CN113741741B - 自容式触摸屏的断线位置检测方法、装置、设备和介质 - Google Patents

Abstract

本公开提供了一种自容式触摸屏的断线位置检测方法、装置、设备和介质，属于自容式触摸屏技术领域。所述方法包括：确定第一触摸电极，所述第一触摸电极为所述多个触摸电极中发生断线的触摸电极；获取所述第一触摸电极的第一电容数据；根据所述第一电容数据和预设的对应关系，确定所述第一触摸电极的断线位置，所述对应关系为触摸电极的参考电容数据与断线位置的对应关系，所述断线位置为所述第一触摸电极内部至所述触摸芯片之间的位置。由于所述对应关系为触摸电极的电容数据与断线位置的对应关系。这样，根据第一电容数据和对应关系，能够快速查找到第一触摸电极的断线位置，从而提高触摸触摸电极的断线位置的检测效率。

Description

自容式触摸屏的断线位置检测方法、装置、设备和介质

技术领域

本公开涉及触控技术领域，特别涉及一种自容式触摸屏的断线位置检测方法、装置、设备和介质。

背景技术

自容式触摸屏是电容式触摸屏中的一种，其工作原理为利用导电材质制作成触摸电极，通过手指触控自容式触摸屏时触摸电极的电容的变化来实现触控。

发明内容

本公开实施例提供了一种自容式触摸屏的断线位置检测方法、装置、设备和介质，能够提高自容式触摸屏的断线位置的检测效率。所述技术方案如下：

第一方面，提供了一种自容式触摸屏的断线位置检测方法，所述自容式触摸屏包括触摸芯片、多根引线和阵列布置的多个触摸电极，每个所述触摸电极通过对应的一根所述引线连接至所述触摸芯片，所述方法包括：确定第一触摸电极，所述第一触摸电极为所述多个触摸电极中发生断线的触摸电极；获取所述第一触摸电极的第一电容数据，所述第一电容数据用于反应所述第一触摸电极在未被触摸状态下的对地电容；根据所述第一电容数据和预设的对应关系，确定所述第一触摸电极的断线位置，所述对应关系为触摸电极的参考电容数据与断线位置的对应关系，所述断线位置为所述第一触摸电极内部至所述触摸芯片之间的位置。

可选地，所述根据所述第一电容数据和预设的对应关系，确定所述第一触摸电极的断线位置，包括：对所述第一电容数据进行处理，得到第二电容数据；根据所述第一触摸电极的第一位置，确定第一参考电容数据，所述第一位置为所述第一触摸电极在所述引线延伸方向的位置，所述第一参考电容数据为所述对应关系中与所述第一位置对应的参考电容数据；根据所述第二电容数据和所述第一参考电容数据确定所述第一触摸电极的断线位置。

可选地，所述根据所述第二电容数据和所述第一参考电容数据确定所述第一触摸电极的断线位置，包括：响应于确定所述第二电容数据的数值小于所述第一参考电容数据的数值，确定所述第一触摸电极的断线位置为第一触摸电极内部；或者，响应于确定所述第二电容数据的数值大于最大值，确定所述第一触摸电极的断线位置为所述数据选择器前端，所述最大值为所述对应关系中参考电容数据最大值。

可选地，所述根据所述第二电容数据和所述第一参考电容数据确定所述第一触摸电极的断线位置，包括：响应于确定所述第二电容数据的数值大于所述第一参考电容数据的数值且小于最大值，根据所述第二电容数据的数值大小，确定第二参考电容数据，所述最大值为所述对应关系中参考电容数据最大值，所述第二参考电容数据为所述对应关系中与所述第二电容数据的数值大小最接近的参考电容数据；将所述第二参考电容数据对应的断线位置，确定为所述第一触摸电极的断线位置。

可选地，所述第一电容数据包括第一电参数和第二电参数，所述对所述第一电容数据进行处理，得到第二电容数据，包括：采用以下公式对所述第一电容数据进行处理：C＝X+M-N*Y，其中，C表示所述第二电容数据，X表示所述第一电参数，Y表示所述第二电参数，M和N为设定值。

可选地，所述方法还包括：对自容式触摸屏样本的一列第二触摸电极进行划线测试，以确定第二触摸电极在不同断线位置下的第三电容数据；对所述第三电容数据进行处理，得到对应的断线位置下的电容参考数据；根据所述断线位置以及所述断线位置下的电容参考数据，生成所述对应关系。

第二方面，提供了一种自容式触摸屏的断线位置检测装置，所述自容式触摸屏包括触摸芯片、多根引线和阵列布置的多个触摸电极，每个所述触摸电极通过对应的一根所述引线连接至所述触摸芯片，所述装置包括：第一确定模块，用于确定第一触摸电极，所述第一触摸电极为所述多个触摸电极中发生断线的触摸电极；获取模块，用于获取所述第一触摸电极的第一电容数据，所述第一电容数据用于反应所述第一触摸电极在未被触摸状态下的对地电容；第二确定模块，用于根据所述第一电容数据和预设的对应关系，确定所述第一触摸电极的断线位置，所述对应关系为触摸电极的参考电容数据与断线位置的对应关系，所述断线位置为所述第一触摸电极内部至所述触摸芯片之间的位置。

可选地，所述第二确定模块用于对所述第一电容数据进行处理，得到第二电容数据；根据所述第一触摸电极的第一位置，确定第一参考电容数据，所述第一位置为所述第一触摸电极在所述引线延伸方向的位置，所述第一参考电容数据为所述对应关系中与所述第一位置对应的参考电容数据；根据所述第二电容数据和所述第一参考电容数据确定所述第一触摸电极的断线位置。

可选地，所述第二确定模块用于响应于确定所述第二电容数据的数值小于所述第一参考电容数据的数值，确定所述第一触摸电极的断线位置为第一触摸电极内部；或者，响应于确定所述第二电容数据的数值大于最大值，确定所述第一触摸电极的断线位置为所述数据选择器前端，所述最大值为所述对应关系中参考电容数据最大值。

可选地，所述第二确定模块用于响应于确定所述第二电容数据的数值大于所述第一参考电容数据的数值且小于最大值，根据所述第二电容数据的数值大小，确定第二参考电容数据，所述最大值为所述对应关系中参考电容数据最大值，所述第二参考电容数据为所述对应关系中与所述第二电容数据的数值大小最接近的参考电容数据；将所述第二参考电容数据对应的断线位置，确定为所述第一触摸电极的断线位置。

可选地，所述第一电容数据包括第一电参数和第二电参数，所述第二确定模块用于采用以下公式对所述第一电容数据进行处理：C＝X+M-N*Y，其中，C表示所述第二电容数据，X表示所述第一电参数，Y表示所述第二电参数，M和N为设定值。

可选地，所述装置还包括对应关系生成模块，用于对自容式触摸屏样本的一列第二触摸电极进行划线测试，以确定第二触摸电极在不同断线位置下的第三电容数据；对所述第三电容数据进行处理，得到对应的断线位置下的电容参考数据；根据所述断线位置以及所述断线位置下的电容参考数据，生成所述对应关系。

第三方面，提供了一种计算机设备，包括：处理器；用于存储处理器可执行指令的存储器；其中，所述处理器被配置为执行第一方面所述的方法。

第四方面，提供了一种计算机可读介质，当计算机可读介质中的指令由计算机设备的处理器执行时，使得计算机设备能够执行第一方面所述的方法。

第五方面，提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序/指令，其特征在于，所述计算机程序/指令被处理器执行时实现第一方面所述的方法。

本公开实施例提供的技术方案带来的有益效果是：

本公开实施例中，根据第一电容数据和预设的对应关系确定第一触摸电极的断线位置。由于对应关系为触摸电极的参考电容数据与断线位置的对应关系，这样，根据第一电容数据和对应关系，能够快速查找到第一触摸电极的断线位置，从而提高自容式触摸屏的断线位置的检测效率。

附图说明

为了更清楚地说明本公开实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本公开实施例提供的一种自容式触摸屏的结构示意简图；

图2是本公开实施例提供的一种自容式触摸屏的断线位置检测方法的流程图；

图3为本公开实施例提供的一种第一触摸电极的断线位置的示意图；

图4是本公开实施例提供的一种参考电容数据与断线位置的对应关系确定过程示意图；

图5是本公开实施例提供的另一种自容式触摸屏的断线位置检测方法的流程图；

图6是本公开实施例提供的一种自容式触摸屏的断线位置检测装置的结构框图；

图7是本公开实施例提供的一种计算机设备的结构框图。

具体实施方式

为使本公开的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本公开实施方式作进一步地详细描述。

自容式触摸屏包括Touch IC(触摸芯片)、多根Trace(引线)和阵列布置的多个触摸电极，每个触摸电极通过引线连接至触摸芯片。若触摸电极内部或者触摸电极到触摸芯片之间的引线发生断线时，会导致自容式触摸屏中与断线位置对应的区域无法实现触控。因此，需要对自容式触摸屏的断线位置进行检测。

相关技术中，自容式触摸屏的断线位置检测方法包括：确定第一触摸电极，第一触摸电极为多个触摸电极中发生断线的触摸电极；通过显微镜查找从第一触摸电极到触摸芯片之间具体的断线位置。这种查找方式效率较低。

图1是本公开实施例提供的一种自容式触摸屏的结构示意简图。如图1所示，自容式触摸屏包括触摸芯片10、多根引线20和阵列布置的多个触摸电极30。每个触摸电极30通过对应的一根引线20连接至触摸芯片10。触摸芯片10包括MUX(multiplexer，数据选择器)，MUX的每条通道通过一根引线20连接一个触摸电极30。

在一些示例中，触摸电极30以及引线20均采用Metal Mesh(金属网格)制作，金属网格的导电性能好，且线宽为微米级别。

自容式触摸屏还包括显示面板，显示面板包括阵列布置的多个像素。金属网格的网络线布置在显示面板上。金属网格的数量小于显示面板像素的数量。示例性地，金属网格的长度为50mm～60mm，宽度为40mm～50mm，像素的大小单位为微米。因此，每个金属网格对应多个像素。金属网格的网络线位于两列像素或者两行像素之间，并且被黑矩阵挡住。

在另一些示例中，触摸电极30为块状电极，引线20为无镂空的走线。

当自容式触摸屏正常工作时，人手指触摸自容式触摸屏会导致相应的触摸电极30的电容发生变化，触摸芯片10可以根据电容的变化判断人手指的触摸位置。

图2是本公开实施例提供的一种自容式触摸屏的断线位置检测方法的流程图。参见图2，该方法包括：

在步骤201中，确定第一触摸电极，第一触摸电极为多个触摸电极中发生断线的触摸电极。

在步骤202中，获取第一触摸电极的第一电容数据。

第一电容数据用于反应第一触摸电极在未被触摸状态下的对地电容。

在步骤203中，根据第一电容数据和预设的对应关系，确定第一触摸电极的断线位置。

对应关系为触摸电极的参考电容数据与断线位置的对应关系，断线位置为第一触摸电极内部至触摸芯片之间的位置。

图3为本公开实施例提供的一种第一触摸电极的断线位置的示意图。如图3所示，图中黑色粗实线表示断线位置。断线位置包括第一触摸电极30内部(标号1对应的位置)、第一触摸电极30与引线20连接的部分(标号2对应的位置)、第一触摸电极30对应的引线20(标号3对应的位置)以及数据选择器101前端(标号4对应的位置)。在一些实施方式中，断线位置可以用触摸电极的行编号来表示。

其中，预设是指在执行图2所示的方法之前预先设置的。

本公开实施例中，根据第一电容数据和对应关系确定第一触摸电极的断线位置。由于对应关系为触摸电极的电容数据与断线位置的对应关系，这样，根据第一电容数据和对应关系，能够快速查找到第一触摸电极的断线位置，从而提高自容式触摸屏的断线位置的检测效率。

图4是本公开实施例提供的一种参考电容数据与断线位置的对应关系确定过程示意图。参见图4，该方法包括：

在步骤401中，对自容式触摸屏样本的一列第二触摸电极进行划线测试，以确定第二触摸电极在不同断线位置下的第三电容数据。

其中，自容式触摸屏样本可以是与待确定断线位置的自容式触摸屏的结构相同的自容式触摸屏。第二触摸电极可以是自容式触摸屏样本阵列布置的多个触摸电极中任一列触摸电极。需要说明的是，本公开实施例中，用来确定对应关系的自容式触摸屏样本与采用确定出的对应关系确定断线位置的自容式触摸屏可以不是同一个自容式触摸屏。

划线测试是指，按照设定的多个划线位置对该列第二触摸电极进行划线，每划一次线，检测一次第二触摸电极的第三电容数据。多个划线位置沿着最上方(即离触摸芯片最远)的第二触摸电极所连接的引线的延伸方向间隔布置，以模拟触摸电极引线的不同位置断线。

在一些实施方式中，由于相邻两个触摸电极的电容数据差异较小，因此，在最上方触摸电极对应的引线上每隔两个触摸电极的位置划线。

例如，第一个划线位置位于最上方的第二触摸电极的引线中与第二个触摸电极对应的位置，第二个触摸电极为第二触摸电极中从上往下的第二个触摸电极。第二个划线位置位于最上方的第二触摸电极的引线中与第四个触摸电极对应的位置，第四个触摸电极为第二触摸电极中从上往下的第四个触摸电极。最后一个划线位置位于最上方的第二触摸电极的引线中与最后一个触摸电极对应的位置，最后一个触摸电极为第二触摸电极中从上往下的最后一个触摸电极。

在其他的实施方式中，也可以在最上方触摸电极对应的引线上每隔三个触摸电极的位置、每隔四个触摸电极的位置等进行划线。本公开实施例中对触摸电极的划线间隔数量不作限制。

在本公开实施例中，划线是指通过划线工具将触摸电极或者触摸电极对应的断开。例如，通过刀制工具划线。

第三电容数据用于反应第二触摸电极在不同断线位置下的对地电容。可选地，在执行步骤401之前，对自容式触摸屏样本中除了一列第二触摸电极之外的触摸电极进行接地处理。触摸芯片正常驱动自容式触摸屏时，同时驱动多个触摸电极，例如某一行或者某一列的触摸电极。对自容式触摸屏样本中除了第二触摸电极之外的触摸电极进行接地处理后，可以避免触摸电极之间的耦合电容影响获取的第二触摸电极的电容数据的准确度。

第三电容数据包括第一电参数和第二电参数。第一电参数和第二电参数可以为电压值或电流值。例如，第一电参数和第二电参数为电压值。第三电容数据用于反应对应的触摸电极未被触摸时的电容值。

示例性地，第一电参数为触摸芯片中触摸电极对应的DAC(Digital to AnalogConverter，数模转换器)值，第二电参数为触摸芯片中触摸电极对应的ADC(Analog toDigital Converter，模数转换器)值。触摸芯片的采样值等于第一电参数和第二电参数之和。

DAC值和ADC值可以从触摸芯片中的模数转换器和数模转换器获取。在一些示例中，数模转换器与触摸芯片的比较器的输出端连接，模数转换器与触摸芯片的比较器的一个输入端连接。触摸芯片的采样值为比较器的另一个输入端的值。

在未触控情况下，触摸电极的第二电参数为理论参考值，在未被触摸的情况下为固定值。在被触摸的情况下，触摸电极的第二电参数发生变化。示例性地，未被触摸的情况下，第二电参数为512。

为了保证第二电参数在未被触摸的情况下为固定值，需要根据触摸芯片的采样值控制第一电参数的变化，例如，表1中的前5列数据。当第一电参数的值达到上限，则无法继续对触摸芯片的采样值进行补充，例如表1中的第6列至最后一列数据，第一电参数的上限值为1023。

本公开实施例中，以自容式触摸屏包括28行、16列触摸电极为例进行示例性说明。表1是本公开实施例提供的第二触摸电极在不同断线位置下的第一电参数。表2是本公开实施例提供的第二触摸电极在不同断线位置下的第二电参数。表1和表2中从左到右的每一列数据都对应第二触摸电极从上至下的一个划线位置的数据，且每列数据最下方的数据为第二触摸电极中最上方触摸电极的数据。由于每列触摸电极的多根引线均沿着相同的走线区延伸至触摸芯片，且排列较为紧密。每次划线，都会将附近的多根引线一起划断。例如，在第二个划线位置划线，会将最上方的第二触摸电极对应的引线以及第二个触摸电极至第四个触摸电极对应的三根引线一起划断，得到表1和表2中第二列的四个数据。因此，按照顺序在最上方触摸电极的引线上从至下划线，能够依次得到表1中的从左到右的一列第一电参数和表2中的一列第二电参数。每一列的第一电参数的数值大致相同，每一列的第二电参数的数值大致相同。

表1：

表2：

在步骤402中，对第三电容数据进行处理，得到对应的断线位置下的电容参考数据。

由步骤401中的表1可知，随着划线位置的下移，1至5列的每一列的第一电参数是依次增加的，之后的每一列的第一电参数均为1023保持不变。根据表1中的第一电参数的数据，仅能判断出第一触摸电极在第0行至第8行的断线位置，第10行至第27行的断线位置无法判断。

由步骤401中的表2可知，随着划线位置的下移，1至5列的每一列的第二电参数保持不变，均为512，之后每一列的第二电参数依次减小。根据表2中的第一电参数的数据仅能判断出第一触摸电极在第10行至第27行的断线位置，第0行至第9行的断线位置无法判断。

步骤403中，对第三电容数据进行处理包括：

第一步，根据第三电容数据，确定第四电容数据。

在一些实施方式中，采用公式(1)对表1中所有第一电参数和表2中所有第二电参数进行处理，确定第四电容数据。

C＝X+M-N*Y (1)

公式(1)中，C表示第四电容数据，X表示第一电参数，Y表示第二电参数，M和N为设定值。本公开实施例中以M取900，N取2为例进行示例性说明。表3为M取900，N取2得到的第三电容数据对应的第四电容数据。

表3：

在另一些实施方式中，仅对表1中每列数据中的最下面两行的第一电参数以及表2中每列数据中最下面两行的第二电参数采用公式(1)处理。

通过公式(1)对第三电容数据进行处理，可以使得第0行至27行每一行的数据递增变化。也即是，使得触摸电极至触摸芯片之间不同断线位置对应的电容数据呈阶梯式差异。也可以采用其他的处理方法对第三电容数据进行处理，达到相同的效果。本公开实施例中，仅以公式(1)进行说明。

本公开实施例中，也可以不采用表格的记录方式，直接记录检测到的第三电容数据以及对第三电容数据进行处理得到的第四电容数据。

第二步，根据第四电容数据，确定对应的断线位置下的电容参考数据。

在一些示例中，若自容式触摸屏的多个阵列布置的触摸电极的形状大小一致，取表3中每列第四电容数据中最下面两行数据的平均值，作为断线位置在这两行下的电容参考数据。例如，将表3中第二列第四电容数据中最下面两行数据761和749的平均值755作为断线位置在第2行至第3行的电容参考数据。

在另一些示例中，由于自容式传感器的显示屏的边缘的触摸电极要适应显示屏屏体的大小，处于显示屏的显示区域的边缘位置的触摸电极的形状大小可能与其他触摸电极的形状大小不同。这就导致处于显示屏的显示区域的边缘位置的触摸电极的第四电容值与其他触摸电极的第四电容值差异较大，因此，在确定不同断线位置的参考电容数据时，不考虑第1行和最后1行的第四电容数据(表3中第0行和第27行)。例如，将表3中第一列第四电容数据中最后一行数据699直接作为断线位置在第0行至第1行的参考电容数据。将表3中最后一列第四电容数据中倒数第二行数据1409直接作为断线位置在第26行至第27行的参考电容数据。

由于表3中每列数据的最后1行数据为第二触摸电极中最上方触摸电极的第四电参数，表3中每列数据的倒数第2行数据为第二触摸电极中第二个触摸电极的第四电容数据，这两个触摸电极的数据差异不大。因此，本公开实施例中将每个划线位置对应的这两个触摸电极的第四电容数据的平均值，作为不同断线位置下的参考电容数据，以提高数据的准确性。为了数据处理方便，不同断线位置下的电容参考数据可以处理成整数。

在步骤403中，根据断线位置以及断线位置下的电容参考数据，生成对应关系。

根据断线位置以及断线位置下的电容参考数据，得到对应关系如表4所示。

表4：

断线位置	参考电容数据
		ROW 0～1	699
ROW 2～3	755
		ROW 4～5	845
ROW 6～7	847
		ROW 8～9	899
ROW 10～11	954
		ROW 12～13	1012
ROW 14～15	1087
		ROW 16～17	1165
ROW 18～19	1297
		ROW 20～21	1347
ROW 22～23	1401
		ROW 24～25	1401
ROW 26～27	1409

图5是本公开实施例提供的一种自容式触摸屏的断线位置检测方法的流程图。参见图5，该方法包括：

在步骤501中，确定第一触摸电极。

第一触摸电极为多个触摸电极中发生断线的触摸电极。

本公开实施例中，获取自容式触摸屏在不同的驱动方式下的电容数据，根据不同驱动方式下的电容数据综合判断是否存在发生断线的触摸电极。在一些实施方式中，不同的驱动方式是指驱动触摸电极的位置、同时驱动触摸电极的数量、被驱动的触摸电极的驱动电压、被驱动的触摸电极的驱动频率以及被驱动的触摸电极的充电顺序中的一种或多种。

本公开实施例对确定第一触摸电极的方式不做限制，只要能确定出发生断线的触摸电极即可。

在步骤502中，获取第一触摸电极的第一电容数据。

第一电容数据用于反应第一触摸电极在未被触摸状态下的对地电容。第一电容数据包括第一电参数和第二电参数。第一电参数和第二电参数的相关内容，参见前述步骤402，在此省略详细描述。

在步骤503中，对第一电容数据进行处理，得到第二电容数据。

本公开实施例中，采用公式(1)对第一电容数据进行处理。

在步骤504中，根据第一触摸电极的第一位置，确定第一参考电容数据。第一参考电容数据为对应关系中与第一位置对应的参考电容数据。

其中，第一位置为第一触摸电极在引线延伸方向的位置，也即是，第一触摸电极纵向上的排列位置。例如，第一触摸电极在自容式触摸屏的阵列布置的多个触摸电极中的排列位置为第8行第9列，则第一触摸电极的第一位置为第8行。

对应关系采用图3所示的实施例得到，相关内容参见图3所示的实施例，在此省略详细描述。

在步骤505中，根据第二电容数据和第一参考电容数据确定第一触摸电极的断线位置。

表5是本公开实施例提供的自容式触摸屏的第一触摸电极的第二电容数据，该表中的第二电容数据采用前述步骤501至步骤503得到。

表5

第一触摸电极的排列位置	第二电容数据
		第23行第0列	862
第1行第3列	720
		第6行第6列	1002
第14行第10列	1347
		第15行第10列	1420

在一些实施方式中，步骤505中确定第一触摸电极的断线位置包括：响应于确定第二电容数据的数值小于第一参考电容数据的数值，确定第一触摸电极的断线位置为第一触摸电极内部。

在一些示例中，表5中排列位置为第23行第0列的第一触摸电极，其第一位置为第23行、第二电容数据为862。从表4中查找到第23行对应的第一参考电容数据为1401。通过对比可知，该第一触摸电极的第二电容数据小于第一参考电容数据1401，因此，可以判断该第一触摸电极的断线位置为第一触摸电极内部。

在另一些实施方式中，步骤405中确定第一触摸电极的断线位置包括：响应于确定第二电容数据的数值大于第一参考电容数据的数值且小于最大值，根据第二电容数据的数值大小，确定第二参考电容数据；将第二参考电容数据对应的断线位置，确定为第一触摸电极的断线位置。

第二参考电容数据为对应关系中与第二电容数据的数值大小最接近的参考电容数据。最大值为对应关系中参考电容数据最大值，示例性地，最大值为1409。

在一些示例中，表5中排列位置为第1行第3列的第一触摸电极，其第一位置为第1行、第二电容数据为720，从表4中查找到第1行对应的第一参考电容数据为699。通过对比可知，该第一触摸电极的第二电容数据大于第一参考电容数据699且小于最大值1409。从表4中查找到与第二电容数据720的数值最接近的参考电容数据(第二参考电容数据)为第0行至第1行的参考电容数据699。因此，可以判断该第一触摸电极的断线位置为第一触摸电极与引线连接的部分。

在另一些示例中，表5中排列位置为第6行第6列的第一触摸电极，其第一位置为第6行、第二电容数据为1002，从表4中查找到第6行对应的第一参考电容数据为847。通过对比可知，该第一触摸电极的第二电容数据大于第一参考电容数据847且小于最大值1409。从表4中查找到与第二电容数据1002的数值最接近的参考电容数据(第二参考电容数据)为第12行至第13行的参考电容数据1012。因此，可以判断该第一触摸电极的断线位置为第12行至第13行的引线。

在又一些示例中，表5中排列位置为第14行第10列的第一触摸电极，其第一位置为第14行、第二电容数据为1347。从表4中查找到第14行对应的第一参考电容数据为1087。通过对比可知，该第一触摸电极的第二电容数据大于第一参考电容数据1087且小于最大值1409。从表4中查找到与第二电容数据1347的数值最接近的参考电容数据(第二参考电容数据)为第20行至第21行的参考电容数据1347。因此，可以判断该第一触摸电极的断线位置为第20行至第21行的引线。

在又一些实施方式中，步骤405中确定第一触摸电极的断线位置包括：响应于确定第二电容数据的数值大于最大值，确定第一触摸电极的断线位置为数据选择器前端。最大值为对应关系中参考电容数据最大值，示例性地，最大值为1409。

在一些示例中，排列位置为第15行第10列的第一触摸电极，其第一位置为第15行、第二电容数据为1420。通过对比可知，该第一触摸电极的第二电容数据大于最大值1409，因此，可以判断该第一触摸电极的断线位置为数据选择器前端。

需要说明的是，本公开实施例中，表4中从上到下不同断线位置下的参考电容数据可能并不是严格呈现阶梯式明显差异变化的。例如，表4中，断线位置在ROW4～5对应的参考电容数据845与断线位置在ROW6～7对应的参考电容数据847，以及断线位置在ROW22～27之间的参考电容数据差异不明显。若第一触摸电极的第二电容数据的数值大于第一参考电容数据的数值且小于最大值，并且第一触摸电极的第二电容数据在ROW22～27之间。则只能判断出第一触摸电极的断线位置在ROW22～27之间。

在其他的实施例中，可以采用其他的数据处理方法对表1和表2中的数据进行处理，使得表4中每个断线位置下的参考电容数据差异明显，以更精确地判断触摸电极的断线位置。

本公开实施例中，根据第一电容数据和对应关系确定第一触摸电极的断线位置。由于对应关系为触摸电极的电容数据与断线位置的对应关系，这样，根据第一电容数据和对应关系，能够快速查找到第一触摸电极的断线位置，从而提高自容式触摸屏的断线位置的检测效率。根据确定出的断线位置，可以查找出对应的改善方案。例如，断线位置集中在AA(Active Area，可操作区)内，可能是触摸电极和引线的走线宽度和厚度不合理。断线位置发生在COP(Chip on PI)端，可能是bending(弯折)区抗弯折性差或数据选择器的结构设计不合理。

图6是本公开实施例提供的一种自容式触摸屏的断线位置检测装置600的结构框图。自容式触摸屏包括触摸芯片、多根引线和阵列布置的多个触摸电极，每个触摸电极通过对应的一根引线连接至触摸芯片。如图6所示，该装置包括：第一确定模块601、获取模块602和第二确定模块603。

其中，第一确定模块601，用于确定第一触摸电极，所述第一触摸电极为所述多个触摸电极中发生断线的触摸电极。获取模块602，用于获取所述第一触摸电极的第一电容数据，所述第一电容数据用于反应所述第一触摸电极在未被触摸状态下的对地电容。第二确定模块603，用于根据所述第一电容数据和预设的对应关系，确定所述第一触摸电极的断线位置，所述对应关系为触摸电极的参考电容数据与断线位置的对应关系，所述断线位置为所述第一触摸电极内部至所述触摸芯片之间的位置。

可选地，所述第二确定模块603用于对所述第一电容数据进行处理，得到第二电容数据；根据所述第一触摸电极的第一位置，确定第一参考电容数据，所述第一位置为所述第一触摸电极在所述引线延伸方向的位置，所述第一参考电容数据为所述对应关系中与所述第一位置对应的参考电容数据；根据所述第二电容数据和所述第一参考电容数据确定所述第一触摸电极的断线位置。

可选地，所述第二确定模块603用于响应于确定所述第二电容数据的数值小于所述第一参考电容数据的数值，确定所述第一触摸电极的断线位置为第一触摸电极内部；或者，响应于确定所述第二电容数据的数值大于最大值，确定所述第一触摸电极的断线位置为所述数据选择器前端，所述最大值为所述对应关系中参考电容数据最大值。

可选地，所述第二确定模块603用于响应于确定所述第二电容数据的数值大于所述第一参考电容数据的数值且小于最大值，根据所述第二电容数据的数值大小，确定第二参考电容数据，所述最大值为所述对应关系中参考电容数据最大值，所述第二参考电容数据为所述对应关系中与所述第二电容数据的数值大小最接近的参考电容数据；将所述第二参考电容数据对应的断线位置，确定为所述第一触摸电极的断线位置。

可选地，所述第一电容数据包括第一电参数和第二电参数，所述第二确定模块603用于采用以下公式对所述第一电容数据进行处理：C＝X+M-N*Y，其中，C表示所述第二电容数据，X表示所述第一电参数，Y表示所述第二电参数，M和N为设定值。

可选地，所述装置还包括对应关系生成模块604，用于对自容式触摸屏样本的一列第二触摸电极进行划线测试，以确定第二触摸电极在不同断线位置下的第三电容数据；对所述第三电容数据进行处理，得到对应的断线位置下的电容参考数据；根据所述断线位置以及所述断线位置下的电容参考数据，生成所述对应关系。

需要说明的是：上述实施例提供的自容式触摸屏的断线位置检测装置600在进行自容式触摸屏的断线位置检测时，仅以上述各功能模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能模块完成，即将设备的内部结构划分成不同的功能模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。另外，上述实施例提供的自容式触摸屏的断线位置检测装置600与自容式触摸屏的断线位置检测方法实施例属于同一构思，其具体实现过程详见方法实施例，这里不再赘述。

图7是本公开实施例提供的计算机设备的结构框图。如图7所示，该计算机设备700包括：处理器701和存储器702。

处理器701可以包括一个或多个处理核心，比如7核心处理器、8核心处理器等。处理器701可以采用DSP(Digital Signal Processing，数字信号处理)、FPGA(Field－Programmable Gate Array，现场可编程门阵列)、PLA(Programmable Logic Array，可编程逻辑阵列)中的至少一种硬件形式来实现。处理器701也可以包括主处理器和协处理器，主处理器是用于对在唤醒状态下的数据进行处理的处理器，也称CPU(Central ProcessingUnit，中央处理器)；协处理器是用于对在待机状态下的数据进行处理的低功耗处理器。在一些实施例中，处理器701可以在集成有GPU(Graphics Processing Unit，图像处理器)，GPU用于负责显示屏所需要显示的内容的渲染和绘制。一些实施例中，处理器701还可以包括AI(Artificial Intelligence，人工智能)处理器，该AI处理器用于处理有关机器学习的计算操作。

存储器702可以包括一个或多个计算机可读介质，该计算机可读介质可以是非暂态的。存储器702还可包括高速随机存取存储器，以及非易失性存储器，比如一个或多个磁盘存储设备、闪存存储设备。在一些实施例中，存储器702中的非暂态的计算机可读介质用于存储至少一个指令，该至少一个指令用于被处理器701所执行以实现本公开实施例中提供的自容式触摸屏的断线位置检测方法。

本领域技术人员可以理解，图7中示出的结构并不构成对计算机设备700的限定，可以包括比图示更多或更少的组件，或者组合某些组件，或者采用不同的组件布置。

本发明实施例还提供了一种非临时性计算机可读介质，当介质中的指令由计算机设备700的处理器执行时，使得计算机设备700能够执行本公开实施例中提供的自容式触摸屏的断线位置检测方法。

一种计算机程序产品，包括计算机程序/指令，该计算机程序/指令被处理器执行时实现本公开实施例中提供的自容式触摸屏的断线位置检测方法。

以上仅为本公开的可选实施例，并不用以限制本公开，凡在本公开的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本公开的保护范围之内。

Claims (9)

1.一种自容式触摸屏的断线位置检测方法，其特征在于，所述自容式触摸屏包括触摸芯片、多根引线和阵列布置的多个触摸电极，每个所述触摸电极通过对应的一根所述引线连接至所述触摸芯片，所述方法包括：

确定第一触摸电极，所述第一触摸电极为所述多个触摸电极中发生断线的触摸电极；

获取所述第一触摸电极的第一电容数据，所述第一电容数据用于反应所述第一触摸电极在未被触摸状态下的对地电容；

对所述第一电容数据进行处理，得到第二电容数据；

根据所述第一触摸电极的第一位置，确定第一参考电容数据，所述第一位置为所述第一触摸电极在所述引线延伸方向的位置，所述第一参考电容数据为预设的对应关系中与所述第一位置对应的参考电容数据，所述对应关系为触摸电极的参考电容数据与断线位置的对应关系，所述断线位置为所述第一触摸电极内部至所述触摸芯片之间的位置；

根据所述第二电容数据和所述第一参考电容数据确定所述第一触摸电极的断线位置。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第二电容数据和所述第一参考电容数据确定所述第一触摸电极的断线位置，包括：

响应于确定所述第二电容数据的数值小于所述第一参考电容数据的数值，确定所述第一触摸电极的断线位置为第一触摸电极内部；或者，

响应于确定所述第二电容数据的数值大于最大值，确定所述第一触摸电极的断线位置为数据选择器前端，所述最大值为所述对应关系中参考电容数据最大值。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第二电容数据和所述第一参考电容数据确定所述第一触摸电极的断线位置，包括：

响应于确定所述第二电容数据的数值大于所述第一参考电容数据的数值且小于最大值，根据所述第二电容数据的数值大小，确定第二参考电容数据，所述最大值为所述对应关系中参考电容数据最大值，所述第二参考电容数据为所述对应关系中与所述第二电容数据的数值大小最接近的参考电容数据；

将所述第二参考电容数据对应的断线位置，确定为所述第一触摸电极的断线位置。

4.根据权利要求1至3任一项所述的方法，其特征在于，所述第一电容数据包括第一电参数和第二电参数，所述对所述第一电容数据进行处理，得到第二电容数据，包括：

采用以下公式对所述第一电容数据进行处理：

C=X+M-N*Y，其中，C表示所述第二电容数据，X表示所述第一电参数，Y表示所述第二电参数，M和N为设定值。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

对自容式触摸屏样本的一列第二触摸电极进行划线测试，以确定第二触摸电极在不同断线位置下的第三电容数据；

对所述第三电容数据进行处理，得到对应的断线位置下的电容参考数据；

根据所述断线位置以及所述断线位置下的电容参考数据，生成所述对应关系。

6.一种用于权利要求1至5任一项所述的自容式触摸屏的断线位置检测方法的检测装置，其特征在于，所述自容式触摸屏包括触摸芯片、多根引线和阵列布置的多个触摸电极，每个所述触摸电极通过对应的一根所述引线连接至所述触摸芯片，所述装置包括：

第一确定模块，用于确定第一触摸电极，所述第一触摸电极为所述多个触摸电极中发生断线的触摸电极；

获取模块，用于获取所述第一触摸电极的第一电容数据，所述第一电容数据用于反应所述第一触摸电极在未被触摸状态下的对地电容；

第二确定模块，用于根据所述第一电容数据和预设的对应关系，确定所述第一触摸电极的断线位置，所述对应关系为触摸电极的参考电容数据与断线位置的对应关系，所述断线位置为所述第一触摸电极内部至数据选择器之间的位置。

7.一种计算机设备，其特征在于，包括：

处理器；

用于存储处理器可执行指令的存储器；

其中，所述处理器被配置为执行如权利要求1至5任一项所述的方法。

8.一种计算机可读介质，其特征在于，当计算机可读介质中的指令由计算机设备的处理器执行时，使得计算机设备能够执行如权利要求1至5任一项所述的方法。

9.一种计算机程序产品，包括计算机程序/指令，其特征在于，所述计算机程序/指令被处理器执行时实现权利要求1至5任一项所述的方法。