CN108108057B - 一种触控基板 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种触控基板，用以解决现有技术中存在不能精确的定位裂纹发生的位置的问题。本发明实施例中，首先测量检测走线两端的电阻，若检测走线的电阻小于设定值，确定检测走线正常；若检测走线的电阻大于设定值，确定检测走线发生断裂。然后向检测引脚和与触控电极连接的引脚发射脉冲信号，通过测量与触控电极信号走线连接的引脚和检测引脚，得到检测走线与触控电极间的感应电容，根据感应电容值确定断裂的位置。若检测引脚和触控电极连接的引脚间的感应电容是设定值，确定该检测走线位置处发生断裂，反之，确定该检测走线位置处正常。这种方式能够有效的检出封装断裂的具体位置，提高了工作效率。

Description

一种触控基板
技术领域
本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种触控基板。
背景技术
OLED(Organic light-emitting diodes，有机发光二极管)器件因具有自发光、响应速度快、驱动电压低、对比度高、广色域、发光效率高等显著优点而被广泛应用在手机屏幕、电脑显示器等领域，尤其是柔性OLED显示装置具有可弯折易携带的特点，成为显示技术领域研究和开发的主要方向。
目前制约柔性OLED器件发展的最大问题是OLED器件的寿命较短，其主要原因是构成OLED器件的电极层和发光层材料对大气中的水汽及氧气非常敏感，受到水氧侵蚀后造成器件性能衰弱。目前常见的TFE(Thin Film Encapsulation，薄膜封装)封装结构为，无机材料+有机材料+无机材料的膜层结构，将EL(Electroluminescence，冷光片)发光材料封装在器件内部，以达到阻水、阻氧目的，进而对EL材料提供了保护。对于封装裂纹的检测极为重要，在出货前能有效检出封装边缘裂纹有利于提升产品品质，降低成本。目前常用的边缘检测方法是在显示器件边缘制作外围走线(PCD)，当裂纹发生时，金属走线会发生断裂，通过测量两端电阻来确定是否有裂纹发生。
综上，上述通过检测金属走线两端电阻来确定裂纹是否发生的方式只能检测器件是否有裂纹产生，但是并不能精确的定位裂纹发生的位置。
发明内容
本发明提供一种触控基板，用以解决现有技术中存在不能精确的定位裂纹发生的位置的问题。
本发明实施例提供一种触控基板，该触控基板包括：
衬底基板，所述衬底基板具有周边走线区域以及引脚区域；
位于所述衬底基板上的多个第一触控电极；位于所述衬底基板上且与所述第一触控电极交叉分布且绝缘的多个第二触控电极；以及
检测走线，所述检测走线的两端均位于所述引脚区域内形成检测引脚，所述检测走线具有沿所述周边走线区域的延伸方向分布的多个弯折部分，每一个所述弯折部分具有与一个第一触控电极配合形成第一感应电容的第一触控电极感应部，且用于与一个第二触控电极配合形成第二感应电容的第二触控电极感应部。
优选地，该触控基板还包括：
设置于所述第一触控电极与第二触控电极之间的第一绝缘层。
优选地，所述第一触控电极与第一信号走线位于同一层。
优选地，所述第二触控电极、第二信号走线与检测走线位于同一层。
优选地，该触控基板还包括：
设置于所述第二触控电极、第二信号走线与检测走线层上的第二绝缘层。
优选地，所述第一触控电极和第二触控电极的端部形成间隙，且所述检测走线具有的弯折部的一部分伸入至所述间隙内。
优选地，每一个所述第一触控电极是由复数个菱形电极块互相电连接；每一个所述第二触控电极是由复数个菱形电极块互相电连接；每一个所述第二触控电极在所述衬底基板上正投影的端部与对应位置的第一触控电极在衬底基板的正投影之间存在所述间隙。
优选地，每一个所述第一触控电极为条形，每一个所述第二触控电极为条形。
优选地，所述检测走线具有的弯折部分与所述间隙一一对应，每一对相互对应的弯折部分与间隙中，所述弯折部分的端部伸入至所述间隙内。
本发明还提供一种触控基板显示装置，包括上述技术方案中提供的任意一种触控基板。
本发明实施例提供一种触控基板的制备方法，包括步骤：
在衬底基板上形成第一触控电极和第一信号走线，所述第一触控电极与所述第一信号走线一一对应，且每一条所述第一信号走线的一端与所述第一触控电极电连接，另一端位于所述衬底基板的引脚区域内形成第一引脚；
在所述第一触控电极和所述第一信号走线上形成绝缘层；
在绝缘层上形成第二触控电极、第二信号走线和检测走线，所述第二触控电极与所述第二信号走线一一对应，且每一条所述第二信号走线的一端与所述第二触控电极电连接，另一端位于所述衬底基板的引脚区域内形成第二引脚，所述检测走线具有沿所述衬底基板的周边走线区域的延伸方向分布的多个弯折部分，每一个所述弯折部分具有与一个第一触控电极配合形成第一感应电容的第一触控电极感应部，且用于与一个第二触控电极配合形成第二感应电容的第二触控电极感应部。
本发明实施例提供一种触控基板，该触控基板包括衬底基板，形成于衬底基板上的第一触控电极和与第一触控电极一一对应的第一信号走线，并且每一第一信号走线一端与触控电极连接，另一端与第一引脚连接；形成于衬底基板上的第二触控电极和与第二触控电极一一对应的第二信号走线，还有检测走线，检测走线两端分别与检测引脚连接，每一第二信号走线一端与触控电极连接，另一端与第二引脚连接；其中第一触控电极与第二触控电极之间含有一层绝缘层以保证第一触控电极与第二触控电极彼此绝缘。
本发明实施例中，首先通过检测引脚测量检测走线两端的电阻，如果检测走线的电阻小于某一设定值，确定检测走线正常，未断裂；如果检测走线的电阻大于某一设定值，确定检测走线发生断裂。然后为了确定断裂的具体位置，需要测量检测走线与触控电极之间的感应电容，具体操作为：向检测引脚和与触控电极连接的引脚发射脉冲信号，通过测量与触控电极信号走线连接的引脚和检测引脚，得到检测走线与触控电极之间的感应电容，根据感应电容值确定断裂的位置。如果检测引脚和触控电极连接的引脚之间的感应电容是某一设定值，确定该检测走线位置处发生断裂，反之，如果检测引脚和触控电极连接的引脚之间的感应电容不是某一设定值，确定该检测走线位置处正常。这种方式能够有效的检出封装断裂的具体位置，提高了工作效率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简要介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的检测电路的检测走线的布线方式；
图2为本发明实施例器件的触控基板的左端界面图；
图3为本发明实施例器件的触控基板的右端截面图；
图4为本发明实施例器件顶端截面图；
图5为本法明实施例完成第一层触控电极后的结构示意图；
图6为本发明实施例中触控电极为条形时检测走线的结构示意图；
图7为本发明实施例中一种触控基板的制备方法。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明作进一步地详细描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部份实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。
如图1所示，本发明实施例提供一种触控基板，该触控基板包括：
衬底基板10，所述衬底基板10具有周边走线区域11以及引脚区域12；
位于所述衬底基板上的多个第一触控电极13、位于所述衬底基板10上且与所述第一触控电极13交叉分布且绝缘的多个第二触控电极14；以及
检测走线15，所述检测走线15的两端均位于所述引脚区域内形成检测引脚18，所述检测走线15具有沿所述周边走线区域的延伸方向分布的多个弯折部分21，每一个所述弯折部分具有与一个第一触控电极13配合形成第一感应电容的第一触控电极感应部22，且用于与一个第二触控电极14配合形成第二感应电容的第二触控电极感应部23。
本发明实施例中，首先通过检测引脚测量检测走线两端的电阻，如果检测走线的电阻小于某一设定值，确定检测走线正常，未断裂；如果检测走线的电阻大于某一设定值，确定检测走线发生断裂。然后为了确定断裂的具体位置，需要测量检测走线与触控电极之间的感应电容，具体操作为：向检测引脚和与触控电极连接的引脚发射脉冲信号，通过测量与触控电极连接信号走线连接的引脚和检测引脚，得到检测走线与触控电极之间的感应电容，根据感应电容值确定断裂的位置。如果检测引脚和触控电极连接的引脚之间的感应电容是某一设定值，确定该检测走线位置处发生断裂，反之，如果检测引脚和触控电极连接的引脚之间的感应电容不是某一设定值，确定该检测走线位置处正常。这种方式能够有效的检出封装断裂的具体位置，提高了工作效率。
可选的，该触控基板还包括：
设置于所述第一触控电极13与第二触控电极14之间的第一绝缘层30。第一触控电极13与第二触控电极14之间还设有一层绝缘层30，以此达到第一触控电极与第二触控电极14之间的绝缘。
实践中，如果第一触控电极13与第二触控电极14处于同一层，那么第一触控电极13与第二触控电极14之间的连接可以通过过桥连接实现。
可选的，由图2、图3、图4可见，其中，图2为本发明实施例器件的触控基板的左端界面图；图3为本发明实施例器件的触控基板的右端截面图；图4为本发明实施例器件顶端截面图；该触控基板还包括：
设置于所述第二触控电极14、第二信号走线17与检测走线15层上的第二绝缘层。第二触控电极14、第二信号走线17与检测走线15层上也设有一层绝缘层30，主要是为了防止器件与空气接触，提高器件的寿命。
可选的，所述第一触控电极13与第一信号走线16位于同一层。
如图5所示，为本法明实施例完成第一层触控电极13后的结构示意图，图中可见第一触控电极13、第一信号走线16与第一引脚19都处于同一层。
第一触控电极13与第一信号走线16位于同一层，可以减小触控基板的厚度，便于第一触控电极13与第一信号走线16之间的电连接。
可选的，所述第二触控电极14、第二信号走线17与检测走线15位于同一层。
如图1所示，为本发明实施例完成第二层触控电极后的结构示意图，图中可见第二触控电极14、第二信号走线17、检测走线15与第二引脚20位于同一层。
上述，第二触控电极14与第一信号走线17位于同一层，便于第二触控电极14与第二信号走线17之间的电连接。
检测走线15与第二触控电极14和第二信号走线17处于同一层实现了检测走线15与第一信号走线17的绝缘；
如果检测走线与第一触控电极13和第一次信号走线16同层，那么当检测走线15的弯折部位21伸入至第一触控电极13与第二触控电极14之间的间隙处时，不便于实现检测走线15与第一信号走线16之间的绝缘，因此，将检测走线15与第二触控电极14、第二信号走线17同层制备时，如图1所示，便于实现检测走线15与第一信号走线16以及第二信号走线17之间的相互绝缘，简化触控基板的制备工艺。
可选的，所述第一触控电极13和第二触控电极14的端部形成间隙，且所述检测走线15具有的弯折部的一部分伸入至所述间隙内。
可选的，每一个所述第一触控电极13是由复数个菱形电极块互相电连接；每一个所述第二触控电极14是由复数个菱形电极块互相电连接；每一个所述第二触控电极14在所述衬底基板10上正投影的端部与对应位置的第一触控电极13在衬底基板10的正投影之间存在所述间隙。
可选的，所述检测走线15具有的弯折部分21与所述间隙一一对应，每一对相互对应的弯折部分与间隙中，所述弯折部分21的端部伸入至所述间隙内。
其中，检测走线的弯折部分21和所述间隙一一对应主要是为了提高精度。
情况一，触控电极为菱形电极块时，如图1为本发明实施例实现器件触控基板的断裂位置检测的布线方式：
图中可见位于任意相邻两个第二触控电极14之间的第一触控电极13在衬底基板10上的正投影为菱形；位于任意相邻两个第一触控电极13之间的第二触控电极14在衬底基板10上的正投影为菱形；
并且第一触控电极13与第二触控电极14之间形成间隙，检测走线15的一部分伸入至间隙内；
其中第一触控电极感应部22与第一触控电极13之间形成感应电容，第二触控电极感应部23与第二触控电极14之间形成感应电容，用于确定器件断裂发生的具体位置。
可选的，所述检测走线具有的弯折部分与所述间隙一一对应，每一对相互对应的弯折部分与间隙中，所述弯折部分的端部伸入至所述间隙内。
如图1所示，每一个检测走线的弯折部分与第一触控电极13与第二触控电极14之间的间隙是一一对应的关系。
即，一个检测走线的弯折部分21对应一个第一触控电极13与第二触控电极14之间的间隙。这么做的好处在于可以更精确的确定器件断裂发生的位置。
上述，检测走线的弯折部分21和第一触控电极13与第二触控电极14之间的间隙是一一对应的关系主要是为了提高精度。
另外一种情况，如果触控电极本身是条形，那么：
可选的，每一个所述第一触控电极13为条形，每一个所述第二触控电极14为条形。
可选的，所述检测走线15具有的弯折部分21与所述间隙一一对应，每一对相互对应的弯折部分与间隙中，所述弯折部分21的端部伸入至所述间隙内。
上述，检测走线的弯折部分21和所述间隙一一对应主要是为了提高精度。
如图6所示，为本发明实施例中触控电极为条形时检测走线15的结构示意图：
图中可见，虚线框中表示弯折部分21伸入第一触控电极13与第二触控电极14之间的间隙，并且弯折部分21与第一触控电极13与第二触控电极14之间的间隙是一一对应的关系，也就是说，一个弯折部分对应一个第一触控电极13与第二触控电极14之间的间隙。
可选的，本发明实施例还提供一种触控基板显示装置，包括上述具体实施方式中提供的任一所述的触控基板。
基于上述结构，本发明实施例提供一种触控基板的制备方法，如图7所示，该方法包括以下步骤：
步骤S700、在衬底基板上形成第一触控电极和第一信号走线，所述第一触控电极与所述第一信号走线一一对应，且每一条所述第一信号走线的一端与所述第一触控电极电连接，另一端位于所述衬底基板的引脚区域内形成第一引脚；
步骤S701、在所述第一触控电极和所述第一信号走线上形成绝缘层；
步骤S702、在绝缘层上形成第二触控电极、第二信号走线和检测走线，所述第二触控电极与所述第二信号走线一一对应，且每一条所述第二信号走线的一端与所述第二触控电极电连接，另一端位于所述衬底基板的引脚区域内形成第二引脚，所述检测走线具有沿所述衬底基板的周边走线区域的延伸方向分布的多个弯折部分，每一个所述弯折部分具有与一个第一触控电极配合形成第一感应电容的第一触控电极感应部，且用于与一个第二触控电极配合形成第二感应电容的第二触控电极感应部。
以上参照示出根据本申请实施例的方法、装置(系统)和/或计算机程序产品的框图和/或流程图描述本申请。应理解，可以通过计算机程序指令来实现框图和/或流程图示图的一个块以及框图和/或流程图示图的块的组合。可以将这些计算机程序指令提供给通用计算机、专用计算机的处理器和/或其它可编程数据处理装置，以产生机器，使得经由计算机处理器和/或其它可编程数据处理装置执行的指令创建用于实现框图和/或流程图块中所指定的功能/动作的方法。
相应地，还可以用硬件和/或软件(包括固件、驻留软件、微码等)来实施本申请。更进一步地，本申请可以采取计算机可使用或计算机可读存储介质上的计算机程序产品的形式，其具有在介质中实现的计算机可使用或计算机可读程序代码，以由指令执行系统来使用或结合指令执行系统而使用。在本申请上下文中，计算机可使用或计算机可读介质可以是任意介质，其可以包含、存储、通信、传输、或传送程序，以由指令执行系统、装置或设备使用，或结合指令执行系统、装置或设备使用。
显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (9)

1.一种触控基板，其特征在于，该触控基板包括：
衬底基板，所述衬底基板具有周边走线区域以及引脚区域；
位于所述衬底基板上的多个第一触控电极；位于所述衬底基板上且与所述第一触控电极交叉分布且绝缘的多个第二触控电极；以及
检测走线，所述检测走线的两端均位于所述引脚区域内形成检测引脚，所述检测走线具有沿所述周边走线区域的延伸方向分布的多个弯折部分，每一个所述弯折部分具有与一个第一触控电极配合形成第一感应电容的第一触控电极感应部，且用于与一个第二触控电极配合形成第二感应电容的第二触控电极感应部；
所述第一触控电极和第二触控电极的端部形成间隙，且所述检测走线具有的弯折部的一部分伸入至所述间隙内。
2.如权利要求1所述的触控基板，其特征在于，该触控基板还包括：
设置于所述第一触控电极与第二触控电极之间的第一绝缘层。
3.如权利要求1所述的触控基板，其特征在于，所述第一触控电极与第一信号走线位于同一层。
4.如权利要求1所述的触控基板，其特征在于，所述第二触控电极、第二信号走线与检测走线位于同一层。
5.如权利要求1所述的触控基板，其特征在于，该触控基板还包括：
设置于所述第二触控电极、第二信号走线与检测走线层上的第二绝缘层。
6.如权利要求1所述的触控基板，其特征在于，每一个所述第一触控电极是由复数个菱形电极块互相电连接；每一个所述第二触控电极是由复数个菱形电极块互相电连接；每一个所述第二触控电极在所述衬底基板上正投影的端部与对应位置的第一触控电极在衬底基板的正投影之间存在所述间隙。
7.如权利要求1所述的触控基板，其特征在于，每一个所述第一触控电极为条形，每一个所述第二触控电极为条形。
8.如权利要求6或7所述的触控基板，其特征在于，所述检测走线具有的弯折部分与所述间隙一一对应，每一对相互对应的弯折部分与间隙中，所述弯折部分的端部伸入至所述间隙内。
9.一种触控基板显示装置，其特征在于，包括权利要求1～8任一所述的触控基板。
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