TWI764179B - 織物檢測系統以及織物檢測方法 - Google Patents

織物檢測系統以及織物檢測方法

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Abstract

一種織物檢測系統，其包括導向輥、攝像元件、第一光源、第二光源以及側光元件。攝像元件朝向導向輥之間的影像擷取區域。第一光源配置於攝像元件旁並提供第一光。第二光源提供第二光，且導向輥配置於第一光源以及第二光源之間。側光元件設置於攝像元件和導向輥之間。側光元件提供第三光以及第四光。第一光和第二光平行，第三光和第一光之間夾第一夾角，第四光和第一光之間夾第二夾角。影像擷取區域在第一方向上位於第一光源和第二光源之間，在第二方向上位於第三光源和第四光源之間。第一方向垂直於第二方向。一種織物檢測方法亦被提出。

Description

織物檢測系統以及織物檢測方法
本發明有關於一種檢測系統以及一種檢測方法，特別有關於一種織物檢測系統以及織物檢測方法。
由於織物於出貨之前需要經過人工驗布的流程，以確保織物沒有瑕疵。然而，由於人工檢測速度較慢，會耗費大量人力及時間。人工檢測也需要人員以肉眼觀察織物是否存在瑕疵，容易產生疲勞。同時，不同織物所容易產生的瑕疵也不同，再加上人員容易疲勞的原因，導致整體人工驗布的效率以及準確率難以提昇。
本發明實施例提出的織物檢測系統以及織物檢測方法可以提升織物瑕疵的檢出效率。
本發明一實施例的織物檢測系統包括多個導向輥、攝像元件、第一光源、第二光源以及側光元件。攝像元件朝向這些導向輥之間的影像擷取區域。第一光源配置於攝像元件旁並提供第一光。第二光源提供第二光，且導向輥配置於第一光源以及第二光源之間。側光元件設置於攝像元件和導向輥之間。側光元件包括提供第三光的第三光源以及提供第四光的第四光源。第一光和第二光平行，第三光和第一光之間夾第一夾角，第四光和第一光之間夾第二夾角。影像擷取區域在第一方向上位於第一光源和第二光源之間。影像擷取區域在第二方向上位於第三光源和第四光源之間。第一方向垂直於第二方向。
在本發明的一實施例中，上述的第一夾角落在45度至60度的範圍。第二夾角落在-60度至-45度的範圍。第一夾角的絕對值和第二夾角的絕對值相同。
在本發明的一實施例中，上述的導向輥沿著第三方向延伸。第三方向垂直於第一方向以及第二方向。側光元件包括第一燈桿以及第二燈桿。第三光源配置於第一燈桿，第四光源配置於第二燈桿，第一燈桿和第二燈桿沿著第三方向延伸。
在本發明的一實施例中，上述的織物檢測系統還包括殼體。殼體具有第一開口以及第二開口，其中於第二方向上，導向輥位於第一開口和第二開口之間。
本發明一實施例的織物檢測方法包括以下步驟。提供上述的織物檢測系統。配置第一織物於導向輥。以第一光、第二光、第三光以及第四光照射第一織物。以攝像元件拍攝影像擷取區域中的第一織物並取得特徵資訊。以特徵資訊判斷第二織物的品質。
在本發明的一實施例中，上述的第一夾角落在45度至60度的範圍。第二夾角落在-60度至-45度的範圍。第一夾角的絕對值和第二夾角的絕對值相同。
在本發明的一實施例中，上述取得特徵資訊包括以下步驟。以照光條件照射第一織物。以攝像元件擷取織物影像。以0度、45度、90度以及135度自織物影像取得多個灰階共生矩陣（gray-level co-occurrence matrix, GLCM）。計算每個灰階共生矩陣的多個元素的平方和，並計算多個平方和的標準差為特徵資訊。
在本發明的一實施例中，在上述的照光條件中，第一光、第三光以及第四光的強度相同。第二光的強度為第一光的強度的2.6倍至17倍。
在本發明的一實施例中，在上述的照光條件中，第一光、第三光以及第四光的強度相同，第二光的強度為第一光的強度的0.8倍至2倍。
在本發明的一實施例中，在上述的照光條件中，第一光、第三光以及第四光的強度相同，第二光的強度為第一光的強度的0.05倍至0.64倍。
由上述可知，本發明實施例的織物檢測系統可以透過第一光源、第二光源以及側光元件照射待測織物，並以攝像元件擷取待測織物的影像以自動化檢測待測織物的瑕疵。本發明實施例的織物檢測方法可以藉由第一光、第二光、第三光以及第四光自動化取得第一織物的特徵資訊，並以此特徵資訊判斷第二織物的品質，進而自動化檢測第二織物。
本發明實施例的織物檢測系統以及織物檢測方法可以應用在織物的製作系統中，亦可以應用在驗布系統中，本發明不限於此。
應當理解，儘管術語「第一」、「第二」、「第三」等在本文中可以用於描述各種元件、部件、區域、層或部分，但是這些元件、部件、區域、層或部分不應受這些術語的限制。這些術語僅用於將一個元件、部件、區域、層或部分與另一個元件、部件、區域、層或部分區分開。因此，下面討論的「第一元件」、「部件」、「區域」、「層」或「部分」也可以被稱為第二元件、部件、區域、層或部分而不脫離本文的教導。
第1圖是本發明一實施例中織物檢測系統的前視圖，第2圖是根據第1圖的割面線2所繪示的剖面圖。請參照第1圖以及第2圖，在本實施例中，織物檢測系統100包括導向輥110、導向輥111、攝像元件120、第一光源130、第二光源140以及側光元件150。
攝像元件120朝向導向輥110以及導向輥111之間的影像擷取區域121。第一光源130配置於攝像元件120旁。這些導向輥110、111配置於第一光源130以及第二光源140之間。側光元件150設置於攝像元件120和這些導向輥110、111之間。
請參照第2圖，在本實施例中，側光元件150包括第三光源151以及第四光源152。第一光源130提供第一光L1，第二光源140提供第二光L2，側光元件150的第三光源151提供第三光L3，側光元件150的第四光源152提供第四光L4。
第一光L1和第二光L2平行，第三光L3和第一光L1之間夾第一夾角a1，第四光L4和第一光L1之間夾第二夾角a2。在第一方向d1上，影像擷取區域121位於第一光源130和第二光源140之間。在第二方向d2上，影像擷取區域121位於第三光源151和第四光源152之間。第一方向d1垂直於第二方向d2。
由於本實施例的導向輥110和導向輥111可以承載第一織物200，且第一織物200可以平整地分布在導向輥110和導向輥111之間的影像擷取區域121中。同時，第一光源130、第二光源140以及側光元件150上的第三光源151以及第四光源152可以各自以不同方向照射影像擷取區域121中的第一織物200。因此，當第一織物200具有瑕疵時，第一光源130所提供的第一光L1、第二光源140所提供的第二光L2、第三光源151所提供的第三光L3或第四光源152所提供的第四光L4可以在影像擷取區域121中形成對應至此瑕疵的影像，進而供攝像元件120擷取影像。舉例而言，第一織物200上的瑕疵經第一光L1、第二光L2、第三光L3或第四光L4照射後可以形成陰影、暗紋或亮紋，本發明不限於此。
基於攝像元件120自影像擷取區域121所擷取的影像，本實施例的織物檢測系統100可以自此影像取得特徵資訊並加以儲存，更可以進一步根據此特徵資訊判斷第二織物（未繪示於第2圖）是否具有類似的瑕疵。
進一步而言，本實施例的織物檢測系統100還包括殼體160，其具有容置空間161。導向輥110、導向輥111、攝像元件120、第一光源130、第二光源140以及側光元件150均配置於容置空間161中。
殼體160具有蓋體162、第一側壁163、第二側壁164以及基底165，且第一側壁163和第二側壁164相對，基底165和蓋體162實質上相對。蓋體162可轉動地樞接第二側壁164，且連接蓋體162和第二側壁164的轉軸S1平行於第三方向d3。第三方向d3垂直於第一方向d1和第二方向d2。第1圖繪示的是蓋體162開啟的狀態。
本實施例的第一側壁163和基底165之間具有織物入口166。具體而言，織物入口166的形狀為矩形，且織物入口166的長邊沿著第三方向d3延伸。織物入口166在第三方向d3上的寬度w1和第一側壁163在第三方向d3上的寬度w2相同，且寬度w1可以落在90公分至220公分的範圍，因此織物入口166可以讓各種寬度的織物進入。
請參照第2圖，本實施例的第二側壁164和基底165之間具有織物出口167，且在第二方向d2上，導向輥110、影像擷取區域121以及導向輥111位於織物入口166和織物出口167之間。因此，第一織物200可以自織物入口166進入殼體160，依序經過導向輥110、影像擷取區域121以及導向輥111後自織物出口167離開殼體160。當第一織物200位於影像擷取區域121時，攝像元件120可以擷取第一織物200的影像。
殼體160的基底165適於承載第二光源140，且第二光源140所發出的第二光L2的主光軸實質上和基底165連接第二光源140的承載面165S的法線平行。因此當導向輥110和導向輥111承載第一織物200時，第二光L2也可以沿著垂直於第一織物200的表面201的方向照射第一織物200。
第3圖是本發明一實施例中織物檢測系統100的上視圖，且第3圖省略繪示殼體160的蓋體162以及第一織物200。請參照第3圖，在本實施例中，導向輥110和導向輥111彼此平行，且導向輥110和導向輥111都沿著第三方向d3延伸。請一併參照第2圖，導向輥110和導向輥111在第一方向d1上的高度相同。具體而言，導向輥110和導向輥111和基底165的承載面165S之間在第一方向d1上的高度h1落在4公分至10公分的範圍之間。第一側壁163的下緣163B和承載面165S之間在第一方向d1上的高度h2落在6公分至15公分的範圍之間。因此，織物檢測系統100適於自織物入口166接收各種厚度的織物，進而對織物進行檢測。
第二側壁164的下緣164B和承載面165S之間在第一方向d1上的高度h3落在6公分至15公分的範圍之間。因此，織物檢測系統100適於自織物出口167送出各種厚度的織物，還可以進一步讓織物傳遞至其他檢測裝置或捲布裝置中。
請參照第2圖，在本實施例中，第一光源130和這些導向輥110、111之間在第一方向d1上的高度h4落在40公分至50公分的範圍，第二光源140和這些導向輥110、111之間在第一方向d1上的高度h5落在3公分至7公分的範圍。第一光源130、第三光源151以及第四光源152位於這些導向輥110、111鄰近攝像元件120的一側，且第三光源151發出的第三光L3和第一光源130發出的第一光L1之間夾第一夾角a1，且第一夾角a1落在45度至60度的範圍，第四光L4和第一光L1之間夾第二夾角a2，且第二夾角a2落在-45度至-60度的範圍。此處角度以負值表示第三光源151以及第四光源152的位置各自沿著相反方向偏移。第一夾角a1的絕對值和第二夾角a2的絕對值相同。因此，第一光源130、第二光源140、第三光源151以及第四光源152所各自提供的第一光L1、第二光L2、第三光L3以及第四光L4可以充分的照射這些導向輥110、111上的第一織物200。
請參照第2圖以及第3圖，在本實施例中，導向輥110以及導向輥111沿著第三方向d3延伸。側光元件150包括第一燈桿153以及第二燈桿154。第三光源151配置於第一燈桿153，第四光源152配置於第二燈桿154，且第一燈桿153和第二燈桿154沿著第三方向d3延伸。具體而言，在本實施例中，第一燈桿153以及第二燈桿154可以各自配置多個第三光源151以及多個第四光源152，但本發明不限於此。在其他實施例中，第三光源151以及第四光源152也可以是沿著第三方向d3延伸的條狀光源。
在本實施例中，側光元件150還可以包括側邊支架155以及側邊支架156。側邊支架155和側邊支架156沿著第二方向d2延伸，並連接第一燈桿153以及第二燈桿154。具體而言，第一燈桿153以及第二燈桿154配置於側邊支架155以及側邊支架156的內側，且側光元件150還可以包括滾輪157以及滾輪158，且滾輪157以及滾輪158各自配置於側邊支架155以及側邊支架156的外側。滾輪157以及滾輪158適於對應織物滾動，以避免織物被側光元件150卡住。
請參照第2圖，詳細而言，本實施例的織物檢測系統100還可以包括控制元件170，其配置於第二側壁164的外側，且控制元件170電性連接至攝像元件120、第一光源130、第三光源151以及第四光源152。控制元件170適於控制提供至攝像元件120、第一光源130、第三光源151以及第四光源152的電力訊號，並自攝像元件120接收影像訊號。請一併參照第1圖，織物檢測系統100還可以包括處理元件171，而殼體160包括載台168，處理元件171配置於載台168上，且處理元件171可以電性連接至控制元件170，進而接收影像訊號或控制攝像元件120、第一光源130、第三光源151以及第四光源152的電力。具體而言，殼體160可以包括第三側壁169，其連接於第一側壁163以及第二側壁164。載台168連接第三側壁169。
另一方面，在本實施例中，第二光源140配置於另一控制元件172，而控制元件172和第二光源140一併配置於基底165的承載面165S上。控制元件172用以提供電力至第二光源140，且控制元件172也可以進一步電性連接至處理元件171，以利使用者自處理元件171控制第二光源140。
在本發明的其他實施例中，攝像元件120也可以直接電性連接至處理元件171，本發明不限於此。上述實施例中的處理元件171例如為筆記型電腦或桌上型電腦，本發明不限於此。
另一方面，請參照第1圖，在本實施例中，織物檢測系統100還包括滑軌122。攝像元件120係透過滑軌122連接至第二側壁164。滑軌122用以讓攝像元件120可以沿著第三方向d3移動，進而調整影像擷取區域121（請參照第2圖）的位置。
請參照第3圖，織物檢測系統100也包括滑軌159。在本實施例中，側光元件150係透過滑軌159連接至第二側壁164。滑軌159用以讓側光元件150可以沿著第三方向d3移動，讓側光元件150可以對應影像擷取區域121（請參照第2圖）調整位置。
第4圖是本發明另一實施例中織物檢測系統的剖面圖。請參照第4圖，在本發明的另一實施例中，織物檢測系統100A類似於上述的織物檢測系統100，相同的元件將以相同的符號標識，其詳細說明在此不再贅述。與織物檢測系統100不同的是，織物檢測系統100A還可以包括驅動輥輪180，其用以帶動並收捲第一織物200。驅動輥輪180配置於鄰近殼體160的織物出口167的一側。
織物檢測系統100A還可以包括第一導向輥輪181、第二導向輥輪182、多個發光元件185以及發光台183。第二導向輥輪182配置於發光台183上方，這些發光元件185配置於發光台183中。發光台183具有透光層184，且這些發光元件185鄰近透光層184配置。
在第一方向d1上，透光層184位於第一導向輥輪181和第二導向輥輪182之間，因此第一導向輥輪181和第二導向輥輪182可以帶動第一織物200經過透光層184的發光表面186。驅動輥輪180和第一導向輥輪181配置於發光台183的相對兩側，因此驅動輥輪180可以帶動第一織物200依序經過導向輥110、影像擷取區域121、導向輥111、第一導向輥輪181以及第二導向輥輪182。織物檢測系統100A可以藉由攝像元件120對第一織物200檢測，同時可以讓人員觀察透光層184上的第一織物200，進一步提供完整的檢測功能。
第5圖是本發明一實施例中織物檢測方法的流程圖。以下說明內容將一併使用上述實施例中織物檢測系統100的元件符號以利說明。請參照第5圖，在本實施例中，織物檢測方法包括：提供上述的織物檢測系統100（步驟S11）；配置第一織物200於導向輥110以及導向輥111（步驟S12）；以第一光L1、第二光L2、第三光L3以及第四光L4照射第一織物200（步驟S13）；以攝像元件120拍攝影像擷取區域121中的第一織物200並取得特徵資訊（步驟S14）；以及以所述特徵資訊判斷第二織物的品質（步驟S15）。
舉例而言，第一織物200例如為帶有破洞瑕疵的梭織布。經由第一光L1、第二光L2、第三光L3以及第四光L4照射第一織物200（步驟S13），攝像元件120可以拍攝到對應至破洞瑕疵的影像，並自此影像取得特徵資訊。
接著，織物檢測系統100可以此特徵資訊判斷第二織物的品質（步驟S15），藉以確認第二織物有沒有破洞瑕疵。由於攝像元件120可以自動自影像擷取區域121擷取第二織物的影像，織物檢測系統100還可以進一步藉由特徵資訊判斷第二織物的品質。因此，本實施例的織物檢測方法可以自動化判斷第二織物是否具有和第一織物200類似的瑕疵，進而提供一個自動化品質管理功能。
進一步而言，本實施例的織物檢測方法可以在步驟S14取得特徵資訊後以機械學習訓練檢測模型，並以特徵資訊為輸入、瑕疵種類為輸出經Fast RCNN（region-based convolutional network）的方式訓練檢測模型。在訓練完成之後，以此檢測模型判斷第二織物的品質（步驟S15）。
具體而言，本實施例的第一光L1和第二光L2平行，第三光L3和第一光L1之間夾第一夾角a1，第四光L4和第一光L1之間夾第二夾角a2，且第一夾角a1落在45度至60度的範圍，第二夾角a2落在-60度至-45度的範圍，且第一夾角a1的絕對值和第二夾角a2的絕對值相同。因此再以第一光L1、第二光L2、第三光L3以及第四光L4照射第一織物200（步驟S13）時，本實施例的織物檢測方法可以在攝像元件120拍攝影像擷取區域121中的第一織物200（步驟S14）時更有效率取得對應至瑕疵的影像。
第6圖是本發明一實施例中織物檢測方法的另一流程圖。請參照第5圖及第6圖，在本實施例中，取得特徵資訊的步驟包括：以照光條件照射第一織物200（步驟S21）；以攝像元件120擷取織物影像（步驟S22）；以0度、45度、90度以及135度自織物影像取得多個灰階共生矩陣（步驟S23）；以及計算每個灰階共生矩陣的多個元素的平方和，並計算這些平方和的標準差為特徵資訊（步驟S24）。
詳細而言，本實施例的攝像元件120所擷取的織物影像具有多個像素點，而本實施的織物檢測方法利用灰階共生矩陣描述這些像素點在特定方向上的紋理特性，其中0度方向為水平，45度方向為右對角，90度方向為垂直，135度方向為左對角。因此，本實施例的織物檢測方法可以藉由步驟S23取得多個灰階共生矩陣，以利判斷第一織物200或第二織物上沿各種不同方向延伸的瑕疵圖形。
藉由步驟S24，本實施例的織物檢測方法可以避免特徵資訊受到織物本身的花紋、紋路或花色影響，進而準確判斷第二織物是否存在瑕疵。
進一步而言，在步驟S21中，本實施例的織物檢測方法可以以17種照光條件照射第一織物200，並各自取得第一織物200在這17種照光條件下的影像資料。詳細來說，在特定的照光條件中，第一光L1、第二光L2、第三光L3以及第四光L4具有特定的強度，且其波長例如是落在白光或紅外光的頻譜範圍，其中又以紅外光較佳。
在這些照光條件中，部分照光條件的第一光L1、第三光L3以及第四光L4的強度相同，第二光L2的強度為第一光L1強度的2.6倍至17倍。因此這部分照光條件可以針對第一織物200的破洞瑕疵取得特徵資訊。
在這些照光條件中，另一部分照光條件的第一光L1、第三光L3以及第四光L4的強度相同，第二光L2的強度為第一光L1的強度的0.8倍至2倍。因此這部分照光條件可以針對第一織物200的摺痕瑕疵或髒汙瑕疵取得特徵資訊。
在這些照光條件中，其他照光條件的第一光L1、第三光L3以及第四光L4的強度相同，第二光L2的強度為第一光L1的強度的0.05倍至0.64倍。因此這部分照光條件可以針對第一織物200的橫條瑕疵或直條瑕疵取得特徵資訊。
然而，本發明並不限於此，在本發明的其他實施例中，織物檢測方法可以視需求增加更多其他的照光條件，並擷取更多第一織物的影像資料並取得其特徵資訊，再藉由更多的照光條件判斷第二織物是否具有和第一織物一樣的瑕疵。在本發明的其他實施例中，織物檢測方法也可以針對特定類型的瑕疵而使用單一或部分照光條件照射並依序擷取第一織物及第二織物的影像，以提升檢測速度。
綜上所述，本發明實施例的織物檢測系統可以藉由第一光源、第二光源以及側光元件照射織物，讓攝像元件可以有效自影像擷取區域取得對應至織物的瑕疵的影像。本發明實施例的織物檢測方法可以藉由上述織物檢測系統自第一織物取得特徵資訊，再根據此特徵資訊判斷第二織物是否具有類似於第一織物的瑕疵，進而自動化檢測第二織物的品質。
a1:第一夾角 a2:第二夾角 d1:第一方向 d2:第二方向 d3:第三方向 h1:高度 h2:高度 h3:高度 h4:高度 h5:高度 L1:第一光 L2:第二光 L3:第三光 L4:第四光 S1:轉軸 w1:寬度 w2:寬度 100:織物檢測系統 110:導向輥 111:導向輥 120:攝像元件 121:影像擷取區域 122:滑軌 130:第一光源 140:第二光源 150:側光元件 151:第三光源 152:第四光源 153:第一燈桿 154:第二燈桿 155:側邊支架 156:側邊支架 157:滾輪 158:滾輪 159:滑軌 160:殼體 161:容置空間 162:蓋體 163:第一側壁 163B:下緣 164:第二側壁 164B:下緣 165:基底 165S:承载面 166:織物入口 167:織物出口 168:載台 169:第三側壁 170:控制元件 171:處理元件 172:控制元件 180:驅動輥輪 181:第一導向輥輪 182:第二導向輥輪 183:發光台 184:透光層 185:發光元件 186:發光表面 200:第一織物 201:表面
第1圖是本發明一實施例中織物檢測系統的前視圖； 第2圖是根據第1圖的割面線2所繪示的剖面圖； 第3圖是本發明一實施例中織物檢測系統的上視圖； 第4圖是本發明另一實施例中織物檢測系統的剖面圖； 第5圖是本發明一實施例中織物檢測方法的流程圖；以及 第6圖是本發明一實施例中織物檢測方法的另一流程圖。
國內寄存資訊(請依寄存機構、日期、號碼順序註記) 無 國外寄存資訊(請依寄存國家、機構、日期、號碼順序註記) 無
a1:第一夾角
a2:第二夾角
d1:第一方向
d2:第二方向
h1:高度
h2:高度
h3:高度
h4:高度
h5:高度
L1:第一光
L2:第二光
L3:第三光
L4:第四光
S1:轉軸
100:織物檢測系統
110:導向輥
111:導向輥
120:攝像元件
121:影像擷取區域
130:第一光源
140:第二光源
150:側光元件
151:第三光源
152:第四光源
153:第一燈桿
154:第二燈桿
160:殼體
161:容置空間
162:蓋體
163:第一側壁
163B:下緣
164:第二側壁
164B:下緣
165:基底
165S:承载面
166:織物入口
167:織物出口
170:控制元件
172:控制元件
200:第一織物
201:表面

Claims (10)

  1. 一種織物檢測系統，配置以檢測織物，且包括：多個導向輥；攝像元件，朝向所述多個導向輥之間的影像擷取區域；第一光源，配置於所述攝像元件旁並提供第一光；第二光源，提供第二光，且所述導向輥配置於所述第一光源以及所述第二光源之間；側光元件，設置於所述攝像元件和所述導向輥之間，且所述側光元件包括第三光源以及第四光源，以提供第三光及第四光；控制元件，電性連接至所述攝像元件、所述第一光源、所述第二光源與所述側光元件，配置以控制所述第一光源、所述第二光源與所述側光元件以多個照光條件照射所述影像擷取區域，並配置以控制所述攝像元件分別在所述照光條件下拍攝所述影像擷取區域；發光台，相鄰所述攝像元件、所述第一光源、所述第二光源及所述側光元件，所述織物依序經過所述攝像元件及所述發光台，且所述發光台具有透光層；以及多個發光元件，配置在所述發光台中，並鄰近於所述透光層，其中所述第一光和所述第二光平行，所述第三光和所述第一光之間夾第一夾角，所述第四光和所述第一光之間夾第二夾角，所述影像擷取區域在第一方向上位於所述第一 光源和所述第二光源之間，所述影像擷取區域在第二方向上位於所述第三光源和所述第四光源之間，且所述第一方向垂直於所述第二方向。
  2. 如請求項1所述的織物檢測系統，其中所述第一夾角落在45度至60度的範圍，所述第二夾角落在-60度至-45度的範圍，且所述第一夾角的絕對值和所述第二夾角的絕對值相同。
  3. 如請求項1所述的織物檢測系統，其中所述導向輥沿著第三方向延伸，所述第三方向垂直於所述第一方向以及所述第二方向，且所述側光元件包括第一燈桿以及第二燈桿，所述第三光源配置於所述第一燈桿，所述第四光源配置於所述第二燈桿，所述第一燈桿和所述第二燈桿沿著所述第三方向延伸。
  4. 如請求項1所述的織物檢測系統，還包括殼體，所述殼體具有第一開口及第二開口，其中於所述第二方向上，所述導向輥位於所述第一開口和所述第二開口之間。
  5. 一種織物檢測方法，包括：提供一種如申請專利範圍第1項所述的織物檢測系統；配置第一織物於所述導向輥； 以所述第一光、所述第二光、所述第三光以及所述第四光形成所述照光條件照射所述第一織物；以所述攝像元件分別在所述照光條件下拍攝所述影像擷取區域中的所述第一織物並取得特徵資訊；以及以所述特徵資訊判斷第二織物的品質。
  6. 如請求項5所述的織物檢測方法，其中所述第一夾角落在45度至60度的範圍，所述第二夾角落在-60度至-45度的範圍，且所述第一夾角的絕對值和所述第二夾角的絕對值相同。
  7. 如請求項5所述的織物檢測方法，其中取得所述特徵資訊包括：以所述照光條件照射所述第一織物；以所述攝像元件擷取織物影像；以0度、45度、90度以及135度自所述織物影像取得多個灰階共生矩陣；以及計算每個所述灰階共生矩陣的多個元素的平方和，並計算所述多個平方和的標準差為所述特徵資訊。
  8. 如請求項7所述的織物檢測方法，其中在所述照光條件中，所述第一光、所述第三光以及所述第四光的強度相同，所述第二光的強度為所述第一光的強度的2.6倍至17倍。
  9. 如請求項7所述的織物檢測方法，其中在所述照光條件中，所述第一光、所述第三光以及所述第四光的強度相同，所述第二光的強度為所述第一光的強度的0.8倍至2倍。
  10. 如請求項7所述的織物檢測方法，其中在所述照光條件中，所述第一光、所述第三光以及所述第四光的強度相同，所述第二光的強度為所述第一光的強度的0.05倍至0.64倍。
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