KR910015129A - 샘플/홀드회로장치 - Google Patents

샘플/홀드회로장치 Download PDF

Info

Publication number
KR910015129A
KR910015129A KR1019910001327A KR910001327A KR910015129A KR 910015129 A KR910015129 A KR 910015129A KR 1019910001327 A KR1019910001327 A KR 1019910001327A KR 910001327 A KR910001327 A KR 910001327A KR 910015129 A KR910015129 A KR 910015129A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
terminal
output
sample
hold
input
Prior art date
Application number
KR1019910001327A
Other languages
English (en)
Other versions
KR940002810B1 (ko
Inventor
데츠로 이타쿠라
다케시 시마
Original Assignee
아오이 죠이치
가부시키가이샤 도시바
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 아오이 죠이치, 가부시키가이샤 도시바 filed Critical 아오이 죠이치
Publication of KR910015129A publication Critical patent/KR910015129A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR940002810B1 publication Critical patent/KR940002810B1/ko

Links

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M7/00—Conversion of a code where information is represented by a given sequence or number of digits to a code where the same, similar or subset of information is represented by a different sequence or number of digits
    • H03M7/02—Conversion to or from weighted codes, i.e. the weight given to a digit depending on the position of the digit within the block or code word
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11C—STATIC STORES
    • G11C27/00—Electric analogue stores, e.g. for storing instantaneous values
    • G11C27/02—Sample-and-hold arrangements
    • G11C27/024—Sample-and-hold arrangements using a capacitive memory element
    • G11C27/026—Sample-and-hold arrangements using a capacitive memory element associated with an amplifier
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11C—STATIC STORES
    • G11C27/00—Electric analogue stores, e.g. for storing instantaneous values
    • G11C27/02—Sample-and-hold arrangements
    • G11C27/024—Sample-and-hold arrangements using a capacitive memory element
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2310/00—Command of the display device
    • G09G2310/02—Addressing, scanning or driving the display screen or processing steps related thereto
    • G09G2310/0264—Details of driving circuits
    • G09G2310/0289—Details of voltage level shifters arranged for use in a driving circuit
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/34—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source
    • G09G3/36—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source using liquid crystals
    • G09G3/3611—Control of matrices with row and column drivers
    • G09G3/3685—Details of drivers for data electrodes
    • G09G3/3688—Details of drivers for data electrodes suitable for active matrices only

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)
  • Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
  • Transforming Electric Information Into Light Information (AREA)
  • Amplifiers (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)

Abstract

내용 없음

Description

샘플/홀드회로장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 1실시예에 따른 샘플/홀드회로장치의 회로도, 제2도는 제1도의 샘플/홀드회로장치에 사용되는 제어신호의 타이밍챠트, 제3도는 제1도의 샘플/홀드회로장치를 설명하기 위한 회로도.

Claims (15)

  1. 입력신호를 받아들이는 입력신호단자와, 상기 입력신호단자와 내부단자간에 접속되어 제1제어신호에 따라 개폐되는 제1스위치수단, 상기 내부단자와 출력단자를 접속시키는 비선형소자, 상기 출력단자와 소정의 기준전위단자간에 접속되는 제1전위유지수단 및, 상기 출력단자와 상기 소정의 기준전위단자간에 접속되어 제2제어신호에 따라 개폐되는 제2스위치수단을 구비한 것을 특징으로 하는 샘플/홀드회로장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 내부단자와 상기 소정의 기준전위단자간에 접속되어 제2제어신호에 따라 개폐되는 제3스위치수단이 더 구비된 것을 특징으로 하는 샘플/홀드회로장치.
  3. 제1항에 있어서, 상기 내부단자와 상기 소정의 기준전위단자간에 접속되는 제2전위유지수단이 더 구비된 것을 특징으로 하는 샘플/홀드회로 장치.
  4. 제1항에 있어서, 상기 내부단자와 상기 소정의 기준전위단자를 접속시키는 제3스위치수단이 더 구비된 것을 특징으로 하는 샘플/홀드회로장치.
  5. 입력신호를 받아들이는 입력신호단자와, 상기 입력신호단자와 내부단자간에 접속되어 제1제어신호에 따라 개폐되는 스위치수단, 상기 내부단자와 상기 입력신호단자를 접속시키는 비선형소자, 출력단자와 소정의 기준전위단자간에 접속되는 전위유지수단 및, 상기 출력단자와 상기 소정의 기준전위단자간에 접속되어 제2제어신호에 의해 제어되는 전류원을 구비한 것을 특징으로 하는 샘플/홀드회로 장치.
  6. 입력신호를 받아들이는 입력단자와, 신호를 출력시키는 출력단자, 상기 입력단자와 상기 출력단자간에 접속되는 드레인-소오스경로와 게이트를 갖는 NMOS 트랜지스터, 상기 입력단자와 상기 출력단자간에 접속되는 드레인-소오스경로와 게이트를 갖는 PMOS트랜지터, 상기 출력단자와 소정의 기준전위단자간에 접속되는 전위유지수단, 상기 NMOS트랜지스터와 상기 PMOS트랜지스터중 한쪽의 게이트에 제어 신호를 인가하는 수단 및, 상기 제어신호의 반전신호를 지연시켜 상기 NMOS트랜지스터와 상기 PMOS트랜지스터중 다른 한쪽의 게이트에 인가하는 지연수단을 구비한 것을 특징으로 하는 샘플/홀드회로장치.
  7. 입력신호를 받아들이는 제1버퍼수단과, 상기 제1버퍼수단의 출력을 입력으로 하고 제1제어신호에 의해 개폐되는 제1스위치수단, 상기 제1스위치수단의 출력단자와 소정의 기준전위단자간에 접속되는 제1용량, 상기 제1스위치수단으로부터의 출력을 받아들이는 비반전입력단자, 반전입력단자 및 출력단자를 갖는 OP앰프, 상기 OP앰플의 출력단자와 반전입력단자간에 접속되는 제2버퍼수단, 상기 제2버퍼수단의 출력단자에 접속되는 제1단자와 제2단자를 갖는 제2스위치수단, 상기 제2스위치수단의 제2단자와 상기 OP앰프의 비반전입력단자간에 접속되는 제2용량, 상기 제1제어신호를 받아들이는 반전수단 및, 상기 반전수단의 출력을 입력으로서 받아들이는 입력단자와 상기 제2스위치수단의 개폐를 제어하는 제어단자에 접속된 출력단자를 갖는 지젼수단을 구비한 것을 특징으로 하는 샘플/홀드회로장치.
  8. 입력신호를 샘플/홀드시키는 제1샘플/홀드수단과, 상기 제1샘플/홀드수단의 출력을 더 샘플/홀드시키는 고입력임피던스를 갖는 제2샘플/홀드수단을 구비한 것을 특징으로 하는 샘플/홀드회로 장치.
  9. 제8항에 있어서, 상기 제1샘플/홀드수단이 입력신호를 받아들이는 입력신호단자와, 상기 입력신호단자와 내부단자간에 접속되어 제1제어신호에 따라 개폐되는 제1스위치수단, 상기 내부단자와 출력단자를 접속시키는 비선형소자, 상기 출력단자와 소정의 기준전위단자간에 접속되는 전위유지수단 및, 상기 출력단자와 상기 소정의 기준전위단자간에 접속되어 제2제어신호에 따라 개폐되는 제2스위치수단을 구비하고 있는 것을 특징으로 하는 샘플/홀드회로장치.
  10. 제8항에 있어서, 상기 제2샘플/홀드수단이 입력신호를 받아들이는 제1버퍼수단과, 상기 제1버퍼수단의 출력을 입력으로 하고 제1제어신호에 의해 개폐되는 제1스위치수단, 상기 제1스위치수단의 출력단자와 소정의 기준전위단자에 접속되는 제1용량, 상기 제1스위치수단으로부터으 출력을 받아들이는 비반전입력단자, 반전입력단자 및 출력단자를 갖는 OP앰프, 상기 OP앰프의 출력단자와 반전입력단자간에 접속되는 제2버퍼수단, 상기 제2버퍼수단의 출력단자에 접속되는 제1단자와 제2단자를 갖는 제2스위치수단, 상기 제2스위치수단의 제2단자와 상기 OP앰프의 비반전입력단자간에 접속되는 제2용량, 상기 제1제어신호를 받아들이는 반전수단및, 상기 반전 수단의 출력을 입력으로서 받아들이는 입력단자와 상기 제2스위치수단의 개폐를 제어하는 제어단자에 접속되는 출력단자를 갖는 지연수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 샘플/홀드회로장치.
  11. 제8항에 있어서, 상기 제2샘플/홀드수단이 입력신호를 받아들이는 제1버퍼수단과, 상기 제1버퍼수단의 출력을 샘플/홀드시키는 샘플/홀드회로, 전압플로워, 제2버퍼수단 및 상기 전압플로워의 부귀환경로에 배치되는 레벨시프트수단을 구비하고 있는 샘플/홀드회로장치에 있어서, 상기 제2샘플/홀드수단의 샘플/홀드회로가 입력신호를 받아들이는 입력신호단자와, 상기 입력신호단자와 내부단자간에 접속되어 제1제어신호에 따라 개폐되는 제1스위치수단, 상기 내부단자와 출력단자를 접속시키는 비선형소자, 상기 출력단자와 소정의 기준전위단자간에 접속되는 전위유지수단 및, 상기 출력단자와 상기 소정의 기준전위단자간에 접속되어 제2제어신호에 따라 개폐되는 제2스위치수단을 구비하고 있는 것을 특징으로 하는 샘플/홀드회로장치.
  12. 입력신호를 받아들이는 제1 및 제2샘플/홀드수단과, 상기 제1샘플/홀드수단의 출력을 입력으로 하는 제1버퍼수단, 상기 제2샘플/홀드수단의 출력을 입력으로 하는 제2버퍼수단, 상기 제1버퍼수단의 출력단자와 내부단자간에 접속되어 제1제어신호에 의해 개폐되는 제1스위치수단, 상기 제2버퍼수단의 출력단자와 내부단자간에 접속되어 제2제어신호에 의해 개폐되는 제2스위치수단 및, 상기 내부단자를 입력단자로서 포함하고 있는 제3버퍼수단을 구비한 것을 특징으로 하는 샘플/홀드회로장치.
    상기 제1샘플/홀드수단의 출력을 입력으로 하는 제 1버퍼수단, 상기 제2샘플/홀드수단의 출력을 입력으로 하는 제2버퍼수단, 상기 제1버퍼수단의 출력단자와 내부단자간에 접속되어 제1제어신호에 의해 개폐되는 제1스위치수 단, 상기 제2버퍼수단의 출력단자와 내부단자간에 접속되어 제2제어신호에 의해 개폐되는 제2스위치수단 및, 상기 내부단자를 입력단자로서 포함하고 있는 제3버퍼수단을 구비한 것을 특징으로 하는 샘플/홀드회로장치.
  13. 제1~N의 출력 DC성분을 제어할 수 있는 제어단자를 갖는 제1~제N(N≤1)샘플/홀드수단과, 제 N+1의 출력 DC성분을 제어하기 위한 임의의 기준전위가 인가되는 제N+1의 입력단자를 갖는 제N+1샘플/홀드수단 및, 상기 제N+1샘플/홀드수단의 출력과 기준전위를 비교하여 그 차를 증폭하는 비교증폭수단을 구비하고서, 상기 비교증폭수단의 출력을 상기 제1~제N+1샘플/홀드수단의 제어단자로 피드백시키고, 상기 제1~N+1샘플/홀드수단의 각각은 시프트양을 제어하기 위해 삽입되는 전압플로워와 레벨시프트수단의 부귀환경로를 갖는 샘플/홀드회로로 구성된 것을 특징으로 하는 샘플/홀드회로장치.
  14. 출력 DC성분을 제어할 수 있는 제어단자를 갖는 N개(N≤1)의 샘플/홀드수단과, 상기 N개의 샘플/홀드수단의 출력의 평균치를 계산하는 수단, 상기 평균치를 유지하는 수단 및, 상기 유지된 평균치와 임의의 기준전위를 비교하여 그 차를 증폭하는 비교증폭수단을 구비하고서, 상기 비교증폭수단의 출력을 상기 N개의 샘플/홀드수단의 제어단자로 피드백시키고, 상기 평균치를 계산하는 수단은 상기 N개의 샘플/홀드수단의 출력을 선택적으로 출력시키는 MOS스위치와 상기 MOS스위치의 개폐제어에 의해 평균치를 얻는 수단으로 구성된 것을 특징으로 하는 샘플/홀드회로장치.
  15. 출력 DC성분을 제어하고 출력을 발생시키는 제어단자를 갖는 N개(N〉1)의 샘플/홀드수단과, 상기 N개의 샘플/홀드수단의 출력의 평군치를 계산하는 수단, 상기 평균치와 임의의 기준전위를 비교하여 그 차를 증폭하는 비교증폭수단, 상기 비교증폭수단의 출력을 유지하는 수단을 구비하고서, 상기 유지수단의 출력을 상기 N개의 샘플/홀드수단의 제어단자로 피드백시키고, 상기 평균치를 계산하는 수단은 N개의 샘플/홀드수단의 각각의 출력을 선택적으로 출력시키는 스위치수단과 평균치를 얻기위해 상기 스위치수단을 온 또는 오프시키는 수단을 구비하고 있는 것을 특징으로 하는 샘플/홀드회로장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019910001327A 1990-01-26 1991-01-26 샘플/홀드회로장치 KR940002810B1 (ko)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP90-17299 1990-01-26
JP1729990 1990-01-26
JP02-017299 1990-01-26

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR910015129A true KR910015129A (ko) 1991-08-31
KR940002810B1 KR940002810B1 (ko) 1994-04-02

Family

ID=11940127

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019910001327A KR940002810B1 (ko) 1990-01-26 1991-01-26 샘플/홀드회로장치

Country Status (4)

Country Link
US (3) US5162670A (ko)
EP (2) EP0438927B1 (ko)
KR (1) KR940002810B1 (ko)
DE (2) DE69029933T2 (ko)

Families Citing this family (44)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2698222B2 (ja) * 1991-03-25 1998-01-19 シャープ株式会社 サンプルホールド回路
JP2698225B2 (ja) * 1991-04-15 1998-01-19 シャープ株式会社 サンプルホールド回路
JP2642255B2 (ja) * 1991-04-25 1997-08-20 シャープ株式会社 サンプルホールド回路
JP2833289B2 (ja) * 1991-10-01 1998-12-09 日本電気株式会社 アナログスイッチ
US5448189A (en) * 1992-04-10 1995-09-05 Loral Infrared & Imaging Systems, Inc. Signal averaging apparatus
DE69325691T2 (de) * 1992-10-19 2000-02-17 Koninkl Philips Electronics Nv Abtast-und Halteschaltung mit Reduktion des Taktdurchgriffs
US5481212A (en) * 1993-03-12 1996-01-02 Kabushiki Kaisha Toshiba Sample-and-hold circuit device
KR0161361B1 (ko) * 1993-04-28 1999-03-20 사또 후미오 구동 회로 장치
JPH07130193A (ja) * 1993-09-10 1995-05-19 Toshiba Corp バッファ回路及びこれを用いた液晶ディスプレイ装置
EP0696804B1 (en) * 1994-08-08 2001-06-13 Yozan Inc. Sampling and holding circuit
US5479121A (en) * 1995-02-27 1995-12-26 Industrial Technology Research Institute Compensating circuit for MOSFET analog switches
JP3518086B2 (ja) * 1995-09-07 2004-04-12 ソニー株式会社 映像信号処理装置
KR100250628B1 (ko) * 1996-10-30 2000-04-01 윤덕용 초고주파용 전계효과 트랜지스터 회로의 게이트단자 파형 왜곡 제어회로
US6185509B1 (en) 1997-03-13 2001-02-06 Wavecrest Corporation Analysis of noise in repetitive waveforms
US5959470A (en) * 1997-08-25 1999-09-28 Texas Instruments Incorporated Operational amplifier with two sample and hold circuits
TW461180B (en) 1998-12-21 2001-10-21 Sony Corp Digital/analog converter circuit, level shift circuit, shift register utilizing level shift circuit, sampling latch circuit, latch circuit and liquid crystal display device incorporating the same
US6128039A (en) * 1999-01-11 2000-10-03 Omnivision Technologies, Inc. Column amplifier for high fixed pattern noise reduction
KR100360759B1 (ko) 1999-02-25 2002-11-18 가부시끼가이샤 도시바 집적회로장치 및 이를 이용한 액정표시장치
GB9917677D0 (en) * 1999-07-29 1999-09-29 Koninkl Philips Electronics Nv Active matrix array devices
SE9903532D0 (sv) 1999-09-28 1999-09-28 Jiren Yuan Versatile charge sampling circuits
US6518800B2 (en) * 2000-05-31 2003-02-11 Texas Instruments Incorporated System and method for reducing timing mismatch in sample and hold circuits using the clock
JP4770001B2 (ja) * 2000-06-22 2011-09-07 日本テキサス・インスツルメンツ株式会社 駆動回路及び電圧ドライバ
DE60131892T2 (de) * 2000-12-22 2008-04-30 Nxp B.V. Niedrige Spannungsabtastschaltung mit Kompressions- und Ausdehnungsspannungsbereich
US6480128B1 (en) * 2001-05-25 2002-11-12 Infineon Technologies Ag High-speed sample-and-hold circuit with gain
US7049855B2 (en) * 2001-06-28 2006-05-23 Intel Corporation Area efficient waveform evaluation and DC offset cancellation circuits
JP4046015B2 (ja) * 2002-06-07 2008-02-13 セイコーエプソン株式会社 電子回路、電子装置、電気光学装置及び電子機器
WO2004049576A2 (en) * 2002-11-22 2004-06-10 Walter Snoeijs Track and hold circuit
KR100515300B1 (ko) * 2003-10-07 2005-09-15 삼성에스디아이 주식회사 전류 샘플/홀드 회로와 전류 샘플/홀드 방법 및 이를이용한 역다중화 장치와 디스플레이 장치
KR101126343B1 (ko) * 2004-04-30 2012-03-23 엘지디스플레이 주식회사 일렉트로-루미네센스 표시장치
US7113116B2 (en) * 2005-01-26 2006-09-26 Analog Devices, Inc. Sample and hold apparatus
KR100707634B1 (ko) 2005-04-28 2007-04-12 한양대학교 산학협력단 데이터 구동회로와 이를 이용한 발광 표시장치 및 그의구동방법
US7479995B2 (en) * 2005-05-19 2009-01-20 Digital Imaging Systems Gmbh On chip real time FPN correction without imager size memory
TW200740132A (en) * 2005-10-26 2007-10-16 Nxp Bv Electronic device for receiving RF signals and method for RF sampling
WO2007058932A1 (en) * 2005-11-10 2007-05-24 Cambridge Analog Technology, Llc Precision sampling circuit
JP2009027389A (ja) * 2007-07-18 2009-02-05 Sony Corp 信号処理装置、フィルタ装置、信号処理方法、およびフィルタ方法
KR101598220B1 (ko) * 2007-12-27 2016-02-26 티피오 디스플레이스 코포레이션 트랜지스터 출력 회로 및 방법
EP2077616A1 (en) * 2007-12-27 2009-07-08 TPO Displays Corp. Transistor output circuit and method
KR100902237B1 (ko) * 2008-02-20 2009-06-11 삼성모바일디스플레이주식회사 유기전계발광 표시장치
GB2479594A (en) * 2010-04-16 2011-10-19 St Microelectronics A sample and hold circuit with internal averaging of samples
WO2013002762A1 (en) * 2011-06-27 2013-01-03 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Ink level sensor and related methods
US9576679B2 (en) 2014-10-09 2017-02-21 Silicon Laboratories Inc. Multi-stage sample and hold circuit
CN108989712B (zh) * 2017-06-01 2021-10-26 松下知识产权经营株式会社 摄像装置
US11264111B2 (en) * 2017-08-14 2022-03-01 Silicon Laboratories Inc. Reduced-leakage apparatus for sampling electrical signals and associated methods
WO2019187382A1 (ja) * 2018-03-30 2019-10-03 富士フイルム株式会社 合焦制御装置、合焦制御方法、及びプログラム

Family Cites Families (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3862437A (en) * 1973-09-04 1975-01-21 Burroughs Corp Sample peak and hold with dual current source
JPS55163694A (en) * 1979-06-01 1980-12-19 Fujitsu Ltd Sample holding circuit
WO1981000928A1 (en) * 1979-09-27 1981-04-02 American Micro Syst Sample and hold circuit with offset cancellation
JPS5753897A (en) * 1980-09-14 1982-03-31 Ricoh Co Ltd Signal detecting circuit
US4363976A (en) * 1981-01-19 1982-12-14 Rockwell International Corporation Subinterval sampler
JPS5819798A (ja) * 1981-07-28 1983-02-04 Sony Corp サンプルホ−ルド回路
US4467227A (en) * 1981-10-29 1984-08-21 Hughes Aircraft Company Channel charge compensation switch with first order process independence
US4502049A (en) * 1982-08-30 1985-02-26 Itec, Inc. Universal signalling tone receiver
US4542304A (en) * 1982-12-20 1985-09-17 At&T Bell Laboratories Switched capacitor feedback sample-and-hold circuit
JPS59178690A (ja) * 1983-03-29 1984-10-09 Matsushita Electric Ind Co Ltd サンプル・ホ−ルド回路
JPS6059389A (ja) * 1983-09-12 1985-04-05 シャープ株式会社 液晶表示装置の駆動回路
JPS60117500A (ja) * 1983-11-29 1985-06-24 Nec Corp サンプル・ホ−ルド回路
NL8400090A (nl) * 1984-01-11 1985-08-01 Philips Nv Parallel-serieomzetter.
JPS60154400A (ja) * 1984-01-23 1985-08-14 Sony Corp サンプリング回路
EP0157607B1 (en) * 1984-04-02 1993-02-10 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Analog data storage system
JPS60235520A (ja) * 1984-05-08 1985-11-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電圧変換保持回路
US4584559A (en) * 1984-06-13 1986-04-22 Tektronix, Inc. Dual rank sample and hold circuit and method
US4641324A (en) * 1984-09-14 1987-02-03 Eastman Kodak Company Signal correction apparatus
JPH0654961B2 (ja) * 1985-04-10 1994-07-20 松下電器産業株式会社 サンプルホ−ルド回路
US4610243A (en) * 1985-05-06 1986-09-09 Charles D. Ray, Ltd. Malleable force-fulcrum retractor
US4634993A (en) * 1985-08-23 1987-01-06 Burr-Brown Corporation High gain, low drift operational amplifier for sample and hold circuit
JPH0770239B2 (ja) * 1986-02-24 1995-07-31 ソニー株式会社 サンプルホ−ルド回路
FR2597648B1 (fr) * 1986-04-22 1992-09-11 Thomson Csf Circuit d'echantillonnage et maintien de signal a faible residu d'echantillonnage et utilisation de ce circuit au double echantillonnage correle de signaux
US4806790A (en) * 1987-02-16 1989-02-21 Nec Corporation Sample-and-hold circuit
US4922452A (en) * 1987-11-16 1990-05-01 Analytek, Ltd. 10 Gigasample/sec two-stage analog storage integrated circuit for transient digitizing and imaging oscillography
JPH0632239B2 (ja) * 1987-11-30 1994-04-27 株式会社東芝 サンプル・ホールド回路
JP2503598B2 (ja) * 1988-08-08 1996-06-05 日本電気株式会社 ピ―ク電圧保持回路
FR2646741B1 (fr) * 1989-05-03 1994-09-02 Thomson Hybrides Microondes Echantillonneur-bloqueur a haute frequence d'echantillonnage
JPH04179996A (ja) * 1990-11-15 1992-06-26 Toshiba Corp サンプルホールド回路およびこれを用いた液晶ディスプレイ装置
JPH04298898A (ja) * 1991-03-27 1992-10-22 Seiko Epson Corp サンプルホールド回路

Also Published As

Publication number Publication date
US5376841A (en) 1994-12-27
US5162670A (en) 1992-11-10
EP0438927B1 (en) 1997-02-12
KR940002810B1 (ko) 1994-04-02
EP0741391B1 (en) 2000-02-23
DE69029933D1 (de) 1997-03-27
DE69033468D1 (de) 2000-03-30
EP0438927A3 (en) 1991-12-27
DE69033468T2 (de) 2000-08-03
EP0741391A2 (en) 1996-11-06
US5343089A (en) 1994-08-30
EP0438927A2 (en) 1991-07-31
DE69029933T2 (de) 1997-08-14
EP0741391A3 (en) 1996-11-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR910015129A (ko) 샘플/홀드회로장치
GB1310959A (en) Integrating network using at least one dc amplifier
KR910006732A (ko) 전류검출회로
KR900001113A (ko) 대칭 집적 증폭기
EP1405406A2 (en) Bias method and circuit for distortion reduction
KR950025558A (ko) 맵핑회로와 이를 이용한 혼돈 신경망
KR830008460A (ko) 선형성 고이득 샘플링(Sampling)증폭기
KR920022287A (ko) 전류 메모리 셀
KR0161512B1 (ko) 적분기 회로
US11713998B2 (en) Ambient light sensor and method
KR860007783A (ko) 개선된 출력특성을 갖는 비교기 회로
KR860002102A (ko) 샘플 및 홀드회로
KR900002552A (ko) 출력회로
KR900019364A (ko) 적분기 회로
KR100702810B1 (ko) 전류 측정 장치와 전류 측정 장치를 사용하는 전화 단말기
US4249095A (en) Comparator, sense amplifier
KR890005753A (ko) 샘플된 아날로그 전기신호 처리방법 및 장치
GB888718A (en) Improvements in or relating to voltage comparison circuit
KR870007510A (ko) 반도체 메모리 소자의 데이타 판독회로
US7129797B2 (en) Wideband Gaussian white noise source
SE8103279L (sv) Samplings- och hallarkrets med offset-eliminering
EP0390494A3 (en) Wideband amplifier using fet
DE60131892D1 (de) Niedrige spannungsabtastschaltungm mir kompressions- und ausdehnungsspannungsbereich
KR920013711A (ko) 반도체 집적회로장치
US6310515B1 (en) CMOS track and hold amplifier

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
G160 Decision to publish patent application
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20030401

Year of fee payment: 10

LAPS Lapse due to unpaid annual fee