KR20120037005A - 천 조각 검사 장치 및 검사 방법 - Google Patents

천 조각 검사 장치 및 검사 방법 Download PDF

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Abstract

오염과 파손을 확실하게 판별할 수 있으며, 오염의 검출 정밀도가 높은 천 조각 검사 장치 및 검사 방법을 제공한다. 암색부(21)와 투광부(22)를 갖는 검사대(20)와, 암색부(21)를 통과하는 천 조각(T)의 반사광을 촬영하는 제 1 검사 카메라(41)와, 투광부(22)를 통과하는 천 조각(T)의 투과광을 촬영하는 제 2 검사 카메라(42)를 구비한다. 반사광과 투과광 모두 주위보다 어두운 부분을 오염으로 판단하고, 반사광은 주위보다 어둡고, 투과광은 주위보다 밝은 부분을 파손으로 판단함으로써 오염과 파손을 확실하게 판별할 수 있다. 천 조각 내부의 오염이 강조되어 오염의 검출 정밀도가 높다.

Description

천 조각 검사 장치 및 검사 방법 {CLOTH INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD}
본 발명은 천 조각(布片) 검사 장치 및 검사 방법에 관한 것이다. 더욱 자세하게는, 세탁?건조가 끝난 타올 등의 천 조각에 오염이나 파손 등의 결함이 있는지 검사하는 천 조각 검사 장치 및 검사 방법에 관한 것이다.
호텔이나 병원 등에서는 대량으로 타올 등의 천 조각이 사용되고, 그 사용이 끝난 천 조각은 세탁 공장에서 세탁?건조되어 다시 호텔이나 병원 등에서 사용되는 것이 일반적이다.
세탁 공장에서는 천 조각을 세탁?건조한 후 오염이나 파손 등의 결함이 있는지 검사한 후, 결함이 없는 천 조각만을 접이기로 접는 작업이 이루어진다.
천 조각의 검사를 작업원이 시각적으로 행하는 경우, 작업원에 의해서 좋고 나쁨의 판정이 다를 수 있기 때문에 최근에는 이 작업은 천 조각 검사 장치에 의해 이루어지고 있다.
천 조각 검사 장치의 일례로 특허 문헌 1의 장치가 있다.
도 7에 도시한 바와 같이, 본 장치는 일련의 반송 컨베이어(101)와, 일련의 반송 컨베이어(101)에서의 외향 반송부(101A)에서 반송되는 천 조각의 앞면을 검사하는 카메라(104)와, 내향 반송부(101B)에서 반송되는 천 조각의 뒷면을 검사하는 카메라(105)를 구비하고 있다.
천 조각을 외부 반송부(101A) 및 내부 반송부(101B)로 반송하여, 카메라(104, 105)로 촬영함으로써 앞뒤 양면을 검사할 수 있게 되어 있다.
따라서, 검사 결과, 오염이 있는 천 조각은 다시 세탁으로 보내지고, 파손이 있는 천 조각은 폐기되는데, 종래의 천 조각 검사 장치에서는 오염과 파손의 구별이 어렵기 때문에 파손이 있는 천 조각도 세탁으로 보내지는 경우가 있으며, 이 경우 파손이 있는 천 조각은 여러 차례 세탁되게 된다. 이 때문에, 오염과 파손을 확실히 판별하고, 파손이 있는 천 조각을 폐기함으로써 처리 효율의 향상을 도모하는 것이 요구되었다.
또한 예를 들면, 타올 표면의 파일 직물은 오염되어 있지 않으나, 바탕천이 오염되어 있는 경우에는 오염 검출이 어렵기 때문에 이러한 오염 검출 정밀도의 향상이 요구되었다.
일본특허공개공보 제2004-177143호
본 발명은 상기 사정을 감안하여 이루어진 것으로, 오염과 파손을 확실히 판별할 수 있으며, 오염의 검출 정밀도가 높은 천 조각 검사 장치 및 검사 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
제 1 발명의 천 조각 검사 장치는, 천 조각의 반사광을 촬영하는 제 1 검사 카메라 및 상기 천 조각의 투과광을 촬영하는 제 2 검사 카메라를 구비하는 것을 특징으로 한다.
제 2 발명의 천 조각 검사 장치는, 제 1 발명에 있어서, 상기 제 1 검사 카메라는 상기 천 조각의 앞면의 반사광을 촬영하고, 상기 제 2 검사 카메라는 상기 천 조각의 뒷면의 반사광도 촬영하는 것을 특징으로 한다.
제 3 발명의 천 조각 검사 장치는, 제 1 또는 제 2 발명에 있어서, 상기 천 조각이 통과하는 검사대를 구비하고, 그 검사대는 암색부와 투광부를 가지며, 상기 제 1 검사 카메라는 상기 암색부를 통과하는 천 조각을 촬영하고, 상기 제 2 검사 카메라는 상기 투광부를 통과하는 천 조각을 촬영하는 것을 특징으로 한다.
제 4 발명의 천 조각 검사 장치는, 제 3 발명에 있어서, 상기 천 조각이 공급되는 제 1 컨베이어와, 그 제 1 컨베이어에 접속하는 제 2 컨베이어를 구비하고, 상기 검사대는 상기 제 1 컨베이어와 상기 제 2 컨베이어의 사이에 위치하고, 상기 검사대의 상기 제 2 컨베이어 측의 가장자리가 상기 제 1 컨베이어의 후단과 상기 제 2 컨베이어의 전단을 연결하는 선보다 돌출되어 있고, 상기 제 1 컨베이어에 비해 상기 제 2 컨베이어의 속도가 빠른 것을 특징으로 한다.
제 5 발명의 천 조각 검사 방법은, 천 조각의 반사광을 촬영하고, 상기 천 조각의 투과광을 촬영하고, 상기 천 조각의 동일 위치에서 반사광과 투과광 모두 주위보다 어두운 부분을 오염으로 판단하고, 상기 천 조각의 동일 위치에서 반사광은 주위보다 어둡고, 투과광은 주위보다 밝은 부분을 파손으로 판단하는 것을 특징으로 한다.
제 1 발명에 의하면, 천 조각의 동일 위치에서 반사광과 투과광이 모두 주위보다도 어두운 부분을 오염으로 판단하고, 천 조각의 동일 위치에서 반사광은 주위보다 어둡고, 투과광은 주위보다 밝은 부분을 파손으로 판단함으로써 오염과 파손을 확실히 판별할 수 있다. 이 때문에, 오염이 있는 천 조각은 다시 세탁으로 보내지고, 파손이 있는 천 조각은 폐기할 수 있으며, 파손이 있는 천 조각을 여러 차례 세탁하는 일이 없어져 처리 효율이 높다. 또한 투과광을 촬영하므로, 반사광에서는 알 수 없는 천 조각 내부의 오염이 강조되어 오염의 검출 정밀도가 높다.
제 2 발명에 의하면, 제 1 검사 카메라로 천 조각 앞면의 반사광을 촬영하는 동시에, 제 2 검사 카메라로 천 조각 뒷면의 반사광을 촬영함으로써, 다른 면에만 오염이 있는 천 조각도 검출할 수 있어 오염의 검출 정밀도가 높다.
제 3 발명에 의하면, 제1 검사 카메라는 암색부를 통과하는 천 조각의 반사광을 촬영하므로 천 조각의 오염을 주위보다 어둡게 촬영할 수 있는 동시에, 파손을 암색부의 색으로 하여 주위보다 어둡게 촬영할 수 있다. 또한 제 2 검사 카메라는 투광부를 통과하는 천 조각의 투과광을 촬영하므로 파손을 주위보다 밝게 촬영할 수 있는 동시에, 반사광에서는 알수 없는 천 조각 내부의 오염을 강조하여 주위보다 어둡게 촬영할 수 있다.
제 4 발명에 의하면, 제 1 컨베이어에 비해 제 2 컨베이어의 속도가 빠르기 때문에, 천 조각에 세로 방향으로 잡아당기는 힘이 가해져 천 조각의 주름을 펼 수 있다. 검사대가 돌출되어 있기 때문에 천 조각은 제 1 컨베이어와 제 2 컨베이어의 사이를 통과할 때 검사대에서 스치게 된다. 천 조각을 제 1 컨베이어와 제 2 컨베이어에서 잡아당기면서 검사대에서 스치게 함으로써 천 조각의 주름을 펼 수 있다. 즉, 천 조각의 주름을 펴는 것과 결함 검사를 동시에 행할 수 있으므로 장치 전체가 작고, 처리 속도가 빠르다.
제 5 발명에 의하면, 천 조각의 동일 위치에서 반사광과 투과광 모두 주위보다 어두운 부분을 오염으로 판단하고, 천 조각의 동일 위치에서 반사광은 주위보다 어둡고, 투과광은 주위보다 밝은 부분을 파손으로 판단함으로써, 오염과 파손을 확실히 판별할 수 있다. 이 때문에, 오염이 있는 천 조각은 다시 세탁으로 보내지고, 파손이 있는 천 조각은 폐기할 수 있어 파손이 있는 천 조각을 여러 차례 세탁하는 일이 없어져 처리 효율이 높다.
도 1은 본 발명의 제 1 실시예에 따른 천 조각 검사 장치의 측면도이다.
도 2는 동 천 조각 검사 장치의 측면 부분 확대도이다.
도 3은 동 천 조각 검사 장치에 의해 얻어지는 (A)천 조각 앞면의 화상과, (B)천 조각 뒷면의 화상의 설명도이다.
도 4는 천 조각에 오염과 파손이 있는 경우의 (A)천 조각 앞면의 화상과, (B)천 조각 뒷면의 화상의 설명도이다.
도 5는 천 조각의 내부에 오염이 있는 경우의 (A)천 조각 앞면의 화상과, (B)천 조각 뒷면의 화상의 설명도이다.
도 6은 본 발명의 제 2 실시예에 따른 천 조각 검사 장치의 측면도이다.
도 7은 종래의 천 조각 검사 장치의 측면도이다.
다음에 본 발명의 실시예를 도면을 참조하여 설명하기로 한다.
(제 1 실시예)
도 1에 도시한 바와 같이, 본 발명의 제 1 실시예에 따른 천 조각 검사 장치는 천 조각 주름 펴기 장치와 일체로 되어 있으며, 제 1 컨베이어(11), 제 2 컨베이어(12), 제 3 컨베이어(13)를 구비하며, 각각 도시하지 않는 프레임에 고정되어 있다.
제 1 컨베이어(11)는 작업원이 세탁ㆍ건조가 끝난 타올 등의 천 조각(T)을 적재하는 컨베이어이며, 작업원이 천 조각(T)을 올려놓기 쉽도록 전단(도 1에서 우측단)이 허리 정도의 높이로 되어 있고, 경사를 가짐으로써 적재면이 작업원과 대면하도록 되어 있다. 제 1 컨베이어(11)의 후단(도 1에서 좌측단)에는 제 2 컨베이어(12)가 접속되어 있으며, 제 2 컨베이어(12)의 후단에는 제 3 컨베이어(13)가 접속되어 있다. 그리고 제 3 컨베이어(13)의 후단에는 다음 공정의 처리 장치, 예를 들면 접어 개는 장치인 컨베이어(C)에 접속되어 있다.
이들 제 1, 제 2, 제 3 컨베이어(11, 12, 13)의 가로 폭은 천 조각(T)의 가로폭이 충분히 들어가는 치수로 되어 있다.
또한, 제 1 컨베이어(11)에 비해 제 2 컨베이어(12)의 속도가 빠르고, 제 2 컨베이어(12)에 비해 제 3 컨베이어(13)의 속도가 빠르게 설정되어 있다. 예를 들면, 제 1 컨베이어(11)의 속도가 15m/분, 제 2 컨베이어(12)의 속도가 25~30m/분, 제 3 컨베이어(13)의 속도가 50m/분으로 설정된다.
제 2 컨베이어(12)의 후단과 제 3 컨베이어(13)의 전단 사이에는 검사대(20)가 고정되어 있다. 검사대(20)는 제 1, 제 2, 제 3 컨베이어(11, 12, 13)와 동일 치수의 폭을 갖는 평면에서 보아 직사각형의 판이다. 검사대(20)의 전측 가장자리부(前緣部)(제2 컨베이어(12)측의 가장자리부)는 제 2 컨베이어(12)의 후단과 동일한 정도의 높이이거나, 그보다 조금 낮은 높이로 되어 있어 천 조각(T)이 제 2 컨베이어(12)에서 검사대(20)로 원활하게 흐르도록 되어 있다. 또한 검사대(20)의 후측 가장자리부(後緣部)(제3 컨베이어(13)측의 가장자리부)는 제 3 컨베이어(13)의 전단보다 높게 설정되어 있다. 즉, 검사대(20)의 후측 가장자리부는 제 2 컨베이어(12)의 후단과 제 3 컨베이어(13)의 전단을 연결하는 선보다 돌출되어 있다.
제 1, 제 2, 제 3 컨베이어(11, 12, 13)의 상측에는 천 조각(T)을 컨베이어(11, 12, 13)의 적재면에 누르는 가압 롤러(31,…,35)가 마련되어 있다. 제 1 가압 롤러(31)는 제 1 컨베이어(11)의 전방(도 1에서 우측)에 위치하며, 작업원이 적재한 천 조각(T)이 낙하하지 않도록 누르도록 되어 있다. 제 2 가압 롤러(32)는 제 1 컨베이어(11)의 후단에 위치하며, 제 3 가압 롤러(33)는 제 2 컨베이어(12)의 중앙 부근에 위치하여, 각각 천 조각(T)이 제 1 컨베이어(11), 제 2 컨베이어(12)의 속도에 따라 이동하도록 누를 수 있게 되어 있다. 제 4 가압 롤러(34)는 제 2 컨베이어(12)의 후단에 위치하고, 제 5 가압 롤러(35)는 제 3 컨베이어(13)의 전단에 위치하며, 각각 천 조각(T)이 제 2 컨베이어(12), 제 3 컨베이어(13)의 속도에 따라 이동할 수 있도록 누르고, 천 조각(T)이 검사대(20)에 스치도록 누를 수 있게 되어 있다.
또한, 특허청구범위에 기재된 제 1 컨베이어, 제 2 컨베이어는 편의적으로 채용된 것으로, 그 앞뒤에 별도의 컨베이어가 부가될 수도 있다. 본 실시예에서는 제 2 컨베이어(12)가 특허청구범위에 기재된 제 1 컨베이어에 해당하고, 제 3 컨베이어(13)가 특허청구범위에 기재된 제 2 컨베이어에 해당한다.
또한 가압 롤러(31,…, 35)를 대신하여 다른 가압 기구를 설치하는 실시예로 할 수도 있다. 예를 들면, 컨베이어(11, 12, 13)의 하부에 진공 박스를 설치할 수도 있고, 컨베이어(11, 12, 13)의 적재면에 대면하여 접촉하는 압박 컨베이어를 설치할 수도 있다.
이상과 같은 구성이므로, 작업원이 세탁ㆍ건조가 끝난 천 조각(T)의 한 변을 꺼내어, 그 한 변을 가로로 펴서 제 1 컨베이어(11)에 적재하면, 제 1 컨베이어(11)의 동작에 의해 천 조각(T)이 도 1에서의 화살표 방향으로 이동한다. 천 조각(T)의 앞부분이 제 2 컨베이어(12)로 건너가면, 제 1 컨베이어(11)와 제 2 컨베이어(12)의 속도 차이에 의해 천 조각(T)에 세로 방향(도 1에서의 좌우 방향)으로 잡아당기는 힘이 가해져 천 조각(T)의 주름을 펼 수 있다. 또한 천 조각(T)의 앞부분이 검사대(20) 위를 지나 제 3 컨베이어(13)로 건너가면, 제 2 컨베이어(12)와 제 3 컨베이어(13)의 속도 차이에 의해 천 조각(T)에 세로 방향으로 잡아당기는 힘이 가해지는 동시에, 천 조각(T)은 검사대(20)의 후측 가장자리부로부터 제 5 가압 롤러(35)를 향해 비스듬히 하측 방향으로 잡아 당겨지고, 검사대(20)의 뒤 가장자리부에서 스치게 되므로 천 조각(T)의 주름을 완전히 펼 수 있다.
이와 같이, 천 조각의 주름 펴기와, 후술하는 결함 검사를 동시에 실시할 수 있으므로 장치 전체가 작고 처리 속도가 빠르다.
도 2에 도시한 바와 같이, 검사대(20)의 앞쪽(도 2에서 상측)에는 검사대(20)를 통과하는 천 조각(T)을 앞면에서 촬영하는 제1 검사 카메라(41)가 설치되어 있고, 검사대(20)의 뒤쪽(도 2에서 하측)에는 검사대(20)를 통과하는 천 조각(T)을 뒷면에서 촬영하는 제 2 검사 카메라(42)가 설치되어 있다. 제 1, 제 2 검사 카메라(41, 42)는 각각 도시하지 않는 화상 처리 장치에 접속되어 있으며, 촬영한 화상을 전기신호로서 출력할 수 있도록 되어 있다.
제 1, 제 2 검사 카메라(41, 42)로는 예를 들면, 천 조각(T)을 그 폭 방향(도 2에서의 지면에 대해서 수직 방향)으로 직선 모양으로 촬영하는 라인 카메라가 이용된다.
또한, 설명의 편의를 위해 천 조각(T)의 검사대(20)에 접하지 않는 쪽의 면을 앞면으로 하고, 접촉하는 쪽의 면을 뒷면으로 한다. 따라서, 천 조각(T) 고유의 앞면 및 뒷면과 반드시 일치하지는 않는다. 특허청구범위에 기재된 앞면, 뒷면도 천 조각 고유의 앞면, 뒷면과 반드시 일치하지는 않는다.
검사대(20)는 흑색의 흑색부(21)와, 투명한 투명부(22)로 구성되어 있다. 흑색부(21)는 검사대(20)의 제 2 컨베이어(12) 측에 폭 방향(도 2에서의 지면에 대해서 수직 방향)으로 띠 모양으로 형성되어 있고, 투명부(22)는 검사대(20)의 제 3 컨베이어(13) 측에 폭 방향으로 띠 모양으로 형성되어 있다.
제 1 검사 카메라(41)는 흑색부(21) 위에 촬상 위치가 있어 흑색부(21)를 통과하는 천 조각(T)을 앞면에서 촬영한다. 한편 제 2 검사 카메라(42)는 투명부(22) 상에 촬상 위치가 있어 투명부(22)를 통과하는 천 조각(T)을 투명부(22)를 통하여 뒷면에서 촬영한다.
또한, 흑색부(21)는 특허청구범위에 기재된 암색부에 해당한다. 흑색부(21)는 흑색 대신에 회색 등 다른 색으로 할 수도 있고, 후술하는 결함의 판단에 최적인 색을 선택할 수 있다. 또한 투명부(22)는 특허청구범위에 기재된 투광부에 해당한다. 투명부(22)는 투명 대신에 유백색 등 빛이 투과하는 재질로 할 수도 있고, 이것도 후술하는 결함의 판단에 최적인 색을 선택할 수 있다.
검사대(20)의 주위에는 형광등 등의 조명용 광원(51, 52, 53, 54)이 4개 설치되어 있다. 제 1 광원(51)과 제 2 광원(52)은 검사대(20)의 앞쪽에 설치되어 있어 제 1 검사 카메라(41)의 촬상위치를 비추고 있다. 제 3 광원(53)과 제 4 광원(54)은 검사대(20)의 뒤쪽에 설치되어 있어 제 2 검사 카메라(42)의 촬상위치를 비추고 있다. 이 때문에 제 1 검사 카메라(41)는 천 조각 앞면의 반사광을 촬영하고 제 2 검사 카메라(42)는 천 조각 뒷면의 반사광을 촬영할 수 있도록 되어 있다.
또한, 제 2 광원(52)의 근방에는 미러(60)가 설치되어 있어 제 2 광원(52)으로부터의 빛을 반사하고, 제 2 검사 카메라(42)의 촬상 위치를 앞쪽에서 비추도록 되어 있다. 이 때문에 제 2 광원(52)으로부터의 빛은, 통과할 천 조각(T)을 앞면쪽에서 뒷면쪽으로 투과하고, 그 투과광을 제 2 검사 카메라(42)로 촬영할 수 있도록 되어 있다.
이상과 같은 구성이므로, 제 2 컨베이어(12) 및 제 3 컨베이어(13)의 동작에 의해 천 조각(T)이 도 2의 화살표 방향으로 이동하여 검사대(20) 위를 통과하면, 제 1 검사 카메라(41)로 천 조각 앞면의 반사광을, 제 2 검사 카메라(42)로 천 조각 뒷면의 반사광 및 투과광을 각각 촬영할 수 있다.
제 1, 제 2 검사 카메라(41, 42)로 촬영되는 화상을 화상 처리 장치로 평면 형상으로 구성하면 도 3에 도시하는 화상이 된다. 즉, 배경이 흑색(흑색부(21))인 천 조각 앞면의 화상(A)과 배경이 백색(투명부(22)를 투과한 빛)인 천 조각 뒷면의 화상(B)을 얻을 수 있다.
천 조각(T)에 오염과 파손이 있는 경우에는 도 4에 도시하는 화상이 얻어진다.
천 조각 앞면 화상(A)에서는 오염과 파손은 모두 주위(천 조각의 색)보다 어둡게 표시된다. 이는 오염되어 있는 부분은 오염 그 자체의 색에 의해 어둡게 되고, 파손되어 있는 부분은 파손된 구멍으로부터 보이는 흑색부(21)의 색에 의해 어둡게 되어 있기 때문이다. 한편 천 조각 뒷면 화상(B)에서는 오염은 주위보다 어둡게 표시되고, 파손은 주위보다 밝게 표시된다. 이는 오염되어 있는 부분은 오염 그 자체의 색에 의해 어둡게 되고, 파손되어 있는 부분은 파손된 구멍으로부터 제2 광원(52)의 빛이 직접 도달하여서 밝아지기 때문이다.
따라서 천 조각 앞면 화상(A)과 천 조각 뒷면 화상(B)을 비교하여, 천 조각(T)의 동일 위치에서 앞면과 뒷면이 모두 주위보다 어두운 부분을 오염으로 판단할 수 있다. 또한, 천 조각(T)의 동일 위치에서 앞면은 주위보다 어둡고, 뒷면은 주위보다 밝은 부분을 파손으로 판단할 수 있다.
이와 같이, 오염과 파손을 확실히 판별함으로써, 오염이 있는 천 조각(T)은 다시 세탁으로 보내지고, 파손이 있는 천 조각(T)은 폐기할 수 있으므로, 파손이 있는 천 조각(T)을 여러 차례 세탁하는 일이 없어져 처리 효율이 높다.
또한, 제3 컨베이어(13)보다 뒤에 접속되는 컨베이어 등을 화상 처리 장치에 의한 검사 결과에 따라 동작시킴으로써, 결함이 없는 천 조각(T)과 오염이 있는 천 조각(T)과 파손이 있는 천 조각(T)을 각각 자동으로 분별할 수 있다.
천 조각(T)의 내부에 오염이 있는 경우에는 도 5에 도시하는 화상이 얻어진다.
이는 예를 들면, 타올 표면의 파일 직물은 오염되어 있지 않으나 바탕천이 오염되어 있는 경우로서, 이러한 오염은 표면에 나타나지 않기 때문에 반사광의 촬영에서는 검출이 어렵다.
도 5에 도시한 바와 같이, 천 조각 앞면 화상(A)에서는 천 조각 내부의 오염은 주위보다 어둡게 표시된다. 한편, 천 조각 뒷면 화상(B)에서는 투과광을 촬영하므로 천 조각 내부의 오염이 강조되어 주위보다 조금 어둡게 표시된다.
이 때문에 반사광에서는 알 수 없는 천 조각 내부의 오염도 검출할 수 있어 검출 정밀도가 높다.
또한 제1 검사 카메라로 천 조각 앞면의 반사광을 촬영하는 동시에, 제2 검사 카메라로 천 조각 뒷면의 반사광을 촬영하므로, 다른 쪽 면에만 오염이 있는 천 조각도 검출할 수 있다.
구체적으로는, 천 조각(T)의 동일 위치에서 앞면 또는 뒷면 중 한쪽은 주위보다 어둡고, 다른 한쪽은 주위와 같은 정도의 밝기를 갖는 부분도 오염으로 판단할 수 있다. 이로써, 한쪽 면에만 오염이 있는 천 조각도 검출할 수 있어 오염의 검출 정밀도가 높다.
또한, 평상시(천 조각(T)이 검사대(20)를 통과하지 않을 때)에는 제 2 검사 카메라(42)로 제 2 광원(52)의 빛을 직접 촬영할 수 있다. 이 때문에 평상시의 제 2 광원(52)의 광량 레벨을 감시할 수 있으며, 이로써 광원(51, 52, 53, 54)의 열화(劣化) 판단을 행할 수 있다.
(제 2 실시예)
도 6에 도시한 바와 같이, 본 발명의 제 2 실시예에 따른 천 조각 검사 장치는 제 1 실시예와 달리, 천 조각의 주름을 펴는 장치와 일체로 되어 있지 않다. 이와 같이 천 조각 검사 장치를 단독 장치로 할 수 있음은 말할 것도 없다. 또한 천 조각(T)의 반사광과 투과광을 촬영하도록 구성할 수 있으면, 천 조각의 주름을 펴는 장치 이외의 다른 장치와 일체로 구성할 수도 있다. 장치 전체의 크기나 처리 효율 등으로부터 최적의 천 조각 검사 장치의 배치를 선택할 수 있다.
본 실시예에 따른 천 조각 검사 장치는 제 1 컨베이어(11), 제 2 컨베이어(12), 제 3 컨베이어(13)를 구비하고, 각각 도시하지 않은 프레임에 고정되어 있다. 또한 제 1 컨베이어(11)의 후단과 제 2 컨베이어(12)의 전단 사이에는 흑색부(21)만을 갖는 제 1 검사대(20)가, 제 2 컨베이어(12)의 후단과 제 3 컨베이어(13)의 전단 사이에는 투명부(22)만을 갖는 제 2 검사대(20')가 고정되어 있다.
특허청구범위에 기재된 검사대(檢査臺)란 단일 구성에 한정되지 않고, 암색부와 투명부로 복수로 분리된 것도 포함하는 개념이다.
또한, 흑색부(21)는 흑색을 대신하여 회색 등 다른 색으로 할 수도 있고, 투명부(22)는 투명 대신에 유백색 등의 빛이 투과하는 재질로 할 수도 있다.
제 1 검사대(20)의 앞쪽에는 흑색부(21)를 통과하는 천 조각(T)을 앞면에서 촬영하는 제 1 검사 카메라(41)가 설치되어 있고, 제 2 검사대(20')의 앞쪽에는 투명부(22)를 통과하는 천 조각(T)을 앞면에서 촬영하는 제 2 검사 카메라(42)가 설치되어 있다.
제 1 검사 카메라(41)는 흑색부(21) 상에 촬상 위치가 있고, 제 2 검사 카메라(42)는 투명부(22) 상에 촬상 위치가 있다.
제 1 검사대(20)의 앞쪽에는 제 1 광원(51)과 제 2 광원(52)이 설치되어 있어 제 1 검사 카메라(41)의 촬상 위치를 비추고 있다. 제 2 검사대(20')의 앞쪽에는 제 3 광원(53)과 제 4 광원(54)이 설치되어 있어 제 2 검사 카메라(42)의 촬상 위치를 비추고 있다. 이 때문에 제 1, 제 2 검사 카메라(41, 42)는 모두 천 조각 앞면의 반사광을 촬영할 수 있도록 되어 있다.
또한 제2 검사대(20')의 뒤쪽에는 제 5 광원(55)이 설치되어 있어 제 2 검사 카메라(42)의 촬상 위치를 뒤쪽에서 비추도록 되어 있다. 이 때문에 제 5 광원(55)으로부터의 빛은, 통과할 천 조각(T)을 뒷면쪽에서 앞면쪽으로 투과하고, 그 투과광을 제 2 검사 카메라(42)로 촬영할 수 있도록 되어 있다.
이상과 같은 구성이므로, 제 1, 제 2, 제 3 컨베이어(11, 12, 13)의 동작에 의해 천 조각(T)이 도 6에서의 좌측 방향으로 이동하여 제 1, 제 2 검사대(20, 20') 위를 통과하면 제 1 검사 카메라(41)로 천 조각 앞면의 반사광을, 제 2 검사 카메라(42)로 천 조각 앞면의 반사광 및 투과광을 각각 촬영할 수 있다.
본 실시예에서도 제 1 실시예와 마찬가지로, 제 1 검사 카메라(41)에 의한 화상에서는 오염과 파손은 모두 주위보다 어둡게 표시되고, 제 2 검사 카메라(42)에 의한 화상에서는 오염은 주위보다 어둡게 표시되고, 파손은 주위보다 밝게 표시된다. 이 때문에 오염과 파손을 확실히 판별할 수 있어 처리 효율이 높다.
또한 제 2 검사 카메라(42)에 의한 화상에서는 투과광을 촬영하므로 천 조각 내부의 오염이 강조되어 주위보다 어둡게 표시된다. 이 때문에 반사광에서는 알 수없는 천 조각 내부의 오염도 검출할 수 있어 검출 정밀도가 높다.
또한 제 2 검사 카메라(42)로 평상시의 제 5 광원(55)의 광량 레벨을 감시할 수 있으며, 이로써 광원(51, 52, 53, 54)의 열화(劣化) 판단을 행할 수 있다.
또한 제 2 검사 카메라(42)를 제 2 검사대(20')의 앞쪽에 설치하므로, 천 조각 뒷면의 반사광을 촬영할 수 없다. 그러나 뒷면에만 오염이 있는 천 조각도 투과광에 의해 그 오염을 주위보다 어둡게 표시할 수 있으므로 검출할 수 있다.
이와 같이, 검사대(20)는 1대로 할 필요는 없으며, 흑색부(21)와 투명부(22)로 2대로 나누어 설치할 수도 있다. 또한 제 2 검사 카메라(42)는 검사대(20)의 뒤쪽에 설치할 필요는 없고 앞쪽에 설치할 수도 있다. 이들은 천 조각 검사 장치의 크기나 형상 등의 제약으로부터 최적의 배치를 선택할 수 있다.
11, 12, 13: 컨베이어
20: 검사대
21: 흑색부
22: 투명부
41: 제 1 검사 카메라
42: 제 2 검사 카메라
51, 52, 53, 54, 55: 광원
60: 미러(鏡)

Claims (5)

  1. 천 조각의 반사광을 촬영하는 제 1 검사 카메라와
    상기 천 조각의 투과광을 촬영하는 제 2 검사 카메라를 구비하는 것을 특징으로 하는 천 조각 검사 장치.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 제 1 검사 카메라는 상기 천 조각의 앞면의 반사광을 촬영하고,
    상기 제 2 검사 카메라는 상기 천 조각의 뒷면의 반사광도 촬영하는 것을 특징으로 하는 천 조각 검사 장치.
  3. 제 1항 또는 제 2항에 있어서,
    상기 천 조각이 통과하는 검사대를 구비하고,
    그 검사대는 암색부와 투광부를 가지며,
    상기 제 1 검사 카메라는 상기 암색부를 통과하는 천 조각을 촬영하고,
    상기 제 2 검사 카메라는 상기 투광부를 통과하는 천 조각을 촬영하는 것을 특징으로 하는 천 조각 검사 장치.
  4. 제 3항에 있어서,
    상기 천 조각이 공급되는 제 1 컨베이어와 그 제 1 컨베이어에 접속하는 제 2 컨베이어를 구비하고,
    상기 검사대는 상기 제 1 컨베이어와 상기 제 2 컨베이어의 사이에 위치하고,
    상기 검사대의 상기 제 2 컨베이어측의 가장자리가 상기 제 1 컨베이어의 후단과 상기 제 2 컨베이어의 전단을 연결하는 선보다 돌출되어 있고,
    상기 제 1 컨베이어에 비해 상기 제 2 컨베이어의 속도가 빠른 것을 특징으로 하는 천 조각 검사 장치.
  5. 천 조각의 반사광을 촬영하고,
    상기 천 조각의 투과광을 촬영하고,
    상기 천 조각의 동일 위치에서 반사광과 투과광 모두 주위보다 어두운 부분을 오염으로 판단하고,
    상기 천 조각의 동일 위치에서 반사광은 주위보다 어둡고, 투과광은 주위보다 밝은 부분을 파손으로 판단하는 것을 특징으로 하는 천 조각 검사 방법.
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