JPH04236500A - 有極性電子部品の実装極性方向検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は有極性電子部品の実装極
性方向検査装置に関し、特にプリント基板に実装された
有極性電子部品が所定の極性関係で実装されているか否
かを検査する有極性電子部品の実装極性方向検査装置に
関する。

【０００２】

【従来の技術】有極性電子部品としては、たとえば、タ
ンタルコンデンサが知られている。このような電子部品
はプリント基板に実装された状態で特定の方向に電界が
印加される状態で使用する必要がある。以下の実施例に
おいては検査対象の電子部品としてタンタルコンデンサ
が使用されている場合について説明されている。

【０００３】タンタルコンデンサは外部回路に接続され
る二つの接続部を持つており、その内の一つは外部回路
の正極側に接続され、他の一つの接続部は外部回路の負
極側に接続される。これら接続部の内の何れか一方に近
いタンタルコンデンサの外表の予め定められた領域は白
色に塗つぶされている。この領域と上述した接続部以外
のタンタルコンデンサの外表部の大部分は黒色であり、
その黒色部分の一部に白色の文字表示部が存在する。以
下本発明が対象とする有極性電子部品はこのようなタン
タルコンデンサと同じ外表面を有するものとする。

【０００４】図３は従来のこの種の有極電子部品の実装
極性方向検査装置を示すブロック図である。ＸおよびＹ
方向に外部からの図示されていない駆動力によって移動
するＸ−Ｙ方向移動台３の上部にＸおよびＹ方向に平行
な平面を持つ基板取付台２が設けられておりこの基板取
付台２の上方にタンタルコンデンサ１２を回路に実装し
たプリント基板１が固定されている。タンタルコンデン
サ１２はプリント基板１の上方に配置された光源１１に
よって照明される。また、プリント基板１の上方の一定
位置にはタンタルコンデンサ１２を含みタンタルコンデ
ンサ１２の外形より広い一定領域の照明光に対する反射
光の画像を撮像し前述した反射光の強さに比例したレベ
ルの多数の画素信号に変換した画像信号を出力する撮像
装置１３が配置されている。なお、この撮像装置１３の
視野角は複数の同一仕様のプリント回路を構成するプリ
ント基板１の同一場所に実装されているタンタルコンデ
サ１２に対して常に一定とする。

【０００５】プリント基板１に実装されるタンタルコン
デンサ１２の実装位置はプリント基板１の基準点に対し
てＸおよびＹ方向について予め決められているので、こ
の予め決められた基準点にタンタルコンデンサ１２が位
置するとき上述した撮像装置１３の視野内にタンタルコ
ンデンサの輪郭が入るようにＸ−Ｙ方向移動台３を移動
させる。撮像装置１３からの出力される画像の成分であ
る画素のレベルは、タンタルコンデンサの外表部の白色
部に対応する画素のレベルと黒色部に対応する画素のレ
ベルの中間のレベルを境界とした二つの領域の何れかに
区分されその内の白色部に対応する画素のレベルが属す
る領域は論理値“１”の信号に、また、黒色部に対応す
る画素のレベルが属する領域の画素信号は“０”の信号
に二値化回路４によって変換され、二値化画像信号ｂが
出力される。

【０００６】図４（ａ）と図４（ｂ）は何れもこのよう
な二値化画像信号ｂによる画像の一例を示す説明図であ
って、図４（ａ）はプリント基板１に対して正しい方向
、すなわち、正しい極性関係でタンタルコンデンサ１２
が実装されている場合の画像の例を示した図であり、図
４（ｂ）はプリント基板１に対して逆方向、すなわち、
正しい極性関係とは逆な関係でタンタルコンデンサ１２
が実装されている場合の画像の例を示した図である。撮
像装置１３で撮像し二値化回路４で二値化画像信号ｂに
変換された画像の視野範囲２６の中に輪郭線２５を持つ
タンタルコンデンサ１２が画像として表示されており、
タンタルコンデンサ１２の極性表示領域は領域２１で文
字の領域は領域２３で示されており、これらの領域は先
述した“１”の画素成分により画像表示される。 タンタルコンデンサの表面の内、その他の領域、すなわ
ち、黒色の部分は領域２０で画像表示されており、この
領域は先述した“０”の画素成分により画像表示される
。

【０００７】ウインド発生回路３５により二値化画像信
号ｂの内で領域４２の内部の画素信号のみを抽出するウ
インド信号が生成され、二値化画像信号ｂの内で領域４
２内に存在する画素信号のみが抽出され抽出信号ｆとし
てウインド発生回路３５より出力される。ウインド４２
の視野２６に対する位置および大きさは検査されるべき
タンタルコンデンサの大きさ、極性表示領域の大きさと
その表示位置、プリント基板１に対するタンタルコンデ
ンサの実装配置位置が既知であることにより予め設定し
ておくことができる。その際、ウインド４２はタンタル
コンデンサ１２がプリント基板１に対して正しい極性関
係で実装されているときタンタルコンデンサ１２の極性
表示領域に対応する図４中の領域２１を含んで領域２１
よりも大きな領域となるように設定されていた。

【０００８】計測回路３７は抽出信号ｆより論理値“１
”を持つ画素信号の数を計測して画素数信号ｇを出力す
る。判定回路３７は予め設定された比較値を持ち入力さ
れた画総数信号ｇと比較値とを比較し比較値より画素数
信号ｇの値の方が大であるときには検査に合格したこと
を表す合格信号、たとえば、“１”を出力し、画素信号
ｇの値が前述した比較値に達していないときには、検査
結果が不合格であることを示す、たとえば、“０”を出
力していた。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】上述した従来の有極性
電子部品の実装極性方向検査装置は、ウインド発生回路
３５の生成するウインド４２の中には極性表示領域以外
にその他の領域の画素成分を必ず抽出すること、また、
タンタルコンデンサのプリント基板に対する実装状態が
極性関係について正規の関係とは逆になっている場合に
は、ウインド４２内に極性表示領域と同じ値“１”を持
つ画素信号を生ずる文字表示部に対応する領域２３が含
まれるので正常な実装状態における画素数信号ｇと不正
規な実装状態のとき出力される画素数信号ｇとの間の数
値の差があまりないこと、また、プリント基板に実装さ
れているタンタルコンデンサのプリント基板上に設けら
れているプリント回路に対して正しい極性関係で実装さ
れている場合でも、プリント基板に対するタンタルコン
デンサの実装位置が規定の位置よりづれているときには
、領域４２を構成する画素数に対して領域２１に該当す
る画素数の割合が大きく変動して小となり判定回路３７
が予め持っている比較値以下になる場合を生じ、判定回
路の出力に誤りを生ずるという欠点があった。

【００１０】本発明の目的は上述のウインドの大きさを
変更し計測回路で画素信号の値として“０”を持つ画素
信号の画素数を計測する計測回路を使用し、プリント基
板に対してタンタルコンデンサの実装状態が正規の場合
と不正規の場合の計測回路より出力される画素数信号の
差を大とし、従来よりも検査時の誤差の発生の少ない有
極性電子部品の実装極性方向検査装置を提供することに
ある。

【００１１】

【課題を解決するための手段】本発明の有極性電子部品
の実装極性方向検査装置は、プリント基板上の予め定め
られた位置に実装されており一つの電極付近の外面上の
予め定められた領域内がほぼ白色に塗りつぶされた極性
表示領域を有し外表面の他の領域はほぼ黒色であり予め
定められた外径寸法を有する電子部品が予め定められた
極性関係で前記プリント基板に実装されていることを前
記プリント基板に対して予め定められた位置に配置した
撮像装置によって一定の視野角で前記電子部品の全体を
撮像し前記撮像した画像の各画素に対して前記白色領域
とこれに近い領域に対する画素信号を“１”に前記白色
領域とこれに近い領域を除いた領域の画素信号を“０”
に変換しこれら変換された画素信号より成る画像の内で
前記極性表示領域が存在すべき領域付近の予め定めた領
域を覆うウインドを生成し前記ウインド内の画素が前記
“１”または“０”の何れかに変換された画像信号を抽
出しこれら画素信号の内の特定の画素の画素数を計数し
前記計数結果を基に前記プリント基板に対して所定の極
性関係で前記有極性電子部品が実装されているか否かを
検査する有極性電子部品の実装極性方向検査装置におい
て、前記ウインドを前記極性表示領域が存在すべき領域
内で前記極性表示領域より狭い領域を覆うウインドを生
成し前記ウインド内に存在する前記“１”および“０”
に変換された画素信号のみを抽出して出力するウインド
発生回路と、前記ウインド発生回路の出力中より前記“
０”を持つ画素信号の数を計数し計数結果を画素計数信
号として出力する計測回路と、前記画素計数信号と予じ
め内部に設定されている比較値と比較して前記画素計数
信号の値の方が前記比較値より大なる場合に不合格に対
応する信号を出力しそれ以外の場合は合格に対応する信
号を出力する判定回路とを備えている。

【００１２】

【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。

【００１３】図１は本発明の有極性電子部品の実装極性
方向検査装置の一実施例を示すブロック図である。本実
施例の有極性電子部品の実装極性方向検査装置は、図１
に示すように、ウインド発生回路５と計測回路６および
判定回路７を除いては図３に示されている従来のこの種
の有極性電子部品の実装極性方向検査装置で説明したも
のと同一であるのでこれらの部分についての説明を省略
する。図２（ａ）と図２（ｂ）はウインド発生回路５に
よって発生されるウインドと、二値化画像信号ｂによっ
て形成される画像との関係の一例を示す説明図であって
、図２（ａ）はプリント基板１上の回路に対してタンタ
ルコンデンサ１２が正規の極性関係で実装された状態を
示し、図２（ｂ）は極性関係が正規の状態とは逆の関係
で実装されている場合を示したものである。ウインド発
生回路５で発生されたウインド２２は正規の状態で実装
されているタンタルコンデンサ１２の極性表示領域に対
応する領域２１内でこの領域より狭い領域を覆うように
形成される。二値化画像信号ｂにより形成される図２（
ａ）に示されている画像に対するウインド２１の位置と
その大きさはプリント基板上のタンタルコンデンサの位
置と極性表示部の大きさおよび撮像装置１３のプリント
基板１に対しての配置の位置を考慮して前もって決めて
おく。また、プリント基板１に対してタンタルコンデン
サ１２の実装状態が正規の極性関係であってしかもその
実装位置がずれても領域２１内にウインド２１を位置さ
せる。

【００１４】ウインド発生回路５はウインド２１内に含
まれる二値化画像信号ｂの画素を抽出して抽出画像信号
ｃとして出力する。計測回路６はこの抽出画像信号ｃの
中より値“０”を持つ画素信号の数を係数して係数信号
ｄを判定回路７に出力する。判定回路７は予め設定され
た比較値を持っており、入力された係数信号ｄの値と比
較値とを比較して比較値より係数信号の示す値の方が大
なる場合には検査結果が不合格であることを示す不合格
信号、たとえば、“０”を出力し、係数信号ｄの示す値
が比較値未満であれば検査結果が合格であることを示す
合格信号、たとえば、“１”を出力する。

【００１５】もし、プリント基板１上の回路に対してタ
ンタルコンデンサ１２の極性関係が正規状態とは逆に実
装された場合にはウインド２２は図２（ｂ）で示されて
いるように領域２３と２４を含む領域を切取ることにな
り、領域２３に相当する“１”なる値を持つ画素信号と
領域２４に相当する“０”なる値を持つ画素信号とがウ
インド発生回路５より抽出画像信号ｃとして出力される
ことになる。以上の説明から明らかなように、正規の状
態でタンタルコンデンサ１２がプリント基板１に実装さ
れている場合には、計数回路６に入力される値“０”を
持つ画素の数は理論上は０である。また不正規な状態で
タンタルコンデンサ１２がプリント基板１に実装されて
いるときには、計数回路６に入力される画像抽出信号ｃ
の内に値“０”を有する画素の数は必ず１以上存在する
、従って判定回路のもつ比較値として１を与えることが
できる。ただし、領域２１に対応するタンタルコンデン
サ２１の極性表示領域内にも僅な黒色部分が有ると仮定
すれば前述した比較値として２以上の適切な数値を与え
ればよい。

【００１６】なお、すでに説明したように検査対象とし
て上述したタンタルコンデンサ１２の代りにこのタンタ
ルコンデンサ１２と同様な極性表示を外表面で行ってい
る有極性電子部品を検査対象とすることができる。

【００１７】

【発明の効果】以上説明したように、本発明の有極性電
子部品の実装極性方向検査装置は二値化画像信号で表示
される極性表示領域に相当する領域の画像の内部の画素
をウインド発生回路によって抽出し、この抽出された信
号内の理論的には画素数が零であるべき筈の値を持つ画
素の数を計測してこの画素数が零であるべき筈の画素の
数の有無によりタンタルコンデンサなどの有極性電子部
品が正規の極性関係を持ってプリント基板に接続されて
いるか否かを判定するので、プリント基板に対して有極
性電子部品の実装位置が正規の位置からずれている場合
にも、従来のこの種の有極性電子部品の実装極性方向検
査装置よりも正確に検査結果を判断することができると
いう効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の有極性電子部品の実装極性方向検査装
置の一実施例を示すブロック図である。

【図２】本実施例の有極性電子部品の実装極性方向検査
装置によって生成される画像とウインドの関係を示す説
明図である。

【図３】従来のこの種の有極性電子部品の実装極性方向
検査装置の一例を示すブロック図である。

【図４】図３の有極性電子部品の実装極性方向検査装置
の出力する画像とウインドとの関係を示す説明図である
。

【符号の説明】

１　　　　プリント基板 ２　　　　基板取付台 ４　　　　二値化回路 ５　　　　ウインド発生回路 ６　　　　計測回路 ７　　　　判定回路 １２　　　　タンタルコンデンサ １３　　　　撮像装置

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】　　プリント基板上の予め定められた位置
   に実装されており一つの電極付近の外面上の予め定めら
   れた領域内がほぼ白色に塗りつぶされた極性表示領域を
   有し外表面の他の領域はほぼ黒色であり予め定められた
   外径寸法を有する電子部品が予め定められた極性関係で
   前記プリント基板に実装されていることを前記プリント
   基板に対して予め定められた位置に配置した撮像装置に
   よって一定の視野角で前記電子部品の全体を撮像し前記
   撮像した画像の各画素に対して前記白色領域とこれに近
   い領域に対する画素信号を“１”に前記白色領域とこれ
   に近い領域を除いた領域の画素信号を“０”に変換しこ
   れら変換された画素信号より成る画像の内で前記極性表
   示領域が存在すべき領域付近の予め定めた領域を覆うウ
   インドを生成し前記ウインド内の画素が前記“１”また
   は“０”の何れかに変換された画像信号を抽出しこれら
   画素信号の内の特定の画素の画素数を計数し前記計数結
   果を基に前記プリント基板に対して所定の極性関係で前
   記有極性電子部品が実装されているか否かを検査する有
   極性電子部品の実装極性方向検査装置において、前記ウ
   インドを前記極性表示領域が存在すべき領域内で前記極
   性表示領域より狭い領域を覆うウインドを生成し前記ウ
   インド内に存在する前記“１”および“０”に変換され
   た画素信号のみを抽出して出力するウインド発生回路と
   、前記ウインド発生回路の出力中より前記“０”を持つ
   画素信号の数を計数し計数結果を画素計数信号として出
   力する計測回路と、前記画素計数信号と予じめ内部に設
   定されている比較値と比較して前記画素計数信号の値の
   方が前記比較値より大なる場合に不合格に対応する信号
   を出力しそれ以外の場合は合格に対応する信号を出力す
   る判定回路とを備えたことを特徴とする有極性電子部品
   の実装極性方向検査装置。