JPS586451A - 自動検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は平面状の被検査物の汚れ、破れまたはほつれな
どを自動的に検査するための自動検査装置に関するもの
でるる。

光学系による被検査物の弐面検査としては、現在一般的
に行なわｎているものでるり、多ぐの発表がなされてい
るが、例えば、洗面所など比備え付けの手拭きタオル、
すなわち、ロールタオルの製品検査への応用はなされて
いない。

そして、従来のこの種の平面状の被検査物、例えば、洗
浄後のロールタオルの製品を検査する場合、一般には作
業者の目視によって汚ｎ、破れ。

はつれな゛どの判定を行なうという方法が採らｎている
。

しかしながら、このような方法においては、作業者の個
性などの判定基準のめいまいさ、また目視によるという
人為的な操作が必要なため、多数の被検査物を検査する
場合には極めて多くの労力と時間を費やさねばならない
という欠点があり、作業者への負担の点で大きな問題で
めった。

また、この製品検査の自動化を実現する上では、光セン
サの構成９判定回路、システムとしてのロジック処理な
どの点で実際の検量作業への適応性が重要な問題でめっ
た。

本発明は枳上の点に鐙み、このような問題を解決すべく
なされたもので、その目的は平面状の被検査物、例えば
洗浄後のｑ−ルタオルの製品検査を自動的にかつ適確に
行い得る自動検査装置を提供することにろる。

以）−１図示する実總例によってその構成勢を詳細に説
明する。

第１図は本発明による自動検査装置の一実施例の基本的
構成を示すブロック図で、被検査物としてロールタオル
を用いその破ｎｔｆｃはほりれを検査する場合の一例を
示すものでめる。図において、Ｓムは平面状の被検査物
、例えばロールタオルの移送面を挾んで一方の側に配置
された光源と他方の側に配置されて透過九を受光する検
出素子とからなるセンサアレイ、ＤＥＴはこのセンサア
レイＨｋの各センサの受光量に対応して電気信号をそｎ
ぞれ出力する検出回路、ＪＵＤはこの検出回路ＯＣＴか
らの出力信号ｔ−基準値信号と比較する判定回路でろる
。そして、この判定回路ＪＵＤにおける基準値信号は検
出回路０εＴからの最大値または最小値信号を平滑し、
これに所定のバイアス電圧を加えて得た信号で与えられ
るように構成されて−る。

＠２図は槙１図の実施例におけるセンサアレイに係る部
分を抽出して示した構成図でるる。図において、ＲＴは
平面状の被検査物でるるロールタオル、Ｌはこのロール
タオルの移送面を挾んで一方の側に配置され７ｔｙｔ、
源、Ｏｒｂ、は他方の儒に配置されてロールタオルＢＴ
の透過光を受光する破れ、はつれ、継目、末端の検出素
子、ＤＩｌは移送面の同一側に配置され反射光を蛍光す
る汚れの検出素子で、これらはセンサアレイ５ｈＶｔｌ
ｌ成している。ここで、尤６１Ｌは通常の螢尤灯でるる
か、その電源は５０／６０Ｈ！の商用電源そのものでは
なく、ちらつき（＃視的にみると５０／６０Ｈｚは明暗
のちらつきが大きい）の影響が現われな°いよう同波数
を高めてるる。例えば９ＫＨｓ　でるる。

つぎにこの＠２図に示す実権例の動作を説明する。まず
、汚れの検出は、ロールタオル凰Ｔの懺面の拡散反射光
の変化により検出素子ｏＦ４でロールタオルＲＴの汚ｎ
を検出する。そして、ロールタオルＲＴＯ費面に汚れが
存在（−た場合には検出素子ＤＥ２の受光量が沙少し、
素子出力電圧が高くなる。つぎに、破れ、＃１つれ、継
目、末端の検出は、ロールタオルＲＴ　の透過光の変化
により検出素子ＤＥＨでロールタオルＲＴの破ｔ′Ｌ、
はつれなどを検出する。そして、【コールタオルＲＴ　
Ｋ破れ、はつれが存在した場合には光源りから検出素子
ＤＥｌへ直接九が入射するため、その受光量が増加し、
素子出力電圧は低くなる。つぎに、ロールタオルＲＴ　
の継目、末端の検出は、ロールタオルＲＴの透過光の変
化により検出素子ＤＥ、で検出する。

そして、ロールタオルＲＴの末端の場合にはセンサアレ
イ中の全素子の受光量が同時に増加し、また、ロールタ
オルＲＴの継目の場合にはセンサアレイ中の全素子の受
光量が同時に減少する。

＠３図はセンサアレイの配列の例および視野を示す説明
図で、（＆）は汚れ検出用センサアレイを示。

し喪ものでるり、（ｂ）は破れ、はつれ、継目、末端検
出用センサアレイ管示し念ものでるる。図において、（
イ）の１，２，３・・・・２６　は素子番号を示し、（
ａ）の測定範囲におけるＣＴはキャビネットタオル、Ｍ
ＣＴはキャビネットタオルＣＴよシ幅が狭いミニキャビ
ネットタオルの場合をそれぞｎ示す。そして、Δ印はタ
オルだ端基準位置を示す。

第３図（ａ）において、（イ）の素子＆１〜４ＢはΦヤ
ビネットタオルＣＴ　とミニキャビネットタオルＭＣＴ
の検出兼用、素子４９〜ＡｌｌはキャビネットタオルＣ
Ｔの検出専用である。また、第３図（ｂ）において、０
）の素子４１２はほつれ検出用の素子で、この素子ム１
２はキャビネットタオルＣＴとｉニキャビネットタオル
ＭＣＴの検出兼用、素子ム１３〜雇２０は破ｎ検出用の
素子で、この素子ｌ６１３〜４２０はキャビネットタオ
ルＣＴとミニ中ヤビネットタオルＭＣＴの検出兼用、素
子１２１〜Ａ２３はキャビネットタオルＣＴの破れ検出
およびミニキャビネットタオルＭＣＴのほつれ検出用の
素子、素子ｌ６２４〜ｌ６２６はキャビネットタオルＣ
Ｔのほつれ検出用の素子、素子ａ、＠、０は継目検出用
の素子、素子す、ｄ、ｆは末端検出用の素子でるる。そ
して、１１３図（、）の（ａ）は汚れ検出範囲を示し、
第３図（ｂ）の仲）の（１）はキャビネットタオルＣＴ
の破れ検出範囲、（２）はミニキャビネットタオルＭＣ
Ｔの破れ検出間１ｆｆｌ、（３）は中ヤビネットタオル
ＣＴのほつｎ検出範囲、（４）はミニキャビネットタオ
ルＭＣテのほりｎ検出範囲、（Ｓ）および（６）はそれ
ぞｆ′ＬｈＩＡ目および末端検出範囲を示す。

そして、検出間Ｈにおける実線Ｈは検出感度１００〜７
０嘩、点線１−−−−１　は、検出感度７０〜θ優をそ
れぞれ示す。なお、２０．Ｇｏ、１６０゜２２０　はそ
れぞれ長さ１−弐わし、その単位はＩｍｍでめる。

第４図は縞１図の実施例における検出回路ＤＩＴの一例
を示す回路図である。この第４図は［２図に示すセンサ
アレイの各センサの受光量に対応して電気信号をそれぞ
れ出力する検出回路で、Ｑｌはトランジスタで、そのコ
レクタは抵抗Ｒ，を介して１２Ｖの電源端子に接続され
、工〉ツタ社接地され、ベースはセンサ九電流が流れる
フォトセルＰＣｔ−介して抵抗Ｒ１とダイオード０１の
接続点に接続され、これらは検出回路を構成して−る。

ＲｓはトランジスタＱＩのコレクタに接続された抵抗、
ＶＲ，は可変抵抗で、これらは信号処理部を構成してい
る。

このように構成された回路において、フォトセルＰＣか
らはセンサの九電流が流れ、これに伴ってトランジスタ
Ｑ１はオンし、破れ、はつれ、汚ｎ、継目、末端検出の
各素子はこの回路により検出信号ｏｓ　を取り出すこと
ができる。

第５図は第１図の実施例における判定回路ＪＵＧ）の−
例を示す回路図で、破れレベル判定回路の一例を示すも
のである。図において、４１３．Ａ１４゜４１５、Ａ２
０，４２３　Ｆｉそれぞｔのチャンネルの出力が印加さ
れる入力端子で、この入力端子４１３には第４図に示す
検出回路ＯｇＴＯ検出信号０８が印加される。

そして、各チャンネル４１３〜ム１！Ｓ、Ａ２０゜ム２
３　　からの出力信号はそれぞれ逆方向のダイオードｏ
！−，、ｏ□−！　ｒ　０１−１・・・　０ト。を通し
て結合されてお夛、このため、点■における電圧は、各
チャンネルの出力レベルの内最も低いレベルに支配され
る。したがって、各チャンネルの肉刺ｎか１つのチャン
ネルでも破れを検出し出力レベルが下降した場合には点
■における電圧も同様の変化を示す。

つぎに、この点■における電圧は可変抵抗ＶＲ１によっ
て設定さｎる判定レベル■と信号レベル■とに分割され
て差動増幅器ＯＡに入力される。そして、この判定レベ
ル■は点■の電圧レベルを抵抗Ｒ４とコンデンサＣ１に
よって構成される積分回路により平清し、さらに、抵抗
Ｒ８と可変抵抗ｖＲ２によシ分圧されて差動増幅器ＯＡ
に入力される。また、信号レベル■は抵抗Ｒ，とコンデ
ンサＣ２の積分回路を通り、抵抗Ｒ，と抵抗Ｒ７により
分圧されて差動増幅器ＯＡに入力される。このように、
この判定回路における基準値信号でるる判定レベルは第
４図に示す検出回路からの出力信号の最小値信号を平滑
し、これに所定のバイアス電圧を加えて得た信号で４見
らｎるように構成されている。

ここで、抵抗Ｒ４とコンデンサＣＩにより決定される時
定数と抵抗Ｒ・とコンデンｆＣ，により決定される時定
数はＲａ　Ｃ１＜＜　Ｒｓ　Ｃｍ　でるり、これは可変
抵抗ＶＲ，の調整によりＶ■〉Ｖ■となるように設定さ
れる。このＶ■は信号レベル■の電圧を示し、■■は判
定レベル■の電圧を示す０ なお、第５図において、Ｑ２は電流増幅用のトランジス
タ％Ｒ６はトランジスタＱ２のベースとエミッタ間に接
続された抵抗、Ｒ１−Ｒ１ｍ　は抵抗、Ｄｓ　＃　Ｄ、
はダイオードである。そして、■は破れ信号の出力信号
でろる。

第６図は破れが検出された場合の各信号のレベル変化を
示す説ＢＡ図で、斜線部分Ｆｉ−破れ“を示す。

そして、第５図に示す判定回路においては、抵抗Ｒ４と
コンデンサＣ１によシ決定される時定数と抵抗Ｒ６とコ
ンデンサＣ１により決定される時定数の差およびＶ■−
Ｖ■のレベル差により検出精度は決定される。なお、こ
の回路においては、ｃｍの劣化あるいはタオル生地の変
動による影響を受けることなくロールタオルの破れおよ
びほつれを検出することができる。

このように、この第５図に示す判定回路は後述する各状
態の判定回路と同様に、差動増幅器Ｄムに入力される信
号レベル■および判定レベル■がともに入力信号を分割
して作成され、また、その判定基準は点■および判定レ
ベル■における分圧比の差および信号レベル■の平滑化
における積分回路の時定数によって決定される。

第７図は第１図の実施例における判定回路ＪＵＤの他の
例を示す回路図で、はつれレベル判定回路の一例を示す
ものでるる。＠７図において８１５図と同一符号のもの
は相当部分を示し、■は検出回路からの各チャンネルの
出力信号が印加される入力端子％Ｒ１１は電源１２Ｖ　
Ｋ接続された抵抗である。

この＠７図に示すほつれレベル判定回路の動作原理は前
述の嬉５図に示す破れレベル判定回路の場合とまったく
同様でめるので、ここでの説明を省略する。そして、こ
の回路はほつれ検出の各チャンネルに対してそれぞれ設
けられている。

第８図は継目検出回路の一例を示す回路図でるる。ｗｉ
８図において第５図と同一符号のものは相当部分を示し
、ａ、ｃ、・はそれぞれ第３図（Ｉｔ、）の（ハ）に示
す索子ａ、ａ、・の各チャンネルの出力信号が印加され
る入力端子で、この入力端子１．＠、＠にそれぞｎＩ：
Ｄ加さｎた各チャンネルからの出力は逆方向のダイオー
ド０６’ｌ　＋　ＤＩ−２＋　０６−１￥ｒ通して結合
されており、点■での電圧は各チャンネルの内雇も低い
本のに支配さｎる。一方、各チャンネルにおいて、継目
が検出された場合にはその出力電圧は上昇することから
点■における電圧は、＆、ｅ、・の各チャンネルが同時
に継目を検出した場合にのみ上昇する。これを前述の破
れ検出回路と同様な判定回路にて検出し、その出力には
継目信号Ｊ８　が得られる。

第９図は末端検出回路の一例を示す回路図でめる。第９
図において第５図と同一符号のものは相当部分を示し、
ｂ、ｄ、ｆけそれぞれ第３図伽）の（イ）に示す素子す
、ｄ、ｔの各チャンネルの出力信号が印加される入力端
子で、この入力端子す、ｄ、ｆに印加された各チャンネ
ルからの出力はＪｉｌｉ方向のダイオードＤ、−１ｌ　
’？−２＋　Ｏ？−１を通して結合されており、点■で
の電圧は各チャンネルの内雇も高いレベルに支配される
。一方、各チャンネルにおいて、末端（タオルのなくな
った状ＩＩＩ）が検出された場合には、その出力電圧は
低下することから、点（ｉ）Ｋおける電圧はす、ｄ、ｆ
の各チャンネルが同時に末端を検出した場合にのみ検出
する。これを前述の第５図に示す破ｎ−検出回路と同様
な判定回路にて検出し、その出力には末端伯゛号ＥＳが
得らｎる。なお、第９図においてＤＩ　。

０書は順方向接続されたダイオードでめる。

前述したところから明らρ為なように、本発明の他の実
施例としては、平面状の被検査物の移送面の同一の側に
配置さｎｆｃｙｔ、源りならびに反射光全受光する検出
素子ＤＩ、からなるセンサアレイと、このセンサアレイ
の受ｆ、ｉに対応して電気信号を出力する検出回路と、
この検出回路からの出力信号を基準値信号と比較する判
定回路とを備え、被検査物の汚れを検査するようにする
こともできる。

そして、この判定回路における基準値信号は検査回路か
らの出力信号の最大値ま念は最小値信号を平滑し、これ
に所定のバイアス電圧を加えて得た信号で与えられるよ
うに構成されている。

第１０図は本発明の他の実施例の基本的構成を示すブａ
ッグ図でめる。図において、駄は前述の第２図に示すよ
うに、平面状の被検査物、例えばロールタオルの移送面
の同一側に配置された光源りならびに反射′＃Ｓを受光
する検出素子Ｏｇ茸からなるセンサアレイ、ＤｇＴは前
述のｌＩ４１図に示すように、センサアレイＳＡ　の受
光量に対応して電気信号を出力する検出回路、ＪＵＤは
検出回路ＤＥＴからの最大値または最小値信号を基準値
信号と比較する判定回路、Ｏ８−ＪＵＤは判定回路工Ｕ
Ｄの出力信号が存在する量基準パルスを計数し、計数値
が予め設定された所定値に達したとき出力信号を送出す
る汚れサイズ判定回路で、これらにより被検査物、例え
ばロールタオルの汚れを検出するように構成されている
。

そして、判定回路ＪＵＤにおける基準値信号は検出回路
ＤεＴからの出力信号の最大値または最小値信号を平滑
し、これに所定のバイアス電圧を加えて得た信号で与え
らｎるように構成され、また、汚れサイズ判定回路０８
−　ＪＵＤの基準パルスは被検査物の移送速度に応じて
その同期を変化させるようをこ構成さｎている。

第１１図は１１０図の実施例における判定回路ＪＵＤの
一例を示す回路図で、汚れレベル判定回路の一例を示す
ものでるる。図において、Ａ１゜Ａ２　、Ａ３　、Ａ８
　、Ａｌｌ　Ｆｉそｎぞｔチャンネルの出力が印加され
る入力端子で、この入力端子ム１には第４図に示す検出
回路ＤＥＴの検出信号Ｄ８が印加される。そして、各チ
ャンネルからの出力信号はそれぞれｊ一方向にダイオー
ド０１０−１　＊　０１゜１．０．・−０を通して結合
さｎており、このため、点■における電圧は各チャンネ
ルの出力レベルの内雇も高いレベルに支配さｎる。した
がって、各チャンネルの内何れ力４つのチャンネルでも
汚ｎを検出し出力レベルが上昇した場合には点■におけ
る電圧も同様の変化を示す。

つぎに、この点■における電圧は可変抵抗ＶＲ。

によって設定される判定レベル■と信号レベル■とに分
割さｎて差動増幅器ＯＡに入力される。そして、この判
定レベル■は点■のレベルを抵抗Ｒ４とコンデンサＣ１
によって構成される積分回路により平滑し、さらに、抵
抗Ｒ８と可変抵抗ＶＢ、により分圧されて差動増幅器Ｏ
Ａに入力される。そして、この判定レベル■は点■のレ
ベルを抵抗Ｒ４とコンデンサＣ１によって構成される積
分回路により平滑し、さらに、抵抗Ｒ８と可変抵抗ＶＲ
。

によシ分圧されて差動増幅器ＯＡに入力される。

また、信号レベル■は抵抗Ｒ６とコンデンサＣ。

の積分回路を通り、抵抗Ｒ６と抵抗Ｒ２により分圧きれ
て差動増幅器ＯＡに入力さｎる。こζで、抵抗Ｒ４とコ
ンデンサＣ１により決定される時定数と抵抗Ｒ６とコン
デンサＣ２により決定される時定数はＲ４Ｇ１）Ｒ＠　
Ｃ！であり、これは可変抵抗Ｖ　）、’　、　　の調整
によりＶ■〉ｖｏとなるように設定される。このＶ■は
判定レベル■の電圧を示し、Ｖ■は信号レベル■の電圧
を示す。

なお、第１１図において、Ｑｚは電流増幅用のトランジ
スタ、Ｒ６はトランジスタＱｌのベースと工ｉツタ間に
襞続された抵抗、Ｒ−〜Ｒ１１はそれぞれ抵抗、ＯＳ　
＋　Ｏ，け順方向に接続されたダイオードである。そし
て、■は汚れ信号ＤＳの出力信号である。

姐１２図は汚ｎが検出された場合の各信号レベル変化を
示す説明図で、斜線部分は１汚れ′を示す。

そして、との給１１図に示す判定回路においては、抵抗
Ｒ４とコンデンサＣ！により決定される時定数と抵抗Ｒ
１とコンデンサＣ３により決定される時定数の差および
■■−■■のレベル差により検出精度は決定される。な
お、この回路においては、光源の劣化わるいはタオル生
地の変動による影響ヲ９けることなくロールタオルの汚
れを検ｄｉすることができる。

第１３図は第７図に示す実施例における汚れサイズ判定
回路Ｄａ−ＪＵＤの具体的構成の一例を示す回路図でる
る。第１３図において、頂は第１１図に示す判定回路Ｊ
ＵＤＯ差動増幅器Ｏムからの汚れ信号ＤＳの出力信号■
が印加される端子、ＣＵＮＴ　Ｆｉ判定回路ＪＵＤから
の出力信号が存在する間、基準パルスでるるクロックパ
ルスＣＰヲ計数するカウンタで、その計数値が所定値に
達したとき出力信号の汚れ信号ＤＳＧ　を送出するよう
に構成されている。なお、図において、ＩＮＶ、。

ＩＮＶ、−−−ＩＮＶ４　はそれぞｆ’Ｌ　イア　／＜
　−／　、ＮＡＮＤＩはインバータＩＮＶ、の出力とク
ロックパルスＣＰを入力とするナントゲート、ＮＡＮＯ
，、ＮＡＮＤＩはそｔぞｎナントゲートで、これらは７
リツプフロツプを構成している。そして、りａツクパル
スＣｐは巻取ドラムの回転パルスでめシ、仁の１パルス
はタオル要約１．５ｃｍに相当する。

このように榊成さｎた回路において、第ｆｉｍｌに示す
汚ｎレベル判定回路ＪＵＤＯ差動増幅器ＤＡ力・らの汚
れ信号Ｏ８の出力信号■のパルス幅を判定し、タオル長
に換算して一定幅以上のもＯＫ対して汚れ信号Ｏ８Ｇを
出力する。すなわち、端子ＩＮから汚れ信号パルス■（
汚れ信号の出力信号）が入力さｎると、この汚ｎ信号が
入力されている間だけカウンタＣＵＮＴ　　はクコツク
パルスｃｐｔ−計ａし、予め設定さ扛た所定値、例えば
２パルスを計数した時点で汚れ信号Ｄ８Ｇか出力される
。そして、−足カウントする以前に汚ｔ′Ｌ信号パルス
が終了した場合に＃′ｉその時点でカウンタＣＵＮＴは
リセットさｔ、汚れ信号は出力さｎない。

第１４図は検出回路からの出刃信号を基準９Ｉｉ信号と
比較する判定回路の全体の構成の一例を示すブロック図
で、前述の各汚ｎレベル判定と継目。

木端の検出およびＷｎ４４１定回路をまとめて示したも
のでめる。

図において、ＳＷａキャビネットタオルＣＴとミニキャ
ビネットタオルＭＣＴ　とを切替えるためのスイ７ｆ、
ＤＬ・ＪＵＤｌ　はノ１６１チャンネル〜屋１１チャン
ネルからの出力信号を順方向のダイオードを介して入力
とするキャビネットタオルＣＴの磯汚ｎレベル判定回路
、［）Ｌ−ＪＵＤ、はム１〜Ａ８チャンネルからの出力
信号を順方向のダイオードを介して入力とするミニキャ
ビネットタオルＭＣＴの汚れレベル判定回路、０Ｌ−Ｊ
ＵＤＩ　　はキャビネットタオルＣＴ側のＡ１〜ム１１
チャンネルからの出力信号とミニキャビネットタオルＭ
ＣＴ側のＡｌ−４８チヤンネルからの出力信号とをそれ
ぞれ順方向のダイオードを介して入力とするキャビネッ
トタオルＣＴの薄汚れレベル判定回路、ＯＲＩはＣＴ濃
汚扛レベル判定回路０Ｌ−ＪＵＧ、の出力とＭＣＴ汚れ
レベル判定回路ＤＬ　−ＪＵＤ、の出力とを入力とする
オアゲート、８−ＪＵＤはＣＴ薄汚れレベル判定回路Ｄ
Ｌ−ＪＵＤ、の出力を入力とし、そのサイズを判定する
サイズ判定回路、ＯＲ，はオアゲー）ＯＲｔ　の出力と
サイズ判定回路５−ＪＵＤの出力を入力とするオアゲー
トで、その出力には汚れ信号ＤＴ８　が得られる。

ＧＯはａ、Ｃ，・の各チャンネルからの出力信号を逆方
向のダイオードを介して入力とする継目検出回路、ＥＤ
はす、ｄ、ｆの各チャンネルからの出力信号を順方向の
ダイオードを介して入力とする末端横田回路で、この継
目および末端の検出回路ＧＯおよびｌ１２Ｄの出力には
そｎぞれ継目信号ＪＴＳ　および末端信号ＥＤＳが得ら
れる。

ＢＫ＠ＪＵＯ，＃′ｉキャビネットタオルＣＴ側の慮１
３〜Ａ２３チャンネル〃・らの出力伯゛号を逆方向のダ
イオードを介して入力とするキャビネットタオル破れ判
定回路、ＢＫ−ＪＵＤ、はミニキャビネットタオル破れ
判定回路、ＯＲ２はこのＣＴ破ｎ判定回路ＢＫ−ＪＵＤ
、　　の出力とＭＣＴ破れ判定回路ＢＫ−ＪＵＤ、の出
力とを入力とするオアゲートで、その出力には破れ信号
ＢＫ８が得られる。

Ｆ７−、ＴＩＪｏ、は４１２チヤンネルからの出力信号
を逆方向のダイオードを介して入力とするｉｇｌのほつ
ｎ判定回路、ＦＭＳＪＵＤ２はミニキャビネットタオル
ＭＣＴ　＠の４２１チヤンネルがらの出力信号を逆方向
のダイオードを介した出刃と中ヤビネットタオルＣＴ側
の４２４チャンネル〃為らの出方信号を逆方向のダイオ
ードを介した出力とを入力とする第２のほつれ判定回路
、ＦＹ−ＪＵＤｉ　＃′ｉミーニキャビネットタオルＭ
ＣＴ＠の４２２　チャンネルからの出力信号を逆方向の
ダイオードを介した出力とキャビネットタオルＣＴ側の
４２５チヤンネルからの出力信号を逆方向のダイオード
を介した出力とを入力とする第３のほつれ判定回路、Ｆ
ＹΦＪＵＤ、けミニ今ヤビネットタオルＭＣＴ側の４２
３チヤンネルからの出力信号を逆方向のダイオードを介
した出力とキャビネットタオルＣＴ＠の４２６チヤンネ
ルからの出方信号を逆方向のダイオードを介した出力と
を入力とする第４のほつれ判定回路、ＯＲ４は嬉１のほ
つれ判定回路ＦＴ・ＪＵＤｌ　の出力と＠２のほつれ判
定回路ＦＹ・ＪＵＤ、　　の出力を入力とするオアゲー
ト、０ＲＩＩはＳＲ３（Ｄｉ’！’：）ｔｌ、ＭＰ４Ｊ
定回ｕ　ＦＹ−ＪＵＤｓ　ｆ）出カド＄１４の＃１つれ
判定回路ＦＹ−ＪＵＤ４　の出方を入力とするオアゲー
ト、ＯＲ，はオアゲートＯＲ４の出力とオアゲートＯＲ
Ｉの出力を入力とするオアゲートで、その出刃にＶｉは
つれ信号ＦＹ８が得られる。

つぎに、タオル長計測について説明する。第１５図は検
出部の概略を示す説明図でるる。図において、ＤＭ　＃
ｉ巻取ドラム、ＤＫ　Ｈ回転ディスタ、ＦＭＳはフォト
マイクロセンサでるる。そして、回転ディスクＤＫは巻
取ドラムＤＭのセンターシャフトに固定されてお９、こ
の巻取ドラムＤＭと同様に回転する。回転ディスクの外
同上は図に示すように歯型が切らｎており、回転ドラム
ＯＭが回転した場合、この歯型によってフォトマイクロ
センサＰＭ＆　の発光部と受光部との間は遮蔽・開放さ
れる。こｒしによって、回転ドラムＯＭの回転は回転パ
ルスとして検出さｎる。そして、この回転パルス１パル
スはタオル要約１．６　ｃｍに和尚する。

第１６図は本発明の更に他の実施例の基本的構成を示す
ブロック図でるる。図において、８Ａ１は平面状の被検
査物の移送面を挾んで一方の側に配置さｎた光源Ｌ（第
２図参照）ならびに反射光を受光しく第２図の検出素子
ＤＥ２ｇ照）汚れを検出するための第１のセンサアレイ
、８Ａ、　、　８Ａ。

、　８Ａ４　、　ＢムＳはそｎぞれ光源りの他方の側に
配置されて透過光をそれ七ｎ受光しく第２図の検出素子
−〇ＥＩ参照）、破れ、はつれ、継目、末端をそれぞれ
横用するための第２．第３．＠４および８ｇ５のセンサ
アレイ、Ｄｇ？、　、　　ＤＣ’ｒ、　、ｏｃ’ｒ。

、　ＤＥＴ４　、　　ＤｇＴ＠　ｔｒｉそれぞれ上記第
１〜第５のセンサアレイの各センサの受光量に対応して
電気信号をそｎぞｎ出力するｌＸ１〜第５の検出回路、
ＪＵＤ、、　　ＪＵＤ２　、　　ＪＵＤ、、　　Ｊ、Ｕ
Ｄ、、　　ＪＵＤ、はそれぞれ上記第１〜第５の検出回
路Ｄｇ７１〜ＤＩＣ？。

からの出力信号を基準値信号と比較する第１〜第５の判
定回路、ＤＬｌ、　ＤＬ富、　ＤＬ、はそれぞれ上記第
１．第２．第３の判定回路ＪＵＤ、　−ＪＵＤ。

からの汚れ、破れ、はつれの状態に対応した信号（以下
、汚れ信号、破れ信号、はつれ信号と呼称する）を遅延
するための第１〜第３の遅延回路、ｐｗｇ　ｃ　、は第
２の判定回路ＪＵＤ、からの破れ信号と回転パルス信号
ＲＰとを入力とし、破れ信号に基づき汚れ信号をマスク
するための第１のパルス幅延長回路、ｐｗｃ　ｃ　！　
は第４の判定回路ＪＵＤ。

からの継目状態に対応した信号（以下、継＠信号と呼称
する）と第５の判定回路ＪＵＤ、　　からの末端状態に
対応したイぎ号（以下、末端信号と呼称する）および回
転パルス信号ＲＰ　を入力とし、継目信号または木端信
号に基づいて汚れ、破れ、はつれ信号をマスクするため
の第２のパルス幅延長回路、ＣＵＮＴｌ、　　ＣＵＮＴ
ｚ　、　　ＣＵＮＴｓ　Ｉｆｉそｎぞれ汚れ、破れ、　
＃１つれ信号を計数する第１．第２．第３のカウンタで
、とのｌＸ１〜第３のカウンタＣＵＮＴ１〜　ＣＵＮＴ
、　けりセット信号ＲＴによってリセットされるように
構成されている。

ＯＲは第４の判定回路ＪＵＤ、からの継目信号と嬉５０
判定回路ＪＵＤ、からの末端信号を入力とするオアゲー
トで、その出力は第２のパルス幅延長回路ＰＷＥＣ，に
入力するように構成されている。

ＡＮＤ、は第１の遅延回路ＤＬ、の出力と第１のパルス
幅延長回路ｐｗｇｃｌ　の出力を入力し、両者の論理積
をとるアンド回路、ＡＮＤ、はアンド回路ＡＮＤ、　　
の出力と第２のパルス１ｌｌｉ延長回路ＰＷＥＣ＠の出
力を入力とし、両者の論理積をとるアンド回路、ＡＮＤ
、は第２の遅延回路ＤＬ、の出力と第２のパルス幅延長
回路ｐｗｉ：　ｃ　、の出力を入力とし、両者の論理積
をとるアンド回路、ＡＮＤ４は第３の遅延回路ＤＬｌ　
の出力と第２のパルス幅延長回路ＰＷＥＣ，の出力を入
力とし、両者の論理積をとるアンド回路でるる。そして
、このアンド回路ＡＮＤＩ、　ＡＮＤ、　、　ＡＮＤ、
　　の各出力はそれすれ汚れ、破れ、はつれ力ワンタＣ
ＵＮＴ、、ＣＵＮＴ、、ＣＵＮＴ畠に入力するように構
成されている。

そして、上記第１および第２のパルス幅延長回路ｐｗε
Ｃｔ　ｔ　　ＰＷＥＣＨは、被検査物の移送速度に応じ
てその出力パルス幅が変化するように構成されている。

つぎにこの第１６図に示す実施例の動作を第１７図を参
照して説明する。！１７図は制御動作タイミングチャー
トで、（ａ）は第１の判定回路ＪＵＤ、からの汚ｎ信号
を示したものでろり、（ｂ）は汚れカウンタＣＵＮＴ、
への入力、（Ｃ）は第１のパルス幅延長回路ＰＷεＣ１
の出力でるる汚れマスク信号、（ｄ）は第２の判定回路
ＪＵＤ、の出力でるる破ｎ信号、（拳）は破れカウンタ
ＣＵＮＴａ　への入力、（ｆ）は＠３の判定回路ＪＵＤ
、　　の出力でめるほつれ信号、（ｔ）はほつれ力９ン
タＣＵＮＴ、への入力、（ｈ）は第４の判定回路ＪＵＤ
、　　の出力でろる継目信号、０）はｔＸ５の判定回路
ＪＵＤ、Ｏ出力でめる末端信号、（ｊ）はスタート・ス
トップ信号、ｋ）はｗｉ２のパルス幅延長回路ＰＷＥＣ
，の出力でめるカウンタホールド信号、（４はリセット
信号を示したものでるる。

まず、巻取機スタートスイッチ（図示せず）をオンする
ことにより、装置は次のような動作を行なう。巻取モー
タオン（外部シーケンスによる）、機示値を自動リセッ
トする。

そして、第３の判定回路ＪＵＤ、において◆破７″Ｌ＃
が検出さｎた場合には、第１のパルス幅延長回路ＰＷε
Ｃ１より第１７図（Ｃ）に示す汚れマスク信号（ｃ）が
出力され、回転パルスＮ、力９ントする間第１７図（ａ
）に示す汚ｎ信号（ａ）はマスクされる。

ここで、汚へ信号葎）ｔ−第１の遅延回路ＤＬ１によっ
て所定時間１．　　遅延させるのは、破れがめりた場合
、移送８ｆ’Ｌｂ＠検査物が載っている台の面上からの
反射光、すなわち、面が汚れてろたかも被検査物の汚点
の反射光と同じｙｔｉｔ反射してしまうのを汚れ信号と
して汚れ力ワンタＣＵＮＴＩが誤カウントしないよう確
実にマスクするために行うものである。

そして、前述の第２図からは破れ信号尭生後に上記誤っ
た汚ｎ信号が発生する時間関係に見えるが、実際には被
検査物の移送速度ならびに汚れサイズの基準のとり方か
ら第１７図（ｄ）に示す破れ信号（ｄ）と第１７図（１
）に示す汚れ信号（ａ）は重なり合う。

このため破几（ｌｉｔ号（ｄ）を第１のパルス幅延長回
路ｐｗｇｃｌ　で伸して汚れマスク信号（ｃ）　？っ〈
９、これをアンド回路ＡＮＤ１でカットするのでるる。

ここで、この第１のパルス１１＠延長回路ｐｗｃｃ１に
回転パルス信号ＲＰが入力しているのは、被検査物の移
送速度に応じてパルス幅を変更し、移送速度に無関係に
被検査物の長さに換算して一定の長さに相当する分、汚
れ力ワンタＣＵＮＴ、への入力ヲカットするためでるる
。

また、汚れ信号（ａ）、破ｎ信号（ｄ）、はつれ信号（
ｆ）の各遅延回路ｏｉ、、　、　ＯＬ、　、　　ＯＬｓ
　は継目信号（ｈ）または末端信号（１）が検出され次
場合に、これらの信号（ｈ）　ｊ　（１）を各カウンタ
ＣＵＮＴ１〜　ＣＵＮＴ婁がカワントシ途いように確実
にマスクするためで、オアゲーｉ０Ｒの後続の＠２のパ
ルス幅延長回路ｐｗ　ｇ　Ｃ，は前述の＠１のパルス幅
延長回路ＰＷＥＣＩと同じでるる。

そして、各カウンタＣＵＮＴ１〜ＣＵＮＴｓのリセット
信号ＲＴは検査のためのスタート信号とスイッチ・プツ
シ斗による手動により発生さｎる。また、第１および第
２のパルス幅延長回路ｐｗｒ：ｃ１゜ＰＷＥ　Ｃ，は回
転パルス信号ＲＰ′ｆｒ所定数、すなわち、汚れマスク
信号（ｃ）はＮ１個、継目信号（ｈ）はＮ３個カウント
する間、マスク信号を出力する。これにより、被検査物
の移送速度の変化の影響をなくしている。

つぎに、嫡４の判定回路ＪＵＤ４　によってｉａ目倍信
号ｈ）が検出さｎた場合には第２のパルス幅延長回路Ｐ
ＷＥＣ２の出力でるるカウンタホールド信号（ｋ）が第
１７図（ｋ）に示すようにオフとなり、回転パルスＮ２
カウ／卜する間、汚ｎ、破れ、はつれの各信号（ａ）　
、　（ｄ）　、　（ｆ）はマスクされる。また、第５の
判定回路ＪＵＤ、　　によってロールタオルの末端が検
出された場合Ｋｌ−Ｊ、末端検出と同時に上記力２ンタ
ホールド信号軸）がオフとなり、汚れ、破れ。

はつれカウントが終了する。そして、＠１７図に示す電
４時間後モータストップ信号が出力され、巻取モータが
停止する。そして、クリヤースイッチが押された場合、
すなわち、手動リセットの場合には、汚れ、破れ、はつ
れのカウント数がリセツｔされる。なお、巻取機の運転
中にクリヤースイッチが押さｎた場合には、表示ｇＩＬ
をクリヤーすると共に、装置は前述のａ−ルタオル末端
が検出さルた場合と全く同様な動作を行なう。

また、巻取途中において巻取機ストップスイッチが押さ
れた場合には、厘ちに巻取モータが停止するとともに、
汚れ、破れ、はつれの各力９ンタＣＵＮＴＩ　、ＣＵＮ
ＴＩ　、ＣＵＮＴｓがホールドされる。

そして、ストップスイッチにより途中停止された後、再
度スタートスイッチが押された場合には汚れ、＆ｌれ、
＃１つれのカウントが再開され、前回の計測値に積算さ
ｎる。

このようにして検出することにょシ、所定以上の大きさ
または濃さの汚れがめれげ再洗とか不良品とし、また、
はつれ、破れが検出されれば修繕または不良品とするも
ので、良否の判定に使用するものでるる。

以上本発明を購検査物としてａ−ルタオルを用いた場合
を例にとって説明したが、本発明はこれに限定されるも
のでなく、被検査物は反物でも紙などでもよい。

以上の説明から明らかなように、本発明によれば、従来
のような人為的な目視操作に頼る必要がなくなるため、
それにもとづくめらゆる不便さを解決することができる
ばかりでなく、洗浄後のロールタオルや反物１紙などの
製品検査における検査装置への応用など多くの利点を持
っているものでるる。また、このＭ品検査の自動化ト央
現するための、光七ンサの構成１判定回路、システムと
してのロジック処理の点で、実際の検査作業への適応性
が発揮できると共に、製品検査を自動的にたつ適確に行
うことができるという点において極めて有効でるる。

【図面の簡単な説明】

ｔｘ１図は本発明による自動検査装置の一実施例の基本
的構成を示すブロック図、第２図は１１１図の実施例に
おけるセンサアレイに係る部分を抽出して示した構成図
、第３図は本発明に用いるセンサアレイの素子配列の例
および視野を示す説明図、第４図Ｆｉ＠１図の実権例に
おける検出回路の一例を示す回路図、第５図は第１図の
実権例における判定回路の一例を示す回路図、Ｒ６図は
ｗｉ５図の動作説明図、第７図は第１図の実施例におけ
る判定回路の他の例を示すほつれレベル判定回路の回路
図、１１ｇ８図は継目検出回路の一例を示す回路図、第
９図は末端検出回路の一例を示す回路図、嬉１゜図は本
発明の他の実権例の基本的構成を示すブロック図、第１
１図はｇｉｏ図の実施例における判定回路の一例を示す
回路図、第１２図は第１１図の動作説明図、第１３図は
第１０図の実権例“における汚れサイズ判定回路の一例
を示す回路図、第１４図は判定回路の全体構成を示すブ
ロック図、第１５図は被検査物の長さを検出する検出部
の概略を示すｉｇ明図、Ｒ１６図は本発明の更に他の実
施例の基本的構成を示すブロック図、嬉１７図は第１６
図の動作説明に供する制御動作タイムチャートでるる。 ＳＡ、８Ａ＋〜ＳＡ、　　・・・・センサアレイ、Ｌ・
・・・九源、０εｘ、ＤＥ、　・・・・検出素子、Ｄε
’ｒ、ｏｇ’ｒ、−ＤＥＴｉ・・・・検出回路、ＪＵＤ
、ＪＵＤ、〜ＪＵＤ、・・−・判定回路、Ｒ４，Ｒ−〜
Ｒ，・・・・抵抗ｓ　　ＣＩ　ＨＣ１・・・・コ／デン
賃、ＶＲ，・・・・可変抵抗、ＯＡ・・・・差動増幅器
、０８−ＪＵＤ　　・・・・汚ｊ、サイズ判定回路、Ｃ
ＵＮＴ　　・・・・カウンタ、ＤＬ、〜ＯＬ、・・警・
遅延回路、ＰＷＥＣ，、ＰＷＦ、Ｃ，・・・・パルス幅
延長回路、ＣＵＮＴ、　　・・・・汚れ力ワンタ、ＣＵ
ＮＴＩ　　・・・・破れカウンタ、ＣＵＮＴ８　　・・
・・はつれ力ワンタ。 特許出願人　山武エンジニアリング・サービス株式会社
ダスキンフランｔヤイズ株式会社 代理人山川政１１Ｍ（ほか１名） 第１ｖＡ （Ｑ） 第２図 第３図 ｔｏ） １ 一例一一−６０−一 二Ｔμ−に−峰−１１−←−一一一−→−→■ １ １　　　　　　トーー　　−一例　　１−一第４図 第５図 −ｆ ＋２Ｖ　　　　１２Ｖ 第１０図 ｌ１１２図 →ｔ １１１１３図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 α）平面状の被検査物の移送面を挾んで一方の儒に配置
   された光源と他方の側に配置されて透過光を受光する検
   出素子とからなるセンサアレイと、このセンサアレイの
   各セ／すの受光量に対応して電気信号をそれぞれ出力す
   る検出回路と、この検出回路からの出力信号を基準値信
   号と比較する判定回路とを具備し、前記被検査物の破れ
   ｔたはほつれを検査するようにし九ことを特徴とする自
   製検査装置。 ０）判定回路における基準値信号は検出回路からの出力
   信号の最大値または最小値信号を平滑し。 これに所定のバイアス電圧を加えて得意信号で与えられ
   ることを特徴とする特許請求の範＠ＩＩＩＥ１項記載の
   自動検査装置。 （３）平面状の被検査物の移送面の同一の＠に配置され
   た光源ならびに反射光を受光する検量素子からなるセン
   サアレイと、このセンサアレイの受光量に対応して電気
   信号を出力する検出回路と、この検出力為らの出力信号
   を基準値信号と比較する判定回路とを具備し、前記被検
   査物の汚れを検査することを特徴とする自動検査装置。 （４）判定回路における基準値信号は検出回路からの出
   力信号の最大値ｔたは最小値信号を平滑し、これに所定
   のバイアス電圧を加えて得た信号で与えられることを特
   徴とする特許請求の範囲縞３項記載の自論検査装！。 （５）平面状の被検査物の移送面の同一の側に配置され
   ｆｃｙｔ源ならびに反射光を受光する検出素子からなる
   センサアレイと、このセンサアレイの受光量に対応して
   電気信号を出力する検出回路と、この検出回路からの出
   力信号の最大値または最小値信号を基準値信号と比較す
   る判定回路と、この判定回路からの出力信号が存在する
   量基準パルスを計数し計数値が所定値に達したとき出力
   信号を送出する汚れサイズ判定回路とを具備し、前記被
   検査物の汚れを検査するようにしたことを特徴とする自
   動検査装置。 （６）判定回路における基準値信号は検出回路からの出
   力信号の最大値または最小値信号を平滑し、これに所定
   のバイアス電圧を加えて得九信号で得られることｆ：％
   黴とする特許請求の範８８５項記載の自動検査装置。 （７）汚れサイズ判定回路の基準パルスは被検査物の移
   送速度に応じてその周期を変化させるようにしたことを
   特徴とする特許請求の範囲＠５項または第６項記載の自
   動検査装置。 侭）平面状の被検査物の移送面を挾んで一方の側に配置
   され友光源ならびに反射光を受光し汚れを検出するため
   の検出素子からなる第１のセンサアレイと、他方の側に
   配置されて透過ｙｔ、をそれぞれ受光し、破れ、はつれ
   、継目、末端を検出するための第２．第３．第４および
   第５のセンサアレイと、この第１〜第５のセンサアレイ
   の各センナの受光量に対応して電気信号をそれぞれ出力
   する嬉ｌ＃第５の検出回路と、この第１−第５の検出回
   路からの出力信号をそれぞれ基準値信号と比較する第１
   〜第５の判定回路と、この第１．第２．第、３の判定回
   路からの汚れ。 破れ、はつｎの各状態に対応した信号をそれぞれ遅延す
   る念めの第１〜第３の遅延回路と、前記破れの状態に対
   応し良信号に基づき汚れの状態に対応した信号をマスク
   するための第１のパルス幅延長回路と、継目または木端
   の状態にそれぞれ対応した信号に基いて汚れ、破れ、は
   つれの状態にそれぞれ対応した信号をマスクするための
   １２のパルス幅延長回路と、各汚れ、破れ、はつれの状
   態に対Ｙ６シた信号を計数Ｔるカワンタとからなる自動
   検査装置。 （９１ｉｆおよびＭ２のパルス幅延長回路は被検査物の
   移送速度に応じてその田カパルス幅が変化することを特
   徴とする特許請求の範囲票８項記載の白組１検査装置。