TWI601967B - 觸控裝置的檢測方法及系統 - Google Patents

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Description

觸控裝置的檢測方法及系統
本發明是有關於一種檢測干擾訊號源的機制，且特別是有關於一種觸控裝置的檢測方法及系統。
一般觸控裝置都會有兩個或兩個以上的工作頻率，以達成自動跳頻的機制。所述機制的目的是為了避免電源雜訊干擾到觸控裝置的工作頻率，而使觸控裝置功能失效。因此，當雜訊干擾到觸控裝置時，便會自動啟動此機制，使得觸控裝置正常工作。
然而，若要檢測觸控裝置的是否提供此機制，則需要重複手動操作觸控裝置，並切換干擾訊號源，直到發現干擾頻率，並確認觸控裝置的工作頻率已自動轉換為止。例如，以訊號產生器模擬各種不同波形、電壓與頻率的干擾訊號源，並將干擾訊號源輸入至觸控裝置的電源供應插座。
而測試方式則由測試者不斷切換頻率以及操作觸控裝置，以找到干擾源的頻段。不過由於頻段範圍很大，手動測試者僅能以較大的頻率間距來逐一進行掃描，因此無法仔細掃描所有頻段，導致部分工作頻率可能無法被發現，更可能浪費許多時間。
本發明提供一種觸控裝置的檢測方法及系統，可檢測觸控裝置內的觸控積體電路（integrated circuit，IC）是否有自動的跳頻機制，進一步發現觸控IC所有的工作頻率。
本發明的觸控裝置的檢測方法，包括：透過訊號產生器輸出測試訊號至電源供應裝置；在電源供應裝置供給具有測試訊號的電力至觸控裝置的狀態下，收集自動畫線裝置於觸控裝置上進行畫線所產生的畫線軌跡；以及基於畫線軌跡，判斷測試訊號是否通過頻率干擾測試。
在本發明的一實施例中，上述檢測方法更包括：利用主控裝置控制訊號產生器以及自動畫線裝置雙方同步進行運作。即，主控裝置基於掃頻間距傳送訊號產生命令至訊號產生器，使得訊號產生器輸出測試訊號至電源供應裝置；以及主控裝置傳送畫線控制命令至自動畫線裝置，使得在電源供應裝置供給具有測試訊號的電力至觸控裝置的狀態下，自動畫線裝置於觸控裝置上進行畫線。
在本發明的一實施例中，上述檢測方法更包括：透過觸控裝置傳送第一通知至主控裝置；主控裝置在接收到第一通知之後，基於掃頻間距傳送訊號產生命令至訊號產生器，使得訊號產生器基於所接收的訊號產生命令來輸出對應的測試訊號；在觸控裝置確認自電源供應裝置接收到具有測試訊號的電力之後，傳送第二通知至主控裝置；以及在主控裝置在接收到第二通知之後，傳送畫線控制命令至自動畫線裝置，使得在電源供應裝置供給具有測試訊號的電力至觸控裝置的狀態下，自動畫線裝置於觸控裝置上進行畫線。
在本發明的一實施例中，基於掃頻間距傳送訊號產生命令至訊號產生器，使得訊號產生器輸出測試訊號至電源供應裝置的步驟中，還可透過主控裝置控制訊號產生器來設定測試訊號的波形、頻率及振幅至少其中一個。
在本發明的一實施例中，在收集自動畫線裝置於觸控裝置上進行畫線所產生的畫線軌跡之後，更包括：記錄畫線軌跡；以及清除顯示於觸控裝置上的畫線軌跡。
在本發明的一實施例中，在基於畫線軌跡，判斷測試訊號是否通過頻率干擾測試的步驟包括：基於畫線軌跡獲得多個點座標資訊；判斷這些點座標資訊是否符合預先定義標準；若這些點座標資訊符合預先定義標準，判定測試訊號並非觸控裝置內之觸控IC的工作頻率，不會影響觸控裝置（即，通過頻率干擾測試）；以及若這些點座標資訊不符合預先定義標準，判定測試訊號為觸控裝置內之觸控IC的工作頻率，將會影響觸控裝置（即，未通過頻率干擾測試）。
在本發明的一實施例中，在基於畫線軌跡，判斷測試訊號是否通過頻率干擾測試之後，記錄頻率干擾測試的結果。
本發明的觸控裝置的檢測系統，包括：觸控裝置、電源供應裝置、自動畫線裝置、訊號產生器以及主控裝置。電源供應裝置用以供電至觸控裝置。自動畫線裝置用以在觸控裝置上進行畫線。訊號產生器耦接至電源供應裝置，並輸出測試訊號至電源供應裝置。主控裝置耦接至觸控裝置、自動畫線裝置以及訊號產生器，且控制訊號產生器以及自動畫線裝置雙方同步進行運作。主控裝置驅動訊號產生器輸出測試訊號至電源供應裝置，並且，主控裝置驅動自動畫線裝置，使得在電源供應裝置供給具有測試訊號的電力至觸控裝置的狀態下，自動畫線裝置於觸控裝置上進行畫線。觸控裝置收集自動畫線裝置所產生的畫線軌跡，並且基於畫線軌跡，判斷測試訊號是否通過頻率干擾測試。
基於上述，本發明利用主控裝置同時控制訊號產生器與自動畫線裝置，並且依實際需求來設定掃頻間距，以自動進行多個測試訊號的切換。據此，可設定多樣的測試訊號作為干擾訊號源，以更精準地找到干擾頻率，進一步節省人力成本，並且能夠自動產生結果。
為讓本發明的上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。
圖1是依照本發明一實施例的觸控裝置的檢測系統的示意圖。檢測系統100包括主控裝置110、訊號產生器120、自動畫線裝置130、觸控裝置140以及電源供應裝置150。在此，主控裝置110耦接至訊號產生器120、自動畫線裝置130以及觸控裝置140。訊號產生器120耦接至電源供應裝置150。
例如，主控裝置110透過通用序列匯流排（Universal Serial Bus，USB）連接至訊號產生器120，且利用RS232介面連接至自動畫線裝置130。另外，觸控裝置140利如是利用遠端桌面協定（Remote Desktop Protocol，RDP）而透過有線或無線傳輸方式與主控裝置110連接。訊號產生器120的訊號輸出端耦接至電源供應裝置150的電源供應插座，以將訊號產生器120所產生的測試訊號作為干擾訊號源。而電源供應裝置150耦接至觸控裝置140的電源輸入端，以供給具有測試訊號的電力至觸控裝置140。
主控裝置110例如為桌上型電腦、筆記型電腦、平板電腦等具有運算功能的電子裝置，用以控制訊號產生器120以及自動畫線裝置130，使得雙方得以同步進行運作。訊號產生器120用以產生各種不同波形、電壓與頻率的測試訊號，並將測試訊號供給至電源供應裝置150。自動畫線裝置130例如為雙指的觸控畫線裝置，用以在觸控裝置140上進行畫線。而在其他實施例中，自動畫線裝置130也可以是單指或多指的觸控畫線裝置。
觸控裝置140為具有觸控IC的電子裝置。觸控IC可以是電容式、電阻式、紅外線式或聲波式，其用以接收觸頭（包括手指或者膠筆頭等）等輸入訊號。
檢測系統100利用主控裝置110來同時控制訊號產生器120與自動畫線裝置130，並儲存所有相關的畫線軌跡及觸控所產的點座標資料，而從點座標資料中來判斷對應的測試訊號是否產生干擾。
主控裝置110除了安裝了自動畫線裝置130的控制軟體（自動畫線裝置控制模組）之外，還安裝了訊號產生器120的驅動程式與應用程式（訊號產生器控制模組），使訊號產生器120可被控制（例如以USB連接），並產生各種測試訊號。而觸控裝置140則利用RDP與主控裝置110連接，並控制主控裝置110。主程式則安裝在觸控裝置140上，以達成整個檢測系統100的控制。底下舉一實施例來說明。
圖2是依照本發明一實施例的觸控裝置的檢測系統的方塊圖。請參照圖2，主控裝置110包括處理器111以及儲存裝置112。儲存裝置112中儲存有對應於訊號產生器120的驅動程式與訊號產生器控制模組113，以及對應於自動畫線裝置130的驅動程式與自動畫線裝置控制模組114。透過處理器111執行訊號產生器控制模組113與自動畫線裝置控制模組114。
觸控裝置140包括處理器141以及儲存裝置142。儲存裝置142中儲存主程式143。處理器141執行主程式143，以控制訊號產生器控制模組113以及自動畫線裝置控制模組114。例如，主程式143傳送通知至主控裝置110的處理器111，使得處理器111來驅動訊號產生器控制模組113與自動畫線裝置控制模組114。
所述處理器111、141例如為中央處理單元（Central Processing Unit，CPU）、圖像處理單元（Graphic Processing Unit，GPU）、物理處理單元（Physics Processing Unit，PPU）、可程式化之微處理器（Microprocessor）、嵌入式控制晶片、數位訊號處理器（Digital Signal Processor，DSP）、特殊應用積體電路（Application Specific Integrated Circuits，ASIC）或其他類似裝置。
儲存裝置112、142例如是任意型式的固定式或可移動式隨機存取記憶體（Random Access Memory，RAM）、唯讀記憶體（Read-Only Memory，ROM）、快閃記憶體（Flash memory）、硬碟或其他類似裝置或這些裝置的組合。
本實施例僅為檢測系統100的一種實施方式，並不以此為限。例如，在其他實施例中，亦可將主程式143設置在主控裝置110，而主控裝置110透過網路連接至觸控裝置140。
圖3是依照本發明一實施例的觸控裝置的檢測方法的流程圖。請同時參照圖1及圖3，本實施例描述觸控裝置140本身的作動。觸控裝置140利用主控裝置110控制訊號產生器120以及自動畫線裝置130雙方同步進行運作。
在步驟S305中，透過訊號產生器120輸出測試訊號至電源供應裝置150。並且，在步驟S310中，在電源供應裝置150供給具有測試訊號的電力至觸控裝置140的狀態下，收集自動畫線裝置130於觸控裝置140上進行畫線所產生的畫線軌跡。具體而言，主控裝置110會分別傳送訊號產生命令與畫線控制命令至訊號產生器120與自動畫線裝置130，以在訊號產生器120輸出測試訊號至電源供應裝置150的狀態下，自動畫線裝置130會在觸控裝置140上進行畫線。
接著，步驟S315中，觸控裝置140基於畫線軌跡，判斷測試訊號是否通過頻率干擾測試。舉例來說，觸控裝置140會基於畫線軌跡獲得多個點座標資訊（爆點資訊）。接著，判斷這些點座標資訊是否符合預先定義標準（criteria）。若這些點座標資訊符合預先定義標準，觸控裝置140判定測試訊號通過頻率干擾測試，代表測試訊號並非觸控裝置140內之觸控IC的工作頻率，則測試訊號不會影響觸控裝置140。若這些點座標資訊不符合預先定義標準，觸控裝置140判定測試訊號未通過頻率干擾測試，代表測試訊號為觸控裝置140內之觸控IC的工作頻率，則測試訊號將會影響觸控裝置140。
圖4A及圖4B是依照本發明一實施例的畫線軌跡的示意圖。在圖4A及圖4B中，以自動畫線裝置130為雙指的觸控畫線裝置為例來進行說明。
請參照圖4A，觸控裝置140收集到自動畫線裝置130所畫出的兩線段為大致平行的線段，且兩線段之間相距的距離D1。接著，觸控裝置140判斷距離D1是否位於預設範圍（即，預先定義標準）內。倘若距離D1位於預設範圍內（D down＜D1＜D up），則判定觸控裝置140目前所接收的測試訊號通過頻率干擾測試。倘若距離D1不在預設範圍內，則判定觸控裝置140目前所接收的測試訊號未通過頻率干擾測試。
請參照圖4B，觸控裝置140收集到自動畫線裝置130所畫出的兩線段為不規則的曲線，則取出兩條曲線相距的最大距離D2與最小距離D3。接著，觸控裝置140判斷最大距離D2是否位於預設範圍內，以及最小距離D3是否同樣位於預設範圍內。倘若最大距離D2與最小距離D3皆位於預設範圍內，則判定觸控裝置140目前所接收的測試訊號通過頻率干擾測試。倘若最大距離D2或最小距離D3不在預設範圍內，則判定觸控裝置140目前所接收的測試訊號未通過頻率干擾測試。
而在其他實施例中，觸控裝置140亦可將自動畫線裝置130進行觸控畫線所獲得的點座標資訊（爆點資訊）傳送至主控裝置110進行運算，在此並不限定。
圖5是依照本發明另一實施例的觸控裝置的檢測方法的流程圖。在開始進行檢測時，將訊號產生器120、自動畫線裝置130以及觸控裝置140與主控裝置110連線。
在此，利用主控裝置110來設置掃頻間距，並且基於掃頻間距來產傳送訊號產生命令至訊號產生器120。具體而言，主控裝置110每次會發送一個訊號產生命令至訊號產生器120，使得訊號產生器120基於訊號產生命令來輸出對應的測試訊號。而基於不同的多個訊號產生命令所輸出的多個測試訊號，其各自的波形、頻率及振幅至少一個會不相同。
另外，在其他實施例中，亦可由觸控裝置140的主程式141來設定掃頻間距，並發送通知至主控裝置110，使得主控裝置110基於掃頻間距來輸出對應的訊號產生命令至訊號產生器120。
主控裝置110分別傳送訊號產生命令與畫線控制命令至訊號產生器120與自動畫線裝置130。訊號產生器120在接收到訊號產生命令之後，在步驟S510中，訊號產生器120輸出測試訊號至電源供應裝置150。並且，自動畫線裝置130在接收到畫線控制命令之後，在步驟S515中，在供給具有測試訊號的電力至觸控裝置140的狀態下，自動畫線裝置130於觸控裝置140上進行畫線。
具體而言，可透過觸控裝置140傳送第一通知至主控裝置110。在主控裝置110在接收到第一通知之後，基於掃頻間距來傳送訊號產生命令至訊號產生器120，使得訊號產生器120基於所接收的訊號產生命令來輸出對應的測試訊號。訊號產生命令中包括了頻率、波形以及振幅等設定參數。在觸控裝置140確認接收到具有測試訊號的電力之後，傳送第二通知至主控裝置110。在主控裝置110在接收到第二通知之後，傳送畫線控制命令至自動畫線裝置130，使得在電源供應裝置150供給具有測試訊號的電力至觸控裝置140的狀態下，自動畫線裝置130於觸控裝置140上進行畫線。
接著，在步驟S520中，觸控裝置140收集畫線軌跡。並且，在步驟S525中，觸控裝置140記錄畫線軌跡。之後，在步驟S530中，觸控裝置140獲得頻率干擾測試的結果。觸控裝置140會基於畫線軌跡來判斷測試訊號是否通過頻率干擾測試。例如，觸控裝置140基於畫線軌跡獲得多個點座標資訊（爆點資訊），進而判斷這些點座標資訊是否符合預先定義標準。最後，在步驟S535中，記錄頻率干擾測試的結果。另外，在記錄畫線軌跡之後，觸控裝置140的處理器141會清除顯示於觸控裝置140上的畫線軌跡。之後，在步驟S540中，判斷測試訊號是否已測試完畢。若是，則結束檢測流程。若否，觸控裝置140通知主控裝置110，使得主控裝置110基於掃頻間距繼續傳送訊號產生命令至訊號產生器120，並且傳送畫線控制命令至自動畫線裝置130。
而經由步驟S510~S545可以獲得頻率干擾測試的最終結果，例如，如表1所示。從表1中可知觸控裝置140的工作頻率為100KHz及150KHz。
表1 <TABLE border="1" borderColor="#000000" width="85%"><TBODY><tr><td> 測試訊號 </td><td> 結果 </td><td> 測試訊號 </td><td> 結果 </td></tr><tr><td> Sin20V10kHz </td><td> 通過 </td><td> Squ20V10kHz </td><td> 通過 </td></tr><tr><td> Sin20V20kHz </td><td> 通過 </td><td> Squ20V20kHz </td><td> 通過 </td></tr><tr><td> …… </td><td> 通過 </td><td> …… </td><td> 通過 </td></tr><tr><td> Sin20V80kHz </td><td> 通過 </td><td> Squ20V80kHz </td><td> 通過 </td></tr><tr><td> Sin20V90kHz </td><td> 通過 </td><td> Squ20V90kHz </td><td> 通過 </td></tr><tr><td> Sin20V100kHz </td><td> 未通過 </td><td> Squ20V100kHz </td><td> 未通過 </td></tr><tr><td> Sin20V110kHz </td><td> 通過 </td><td> Squ20V110kHz </td><td> 通過 </td></tr><tr><td> Sin20V120kHz </td><td> 通過 </td><td> Squ20V120kHz </td><td> 通過 </td></tr><tr><td> Sin20V130kHz </td><td> 通過 </td><td> Squ20V130kHz </td><td> 通過 </td></tr><tr><td> Sin20V140kHz </td><td> 通過 </td><td> Squ20V140kHz </td><td> 通過 </td></tr><tr><td> Sin20V150kHz </td><td> 未通過 </td><td> Squ20V150kHz </td><td> 未通過 </td></tr><tr><td> Sin5V500kHz </td><td> 通過 </td><td> Squ5V500kHz </td><td> 通過 </td></tr><tr><td> Sin5V1000kHz </td><td> 通過 </td><td> Squ5V1000kHz </td><td> 通過 </td></tr></TBODY></TABLE>
綜上所述，利用主控裝置同時控制訊號產生器與自動畫線裝置，藉以自動進行多個測試訊號的切換。利用主控裝置可依實際需求來設定掃頻間距，以及調整測試訊號的波形及振幅大小，即，可隨意變更所欲進行檢測的波形、振幅與頻率來設定多樣的測試訊號，增進使用彈性，縮短測試時間。據此，由於頻率間距縮小，因此可精準測得干擾頻率，進而避免人為測試的頻段範圍過大導致無法精準地找出干擾頻率。並且，藉由上述實施方式可確認觸控裝置內的觸控IC是否有自動跳頻機制。另外，可修改自動畫線裝置為十指，達成十指輸入量測，這是手動測試是無法達成。而利用自動化檢測可節省人力成本與自動產生結果。
雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明的精神和範圍內，當可作些許的更動與潤飾，故本發明的保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。
100‧‧‧檢測系統 110‧‧‧主控裝置 111、141‧‧‧處理器 112、142‧‧‧儲存裝置 113‧‧‧訊號產生器控制模組 114‧‧‧自動畫線裝置控制模組 120‧‧‧訊號產生器 130‧‧‧自動畫線裝置 140‧‧‧觸控裝置 143‧‧‧主程式 D1‧‧‧距離 D2‧‧‧最大距離 D3‧‧‧最小距離 S305~S315‧‧‧觸控裝置的檢測方法各步驟 S510~S545‧‧‧觸控裝置的檢測方法各步驟
圖1是依照本發明一實施例的觸控裝置的檢測系統的示意圖。 圖2是依照本發明一實施例的觸控裝置的檢測系統的方塊圖。 圖3是依照本發明一實施例的觸控裝置的檢測方法的流程圖。 圖4A及圖4B是依照本發明一實施例的畫線軌跡的示意圖。 圖5是依照本發明另一實施例的觸控裝置的檢測方法的流程圖。
S305~S315‧‧‧觸控裝置的檢測方法各步驟

Claims (13)

  1. 一種觸控裝置的檢測方法，包括： 透過一訊號產生器輸出一測試訊號至一電源供應裝置； 在該電源供應裝置供給具有該測試訊號的電力至該觸控裝置的狀態下，收集一自動畫線裝置於該觸控裝置上進行畫線所產生的一畫線軌跡；以及 基於該畫線軌跡，判斷該測試訊號是否通過頻率干擾測試。
  2. 如申請專利範圍第1項所述的觸控裝置的檢測方法，更包括： 利用一主控裝置控制該訊號產生器以及該自動畫線裝置雙方同步進行運作，包括： 基於一掃頻間距傳送一訊號產生命令至該訊號產生器，使得該訊號產生器輸出該測試訊號至該電源供應裝置；以及 傳送一畫線控制命令至該自動畫線裝置，使得在該電源供應裝置供給具有該測試訊號的電力至該觸控裝置的狀態下，該自動畫線裝置於該觸控裝置上進行畫線。
  3. 如申請專利範圍第2項所述的觸控裝置的檢測方法，更包括： 透過該觸控裝置傳送一第一通知至該主控裝置； 在該主控裝置在接收到該第一通知之後，基於該掃頻間距傳送該訊號產生命令至該訊號產生器，使得該訊號產生器基於所接收的該訊號產生命令來輸出對應的該測試訊號； 在該觸控裝置確認自該電源供應裝置接收到具有該測試訊號的電力之後，傳送一第二通知至該主控裝置；以及 在該主控裝置在接收到該第二通知之後，傳送一畫線控制命令至該自動畫線裝置，使得在該電源供應裝置供給具有該測試訊號的電力至該觸控裝置的狀態下，該自動畫線裝置於該觸控裝置上進行畫線。
  4. 如申請專利範圍第2項所述的觸控裝置的檢測方法，其中基於該掃頻間距傳送該訊號產生命令至該訊號產生器，使得該訊號產生器輸出該測試訊號至該電源供應裝置的步驟，更包括： 透過該主控裝置控制該訊號產生器來設定該測試訊號的波形、頻率及振幅至少其中一個。
  5. 如申請專利範圍第1項所述的觸控裝置的檢測方法，其中在收集該自動畫線裝置於該觸控裝置上進行畫線所產生的該畫線軌跡之後，更包括： 記錄該畫線軌跡；以及 清除顯示於該觸控裝置上的該畫線軌跡。
  6. 如申請專利範圍第1項所述的觸控裝置的檢測方法，其中基於該畫線軌跡，判斷該測試訊號是否通過頻率干擾測試的步驟包括： 基於該畫線軌跡獲得多個點座標資訊； 判斷該些點座標資訊是否符合一預先定義標準； 若該些點座標資訊符合該預先定義標準，判定該測試訊號通過該頻率干擾測試；以及 若該些點座標資訊不符合該預先定義標準，判定該測試訊號未通過該頻率干擾測試。
  7. 如申請專利範圍第1項所述的觸控裝置的檢測方法，其中在基於該畫線軌跡，判斷該測試訊號是否通過頻率干擾測試之後，更包括： 記錄該頻率干擾測試的結果。
  8. 一種觸控裝置的檢測系統，包括： 一觸控裝置； 一電源供應裝置，供電至該觸控裝置； 一自動畫線裝置，在該觸控裝置上進行畫線； 一訊號產生器，耦接至該電源供應裝置，並輸出一測試訊號至該電源供應裝置；以及 一主控裝置，耦接至該觸控裝置、該自動畫線裝置以及該訊號產生器，且控制該訊號產生器以及該自動畫線裝置雙方同步進行運作； 其中，該主控裝置驅動該訊號產生器輸出該測試訊號至該電源供應裝置，並且，該主控裝置驅動該自動畫線裝置，使得在該電源供應裝置供給具有該測試訊號的電力至該觸控裝置的狀態下，該自動畫線裝置於該觸控裝置上進行畫線； 該觸控裝置收集該自動畫線裝置所產生的一畫線軌跡，並且基於該畫線軌跡，判斷該測試訊號是否通過頻率干擾測試。
  9. 如申請專利範圍第8項所述的觸控裝置的檢測系統，其中該觸控裝置在收集該畫線軌跡之後，記錄該畫線軌跡；且該觸控裝置會清除顯示於該觸控裝置上的該畫線軌跡。
  10. 如申請專利範圍第8項所述的觸控裝置的檢測系統，其中該觸控裝置擷取該畫線軌跡的圖像，並自該圖像獲得多個點座標資訊，以及判斷該些點座標資訊是否符合一預先定義標準；若該些點座標資訊符合該預先定義標準，該觸控裝置判定該測試訊號通過該頻率干擾測試；若該些點座標資訊不符合該預先定義標準，該觸控裝置判定該測試訊號未通過該頻率干擾測試。
  11. 如申請專利範圍第8項所述的觸控裝置的檢測系統，其中該觸控裝置擷取該畫線軌跡的圖像，並傳送該圖像至該主控裝置， 該主控裝置自該圖像獲得多個點座標資訊，並且該主控裝置判斷該些點座標資訊是否符合一預先定義標準；若該些點座標資訊符合該預先定義標準，該主控裝置判定該測試訊號通過該頻率干擾測試；若該些點座標資訊不符合該預先定義標準，該主控裝置判定該測試訊號未通過該頻率干擾測試。
  12. 如申請專利範圍第8項所述的觸控裝置的檢測系統，其中在該主控裝置在自該觸控裝置接收到一第一通知之後，該主控裝置基於一掃頻間距傳送一訊號產生命令至該訊號產生器，使得該訊號產生器基於所接收的該訊號產生命令來輸出對應的該測試訊號； 在該觸控裝置確認自該電源供應裝置接收到具有該測試訊號的電力之後，傳送一第二通知至該主控裝置，而在該主控裝置在接收到該第二通知之後，傳送一畫線控制命令至該自動畫線裝置，使得在該電源供應裝置供給具有該測試訊號的電力至該觸控裝置的狀態下，該自動畫線裝置於該觸控裝置上進行畫線。
  13. 如申請專利範圍第12項所述的觸控裝置的檢測系統，其中該主控裝置控制該訊號產生器來設定該測試訊號的波形、頻率及振幅至少其中一個。
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