CN102945648B - 一种显示装置的测试设备及测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及移动显示装置的测试领域，尤其涉及一种应用复用显示接口的方式来同时测量LCM与CTP的测试设备及测试方法，该测试设备包括LCM显示测量仪、LCM信号连接夹具和CTP信号连接夹具，所述LCM显示测量仪分别与所述LCM信号连接夹具和CTP信号连接夹具信号连接；所述CTP信号连接夹具上设有IIC接头。本发明在检查LCM功能的同时检查CTP功能，并可以观察CTP与LCM的干扰情况、配合度；可节省检测用电脑，减少一道检查工序，缩短检查时间；进行点和划线的准确度测试中更加方便直观；能够避免现有单独测试CTP与LCM导致的像素偏移等问题，测试符合CTP与LCM融合的趋势。

Description

一种显示装置的测试设备及测试方法

技术领域

本发明属于移动显示装置的测试领域，尤其涉及一种应用复用显示接口的方式来同时测量LCM与CTP的测试设备及测试方法。

背景技术

目前对于CTP(电容式触摸屏)和LCM(液晶屏显示模组)，都是各自单独检查。CTP的检查都采用在电脑或者上位机台连接运行测试软件的方式进行测试。LCM采用LCM显示测量仪进行测试。但是目前随着CTP的广泛应用，尤其是在移动显示领域的应用，将LCM与CTP整合在一起已经成为一种趋势。然而，现有技术都是将CTP和LCM分别进行测试，一方面增设了检测工序和设备，造成成本的增加；另一方面，由于分别的检测与实际的使用状态的情况很不相同，不能检测出两种产品的配合度，检测精度不高且效率较低。

发明内容

（一）要解决的技术问题

本发明的目的是提供一种可以实现用LCM显示测量仪在测量LCM的同时测量CTP的性能的测试设备及测试方法，通过该测试设备及方法可以有效地减少带有CTP模组的测试时间，节省单独的CTP测试设备，同时可检测CTP与LCM的干扰情况。

（二）技术方案

本发明是通过以下技术方案实现的：一种显示装置的测试设备，包括液晶屏显示模组LCM显示测量仪、LCM信号连接夹具和电容式触摸屏CTP信号连接夹具，所述LCM显示测量仪分别与所述LCM信号连接夹具和CTP信号连接夹具信号连接；所述CTP信号连接夹具上设有集成电路总线IIC接头。

进一步，所述LCM显示测量仪包括VCC电源线、GND信号线、I/O信号线和信号控制线，中断信号线，所述VCC信号线和GND信号线均与所述CTP信号连接夹具连接；

其中，任选一根I/O信号线与所述CTP信号连接夹具连接；任选一根信号控制线与所述CTP信号连接夹具连接；所述LCM显示测量仪中下降沿触发的中断信号线与所述CTP信号连接夹具连接。

再进一步，所述LCM显示测量仪包括VCC电源线、GND信号线、I/O信号线和信号控制线，所述VCC电源线和GND信号线均与所述CTP信号连接夹具连接；

其中，任选一根I/O信号线与所示CTP信号连接夹具连接；任选一根信号控制线与所述CTP信号连接夹具连接；通过查询的方式，让所述LCM显示测量仪每隔5us读取一次CTP控制IC中标识触摸点数的寄存器。

此外，本发明还提供一种应用上述的测试设备对LCM和CTP进行同时测试的方法，该测试设备在测试LCM的同时，包括以下测试CTP的方法：

按压所述CTP，获得按压触摸的痕迹数量和该触摸痕迹在CTP上的位置后，所述测试设备在CTP上的相应位置做出标识；通过所述标识，直观判断所测产品是否为良品。

进一步来说，所述测试CTP的方法具体包括以下步骤：

S1)所述测试设备在CTP上显示至少5个半径相同的圆；

S2）触击圆的圆心位置；

S3）通过观测CTP上的像素变黑的触摸点位置是否在圆的范围内，对所测产品是否为良品进行判断。

而且，所述测试CTP的方法还可包括以下步骤：

S4）如果像素变黑的触摸点落在所述圆的范围外，那么分别在测试设备连接和断开LCM的情况下，使所述测试设备在CTP上显示该两次测试中触摸点的坐标，并进行两次坐标的比较。

或者，所述测试CTP的方法可具体包括以下步骤：

所述CTP上显示由两条轨迹形成的X形图形，每条轨迹由两条边线平行构成，且在每条轨迹设有与两条边线平行的中心线；沿所述中心线划线，所述测试设备将感应到的触摸点像素变黑；通过观测触摸点的位置是否位于每条轨迹的范围内，对所测产品是否为良品进行判断。

又或者，所述测试CTP的方法具体包括以下步骤：

所述测试设备在CTP上显示设定圆心距的两组同心圆，每组同心圆的直径差为1mm；然后同时点击两组同心圆的圆心，所述测试设备将感应到的触摸点像素变黑；通过观测触摸点的位置，对所测产品是否为良品进行判断。

此外，所述测试CTP的方法也可具体包括以下步骤：

触击CTP上显示的全部设定数目的圆；然后检测触摸点像素是否变黑。

此外，本发明还提供了一种应用上述的测试设备对LCM和CTP进行同时测试的方法，该方法包括以下步骤：

1）断开LCM与所述测试设备的连接，读取所述测试设备上显示的第一VDD电流值；

2)然后在CTP上划线，读取所述测试设备上显示的第二VDD电流值；

3）更改CTP的IC状态控制寄存器，使其进入睡眠模式，读取所述测试设备上显示的第三VDD电流值；

4）监控上述第一、第二和第三VDD电流值的变化。

（三）有益效果

与现有技术和产品相比，本发明有如下优点：

1、本发明在检查LCM功能的同时检查CTP功能，并可以观察CTP与LCM的干扰情况，配合度；

2、本发明可节省检测用电脑，减少一道检查工序，缩短检查时间。在点和划线的准确度测试中更加方便直观；

3、本发明避免现有单独测试CTP与LCM出现的例如像素偏移，测试符合电容式CTP与LCM融合的趋势。

附图说明

图1是本发明实施例提供的测试设备结构示意图；

图2是本发明实施例提供的测试设备原理模块示意图；

图3是本发明的实施例中在准确度和干扰测试中CTP显示示意图；

图4是本发明实施例在划线测试中CTP显示示意图；

图5是本发明实施例在最小分辨率测试中CTP显示示意图；

图6是本发明实施例在CTP多点报点测试中CTP显示示意图。

上述附图中，各标记代表的部件列表如下：

1：移动显示设备；11：LCM；12：CTP；13：LCM控制IC；14：CTP控制IC；15：液晶屏FPC；2：信号连接夹具；21：LCM信号连接夹具；22：CTP信号连接夹具；3：LCM显示测量仪。

具体实施方式

下面结合附图对本发明的具体实施方式做一个详细的说明。

如图1和图2所示，本实施例中，提供一种同时测量LCM（液晶显示模组）与CTP(电容式触摸屏)的测试设备及测试方法。该测试设备通过对LCM显示测量仪信号的设置，使该LCM显示测量仪与信号连接夹具信号连接。该LCM显示测量仪通过模仿CTP上IIC接口的通讯协议，使LCM显示测量仪通过信号连接夹具与CTP上的IIC接口相连，增加对CTP进行相关测试的功能，从而应用该测试设备，实现了在测试LCM同时完成对CTP的测试，更直观的显示CTP测试结果。

本方案的测试设备优选采用LCM显示测量仪3（型号J600）与信号连接夹具2通过CPU或RGB接口或MIPI信号连接。所述信号连接夹具包括LCM信号连接夹具21和CTP信号连接夹具22，所述LCM显示测量仪分别与所述LCM信号连接夹具和CTP信号连接夹具信号连接。进行测试的移动显示设备1包括LCM12和CTP11，LCM上设有LCM控制IC13，用于控制LCM的信号与显示；CTP上设有CTP控制IC14，用于控制CTP的信号与工作状态。所述LCM信号连接夹具通过液晶屏FPC15（连接面板和外接驱动板的柔性电路板）与LCM相连。

该J600型LCM显示测量仪是用于测试小尺寸LCM的测试设备，在模组产线上有广泛的应用，其具有很完善的LCM测试功能,但是没有IIC接口。CTP的测试一般需要VCC（电路供电电压）、GND（接地线）的电信号，IIC的时钟信号、数据信号，以及一个中断信号来提醒主机有触摸发生。由于J600型LCM显示测量仪本身可以提供测试CTP需要的VCC和GND电源信号，故VCC和GND均通过CTP信号连接夹具与CTP连接。此外，根据J600型LCM显示测量仪本身只需要18bit的数据传输，而其具有24bit的I/O（输入或输出）信号线和12个信号控制线，因而选用第24根信号线作为IIC接口的信号线SDA（IIC总线的数控信号线），选用一根信号控制线作为IIC接口的时钟信号线，可以模拟IIC接口通讯。而中断信号可采用J600型LCM显示测量仪中由下降沿触发的ISR3中断。即任选一根I/O信号线与所述CTP信号连接夹具连接，作为IIC接口的信号线SDA；任选一根信号控制线与所述CTP信号连接夹具连接，用于IIC接口的时钟线，可以模拟IIC接口通讯；该LCM显示测量仪中下降沿触发的ISR3与所述CTP信号连接夹具连接，用于提供中断信号。当然，对于不同的CTP采用的CTP控制IC14，它的中断信号有时会不同，因而，可能触发信号并不能与该LCM显示测量仪的下降沿触发信号相匹配。为解决该技术问题，本实施例测试装置通过查询的方式监测CTP控制IC的中标识触摸点数的寄存器，来完成中断信号的功能。另外，本实施例可以灵活选择D0-D23，PCA0等I/O口作为IIC的信号复用。

根据上述的测试设备的设置，该LCM显示测量仪通过IIC接口就可以访问到移动设备上CTP控制IC的寄存器，从而获得按压CTP的触摸点数，及每个触摸点的位置，进而可以根据需要做出标识，例如将CTP的对应触摸位置的像素点变黑，以直观的判断是否良品。具体地，对移动显示设备测试性能时，在测试LCM性能的同时，通过下述的方法来对CTP进行功能测试：

（1）准确度和移动显示模组干扰测试

准确度测试：如图3所示，在CTP上显示多个半径为R的圆，本实施例优选为5个；通过点击CTP上每个圆圈标识位置的圆心，测试设备会自动将CTP上感应到的触摸点像素变黑，如果五个触摸点都落在圆的范围内，则表明准确度符合要求。根据测试基准的不同，选用的m和测试圆的半径R值也不同(m指测试圆到边缘的位置)。

干扰测试：如果在上述的测试中出现的触摸点落在圆的范围外的情况，则进入干扰测试。首先，分别在连接和断开模组的状态让测试设备显示读取的触摸点的坐标，如果两次的坐标不相同且偏差较大，则表示LCM对CTP干扰过大;如果相同，则可判断是CTP本身准确度不合格。

（2）划线测试:

如图4所示，所述测试设备在CTP上显示由两条轨迹形成的X形图形，每条轨迹由两条边线平行构成，且在每条轨迹设有与两条边线平行的中心线；沿所述中心线划线，所述测试设备将感应到的触摸点像素变黑。如显示触摸点都落在每条轨迹的范围内，则表明准确度符合要求。根据测试基准的不同，对轨迹选用不同的宽度，该宽度代表可接受的线性误差范围。

（3）最小分辨距离测试：

如图5所示，所述测试设备在CTP上显示设定圆心距的两组同心圆，每组同心圆的直径差为1mm；然后同时点击两组同心圆的圆心，所述测试设备将感应到的触摸点像素变黑。如果CTP上显示的像素点分别落在两组同心圆各自的圆环（图5中黑色部分）内，则表示CTP可以分辨设定距离的两点，符合要求。

（4）功耗的测试：

断开LCM与测试设备的连接，读取测试设备上显示的VDD的电流值；在CTP上划线，读取测试设备上的VDD的电流值；然后更改CTP控制IC状态控制寄存器，使之进入睡眠模式，读取测试设备上的VDD电流值(uA)。通过监控上述的VDD的电流值，从而根据标准判断移动显示设备的功耗是否符合要求。

（5）多点CTP的报点测试

电容屏的特点是可以对多点触摸进行分辨，例如设计要求CTP要支持5点触摸，进入多点检测模式，如图6所示，所述测试设备在CTP上显示设定数目的触摸点；本实施例优选为5个设有触摸点的圆；触击显示的全部的圆；测试装置将读取触摸点的寄存器的值，如果少于5点则不动作，如果等于5则将感应到的触摸点像素变黑。可见，如果测试结果在CTP上显示了设定数目的像素变黑的触摸点，则证明该CTP的多点分辨功能正常。

以上的5项测试既满足了一般的CTP测试的基本要求，又可以在短时间能得到PASS还是NG的结果，适合生产带有CTP的LCM生产线的生产应用。在测试LCM及CTP的电性功能的同时，增加运动接触装置测试打点划线，寿命测试，硬度测试等功能。

以上实施方式仅用于说明本发明，而并非对本发明的限制，有关技术领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围的情况下，还可以做出各种变化和变型，因此所有等同的技术方案也属于本发明的范畴，本发明的专利保护范围应由权利要求限定。

Claims (9)

1.一种显示装置的测试设备，其特征在于，包括液晶屏显示模组LCM显示测量仪、LCM信号连接夹具和电容式触摸屏CTP信号连接夹具，所述LCM显示测量仪分别与所述LCM信号连接夹具和CTP信号连接夹具信号连接；所述CTP信号连接夹具上设有集成电路总线IIC接头；

所述LCM显示测量仪包括VCC电源线、GND信号线、I/O信号线和信号控制线，中断信号线，所述VCC电源线和GND信号线均与所述CTP信号连接夹具连接；

其中，任选一根I/O信号线与所述CTP信号连接夹具连接；任选一根信号控制线与所述CTP信号连接夹具连接；所述LCM显示测量仪中下降沿触发的中断信号线与所述CTP信号连接夹具连接。

2.一种显示装置的测试设备，其特征在于，包括液晶屏显示模组LCM显示测量仪、LCM信号连接夹具和电容式触摸屏CTP信号连接夹具，所述LCM显示测量仪分别与所述LCM信号连接夹具和CTP信号连接夹具信号连接；所述CTP信号连接夹具上设有集成电路总线IIC接头；

所述LCM显示测量仪包括VCC电源线、GND信号线、I/O信号线和信号控制线，所述VCC电源线和GND信号线均与所述CTP信号连接夹具连接；

其中，任选一根I/O信号线与所示CTP信号连接夹具连接；任选一根信号控制线与所述CTP信号连接夹具连接；通过查询的方式，让所述LCM显示测量仪每隔5us读取一次CTP控制IC中标识触摸点数的寄存器。

3.一种应用权利要求1或2所述的测试设备对LCM和CTP进行同时测试的方法，其特征在于，该测试设备在测试LCM的同时，包括以下测试CTP的方法：

按压所述CTP，获得按压触摸的痕迹数量和该触摸痕迹在CTP上的位置后，所述测试设备在CTP上的相应位置做出标识；通过所述标识，直观判断所测产品是否为良品。

4.根据权利要求3所述的同时测试的方法，其特征在于，所述测试CTP的方法具体包括以下步骤：

S1)所述测试设备在CTP上显示至少5个半径相同的圆；

S2)触击圆的圆心位置；

S3)通过观测CTP上的像素变黑的触摸点位置是否在圆的范围内，对所测产品是否为良品进行判断。

5.根据权利要求4所述的同时测试的方法，其特征在于，所述测试CTP的方法还包括以下步骤：

S4)如果像素变黑的触摸点落在所述圆的范围外，那么分别在测试设备连接和断开LCM的情况下进行测试，使所述测试设备在CTP上显示该两次测试中触摸点的坐标，并比较该两次测试中触摸点的坐标。

6.根据权利要求3所述的同时测试的方法，其特征在于，所述测试CTP的方法具体包括以下步骤：

所述CTP上显示由两条轨迹形成的X形图形，每条轨迹由两条边线平行构成，且在每条轨迹设有与两条边线平行的中心线；沿所述中心线划线，所述测试设备将感应到的触摸点像素变黑；通过观测触摸点的位置是否位于每条轨迹的范围内，对所测产品是否为良品进行判断。

7.根据权利要求3所述的同时测试的方法，其特征在于，所述测试CTP的方法具体包括以下步骤：

所述测试设备在CTP上显示设定圆心距的两组同心圆，每组同心圆的直径差为1mm；然后同时点击两组同心圆的圆心，所述测试设备将感应到的触摸点像素变黑；通过观测触摸点的位置，对所测产品是否为良品进行判断。

8.根据权利要求3所述的同时测试的方法，其特征在于，所述测试CTP的方法具体包括以下步骤：

触击CTP上显示的全部设定数目的圆；然后检测触摸点像素是否变黑。

9.一种应用权利要求1或2所述的测试设备对LCM和CTP进行同时测试的方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：

1)断开LCM与所述测试设备的连接，读取所述测试设备上显示的第一VDD电流值；

2)然后在CTP上划线，读取所述测试设备上显示的第二VDD电流值；

3)更改CTP的IC状态控制寄存器，使其进入睡眠模式，读取所述测试设备上显示的第三VDD电流值；

4)监控上述第一、第二和第三VDD电流值的变化。