JPS5944604A - 鋼帯継目位置検出方法 - Google Patents
鋼帯継目位置検出方法Info
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- JPS5944604A JPS5944604A JP15512982A JP15512982A JPS5944604A JP S5944604 A JPS5944604 A JP S5944604A JP 15512982 A JP15512982 A JP 15512982A JP 15512982 A JP15512982 A JP 15512982A JP S5944604 A JPS5944604 A JP S5944604A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- coil
- seam
- detection
- light
- output
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
- B65H—HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL, e.g. SHEETS, WEBS, CABLES
- B65H26/00—Warning or safety devices, e.g. automatic fault detectors, stop-motions, for web-advancing mechanisms
- B65H26/02—Warning or safety devices, e.g. automatic fault detectors, stop-motions, for web-advancing mechanisms responsive to presence of irregularities in running webs
Landscapes
- Replacement Of Web Rolls (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、酸洗コイルの継目位置を検出する方法に関
するものである。
するものである。
従来酸洗コイルの継目(溶4、ソ部)検出C二は、11
ト目近傍にポンチ穴をあけ、透過光用の有無により、継
目を検出することが行なわ1−L−Cいる。
ト目近傍にポンチ穴をあけ、透過光用の有無により、継
目を検出することが行なわ1−L−Cいる。
しかし、この方式では、コイルに穴がおいているため、
両工程の冷延タンデムミルで2接コイル等溶接部を圧延
する必要がある314合、コイル+1ltj断や、圧延
ロール(二疵を伺ける等の問題がある。
両工程の冷延タンデムミルで2接コイル等溶接部を圧延
する必要がある314合、コイル+1ltj断や、圧延
ロール(二疵を伺ける等の問題がある。
そこで、コイルに穴をあけることなく絹:目を検出する
ために、渦fItfiセンサや、光学式センサの応用が
試みられている。
ために、渦fItfiセンサや、光学式センサの応用が
試みられている。
(1)渦電流セン+方式
これは■継目(溶接部)が高温(二加熱されているため
、透磁率μが異なる。■継目部は溶接後、バイト切削を
行なっているが、完全に幻削れない場合が多く、検出器
から測定対虫寸での距離が変化すること等C二よる出力
の変化によって継目を検出するものである。しかし、コ
イルの側材れ現象等で継目以外(二も渭1定対象オでの
距離が変わるときがある。1だバイト切削(二より、継
目部がへこむ場合があるので出力信号の変化が小さくな
り、未検出(二なる’A合かある等により検出ミスや、
誤検出が発生する。
、透磁率μが異なる。■継目部は溶接後、バイト切削を
行なっているが、完全に幻削れない場合が多く、検出器
から測定対虫寸での距離が変化すること等C二よる出力
の変化によって継目を検出するものである。しかし、コ
イルの側材れ現象等で継目以外(二も渭1定対象オでの
距離が変わるときがある。1だバイト切削(二より、継
目部がへこむ場合があるので出力信号の変化が小さくな
り、未検出(二なる’A合かある等により検出ミスや、
誤検出が発生する。
(2)光学式センサ方式
これは、継目部はバイトで切削さiLでいるため、他の
部分(二比べ表面粗さが小さく光沢度が高いので、この
光沢の良否をスポット光の正反射光量により測定し、継
目を検出するものである。寸た光71ti+、 l−レ
ーザ光を用い反射パターンを測定して、継目を検出する
ことも試みらiしている。(〜かじ、とi王らの方式で
は、バイトの刃欠、溶接ハ1(の滲1v幅方向への波打
t7があると、バイトの当り、方が不良(二なり、光沢
が他の部分より落ちるとか、特ホの反射パターンC二な
らない等のrljl AUがある。1だバイト切削跡が
通′帛部より盛り上っていると、スキンバスミルにより
鏡面状となり、やtより特定の反射パターンは生じ々い
。
部分(二比べ表面粗さが小さく光沢度が高いので、この
光沢の良否をスポット光の正反射光量により測定し、継
目を検出するものである。寸た光71ti+、 l−レ
ーザ光を用い反射パターンを測定して、継目を検出する
ことも試みらiしている。(〜かじ、とi王らの方式で
は、バイトの刃欠、溶接ハ1(の滲1v幅方向への波打
t7があると、バイトの当り、方が不良(二なり、光沢
が他の部分より落ちるとか、特ホの反射パターンC二な
らない等のrljl AUがある。1だバイト切削跡が
通′帛部より盛り上っていると、スキンバスミルにより
鏡面状となり、やtより特定の反射パターンは生じ々い
。
このため継目の検出率(l″l:96%程変で、実用(
二供し得ない。
二供し得ない。
捷だ、速続性を判定できる撮像装置としてはテレビカメ
ラが一般的であるが、酸洗ラインでは検出しようとする
継目の幅が5〜1877Jと狭い上、最召j300m/
min の高速で移動するから、■継目は同一場所を
最側速時にはl m sec程IWで通過するので、ス
トロボ等を使用して静止1jiu像とする必要がある。
ラが一般的であるが、酸洗ラインでは検出しようとする
継目の幅が5〜1877Jと狭い上、最召j300m/
min の高速で移動するから、■継目は同一場所を
最側速時にはl m sec程IWで通過するので、ス
トロボ等を使用して静止1jiu像とする必要がある。
■1/3o 秒周期では最高速時には、1週期中(二約
170m移動1するので、正面・な継目位置を知るには
画面のどの位置に継目がきているかを解析する必非があ
る。■最高速時の1週期中の移動m−が大きいため、板
幅方向だけでなく、■延方向にも広い141) l:Q
iに均一な照明をする必要があるので、光源が大きくな
る等により、継目検出装置とt7て高価になる。
170m移動1するので、正面・な継目位置を知るには
画面のどの位置に継目がきているかを解析する必非があ
る。■最高速時の1週期中の移動m−が大きいため、板
幅方向だけでなく、■延方向にも広い141) l:Q
iに均一な照明をする必要があるので、光源が大きくな
る等により、継目検出装置とt7て高価になる。
そこで、発明名等は、上記間顕点を解消できるような継
目検出方法を種々怜討;〜ている過程で、継目部にふ・
ける反射光の輝度変化に注目して実験を行なった。第1
図に@t’l板に平行光を照射したときの、反射光の輝
IW分布を示す、、第2図はZ軸を輝度軸とし、正反射
点を原点0にとシ、X軸(右側)に板幅方向及びY軸(
左側)に圧延方向の光晰分布を示したものである。図中
a(点線)はバイト切削跡が鮮明なときの継目の反射光
分布、h(破細)は鏡面状継目の反射光分布、C(一点
鎖線)はバイト切削不良i+i:目の反射光分布、d(
実線)は継目以外の通常部の反射光量分布を示すもので
ある。正反則点0かも板幅(X軸)方向にずれた点Aで
は、通常部の輝度(反射光量)dが、上記3ネΦの継目
の輝度a 、 l)、 cより高く力っている。従って
4点で輝度測定を行ない、IIjl’を卯が1iTIn
部より低下する笥をもって継目と判定することによシ、
3f+li rA’4の継「1のいづれをも検出するこ
とができる。
目検出方法を種々怜討;〜ている過程で、継目部にふ・
ける反射光の輝度変化に注目して実験を行なった。第1
図に@t’l板に平行光を照射したときの、反射光の輝
IW分布を示す、、第2図はZ軸を輝度軸とし、正反射
点を原点0にとシ、X軸(右側)に板幅方向及びY軸(
左側)に圧延方向の光晰分布を示したものである。図中
a(点線)はバイト切削跡が鮮明なときの継目の反射光
分布、h(破細)は鏡面状継目の反射光分布、C(一点
鎖線)はバイト切削不良i+i:目の反射光分布、d(
実線)は継目以外の通常部の反射光量分布を示すもので
ある。正反則点0かも板幅(X軸)方向にずれた点Aで
は、通常部の輝度(反射光量)dが、上記3ネΦの継目
の輝度a 、 l)、 cより高く力っている。従って
4点で輝度測定を行ない、IIjl’を卯が1iTIn
部より低下する笥をもって継目と判定することによシ、
3f+li rA’4の継「1のいづれをも検出するこ
とができる。
ところで、継目以外でも、酸洗後のスケール残りや、変
色により、またコイルの蛇行により測だ範囲にロール表
面の一部が写ること等によシ、t(11定輝BH低下す
ることがある。しかし、これらの場合の輝妓低下は板幅
方向への速続性が少カ<、また圧延方向にわたる変化は
緩やかで持続性がある。一方継目部での輝度低下は板幅
方向に一様であシ、圧延方向の継目幅は5〜18 rr
t、mと狭いので圧延方向への輝度の変化は急激ですぐ
回復する。そこで板幅方向に連続的にかつ圧延方向には
継目幅より狭い範囲で1最伸して、輝度の変化を測定す
ることによシ、過検出をなくし、継目を精度旨く測定で
きる知見を得た。
色により、またコイルの蛇行により測だ範囲にロール表
面の一部が写ること等によシ、t(11定輝BH低下す
ることがある。しかし、これらの場合の輝妓低下は板幅
方向への速続性が少カ<、また圧延方向にわたる変化は
緩やかで持続性がある。一方継目部での輝度低下は板幅
方向に一様であシ、圧延方向の継目幅は5〜18 rr
t、mと狭いので圧延方向への輝度の変化は急激ですぐ
回復する。そこで板幅方向に連続的にかつ圧延方向には
継目幅より狭い範囲で1最伸して、輝度の変化を測定す
ることによシ、過検出をなくし、継目を精度旨く測定で
きる知見を得た。
この発明は上記の知見に基づいてなされたものであって
、その目的は高い検出精度を得ることができる酸洗コイ
ル継目位置検出ソテ273を提供し7よつとするもので
ある。
、その目的は高い検出精度を得ることができる酸洗コイ
ル継目位置検出ソテ273を提供し7よつとするもので
ある。
この発明の酸洗コイル紺ミ目位置検出)7法の特徴は、
コイルへの照射光の反射光を板幅方向の乱反射位置で、
圧延方向に狭い脛1411内でQi定(2、コイル継目
部の反射光が1jjJ ’7に’部よシ低下することを
利用して、酸洗コイル継目位置を検出するものである。
コイルへの照射光の反射光を板幅方向の乱反射位置で、
圧延方向に狭い脛1411内でQi定(2、コイル継目
部の反射光が1jjJ ’7に’部よシ低下することを
利用して、酸洗コイル継目位置を検出するものである。
以下、この発明方法を実施するだめの検出装置の一実施
例を第3図により説明する。酸洗コイル1がロール2に
密着している場所において、照明光源3からの光を酸洗
コイル1に照射する。
例を第3図により説明する。酸洗コイル1がロール2に
密着している場所において、照明光源3からの光を酸洗
コイル1に照射する。
この条件丁でロール2上のコイル1からの反射光量を輝
度測定装置4で測定する。この輝度f11+1定装置4
は、圧延方向については継目60幅よシ十分狭く、又、
板幅方向については広い範1)1を測定できる装置であ
る。この時、輝度測定装置4は、光源3の正反射光が結
像し2ないよう正反射方向から板幅方向に、十分角度的
に離して設置する。この輝度測定装置4の出力を伯畦処
■装置5を月1いて、板幅方向に連続的に輝度が低Fす
ることを判定する信号処J■(を行ない継目の1金山を
行なう。
度測定装置4で測定する。この輝度f11+1定装置4
は、圧延方向については継目60幅よシ十分狭く、又、
板幅方向については広い範1)1を測定できる装置であ
る。この時、輝度測定装置4は、光源3の正反射光が結
像し2ないよう正反射方向から板幅方向に、十分角度的
に離して設置する。この輝度測定装置4の出力を伯畦処
■装置5を月1いて、板幅方向に連続的に輝度が低Fす
ることを判定する信号処J■(を行ない継目の1金山を
行なう。
ここで、輝閾Al11定装置4として、(り11えぼり
ニアアレイカメラを使用する。リニアアレイ素子8は、
受光レンズ7を介して、コイル1からの44V幅方向の
乱反射)’61けを測定する。このとき、リニアアレイ
素子8上にうつるコイルのIF延方向のliQ像幅V」
:、継目6の幅より十分狭くしてあり、板幅方向の撮像
幅は十分な長さに1〜Cある。
ニアアレイカメラを使用する。リニアアレイ素子8は、
受光レンズ7を介して、コイル1からの44V幅方向の
乱反射)’61けを測定する。このとき、リニアアレイ
素子8上にうつるコイルのIF延方向のliQ像幅V」
:、継目6の幅より十分狭くしてあり、板幅方向の撮像
幅は十分な長さに1〜Cある。
またリニアアレイカメラの掃引R1期も、コイルIが最
晶速で移與1しても、撮像期間中に、継目6のみがリニ
アアレイ素子8にうつる掃引期間が最低1回は得られる
よう十分高速にしである。
晶速で移與1しても、撮像期間中に、継目6のみがリニ
アアレイ素子8にうつる掃引期間が最低1回は得られる
よう十分高速にしである。
この高周期で変化するりニアアレイ出力9を、同期信号
のみをカットする時定数の短かいローパスフィルタ11
と、圧延方向に5薗以上連続して変化するものに対(−
ては追従するよう疫。
のみをカットする時定数の短かいローパスフィルタ11
と、圧延方向に5薗以上連続して変化するものに対(−
ては追従するよう疫。
ロール2の回転スピード10に合わせて時定数を変化さ
せることのできる長い時定数のローパスフィルタ12と
に入力する。さらに、時定数の短いローパスフィルター
1の出力のみアンプ13で定数倍に増幅し、アンプ13
の出力と、時定数の長いローパスフィルター2の出力と
をコンパレータ14で比較する。
せることのできる長い時定数のローパスフィルタ12と
に入力する。さらに、時定数の短いローパスフィルター
1の出力のみアンプ13で定数倍に増幅し、アンプ13
の出力と、時定数の長いローパスフィルター2の出力と
をコンパレータ14で比較する。
奢
このとき、アンプ13の出力が1時A数の長いローパス
フィルター2の出力より小さくなれば、板幅方向全体に
わたシ、リニアアレイ出力9が急激に低下したことを示
すので、継目6の検出信号を信号処理装置5の出力15
として出す。
フィルター2の出力より小さくなれば、板幅方向全体に
わたシ、リニアアレイ出力9が急激に低下したことを示
すので、継目6の検出信号を信号処理装置5の出力15
として出す。
次に、上記検出装置を使用して実際に測定した例を、第
4図に示す。これはりニアアレイ出力を画像変換装置を
介して2次元画像としたもので、画面の上から下にかけ
測定時間が移動している様子を示している。また画像の
右f(11の線図はその時のりニアアレイ出力を平均化
したもので、実線は短い時定数のローパスフィルターI
の出力、破線は長いローパスフィルター2の出力を示し
ている。
4図に示す。これはりニアアレイ出力を画像変換装置を
介して2次元画像としたもので、画面の上から下にかけ
測定時間が移動している様子を示している。また画像の
右f(11の線図はその時のりニアアレイ出力を平均化
したもので、実線は短い時定数のローパスフィルターI
の出力、破線は長いローパスフィルター2の出力を示し
ている。
舶4図(a) 、 (al’ はバイト切削跡が鮮明な
継目、[h)は鏡面状継目、(c)はバイト切削不良継
目の例で、いづれの継目の場合にも、短い時定数のロー
パスフィルタの出力(実線)が、長い時定数のローパス
フィルタ12の出力(破線)の173す、下になってい
る。一方第4図((119(d) ’I (dl ”は
スケール残り、 tel 、 tel’は変色の例で、
過検出要因となるものであるが、この場合には実線は破
線の1/2以上になっている。従って、アンプ13のj
曽申吊率を3倍オ呈度(=とることによって、過検出を
防止して、継目を高い精度で検出することができる。
継目、[h)は鏡面状継目、(c)はバイト切削不良継
目の例で、いづれの継目の場合にも、短い時定数のロー
パスフィルタの出力(実線)が、長い時定数のローパス
フィルタ12の出力(破線)の173す、下になってい
る。一方第4図((119(d) ’I (dl ”は
スケール残り、 tel 、 tel’は変色の例で、
過検出要因となるものであるが、この場合には実線は破
線の1/2以上になっている。従って、アンプ13のj
曽申吊率を3倍オ呈度(=とることによって、過検出を
防止して、継目を高い精度で検出することができる。
この方式で、バイト切削不良継目で、バイトが溶接部に
全く当らない場合には、継目部の表面形状がランダムで
、たまたま輝度測定装置4に正反射光が入射する場合が
ある。このようなときには、リニアアレイ出力9が継目
部6においてもあまシ低下せず、検出ミスとなることが
ある。しかしバイト切削不良継目が生ずる原因の大半は
、コイル1が薄く、板幅方向にうねシがあるため、バイ
トtす削時にバイトが溶接部6に当らない所がでるため
で、この場合コイルの裏側は逆にバイト切削が深くかか
ることになる。
全く当らない場合には、継目部の表面形状がランダムで
、たまたま輝度測定装置4に正反射光が入射する場合が
ある。このようなときには、リニアアレイ出力9が継目
部6においてもあまシ低下せず、検出ミスとなることが
ある。しかしバイト切削不良継目が生ずる原因の大半は
、コイル1が薄く、板幅方向にうねシがあるため、バイ
トtす削時にバイトが溶接部6に当らない所がでるため
で、この場合コイルの裏側は逆にバイト切削が深くかか
ることになる。
従ってコイル表、裏画面の同じ位置を測定できるように
検出装置を2式設置I7.2台の装置1′【の継目検出
信号の?A理和をとることにより、未検出を19力止す
ることができる。
検出装置を2式設置I7.2台の装置1′【の継目検出
信号の?A理和をとることにより、未検出を19力止す
ることができる。
この場合の装置構成の1例を第5図に示す。
これは2組のロール2,2でコイル1をピンチし、両ロ
ール2.2の中間部の表、〃(に2式の検出装置を設け
、それぞれの検出装置の出力15.15の論理和を演算
回路16で計算1〜、最終継目検出出力17を得るもの
である。また第6図は上下ロール2,2に巻回されたコ
イル1の両ロール2,2部に、それぞれ表側及び裏側の
検出装置を設けたものである。この場合、両検出装置の
検出位置のズレを補正するため、表側検出装置の検出信
号15をロール2の回転スピード10に台せて遅らせる
ディレィタイマ18を介して、論理和演算回路16に入
力1〜で、酸終琳目姶出出力17を得る。。
ール2.2の中間部の表、〃(に2式の検出装置を設け
、それぞれの検出装置の出力15.15の論理和を演算
回路16で計算1〜、最終継目検出出力17を得るもの
である。また第6図は上下ロール2,2に巻回されたコ
イル1の両ロール2,2部に、それぞれ表側及び裏側の
検出装置を設けたものである。この場合、両検出装置の
検出位置のズレを補正するため、表側検出装置の検出信
号15をロール2の回転スピード10に台せて遅らせる
ディレィタイマ18を介して、論理和演算回路16に入
力1〜で、酸終琳目姶出出力17を得る。。
次に、熱延工場酸洗ラインにおいて、冷延向はコイルの
継目検出実験を3種の方式■〜■で行なった結!、1ル
を次表に示す。
継目検出実験を3種の方式■〜■で行なった結!、1ル
を次表に示す。
■ 取幅方向の乱反射光量をリニアアレイカメラで測定
し、全素子の出力が低丁する所を検出する方式で、継目
を99.8%検出できた。j〜がし、スケール残り又は
変色等に起因する尚検出を完全には防止することができ
ず、・尚検出率が1.4%であった。
し、全素子の出力が低丁する所を検出する方式で、継目
を99.8%検出できた。j〜がし、スケール残り又は
変色等に起因する尚検出を完全には防止することができ
ず、・尚検出率が1.4%であった。
の リニアアレイ出力を時定数の異なるローパスフィル
タを通し、両者の出力を比較して、検出する方式(第3
図)で、継目検出率99.8%、過検出招0%の良結果
を得た。
タを通し、両者の出力を比較して、検出する方式(第3
図)で、継目検出率99.8%、過検出招0%の良結果
を得た。
■ 上記の第3図に示す方式を、コイル表裏両面に適用
した場合(第5図、第6図)で、未検出を皆無にするこ
とにより、1.0 (1%の検出率を得た。
した場合(第5図、第6図)で、未検出を皆無にするこ
とにより、1.0 (1%の検出率を得た。
なお、光源3と輝度測定装置4との配置は、第3図と異
なり、第7図に示すvp <−両者?コイル1に対し斜
め方向に配置ぺしてもよい。−またリニアアレイカメラ
の代りに、圧延方向に対しては継目幅よシ狭く、取幅方
向へは十分な卸ケ1(を測定できるデテクタを輝度測定
装置4として用いてもよい。
なり、第7図に示すvp <−両者?コイル1に対し斜
め方向に配置ぺしてもよい。−またリニアアレイカメラ
の代りに、圧延方向に対しては継目幅よシ狭く、取幅方
向へは十分な卸ケ1(を測定できるデテクタを輝度測定
装置4として用いてもよい。
この発明のコイル継目位置検出方法は上記のようなもの
で、酸l)シラインでのポットコイルの長さの管理のだ
めの継目位置を、従来のようにコイル(二′;(をあけ
ることなく、−1いオ了イ臥で4金出することができる
。従って穴に起因にするコイルの破断、圧延ロールの損
傷を無くすることができる。−葉だ/% 延タンデムミ
ルの後工程で、ホットコイル#lf位で切断する必要が
無くなるので、歩留シが向上する。さらに冷延クンデム
ミルの後工程を酸洗出荷コイル単位でIfl OA J
PCA Lに蒲Uるため操業(zLが向上する。
で、酸l)シラインでのポットコイルの長さの管理のだ
めの継目位置を、従来のようにコイル(二′;(をあけ
ることなく、−1いオ了イ臥で4金出することができる
。従って穴に起因にするコイルの破断、圧延ロールの損
傷を無くすることができる。−葉だ/% 延タンデムミ
ルの後工程で、ホットコイル#lf位で切断する必要が
無くなるので、歩留シが向上する。さらに冷延クンデム
ミルの後工程を酸洗出荷コイル単位でIfl OA J
PCA Lに蒲Uるため操業(zLが向上する。
4区1面の111戸楓外脱明
第11シ1及び第2図は、この発明方法の基本となる考
え万を示す各枦継口部及び111常部の反射光の輝度分
イ5の説明図、第3図は、この発明方法を実施するため
の検出装置の一例を示す説明図、第4図(,1〜(e)
′は、それぞれ各利(継目近傍並びに通當部のスケール
残り及び変色+’s++のりニアアレイ出力の2次元副
佃とリニアアレイ出力の平均化値を示す説明図、iA5
図及び第6図はコイル表具に検出装置を配設したそれぞ
れ異なる装置構成の説明図、第7図は輝tl測足装置の
配設位1.′aの喝なる411tのJj5出装置の説明
図である。
え万を示す各枦継口部及び111常部の反射光の輝度分
イ5の説明図、第3図は、この発明方法を実施するため
の検出装置の一例を示す説明図、第4図(,1〜(e)
′は、それぞれ各利(継目近傍並びに通當部のスケール
残り及び変色+’s++のりニアアレイ出力の2次元副
佃とリニアアレイ出力の平均化値を示す説明図、iA5
図及び第6図はコイル表具に検出装置を配設したそれぞ
れ異なる装置構成の説明図、第7図は輝tl測足装置の
配設位1.′aの喝なる411tのJj5出装置の説明
図である。
1・・°コイル、6・・・コイルate 口部。
出願人代理人 リ「−埋土 鈴 江 武 彦手続補正書
(刀剣 昭和5+4.、I駒、)I′日 特許片長11 若 杉 和 夫 殿1、事件の
表示 4Vl♂、LIIU5 7−1 5 5 1
2 9’i2 発明の名称 酸洗コ・fル、tJi、目位置検出力法:(、油止をす
る者 事件との関係 特許出願人 (412) 日;4”y)’i ’b体式会社4、代理
人 5、 ?’+1i :iF命令の日イ」昭和57/A
−,11月30日 6、 補11−4の勾象 明細男、図面 7、補正の内容 (1)明細1算911集1行目に記載の「何」をr(b
)Jに削正する。
(刀剣 昭和5+4.、I駒、)I′日 特許片長11 若 杉 和 夫 殿1、事件の
表示 4Vl♂、LIIU5 7−1 5 5 1
2 9’i2 発明の名称 酸洗コ・fル、tJi、目位置検出力法:(、油止をす
る者 事件との関係 特許出願人 (412) 日;4”y)’i ’b体式会社4、代理
人 5、 ?’+1i :iF命令の日イ」昭和57/A
−,11月30日 6、 補11−4の勾象 明細男、図面 7、補正の内容 (1)明細1算911集1行目に記載の「何」をr(b
)Jに削正する。
(2) 同上第9頁′#″−2行目に記載のf’(b
)・・・+ (c)Jを「(C)・・・、 (d)Jに
削正する。
)・・・+ (c)Jを「(C)・・・、 (d)Jに
削正する。
(3) 同上@9貞第6行目に記載の1− (d)
+ (d、f 、 (イ′」をI”(e) 、 (f)
、 (g)Jに削正する。
+ (d、f 、 (イ′」をI”(e) 、 (f)
、 (g)Jに削正する。
(41同上第9負第7行目に記載の自e)、(イ」をr
’ (h) + (i) Jに削正する。
’ (h) + (i) Jに削正する。
(51Pl上第13頁第15行目にtic[の「(a)
〜(eS」を「(a)〜(i)」に]正する。
〜(eS」を「(a)〜(i)」に]正する。
+61 添付図面中、第4図において、図の番号(a
’)。
’)。
(b) 、 (c) 、 (d) 、 (d’) 、
(d′5. (e)及び(e’)を、sm婚5、別紙図
面に未配のごとく、それぞれ(b)。
(d′5. (e)及び(e’)を、sm婚5、別紙図
面に未配のごとく、それぞれ(b)。
(C) j (d) l (e) I (f) j <
g) l (h)及び(i>に訂正する。
g) l (h)及び(i>に訂正する。
Claims (1)
- コイルへの照射光の反射光を41Q幅方向の乱反射位置
で圧延方向に狭い範囲内で測定し、コイル継目部の反射
光が通常部より低下することを利用して酸洗コイル継目
位1j(7を検出することを特僧とする酸洗コイル継目
位置検出方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15512982A JPS5944604A (ja) | 1982-09-08 | 1982-09-08 | 鋼帯継目位置検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15512982A JPS5944604A (ja) | 1982-09-08 | 1982-09-08 | 鋼帯継目位置検出方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5944604A true JPS5944604A (ja) | 1984-03-13 |
Family
ID=15599185
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15512982A Pending JPS5944604A (ja) | 1982-09-08 | 1982-09-08 | 鋼帯継目位置検出方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5944604A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6425748U (ja) * | 1987-08-06 | 1989-02-13 | ||
WO2002028757A1 (fr) * | 2000-09-29 | 2002-04-11 | Nippon Seiki Co.,Ltd | Bande tissus et rouleau a joints, et procede et dispositif de detection des joints |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5790103A (en) * | 1980-11-25 | 1982-06-04 | Mitsubishi Electric Corp | Position detector |
-
1982
- 1982-09-08 JP JP15512982A patent/JPS5944604A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5790103A (en) * | 1980-11-25 | 1982-06-04 | Mitsubishi Electric Corp | Position detector |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6425748U (ja) * | 1987-08-06 | 1989-02-13 | ||
WO2002028757A1 (fr) * | 2000-09-29 | 2002-04-11 | Nippon Seiki Co.,Ltd | Bande tissus et rouleau a joints, et procede et dispositif de detection des joints |
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