测试引线提供测试信号，获得所述触控电极的第一电容值，具体包括：
通过所述第一驱动芯片向所述第一裂纹测试引线提供测试信号，获得所述触控驱动电极的第一电容值，以及通过所述第一驱动芯片向所述第二裂纹测试引线提供测试信号，获得所述触控感应电极的第一电容值；
根据所述触控电极的第一电容值，确定所述裂纹测试引线是否存在裂纹，具体包括：
根据所述触控驱动电极的第一电容值，确定所述第一裂纹测试引线是否存在裂纹，以及根据所述触控感应电极的第一电容值，确定所述第二裂纹测试引线是否存在裂纹。
可选地，所述触控显示面板还包括：第三触控引线和第四触控引线；
通过所述第一驱动芯片向所述第一裂纹测试引线提供测试信号，获得所述触控驱动电极的第一电容值，以及通过所述第一驱动芯片向所述第二裂纹测试引线提供测试信号，获得所述触控感应电极的第一电容值之前，所述方法还包括：
通过所述第一驱动芯片，向所述第三触控引线提供测试信号，获得所述触控驱动电极的第二电容值，以及向所述第六触控引线提供测试信号，获得所述触控感应电极的第二电容值；
根据所述触控驱动电极的第一电容值，确定所述第一裂纹测试引线是否存在裂纹，具体包括：
根据所述触控驱动电极的第一电容值和所述触控驱动电极的第二电容值，确定所述第一裂纹测试引线是否存在裂纹；
根据所述触控感应电极的第一电容值，确定所述第二裂纹测试引线是否存在裂纹，具体包括：
根据所述触控感应电极的第一电容值和所述触控感应电极的第二电容值，确定所述第二裂纹测试引线是否存在裂纹。
本申请实施例提供的一种显示装置，所述显示装置包括本申请实施例提供的触控显示面板。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简要介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例提供的一种触控显示面板的示意图；
图2为本申请实施例提供的另一种触控显示面板的示意图；
图3为本申请实施例提供的又一种触控显示面板的示意图；
图4为本申请实施例提供的又一种触控显示面板的示意图；
图5为本申请实施例提供的又一种触控显示面板的示意图；
图6为本申请实施例提供的一种触控显示面板的测试方法的示意图。
具体实施方式
为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例的附图，对本申请实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。并且在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。基于所描述的本申请的实施例，本领域普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
除非另外定义，本申请使用的技术术语或者科学术语应当为本申请所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本申请中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。
需要注意的是，附图中各图形的尺寸和形状不反映真实比例，目的只是示意说明本申请内容。并且自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。
本申请实施例提供了一种触控显示面板，如图1所示，所述触控显示面板包括：显示区1，以及围绕所述显示区1的周边区2；
所述显示区1包括：触控电极3，与所述触控电极电连接的触控信号线4；
所述周边区2包括：裂纹测试引线5，与所述裂纹测试引线5电连接的第一驱动芯片6；
所述裂纹测试引线5分布于所述显示区1的四周；
所述触控信号线4从所述显示区1延伸到所述周边区2，所述裂纹测试引线5与部分所述触控信号线4电连接；
所述第一驱动芯片6被配置为：向所述裂纹测试引线5提供测试信号，获得所述触控电极3的电容值。
本申请实施例提供的触控显示面板，在周边区设置的裂纹测试引线的一端与触控信号线电连接，裂纹测试引线的另一端与第一驱动芯片电连接，从而可以通过裂纹测试引线对触控电极的电容值进行测试，进而可以根据测试获得的电容值确定裂纹测试引线是否存在裂纹，该测试结果不会受到裂纹测试引线的阻抗以及第一驱动芯片的属性的影响，测试结果准确率高，可以避免由于裂纹测试误判导致的触控显示面板的良率损失。
可选地，本申请实施例提供的触控显示面板，显示区还包括电致发光器件，以及密封所述电致发光器件的封装层，封装层从显示区延伸到周边区。电致发光器件例如可以是有机发光二极管(Organic-Light-Emitting Diode，OLED)。需要说明的是，本申请实施例在周边区设置裂纹测试引线，通过测试裂纹测试引线是否存在裂纹来判断封装良率，当确定裂纹测试引线存在裂纹时，则认为触控显示面板封装失效。
在具体实施时，触控电极可以采用单元上柔性多层(Flexible Multi-Layer OnCell，FMLOC)工艺形成，即在封装层之上进行触控电极以及触控信号线的制作。在周边区还包括包围显示区的第一挡墙，以及位于第一挡墙背离显示区一侧的第二挡墙，裂纹测试引线可以设置在第二挡墙背离第一挡墙的一侧。显示面板还包括与电致发光器件电连接的薄膜晶体管像素电路。薄膜晶体管可以是顶栅结构也可以是底栅结构。裂纹测试引线例如可以与薄膜晶体管的栅极同层设置。在裂纹测试引线与触控信号线电连接的位置，裂纹测试引线与触控信号线之间的绝缘层具有过孔，触控信号线通过过孔与裂纹测试引线电连接。
需要说明的是，图1中仅示出一个触控电极，在具体实施时，显示区包括多个触控电极。
可选地，如图1所示，触控显示面板仅包括一条裂纹测试引线。
当然，也可以是如图2所示，可选地，所述触控电极包括：多个触控驱动电极7，以及多个触控感应电极8；
所述触控信号线包括：多条第一触控信号线9和多条第二触控信号线10；
所述触控驱动电极7在第一方向Y通过所述第一触控信号线9电连接，所述触控感应电极8在第二方向X上通过第二触控信号线10电连接，所述第一方向Y和所述第二方向X交叉，所述第一驱动芯片6指向所述显示区1的方向与所述第一Y平行；
所述裂纹测试引线包括：第一裂纹测试引线11，第二裂纹测试引线12；
在所述显示区1远离所述第一驱动芯片6的一侧，所述第一裂纹测试引线11与一条所述第一触控信号线9电连接；
所述第二裂纹测试引线12与一条所述第二触控信号线10电连接；
所述第一驱动芯片6被配置为：向所述第一裂纹测试引线11和所述第二裂纹测试引线12提供测试信号，分别获得所述触控驱动电极7的第一电容值和所述触控感应电极8的第一电容值。
在具体实施时，当获得的触控驱动电极的第一电容值出现异常，则可以确定第一裂纹测试引线存在裂纹，当获得的触控感应电极的第一电容值出现异常，则可以确定第二裂纹测试引线存在裂纹。
本申请实施例提供的触控显示面板，第一裂纹测试引线与第一触控信号线电连接，第二裂纹测试引线与第二触控信号线电连接，从而可以通过获得的触控驱动电极的电容值以及触控感应电极的电容值分别确定两条裂纹测试引线是否存在裂纹，即当裂纹测试引线存在裂纹时，可以根据获得的电容值判断出具体哪条裂纹测试引线存在裂纹，当需要对出现裂纹的位置进行分析时，可以缩小裂纹位置排查的范围，提高裂纹分析效率。
可选地，如图2所示，所述触控显示面板还包括：多条第一触控引线13和多条第二触控引线14；
未与所述第一裂纹测试引线电连接的所述第一触控信号线，通过所述第一触控引线与所述第一驱动芯片一一对应电连接；
未与所述第二裂纹测试引线电连接的所述第二触控信号线，通过所述第二触控引线与所述第一驱动芯片一一对应电连接。
在具体实施时，如图2所示的触控显示面板，第一触控引线在显示区远离第一驱动芯片的一侧与第一触控信号线电连接，所述第二触控引线位于所述第二裂纹测试引线与所述显示区之间。当然，在具体实施时，也可以是第一触控引线在所述第一触控信号线的延伸方向与所述第一驱动芯片电连接，所述第二触控引线位于所述第二裂纹测试引线与所述显示区之间。
可选地，如图3所示，所述触控显示面板还包括：第三触控引线15和第四触控引线16，
与所述第一裂纹测试11引线电连接的所述第一触控信号线9，还通过所述第三触控引线15与所述第一驱动芯片6电连接；
与所述第二裂纹测试引线12电连接的所述第二触控信号线10，还通过所述第四触控引线16与所述第一驱动芯片6电连接；
所述第一驱动芯片6还被配置为：向所述第三触控引线15和所述第四触控引线16提供测试信号，分别获得所述触控驱动电极7的第二电容值和所述触控感应电极8的第二电容值。
在具体实施时，可以先利用第三触控引线和第四触控引线，获得触控电极的电容值，之后在利用裂纹测试引线获得触控电极的电容值。如果在利用裂纹测试引线进行电容值检测时，电容值趋于0，则认为裂纹测试引线存在裂纹，如果电容值符合预设范围，则认为裂纹测试引线不存在裂纹。
本申请实施例提供的触控显示面板，还设置有第三触控引线和第四触控引线，从而可以将对触控电极的电容测试与裂纹测试独立进行。并且裂纹测试引线也不会对后续触控显示面板正常的触控造成影响。
可选地，如图4所示，所述周边区还包括：第一开关晶体管T1，第二开关晶体管T2，第三开关晶体管T3，第四开关晶体管T4，以及第二驱动芯片17；
所述第二驱动芯片17与第一开关晶体管T1、第二开关晶体管T2、第三开关晶体管T3以及第四开关晶体管T4的栅极电连接；
所述第一开关晶体管T1的第一级与所述第一裂纹测试引线11电连接，所述第一开关晶体管T1的第二级与所述第一驱动芯片6电连接；
所述第二开关晶体管T2的第一级与所述第二裂纹测试引线12电连接，所述第二开关晶体管T2的第二级与所述第一驱动芯片6电连接；
所述第三开关晶体管T3的第一级与所述第三触控引线15电连接，所述第三开关晶体管T3的第二级与所述第一驱动芯片6电连接；
所述第四开关晶体管T4的第一级与所述第四触控引线16电连接，所述第四开关晶体管T4的第二级与所述第一驱动芯片6电连接；
所述第二驱动芯片17被配置为：控制所述第一开关晶体管T1和所述第二开关晶体管T2打开，或者控制所述第三开关晶体管T3和所述第四开关晶体管T4打开。
本申请实施例提供的触控显示面板，当需要利用裂纹测试引线对触控电极进行电容值测试时，通过第二驱动电极控制第一开关晶体管和第二开关晶体管打开，第一驱动芯片向第一裂纹测试引线和第二裂纹测试引线提供测试信号。当需要利用第三触控引线和第四触控引线进行电容值测试时，通过第二驱动电极控制第三开关晶体管和第四开关晶体管打开，第一驱动芯片向第三触控引线和第四触控引线提供测试信号。
可选地，如图4所示，第一开关晶体管和第二开关晶体管为N型开关晶体管，第三开关晶体管和第四开关晶体管为P型开关晶体管。当然，在具体实施时，也可以是，第一开关晶体管和第二开关晶体管为P型开关晶体管，第三开关晶体管和第四开关晶体管为N型开关晶体管。在具体实施时，开关晶体管例如可以是薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)，也可以是金属-氧化物半导体场效应晶体管(Metal Oxide Semiconductor，MOS)。
或者，可选地，也可以是如图5所示，所述周边区2还包括：与所述第一驱动芯片6电连接的第二驱动芯片17；
所述第二驱动芯片17被配置为：向所述第一驱动芯片6提供第一控制信号，以使所述第一驱动芯片6向所述第一裂纹测试引线11和所述第二裂纹测试引线12提供测试信号；向所述第一驱动芯片6提供第二控制信号，以使所述第一驱动芯片6向第三触控引线15和所述第四触控引线16提供测试信号。
在具体实施时，第一驱动芯片还被配置为对第一触控引线和第二触控引线提供测试信号，获得未与裂纹测试引线电连接的触控电极的电容值。从而可以对触控显示面板的所有触控电极进行电容值测试。在具体实施时，当包括第三触控引线和第四触控引线时，可以先利用第一驱动芯片通过第一触控引线、第二触控引线、第三触控引线和第四触控引线对触控电极进行电容值测试，之后在利用第一裂纹测试引线、第二裂纹测试引线、第一触控引线和第二触控引线对触控电极进行电容值测试。
可选地，如图2～5所示，所述第一裂纹测试引线11与所述第一驱动芯片6指向所述显示区1的方向的最后一条所述第一触控信号线9；
在所述第一裂纹测试引线11指向所述第二裂纹测试引线12的方向上，所述第二裂纹测试引线12与第一条所述第二触控信号线10电连接。
这样，第一裂纹测试引线和第二裂纹测试引线可以尽可能多的围绕显示区，提高触控显示面板密封效果检测准确度。
基于同一发明构思，本申请实施例还提供了一种上述触控显示面板的测试方法，如图6所示，所述方法包括：
S101、通过所述第一驱动芯片向所述裂纹测试引线提供测试信号，获得所述触控电极的第一电容值；
S102、根据所述触控电极的第一电容值，确定所述裂纹测试引线是否存在裂纹。
本申请实施例提供的触控显示面板的测试方法，通过裂纹测试引线对触控电极的电容值进行测试，进而可以根据测试获得的电容值确定裂纹测试引线是否存在裂纹，该测试结果不会受到裂纹测试引线的阻抗以及第一驱动芯片的属性的影响，测试结果准确率高，可以避免由于裂纹测试误判导致的触控显示面板的良率损失。
可选地，所述触控电极包括：多个触控驱动电极，以及多个触控感应电极；所述触控信号线包括：多条第一触控信号线和多条第二触控信号线；
步骤S101通过所述第一驱动芯片向所述裂纹测试引线提供测试信号，获得所述触控电极的第一电容值，具体包括：
通过所述第一驱动芯片向所述第一裂纹测试引线提供测试信号，获得所述触控驱动电极的第一电容值，以及通过所述第一驱动芯片向所述第二裂纹测试引线提供测试信号，获得所述触控感应电极的第一电容值；
步骤S102根据所述触控电极的第一电容值，确定所述裂纹测试引线是否存在裂纹，具体包括：
根据所述触控驱动电极的第一电容值，确定所述第一裂纹测试引线是否存在裂纹，以及根据所述触控感应电极的第一电容值，确定所述第二裂纹测试引线是否存在裂纹。
在具体实施时，触控显示面板还包括：多条第一触控引线和多条第二触控引线时，通过所述第一驱动芯片向所述裂纹测试引线提供测试信号的同时，所述方法还包括：通过第一驱动芯片向第一触控引线和第二触控引线提供测试信号，获得未与裂纹测试引线电连接的触控电极的电容值。
可选地，所述触控显示面板还包括：第三触控引线和第四触控引线；
通过所述第一驱动芯片向所述第一裂纹测试引线提供测试信号，获得所述触控驱动电极的第一电容值，以及通过所述第一驱动芯片向所述第二裂纹测试引线提供测试信号，获得所述触控感应电极的第一电容值之前，所述方法还包括：
通过所述第一驱动芯片，向所述第三触控引线提供测试信号，获得所述触控驱动电极的第二电容值，以及向所述第六触控引线提供测试信号，获得所述触控感应电极的第二电容值；
根据所述触控驱动电极的第一电容值，确定所述第一裂纹测试引线是否存在裂纹，具体包括：
根据所述触控驱动电极的第一电容值和所述触控驱动电极的第二电容值，确定所述第一裂纹测试引线是否存在裂纹；
根据所述触控感应电极的第一电容值，确定所述第二裂纹测试引线是否存在裂纹，具体包括：
根据所述触控感应电极的第一电容值和所述触控感应电极的第二电容值，确定所述第二裂纹测试引线是否存在裂纹。
在具体实施时，当触控驱动电极的第一电容值和触控驱动电极的第二电容值接近，可以确定第一裂纹测试引线不存在裂纹，当触控驱动电极的第一电容值从第二电容值趋于零，则确定第一裂纹测试引线存在裂纹。同理，当触控感应电极的第一电容值和触控感应电极的第二电容值接近，可以确定第二裂纹测试引线不存在裂纹，当触控感应电极的第一电容值从第二电容值趋于零，则确定第二裂纹测试引线存在裂纹。
可选地，周边区还包括：第一开关晶体管，第二开关晶体管，第三开关晶体管，第四开关晶体管，以及第二驱动芯片；
通过所述第一驱动芯片，向所述第三触控引线提供测试信号以及向所述第六触控引线提供测试信号，具体包括：
通过第二驱动芯片提供开关控制信号，控制第一开关晶体管和第二开关晶体管关断，并控制第三开关晶体管和第四开关晶体管打开，通过所述第一驱动芯片，向所述第三触控引线提供测试信号，以及向所述第六触控引线提供测试信号；
通过所述第一驱动芯片向所述第一裂纹测试引线提供测试信号，以及通过所述第一驱动芯片向所述第二裂纹测试引线提供测试信号，具体包括：
通过第二驱动芯片提供开关控制信号，控制第一开关晶体管和第二开关晶体管打开，并控制第三开关晶体管和第四开关晶体管关断，通过所述第一驱动芯片，向所述第一裂纹测试引线提供测试信号，以及向所述第二裂纹测试引线提供测试信号。
或者，可选地，周边区还包括第二驱动芯片，通过所述第一驱动芯片，向所述第三触控引线提供测试信号以及向所述第六触控引线提供测试信号，具体包括：
通过第二驱动芯片向第一驱动芯片提供第二控制信号，以使第一驱动芯片向第三触控引线和第四触控引线提供测试信号；
通过所述第一驱动芯片向所述第一裂纹测试引线提供测试信号，以及通过所述第一驱动芯片向所述第二裂纹测试引线提供测试信号，具体包括：
通过第二驱动他芯片向第一驱动芯片提供第一控制信号，以使第一驱动芯片向第一裂纹测试引线和第二裂纹测试引线提供测试信号。
本申请实施例提供的一种显示装置，所述显示装置包括本申请实施例提供的触控显示面板。
本申请实施例提供的显示装置为：手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。对于该显示装置的其它必不可少的组成部分均为本领域的普通技术人员应该理解具有的，在此不做赘述，也不应作为对本申请的限制。该显示装置的实施可以参见上述显示面板的实施例，重复之处不再赘述。
综上所述，本申请实施例提供的触控显示面板及其检测方法、显示装置，在周边区设置的裂纹测试引线的一端与触控信号线电连接，裂纹测试引线的另一端与第一驱动芯片电连接，从而可以通过裂纹测试引线对触控电极的电容值进行测试，进而可以根据测试获得的电容值确定裂纹测试引线是否存在裂纹，该测试结果不会受到裂纹测试引线的阻抗以及第一驱动芯片的属性的影响，测试结果准确率高，可以避免由于裂纹测试误判导致的触控显示面板的良率损失。
显然，本领域的技术人员可以对本申请进行各种改动和变型而不脱离本申请的精神和范围。这样，倘若本申请的这些修改和变型属于本申请权利要求及其等同技术的范围之内，则本申请也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (11)

1.一种触控显示面板，其特征在于，所述触控显示面板包括：显示区，以及围绕所述显示区的周边区；
所述显示区包括：触控电极，与所述触控电极电连接的触控信号线；
所述周边区包括：裂纹测试引线，与所述裂纹测试引线电连接的第一驱动芯片；
所述裂纹测试引线分布于所述显示区的四周；
所述触控信号线从所述显示区延伸到所述周边区，所述裂纹测试引线与部分所述触控信号线电连接；
所述第一驱动芯片被配置为：向所述裂纹测试引线提供测试信号，获得所述触控电极的电容值；
当利用所述裂纹测试引线进行电容值检测时所获得的所述触控电极的电容值趋于0，则所述裂纹测试引线存在裂纹。
2.根据权利要求1所述的触控显示面板，其特征在于，所述触控电极包括：多个触控驱动电极，以及多个触控感应电极；
所述触控信号线包括：多条第一触控信号线和多条第二触控信号线；
所述触控驱动电极在第一方向通过所述第一触控信号线电连接，所述触控感应电极在第二方向上通过第二触控信号线电连接，所述第一方向和所述第二方向交叉，所述第一驱动芯片指向所述显示区的方向与所述第一方向平行；
所述裂纹测试引线包括：第一裂纹测试引线，第二裂纹测试引线；
在所述显示区远离所述第一驱动芯片的一侧，所述第一裂纹测试引线与一条所述第一触控信号线电连接；
所述第二裂纹测试引线与一条所述第二触控信号线电连接；
所述第一驱动芯片被配置为：向所述第一裂纹测试引线和所述第二裂纹测试引线提供测试信号，分别获得所述触控驱动电极的第一电容值和所述触控感应电极的第一电容值。
3.根据权利要求2所述的触控显示面板，其特征在于，所述触控显示面板还包括：多条第一触控引线和多条第二触控引线；
未与所述第一裂纹测试引线电连接的所述第一触控信号线，通过所述第一触控引线与所述第一驱动芯片一一对应电连接；
未与所述第二裂纹测试引线电连接的所述第二触控信号线，通过所述第二触控引线与所述第一驱动芯片一一对应电连接。
4.根据权利要求3所述的触控显示面板，其特征在于，所述触控显示面板还包括：第三触控引线和第四触控引线，
与所述第一裂纹测试引线电连接的所述第一触控信号线，还通过所述第三触控引线与所述第一驱动芯片电连接；
与所述第二裂纹测试引线电连接的所述第二触控信号线，还通过所述第四触控引线与所述第一驱动芯片电连接；
所述第一驱动芯片还被配置为：向所述第三触控引线和所述第四触控引线提供测试信号，分别获得所述触控驱动电极的第二电容值和所述触控感应电极的第二电容值。
5.根据权利要求4所述的触控显示面板，其特征在于，所述周边区还包括：第一开关晶体管，第二开关晶体管，第三开关晶体管，第四开关晶体管，以及第二驱动芯片；
所述第二驱动芯片与第一开关晶体管、第二开关晶体管、第三开关晶体管以及第四开关晶体管的栅极电连接；
所述第一开关晶体管的第一级与所述第一裂纹测试引线电连接，所述第一开关晶体管的第二级与所述第一驱动芯片电连接；
所述第二开关晶体管的第一级与所述第二裂纹测试引线电连接，所述第二开关晶体管的第二级与所述第一驱动芯片电连接；
所述第三开关晶体管的第一级与所述第三触控引线电连接，所述第三开关晶体管的第二级与所述第一驱动芯片电连接；
所述第四开关晶体管的第一级与所述第四触控引线电连接，所述第四开关晶体管的第二级与所述第一驱动芯片电连接；
所述第二驱动芯片被配置为：控制所述第一开关晶体管和所述第二开关晶体管打开，或者控制所述第三开关晶体管和所述第四开关晶体管打开。
6.根据权利要求4所述的触控显示面板，其特征在于，所述周边区还包括：与所述第一驱动芯片电连接的第二驱动芯片；
所述第二驱动芯片被配置为：向所述第一驱动芯片提供第一控制信号，以使所述第一驱动芯片向所述第一裂纹测试引线和所述第二裂纹测试引线提供测试信号；向所述第一驱动芯片提供第二控制信号，以使所述第一驱动芯片向第三触控引线和所述第四触控引线提供测试信号。
7.根据权利要求2所述的触控显示面板，其特征在于，所述第一裂纹测试引线与所述第一驱动芯片指向所述显示区的方向的最后一条所述第一触控信号线电连接；
在所述第一裂纹测试引线指向所述第二裂纹测试引线的方向上，所述第二裂纹测试引线与第一条所述第二触控信号线电连接。
8.一种根据权利要求1～7任一项所述的触控显示面板的测试方法，其特征在于，所述方法包括：
通过所述第一驱动芯片向所述裂纹测试引线提供测试信号，获得所述触控电极的第一电容值；
根据所述触控电极的第一电容值，确定所述裂纹测试引线是否存在裂纹；当利用所述裂纹测试引线进行电容值检测时所获得的所述触控电极的电容值趋于0，则所述裂纹测试引线存在裂纹。
9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述触控电极包括：多个触控驱动电极，以及多个触控感应电极；所述触控信号线包括：多条第一触控信号线和多条第二触控信号线；
通过所述第一驱动芯片向所述裂纹测试引线提供测试信号，获得所述触控电极的第一电容值，具体包括：
通过所述第一驱动芯片向第一裂纹测试引线提供测试信号，获得所述触控驱动电极的第一电容值，以及通过所述第一驱动芯片向第二裂纹测试引线提供测试信号，获得所述触控感应电极的第一电容值；
根据所述触控电极的第一电容值，确定所述裂纹测试引线是否存在裂纹，具体包括：
根据所述触控驱动电极的第一电容值，确定所述第一裂纹测试引线是否存在裂纹，以及根据所述触控感应电极的第一电容值，确定所述第二裂纹测试引线是否存在裂纹。
10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述触控显示面板还包括：第三触控引线和第四触控引线；
通过所述第一驱动芯片向所述第一裂纹测试引线提供测试信号，获得所述触控驱动电极的第一电容值，以及通过所述第一驱动芯片向所述第二裂纹测试引线提供测试信号，获得所述触控感应电极的第一电容值之前，所述方法还包括：
通过所述第一驱动芯片，向所述第三触控引线提供测试信号，获得所述触控驱动电极的第二电容值，以及向第六触控引线提供测试信号，获得所述触控感应电极的第二电容值；
根据所述触控驱动电极的第一电容值，确定所述第一裂纹测试引线是否存在裂纹，具体包括：
根据所述触控驱动电极的第一电容值和所述触控驱动电极的第二电容值，确定所述第一裂纹测试引线是否存在裂纹；
根据所述触控感应电极的第一电容值，确定所述第二裂纹测试引线是否存在裂纹，具体包括：
根据所述触控感应电极的第一电容值和所述触控感应电极的第二电容值，确定所述第二裂纹测试引线是否存在裂纹。
11.一种显示装置，其特征在于，所述显示装置包括根据权利要求1～7任一项所述的触控显示面板。
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