CN113421508B - 显示面板检测系统 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种显示面板检测系统，显示面板检测系统用于检测显示面板的集成通道是否异常；显示面板检测系统包括光检测组件，光检测组件设置于显示面板的出光面一侧，显示面板包括多个集成通道，光检测组件和多个集成通道之间形成电场，用于使光检测组件形成检测图案，检测图案包括多个子检测图案，子检测图案与集成通道一一对应，用于判断每一集成通道是否异常。本发明利用光检测组件对集成通道的电性进行检测，从而能够判断显示面板的集成通道是否在制程中出现问题，且无需在显示面板上另外增设检测电路，有利于简化设计。

Description

显示面板检测系统
技术领域
本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板检测系统。
背景技术
随着多媒体信息查询设备和移动设备的与日俱增，触摸屏的应用范围越来越广泛。触摸屏集成有多种类型的集成通道，例如触控集成通道等，而由于集成通道太多及显示面板空间限制，无法对每个集成通道进行电性测试，当有显示面板上的任意集成通道在制程中出现问题时，由于集成通道无法进行修复，则会导致整个显示面板报废。
综上，亟需提供一种新的显示面板检测系统，来解决上述技术问题。
发明内容
本发明实施例提供一种显示面板检测系统，以解决现有的显示面板由于集成通道太多及显示面板空间限制，无法对每个集成通道进行电性测试的技术问题。
为解决上述问题，本发明提供的技术方案如下：
本发明提供一种显示面板检测系统，用于检测显示面板的集成通道是否异常；
所述显示面板检测系统包括光检测组件，所述光检测组件设置于所述显示面板的出光面一侧；所述光检测组件和多个所述集成通道之间形成电场，用于使所述光检测组件形成检测图案，所述检测图案包括多个子检测图案，所述子检测图案与所述集成通道一一对应，用于判断每一所述集成通道是否异常。
根据本发明提供的显示面板检测系统，所述显示面板包括阵列基板和触控层，所述触控层设置于所述阵列基板和所述光检测组件之间；
所述触控层包括多个所述集成通道，多个所述集成通道包括呈阵列分布的多个触控电极；所述电场形成于所述光检测组件和多个所述触控电极之间，所述子检测图案与所述触控电极一一对应，用于判断每一所述触控电极是否异常。
根据本发明提供的显示面板检测系统，所述光检测组件包括检测介质层和透明导电层，所述透明导电层设置于所述检测介质层远离所述显示面板的一侧，所述电场形成于所述透明导电层和所述触控电极之间，用于驱动所述检测介质层形成所述检测图案。
根据本发明提供的显示面板检测系统，所述检测介质层为聚合物液晶材料；其中，当所述子检测图案为透明状态时，对应的所述触控电极正常；当所述子检测图案为非透明状态时，对应的所述触控电极异常。
根据本发明提供的显示面板检测系统，所述检测介质层为电致发光材料；其中，当所述子检测图案发光时，对应的所述触控电极正常；当所述子检测图案不发光时，对应的所述触控电极异常。
根据本发明提供的显示面板检测系统，所述检测介质层为电致变色材料；其中，当所述子检测图案变色时，对应的所述触控电极正常；当所述子检测图案不变色时，对应的所述触控电极异常。
根据本发明提供的显示面板检测系统，多个所述触控电极至少包括第一触控电极组和第二触控电极组，所述第一触控电极组中的所述触控电极和所述第二触控电极组中的所述触控电极交替设置，所述第一触控电极组和所述第二触控电极组交替通电；
当所述第一触控电极组通电时，所述光检测组件形成用于判断所述第一触控电极组中的所述触控电极是否异常的第一检测图案；当所述第二触控电极组通电时，所述光检测组件形成用于判断所述第二触控电极组中的所述触控电极是否异常的第二检测图案。
根据本发明提供的显示面板检测系统，所述显示面板包括显示区和非显示区，所述光检测组件与所述显示区对应设置。
根据本发明提供的显示面板检测系统，所述显示面板还包括测试端子和柔性电路板，所述测试端子和所述柔性电路板设置于所述非显示区，所述测试端子用于为所述光检测组件提供检测信号。
根据本发明提供的显示面板检测系统，所述显示面板为液晶显示面板或有机发光二极管显示面板。
本发明的有益效果为：本发明提供的显示面板检测系统，通过在显示面板的出光面一侧设置用于形成检测图案的光检测组件，光检测组件和显示面板的多个集成通道之间形成电场，检测图案包括多个子检测图案，子检测图案与集成通道一一对应，用于判断每个集成通道的电性是否异常。本发明利用光检测组件对每个集成通道的电性进行检测，从而能够判断显示面板的集成通道是否在制程中出现问题，且无需在显示面板上另外增设检测电路，有利于简化设计。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例提供的一种显示面板检测系统的截面结构示意图；
图2是本发明实施例提供的一种检测图案的平面结构示意图；
图3是本发明实施例提供的一种标准图案的平面结构示意图；
图4是本发明实施例提供的一种触控层的平面结构示意图；
图5是本发明实施例提供的一种第一检测图案的平面结构示意图；
图6是本发明实施例提供的一种第二检测图案的平面结构示意图；
图7是本发明实施例提供的另一种第一检测图案的平面结构示意图；
图8是本发明实施例提供的另一种第二检测图案的平面结构示意图。
附图标记说明：
1、显示面板；11、阵列基板；12、触控层；13、触控电极；14、触控走线；15、第一触控电极组；16、第二触控电极组；
2、光检测组件；21、检测介质层；22、透明导电层；
100＇、标准图案；101＇、子标准图案；100、检测图案；101、子检测图案；102、第一检测图案；103、第二检测图案；
3、测试端子；4、柔性电路板。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。此外，应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本发明，并不用于限制本发明。在本发明中，在未作相反说明的情况下，使用的方位词如“上”和“下”通常是指装置实际使用或工作状态下的上和下，具体为附图中的图面方向；而“内”和“外”则是针对装置的轮廓而言的。
请参阅图1，本发明实施例提供一种显示面板检测系统，所述显示面板检测系统包括显示面板1和光检测组件2，所述显示面板1包括多个集成通道，需要说明的是，本发明实施例中的所述集成通道可以为集成于所述显示面板1上的各种类型的走线，例如，用于驱动像素发光的扫描线和数据线及用于实现触控功能的触控走线等，均在本发明提供的技术方案的保护范围内。
请结合图1和图2，所述光检测组件2设置于所述显示面板1的出光面一侧，从所述显示面板1发出的光线射入所述光检测组件2，所述光检测组件2和多个所述集成通道之间形成电场，光线在所述电场的作用下使得所述光检测组件2形成检测图案100。所述检测图案100包括多个子检测图案101，所述子检测图案101与所述集成通道一一对应，用于判断每一所述集成通道是否异常，即本发明实施例根据所述子检测图案101判断对应的所述集成通道是否异常，无需在显示面板上另外增设检测电路，有利于简化设计。
此外，所述光检测组件2可以在没有绑定驱动芯片之前对所述集成通道的电性进行检测，能够避免因显示面板1问题导致绑定的驱动芯片的浪费，有利于降低成本。
具体的，首先，如图3所示，形成一个标准图案100＇作为参考图案，即，当每一所述集成通道均无异常时，每一所述集成通道均进行通电，在所述光检测组件2远离所述显示面板1的一侧观察得到所述光检测组件2形成一个所述标准图案100＇，所述标准图案100＇包括多个子标准图案101＇，所述子标准图案101＇与所述集成通道一一对应。之后，采用所述光检测组件2对所述集成通道进行检测形成一个所述检测图案100，同样的，对每一所述集成通道均进行通电，在所述光检测组件2远离所述显示面板1的一侧观察得到所述光检测组件2形成一个所述检测图案100。最后，将所述检测图案100与所述标准图案100＇进行比较，比较结果存在以下几种情况：第一种情况为，当所述检测图案100与所述标准图案100＇一致，即所述检测图案100与所述标准图案100＇不存在视觉差异时，则所述显示面板1的每一所述集成通道均无异常。第二种情况为，当所述检测图案100与所述标准图案100＇不一致，即所述检测图案100与所述标准图案100＇存在视觉差异时，则一个或多个所述集成通道存在异常，则进一步判断所述检测图案100中的哪些所述子检测图案101与对应的所述标准图案100＇中的子标准图案101＇不一致，从而判断哪些所述集成通道存在异常。
具体的，所述视觉差异可以是色彩差异或亮暗差异或显示差异等，本发明实施例不以此为限。
在一种实施例中，结合图1和图4，所述显示面板1可以为触控显示面板，在本发明实施例中，所述显示面板1可以为自电容式触控显示面板。具体的，所述显示面板1包括阵列基板11和触控层12，所述触控层12设置于所述阵列基板11和所述光检测组件2之间，所述触控层12包括多个所述集成通道，多个所述集成通道包括呈阵列分布的多个触控电极13，所述子检测图案101与所述触控电极13一一对应，用于判断每一所述触控电极13是否异常。
需要说明的是，为了清楚地解释说明本发明提供的技术方案，本发明实施例以所述集成通道为所述触控电极13为例进行阐述说明。
在一种实施例中，所述光检测组件2包括检测介质层21和透明导电层22，所述透明导电层22设置于所述检测介质层21远离所述显示面板1的一侧，所述透明导电层22和所述触控电极13之间形成所述电场，所述电场驱动所述检测介质层21形成所述检测图案100。
具体的，可使所述透明导电层22接入一个恒压信号，通过控制所述触控电极13的通电状态来形成所述电场，具体的，当所述触控电极13通电时，所述透明导电层22和所述触控电极13之间形成所述电场，当所述触控电极13不通电时，所述透明导电层22和所述触控电极13之间不形成所述电场。所述显示面板1还包括多条触控走线14，多条所述触控走线14与多个所述触控电极13一一对应连接，所述触控走线14可作为控制所述触控电极13的通电状态的控制线，也就是说，所述触控走线14用于提供所述触控电极13通电的测试信号。
在一种实施例中，所述透明导电层22的材料可以为氧化铟锡(Indium Tin Oxide，ITO)。
需要说明的是，本发明实施例通过所述透明导电层22和所述触控电极13之间形成的所述电场驱动所述检测介质层21形成所述检测图案100，光线经过所述检测介质层21时，在电场的作用下，所述检测介质层21会发生相应改变，从而导致从所述透明导电层22远离所述显示面板1的一侧所观察到的视觉效果发生改变。
在一种实施例中，所述检测介质层21为聚合物液晶材料，其中，当所述子检测图案101为透明状态时，对应的所述触控电极13正常；当所述子检测图案101为非透明状态时，对应的所述触控电极13异常。
具体的，聚合物液晶材料为液晶分子与预聚物以一定比例均匀混合形成的混合物，所述检测介质层21可以通过所述聚合物液晶材料以沉积、蒸镀或溅射等工艺形成于所述触控电极13靠近所述光检测组件2的一侧。
可以理解的是，当所述检测介质层21为聚合物液晶材料时，由于聚合物液晶材料在电场存在时呈现透明态，没有电场存在时呈现散射态。故，对所述触控电极13通电，当所述触控电极13正常时，所述透明导电层22和所述触控电极13之间形成所述电场，对应的聚合物液晶材料呈透明态，光线可以透过聚合物液晶，从而使得对应的所述子检测图案101为透明状态，也就是说，呈现透明状态的所述子检测图案101所对应的所述触控电极13是正常的。相反的，当所述触控电极13异常时，所述透明导电层22和存在异常的所述触控电极13之间无法形成电场，对应的聚合物液晶呈现散射态，光线无法透过聚合物液晶，从而使得对应的所述子检测图案101为非透明状态，也就是说，呈现非透明状态的所述子检测图案101所对应的所述触控电极13存在异常。
所述显示面板1包括呈阵列分布的多个所述触控电极13，本发明实施例以多个所述触控电极13呈5*5阵列分布为例进行阐述说明。
具体的，请再次参阅图2和图3，当每一所述触控电极13均无异常时，每一所述触控电极13均进行通电，在所述光检测组件2远离所述显示面板1的一侧观察得到所述光检测组件2形成一个所述标准图案100＇，所述标准图案100＇包括多个子标准图案101＇，所述子标准图案101＇与所述触控电极13一一对应，所述标准图案100＇则呈5*5阵列分布，所述标准图案100＇的每一所述子标准图案101＇均为透明状态。采用所述光检测组件2对所述触控电极13进行检测形成一个所述检测图案100，同样的，对每一所述触控电极13均进行通电，在所述光检测组件2远离所述显示面板1的一侧观察得到所述光检测组件2形成一个所述检测图案100。将所述检测图案100与所述标准图案100＇进行比较，当所述检测图案100与所述标准图案100＇一致，即所述检测图案100也呈5*5阵列分布，每一所述子检测图案101均为透明状态时，则每一所述触控电极13均无异常；当所述检测图案100与所述标准图案100＇不一致，即存在所述子检测图案101为非透明状态时，例如图2中位于第2行第2列的子检测图案101为非透明状态，则对应的所述显示面板1上的第2行第2列的触控电极13存在异常。
在一种实施例中，所述检测介质层21还可以为电致发光材料，其中，当所述子检测图案101发光时，对应的所述触控电极13正常；当所述子检测图案101不发光时，对应的所述触控电极13异常。
可以理解的是，当所述检测介质层21为电致发光材料时，由于电致发光材料可以在所述电场的作用下，依靠所述电场的激发，能够将电能直接转换成光能。具体的，电致发光材料在电场存在时进行正常显示，没有电场存在时不进行显示。故，对所述触控电极13通电，当所述触控电极13正常时，所述透明导电层22和所述触控电极13之间形成所述电场，所述电场激发电致发光材料发光，则从所述透明导电层22远离所述显示面板1的一侧进行观察，对应的所述子检测图案101发光，即发光的所述子检测图案101所对应的触控电极13是正常的。相反的，当所述触控电极13异常时，所述透明导电层22和存在异常的触控电极13之间无法形成所述电场，电致发光材料发光无法被激发，从而使得对应的所述子检测图案101不发光，即不发光的所述子检测图案101所对应的触控电极13存在异常。
在一种实施例中，所述检测介质层21还可以为电致变色材料；其中，当所述子检测图案101变色时，对应的所述触控电极13正常；当所述子检测图案101不变色时，对应的所述触控电极13异常。
具体的，电致变色材料是指具有电致变色性能的材料，其光学属性(反射率、透过率、吸收率等)在外加电场的作用下发生稳定、可逆的颜色变化的现象，在外观上表现为颜色和透明度的可逆变化。所述电致变色材料可以为无机电致变色材料，例如三氧化钨等。所述电致变色材料也可以为有机电致变色材料，例如聚噻吩类及其衍生物、紫罗精类、四硫富瓦烯、金属酞菁类化合物。
可以理解的是，当所述检测介质层21为电致变色材料时，由于电致变色材料在电场存在时变色，没有电场存在时不变色。故，对所述触控电极13通电，当所述触控电极13正常时，所述透明导电层22和所述触控电极13之间形成所述电场，对应的电致变色材料变色，从而使得对应的所述子检测图案101发生变色，即发生变色的所述子检测图案101所对应的所述触控电极13是正常的。相反的，当所述触控电极13异常时，所述透明导电层22和异常触控电极之间无法形成电场，对应的电致变色材料不变色，从而使得对应的所述子检测图案101不变色，即不发生变色的所述子检测图案101所对应的触控电极13存在异常。
进一步的，多个所述触控电极13至少包括第一触控电极组15和第二触控电极组16，所述第一触控电极组15中的所述触控电极13和所述第二触控电极组16中的所述触控电极13交替设置，所述第一触控电极组15和所述第二触控电极组16交替通电。如图5所示，当所述第一触控电极组15通电时，所述光检测组件2形成用于判断所述第一触控电极组15中的所述触控电极13是否异常的第一检测图案102。如图6所示，当所述第二触控电极组16通电时，所述光检测组件2形成用于判断所述第二触控电极组16中的所述触控电极13是否异常的第二检测图案103。
具体的，如图7所示，当形成所述第一检测图案102时，若存在所述第二检测图案103中的所述子检测图案101时，则所述第二触控电极组16中的所述触控电极13存在异常，例如图7中的位于第2行第3列的所述子检测图案101所对应的所述触控电极13存在异常。如图8所示，当形成所述第二检测图案103时，若存在所述第一检测图案102中的所述子检测图案101时，则所述第一触控电极组15中的所述触控电极13存在异常，例如图8中的位于第2行第2列的所述子检测图案101所对应的所述触控电极13存在异常。由于相邻两个所述触控电极13之间有可能存在短路的情况，如果不对所述触控电极13进行分组检测，则有可能无法检测出短路情况，因此，本发明实施例通过采用将所述触控电极13分组检测的方式，可以避免相邻两个所述触控电极13之间发生短路而影响检测结果的情况发生。
具体的，所述显示面板1包括显示区和非显示区，所述光检测组件2与所述显示区对应设置。
具体的，所述显示面板还包括测试端子3和柔性电路板4，所述测试端子3和所述柔性电路板4设置于所述非显示区，所述测试端子3用于为所述光检测组件2提供检测信号。
所述显示面板1可以为液晶显示面板，也可以为有机发光二极管显示面板。
有益效果为：本发明提供的显示面板检测系统，通过在显示面板的出光面一侧设置用于形成检测图案的光检测组件，光检测组件和显示面板的多个集成通道之间形成电场，检测图案包括多个子检测图案，子检测图案与集成通道一一对应，用于判断每一集成通道是否异常。本发明利用光检测组件对集成通道的电性进行检测，从而能够判断显示面板的集成通道是否在制程中出现问题，且无需在显示面板上另外增设检测电路，有利于简化设计；同时，本发明的光检测组件是在绑定驱动芯片之前进行检测，避免因面板问题导致绑定的驱动芯片的浪费，有利于降低成本。
综上所述，虽然本发明已以优选实施例揭露如上，但上述优选实施例并非用以限制本发明，本领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与润饰，因此本发明的保护范围以权利要求界定的范围为准。

Claims (10)

1.一种显示面板检测系统，其特征在于，用于检测显示面板的集成通道是否异常；
所述显示面板检测系统包括光检测组件，所述光检测组件设置于所述显示面板的出光面一侧；所述光检测组件和多个所述集成通道之间形成电场，用于使所述光检测组件形成检测图案，所述检测图案包括多个子检测图案，所述子检测图案与所述集成通道一一对应，用于判断每一所述集成通道是否异常。
2.根据权利要求1所述的显示面板检测系统，其特征在于，所述显示面板包括阵列基板和触控层，所述触控层设置于所述阵列基板和所述光检测组件之间；
所述触控层包括多个所述集成通道，多个所述集成通道包括呈阵列分布的多个触控电极；所述电场形成于所述光检测组件和多个所述触控电极之间，所述子检测图案与所述触控电极一一对应，用于判断每一所述触控电极是否异常。
3.根据权利要求2所述的显示面板检测系统，其特征在于，所述光检测组件包括检测介质层和透明导电层，所述透明导电层设置于所述检测介质层远离所述显示面板的一侧，所述电场形成于所述透明导电层和所述触控电极之间，用于驱动所述检测介质层形成所述检测图案。
4.根据权利要求3所述的显示面板检测系统，其特征在于，所述检测介质层为聚合物液晶材料；其中，当所述子检测图案为透明状态时，对应的所述触控电极正常；当所述子检测图案为非透明状态时，对应的所述触控电极异常。
5.根据权利要求3所述的显示面板检测系统，其特征在于，所述检测介质层为电致发光材料；其中，当所述子检测图案发光时，对应的所述触控电极正常；当所述子检测图案不发光时，对应的所述触控电极异常。
6.根据权利要求3所述的显示面板检测系统，其特征在于，所述检测介质层为电致变色材料；其中，当所述子检测图案变色时，对应的所述触控电极正常；当所述子检测图案不变色时，对应的所述触控电极异常。
7.根据权利要求2～6任一项所述的显示面板检测系统，其特征在于，多个所述触控电极至少包括第一触控电极组和第二触控电极组，所述第一触控电极组中的所述触控电极和所述第二触控电极组中的所述触控电极交替设置，所述第一触控电极组和所述第二触控电极组交替通电；
当所述第一触控电极组通电时，所述光检测组件形成用于判断所述第一触控电极组中的所述触控电极是否异常的第一检测图案；当所述第二触控电极组通电时，所述光检测组件形成用于判断所述第二触控电极组中的所述触控电极是否异常的第二检测图案。
8.根据权利要求1所述的显示面板检测系统，其特征在于，所述显示面板包括显示区和非显示区，所述光检测组件与所述显示区对应设置。
9.根据权利要求8所述的显示面板检测系统，其特征在于，所述显示面板还包括测试端子和柔性电路板，所述测试端子和所述柔性电路板设置于所述非显示区，所述测试端子用于为所述光检测组件提供检测信号。
10.根据权利要求1所述的显示面板检测系统，其特征在于，所述显示面板为液晶显示面板或有机发光二极管显示面板。
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