CN109102768A - 一种阵列基板母板及其检测方法 - Google Patents

一种阵列基板母板及其检测方法 Download PDF

Info

Publication number
CN109102768A
CN109102768A CN201811122097.8A CN201811122097A CN109102768A CN 109102768 A CN109102768 A CN 109102768A CN 201811122097 A CN201811122097 A CN 201811122097A CN 109102768 A CN109102768 A CN 109102768A
Authority
CN
China
Prior art keywords
grid line
grid
line
array substrate
calibrating terminal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201811122097.8A
Other languages
English (en)
Other versions
CN109102768B (zh
Inventor
王新华
樊超
易熊
李世维
陈虹运
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
BOE Technology Group Co Ltd
Chongqing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd
Original Assignee
BOE Technology Group Co Ltd
Chongqing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by BOE Technology Group Co Ltd, Chongqing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd filed Critical BOE Technology Group Co Ltd
Priority to CN201811122097.8A priority Critical patent/CN109102768B/zh
Publication of CN109102768A publication Critical patent/CN109102768A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN109102768B publication Critical patent/CN109102768B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

本发明公开了一种阵列基板母板及其检测方法，通过检测每两个栅线测试端子之间的检测电阻值，在判断至少一个检测到的检测电阻值不大于预设电阻阈值时，即可确定阵列基板母板存在栅线短路问题。这样可以通过简单的方法判断出阵列基板母板是否存在栅线短路问题，之后可以针对存在栅线短路问题的阵列基板母板进行修复，以提高产品良率。

Description

一种阵列基板母板及其检测方法
技术领域
本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种阵列基板母板及其检测方法。
背景技术
目前，阵列基板常采用双栅线型结构，以减少数据线的数量。双栅线型结构的阵列基板，一般包括多个像素单元和多条栅线。其中，一行像素单元对应两条栅线，这样会使得两条栅线设置在相邻两行像素单元之间的间隙中。然而，在阵列基板的工艺制程中，可能会发生划伤或静电击穿，由于设置在同一间隙中的两条栅线距离较近，导致栅线之间出现短路问题。因此，如何检测阵列基板存在栅线短路问题，是本领域普通技术人员亟待解决的问题。
发明内容
本发明实施例提供一种阵列基板母板及其检测方法，用以检测是否存在栅线短路问题。
因此，本发明实施例提供了一种阵列基板母板的检测方法，所述阵列基板母板包括：多条栅线和多个栅线测试端子；其中，相邻的两条栅线连接不同的栅线测试端子；
所述检测方法包括：
检测每两个所述栅线测试端子之间的检测电阻值；
在至少一个检测到的所述检测电阻值不大于预设电阻阈值时，确定所述阵列基板母板存在栅线短路问题。
可选地，在本发明实施例中，所述阵列基板母板包括N个栅线测试端子；其中，同一所述栅线测试端子与间隔N-1行的栅线电连接，N≥2且为整数。
可选地，在本发明实施例中，所述阵列基板母板还包括：多个像素单元、与所述栅线交叉且绝缘设置的多条数据线，以及与所述数据线电连接的数据线测试端子；其中，一条数据线对应至少一列像素单元；一行像素单元对应两条栅线；
在所述确定所述阵列基板母板中的栅线短路之后，还包括：
对所述数据线测试端子加载数据信号；
对至少一个所述栅线测试端子加载栅线测试信号，控制所述栅线测试端子电连接的栅线对应的像素单元点亮，并在对一个所述栅线测试端子加载栅线测试信号时，检测加载有所述栅线测试信号的栅线连接的各行像素单元所对应的亮度；
针对每一行像素单元，在所述行像素单元对应的亮度不大于预设亮度阈值时，确定所述行像素单元对应的栅线存在短路问题。
可选地，在本发明实施例中，在所述确定所述行像素单元对应的栅线短路之后，还包括：
对存在短路问题的栅线进行修复。
可选地，在本发明实施例中，N＝2，2个栅线测试端子中的第1栅线测试端子与奇数行的栅线电连接，第2栅线测试端子与偶数行的栅线电连接。
可选地，在本发明实施例中，对至少一个所述栅线测试端子加载栅线测试信号，控制所述栅线测试端子电连接的栅线对应的像素单元点亮，具体包括：
仅对所述第1栅线测试端子加载栅线测试信号，控制所述第1栅线测试端子电连接的栅线对应的像素单元点亮；或者，
仅对所述第2栅线测试端子加载栅线测试信号，控制所述第2栅线测试端子电连接的栅线对应的像素单元点亮。
相应地，本发明实施例还提供了一种阵列基板母板，包括：多条栅线和多个栅线测试端子；其中，相邻的两条栅线连接不同的栅线测试端子。
可选地，在本发明实施例中，所述阵列基板母板包括N个栅线测试端子；其中，同一所述栅线测试端子与间隔N-1行的栅线电连接，N≥2且为整数。
可选地，在本发明实施例中，所述阵列基板母板还包括：多个像素单元、与所述栅线交叉且绝缘设置的多条数据线，以及与各所述数据线电连接的数据线测试端子；其中，一条数据线对应至少一列像素单元；一行像素单元对应两条栅线。
可选地，在本发明实施例中，N＝2，2个栅线测试端子中的第1栅线测试端子与奇数行的栅线电连接，第2栅线测试端子与偶数行的栅线电连接。
本发明有益效果如下：
本发明实施例提供的阵列基板母板及其检测方法，通过检测每两个栅线测试端子之间的检测电阻值，在判断至少一个检测到的检测电阻值不大于预设电阻阈值时，即可确定阵列基板母板存在栅线短路问题。这样可以通过简单的方法判断出阵列基板母板是否存在栅线短路问题，之后可以针对存在栅线短路问题的阵列基板母板进行修复，以提高产品良率。
附图说明
图1为本发明实施例提供的阵列基板母板的结构示意图；
图2为本发明实施例提供的检测方法的流程图。
具体实施方式
为了使本发明的目的，技术方案和优点更加清楚，下面结合附图，对本发明实施例提供的阵列基板母板及其检测方法的具体实施方式进行详细地说明。应当理解，下面所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明，并不用于限定本发明。并且在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。需要注意的是，附图中各图形大小和形状不反映真实比例，目的只是示意说明本发明内容。并且自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。
本发明实施例提供一种阵列基板母板，如图1所示，可以包括：多条栅线和多个栅线测试端子；其中，相邻的两条栅线连接不同的栅线测试端子。这样可以使相邻的两条栅线通过不同的栅线测试端子进行检测。一般阵列基板母板还包括：用于设置栅线和栅线测试端子的衬底基板100。该衬底基板100可以为玻璃基板、柔性基板、硅基板等，在此不作限定。
本发明实施例提供的阵列基板母板的检测方法，如图2所示，可以包括如下步骤：
S201、检测每两个栅线测试端子之间的检测电阻值。
具体地，可以通过外部检测治具检测每两个栅线测试端子之间的检测电阻值。该外部检测治具可以为万用表，具体地，将万用表设置为欧姆档，之后，将万用表的两个表笔分别连接不同的栅线测试端子，然后读出并记录万用表显示出的阻值，即可得到这两个栅线测试端子之间的检测电阻值。
S202、在至少一个检测到的检测电阻值不大于预设电阻阈值时，确定阵列基板母板存在栅线短路问题。即在检测到的检测电阻值均大于预设电阻阈值时，可以确定阵列基板母板不存在栅线短路问题。
具体地，在不存在栅线短路问题时，由于与不同栅线测试端子电连接的栅线之间断路，使得每两个栅线测试端子之间的检测电阻值为无穷大。在存在栅线短路问题时，由于栅线之间通路，使得通路栅线电连接的两个栅线测试端子之间的检测电阻值变小。这样通过设置预设电阻阈值的大小，可以在至少一个检测到的检测电阻值不大于预设电阻阈值时，即可确定阵列基板母板中存在栅线短路问题。在实际应用中，不同应用环境的阵列基板母板中的栅线的电阻值不同，因此可以根据实际应用环境确定预设电阻阈值的大小，在此不作限定。
本发明实施例提供的阵列基板母板的检测方法，通过检测每两个栅线测试端子之间的检测电阻值，在判断至少一个检测到的检测电阻值不大于预设电阻阈值时，即可确定阵列基板母板存在栅线短路问题。这样可以通过简单的方法判断出阵列基板母板是否存在栅线短路问题，之后可以针对存在栅线短路问题的阵列基板母板进行修复，以提高产品良率。
在具体实施时，在本发明实施例中，可以使阵列基板母板包括N个栅线测试端子；其中，同一栅线测试端子与间隔N-1行的栅线电连接，N≥2且为整数。具体地，如图1所示，可以使N＝2，这样2个栅线测试端子中的第1栅线测试端子Gpad_1可以与奇数行的栅线电连接，第2栅线测试端子Gpad_2与偶数行的栅线电连接。或者，可以使N＝3，这样3个栅线测试端子中的第1栅线测试端子与第3n-2行的栅线电连接，第2栅线测试端子与第3n-1行的栅线电连接，第3栅线测试端子与第3n行的栅线电连接；其中，n为正整数。或者，可以使N＝4，这样4个栅线测试端子中的第1栅线测试端子与第4n-3行的栅线电连接，第2栅线测试端子与第4n-2行的栅线电连接，第3栅线测试端子与第4n-1行的栅线电连接，第4栅线测试端子与第4n行的栅线电连接；其中，n为正整数。当然，在N为其他数值时，以此类推，在此不作赘述。
在具体实施时，在本发明实施例中，如图1所示，阵列基板母板还可以包括：多个像素单元PX、与栅线交叉且绝缘设置的多条数据线Data_x(1≤x≤X且为整数，X为阵列基板母板中数据线的总数，图1以X＝2为例)，以及与数据线电连接的数据线测试端子；其中，一条数据线对应至少一列像素单元；一行像素单元对应两条栅线。进一步地，栅线可以包括第一栅线Gate1_m(1≤m≤M且为整数，M为阵列基板母板中栅线的总数，图1以M＝4为例)和第二栅线Gate2_m。例如，第一行中，奇数列像素单元PX连接至第一栅线Gate1_1，偶数列像素单元PX连接至第二栅线Gate2_1。在N＝2时，可以使第1栅线测试端子Gpad_1与所有第一栅线Gate1_m电连接，第2栅线测试端子Gpad_2与所有第二栅线Gate2_m电连接。并且，相邻的两列像素单元PX连接至同一条数据线Data_x，例如，第一列像素单元PX与第二列像素单元PX连接至数据线Data_1，第三列像素单元PX与第四列像素单元PX连接至数据线Data_2，从而可以减少阵列基板中数据线的数量，进而可以使与数据线连接的源极驱动芯片中的源极驱动IC(Integrated Circuit，集成电路)的数量减半。
在具体实施时，在本发明实施例中，阵列基板母板可以包括Y个数据线测试端子；其中，同一数据线测试端子可以与间隔Y-1行的数据线电连接，Y≥2且为整数。具体地，如图1所示，可以使Y＝2，这样2个数据线测试端子中的第1数据线测试端子Dpad_1与奇数列的数据线Data_1电连接，第2数据线测试端子Dpad_2与偶数列的数据线Data_2电连接。当然，在Y为其他数值时，以此类推，在此不作赘述。
进一步地，为了确定阵列基板母板中存在短路的栅线的位置，在具体实施时，在本发明实施例中，在确定阵列基板母板中的栅线短路之后，还可以包括：
对数据线测试端子加载数据信号。具体地，对各数据线测试端子加载同一数据信号。当然，在实际应用中，也可以对不同数据线测试端子加载不同数据信号，在此不作限定。
对至少一个栅线测试端子加载栅线测试信号，控制栅线测试端子电连接的栅线对应的像素单元点亮，并在对一个栅线测试端子加载栅线测试信号时，检测加载有栅线测试信号的栅线连接的各行像素单元所对应的亮度。具体地，在N＝2时，可以仅对第1栅线测试端子加载栅线测试信号，以控制第1栅线测试端子Gpad_1电连接的栅线(即第一栅线Gate1_m)对应的像素单元PX点亮，这样可以不对第2栅线测试端子Gpad_2加载栅线测试信号。并可以检测到第一栅线Gate1_m电连接的各行像素单元所对应的亮度。或者，也可以仅对第2栅线测试端子加载栅线测试信号，以控制第2栅线测试端子Gpad_2电连接的栅线(即第二栅线Gate2_m)对应的像素单元点亮，这样可以不对第1栅线测试端子Gpad_1加载栅线测试信号。并可以检测到第二栅线Gate2_m电连接的各行像素单元所对应的亮度。
针对每一行像素单元，在一行像素单元对应的亮度不大于预设亮度阈值时，确定该行像素单元对应的栅线存在短路问题。具体地，存在短路的栅线，由于分流的作用，导致其连接的一行像素单元的亮度较低，而未存在短路的栅线，其连接的一行像素单元的亮度较亮，这样在一行像素单元对应的亮度不大于预设亮度阈值时，即可以确定该行像素单元对应的栅线存在短路问题。在实际应用中，不同应用环境的阵列基板母板中栅线的电阻值和所需求的像素单元的亮度不同，因此可以根据实际应用环境确定预设亮度阈值的大小，在此不作限定。
进一步地，为了提高阵列基板母板的良率，在具体实施时，在本发明实施例中，在确定一行像素单元对应的栅线短路之后，还可以包括：对存在短路问题的栅线进行修复。其中，可以采用激光切割方法对存在短路问题的栅线进行修复。当然，还可以采用现有技术中的其他方法对存在短路问题的栅线进行修复，在此不作限定。
下面以图1所示的结构为例，通过一具体实施例列举阵列基板母板的检测方法，但读者应知，其具体过程不局限于此。
本发明实施例提供的阵列基板母板的检测方法，可以包括如下步骤：
(1)通过万用表检测第1栅线测试端子Gpad_1和第2栅线测试端子Gpad_2之间的检测电阻值R0。
(2)在检测到的检测电阻值R0不大于预设电阻阈值时，确定阵列基板母板存在栅线短路问题。
(3)对第1数据线测试端子Dpad_1和第2数据线测试端子Dpad_2加载同一数据信号。
(4)仅对第1栅线测试端子Gpad_1加载栅线测试信号，控制第一栅线Gate1_m对应的像素单元点亮，并检测第一栅线Gate1_m连接的各行像素单元所对应的亮度。
(5)针对第一栅线Gate1_m连接的各行像素单元，在某行像素单元对应的亮度不大于预设亮度阈值时，确定该行像素单元对应的第一栅线存在短路问题。
(6)对存在短路问题的第一栅线进行修复。这样可以提高阵列基板母板的良品率。
需要说明的是，阵列基板母板是制作阵列基板的工艺制程中的中间产品，如图1所示，像素单元PX、第一栅线Gate1_m、第二栅线Gate1_m、数据线Data_x分别设置在衬底基板100的阵列基板区域110中，而所有栅线测试端子及其连接的走线、所有数据线测试端子及其连接的走线均设置在阵列基板区域110之外的区域中。这样在对阵列基板母板进行修复后，可以通过激光切割方法沿阵列基板区域110边缘进行切割，以使阵列基板区域110中的部分形成合格产品的阵列基板。该合格产品的阵列基板可以作为液晶显示面板(LiquidCrystal Display，LCD)中的阵列基板；或者，也可以作为有机发光二极管(OrganicLight-Emitting Diode，OLED)显示面板中的阵列基板，在此不作限定。进一步地，LCD和OLED显示面板可以为：手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。对于其还具备的其它必不可少的组成部分均为本领域的普通技术人员应该理解具有的，在此不做赘述，也不应作为对本发明的限制。
本发明实施例提供的阵列基板母板及其检测方法，通过检测每两个栅线测试端子之间的检测电阻值，在判断至少一个检测到的检测电阻值不大于预设电阻阈值时，即可确定阵列基板母板存在栅线短路问题。这样可以通过简单的方法判断出阵列基板母板是否存在栅线短路问题，之后可以针对存在栅线短路问题的阵列基板母板进行修复，以提高产品良率。
显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (10)

1.一种阵列基板母板的检测方法，其特征在于，所述阵列基板母板包括：多条栅线和多个栅线测试端子；其中，相邻的两条栅线连接不同的栅线测试端子；
所述检测方法包括：
检测每两个所述栅线测试端子之间的检测电阻值；
在至少一个检测到的所述检测电阻值不大于预设电阻阈值时，确定所述阵列基板母板存在栅线短路问题。
2.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述阵列基板母板包括N个栅线测试端子；其中，同一所述栅线测试端子与间隔N-1行的栅线电连接，N≥2且为整数。
3.如权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述阵列基板母板还包括：多个像素单元、与所述栅线交叉且绝缘设置的多条数据线，以及与所述数据线电连接的数据线测试端子；其中，一条数据线对应至少一列像素单元；一行像素单元对应两条栅线；
在所述确定所述阵列基板母板中的栅线短路之后，还包括：
对所述数据线测试端子加载数据信号；
对至少一个所述栅线测试端子加载栅线测试信号，控制所述栅线测试端子电连接的栅线对应的像素单元点亮，并在对一个所述栅线测试端子加载栅线测试信号时，检测加载有所述栅线测试信号的栅线连接的各行像素单元所对应的亮度；
针对每一行像素单元，在所述行像素单元对应的亮度不大于预设亮度阈值时，确定所述行像素单元对应的栅线存在短路问题。
4.如权利要求3所述的检测方法，其特征在于，在所述确定所述行像素单元对应的栅线短路之后，还包括：
对存在短路问题的栅线进行修复。
5.如权利要求1-4任一项所述的检测方法，其特征在于，N＝2，2个栅线测试端子中的第1栅线测试端子与奇数行的栅线电连接，第2栅线测试端子与偶数行的栅线电连接。
6.如权利要求5所述的检测方法，其特征在于，对至少一个所述栅线测试端子加载栅线测试信号，控制所述栅线测试端子电连接的栅线对应的像素单元点亮，具体包括：
仅对所述第1栅线测试端子加载栅线测试信号，控制所述第1栅线测试端子电连接的栅线对应的像素单元点亮；或者，
仅对所述第2栅线测试端子加载栅线测试信号，控制所述第2栅线测试端子电连接的栅线对应的像素单元点亮。
7.一种阵列基板母板，其特征在于，包括：多条栅线和多个栅线测试端子；其中，相邻的两条栅线连接不同的栅线测试端子。
8.如权利要求7所述的阵列基板母板，其特征在于，所述阵列基板母板包括N个栅线测试端子；其中，同一所述栅线测试端子与间隔N-1行的栅线电连接，N≥2且为整数。
9.如权利要求8所述的阵列基板母板，其特征在于，所述阵列基板母板还包括：多个像素单元、与所述栅线交叉且绝缘设置的多条数据线，以及与各所述数据线电连接的数据线测试端子；其中，一条数据线对应至少一列像素单元；一行像素单元对应两条栅线。
10.如权利要求9所述的阵列基板母板，其特征在于，N＝2，2个栅线测试端子中的第1栅线测试端子与奇数行的栅线电连接，第2栅线测试端子与偶数行的栅线电连接。
CN201811122097.8A 2018-09-26 2018-09-26 一种阵列基板母板及其检测方法 Active CN109102768B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201811122097.8A CN109102768B (zh) 2018-09-26 2018-09-26 一种阵列基板母板及其检测方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201811122097.8A CN109102768B (zh) 2018-09-26 2018-09-26 一种阵列基板母板及其检测方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN109102768A true CN109102768A (zh) 2018-12-28
CN109102768B CN109102768B (zh) 2022-01-28

Family

ID=64867754

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201811122097.8A Active CN109102768B (zh) 2018-09-26 2018-09-26 一种阵列基板母板及其检测方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN109102768B (zh)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111243472A (zh) * 2020-03-06 2020-06-05 昆山国显光电有限公司 显示面板母板以及显示面板的走线异常检测方法
CN112838059A (zh) * 2019-11-22 2021-05-25 京东方科技集团股份有限公司 一种阵列基板及其制作方法
CN112967642A (zh) * 2020-01-08 2021-06-15 重庆康佳光电技术研究院有限公司 Led显示面板的快速测试电路及其测试系统

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20020085169A1 (en) * 2000-12-30 2002-07-04 Choi Gyo Un Liquid crystal display for testing defects of wiring in panel
CN101174038A (zh) * 2006-11-01 2008-05-07 群康科技(深圳)有限公司 液晶显示器
US20080265250A1 (en) * 2007-04-27 2008-10-30 Chunghwa Picture Tubes, Ltd. Active device array substrate
CN201749652U (zh) * 2010-08-19 2011-02-16 华映视讯（吴江）有限公司 具有修补检测结构的显示装置
CN102331633A (zh) * 2011-09-21 2012-01-25 深超光电（深圳）有限公司 一种用于检测阵列绕线的母基板及其检测方法
CN105892184A (zh) * 2016-06-12 2016-08-24 京东方科技集团股份有限公司 显示面板中短路缺陷的修复方法及系统
CN106933426A (zh) * 2017-05-09 2017-07-07 京东方科技集团股份有限公司 一种触控显示面板、其测试方法及显示装置
CN107967887A (zh) * 2018-01-02 2018-04-27 京东方科技集团股份有限公司 栅极驱动电路、走线短路点的测定方法以及显示面板
CN108107637A (zh) * 2017-11-23 2018-06-01 深圳市华星光电技术有限公司 一种薄膜晶体管液晶显示器阵列基板及其制作方法

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20020085169A1 (en) * 2000-12-30 2002-07-04 Choi Gyo Un Liquid crystal display for testing defects of wiring in panel
CN101174038A (zh) * 2006-11-01 2008-05-07 群康科技(深圳)有限公司 液晶显示器
US20080265250A1 (en) * 2007-04-27 2008-10-30 Chunghwa Picture Tubes, Ltd. Active device array substrate
CN201749652U (zh) * 2010-08-19 2011-02-16 华映视讯（吴江）有限公司 具有修补检测结构的显示装置
CN102331633A (zh) * 2011-09-21 2012-01-25 深超光电（深圳）有限公司 一种用于检测阵列绕线的母基板及其检测方法
CN105892184A (zh) * 2016-06-12 2016-08-24 京东方科技集团股份有限公司 显示面板中短路缺陷的修复方法及系统
CN106933426A (zh) * 2017-05-09 2017-07-07 京东方科技集团股份有限公司 一种触控显示面板、其测试方法及显示装置
CN108107637A (zh) * 2017-11-23 2018-06-01 深圳市华星光电技术有限公司 一种薄膜晶体管液晶显示器阵列基板及其制作方法
CN107967887A (zh) * 2018-01-02 2018-04-27 京东方科技集团股份有限公司 栅极驱动电路、走线短路点的测定方法以及显示面板

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112838059A (zh) * 2019-11-22 2021-05-25 京东方科技集团股份有限公司 一种阵列基板及其制作方法
CN112967642A (zh) * 2020-01-08 2021-06-15 重庆康佳光电技术研究院有限公司 Led显示面板的快速测试电路及其测试系统
CN111243472A (zh) * 2020-03-06 2020-06-05 昆山国显光电有限公司 显示面板母板以及显示面板的走线异常检测方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN109102768B (zh) 2022-01-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102621721B (zh) 液晶面板、液晶模组及厘清其画面不良的原因的方法
CN100409090C (zh) 液晶显示器及其驱动方法
CN107967886B (zh) 待检测的显示面板及其检测方法、显示面板及母板、显示装置
CN102819126B (zh) 测试装置及测试方法
CN104183225A (zh) 一种驱动装置、阵列基板和显示装置
CN102122478B (zh) 显示器及其接合阻抗的检测系统以及检测方法
CN109102768A (zh) 一种阵列基板母板及其检测方法
CN105607316A (zh) 一种阵列基板母板和显示面板母板
US9298055B2 (en) Array substrate, method of disconnection inspecting gate lead wire and source lead wire in the array substrate, method of inspecting the array substrate, and liquid crystal display device
US10475398B2 (en) Display device and manufacturing method thereof
US11735079B2 (en) Display driving circuit including crack detector and display device including the display driving circuit
CN111192543B (zh) 显示面板及显示装置、裂纹检测方法
CN105632383A (zh) 一种测试电路、测试方法、显示面板及显示装置
CN112305454B (zh) 显示面板测试的电路板、显示面板的测试装置和测试方法
CN110824799B (zh) 阵列基板线路检测结构及其检测方法、阵列基板
CN105589244A (zh) 液晶显示装置、液晶显示面板及其制作方法
CN103454794B (zh) 点灯测试治具以及液晶面板测试方法
CN1926463A (zh) 检查阵列基板的方法
US7170311B2 (en) Testing method for LCD panels
CN106066560A (zh) 一种阵列基板的测试电路及液晶显示器
CN105652539A (zh) 液晶显示装置及其液晶显示面板
CN102213739A (zh) 线路检测结构和线路检测方法
CN1731205B (zh) 平面显示装置的测试线路
CN101424793A (zh) 液晶显示装置及其修复方法
CN104575385A (zh) 有机发光显示装置阵列基板及检测方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant