JPS5848815A - 指示計器検査装置 - Google Patents
指示計器検査装置Info
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- JPS5848815A JPS5848815A JP14605481A JP14605481A JPS5848815A JP S5848815 A JPS5848815 A JP S5848815A JP 14605481 A JP14605481 A JP 14605481A JP 14605481 A JP14605481 A JP 14605481A JP S5848815 A JPS5848815 A JP S5848815A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
- Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
指示計器の指針の振動幅が許容範囲内にあるか否かを自
動的に検査するための指示計器検査装置に関するもので
ある。
動的に検査するための指示計器検査装置に関するもので
ある。
本出願人は、指示計器の指示機能を自動的に検査する装
置として、昭和Ｊーｇー年特許願第弘／ ０３４Ｌ号に
おいて、指示計器の目盛板に対向してマスク手段を配置
し、このマスク手段に指針の指示公差に応じた幅だけ指
針より広幅の複数個の検査窓を形成し、この検査窓内で
指針が占めている面積を計測し５この面積の大小から指
針の指示位置が所定の公差内に収まっているか否か等全
検査する指示計器自動検査装置を提案した。この装置は
、指示計器の指針が入力に応じて正しい指示をするか否
か、すなわち指針の静的指示機能の良否を自動的に検査
することができるようにしたものであるが、これに加え
て、指示語器の検査にあたっては、この静的機能の検査
のほか、指針の動的機能、すなわち指針がある値を指示
しているときの指針の振動幅が許容範囲内に収まってい
るか否かという点についても検査なせねばならないこと
が多く、このような検査を自動的に行い得る検査装置が
更に要望されている。
置として、昭和Ｊーｇー年特許願第弘／ ０３４Ｌ号に
おいて、指示計器の目盛板に対向してマスク手段を配置
し、このマスク手段に指針の指示公差に応じた幅だけ指
針より広幅の複数個の検査窓を形成し、この検査窓内で
指針が占めている面積を計測し５この面積の大小から指
針の指示位置が所定の公差内に収まっているか否か等全
検査する指示計器自動検査装置を提案した。この装置は
、指示計器の指針が入力に応じて正しい指示をするか否
か、すなわち指針の静的指示機能の良否を自動的に検査
することができるようにしたものであるが、これに加え
て、指示語器の検査にあたっては、この静的機能の検査
のほか、指針の動的機能、すなわち指針がある値を指示
しているときの指針の振動幅が許容範囲内に収まってい
るか否かという点についても検査なせねばならないこと
が多く、このような検査を自動的に行い得る検査装置が
更に要望されている。
そこで、本発明の目的は、上述の点に鑑みて、指示計器
の指針の動的機能、すなわち指針がある’ｎｌｉｎｌ水
金ているときの指針のｌＲ７８１＋幅が所定の許容範囲
に収まっているか否かを自動的に検査することができる
ようにした指示計器検査装置を提供することにｋ）る。
の指針の動的機能、すなわち指針がある’ｎｌｉｎｌ水
金ているときの指針のｌＲ７８１＋幅が所定の許容範囲
に収まっているか否かを自動的に検査することができる
ようにした指示計器検査装置を提供することにｋ）る。
すなわち、本発明は、パネル面に沿って移動する指針か
ら前記パネル面上の指示飯全読み取り得るようにした指
示計器の目盛りに対応し、前記指針の幅より広幅の検出
窓を有するマスク手段と、前記検出窓を介して前記パネ
ル面および指針の表面を撮像する撮像装置と、該撮像装
置からの撮像出力に応じて前記指示計器の指針の振動の
最大幅を検出し、該最大振動幅と所定の許容振動幅とを
比較してθＩ紀指示ＫＬ器の指示機能の良否全判定する
判定装置−とを具備したことを特徴とするものである。
ら前記パネル面上の指示飯全読み取り得るようにした指
示計器の目盛りに対応し、前記指針の幅より広幅の検出
窓を有するマスク手段と、前記検出窓を介して前記パネ
ル面および指針の表面を撮像する撮像装置と、該撮像装
置からの撮像出力に応じて前記指示計器の指針の振動の
最大幅を検出し、該最大振動幅と所定の許容振動幅とを
比較してθＩ紀指示ＫＬ器の指示機能の良否全判定する
判定装置−とを具備したことを特徴とするものである。
以下、図面により本発明の詳細な説明する。
第１図は本発明指示計器検査装置の構成の一例を示（〜
、／は検査対象たる指示計器、２はストロボなどの照明
灯で、この照明灯λによって指示計器／のパネル面３を
瞬間的に照明する。グはマスク手段、ｊはこのマスク手
段ｔに形成した窓で、これら窓ｊをパネル面３の各目盛
りｔに対応して配ｔＬ、指針７がそれぞｊの目盛り６を
指示（−だとき、対応検出窓ｊ全通して第１図示のよう
に指針７およびパネル面３の一部３ａが見えるようにす
る。すなわち、指針７の回転軸ｒｆ：マスク手段μ」二
に投影したものを、ｌ′ａ、同じくそれぞれの目盛り乙
の投影を６８とすれば、それぞれの投影６ａの位置より
投影ｆａに少し近い位置にそれぞれの検出窓ｊを配置す
る。検出窓ｊの、指針７の延在方向の幅Ｗ、は任意で良
いが、検出窓！の、指針７の振動方向Ｖの幅Ｗ２は、指
針７の振動幅が許容範囲を越えている場合でもこれを十
分に検出し得るようにある程度の余裕、例えば指針７の
指示公差幅の余裕を持たせる。検出窓ｊの具体的形成方
法としては、マスク手段μを不透明な板材とし、これに
文字通り窓をあけるという方法のほか、マスク手段≠を
透明な板材とし、窓よの部分を残して黒色印刷ｋｌａす
というような方法も考えられる。また、本実施例では、
指示計器ｌの目盛り６が扇形に配置されているので５検
出窓ｊも扇形に配置されているが、検出ｇｊの配置は、
例えば目盛りが直線状であれは検出窓ｊも直線状になる
というように、測定対象たる指示計器の目盛りの配置に
応じて変化させるべきものである。りは工業用テレビカ
メラなどの撮像装置であり、それぞれの検出窓ｊを介し
てパネル面３ａと相開７の表面を撮像する。／θは判定
装置であり５撮像装酋デによって得た撮像信号ＶＳに基
づいて指示計器ｌの指針７の最大振動幅を検出し、これ
が許容範囲内に収まっているか否かを判断する。
、／は検査対象たる指示計器、２はストロボなどの照明
灯で、この照明灯λによって指示計器／のパネル面３を
瞬間的に照明する。グはマスク手段、ｊはこのマスク手
段ｔに形成した窓で、これら窓ｊをパネル面３の各目盛
りｔに対応して配ｔＬ、指針７がそれぞｊの目盛り６を
指示（−だとき、対応検出窓ｊ全通して第１図示のよう
に指針７およびパネル面３の一部３ａが見えるようにす
る。すなわち、指針７の回転軸ｒｆ：マスク手段μ」二
に投影したものを、ｌ′ａ、同じくそれぞれの目盛り乙
の投影を６８とすれば、それぞれの投影６ａの位置より
投影ｆａに少し近い位置にそれぞれの検出窓ｊを配置す
る。検出窓ｊの、指針７の延在方向の幅Ｗ、は任意で良
いが、検出窓！の、指針７の振動方向Ｖの幅Ｗ２は、指
針７の振動幅が許容範囲を越えている場合でもこれを十
分に検出し得るようにある程度の余裕、例えば指針７の
指示公差幅の余裕を持たせる。検出窓ｊの具体的形成方
法としては、マスク手段μを不透明な板材とし、これに
文字通り窓をあけるという方法のほか、マスク手段≠を
透明な板材とし、窓よの部分を残して黒色印刷ｋｌａす
というような方法も考えられる。また、本実施例では、
指示計器ｌの目盛り６が扇形に配置されているので５検
出窓ｊも扇形に配置されているが、検出ｇｊの配置は、
例えば目盛りが直線状であれは検出窓ｊも直線状になる
というように、測定対象たる指示計器の目盛りの配置に
応じて変化させるべきものである。りは工業用テレビカ
メラなどの撮像装置であり、それぞれの検出窓ｊを介し
てパネル面３ａと相開７の表面を撮像する。／θは判定
装置であり５撮像装酋デによって得た撮像信号ＶＳに基
づいて指示計器ｌの指針７の最大振動幅を検出し、これ
が許容範囲内に収まっているか否かを判断する。
指針７の振動幅の検出はそれぞれの検出窓ｊに対応して
設定した検出位置指示ネ／／に従って行う。
設定した検出位置指示ネ／／に従って行う。
この検出位置指示線／／は、検出位置あるいは走査方向
によって指針７の振動幅が見掛は上異なってくる場合に
必要となる。その理由は、第１図に示したような形式の
指示計器ｌ、すなわち指針７が軸ｇを中心にして回動す
る形式の指示計器では、回転角度で見るときは、例えは
±１度というように一定の振動であっても、実際の振動
幅で見ると（ｊ） きは、指針７の軸とに近い位置で見た振動幅と指針７の
先端に近い位置で見た振動幅との間に当然差異が生じ、
また、軸とからの距離が一定の位置で指Φ１７の振動幅
を検出したとしても、走査線（検出位置指示線／／）が
指針７を直角に横切る場合（第１図における中央の窓ｊ
の場合）と、走査線が指針７を斜めに横切る場合（第１
図における左または右の窓ｊの場合〕とでは、実際の振
動幅が同じでも見掛は上は差異が出てくるからである。
によって指針７の振動幅が見掛は上異なってくる場合に
必要となる。その理由は、第１図に示したような形式の
指示計器ｌ、すなわち指針７が軸ｇを中心にして回動す
る形式の指示計器では、回転角度で見るときは、例えは
±１度というように一定の振動であっても、実際の振動
幅で見ると（ｊ） きは、指針７の軸とに近い位置で見た振動幅と指針７の
先端に近い位置で見た振動幅との間に当然差異が生じ、
また、軸とからの距離が一定の位置で指Φ１７の振動幅
を検出したとしても、走査線（検出位置指示線／／）が
指針７を直角に横切る場合（第１図における中央の窓ｊ
の場合）と、走査線が指針７を斜めに横切る場合（第１
図における左または右の窓ｊの場合〕とでは、実際の振
動幅が同じでも見掛は上は差異が出てくるからである。
検出位置指示線／／の設定は、例えばそれぞれの検出窓
ｊを走査する所定本数の走査線のうち特定番目の走査ｍ
＋抜き出すという形で行うことができる。第２図の中央
に位置する検出窓ｊについて、検出位置指示線／／ヲ図
に示すように設足し、これに沿ってマスク手段μ、パネ
ル面３ａおよび指針７を走査した場合の撮像信号ｖ８の
例を第３図に示す。各撮像信号ｖｓｌ〜ｖＳｎは、検出
位置指示線／／上を左から右へ一定の時間間隔でｎ回繰
返し走査することによって得た１回目、２回目、３回目
、・・・・・・ ｎ回目のそれぞれの撮像信号である。
ｊを走査する所定本数の走査線のうち特定番目の走査ｍ
＋抜き出すという形で行うことができる。第２図の中央
に位置する検出窓ｊについて、検出位置指示線／／ヲ図
に示すように設足し、これに沿ってマスク手段μ、パネ
ル面３ａおよび指針７を走査した場合の撮像信号ｖ８の
例を第３図に示す。各撮像信号ｖｓｌ〜ｖＳｎは、検出
位置指示線／／上を左から右へ一定の時間間隔でｎ回繰
返し走査することによって得た１回目、２回目、３回目
、・・・・・・ ｎ回目のそれぞれの撮像信号である。
それぞ（６）
わの撮像信号ＶＳ１〜ｖＳｎにおいて、信号の左端から
瞬時ｔ１までの間は第１図検出位置指示線／／上の点Ｐ
１より左側のマスク手段グの表面が走査され信号レベル
が低（なっている期間、瞬時ｔｌからｔｌまでの間は、
第２図検出位置指示線／／上の点Ｐ１から点Ｐ２まで、
すなわち検出窓ｊを通して明るいパネル面３ａが走査さ
れ信号レベルが高くなっている期間、ｔｌからｔ３まで
の間は同様に点Ｐ２から点Ｐ３まで、すなわちパネル面
３ａに比べて暗い指針７０表面が走査され信号レベルが
低くｔ、ｃる期間、ｔ３からｔ４までの期間は同様に点
Ｐ３から点Ｐ４まで、すなわち検出窓ｊ全通して明るい
パネル面３ａが走査され信号レベルが高くなっている期
間、ｔ４かも以後の部分は、同様に第１図検出位置指示
線／／上の点Ｐ４より右側のマスク手段ｌの表面が走査
され信号レベルが低くなっている期間である。なお、こ
の実施例ではマスク手段グの表面および指針７０表面を
暗色、パネル面３ａを明色どし、かつ明色の部分で信号
が高レベルになるようにしたので第３図に示すような信
号波形が得られたが、明暗のコントラスＩＴｒ逆転させ
、あるいは信号レベルを反転させることによって、信号
波形を反転させてもよいこと勿論である。
瞬時ｔ１までの間は第１図検出位置指示線／／上の点Ｐ
１より左側のマスク手段グの表面が走査され信号レベル
が低（なっている期間、瞬時ｔｌからｔｌまでの間は、
第２図検出位置指示線／／上の点Ｐ１から点Ｐ２まで、
すなわち検出窓ｊを通して明るいパネル面３ａが走査さ
れ信号レベルが高くなっている期間、ｔｌからｔ３まで
の間は同様に点Ｐ２から点Ｐ３まで、すなわちパネル面
３ａに比べて暗い指針７０表面が走査され信号レベルが
低くｔ、ｃる期間、ｔ３からｔ４までの期間は同様に点
Ｐ３から点Ｐ４まで、すなわち検出窓ｊ全通して明るい
パネル面３ａが走査され信号レベルが高くなっている期
間、ｔ４かも以後の部分は、同様に第１図検出位置指示
線／／上の点Ｐ４より右側のマスク手段ｌの表面が走査
され信号レベルが低くなっている期間である。なお、こ
の実施例ではマスク手段グの表面および指針７０表面を
暗色、パネル面３ａを明色どし、かつ明色の部分で信号
が高レベルになるようにしたので第３図に示すような信
号波形が得られたが、明暗のコントラスＩＴｒ逆転させ
、あるいは信号レベルを反転させることによって、信号
波形を反転させてもよいこと勿論である。
検出窓ｊに対する相開７の相対的位置は、各撮像信号の
瞬時１．からｔｌまたはｔ３までの期間によって５ある
いはｔｌまたはＬ３からｔ４までの期間によって知るこ
とができる。指針７が振動している場合、走査を繰返す
たびこれらの期間が変化する。従って、所定の周期で検
出位置指示線／／上を所定時間隔にわたって繰返し走査
し、その時間隔において、上述した期間のいずれかにつ
いての最大値と最小値とを検出してその差をとることに
よって、指針７の振動の振幅を知ることができる。
瞬時１．からｔｌまたはｔ３までの期間によって５ある
いはｔｌまたはＬ３からｔ４までの期間によって知るこ
とができる。指針７が振動している場合、走査を繰返す
たびこれらの期間が変化する。従って、所定の周期で検
出位置指示線／／上を所定時間隔にわたって繰返し走査
し、その時間隔において、上述した期間のいずれかにつ
いての最大値と最小値とを検出してその差をとることに
よって、指針７の振動の振幅を知ることができる。
利足装置／θは、例えば瞬時ｔ］からｔ３までの期間Ｔ
＋ −Ｔｎ ｋバロメータとし、第μ図に示すようなブ
ロック構成で以って指針７の振幅の検出とその良否の判
定を行うように構成できる。第≠図において、〃はクロ
ックパルスカウンタ、ｎおよび刀はディジタル比較器、
２ｙおよびｂはランチ回路、ムは減算器、Ｉは比較器で
ある。クロックパルスカランタガは各撮像信号ＶＳＩ−
Ｖ８ｎ （１） ／回目の立ち上がり点ｔｌでクロック
パルスＣＰの計数を開始し、λ回目の立ち上がり点ｔ３
で計数を終了する。
＋ −Ｔｎ ｋバロメータとし、第μ図に示すようなブ
ロック構成で以って指針７の振幅の検出とその良否の判
定を行うように構成できる。第≠図において、〃はクロ
ックパルスカウンタ、ｎおよび刀はディジタル比較器、
２ｙおよびｂはランチ回路、ムは減算器、Ｉは比較器で
ある。クロックパルスカランタガは各撮像信号ＶＳＩ−
Ｖ８ｎ （１） ／回目の立ち上がり点ｔｌでクロック
パルスＣＰの計数を開始し、λ回目の立ち上がり点ｔ３
で計数を終了する。
そして、その間に計数したクロックパルスＣＰの計数出
力信号ＤＳを比較器〃の負側端子（−）、比較器刀の正
側端子（＋）、ラッチ回路２グのデータ入力端子ＤＩ’
およびラッテ回路λｊのデータ入力端子ＤＴにそれぞれ
供給する。ディジタル比較器ｎの出力をラッチ回路２り
のストローブ信号入力端子ＳＴに、また、ディジタル比
較器ｎの出力をラッチ回路Ｂのストローブ信号入力端子
ＳＴにそわそれ供給する。ラッチ回路２ＩＩの出力を減
算器力に供給すると共に比較器ｎの正側端子（＋）に帰
還する。ランチ回路Δの出力を減算器ぶに供給すると共
に比較器ｎの負側端午（＝）に帰還する。減算＠２乙の
出力および許容振＠を表わす基準信号Ｌ８を比較器１７
に供給する。指針７の振幅を検出するにあたっては、最
初にランチ回路λグの内容を最大値に５また、ラッチ回
路Δの内容全零にしてお（。
力信号ＤＳを比較器〃の負側端子（−）、比較器刀の正
側端子（＋）、ラッチ回路２グのデータ入力端子ＤＩ’
およびラッテ回路λｊのデータ入力端子ＤＴにそれぞれ
供給する。ディジタル比較器ｎの出力をラッチ回路２り
のストローブ信号入力端子ＳＴに、また、ディジタル比
較器ｎの出力をラッチ回路Ｂのストローブ信号入力端子
ＳＴにそわそれ供給する。ラッチ回路２ＩＩの出力を減
算器力に供給すると共に比較器ｎの正側端子（＋）に帰
還する。ランチ回路Δの出力を減算器ぶに供給すると共
に比較器ｎの負側端午（＝）に帰還する。減算＠２乙の
出力および許容振＠を表わす基準信号Ｌ８を比較器１７
に供給する。指針７の振幅を検出するにあたっては、最
初にランチ回路λグの内容を最大値に５また、ラッチ回
路Δの内容全零にしてお（。
そして、検出位置指示線／／上を走査することによ（り
） つて得た１つ目の撮像信号ｖｓ、’１クロックパルスカ
ウンタＨに供給する。クロックパルスカウンタ〃は撮像
信号ｖＳ１のｔｌからｔ３までの期間に入来するクロッ
クパルスＣＰヲ計数する。そして、撮像信号ｖＳｌの期
間Ｉｒ１に対応したディジタル信号ＤＳ＋にディジタル
比較器〃および刀、ラッチ回路２りおよび刀に供給する
。ディジタル比較器〃の正側端子（＋）にはラッチ回路
２グから最大値を示すディジタル信号が帰還されており
、撮像信号ＶＳ厘の期間Ｔｌに相当するディジタル信号
ＤＳ、はこの最大値より小さいからディジタル比較器〃
からストローブ信号ＳＳがラッテ回路２グに供給され、
そのときのディジタル信号ＤＳｌがラッチ回路２１に保
持される。また、ディジタル比較器ｎの負側端子（−）
にはラッチ回路Ｂから零を示すディジタル信号が帰還さ
れており、撮像信号ＶＳｌの時間Ｔ１を表わすディジタ
ル信号ＤＳ、はこの値（零）より大きいから、ディジタ
ル比較器ｎからラッチ回路Ｂに対してもストローブ信号
ＳＳが供給され、ラッチ回路汀はそのときのディジタル
信号ＤＳ１ｉ保「 ７ｎ ） 持する。所定の走査時間経過後、再び検出位置指示＋ｖ
ＩＩ／／−ｆｚ走介し、これによって得たλつ目の撮像
信号ｖｓ２１クロンクパルスカクンタ２／に供給する。
） つて得た１つ目の撮像信号ｖｓ、’１クロックパルスカ
ウンタＨに供給する。クロックパルスカウンタ〃は撮像
信号ｖＳ１のｔｌからｔ３までの期間に入来するクロッ
クパルスＣＰヲ計数する。そして、撮像信号ｖＳｌの期
間Ｉｒ１に対応したディジタル信号ＤＳ＋にディジタル
比較器〃および刀、ラッチ回路２りおよび刀に供給する
。ディジタル比較器〃の正側端子（＋）にはラッチ回路
２グから最大値を示すディジタル信号が帰還されており
、撮像信号ＶＳ厘の期間Ｔｌに相当するディジタル信号
ＤＳ、はこの最大値より小さいからディジタル比較器〃
からストローブ信号ＳＳがラッテ回路２グに供給され、
そのときのディジタル信号ＤＳｌがラッチ回路２１に保
持される。また、ディジタル比較器ｎの負側端子（−）
にはラッチ回路Ｂから零を示すディジタル信号が帰還さ
れており、撮像信号ＶＳｌの時間Ｔ１を表わすディジタ
ル信号ＤＳ、はこの値（零）より大きいから、ディジタ
ル比較器ｎからラッチ回路Ｂに対してもストローブ信号
ＳＳが供給され、ラッチ回路汀はそのときのディジタル
信号ＤＳ１ｉ保「 ７ｎ ） 持する。所定の走査時間経過後、再び検出位置指示＋ｖ
ＩＩ／／−ｆｚ走介し、これによって得たλつ目の撮像
信号ｖｓ２１クロンクパルスカクンタ２／に供給する。
クロックパルスカウンタ２１は撮像信号ｖＳｌのときと
同様に撮像信号ＶＳ２の期間Ｔ２を計測し、これに相当
するディジタル信号ＤＳ２を発生する。ディジタル信号
ＤＳ２はディジタル比較器〃およびｎに供給される。し
かしながら、ディジタル比較器〃の正側端子（＋）に帰
還されている先のディジタル信号ＤＳｌは、このとき供
給された撮像信号ｖＳ２の時間Ｔ２に相当するディジタ
ル信号ＤＳ２より小さい。従って、このディジタル比較
器ｎはストローブ信号ＳＳヲ発生せず、ラッチ回路２グ
にはディジタル信号ＤＳｌがそのまま保持される。一方
、ディジタル比較器Ｂの正側端子（＋）に供給されたデ
ィジタル信号ＤＳ２は、そのときその負側端子（−）に
帰還されているディジタル信号ＤＳ、より大きい。従っ
て、ディジタル比較ｇ７ｉ２３からランチ回路Δにスト
ローブ信号ＳＳが供給され、そのとぎのディジタル信号
ＤＳ２がラッテ回路」に保持される。また、同様に３回
目の走査によって得た撮像信号ＶＳａがクロックパルス
カウンタガニ加えられたときは、期間Ｔ３がＴ１より短
いため、Ｔ３に相当するディジタル信号ＤＳ３がラッチ
回路２！に保持される。以下同様にして、ｎ回目の走査
によって得た撮像信号ＶＳｎがクロックパルスカウンタ
Ｈに加えられたとき、期間Ｔｎに相当するディジタル信
号Ｄｎがラッチ回路２ｙに保持されているそれまでの最
小のディジタル信号ＤＳｘよりさらに小さければ、この
ディジタル信号Ｄｅｎが新たな最小値としてこのラッチ
回路２ｙに保持され、反対に・このディジタル信号ＤＳ
ｎがラッテ回路Ｂに保持されているそれまでの最大のデ
ィジタル信号ＤＳ、ｚ＋より大きければ、そのディジタ
ル信号ＤＳｎが新たな最大値としてこのラッチ回路」に
保持される。
同様に撮像信号ＶＳ２の期間Ｔ２を計測し、これに相当
するディジタル信号ＤＳ２を発生する。ディジタル信号
ＤＳ２はディジタル比較器〃およびｎに供給される。し
かしながら、ディジタル比較器〃の正側端子（＋）に帰
還されている先のディジタル信号ＤＳｌは、このとき供
給された撮像信号ｖＳ２の時間Ｔ２に相当するディジタ
ル信号ＤＳ２より小さい。従って、このディジタル比較
器ｎはストローブ信号ＳＳヲ発生せず、ラッチ回路２グ
にはディジタル信号ＤＳｌがそのまま保持される。一方
、ディジタル比較器Ｂの正側端子（＋）に供給されたデ
ィジタル信号ＤＳ２は、そのときその負側端子（−）に
帰還されているディジタル信号ＤＳ、より大きい。従っ
て、ディジタル比較ｇ７ｉ２３からランチ回路Δにスト
ローブ信号ＳＳが供給され、そのとぎのディジタル信号
ＤＳ２がラッテ回路」に保持される。また、同様に３回
目の走査によって得た撮像信号ＶＳａがクロックパルス
カウンタガニ加えられたときは、期間Ｔ３がＴ１より短
いため、Ｔ３に相当するディジタル信号ＤＳ３がラッチ
回路２！に保持される。以下同様にして、ｎ回目の走査
によって得た撮像信号ＶＳｎがクロックパルスカウンタ
Ｈに加えられたとき、期間Ｔｎに相当するディジタル信
号Ｄｎがラッチ回路２ｙに保持されているそれまでの最
小のディジタル信号ＤＳｘよりさらに小さければ、この
ディジタル信号Ｄｅｎが新たな最小値としてこのラッチ
回路２ｙに保持され、反対に・このディジタル信号ＤＳ
ｎがラッテ回路Ｂに保持されているそれまでの最大のデ
ィジタル信号ＤＳ、ｚ＋より大きければ、そのディジタ
ル信号ＤＳｎが新たな最大値としてこのラッチ回路」に
保持される。
このようにして、所定の１数ｎだけ検出位置指示線／／
上を走査すると、各撮像信号ＶＢ、〜ＶＢｎのＴＩ −
’Ｉｎに相当するディジタル信号ＤＳ＋ −Ｄｅｎのう
ち、最小のディジタル信号Ｄ８／がラッテ回路２グに、
また、最大のディジタル信号ＤＳｍがラッチ回路りに保
持される。そこで、減算器２乙にこれらランチ回路λグ
および汀に保持されている最小値ＤＳｊと最大値Ｄａｍ
ｆ供給し、この減ｎ Ｄ ２ＡによってＤ８１とＤａ
ｍとの差、すなわち指針７の振動幅ＷＳ全算出する。そ
して、ディジタル比較器刀にこの振動幅ＷＳ全供給し、
ここでこの振動幅ｗｓと振動幅のまｆ容値ＬＳとを比較
して、振動幅ＷＳが許容値内であればディジタル比較器
刀から合格信号を、また、振動幅ＷＳが許容値ＬＳ ｉ
超えていれば不合格信号を出力する。なお、ディジタル
比較器刀の代わりに減算回路を用いて、この減算回路が
ら許容値Ｌ８と振゛動幅ＷＳとの差ケ表わす信号を出力
するようにしても良い。
上を走査すると、各撮像信号ＶＢ、〜ＶＢｎのＴＩ −
’Ｉｎに相当するディジタル信号ＤＳ＋ −Ｄｅｎのう
ち、最小のディジタル信号Ｄ８／がラッテ回路２グに、
また、最大のディジタル信号ＤＳｍがラッチ回路りに保
持される。そこで、減算器２乙にこれらランチ回路λグ
および汀に保持されている最小値ＤＳｊと最大値Ｄａｍ
ｆ供給し、この減ｎ Ｄ ２ＡによってＤ８１とＤａ
ｍとの差、すなわち指針７の振動幅ＷＳ全算出する。そ
して、ディジタル比較器刀にこの振動幅ＷＳ全供給し、
ここでこの振動幅ｗｓと振動幅のまｆ容値ＬＳとを比較
して、振動幅ＷＳが許容値内であればディジタル比較器
刀から合格信号を、また、振動幅ＷＳが許容値ＬＳ ｉ
超えていれば不合格信号を出力する。なお、ディジタル
比較器刀の代わりに減算回路を用いて、この減算回路が
ら許容値Ｌ８と振゛動幅ＷＳとの差ケ表わす信号を出力
するようにしても良い。
以上説明したように、本発明指示計器検査装置では、検
査対象たる指示計器のパネル面前方に所定の検査窓を形
成したマスク手段を配置し、撮像装置により検出窓を通
して見えるパネル面および指針の表面を走査し、この走
査によって得た撮像信号全利足装置に供給して指針の振
動幅を検出し、この振動幅が所定の許容範囲内に収まっ
ているか（／３） 否か全自動的に判定するように構成したので、従来の人
手に頼っていた検査に比べ、はるかに速（、かつ正確に
指示ｉｉｌ器の指針の振動幅の検査ケ行うことができる
。
査対象たる指示計器のパネル面前方に所定の検査窓を形
成したマスク手段を配置し、撮像装置により検出窓を通
して見えるパネル面および指針の表面を走査し、この走
査によって得た撮像信号全利足装置に供給して指針の振
動幅を検出し、この振動幅が所定の許容範囲内に収まっ
ているか（／３） 否か全自動的に判定するように構成したので、従来の人
手に頼っていた検査に比べ、はるかに速（、かつ正確に
指示ｉｉｌ器の指針の振動幅の検査ケ行うことができる
。
第１図は本発明指示計器検査装置の構成の一例を示す斜
視図、第２図はそのマスク手段および指示計器パネル面
を示す部分拡大正面図、第３図は撮像装置から得られる
各撮像信号會示す信号波形図、第１図は判定装置の構成
の一例を示すブロック図である。 ／・・・指示計器、 コ・・・照明灯、３・・
・パネル面、 ３ａ・・・検出愈ｊ全通して見え
るパネル面、 ≠・・・マスク手段、ｊ・・・検
出惣、 ６・・・目盛り、４ｍ・・・マスク
手段≠に投影された目盛り６．７・・・指針、
ｒ・・・回転軸、ｒａ・・・マスク手段≠に投影
された回転軸ｒ。 り・・・撮像装置、 ／θ・・・判定装置、／
／・・・検出位置指示線、 ２１・・・クロックパ
ルスカウンタ、（ｌり） ２ｊ、 ２７・・・ディジタル比較器、２！、Ｂ・・・
ラッテ回路、 ス・・・減算器、ｌ・・・比較器、 ＶＳ・・・撮像信号、 ＤＳ・・・ディジタル
信号、ＳＳ・・・ストローブ信号、 ＷＳ・・・振動幅′ｆ：表わす信号、 ＬＳ・・・許容値を表わす信号。 特許出願人 富士電機製造株式会社 （／ｊ） ８９−
視図、第２図はそのマスク手段および指示計器パネル面
を示す部分拡大正面図、第３図は撮像装置から得られる
各撮像信号會示す信号波形図、第１図は判定装置の構成
の一例を示すブロック図である。 ／・・・指示計器、 コ・・・照明灯、３・・
・パネル面、 ３ａ・・・検出愈ｊ全通して見え
るパネル面、 ≠・・・マスク手段、ｊ・・・検
出惣、 ６・・・目盛り、４ｍ・・・マスク
手段≠に投影された目盛り６．７・・・指針、
ｒ・・・回転軸、ｒａ・・・マスク手段≠に投影
された回転軸ｒ。 り・・・撮像装置、 ／θ・・・判定装置、／
／・・・検出位置指示線、 ２１・・・クロックパ
ルスカウンタ、（ｌり） ２ｊ、 ２７・・・ディジタル比較器、２！、Ｂ・・・
ラッテ回路、 ス・・・減算器、ｌ・・・比較器、 ＶＳ・・・撮像信号、 ＤＳ・・・ディジタル
信号、ＳＳ・・・ストローブ信号、 ＷＳ・・・振動幅′ｆ：表わす信号、 ＬＳ・・・許容値を表わす信号。 特許出願人 富士電機製造株式会社 （／ｊ） ８９−
Claims (1)
- パネル面に沿って移動する指針から前記パネル面上の指
示量を読み取り得るようにした指示計器の目盛りに対応
し、前記指針の幅より広幅の検出窓を有するマスク手段
と、前記検出窓を介して前記パネル面および指針の表面
を撮像する撮像装置と、該撮像装置からの撮像出力に応
じて前記指示計器の指針の振動の最大幅全検出し、該最
大振動幅と所定の許容振動幅とを比較して前記指示計器
の指示機能の良否を判定する判定装置と全具備したこと
を特徴とする指示計器検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14605481A JPS5848815A (ja) | 1981-09-18 | 1981-09-18 | 指示計器検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14605481A JPS5848815A (ja) | 1981-09-18 | 1981-09-18 | 指示計器検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5848815A true JPS5848815A (ja) | 1983-03-22 |
| JPS6316696B2 JPS6316696B2 (ja) | 1988-04-11 |
Family
ID=15399042
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14605481A Granted JPS5848815A (ja) | 1981-09-18 | 1981-09-18 | 指示計器検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5848815A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008224331A (ja) * | 2007-03-09 | 2008-09-25 | Denso Corp | 漏光検査装置 |
| JP2019091301A (ja) * | 2017-11-15 | 2019-06-13 | 長野計器株式会社 | 読取表示システム、読取表示方法及び読取値測定装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5394959A (en) * | 1977-01-28 | 1978-08-19 | Osaka Gas Co Ltd | Maximum value measuring apparatus |
| JPS55134313A (en) * | 1979-04-06 | 1980-10-20 | Fuji Electric Co Ltd | Automatic inspection device for indicator |
-
1981
- 1981-09-18 JP JP14605481A patent/JPS5848815A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5394959A (en) * | 1977-01-28 | 1978-08-19 | Osaka Gas Co Ltd | Maximum value measuring apparatus |
| JPS55134313A (en) * | 1979-04-06 | 1980-10-20 | Fuji Electric Co Ltd | Automatic inspection device for indicator |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008224331A (ja) * | 2007-03-09 | 2008-09-25 | Denso Corp | 漏光検査装置 |
| JP2019091301A (ja) * | 2017-11-15 | 2019-06-13 | 長野計器株式会社 | 読取表示システム、読取表示方法及び読取値測定装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6316696B2 (ja) | 1988-04-11 |
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