JPS6316696B2 - - Google Patents
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- JPS6316696B2 JPS6316696B2 JP56146054A JP14605481A JPS6316696B2 JP S6316696 B2 JPS6316696 B2 JP S6316696B2 JP 56146054 A JP56146054 A JP 56146054A JP 14605481 A JP14605481 A JP 14605481A JP S6316696 B2 JPS6316696 B2 JP S6316696B2
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- signal
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- latch circuit
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 34
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 23
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 21
- 239000008186 active pharmaceutical agent Substances 0.000 description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 239000013256 coordination polymer Substances 0.000 description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 3
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 2
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D18/00—Testing or calibrating apparatus or arrangements provided for in groups G01D1/00 - G01D15/00
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
- Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、指示計器検査装置に関し、特に、指
示計器の指針の振動幅が許容範囲内にあるか否か
を自動的に検査するための指示計器検査装置に関
するものである。
示計器の指針の振動幅が許容範囲内にあるか否か
を自動的に検査するための指示計器検査装置に関
するものである。
本出願人は、指示計器の指示機能を自動的に検
査する装置として、昭和54年特許願第41034号に
おいて、指示計器の目盛板に対向してマスク手段
を配置し、このマスク手段に指針の指示公差に応
じた幅だけ指針より広幅の複数個の検査窓を形成
し、この検査窓内で指針が占めている面積を計測
し、この面積の大小から指針の指示位置が所定の
公差内に収まつているか否か等を検査する指示計
器自動検査装置を提案した。この装置は、指示計
器の指針が入力に応じて正しい指示をするか否
か、すなわち指針の静的指示機能の良否を自動的
に検査することができるようにしたものである
が、これに加えて、指示計器の検査にあたつて
は、この静的機能の検査のほか、指針の動的機
能、すなわち指針がある値を指示しているときの
指針の振動幅が許容範囲内に収まつているか否か
という点についても検査をせねばならないことが
多く、このような検査を自動的に行い得る検査装
置が更に要望されている。
査する装置として、昭和54年特許願第41034号に
おいて、指示計器の目盛板に対向してマスク手段
を配置し、このマスク手段に指針の指示公差に応
じた幅だけ指針より広幅の複数個の検査窓を形成
し、この検査窓内で指針が占めている面積を計測
し、この面積の大小から指針の指示位置が所定の
公差内に収まつているか否か等を検査する指示計
器自動検査装置を提案した。この装置は、指示計
器の指針が入力に応じて正しい指示をするか否
か、すなわち指針の静的指示機能の良否を自動的
に検査することができるようにしたものである
が、これに加えて、指示計器の検査にあたつて
は、この静的機能の検査のほか、指針の動的機
能、すなわち指針がある値を指示しているときの
指針の振動幅が許容範囲内に収まつているか否か
という点についても検査をせねばならないことが
多く、このような検査を自動的に行い得る検査装
置が更に要望されている。
そこで、本発明の目的は、上述の点に鑑みて、
指示計器の指針の動的機能、すなわち指針がある
値を指示しているときの指針の振動幅が所定の許
容範囲に収まつているか否かを自動的に検査する
ことができるようにした指示計器検査装置を提供
することにある。
指示計器の指針の動的機能、すなわち指針がある
値を指示しているときの指針の振動幅が所定の許
容範囲に収まつているか否かを自動的に検査する
ことができるようにした指示計器検査装置を提供
することにある。
指示計の検査対象部分を視野とする撮像装置
と、該撮像装置の視野を制限し、前記検査対象部
分のうちから所定の検査部分を設定するマスク手
段と、該検査部分内に指針と交差する方向で検出
位置指示線を設定し、該検出位置指示線と前記検
査対象部分との交点を所定の周期で検出する手段
と、前記検査部分内における前記交点の位置を算
出する手段と、該手段により算出された交点の位
置の最大値と最小値とを記憶し、記憶された最大
値と最小値を各周期毎に算出される前記交点の位
置と比較して更新していく記憶手段と、該記憶手
段により記憶されている最大値と最小値との差を
基準値と比較することにより指針の振動の有無を
判定する比較手段とを具備する。
と、該撮像装置の視野を制限し、前記検査対象部
分のうちから所定の検査部分を設定するマスク手
段と、該検査部分内に指針と交差する方向で検出
位置指示線を設定し、該検出位置指示線と前記検
査対象部分との交点を所定の周期で検出する手段
と、前記検査部分内における前記交点の位置を算
出する手段と、該手段により算出された交点の位
置の最大値と最小値とを記憶し、記憶された最大
値と最小値を各周期毎に算出される前記交点の位
置と比較して更新していく記憶手段と、該記憶手
段により記憶されている最大値と最小値との差を
基準値と比較することにより指針の振動の有無を
判定する比較手段とを具備する。
以下、図面により本発明を詳細に説明する。
第１図は本発明指示計器検査装置の構成の一例
を示し、１は検査対象たる指示計器、２はストロ
ボなどの照明灯で、この照明灯２によつて指示計
器１のパネル面３を瞬間的に照明する。４はマス
ク手段、５はこのマスク手段４に形成した窓で、
これら窓５をパネル面３の各目盛り６に対応して
配置し、指針７がそれぞれの目盛り６を指示した
とき、対応検出窓５を通して第２図示のように指
針７およびパネル面３の一部３ａが見えるように
する。すなわち、指針７の回転軸８をマスク手段
４上に投影したものを８ａ、同じくそれぞれの目
盛り６の投影を６ａとすれば、それぞれの投影６
ａの位置より投影８ａに少し近い位置にそれぞれ
の検出窓５を配置する。検出窓５の、指針７の延
在方向の幅W1は任意で良いが、検出窓５の、指
針７の振動方向ｖの幅W2は、指針７の振動幅が
許容範囲を越えている場合でもこれを十分に検出
し得るようにある程度の余裕、例えば指針７の指
示公差幅の余裕を持たせる。検出窓５の具体的形
成方法としては、マスク手段４を不透明な板材と
し、これに文字通り窓をあけるという方法のほ
か、マスク手段４を透明な板材とし、窓５の部分
を残して黒色印刷を施すというような方法も考え
られる。また、本実施例では、指示計器１の目盛
り６が扇形に配置されているので、検出窓５も扇
形に配置されているが、検出窓５の配置は、例え
ば目盛りが直線状であれば検出窓５も直線状にな
るというように、測定対象たる指示計器の目盛り
の配置に応じて変化させるべきものである。９は
工業用テレビカメラなどの撮像装置であり、それ
ぞれの検出窓５を介してパネル面３ａと指針７の
表面を撮像する。１０は判定装置であり、撮像装
置９によつて得た撮像信号VSに基づいて指示計
器１の指針７の最大振動幅を検出し、これが許容
範囲内に収まつているか否かを判断する。
を示し、１は検査対象たる指示計器、２はストロ
ボなどの照明灯で、この照明灯２によつて指示計
器１のパネル面３を瞬間的に照明する。４はマス
ク手段、５はこのマスク手段４に形成した窓で、
これら窓５をパネル面３の各目盛り６に対応して
配置し、指針７がそれぞれの目盛り６を指示した
とき、対応検出窓５を通して第２図示のように指
針７およびパネル面３の一部３ａが見えるように
する。すなわち、指針７の回転軸８をマスク手段
４上に投影したものを８ａ、同じくそれぞれの目
盛り６の投影を６ａとすれば、それぞれの投影６
ａの位置より投影８ａに少し近い位置にそれぞれ
の検出窓５を配置する。検出窓５の、指針７の延
在方向の幅W1は任意で良いが、検出窓５の、指
針７の振動方向ｖの幅W2は、指針７の振動幅が
許容範囲を越えている場合でもこれを十分に検出
し得るようにある程度の余裕、例えば指針７の指
示公差幅の余裕を持たせる。検出窓５の具体的形
成方法としては、マスク手段４を不透明な板材と
し、これに文字通り窓をあけるという方法のほ
か、マスク手段４を透明な板材とし、窓５の部分
を残して黒色印刷を施すというような方法も考え
られる。また、本実施例では、指示計器１の目盛
り６が扇形に配置されているので、検出窓５も扇
形に配置されているが、検出窓５の配置は、例え
ば目盛りが直線状であれば検出窓５も直線状にな
るというように、測定対象たる指示計器の目盛り
の配置に応じて変化させるべきものである。９は
工業用テレビカメラなどの撮像装置であり、それ
ぞれの検出窓５を介してパネル面３ａと指針７の
表面を撮像する。１０は判定装置であり、撮像装
置９によつて得た撮像信号VSに基づいて指示計
器１の指針７の最大振動幅を検出し、これが許容
範囲内に収まつているか否かを判断する。
指針７の振動幅の検出はそれぞれの検出窓５に
対応して設定した検出位置指示線１１に従つて行
う。この検出位置指示線１１は、検出位置あるい
は走査方向によつて指針７の振動幅が見掛け上異
なつてくる場合に必要となる。その理由は、第１
図に示したような形式の指示計器１、すなわち指
針７が軸８を中心にして回動する形式の指示計器
では、回転角度で見るときは、例えば±１度とい
うように一定の振動であつても、実際の振動幅で
見るときは、指針７の軸８に近い位置で見た振動
幅と指針７の先端に近い位置で見た振動幅との間
に当然差異が生じ、また、軸８からの距離が一定
の位置で指針７の振動幅を検出したとしても、走
査線（検出位置指示線１１）が指針７を直角に横
切る場合（第２図における中央の窓５の場合）
と、走査線が指針７を斜めに横切る場合（第２図
における左または右の窓５の場合）とでは、実際
の振動幅が同じでも見掛け上は差異が出てくるか
らである。
対応して設定した検出位置指示線１１に従つて行
う。この検出位置指示線１１は、検出位置あるい
は走査方向によつて指針７の振動幅が見掛け上異
なつてくる場合に必要となる。その理由は、第１
図に示したような形式の指示計器１、すなわち指
針７が軸８を中心にして回動する形式の指示計器
では、回転角度で見るときは、例えば±１度とい
うように一定の振動であつても、実際の振動幅で
見るときは、指針７の軸８に近い位置で見た振動
幅と指針７の先端に近い位置で見た振動幅との間
に当然差異が生じ、また、軸８からの距離が一定
の位置で指針７の振動幅を検出したとしても、走
査線（検出位置指示線１１）が指針７を直角に横
切る場合（第２図における中央の窓５の場合）
と、走査線が指針７を斜めに横切る場合（第２図
における左または右の窓５の場合）とでは、実際
の振動幅が同じでも見掛け上は差異が出てくるか
らである。
検出位置指示線１１の設定は、例えばそれぞれ
の検出窓５を走査する所定本数の走査線のうち特
定番目の走査線を抜き出すという形で行うことが
できる。第２図の中央に位置する検出窓５につい
て、検出位置指示線１１を図に示すように設定
し、これに沿つてマスク手段４、パネル面３ａお
よび指針７を走査した場合の撮像信号VSの例を
第３図に示す。各撮像信号VS1〜VSoは、検出位
置指示線１１上を左から右へ一定の時間間隔でｎ
回繰返し走査することによつて得た１回目、２回
目、３回目、……ｎ回目のそれぞれの撮像信号で
ある。それぞれの撮像信号VS1〜VSoにおいて、
信号の左端から瞬時t1までの間は第２図検出位置
指示線１１上の点P1より左側のマスク手段４の
表面が走査され信号レベルが低くなつている期
間、瞬時t1からt2までの間は、第２図検出位置指
示線１１上の点P1から点P2まで、すなわち検出
窓５を通して明るいパネル面３ａが走査され信号
レベルが高くなつている期間、t2からt3までの間
は同様に点P2から点P3まで、すなわちパネル面
３ａに比べて暗い指針７の表面が走査され信号レ
ベルが低くなる期間、t3からt4までの期間は同様
に点P3から点P4まで、すなわち検出窓５を通し
て明るいパネル面３ａが走査され信号レベルが高
くなつている期間、t4から以後の部分は、同様に
第２図検出位置指示線１１上の点P4より右側の
マスク手段４の表面が走査され信号レベルが低く
なつている期間である。なお、この実施例ではマ
スク手段４の表面および指針７の表面を暗色、パ
ネル面３ａを明色とし、かつ明色の部分で信号が
高レベルになるようにしたので第３図に示すよう
な信号波形が得られたが、明暗のコントラストを
逆転させ、あるいは信号レベルを反転させること
によつて、信号波形を反転させてもよいこと勿論
である。
の検出窓５を走査する所定本数の走査線のうち特
定番目の走査線を抜き出すという形で行うことが
できる。第２図の中央に位置する検出窓５につい
て、検出位置指示線１１を図に示すように設定
し、これに沿つてマスク手段４、パネル面３ａお
よび指針７を走査した場合の撮像信号VSの例を
第３図に示す。各撮像信号VS1〜VSoは、検出位
置指示線１１上を左から右へ一定の時間間隔でｎ
回繰返し走査することによつて得た１回目、２回
目、３回目、……ｎ回目のそれぞれの撮像信号で
ある。それぞれの撮像信号VS1〜VSoにおいて、
信号の左端から瞬時t1までの間は第２図検出位置
指示線１１上の点P1より左側のマスク手段４の
表面が走査され信号レベルが低くなつている期
間、瞬時t1からt2までの間は、第２図検出位置指
示線１１上の点P1から点P2まで、すなわち検出
窓５を通して明るいパネル面３ａが走査され信号
レベルが高くなつている期間、t2からt3までの間
は同様に点P2から点P3まで、すなわちパネル面
３ａに比べて暗い指針７の表面が走査され信号レ
ベルが低くなる期間、t3からt4までの期間は同様
に点P3から点P4まで、すなわち検出窓５を通し
て明るいパネル面３ａが走査され信号レベルが高
くなつている期間、t4から以後の部分は、同様に
第２図検出位置指示線１１上の点P4より右側の
マスク手段４の表面が走査され信号レベルが低く
なつている期間である。なお、この実施例ではマ
スク手段４の表面および指針７の表面を暗色、パ
ネル面３ａを明色とし、かつ明色の部分で信号が
高レベルになるようにしたので第３図に示すよう
な信号波形が得られたが、明暗のコントラストを
逆転させ、あるいは信号レベルを反転させること
によつて、信号波形を反転させてもよいこと勿論
である。
検出窓５に対する指針７の相対的位置は、各撮
像信号の瞬時t1からt2またはt3までの期間によつ
て、あるいはt2またはt3からt4までの期間によつ
て知ることができる。指針７が振動している場
合、走査を繰返すたびこれらの期間が変化する。
従つて、所定の周期で検出位置指示線１１上を所
定時間隔にわたつて繰返し走査し、その時間隔に
おいて、上述した期間のいずれかについての最大
値と最小値とを検出してその差をとることによつ
て、指針７の振動の振幅を知ることができる。判
定装置１０は、例えば瞬時t1からt3までの期間T1
〜Toをバロメータとし、第４図に示すようなブ
ロツク構成で以つて指針７の振幅の検出とその良
否の判定を行うように構成できる。第４図におい
て、２１はクロツクパルスカウンタ、２２および
２３はデイジタル比較器、２４および２５はラツ
チ回路、２６は減算器、２７は比較器である。ク
ロツクパルスカウンタ２１は各撮像信号VS1〜
VSnの１回目の立ち上がり点t1でクロツクパルス
CPの計数を開始し、２回目の立ち上がり点t3で
計数を終了する。そして、その間に計数したクロ
ツクパルスCPの計数出力信号DSを比較器２２の
負側端子（−）、比較器２３の正側端子（＋）、ラ
ツチ回路２４のデータ入力端子DTおよびラツチ
回路２５のデータ入力端子DTにそれぞれ供給す
る。デイジタル比較器２２の出力をラツチ回路２
４のストローブ信号入力端子STに、また、デイ
ジタル比較器２３の出力をラツチ回路２５のスト
ローブ信号入力端子STにそれぞれ供給する。ラ
ツチ回路２４の出力を減算器２６に供給すると共
に比較器２２の正側端子（＋）に帰還する。ラツ
チ回路２５の出力を減算器２６に供給すると共に
比較器２３の負側端子（−）に帰還する。減算器
２６の出力および許容振幅を表わす基準信号LS
を比較器２７に供給する。指針７の振幅を検出す
るにあたつては、最初にラツチ回路２４の内容を
最大値に、また、ラツチ回路２５の内容を零にし
ておく。そして、検出位置指示線１１上を走査す
ることによつて得た１つ目の撮像信号VS1をクロ
ツクパルスカウンタ２１に供給する。クロツクパ
ルスカウンタ２１は撮像信号VS1のt1からt3まで
の期間に入来するクロツクパルスCPを計数する。
そして、撮像信号VS1の期間T1に対応したデイ
ジタル信号DS1をデイジタル比較器２２および２
３、ラツチ回路２４および２５に供給する。デイ
ジタル比較器２２の正側端子（＋）にはラツチ回
路２４から最大値を示すデイジタル信号が帰還さ
れており、撮像信号VS1の期間T1に相当するデ
イジタル信号DS1はこの最大値より小さいからデ
イジタル比較器２２からストローブ信号SSがラ
ツチ回路２４に供給され、そのときのデイジタル
信号DS1がラツチ回路２４に保持される。また、
デイジタル比較器２３の負側端子（−）にはラツ
チ回路２５から零を示すデイジタル信号が帰還さ
れており、撮像信号VS1の時間T1を表わすデイ
ジタル信号DS1はこの値（零）より大きいから、
デイジタル比較器２３からラツチ回路２５に対し
てもストローブ信号SSが供給され、ラツチ回路
２５はそのときのデイジタル信号DS1を保持す
る。所定の走査時間経過後、再び検出位置指示線
１１を走査し、これによつて得た２つ目の撮像信
号VS2をクロツクパルスカウンタ２１に供給す
る。クロツクパルスカウンタ２１は撮像信号VS1
のときと同様に撮像信号VS2の期間T2を計測し、
これに相当するデイジタル信号DS2を発生する。
デイジタル信号DS2はデイジタル比較器２２およ
び２３に供給される。しかしながら、デイジタル
比較器２２の正側端子（＋）に帰還されている先
のデイジタル信号DS1は、このとき供給された撮
像信号VS2の時間T2に相当するデイジタル信号
DS2より小さい。従つて、このデイジタル比較器
２２はストローブ信号SSを発生せず、ラツチ回
路２４にはデイジタル信号DS1がそのまま保持さ
れる。一方、デイジタル比較器２３の正側端子
（＋）に供給されたデイジタル信号DS2は、その
ときその負側端子（−）に帰還されているデイジ
タル信号DS1より大きい。従つて、デイジタル比
較器２３からラツチ回路２５にストローブ信号
SSが供給され、そのときのデイジタル信号DS2が
ラツチ回路２５に保持される。また、同様に３回
目の走査によつて得た撮像信号VS3がクロツクパ
ルスカウンタ２１に加えられたときは、期間T3
がT1より短いため、T3に相当するデイジタル信
号DS3がラツチ回路２４に保持される。以下同様
にして、ｎ回目の走査によつて得た撮像信号VSn
がクロツクパルスカウンタ２１に加えられたと
き、期間Tnに相当するデイジタル信号Dnがラツ
チ回路２４に保持されているそれまでの最小のデ
イジタル信号DSxよりさらに小さければ、このデ
イジタル信号DSnが新たな最小値としてこのラツ
チ回路２４に保持され、反対に、このデイジタル
信号DSnがラツチ回路２５に保持されているそれ
までの最大のデイジタル信号DSxより大きけれ
ば、そのデイジタル信号DSnが新たな最大値とし
てこのラツチ回路２５に保持される。
像信号の瞬時t1からt2またはt3までの期間によつ
て、あるいはt2またはt3からt4までの期間によつ
て知ることができる。指針７が振動している場
合、走査を繰返すたびこれらの期間が変化する。
従つて、所定の周期で検出位置指示線１１上を所
定時間隔にわたつて繰返し走査し、その時間隔に
おいて、上述した期間のいずれかについての最大
値と最小値とを検出してその差をとることによつ
て、指針７の振動の振幅を知ることができる。判
定装置１０は、例えば瞬時t1からt3までの期間T1
〜Toをバロメータとし、第４図に示すようなブ
ロツク構成で以つて指針７の振幅の検出とその良
否の判定を行うように構成できる。第４図におい
て、２１はクロツクパルスカウンタ、２２および
２３はデイジタル比較器、２４および２５はラツ
チ回路、２６は減算器、２７は比較器である。ク
ロツクパルスカウンタ２１は各撮像信号VS1〜
VSnの１回目の立ち上がり点t1でクロツクパルス
CPの計数を開始し、２回目の立ち上がり点t3で
計数を終了する。そして、その間に計数したクロ
ツクパルスCPの計数出力信号DSを比較器２２の
負側端子（−）、比較器２３の正側端子（＋）、ラ
ツチ回路２４のデータ入力端子DTおよびラツチ
回路２５のデータ入力端子DTにそれぞれ供給す
る。デイジタル比較器２２の出力をラツチ回路２
４のストローブ信号入力端子STに、また、デイ
ジタル比較器２３の出力をラツチ回路２５のスト
ローブ信号入力端子STにそれぞれ供給する。ラ
ツチ回路２４の出力を減算器２６に供給すると共
に比較器２２の正側端子（＋）に帰還する。ラツ
チ回路２５の出力を減算器２６に供給すると共に
比較器２３の負側端子（−）に帰還する。減算器
２６の出力および許容振幅を表わす基準信号LS
を比較器２７に供給する。指針７の振幅を検出す
るにあたつては、最初にラツチ回路２４の内容を
最大値に、また、ラツチ回路２５の内容を零にし
ておく。そして、検出位置指示線１１上を走査す
ることによつて得た１つ目の撮像信号VS1をクロ
ツクパルスカウンタ２１に供給する。クロツクパ
ルスカウンタ２１は撮像信号VS1のt1からt3まで
の期間に入来するクロツクパルスCPを計数する。
そして、撮像信号VS1の期間T1に対応したデイ
ジタル信号DS1をデイジタル比較器２２および２
３、ラツチ回路２４および２５に供給する。デイ
ジタル比較器２２の正側端子（＋）にはラツチ回
路２４から最大値を示すデイジタル信号が帰還さ
れており、撮像信号VS1の期間T1に相当するデ
イジタル信号DS1はこの最大値より小さいからデ
イジタル比較器２２からストローブ信号SSがラ
ツチ回路２４に供給され、そのときのデイジタル
信号DS1がラツチ回路２４に保持される。また、
デイジタル比較器２３の負側端子（−）にはラツ
チ回路２５から零を示すデイジタル信号が帰還さ
れており、撮像信号VS1の時間T1を表わすデイ
ジタル信号DS1はこの値（零）より大きいから、
デイジタル比較器２３からラツチ回路２５に対し
てもストローブ信号SSが供給され、ラツチ回路
２５はそのときのデイジタル信号DS1を保持す
る。所定の走査時間経過後、再び検出位置指示線
１１を走査し、これによつて得た２つ目の撮像信
号VS2をクロツクパルスカウンタ２１に供給す
る。クロツクパルスカウンタ２１は撮像信号VS1
のときと同様に撮像信号VS2の期間T2を計測し、
これに相当するデイジタル信号DS2を発生する。
デイジタル信号DS2はデイジタル比較器２２およ
び２３に供給される。しかしながら、デイジタル
比較器２２の正側端子（＋）に帰還されている先
のデイジタル信号DS1は、このとき供給された撮
像信号VS2の時間T2に相当するデイジタル信号
DS2より小さい。従つて、このデイジタル比較器
２２はストローブ信号SSを発生せず、ラツチ回
路２４にはデイジタル信号DS1がそのまま保持さ
れる。一方、デイジタル比較器２３の正側端子
（＋）に供給されたデイジタル信号DS2は、その
ときその負側端子（−）に帰還されているデイジ
タル信号DS1より大きい。従つて、デイジタル比
較器２３からラツチ回路２５にストローブ信号
SSが供給され、そのときのデイジタル信号DS2が
ラツチ回路２５に保持される。また、同様に３回
目の走査によつて得た撮像信号VS3がクロツクパ
ルスカウンタ２１に加えられたときは、期間T3
がT1より短いため、T3に相当するデイジタル信
号DS3がラツチ回路２４に保持される。以下同様
にして、ｎ回目の走査によつて得た撮像信号VSn
がクロツクパルスカウンタ２１に加えられたと
き、期間Tnに相当するデイジタル信号Dnがラツ
チ回路２４に保持されているそれまでの最小のデ
イジタル信号DSxよりさらに小さければ、このデ
イジタル信号DSnが新たな最小値としてこのラツ
チ回路２４に保持され、反対に、このデイジタル
信号DSnがラツチ回路２５に保持されているそれ
までの最大のデイジタル信号DSxより大きけれ
ば、そのデイジタル信号DSnが新たな最大値とし
てこのラツチ回路２５に保持される。
このようにして、所定の回数ｎだけ検出位置指
示線１１上を走査すると、各撮像信号VS1〜VSn
のT1〜Tnに相当するデイジタル信号DS1〜DSn
のうち、最小のデイジタル信号DSlがラツチ回路
２４に、また、最大のデイジタル信号DSmがラ
ツチ回路２５に保持される。そこで、減算器２６
にこれらラツチ回路２４および２５に保持されて
いる最小値DSlと最大値DSmを供給し、この減算
器２６によつてDSlとDSmとの差、すなわち指針
７の振動幅WSを算出する。そして、デイジタル
比較器２７にこの振動幅WSを供給し、ここでこ
の振動幅WSと振動幅の許容値LSとを比較して、
振動幅WSが許容値内であればデイジタル比較器
２７から合格信号を、また、振動幅WSが許容値
LSを超えていれば不合格信号を出力する。なお、
デイジタル比較器２７の代わりに減算回路を用い
て、この減算回路から許容値LSと振動幅WSとの
差を表わす信号を出力するようにしても良い。
示線１１上を走査すると、各撮像信号VS1〜VSn
のT1〜Tnに相当するデイジタル信号DS1〜DSn
のうち、最小のデイジタル信号DSlがラツチ回路
２４に、また、最大のデイジタル信号DSmがラ
ツチ回路２５に保持される。そこで、減算器２６
にこれらラツチ回路２４および２５に保持されて
いる最小値DSlと最大値DSmを供給し、この減算
器２６によつてDSlとDSmとの差、すなわち指針
７の振動幅WSを算出する。そして、デイジタル
比較器２７にこの振動幅WSを供給し、ここでこ
の振動幅WSと振動幅の許容値LSとを比較して、
振動幅WSが許容値内であればデイジタル比較器
２７から合格信号を、また、振動幅WSが許容値
LSを超えていれば不合格信号を出力する。なお、
デイジタル比較器２７の代わりに減算回路を用い
て、この減算回路から許容値LSと振動幅WSとの
差を表わす信号を出力するようにしても良い。
以上説明したように、本発明指示計器検査装置
では、検査対象たる指示計器のパネル面前方に所
定の検査窓を形成したマスク手段を配置し、撮像
装置により検出窓を通して見えるパネル面および
指針の表面を走査し、この走査によつて得た撮像
信号を判定装置に供給して指針の振動幅を検出
し、この振動幅が所定の許容範囲内に収まつてい
るか否かを自動的に判定するように構成したの
で、従来の人手に頼つていた検査に比べ、はるか
に速く、かつ正確に指示計器の指針の振動幅の検
査を行うことができる。
では、検査対象たる指示計器のパネル面前方に所
定の検査窓を形成したマスク手段を配置し、撮像
装置により検出窓を通して見えるパネル面および
指針の表面を走査し、この走査によつて得た撮像
信号を判定装置に供給して指針の振動幅を検出
し、この振動幅が所定の許容範囲内に収まつてい
るか否かを自動的に判定するように構成したの
で、従来の人手に頼つていた検査に比べ、はるか
に速く、かつ正確に指示計器の指針の振動幅の検
査を行うことができる。
第１図は本発明指示計器検査装置の構成の一例
を示す斜視図、第２図はそのマスク手段および指
示計器パネル面を示す部分拡大正面図、第３図は
撮像装置から得られる各撮像信号を示す信号波形
図、第４図は判定装置の構成の一例を示すブロツ
ク図である。 １……指示計器、２……照明灯、３……パネル
面、３ａ…検出窓５を通して見えるパネル面、４
……マスク手段、５……検出窓、６……目盛り、
６ａ……マスク手段４に投影された目盛り６、７
……指針、８……回転軸、８ａ……マスク手段４
に投影された回転軸８、９……撮像装置、１０…
…判定装置、１１……検出位置指示線、２１……
クロツクパルスカウンタ、２２，２３……デイジ
タル比較器、２４，２５……ラツチ回路、２６…
…減算器、２７……比較器、VS……撮像信号、
DS……デイジタル信号、SS……ストローブ信
号、WS……振動幅を表わす信号、LS……許容値
を表わす信号。
を示す斜視図、第２図はそのマスク手段および指
示計器パネル面を示す部分拡大正面図、第３図は
撮像装置から得られる各撮像信号を示す信号波形
図、第４図は判定装置の構成の一例を示すブロツ
ク図である。 １……指示計器、２……照明灯、３……パネル
面、３ａ…検出窓５を通して見えるパネル面、４
……マスク手段、５……検出窓、６……目盛り、
６ａ……マスク手段４に投影された目盛り６、７
……指針、８……回転軸、８ａ……マスク手段４
に投影された回転軸８、９……撮像装置、１０…
…判定装置、１１……検出位置指示線、２１……
クロツクパルスカウンタ、２２，２３……デイジ
タル比較器、２４，２５……ラツチ回路、２６…
…減算器、２７……比較器、VS……撮像信号、
DS……デイジタル信号、SS……ストローブ信
号、WS……振動幅を表わす信号、LS……許容値
を表わす信号。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 指示計の検査対象部分を視野とする撮像装置
と、 該撮像装置の視野を制限し、前記検査対象部分
のうちから所定の検査部分を設定するマスク手段
と、 該検査部分内に指針と交差する方向で検出位置
指示線を設定し、該検出位置指示線と前記検査対
象部分との交点を所定の周期で検出する手段と、 前記検査部分内における前記交点の位置を算出
する手段と、 該手段により算出された交点の位置の最大値と
最小値とを記憶し、記憶された最大値と最小値を
各周期毎に算出される前記交点の位置と比較して
更新していく記憶手段と、 該記憶手段により記憶されている最大値と最小
値との差を基準値と比較することにより指針の振
動の有無を判定する比較手段と を具備したことを特徴とする指示計器検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14605481A JPS5848815A (ja) | 1981-09-18 | 1981-09-18 | 指示計器検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14605481A JPS5848815A (ja) | 1981-09-18 | 1981-09-18 | 指示計器検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5848815A JPS5848815A (ja) | 1983-03-22 |
| JPS6316696B2 true JPS6316696B2 (ja) | 1988-04-11 |
Family
ID=15399042
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14605481A Granted JPS5848815A (ja) | 1981-09-18 | 1981-09-18 | 指示計器検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5848815A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4893382B2 (ja) * | 2007-03-09 | 2012-03-07 | 株式会社デンソー | 漏光検査装置 |
| JP6998184B2 (ja) * | 2017-11-15 | 2022-01-18 | 長野計器株式会社 | 読取表示システム、読取表示方法及び読取値測定装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5394959A (en) * | 1977-01-28 | 1978-08-19 | Osaka Gas Co Ltd | Maximum value measuring apparatus |
| JPS55134313A (en) * | 1979-04-06 | 1980-10-20 | Fuji Electric Co Ltd | Automatic inspection device for indicator |
-
1981
- 1981-09-18 JP JP14605481A patent/JPS5848815A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5394959A (en) * | 1977-01-28 | 1978-08-19 | Osaka Gas Co Ltd | Maximum value measuring apparatus |
| JPS55134313A (en) * | 1979-04-06 | 1980-10-20 | Fuji Electric Co Ltd | Automatic inspection device for indicator |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5848815A (ja) | 1983-03-22 |
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