CN105094436B - 触控基板、显示装置和触控电极图案的检测方法 - Google Patents

Abstract

一种触控基板、显示装置和触控电极图案的检测方法，该触控基板包括多个沿第一方向依次排列的触控电极，每个所述触控电极沿第二方向延伸，所述第二方向与所述第一方向相交；每个所述触控电极具有中端、首端和尾端，所述首端、中端和尾端依次电连接，所述首端和所述中端之间为第一触控电极部分，所述中端和所述尾端之间为第二触控电极部分；沿所述第二方向，所述中端靠近所述触控基板的第一边，所述首端和所述尾端靠近所述触控基板的第二边；并且所述首端和所述尾端各自连接一接触垫，且同一所述触控电极的首端和尾端连接的接触垫不同。该触控基板可实现在显示模组制程之前检测出触控驱动电极或触控感应电极线路的品质，以避免模组材料的浪费。

Description

触控基板、显示装置和触控电极图案的检测方法

技术领域

本发明的至少一个实施例涉及一种触控基板、显示装置和触控电极图案的检测方法。

背景技术

随着显示技术的飞速发展，触控显示屏已经逐渐遍及人们的生活。

HIC(Hybrid in cell)触控显示屏是一种主流的触控显示屏，其包括阵列基板和对置基板(例如彩膜基板)。例如，在阵列基板上设置有多条触控驱动电极，在对置基板的远离阵列基板的一侧表面上设置有多条触控感应电极，触控感应电极的延伸方向与触控驱动电极的延伸方向交叉。在触控驱动电极上施加激励信号，由于触控驱动电极和触控感应电极之间存在互电容，在触控感应电极上可以接收到这个激励信号。当触摸物(例如人的手指)靠近或接近触控感应电极时，触控驱动电极和触控感应电极之间的互电容会发生变化，根据该互电容的变化量可以判断出触摸位置。

发明内容

本发明的至少一个实施例提供一种触控基板、显示装置和触控电极图案的检测方法，以实现在显示模组制程之前检测出触控驱动电极或触控感应电极线路的品质，从而避免模组材料的浪费。

本发明的至少一个实施例提供了一种触控基板，其包括多个沿第一方向依次排列的触控电极，每个所述触控电极沿第二方向延伸，所述第二方向与所述第一方向相交；每个所述触控电极具有中端、首端和尾端，所述首端、中端和尾端依次电连接，所述首端和所述中端之间为第一触控电极部分，所述中端和所述尾端之间为第二触控电极部分；沿所述第二方向，所述中端靠近所述触控基板的第一边，所述首端和所述尾端靠近所述触控基板的第二边；并且所述首端和所述尾端各自连接一接触垫，且同一所述触控电极的首端和尾端连接的接触垫不同。

例如，所述触控基板还可以包括：沿所述第一方向依次排列的多个检测电极，每个所述检测电极沿所述第二方向延伸；每个所述检测电极的在所述触控基板的所述第二边的端部有接触垫，并且在所述触控基板的所述第一边的另一端被悬空设置；每个所述检测电极与至少一个所述触控电极相邻并且彼此间隔设置。

例如，所述多个检测电极与所述多个触控电极同层设置。

例如，每个所述触控电极的所述第一触控电极部分和所述第二触控电极部分之间设置有一个所述检测电极，并且所述检测电极平行于所述第一触控电极部分和所述第二触控电极部分。

例如，所述触控电极的所述第一触控电极部分与所述第二触控电极部分相对于所述检测电极的中心线轴对称。

例如，每相邻的两个所述触控电极之间设置有一个所述检测电极。

例如，每个所述触控电极的所述第一触控电极部分和所述第二触控电极部分之间设置有一个所述检测电极，所述检测电极平行于所述第一触控电极部分和所述第二触控电极部分；并且每相邻的两个所述触控电极之间设置有一个所述检测电极。

例如，所述多个触控电极为触控驱动电极或触控感应电极。

例如，所述触控基板还可以包括多条导线，每个所述触控电极的所述首端和所述尾端分别通过所述接触垫与同一条所述导线连接；或者每个所述触控电极的所述首端连接的接触垫和所述尾端连接的接触垫中的一个与一条所述导线连接，另一个悬空设置。

例如，所述触控基板为彩膜基板，所述彩膜基板包括设置于其第一表面的彩色滤光层，所述多个触控电极设置于所述彩膜基板的所述第一表面或第二表面，所述第二表面与所述第一表面相对。

本发明的至少一个实施例还提供了一种显示装置，其包括上述任一项所述的触控基板。

例如，所述显示装置还包括：阵列基板和与所述阵列基板相对设置的对置基板，所述对置基板作为所述触控基板，所述触控基板上的所述多个触控电极设置于所述对置基板的远离所述阵列基板的一侧。

本发明的至少一个实施例还提供了一种触控电极图案的检测方法，所述触控电极图案包括多个沿第一方向排列的触控电极，每个所述触控电极沿第二方向延伸，所述第二方向与所述第一方向相交；每个所述触控电极具有中端、首端和尾端，所述首端、中端和尾端依次电连接，所述首端和所述中端之间为第一触控电极部分，所述中端和所述尾端之间为第二触控电极部分；沿所述第二方向，所述中端靠近所述触控基板的第一边，所述首端和所述尾端靠近所述触控基板的第二边，并且所述首端和所述尾端各自连接一接触垫，且同一所述触控电极的首端和尾端连接的接触垫不同。所述检测方法包括：通过每个所述触控电极的所述首端和所述尾端各自连接的所述接触垫检测所述触控电极的所述第一触控电极部分和所述第二触控电极部分之间的电阻值和电容值中的至少一个。在该检测方法中，若所述电阻值在第一参考电阻范围内或者所述电容值为0，则所述触控电极未发生断路；若所述电阻值在所述第一参考电阻范围之外或者所述电容值大于0，则所述触控电极发生断路。

例如，所述检测方法还可以包括：在每个所述触控电极都未发生断路的情况下，检测相邻的所述触控电极之间的电容值和电阻值中的至少一个。在该方法中，若相邻的所述触控电极之间的所述电阻值在第二参考电阻范围内或者所述电容值为0，则相邻的所述触控电极之间发生短路。

例如，所述触控电极图案还可以包括：沿所述第一方向依次排列多个检测电极，每个所述检测电极沿所述第二方向延伸；每个所述检测电极的在所述触控基板的所述第二边的端部有接触垫，并且在所述触控基板的所述第一边的另一端被悬空设置；每个所述检测电极与至少一个所述触控电极相邻并且彼此间隔设置。

例如，每个所述触控电极的所述第一触控电极部分和所述第二触控电极部分之间设置有一个所述检测电极，所述触控电极的所述第一触控电极部分和所述第二触控电极部分与所述检测电极平行并且相对于所述检测电极的中心线轴对称。在这种情况下，所述检测方法还包括：在所述触控电极发生断路的情况下，检测所述检测电极与所述触控电极的所述第一触控电极部分之间的第一电容值，以及检测所述检测电极与所述触控电极的所述第二触控电极部分之间的第二电容值。在该方法中，若所述第一电容值小于所述第二电容值，则所述触控电极的所述第一触控电极部分发生断路；若所述第一电容值大于所述第二电容值，则所述触控电极的所述第二触控电极部分发生断路；所述第一电容值和所述第二电容值都大于0。

例如，每相邻的两个所述触控电极之间设置有一个所述检测电极；所述检测方法还包括：在所述两个触控电极中的每个都未发生断路的情况下，检测位于所述两个触控电极之间的所述检测电极与所述两个触控电极中的每个之间的电容值和电阻值中的至少一个。在该方法中，若所述检测电极与所述两个触控电极中的每个之间的所述电容值为0或所述电阻值在第三参考电阻范围内，则所述两个触控电极之间发生短路。

例如，每相邻的两个所述触控电极之间设置有一个所述检测电极；所述检测方法还包括：在所述两个触控电极中的每个都未发生断路的情况下，检测位于所述两个触控电极之间的所述检测电极与所述两个触控电极中的每个之间的电容值。在该检测方法中，若所述检测电极和与两个触控电极中的每个之间的所述电容值大于0并且在参考电容范围之外，则所述触控电极图案的膜厚被检测为异常。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅涉及本发明的一些实施例，而非对本发明的限制。

图1a为本发明实施例一提供的触控基板的剖视示意图；

图1b为图1a中区域A的放大示意图；

图1c和图1d为图1a所示的触控基板中每个触控电极与其对应的导线的连接示意图；

图1e为本发明实施例一提供的触控基板为彩膜基板时的剖视示意图；

图1f为本发明实施例一提供的触控电极图案的检测方法的流程图；

图2a为本发明实施例二提供的触控基板的剖视示意图；

图2b为图2a中区域A的放大示意图；

图2c为图2a所示的触控基板中每个触控电极与其对应的导线的连接示意图；

图2d为本发明实施例二提供的触控电极图案的检测方法的流程图；

图3a为本发明实施例三提供的触控基板的剖视示意图；

图3b为图3a中区域A的放大示意图；

图3c为本发明实施例三提供的触控电极图案的检测方法的流程图；

图4a为本发明实施例四提供的触控基板的剖视示意图；

图4b为本发明实施例四提供的触控电极图案的检测方法的流程图；

图5为本发明实施例五提供的显示装置的剖视示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例的附图，对本发明实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于所描述的本发明的实施例，本领域普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

除非另外定义，本公开使用的技术术语或者科学术语应当为本发明所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。同样，“一个”、“一”或者“该”等类似词语也不表示数量限制，而是表示存在至少一个。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。

在研究中，本申请的发明人注意到，由于触控驱动电极在阵列基板与对置基板组装成显示模组之前没有连接驱动电路(例如驱动芯片)，因而不能够发射信号，并且由于在触控驱动电极发射信号且触控感应电极感应信号之后才能够对触控感应电极的线路情况(例如是否发生断路、短路等)进行检测，因此，本领域常用的触控驱动电极与触控感应电极的设置方式在显示模组制程前不能够进行触控感应电极线路的检测，只能在显示模组组装完成后才能进行检测，这会造成偏光片、驱动芯片、柔性印刷电路板、背光源等材料的浪费。

本发明的至少一个实施例提供了一种触控基板、显示装置和触控电极图案的检测方法。对于覆盖表面式触控产品(例如HIC产品)，本发明实施例通过提供一种电容式触控电极图案，可以实现在显示模组制程之前检测出触控驱动电极或触控感应电极线路的品质，例如，实现不依靠触控驱动线路即可单独测试触控感应线路的品质，从而避免不良品最终组装成显示模组，进而可以避免模组材料的浪费。

本发明的至少一个实施例提供的触控基板包括多个沿第一方向依次排列的触控电极，每个触控电极沿第二方向延伸，第二方向与第一方向相交；每个所述触控电极具有中端、首端和尾端，所述首端、中端和尾端依次电连接，所述首端和所述中端之间为第一触控电极部分，所述中端和所述尾端之间为第二触控电极部分；沿所述第二方向，所述中端靠近所述触控基板的第一边，所述首端和所述尾端靠近所述触控基板的第二边；并且所述首端和所述尾端各自连接一接触垫，且同一所述触控电极的首端和尾端连接的接触垫不同。相应地，本发明的至少一个实施例提供的触控电极图案的检测方法包括：通过每个触控电极的首端和尾端各自连接的接触垫检测该触控电极的第一触控电极部分和第二触控电极部分之间的电阻值和电容值中的至少一个。在该检测方法中，若电阻值在第一参考电阻范围内或者电容值为0，则触控电极未发生断路；若电阻值在第一参考电阻范围之外或者电容值大于0，则触控电极发生断路。通过检测每个触控电极的第一触控电极部分和第二触控电极部分之间的电容值或电阻值中的至少一个，可以判断出该触控电极是否发生断路。

进一步地，在本发明的至少一个实施例中，触控基板还可以包括：沿所述第一方向依次排列的多个检测电极，每个所述检测电极沿所述第二方向延伸；每个所述检测电极的在所述触控基板的所述第二边的端部有接触垫，并且在所述触控基板的所述第一边的另一端被悬空设置；每个所述检测电极与至少一个所述触控电极相邻并且彼此间隔设置。相应地，本发明的至少一个实施例提供的检测方法还可以包括：检测每个触控电极和与该触控电极相邻的每个检测电极之间的电阻值和电容值中的至少一个。通过设置检测电极，可以判断出每个发生断路的触控电极的第一触控电极部分和第二触控电极部分中的哪一个发生断路；和/或，在一些实施例中，可以判断出相邻的触控电极之间是否发生短路，并且在一些情况下，还可以利用检测电极检测出触控电极的膜层厚度是否异常。

下面结合附图和具体实施例，对本发明实施例提供的触控基板、显示装置和触控电极图案的检测方法进行详细介绍。

附图中各部分的尺寸和形状不反映真实比例，目的只是示意说明本发明实施例的内容。

实施例一

本实施例提供了一种触控基板01，如图1a所示，该触控基板包括多个沿第一方向依次排列的触控电极20，每个触控电极20沿第二方向延伸，第二方向与第一方向相交；每个触控电极20具有中端20c、首端20a和尾端20b，首端20a、中端20c和尾端20b依次电连接，首端20a和中端20c之间为第一触控电极部分21，中端20c和尾端20b之间为第二触控电极部分22；沿第二方向，中端20c靠近触控基板01的第一边01a，首端20a和尾端20b靠近触控基板01的第二边01b；并且首端20a和尾端20b各自连接一接触垫(pad，输出端子)30，并且同一触控电极20的首端和尾端连接的接触垫30不同。

本实施例提供的触控基板中，每个触控电极20在多个触控电极所在面上的正投影的形状被设计成U形。在显示模组制程之前，该U形触控电极的首端20a处的接触垫和尾端20b处的接触垫彼此间隔开，从而可以单独设置引线以检测该U形触控电极的电阻值或其第一触控电极部分21和第二触控电极部分22之间的电容值，进而可检测出该U形触控电极是否发生断路。

在至少一个示例中，上述多个触控电极20可以为触控驱动电极或触控感应电极。

图1b为图1a中区域A的放大示意图。图1b中示出了两个触控电极，例如，这两个触控电极都为触控感应电极，分别标记为Rx1和Rx2。下面以图1b中的触控感应电极Rx1为例，详细介绍触控电极是否发生断路的检测过程。

在测试过程中，可以将如图1b所示的触控感应电极Rx1的首端和尾端连接的接触垫与测试装置电连接，通过检测触控感应电极Rx1的第一触控电极部分21和第二触控电极部分22之间的电阻值或电容值来检测该触控感应电极Rx1是否发生断路。

触控感应电极Rx1是否发生断路的检测原理如下：理论上，如果触控感应电极Rx1发生断路，则其第一触控电极部分21和第二触控电极部分22之间未电连接，从而二者之间的电阻值是无穷大的，并且由于二者是彼此绝缘的，因此二者之间的电容大于0；如果触控感应电极Rx1未发生断路，则其第一触控电极部分21和第二触控电极部分22之间是电连接的，从而二者之间的电容值为0，并且二者之间的电阻值是可检测出的。也就是说，若触控感应电极Rx1的第一触控电极部分21和第二触控电极部分22之间的电阻值在参考电阻范围之内或电容值为0，则触控感应电极Rx1未发生断路；若第一触控电极部分21和第二触控电极部分22之间的电阻值在参考电阻范围之外或者电容值不为0，则触控感应电极Rx1发生断路。

需要说明的是，参考电阻范围可以根据触控基板上的多个触控电极的电阻的范围确定。例如，在一定误差允许范围内，该参考电阻范围从触控基板上的多个触控电极的最小电阻值到最大电阻值。

本实施提供的触控基板，在显示模组制作完成后，例如可以将每个触控电极的两个接触垫电连接到一条导线以与触控芯片电连接，或者将一个接触垫电连接到导线以与触控芯片电连接而另一个接触垫悬空设置。

例如，如图1c所示，本实施例提供的触控基板还可以包括多条导线40，每个触控电极20(例如触控感应电极Rx1或Rx2)的首端20a和尾端20b分别通过接触垫30与同一条导线40连接。该导线40用于与触控芯片(图1c中未示出)电连接。

例如，如图1d所示，每个触控电极的首端20a和尾端20b中的一个(例如首端20a)通过接触垫30与一条导线40连接，首端20a和尾端20b中的另一个(例如尾端20b)连接的接触垫悬空设置。

当然，本实施例提供的触控基板还包括衬底基板10，该衬底基板10可以为玻璃基板、石英基板或塑料基板等。

例如，如图1e所示，本实施例的至少一个示例提供的触控基板可以为彩膜基板，该彩膜基板包括设置于其第一表面01c的彩色滤光层11(例如包括红色滤光图案R、绿色滤光图案G和蓝色滤光图案B)，触控电极20可以设置于彩膜基板的第一表面01c或第二表面01d，第二表面01d与第一表面01c相对。图1e中只是示意性标时出了彩色滤光层与触控电极相对于彩膜基板的位置，其大小、颜色及相对关系等并不作为限定，可根据实际需要进行设计。当然，本实施例提供的触控基板包括、但不限于此，其可以为设置有上述多个触控电极20的任意类型的基板。

例如，该彩膜基板与阵列基板组装成显示面板后，彩色滤光层可以位于显示面板内部，触控电极可以位于显示面板之外，即位于该彩膜基板的远离阵列基板一侧的表面上；或者，彩色滤光层和触控电极都可以位于显示面板之外。

针对本实施例提供的触控基板中的上述多个触控电极的图案，例如图1a至图1e所示的触控电极图案，本实施例还提供了一种触控电极图案的检测方法，如图1f所示，该检测方法包括：通过每个触控电极的首端和尾端各自连接的接触垫检测该触控电极的第一触控电极部分和第二触控电极部分之间的电阻值和电容值中的至少一个。若检测出的电阻值在第一参考电阻范围内或者检测出的电容值为0，则该触控电极未发生断路；若检测出的电阻值在第一参考电阻范围之外或者检测出的电容值大于0，则该触控电极发生断路。

关于每个触控电极是否发生断路的检测过程可以参考以上关于检测触控感应电极Rx1是否发生断路的描述，重复之处不再赘述。此外，第一参考电阻范围可以根据触控基板上的多个触控电极的电阻值的范围确定。例如，在一定误差允许范围内，该第一参考电阻范围可以从触控基板上的多个触控电极的最小电阻值到最大电阻值。

例如，如图1f所示，本实施例的至少一个示例提供的检测方法还可以包括：在每个触控电极都未发生断路的情况下，检测相邻的触控电极之间的电容值和电阻值之间的至少一个。若该相邻的触控电极之间的电阻值在第二参考电阻范围内或者电容值为0，则该相邻的触控电极之间发生短路。

以图1b中的触控感应电极Rx1和Rx2为例，在这两个触控感应电极都未发生断路的情形下，如果这两个触控感应电极之间发生短路，则这两个触控感应电极之间的电容值为0，并且这两个触控感应电极之间的电阻值是可检测的。因此，通过检测这两个触控感应电极之间的电容值或电阻值即可判断出这两个电极之间是否发生短路。

需要说明的是，触控感应电极Rx1和Rx2之间的电阻值可以为触控感应电极Rx1的第一触控电极部分或第二触控电极部分与触控感应电极Rx2的第一触控电极部分或第二触控电极部分之间的电阻值。类似地，可以根据触控基板上的多个触控电极中每相邻的两个触控电极之间的电阻值确定出上述第二参考电阻范围。

实施例二

与实施例一相比，本实施例提供的触控基板01除了包括多个触控电极20外，如图2a所示，还可以包括：沿第一方向依次排列的多个检测电极50，每个检测电极50沿第二方向延伸；每个检测电极50的在触控基板01的第二边01b的端部50b设置有接触垫30'，并且在触控基板01的第一边01a的另一端50a被悬空设置；每个检测电极50与至少一个触控电极20相邻并且彼此间隔设置。每个触控电极20的第一触控电极部分21和第二触控电极部分22之间设置有一个检测电极50，并且该检测电极50平行于第一触控部分21和第二触控部分22。

例如，上述多个检测电极50与上述多个触控电极20可以同层设置。

在检测电极50与触控电极20同层设置的情况下，可以根据触控基板的实际尺寸设计检测电极50与触控电极20之间的距离以及每个检测电极50的宽度，以避免检测电极50与触控电极20之间发生短路以及避免检测电极50的尺寸太大占据较大的触控基板的空间。例如，每个检测电极50和与其相邻的触控电极20之间的距离可以为10μm-100μm。例如，每个检测电极的沿第一方向的宽度可以为10μm-100μm。

在本实施例中，每个触控电极20设置为部分包围一个检测电极50，并且该检测电极50平行于该第一触控部分和该第二触控电极部分。这样设置，可以通过检测该触控电极的第一触控电极部分和第二触控电极部分与该检测电极50之间的电容值来判断该触控电极的第一触控电极部分和第二触控电极部分中的哪一个发生断路。

为便于比较每个触控电极的第一触控电极部分和第二触控电极部分与检测电极之间的电容值的大小，例如，可以将触控电极的第一触控电极部分和第二触控电极部分设置为相对于该检测电极的中心线轴对称。

下面具体介绍利用检测电极判断触控电极的第一触控电极部分和第二触控电极部分中的哪一个发生断路的原理。

例如，如图2b所示，触控感应电极Rx1与一个检测电极51相邻，触控感应电极Rx1的第一触控电极部分21和第二触控电极部分22都与检测电极51平行且相对于检测电极51的中心线51a轴对称。

通过将检测装置与触控感应电极Rx1和检测电极51的接触垫电连接，可以检测出触控感应电极Rx1的第一触控电极部分21与检测电极51之间的第一电容值C1、以及触控感应电极Rx1的第二触控电极部分22与检测电极51之间的第二电容值C2。在触控感应电极Rx1的第一触控电极部分21与第二触控电极部分22相对于检测电极51的中心线51a轴对称的情况下，电容值C1和C2分别主要取决于触控感应电极Rx1的第一触控电极部分21和第二触控电极部分22的长度。因此，要比较电容值C1和C2的大小关系，只要比较第一触控电极部分21和第二触控电极部分22的长度关系即可。

例如，若C1＞C2＞0，则触控感应电极Rx1的第一触控电极部分的长度21大于第二触控电极部分22的长度，第二触控电极部分22发生断路；若0＜C1＜C2，则触控感应电极Rx1的第一触控电极部分21的长度小于第二触控电极部分22的长度，第一触控电极部分21处发生断路。在该实施例中，C1和C2都大于0，也就是说，检测电极51与触控感应电极Rx1的任一部分都彼此绝缘层。

类似地，可以利用检测电极52检测出触控感应电极Rx2发生断路时其第一触控电极部分和第二触控电极部分中的哪一个发生断路。

例如，如图2c所示，本实施例提供的触控基板还可以包括多条导线40，每个触控电极20(例如触控感应电极Rx1或Rx2)的首端20a和尾端20b分别通过接触垫30与同一条导线40连接。该导线40用于与触控芯片(图2c中未示出)电连接。每个检测电极(例如检测电极51和52)的位于触控基板01的第一边01a的端部悬空设置，其位于触控基板01的第二边01b的端部与接触垫30'的一端电连接，该接触垫30'的另一端悬空。

针对本实施例提供的触控基板中的上述多个触控电极的图案，例如图2a至图2c所示的触控电极图案，也就是说，每个触控电极的第一触控电极部分和第二触控电极部分之间设置有一个检测电极，并且该触控电极的第一触控电极部分和第二触控电极部分与该检测电极平行并且相对于该检测电极的中心线轴对称，本实施例还提供了一种触控电极图案的检测方法，如图2d所示，该检测方法在实施例一提供的检测方法的基础上还可以包括：在触控电极发生断路的情况下，检测位于该触控电极的第一触控电极部分和第二触控电极部分之间的检测电极与该第一触控电极部分之间的第一电容值，以及检测该检测电极与该第二触控电极部分之间的第二电容值。在该方法中，若第一电容值小于第二电容值，则该触控电极的第一触控电极部分发生断路；若第一电容值大于第二电容值，则该触控电极的第二触控电极部分发生断路。当然，第一电容值和第二电容值都不为0。

需要说明的是，本实施例以每个触控电极的第一触控电极部分和第二触控电极部分之间设置有一个检测电极为例进行说明，这样可以针对每个触控电极检测出其第一触控电极部分和第二触控电极部分中的哪一个发生断路。本实施例包括但不限于此。例如，根据实际需要，也可以仅针对部分触控电极设置检测电极以检测这部分触控电极中的每个的第一、二触控电极部分中的哪一个发生断路。

实施例三

本实施例提供的触控基板与实施例二提供的触控基板相比，其区别在于：如图3a和图3b所示，每相邻的两个触控电极20之间设置有一个检测电极50。这样，在相邻的两个触控电极都未发生断路的情况下，可以通过检测这两个触控电极20与设置于其间的检测电极50之间的电容值或电阻值来判断这两个触控电极20之间是否发生短路。

例如，如图3b所示，在触控感应电极Rx1和Rx2都未发生断路的情形下，若这两个触控感应电极之间发生短路，则位于二者之间的检测电极51与这两个触控感应电极中的任一个之间也发生短路，从而该检测电极51与任一触控感应电极之间的电容值为0或电阻值是可检测的，由此可以判断出这两个相邻的触控感应电极之间是否发生短路。

此外，在相邻的两个触控电极都未发生断路的情况下，若位于这两个触控电极之间的检测电极与每个触控电极之间的电容值都大于0并且在参考电容范围之外，则触控电极的膜厚被检测为异常。

以图3b中的触控感应电极Rx1和检测电极51为例，在触控感应电极Rx1未发生断路的情况下，若触控感应电极Rx1与检测电极51之间的电容值大于0，则说明二者之间未发生短路，并且若该电容值在参考电容范围(即二者之间的正常电容范围)之外，则说明触控电极的膜层厚度对该电容值造成了影响，从而可以判断出触控电极的膜厚异常。

上述参考电容范围可以根据正常情况下的触控基板上的每个检测电极和与其相邻的每个触控电极之间的电容值确定。此处不做赘述。

通常，在制作触控基板上的多个触控电极的过程中，在每相邻的两个触控电极之间可制作一个孤立的图案，该孤立的图案与触控电极的形状一致，但不与任何其它部件电连接，这样可以降低触控电极的可视性。本实施例提供的触控基板中的检测电极可以利用该孤立图案形成，例如，将该孤立图案的一部分的端部与接触垫电连接，从而该部分可以作为检测电极。

针对本实施例提供的触控基板中的上述多个触控电极的图案，例如图3a和图3b所示的触控电极图案，本实施例还提供了一种触控电极图案的检测方法，如图3c所示，该检测方法在实施例一或实施例二提供的检测方法的基础上还可以包括：在相邻的两个触控电极都未发生断路的情况下，检测位于这两个触控电极之间的检测电极和每个触控电极之间的电容值或电阻值。

在至少一个示例中，若检测出的电容值为0或电阻值在第三参考电阻范围内，则这两个触控电极之间发生短路。

以图3b中的触控感应电极Rx1和检测电极51为例，二者之间的电阻值可以为触控感应电极Rx1与检测电极51之间发生短路时触控感应电极Rx1的第一触控电极部分21或第二触控电极部分22与检测电极51之间的电阻值。类似地，可以根据触控基板上的每个检测电极和与该检测电极相邻的每个触控电极之间的电阻值确定出上述第三参考电阻范围。

在至少一个示例中，若检测出的电容值大于0并且在参考电容范围之外，则触控电极图案的膜厚被检测为异常。

上述参考电容范围可以根据正常情况下的触控基板上的每个检测电极和与其相邻的每个触控电极之间的电容值确定。此处不做赘述。

需要说明的是，本实施例以每相邻的两个触控电极之间设置有一个检测电极为例进行说明，这样可以检测出每个触控电极是否与其它触控电极之间发生短路。本实施例包括但不限于此。例如，根据实际需要，也可以仅针对部分触控电极设置检测电极以检测这部分触控电极是否发生短路。

实施例四

本实施例提供的触控基板结合上述实施例二和实施例三的方案，可以实现检测每个发生断路的触控电极的第一触控电极部分和第二触控电极部分中的哪一个发生断路；在触控电极未发生断路的情况下，也可以实现利用检测电极检测相邻的触控电极之间是否发生短路以及触控电极图案的膜厚是否异常。

例如，如图4a所示，每个触控电极(例如触控感应电极Rx1、Rx2、……)的第一触控电极部分和第二触控电极部分之间设置有一个检测电极(例如检测电极S1、S3、……)，该检测电极平行于该触控电极的第一触控电极部分和第二触控电极部分，并且每相邻的两个触控电极(例如触控感应电极Rx1、Rx2、……)之间设置有一个检测电极(例如检测电极S0、S2、S4、……)。

本实施例提供的触控基板中的多个触控电极的检测过程可以参考实施例一至实施例三中的相关描述。重复之处不再赘述。

针对本实施例提供的触控基板中的上述多个触控电极的图案，例如图4a所示的触控电极图案，如图4b所示，该检测方法在实施例一提供的检测方法的基础上还可以包括：在触控电极发生断路的情况下，检测位于该触控电极的第一触控电极部分和第二触控电极部分之间的检测电极与该触控电极的第一触控电极部分之间的第一电容值，以及检测该检测电极与该触控电极的第二触控电极部分之间的第二电容值；并且，在相邻的两个触控电极都未发生断路的情况下，检测位于这两个触控电极之间的检测电极和这两个触控电极中的每个之间的电容值或电阻值。

在该检测方法中，若第一电容值小于第二电容值，则该触控电极的第一触控电极部分发生断路；若第一电容值大于第二电容值，则该触控电极的第二触控电极部分发生断路。当然，第一电容值和第二电容值都不为0。

并且，若检测出的电容值为0或电阻值在第三参考电阻范围内，则这两个触控电极之间发生短路。或者，若检测出的电容值大于0并且在参考电容范围之外，则触控电极图案的膜厚被检测为异常。

本实施例提供的检测方法可以参考实施例一至实施例三中的相关描述，重复之处不再赘述。

实施例五

本实施例还提供了一种显示装置，该显示装置包括上述任一实施例提供的触控基板。

例如，如图5所示，该显示装置可以包括相对设置的阵列基板1和对置基板2，对置基板2可以作为上述任一实施例提供的触控基板，上述任一实施例提供的触控基板中的多个触控电极设置于对置基板2的远离阵列基板1的一侧。

例如，在对置基板2与阵列基板1之间(例如在阵列基板1上)可以设置有第一触控电极1a，在对置基板2的远离阵列基板1一侧的表面上可以设置有第二触控电极2a，第二触控电极2a可以作为上述任一实施例中的触控电极，如图5所示。或者，对置基板2的远离阵列基板1的一侧的表面上可以设置有第一触控电极和第二触控电极，第一触控电极和第二触控电极中的任一个都可以作为上述任一实施例中的触控电极。第一触控电极和第二触控电极中的一个为触控驱动电极，另一个为触控感应电极。

例如，对置基板2可以为彩膜基板，即对置基板2上设置有例如包括红色滤光图案R、绿色滤光图案G和蓝色滤光图案B的彩色滤光层；或者，对置基板2也可以为透明基板，即其上不设置彩色滤光层。

此外，在一些实施例中，如图5所示，位于对置基板2的远离阵列基板1一侧还可以设置保护基板5(例如玻璃基板)。在一些实施例中，阵列基板1上还可以设置有触控芯片1b。

综上所述，本发明的至少一个实施例提供的触控基板、显示装置和触控电极图案的检测方法，通过将触控电极的形状设置为U形，并且使每个触控电极的首端和尾端分别连接不同的接触垫，可以实现在显示模组制程之前检测每个触控电极是否发生断路。通过在触控电极的第一触控电极部分和第二触控电极部分之间设置检测电极可以检测出这两部分中的哪一个发生断路。通过在相邻的触控电极之间设置检测电极并检测该相邻的触控电极分别与该检测电极之间的电容值和电阻值，可以判断出相邻的触控电极之间是否发生短路。在触控电极未发生断路和短路的情况下，通过检测相邻的触控电极分别与位于其间的检测电极之间的电容值，还可以判断出触控电极图案的膜厚是否异常。

以上所述仅是本发明的示范性实施方式，而非用于限制本发明的保护范围，本发明的保护范围由所附的权利要求确定。

Claims (17)

1.一种触控基板，包括：

多个沿第一方向依次排列的触控电极，其中，每个所述触控电极沿第二方向延伸，所述第二方向与所述第一方向相交；每个所述触控电极具有中端、首端和尾端，所述首端、中端和尾端依次电连接，所述首端和所述中端之间为第一触控电极部分，所述中端和所述尾端之间为第二触控电极部分；沿所述第二方向，所述中端靠近所述触控基板的第一边，所述首端和所述尾端靠近所述触控基板的第二边；并且所述首端和所述尾端各自连接一接触垫，且同一所述触控电极的首端和尾端连接的接触垫不同；以及

沿所述第一方向依次排列的多个检测电极，其中，每个所述检测电极沿所述第二方向延伸；每个所述检测电极的在所述触控基板的所述第二边的端部有接触垫，并且在所述触控基板的所述第一边的另一端被悬空设置；

其中，每个所述检测电极与至少一个所述触控电极相邻并且彼此间隔设置。

2.根据权利要求1所述的触控基板，其中，所述多个检测电极与多个所述触控电极同层设置。

3.根据权利要求1所述的触控基板，其中，

每个所述触控电极的所述第一触控电极部分和所述第二触控电极部分之间设置有一个所述检测电极，并且所述检测电极平行于所述第一触控电极部分和所述第二触控电极部分。

4.根据权利要求3所述的触控基板，其中，

所述触控电极的所述第一触控电极部分与所述第二触控电极部分相对于所述检测电极的中心线轴对称。

5.根据权利要求1所述的触控基板，其中，每相邻的两个所述触控电极之间设置有一个所述检测电极。

6.根据权利要求1所述的触控基板，其中，每个所述触控电极的所述第一触控电极部分和所述第二触控电极部分之间设置有一个所述检测电极，所述检测电极平行于所述第一触控电极部分和所述第二触控电极部分；并且每相邻的两个所述触控电极之间设置有一个所述检测电极。

7.根据权利要求1-6任一项所述的触控基板，其中，多个所述触控电极为触控驱动电极或触控感应电极。

8.根据权利要求1-6任一项所述的触控基板，还包括多条导线，其中，

每个所述触控电极的所述首端和所述尾端分别通过所述接触垫与同一条所述导线连接；或者

每个所述触控电极的所述首端连接的接触垫和所述尾端连接的接触垫中的一个与一条所述导线连接，另一个悬空设置。

9.根据权利要求1-6任一项所述的触控基板，其中，所述触控基板为彩膜基板，所述彩膜基板包括设置于其第一表面上的彩色滤光层，多个所述触控电极设置于所述彩膜基板的所述第一表面或第二表面上，所述第二表面与所述第一表面相对。

10.一种显示装置，包括根据权利要求1-8任一项所述的触控基板。

11.根据权利要求10所述的显示装置，还包括：阵列基板和与所述阵列基板相对设置的对置基板，其中，所述对置基板作为所述触控基板，所述触控基板上的多个所述触控电极设置于所述对置基板的远离所述阵列基板的一侧。

12.一种触控电极图案的检测方法，其中，所述触控电极图案包括多个沿第一方向排列的触控电极，每个所述触控电极沿第二方向延伸，所述第二方向与所述第一方向相交；每个所述触控电极具有中端、首端和尾端，所述首端、中端和尾端依次电连接，所述首端和所述中端之间为第一触控电极部分，所述中端和所述尾端之间为第二触控电极部分；沿所述第二方向，所述中端靠近所述触控基板的第一边，所述首端和所述尾端靠近所述触控基板的第二边，并且所述首端和所述尾端各自连接一接触垫，且同一所述触控电极的首端和尾端连接的接触垫不同；

所述检测方法包括：

通过每个所述触控电极的所述首端和所述尾端各自连接的所述接触垫检测所述触控电极的所述第一触控电极部分和所述第二触控电极部分之间的电阻值和电容值中的至少一个，其中，

若所述电阻值在第一参考电阻范围内或者所述电容值为0，则所述触控电极未发生断路；

若所述电阻值在所述第一参考电阻范围之外或者所述电容值大于0，则所述触控电极发生断路。

13.根据权利要求12所述的检测方法，还包括：在每个所述触控电极都未发生断路的情况下，检测相邻的所述触控电极之间的电容值和电阻值中的至少一个；

若相邻的所述触控电极之间的所述电阻值在第二参考电阻范围内或者所述电容值为0，则相邻的所述触控电极之间发生短路。

14.根据权利要求12或13所述的检测方法，其中，所述触控电极图案还包括：沿所述第一方向依次排列多个检测电极，每个所述检测电极沿所述第二方向延伸；每个所述检测电极的在所述触控基板的所述第二边的端部有接触垫，并且在所述触控基板的所述第一边的另一端被悬空设置；

每个所述检测电极与至少一个所述触控电极相邻并且彼此间隔设置。

15.根据权利要求14所述的检测方法，其中，每个所述触控电极的所述第一触控电极部分和所述第二触控电极部分之间设置有一个所述检测电极，所述触控电极的所述第一触控电极部分和所述第二触控电极部分与所述检测电极平行并且相对于所述检测电极的中心线轴对称；

所述检测方法还包括：

在所述触控电极发生断路的情况下，检测所述检测电极与所述触控电极的所述第一触控电极部分之间的第一电容值，以及检测所述检测电极与所述触控电极的所述第二触控电极部分之间的第二电容值，其中，

若所述第一电容值小于所述第二电容值，则所述触控电极的所述第一触控电极部分发生断路；

若所述第一电容值大于所述第二电容值，则所述触控电极的所述第二触控电极部分发生断路；

其中，所述第一电容值和所述第二电容值都大于0。

16.根据权利要求14所述的检测方法，其中，每相邻的两个触控电极之间设置有一个所述检测电极；

所述检测方法还包括：

在所述两个触控电极中的每个都未发生断路的情况下，检测位于所述两个触控电极之间的所述检测电极与所述两个触控电极中的每个之间的电容值和电阻值中的至少一个，其中，若所述检测电极与所述两个触控电极中的每个之间的所述电容值为0或所述电阻值在第三参考电阻范围内，则所述两个触控电极之间发生短路。

17.根据权利要求14所述的检测方法，其中，每相邻的两个触控电极之间设置有一个所述检测电极；

所述检测方法还包括：

在所述两个触控电极中的每个都未发生断路的情况下，检测位于所述两个触控电极之间的所述检测电极与所述两个触控电极中的每个之间的电容值，其中，

若所述检测电极和与两个触控电极中的每个之间的所述电容值大于0并且在参考电容范围之外，则所述触控电极图案的膜厚被检测为异常。