JPH03216509A - はんだボール検査装置 - Google Patents

はんだボール検査装置

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Publication number
JPH03216509A
JPH03216509A JP1391990A JP1391990A JPH03216509A JP H03216509 A JPH03216509 A JP H03216509A JP 1391990 A JP1391990 A JP 1391990A JP 1391990 A JP1391990 A JP 1391990A JP H03216509 A JPH03216509 A JP H03216509A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inspection area
leads
solder ball
circuit
area
Prior art date
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Pending
Application number
JP1391990A
Other languages
English (en)
Inventor
Masahiko Nagao
政彦 長尾
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP1391990A priority Critical patent/JPH03216509A/ja
Publication of JPH03216509A publication Critical patent/JPH03216509A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明ははんだボール検査装置に関し、特にプリント基
板にはんだ付けされた表面実装ICのリード間のはんだ
ボールの有無を検査するはんだボール検査装置に関する
〔従来の技術〕
従来のはんだボール検査装置は、検査対象部品の隣接す
るリード間に斜め上方から光を照射する照明と、検査対
象部品の画像を取り込む上方に取り付けられたカメラと
、該カメラから取り込んだ濃淡画像の明るい部分は“1
′に、暗い部分は゛0′′の二値化画像に変換する二値
化回路と、検査対象部品の隣接するリード間にリードと
直角な方向の端がリードにかからない検査領域を記憶す
る検査領域記憶回路と、前記二値化回路より出力される
二値化画像に前記検査領域記憶回路に記憶されている検
査領域を発生させる検査領域発生回路と、該検査領域発
生回路より出力される検査領域内の二値化画像により、
検査領域内に゛1″のエリアかあるかを判定する判定回
路とを含んて構成される。
次に、従来のはんだボール検査装置について図面を参照
して詳細に説明する。
第3図の照明21は、検査対象部品に斜め上方から光を
照射する。カメラ22は検査対象部品の上方に取り付け
られ検査対象部品の画像を取り込み濃淡画像信号eを出
力する。二値化回路23は濃淡画像信号eを入力し、あ
らかじめ設定した値化レベルにより明るい部分に対応し
た” 1 ”と暗い部分に対応した゜′0”とのいずれ
がに変換し、二値化画像信号fを出力する。検査領域発
生回路24ては、二値化画像信号fを入力し検査領域記
憶回路25に記憶されている検査領域信号gにより設定
される検査対象部品のリード間に、リードと直角な方向
の端かリードにかからない検査領域を発生させ、該検査
領域内の二値化画像のみを抽出した検査領域内二値化画
像信号hを呂力する。判定回路26では、検査領域内二
値化画像信号hを入力し、″1“のエリアがあればはん
だボールありと判定する。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来のはんだ付け検査装置は、検査領域をリー
ド間に端がリードにかからないように発生させていたの
で、リードに接触したはんだボールやリードに近い部分
に存在するはんだボールは検出できないという欠点があ
った。またリードに近い部分に存在するはんだボールを
検出させるために、検査領域を広くすると許容範囲内の
ICの位置ずれのためにリード部分が検査領域内に入っ
てしまい、リードからの反射光をはんだボールと誤判定
してしまう場合があるという欠点があった。
〔課題を解決するための手段〕
本発明のはんだボール検査装置は、検査対象部品に斜め
上方から光を照射する照明と、検査対象部品の画像を取
り込む上方に取り付けられたカメラと、該カメラから取
り込んだ濃淡画像の明るい部分は゛1′゛に,暗い部分
は゛0゜゜の二値化画像に変換する二値化回路と、検査
対象リード開にリートと直角な方向の端が隣接するリー
ドにかかる検査領域を記憶する検査領域記憶回路と、前
記二値化回路より出力される二値化画像に前記検査領域
記憶回路に記憶されている検査領域を発生させる検査領
域発生回路と、該検査領域発生回路より出力される検査
領域内二値化画像より前記検査領域内に検査領域のリー
ドと直角な方向の端に接する両端の2つの゛1゛′のエ
リア間の長さを測定しあらかしめ設定した判定値より短
ければはんだボールありと判定ずる第一の判定回路と、
前記検査領域発生回路より出力される検査領域内二値化
画像信号より前記検査領域内にリードと直角な方向の端
に接しない”1″のエリアがあるが判定する第二の判定
回路とを備えて構成される。
〔実施例〕
次に、本発明の実施例について図面を参照して詳細に説
明する。
第1図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。
第1図の照明1は検査対象部品に斜め上方から光を照射
する。カメラ2は検査対象部品の上方に取り付けられ、
検査対象部品の画像を取り込み、濃淡画像信号aを出力
する。二値化回路3は、濃淡画像信号aを入力し、あら
かじめ設定した二値化レベルにより、明るい部分に対応
した゛′1“゜と暗い部分に対応した“0″とに変換し
、二値化画像信号bを出力する。検査領域発生回路4で
は、二値化画像信号bを入力し検査領域記憶回路5に記
憶されている検査領域信号Cにより設定される検査対象
部品のリードのリード間にリードと直角な方向(以下X
方自と呼ぶ)の端が左右の隣接するリードにかかる検査
領域を発生させ、この検査領域内の二値化画像のみを抽
出した検査領域内二値化画像信号dを呂力する。第一の
判定回路6では、検査領域内二値化画像信号dを入力し
、検査領域内に検査領域のX方向の端に接する両端の2
つの゛1“のエリア間の長さを測長し、あらかじめ設定
した測定値より短かければはんだボールありと判定する
。第二の判定回路7ては、検査領域内二値化画像信号d
を入力し、前記検査領域内に検査領域のX方向の端に接
しない“1′′のエリアがあるかを判定し、あればはん
だボールありと判定する。
次に第2図を用いてはんだボール検出の原理を説明する
第2図は二値化画像信号のパターン図である。
点線部はX方向の端が隣接するりード8,8Aにかかる
検査領域ってあり、斜線部は検査領域内一値化画像信号
の” 1 ”のエリアを示している。照明1から照射し
た光の反射光が、カメラ2に多く入射する部分は反射率
の高い部分であり、リード8,8Aからの反射光による
リード部分のエリア10,IOAとはんだボールからの
反射光によるはんだボール部分のエリア11,IIAと
なる。
はんだボール部分のエリア11はリード8に接触してい
るはんだボールからの反射光による“1″のエリアで、
リード部分のエリア10と接触している場合を示す。は
んだボール部分のエリア11Aはリードに接触しないは
んだボールからの反射光による゛1“のエリアを示す。
第一の判定回路6では、検査領域9の左端に接触する“
1”のエリアの右端の座標XLと検査領域9の右端に接
触する“″1″のエリアの左端の座標XRとの差より左
右両端の“1“のエリア間の長さを求め、あらかじめ設
定してある判定値と比較し、判定値より小さければはん
だボールありと判定する。リードに接触したはんだボー
ルがない場合、左右両端の”1″のエリア間の長さはリ
ード部分のエリア10,IOAの間の長さでリード間の
長さになるが、リードに接触したはんだボールがある場
合、左右両端の“1”のエリア間の長さはリードに接触
したはんだボール部分のエリア11のX方向の長さ分短
くなる。そのため判定値をリード間の長さ以下で、リー
ド間隔からはんだボールの直径を引いた値以上に設定し
ておくことで、リードに接触したはんだボールを検出す
ることができる。
第二の判定回路7では、検査領域9内のX方向の端に接
しない゛1″のエリアがあれば、はんだボールがあると
判定する。検査領域9のX方向の端は隣接するリードに
かかるように設定してあるため、検査領域9のX方向の
端に接する“1″のエリアはリードからの反射光による
かリードに接触するはんだボールからの反射光による部
分であるが、リードに接触しないはんだボールがある場
合,検査領域9のX方向の端に接するII I I+の
エリア以外に、リードに接触しないはんだボール部分の
エリア11Aができるために検査領域9のX方向の端に
接しない“1″のエリアがあれば、リードに接触しない
はんだボールがあると判定することができる。
〔発明の効果〕
本発明のはんだボール検査装置は、検査領域を検査対象
部品の隣接するリード間にリード方向と直角方向の端が
リードにかかるように発生させ、検査領域の両端の反射
光のある部分の間隔を測定ことによりリードに接触する
はんだボールを検出し、検査領域内のリードからの反射
光以外の孤立した反射光によりリードに接触しないはん
だボールを検出するので、リードに接触したはんだボー
ルやリードの近くにあるはんだボールも見逃すことなく
検出することができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図、第
2図は本発明の原理を説明するためのパターン図、第3
図は従来の技術によるはんだボール検査装置の構成の一
例を示すブロック図である。 1・・・照明、2・・・カメラ、3・・・二値化回路、
4・・・検査領域発生回路、5・・・検査領域記憶回路
、6・・・第一の判定回路、7・・・第二の判定回路、
8,8A・・・リード、9・・・検査領域、10,IO
A・・・リード部分のエリア、11,IIA・・・はん
だボール部分のエリア、 ・・濃淡画像信号、 b・・・二値化画像信 フヂ 、 C ・・ 検査領域信号、 d ・検査領域内二値化画 像信号。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  検査対象部品に斜め上方から光を照射する照明と、検
    査対象部品の画像を取り込む上方に取り付けられたカメ
    ラと、該カメラから取り込んだ濃淡画像の明るい部分は
    “1”に、暗い部分は“0”の二値化画像に変換する二
    値化回路と、検査対象リード間にリードと直角な方向の
    端が隣接するリードにかかる検査領域を記憶する検査領
    域記憶回路と、前記二値化回路より出力される二値化画
    像に前記検査領域記憶回路に記憶されている検査領域を
    発生させる検査領域発生回路と、該検査領域発生回路よ
    り出力される検査領域内二値化画像より前記検査領域内
    に検査領域のリードと直角な方向の端に接する両端の2
    つの“1”のエリア間の長さを測定しあらかじめ設定し
    た判定値より短ければはんだボールありと判定する第一
    の判定回路と、前記検査領域発生回路より出力される検
    査領域内二値化画像信号より前記検査領域内にリードと
    直角な方向の端に接しない“1”のエリアがあるか判定
    する第二の判定回路とを備えて成ることを特徴とするは
    んだボール検査装置。
JP1391990A 1990-01-23 1990-01-23 はんだボール検査装置 Pending JPH03216509A (ja)

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JP1391990A JPH03216509A (ja) 1990-01-23 1990-01-23 はんだボール検査装置

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JPH03216509A true JPH03216509A (ja) 1991-09-24

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ID=11846582

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JP1391990A Pending JPH03216509A (ja) 1990-01-23 1990-01-23 はんだボール検査装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011180058A (ja) * 2010-03-03 2011-09-15 Ckd Corp 半田印刷検査装置及び半田印刷システム

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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