CN106529383B - 指纹传感器的检测方法及装置、指纹传感器、电子设备 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种检测方法，用于检测指纹传感器，指纹传感器包括电极，电极包括传感器电极，检测方法包括以下步骤：检测步骤，以预定方式对部分所述电极施加驱动信号，并检测其它所述电极所耦合到的感应信号，直至获得所有所述传感器电极的感应信号；及判断步骤，根据所述传感器电极上的感应信号判断所述传感器电极是否存在缺陷。本发明实施方式的检测方法及检测装置通过在指纹传感器本身的电极施加驱动信号，并利用边缘电场将驱动信号耦合到其它电极，从而可以根据传感器电极的电压变化信息判断传感器电极是否存在缺陷。因此，无需施加手指及导电体到指纹传感器上便可以检测，提高检测效率。

Description

指纹传感器的检测方法及装置、指纹传感器、电子设备

技术领域

本发明涉及指纹传感器领域，特别涉及一种用于检测指纹传感器的检测方法及检测装置、指纹传感器和电子设备。

背景技术

自容式指纹传感器包括检测电路及二维阵列排布的传感器电极。使用时，检测电路对每个传感器电极施加驱动信号，并检测每个传感器电极的感应信号，每个传感器电极构成指纹传感器的一个像素。如此，当手指作用到指纹传感器时，每个传感器电极便可以检测指纹对应一点引起的电压变化，从而可以描述指纹对应一点的深浅，并与其它传感器电极(像素)共同描述整个指纹的纹路，形成指纹图像。

然而，传感器电极本身及传感器电极与检测电路的连接可能存在缺陷，导致指纹传感器存在坏点，有些缺陷可能导致整个指纹传感器无法正常工作，甚至在指纹传感器组装到指纹识别模组后可能导致整个指纹识别模组无法正常工作。因此，指纹传感器的检测十分重要。

然而，目前指纹传感器的检测需要在指纹传感器上施加手指或其它导电材料(如，导电胶)，然后检测每个传感器电极的感应信号，判断是否符合要求，十分不方便，而且检测效率低。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本发明提供一种用于检测指纹传感器的检测方法及检测装置、指纹传感器和 电子设备。

本发明提供一种检测方法，用于检测指纹传感器，所述指纹传感器包括电极，所述电极包括传感器电极，所述检测方法包括以下步骤：

检测步骤，以预定方式对部分所述电极施加驱动信号，并检测其它所述电极所耦合到的感应信号，直至获得所有所述传感器电极的感应信号；及

判断步骤，根据所述传感器电极上的感应信号判断所述传感器电极是否存在缺陷。

在一些实施方式中，所述检测步骤基于互容式感测原理，对部分所述电极施加驱动信号并检测其它所述电极所耦合到的感应信号。

在一些实施方式中，所述传感器电极呈二维阵列排布，所述检测步骤包括以下子步骤：

对n*k+c行或列的所述传感器电极施加驱动信号，其中，k为自然数，n为自然数且大于等于2，c为自然数，c小于n，n*k+c≤N，且c与k不同时为零，N为所述传感器电极的总行数或总列数；

检测除n*k+c行或列的所述传感器电极外的所述传感器电极的感应信号；

对除n*k+c行或列的所述传感器电极外的一行或列所述传感器电极施加驱动信号；及

检测n*k+c行或列的所述传感器电极的感应信号。

在一些实施方式中，所述传感器电极呈二维阵列排布，所述检测步骤包括以下子步骤：

对2*k+1行或列的所述传感器电极施加驱动信号，其中，2*k+1≤N，k为自然数，N为所述传感器电极的总行数或总列数；

检测2*k行或列的所述传感器电极的感应信号；

对2*k行或列的所述传感器电极施加驱动信号；及

检测2*k+1行或列的所述传感器电极的感应信号。

在一些实施方式中，所述电极还包括围绕所述传感器电极的保护环，所述检测方法包括：

对所述保护环施加驱动信号；及

检测所述传感器电极的感应信号。

本发明提供一种检测装置，用于检测指纹传感器，所述指纹传感器包括电极，所述电极包括传感器电极，其特征在于，所述检测装置包括：

检测模块，用于以预定方式对部分所述电极施加驱动信号，并检测其它所述电极所耦合到的感应信号，直至获得所有所述传感器电极的感应信号；及

判断模块，用于根据所述传感器电极的感应信号判断所述传感器电极是否存在缺陷。

在一些实施方式中，所述检测模块是基于互容式感测原理对部分所述电极施加驱动信号并检测其它所述电极所耦合到的感应信号。

在一些实施方式中，所述传感器电极呈二维阵列排布，所述检测模块用于：

对n*k+c行或列的所述传感器电极施加驱动信号，其中，k为自然数，n为自然数且大于等于2，c为自然数，c小于n，n*k+c≤N，且c与k不同时为零，N为所述传感器电极的总行数或总列数；

检测除n*k+c行或列的所述传感器电极外的所述传感器电极的感应信号；

对除n*k+c行或列的所述传感器电极外的一行或列所述传感器电极施加驱动信号；及

检测n*k+c行或列的所述传感器电极的感应信号。

在一些实施方式中，所述传感器电极呈二维阵列排布，所述检测模块用于：

对2*k+1行或列的所述传感器电极施加驱动信号，其中，2*k+1≤N，k为自然数，N为所述传感器电极的总行数或总列数；

检测2*k行或列的所述传感器电极的感应信号；

对2*k行或列的所述传感器电极施加驱动信号；及

检测2*k+1行或列的所述传感器电极的感应信号。

本发明提供一种指纹传感器，其特征在于，包括：

多个传感器电极，呈二维阵列排布；和

检测装置，包括：

驱动模块，与所述多个传感器电极选择性连接，用于分时提供驱动信号给所述多个传感器电极；

接收模块，与所述多个传感器电极选择性连接，用于接收来自所述多个传感器电极输出的感测信号；和

判断模块，根据所述接收模块接收到的感测信号来判断是否存在缺陷的传感器电极。

在一些实施方式中，在同一时刻，所述驱动模块与部分传感器电极电连接，所述接收模块与另一部分传感器电极电连接，所述两部分传感器电极之间形成互电容。

在一些实施方式中，所述指纹传感器在检测传感器电极是否存在缺陷时为互容式指纹传感器。

在一些实施方式中，所述指纹传感器进一步包括指纹感测电路，所述指纹感测电路用于驱动所述多个传感器电极执行指纹感测，所述指纹传感器在执行指纹感测时为自容式指纹传感器。

本发明提供一种电子设备，包括上述中任意一项所述的指纹传感器。

本发明实施方式的检测方法及检测装置通过在指纹传感器本身的电极施加驱动信号，并利用边缘电场将驱动信号耦合到其它电极，从而可以根据传感器电极的电压变化信息判断传感器电极是否存在缺陷。因此，无需施加手指及导电体到指纹传感器上便可以检测，提高检测效率。相应地，所述指纹传感器和电子设备的质量较高。

本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明

本发明的上述和/或附加的方面和优点可以从结合下面附图对实施方式的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1是本发明实施方式的检测方法的流程示意图。

图2是一种指纹传感器的示意图。

图3是本发明实施方式的检测装置的功能模块示意图。

图4是图3所示检测装置与部分电极相连接的结构示意图。

图5是本发明实施方式的检测方法的一个示意图。

图6是本发明实施方式的检测方法的另一个示意图。

图7是本发明实施方式的检测方法的再一个示意图。

图8是本发明另一个实施方式的检测方法的示意图。

图9是本发明电子设备的一实施方式的结构示意图。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施方式，实施方式的示例在附图中示出，其中，相同或类似的标号自始至终表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。

下面通过参考附图描述的实施方式是示例性的，仅用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。

进一步地，所描述的特征、结构可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施方式中。在下面的描述中，提供许多具体细节从而给出对本发明的实施方式的充分理解。然而，本领域技术人员应意识到，没有所述特定细节中的一个或更多，或者采用其它的结构、组元等，也可以实践本发明的技术方案。在其它情况下，不详细示出或描述公知结构或者操作以避免模糊本发明。

请参阅图1及图2，本发明实施方式的检测方法用于检测指纹传感器10，指纹传感器包括电极12，电极12包括传感器电极122。较佳地，多个传感器电极122呈二维阵列排布。然，可变更地，多个传感器电极122也可呈其它规则或非规则方式排布。检测方法包括以下步骤：

检测步骤，以预定方式对部分电极12施加驱动信号，并检测其它电极12所耦合到的感应信号，直至获得所有传感器电极122上的感应信号；及

判断步骤，根据传感器电极122上的感应信号判断传感器电极122是否存在缺陷。较佳地，检测步骤基于互电容的工作原理，对传感器电极122进行检测。

请一并参阅图3和图4，本发明实施方式的检测装置20包括检测模块22及判断模块24。检测模块22用于以预定方式对部分电极12施加驱动信号，并检测其它电极12所耦合到的感应信号，直至获得所有传感器电极122的感应信号。判断模块14用于根据传感器电极122上的感应信号来判断传感器电极122是否存在缺陷。

在某些实施方式中，检测方法可以由检测装置20实施，例如检测步骤可以由检测模块22实施，而判断步骤可以由判断模块24实施。

本发明实施方式的检测方法及检测装置20通过在指纹传感器10本身的电极12施加驱动信号，并利用边缘电场将驱动信号耦合到其它电极12，从而可以根据传感器电极122上所耦合到的感应信号来判断传感器电极122是否存在缺陷。例如，驱动信号、感应信号均为电压信号。检测时，可以通过理论或者实验得到传感器电极122在边缘电场耦合作用下的感应信号的预定电压值，然后将检测到的传感器电极122的电压值与预定电压值比较，如果等于或近似等于预定电压值，则证明传感器电极122在正常工作时也能够进行正常的检测，因此可以判断不存在缺陷。相反地，则可以判断传感器电极122可能存在缺陷。因此，无需施加手指及导电体到指纹传感器10上便可以检测，提高检测效率。

电极12可以是铜箔，并通过半导体工艺形成于基板(图未示)，从而构成指纹传感器10的部分结构。在某些实施方式中，电极12可以全部是传感器电极122。每个传感器电极122可以构成指纹传感器10的一个像素。如此，可以通过设置传感器电极122的数目及排布控制指纹传感器10的感测区域及解析度等参数。

进一步地，所述检测模块22包括驱动模块221和接收模块223。所述驱动模块221与所述多个传感器电极122选择性连接，用于分时提供驱动信号给所述多个传感器电极122。所述接收模块223与所述多个传感器电极122选择性连接，用于接收来自所述多个传感器电极122输出的感测信号。所述判断模块24连接所述接收模块223，用于根据所述接收模块223接收到的感测信号来判断是否存在缺陷的传感器电极122。

所述驱动模块 211例如通过开关(图未示)与所述多个传感器电极122选择性连接。所述接收模块223例如通过开关(图未示)与所述多个传感器电极122选择性连接。

在同一时刻，所述驱动模块211与部分传感器电极122电连接，所述接收模块223与另一部分传感器电极122电连接，所述两部分传感器电极122之间形成互电容。

举例地，所述驱动模块221与第一行的传感器电极122通过开关电连接，提供驱动信号给第一行的传感器电极122。所述接收模块223与第二行的传感器电极122通过开关电连接，接收来自第二行的传感器电极122的感测信号。所述判断模块24根据所述接收模块223接收到的感测信号来判断第二行的传感器电极122中是否存在缺陷的电极。例如，若所述第二行的传感器电极122都不存在缺陷，所述接收模块223接收到的感测信号应是都相同的或近似相同。若所述第二行的传感器电极122中有传感器电极122存在缺陷，则存在缺陷的传感器电极122输出给接收模块223的感测信号是不同或明显不同于其它正常的传感器电极122所输出的感测信号。

在检测时，所述检测装置20是利用互容式感测原理进行检测，其中，第一行的传感器电极122与第二行的传感器电极122形成互电容。

类似地，利用互电容式检测原理对其它偶数行的传感器电极122进行缺陷检测，当所有偶数行的传感器电极122检测合格之后，再对奇数行的传感器电极122进行缺陷检测，直至检测完所有的传感器电极122。

然，本申请并不局限上述检测顺序，可变更地，也可也为其它合适的检测方式，例如对第二行的传感器电极122检测合格之后，接下来就对第一行的传感器电极122进行缺陷检测也是可以的。

较佳地，所述检测装置20设置在所述指纹传感器10中，所述指纹传感器10为一芯片。然，可变更地，所述检测装置20也可为独立于所述指纹传感器10之外的装置。

另外，指纹传感器10进一步包括指纹感测电路(图未示)。所述指纹感测电路用于驱动所述多个传感器电极122执行指纹感测。所述指纹感测电路提供激励信号给传感器电极122并接收来自传感器电极122输出的指纹感测信号，从而获取指纹信息。

根据检测电路与传感器电极122的配合关系不同，指纹传感器10可以是自容式指纹传感器或者是互容式指纹传感器，自容式指纹传感器主要指激励及检测都通过同一传感器电极进行，而互容式指纹传感器则主要指对某些特定的传感器电极激励，并检测与之对应的传感器电极的电压变化。

本发明实施方式的指纹传感器10在执行指纹感测时是自容式指纹传感器，在检测传感器电极122是否存在缺陷时，则为互容式指纹传感器。

需要说明的是，检测传感器电极122是否存在缺陷是指纹模组厂在指纹传感器10在出厂之前进行的检测。指纹传感器10执行指纹感测是当指纹传感器10组装到电子设备100(例如，手机，见后述)上之后进行的工作。

举例地，所述指纹感测电路与所述检测装置20为两个不同的电路，或者，所述指纹感测电路复用部分检测装置20的电路，例如，复用接收模块223。所述指纹传感器10可进一步包括控制单元(图未示)，所述控制单元用于根据接收到的指令来对应控制指纹检测电路与所述检测装置20工作。当进行缺陷检测时，所述指令例如来自检测设备。当执行指纹感测时，所述指令例如来自应用所述电子设备100(见下述)的主控芯片 。

如前面所述，当检测传感器电极122是否存在缺陷时，例如，可以通过控制检测电路对部分传感器电极122施加驱动信号，然后检测其余的传感器电极122所耦合到的感应信号来判断传感器电极122是否存在缺陷。

在电极12全部是传感器电极122的实施方式中，检测步骤包括以下子步骤：

对n*k+c行或列的传感器电极122施加驱动信号，其中，k为自然数，n为自然数且大于等于2，c为自然数，c小于n，n*k+c≤N，且k与c不同时为零，N为所述传感器电极的总行数或总列数；

检测除n*k+c行或列的传感器电极122外的传感器电极122上的感应信号；

对除n*k+c行或列的传感器电极122外的一行或列传感器电极122施加驱动信号；及

检测n*k+c行或列的传感器电极122的感应信号。

在某些实施方式中，上述的子步骤可以由检测模块12实现，也即是，检测模块12可以用于对n*k+c行或列的传感器电极122施加驱动信号，其中，k为自然数，n为自然数且大于等于2，c为自然数，c小于n、检测除n*k+c行或列的传感器电极122外的传感器电极122的感应信号、对除n*k+c行或列的传感器电极122外的一行传感器电极122施加驱动信号及检测n*k+c行或列的传感器电极122的感应信号。

在这些实施方式中，基于互电容的感测原理，实际上是通过对成行或成列的传感器电极122施加驱动信号来获得所有传感器电极122的感应信号。如此，驱动信号的施加及感应信号的检测比较有规律，可以简化检测电路的控制，另外，对检测到的感应信号的处理也将变得容易。

可以理解，n、k及c为常数，并非变量，并可以根据需求设置。

可以理解，n比较大时，将对间隔比较远的行或列的传感器电极122施加驱动信号，如此，可能存在离施加驱动信号的传感器电极122较远的传感器电极122，导致感应信号较弱，然而，应该可以理解，即使这样的实施方式，感应信号也比未施加驱动信号时强，也因此可以实现检测。例如，当n=10，c=1，即对10*k+1行或列的传感器电极122施加驱动信号，则5*k+1行或列的传感器电极122离施加驱动信号的传感器电极5行或列，比较远，因此，可能导致5*k+1行或列的传感器电极122产生的感应信信号较弱。但是，这样的感应信号仍然可以用于检测传感器电极122。而在这样的实施方式中，可以对比较少的行或列的传感器电极122施加驱动信号即可实现检测，因此，可以降低检测的功耗。

当然，在其他的实施方式中，为了更高效、更准确地检测传感器电极122，也可以合理设置n，从而避免感应信号较弱。可以理解，n越小，同样的驱动信号可以产生的感应信号越强。请参阅图5，n=2，c=1，也即是说检测步骤的子步骤为：

对奇数(2*k+1)行的传感器电极122施加驱动信号；

检测偶数行(除奇数行外)的传感器电极122的感应信号；

对偶数行(除奇数行外)的传感器电极122施加驱动信号；及

检测奇数行(2*k+1)的传感器电极122的感应信号。

请参阅图6，上面实施方式的另一个例子可以是对成列的传感器电极122施加驱动信号，且n=2，c=1，也即是说检测步骤的子步骤为：

对奇数(2*k+1)列的传感器电极122施加驱动信号；

检测偶数列(除奇数列外)的传感器电极122的感应信号；

对偶数列(除奇数列外)的传感器电极122施加驱动信号；及

检测奇数列(2*k+1)的传感器电极122的感应信号。

上面两个例子的好处是，由于被施加驱动信号的传感器电极122与受检测的传感器电极122只是隔行，边缘电场的耦合效应强，因此检测到的电压信号强，利于后面的判断。

请参阅图6，在另外的例子中，可以是对成行的传感器电极122施加驱动信号，且n=3，c=1，也即是说检测步骤的子步骤为：

对3*k+1行的传感器电极122施加驱动信号；

检测除3*k+1行外的传感器电极122的感应信号；

对除3*k+1行外的传感器电极122的一行(例如3*k+2行)传感器电极122施加驱动信号；及

检测3*k+1行的传感器电极122的感应信号。

可以理解，在这样的例子，通过合理选择被施加驱动信号的传感器电极122的行数，可以减少被施加检测的传感器电极122总数，从而可以减少能耗。

当然，上面的例子仅是对成行或成列成行或成列的传感器电极122施加驱动信号或驱动信号变化信号来获得所有传感器电极122的感应信号的解释，并不应限制本发明的范围。

请参阅图8，本发明另外实施方式的指纹传感器10中，电极12除了传感器电极122外还包括导电保护元件124。所述导电保护元件124上设置多个镂空区域127，所述多个传感器电极122分别设置在所述镂空区域127之中，并与所述导电保护元件124之间存在间隙，以让二者绝缘。

较佳地，所述导电保护元件124为一体结构，并与所述传感器电极122位于同一层。

所述导电保护元件124也可为多个保护环，所述多个保护环分别围绕所述多个传感器电极122设置。所述多个保护环可为单独的环状结构，也可为彼此相互连接为一体的结构。然，所述导电保护元件124的结构并不局限此处所述的结构，也可为其它合适的结构。

检测步骤包括以下子步骤：

对导电保护元件124施加驱动信号；及

检测传感器电极122的感应信号。

在某些实施方式中，上述的子步骤可以由检测模块22实现，也即是，检测模块22可以用于对导电保护元件124施加驱动信号及检测传感器电极122的感应信号。

请再一并参阅图3与图4，具体地，所述驱动模块221连接所述导电保护元件124，提供所述驱动信号给所述导电保护元件124。所述接收模块223连接所述多个传感器电极122，接收来自传感器电极122输出的感测信号。

所述判断模块24根据所述接收模块223接收到的感测信号判断是否有传感器电极122存在缺陷。

在本实施方式中，对传感器电极122执行缺陷检测时，所述导电保护元件124与所述多个传感器电极122形成互电容。

类似前述，所述检测装置20可集成在本实施方式的指纹传感器10中，也可为独立于所述指纹传感器10之外的装置。

所述指纹传感器10进一步包括前述的指纹感测电路。所述指纹感测电路用于驱动所述多个传感器电极122执行自容式指纹感测。所述指纹感测电路提供激励信号给传感器电极122并接收来自传感器电极122输出的指纹感测信号，从而获取指纹信息。

导电保护元件14在指纹传感器10指纹感测时接地，为传感器电极122起到静电防护的作用。所述地上的接地信号电压通常为0伏或0伏左右，一般为应用所述指纹传感器10的电子设备100(见下述)的设备地。需要说明的是，所述导电保护元件14可直接或间接接地。

当所述导电保护元件14间接接地时，所述导电保护元件14例如直接连接到一参考地(图未示)，所述参考地通过一调制电路(图未示)连接至所述设备地。所述参考地上的信号为变化的信号，例如为来自所述调制电路的调制信号。所述调制电路根据所述设备地上的接地信号和一电压驱动信号对应产生所述调制信号。

可以理解，在这些实施方式中，利用保护环124进行检测，可以省去重复施加驱动信号的步骤，从而提高检测效率。

请参阅图9，图9为本发明电子设备的一实施方式的结构示意图。所述电子设备100包括上述任一实施例的指纹传感器10。

具体地，电子设备100如为可携式电子产品或家居式电子产品、或车载电子产品。然而，所述电子设备不局限所列的电子产品，还可以是其它合适的电子产品。所述可携式电子产品例如为移动终端，所述移动终端例如为手机、平板电脑、笔记本电脑、穿戴式产品等合适的移动终端。所述家居式电子产品例如为智能门锁、电视、冰箱、台式电脑等合适的家居式电子产品。所述车载电子产品例如为车载显示器、行车记录仪、导航仪、车载冰箱等合适的车载电子产品。

在一些实施方式中，电子设备100包括壳体104，指纹传感器10位于壳体104内，壳体104开设有通孔106，通孔106暴露指纹传感器10。

因此，通孔106可有助于用户录入指纹时手指与指纹传感器10的定位，方便用户操作。在本发明示例中，通孔106为圆形通孔，可以理解，通孔106也可为方形、椭圆形等其它形状的通孔。通孔106可以开设在壳体104的背面位置。

所述指纹传感器10也可设置在电子设备100的正面或侧面等合适的位置。进一步地，所述指纹传感器10也可设置在电子设备100的内部，且并非一定通过通孔暴露指纹传感器10。

在本发明的实施方式的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明的实施方式和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的实施方式的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本发明的实施方式的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

在本发明的实施方式的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接或可以相互通讯；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明的实施方式中的具体含义。

在本发明的实施方式中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

下文的公开提供了许多不同的实施方式或例子用来实现本发明的实施方式的不同结构。为了简化本发明的实施方式的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然，它们仅仅为示例，并且目的不在于限制本发明。此外，本发明的实施方式可以在不同例子中重复参考数字和/或参考字母，这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施方式和/或设置之间的关系。此外，本发明的实施方式提供了的各种特定的工艺和材料的例子，但是本领域普通技术人员可以意识到其它工艺的应用和/或其它材料的使用。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施方式”、“一些实施方式”、“示意性实施方式”、“示例”、“具体示例”或“一些示例”等的描述意指结合所述实施方式或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施方式或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施方式或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施方式或示例中以合适的方式结合。

流程图中或在此以其它方式描述的任何过程或方法描述可以被理解为，表示包括一个或更多个用于实现特定逻辑功能或过程的步骤的可执行指令的代码的模块、片段或部分，并且本发明的优选实施方式的范围包括另外的实现，其中可以不按所示出或讨论的顺序，包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序，来执行功能，这应被本发明的实施例所属技术领域的技术人员所理解。

在流程图中表示或在此以其它方式描述的逻辑和/或步骤，例如，可以被认为是用于实现逻辑功能的可执行指令的定序列表，可以具体实现在任何计算机可读介质中，以供指令执行系统、装置或设备(如基于计算机的系统、包括处理模块的系统或其它可以从指令执行系统、装置或设备取指令并执行指令的系统)使用，或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用。就本说明书而言，"计算机可读介质"可以是任何可以包含、存储、通信、传播或传输程序以供指令执行系统、装置或设备或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用的装置。计算机可读介质的更具体的示例(非穷尽性列表)包括以下：具有一个或多个布线的电连接部(电子装置)，便携式计算机盘盒(磁装置)，随机存取存储器(RAM)，只读存储器(ROM)，可擦除可编辑只读存储器(EPROM或闪速存储器)，光纤装置，以及便携式光盘只读存储器(CDROM)。另外，计算机可读介质甚至可以是可在其上打印所述程序的纸或其它合适的介质，因为可以例如通过对纸或其它介质进行光学扫描，接着进行编辑、解译或必要时以其它合适方式进行处理来以电子方式获得所述程序，然后将其存储在计算机存储器中。

应当理解，本发明的实施方式的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中，多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行系统执行的软件或固件来实现。例如，如果用硬件来实现，和在另一实施方式中一样，可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现：具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路，具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路，可编程门阵列(PGA)，现场可编程门阵列(FPGA)等。

本技术领域的普通技术人员可以理解实现上述实施例方法携带的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，该程序在执行时，包括方法实施例的步骤之一或其组合。

此外，在本发明的各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理模块中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。所述集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。

上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。

尽管上面已经示出和描述了本发明的实施方式，可以理解的是，上述实施方式是示例性的，不能理解为对本发明的限制，本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施实施进行变化、修改、替换和变型。

Claims (8)

1. 一种检测方法，用于检测指纹传感器，所述指纹传感器包括电极，所述电极包括传感器电极，其特征在于，所述检测方法包括以下步骤：

检测步骤，以预定方式对部分所述电极施加驱动信号，并检测其它所述电极所耦合到的感应信号，直至获得所有所述传感器电极的感应信号；其中，所述检测步骤基于互容式感测原理，对部分所述电极施加驱动信号并检测其它所述电极所耦合到的感应信号；及

判断步骤，根据所述传感器电极上的感应信号判断所述传感器电极是否存在缺陷；

所述传感器电极呈二维阵列排布，所述检测步骤包括以下子步骤：

对n*k+c行或列的所述传感器电极施加驱动信号，其中，k为自然数，n为自然数且大于等于2，c为自然数，c小于n，n*k+c≤N，且c与k不同时为零，N为所述传感器电极的总行数或总列数；

检测除n*k+c行或列的所述传感器电极外的所述传感器电极的感应信号；

对除n*k+c行或列的所述传感器电极外的一行或列所述传感器电极施加驱动信号；及

检测n*k+c行或列的所述传感器电极的感应信号。

2.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述传感器电极呈二维阵列排布，所述检测步骤包括以下子步骤：

对2*k+1行或列的所述传感器电极施加驱动信号，其中，2*k+1≤N，k为自然数，N为所述传感器电极的总行数或总列数；

检测2*k行或列的所述传感器电极的感应信号；

对2*k行或列的所述传感器电极施加驱动信号；及

检测2*k+1行或列的所述传感器电极的感应信号。

3. 一种检测装置，用于检测指纹传感器，所述指纹传感器包括电极，所述电极包括传感器电极，其特征在于，所述检测装置包括：

检测模块，用于以预定方式对部分所述电极施加驱动信号，并检测其它所述电极所耦合到的感应信号，直至获得所有所述传感器电极的感应信号；其中，所述检测模块是基于互容式感测原理对部分所述电极施加驱动信号并检测其它所述电极所耦合到的感应信号；及

判断模块，用于根据所述传感器电极的感应信号判断所述传感器电极是否存在缺陷；

所述传感器电极呈二维阵列排布，所述检测模块用于：

对n*k+c行或列的所述传感器电极施加驱动信号，其中，k为自然数，n为自然数且大于等于2，c为自然数，c小于n，n*k+c≤N，且c与k不同时为零，N为所述传感器电极的总行数或总列数；

检测除n*k+c行或列的所述传感器电极外的所述传感器电极的感应信号；

对除n*k+c行或列的所述传感器电极外的一行或列所述传感器电极施加驱动信号；及

检测n*k+c行或列的所述传感器电极的感应信号。

4.如权利要求3所述的检测装置，其特征在于，所述传感器电极呈二维阵列排布，所述检测模块用于：

对2*k+1行或列的所述传感器电极施加驱动信号，其中，2*k+1≤N，k为自然数，N为所述传感器电极的总行数或总列数；

检测2*k行或列的所述传感器电极的感应信号；

对2*k行或列的所述传感器电极施加驱动信号；及

检测2*k+1行或列的所述传感器电极的感应信号。

5.一种指纹传感器，其特征在于，包括：

多个传感器电极，呈二维阵列排布；和

如权利要求3或4所述的检测装置，包括：

驱动模块，与所述多个传感器电极选择性连接，用于分时提供驱动信号给所述多个传感器电极；

接收模块，与所述多个传感器电极选择性连接，用于接收来自所述多个传感器电极输出的感测信号；和

判断模块，根据所述接收模块接收到的感测信号来判断是否存在缺陷的传感器电极；

在同一时刻，所述驱动模块与部分传感器电极电连接，所述接收模块与另一部分传感器电极电连接，所述两部分传感器电极之间形成互电容。

6.如权利要求5所述的指纹传感器，其特征在于，所述指纹传感器在检测传感器电极是否存在缺陷时为互容式指纹传感器。

7.如权利要求5或6所述的指纹传感器，其特征在于，所述指纹传感器进一步包括指纹感测电路，所述指纹感测电路用于驱动所述多个传感器电极执行指纹感测，所述指纹传感器在执行指纹感测时为自容式指纹传感器。

8.一种电子设备，包括权利要求5-7中任意一项所述的指纹传感器。