JPH05109858A - Ｔａｂはんだ付け検査装置 - Google Patents
Ｔａｂはんだ付け検査装置Info
- Publication number
- JPH05109858A JPH05109858A JP26576191A JP26576191A JPH05109858A JP H05109858 A JPH05109858 A JP H05109858A JP 26576191 A JP26576191 A JP 26576191A JP 26576191 A JP26576191 A JP 26576191A JP H05109858 A JPH05109858 A JP H05109858A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- soldering
- circuit
- lead
- inspection area
- camera
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Landscapes
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】ＴＡＢリードと回路基板上のパッドとのはんだ
付け状態を精度よく検出する。 【構成】パッド２にはんだ付けされた検査対象リード１
のヒール部のはんだ付け部分に照明３より斜め上方から
光を照射し、リード側面方向の斜め上方に取り付けられ
たカメラ４により画像の取り込みを行う。ヒール部はん
だ付け部分からのカメラに入射する反射光の総和により
ヒール部のはんだ付け状態の良否判定を行う。
付け状態を精度よく検出する。 【構成】パッド２にはんだ付けされた検査対象リード１
のヒール部のはんだ付け部分に照明３より斜め上方から
光を照射し、リード側面方向の斜め上方に取り付けられ
たカメラ４により画像の取り込みを行う。ヒール部はん
だ付け部分からのカメラに入射する反射光の総和により
ヒール部のはんだ付け状態の良否判定を行う。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はＴＡＢはんだ付検査装置
に関し、特にプリント基板にはんだ付けされたＴＡＢの
はんだ付け状態を検査するはんだ付け検査装置に関す
る。
に関し、特にプリント基板にはんだ付けされたＴＡＢの
はんだ付け状態を検査するはんだ付け検査装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】従来のはんだ付け検査装置の技術として
は、例えば特公昭６１−２３５０６７号公報に示されて
いる「多足電子部品の半田付け部外観検査装置」に記載
されているものがあった。
は、例えば特公昭６１−２３５０６７号公報に示されて
いる「多足電子部品の半田付け部外観検査装置」に記載
されているものがあった。
【０００３】図３は従来のはんだ付け検査装置を示すブ
ロック図である。図３のリード１０ははんだ１１よりプ
リント基板にはんで付けされている。照明１２からは照
射光ｇがはんだ１１に照射される。カメラ１２ははんだ
付け部の画像を入力し、判定手段１４へ画像信号ｈを出
力する。判定手段１４では画像信号ｈを入力し、標準画
像メモリ１５から出力される標準画像パターンと重ね合
わせ比較を行いはんだ付け部の良否を判定する。
ロック図である。図３のリード１０ははんだ１１よりプ
リント基板にはんで付けされている。照明１２からは照
射光ｇがはんだ１１に照射される。カメラ１２ははんだ
付け部の画像を入力し、判定手段１４へ画像信号ｈを出
力する。判定手段１４では画像信号ｈを入力し、標準画
像メモリ１５から出力される標準画像パターンと重ね合
わせ比較を行いはんだ付け部の良否を判定する。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のはんだ
付け検査装置はリード先端部のはんだ付け部の画像より
はんだ付け状態の検査を行っていたが、リードとパッド
の接続強度はリード先端部のフィレットの状態よりリー
ドヒール部のフィレットの状態に依存しており、精度よ
くはんだ付け状態の検査ができないという欠点があっ
た。特にリード先端部にははんだフィレットができてい
なくてもリードヒール部にフィレットが正常にできてい
れば接続強度は充分あり良品であるが、リード先端部の
はんだ付け状態により検査を行った場合は欠陥と誤判定
をしてしまう場合があるという欠点があった。
付け検査装置はリード先端部のはんだ付け部の画像より
はんだ付け状態の検査を行っていたが、リードとパッド
の接続強度はリード先端部のフィレットの状態よりリー
ドヒール部のフィレットの状態に依存しており、精度よ
くはんだ付け状態の検査ができないという欠点があっ
た。特にリード先端部にははんだフィレットができてい
なくてもリードヒール部にフィレットが正常にできてい
れば接続強度は充分あり良品であるが、リード先端部の
はんだ付け状態により検査を行った場合は欠陥と誤判定
をしてしまう場合があるという欠点があった。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明のＴＡＢはんだ付
け検査装置は、検査対象はんだ付け部の画像をリード側
面方向から取り込む斜め上方に取り付けられたカメラ
と、検査対象リードヒール部のはんだ付け部に光を照射
し正常なはんだ付け部からの反射光が前記カメラに入射
するようにする照明と、検査領域を記憶する検査領域記
憶回路と、前記カメラより出力される濃淡値画像に前記
検査領域記憶回路に記憶されている検査領域を発生させ
るウィンドウ発生回路と、該ウィンドウ発生回路より出
力される検査領域内の濃淡画像の濃淡値の総和を求める
加算回路と、該加算回路から出力される加算値を基準値
と比較して検査対象はんだ付け部の良否を判定する判定
回路とを含んで構成される。
け検査装置は、検査対象はんだ付け部の画像をリード側
面方向から取り込む斜め上方に取り付けられたカメラ
と、検査対象リードヒール部のはんだ付け部に光を照射
し正常なはんだ付け部からの反射光が前記カメラに入射
するようにする照明と、検査領域を記憶する検査領域記
憶回路と、前記カメラより出力される濃淡値画像に前記
検査領域記憶回路に記憶されている検査領域を発生させ
るウィンドウ発生回路と、該ウィンドウ発生回路より出
力される検査領域内の濃淡画像の濃淡値の総和を求める
加算回路と、該加算回路から出力される加算値を基準値
と比較して検査対象はんだ付け部の良否を判定する判定
回路とを含んで構成される。
【０００６】
【実施例】次に、本発明の実施例について、図面を参照
して詳細に説明する。
して詳細に説明する。
【０００７】図１は本発明の一実施例を示すブロック図
である。図１のリード１はプリント基板上のパッド２に
はんだ付けされている。
である。図１のリード１はプリント基板上のパッド２に
はんだ付けされている。
【０００８】照明３は、検査対象はんだ付け部を斜め上
方より照明する。カメラ４は検査対象はんだ付け部の画
像を取り込み濃淡画像信号ａを出力する。検査ウィドウ
発生回路５では濃淡画像信号ａを入力し検査領域記憶回
路６に記憶されている検査領域信号ｂにより設定される
検査ウィンドウを発生させ、該検査ウィンドウ内の濃淡
画像のみを抽出したウィンドウ内濃淡画像信号ｃを出力
する。
方より照明する。カメラ４は検査対象はんだ付け部の画
像を取り込み濃淡画像信号ａを出力する。検査ウィドウ
発生回路５では濃淡画像信号ａを入力し検査領域記憶回
路６に記憶されている検査領域信号ｂにより設定される
検査ウィンドウを発生させ、該検査ウィンドウ内の濃淡
画像のみを抽出したウィンドウ内濃淡画像信号ｃを出力
する。
【０００９】加算回路７は、ウィンドウ内濃淡画像信号
ｄを入力し濃淡値をすべて足し込み加算値を得、該加算
値に応じた加算値信号ｄを判定回路８に出力する。判定
回路８では、あらかじめ設定された基準値と入力された
加算値とを比較し、加算値のほうが大きければはんだ付
け検査合格と判定する。
ｄを入力し濃淡値をすべて足し込み加算値を得、該加算
値に応じた加算値信号ｄを判定回路８に出力する。判定
回路８では、あらかじめ設定された基準値と入力された
加算値とを比較し、加算値のほうが大きければはんだ付
け検査合格と判定する。
【００１０】次に図２を用いて、本発明の原理を説明す
る。カメラ４はリード１の側面方向にリードヒール部の
はんだ付け部が写るように斜めに取り付けておき、照明
３は正常なはんだ付け部からの反射光ｆが、カメラ４に
入射するように取り付けておく。
る。カメラ４はリード１の側面方向にリードヒール部の
はんだ付け部が写るように斜めに取り付けておき、照明
３は正常なはんだ付け部からの反射光ｆが、カメラ４に
入射するように取り付けておく。
【００１１】図２（ａ）は正常にはんだ付けが行われて
いる場合である。はんだ付け部に照射された照射光ｅ
は、はんだ付けが正常に行われていてフィレットが形成
されている場合、鏡面状になったはんだフィレットの表
面で正反射し反射光ｆはカメラ４に入射し、濃淡画像信
号ａのはんだ付け部は明るくなる。図２（ｂ）は、はん
だ付けが正常に行われていない場合であり、はんだ付け
部への照射光ｅはフィレットがないためリードまたはパ
ッドで乱反射し、反射光ｆ’は散乱光となるため濃淡画
像信号ａ’のはんだ付け部は暗くなる。
いる場合である。はんだ付け部に照射された照射光ｅ
は、はんだ付けが正常に行われていてフィレットが形成
されている場合、鏡面状になったはんだフィレットの表
面で正反射し反射光ｆはカメラ４に入射し、濃淡画像信
号ａのはんだ付け部は明るくなる。図２（ｂ）は、はん
だ付けが正常に行われていない場合であり、はんだ付け
部への照射光ｅはフィレットがないためリードまたはパ
ッドで乱反射し、反射光ｆ’は散乱光となるため濃淡画
像信号ａ’のはんだ付け部は暗くなる。
【００１２】従って、正常にはんだ付けが行われている
場合の加算値と、はんだ付けが正常に行われていない場
合の加算値の間に判定回路８で用いる基準値を設定して
おけば、はんだ付けが正常に行われているかどうか区別
することができる。
場合の加算値と、はんだ付けが正常に行われていない場
合の加算値の間に判定回路８で用いる基準値を設定して
おけば、はんだ付けが正常に行われているかどうか区別
することができる。
【００１３】
【発明の効果】本発明のＴＡＢはんだ付け検査装置は、
リード先端のはんだ形状により検査を行うかわりにリー
ドヒール部のはんだフィレットの状態により検査を行う
ので精度よく検査を行うことができるという効果があ
る。
リード先端のはんだ形状により検査を行うかわりにリー
ドヒール部のはんだフィレットの状態により検査を行う
ので精度よく検査を行うことができるという効果があ
る。
【図１】本発明の一実施例を示すブロック図である。
【図２】図１に示す実施例の原理を説明するための説明
図である。
図である。
【図３】従来のＴＡＢはんだ付け検査装置のブロック図
である。
である。
１ リード ２ パッド ３ 照明 ４ カメラ ５ 検査ウィンドウ発生回路 ６ 検査領域記憶回路 ７ 加算回路 ８ 判定回路 １０ リード １１ はんだ １２ 照明 １３ カメラ １４ 判定手段 １５ 標準画像メモリ ａ，ａ’ 濃淡画像信号 ｂ 検査領域信号 ｃ 検査ウィンドウ内濃淡画像信号 ｄ 第一の検査領域信号 ｅ，ｅ’ 照射光 ｆ，ｆ’ 反射光 ｇ 照射光 ｈ 画像信号
Claims (1)
- 【請求項１】 検査対象はんだ付け部の画像をリード側
面方向から取り込む斜め上方に取り付けられたカメラ
と、検査対象リードヒール部のはんだ付け部に光を照射
し正常なはんだ付け部からの反射光が前記カメラに入射
するようにする照明と、検査領域を記憶する検査領域記
憶回路と、前記カメラより出力される濃淡値画像に前記
検査領域記憶回路に記憶されている検査領域を発生させ
るウィンドウ発生回路と、該ウィンドウ発生回路より出
力される検査領域内の濃淡画像の濃淡値の総和を求める
加算回路と、該加算回路から出力される加算値を基準値
と比較して検査対象はんだ付け部の良否を判定する判定
回路とを含むことを特徴とするＴＡＢはんだ付け検査装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26576191A JPH05109858A (ja) | 1991-10-15 | 1991-10-15 | Ｔａｂはんだ付け検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26576191A JPH05109858A (ja) | 1991-10-15 | 1991-10-15 | Ｔａｂはんだ付け検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05109858A true JPH05109858A (ja) | 1993-04-30 |
Family
ID=17421655
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26576191A Pending JPH05109858A (ja) | 1991-10-15 | 1991-10-15 | Ｔａｂはんだ付け検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05109858A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103487440A (zh) * | 2013-08-28 | 2014-01-01 | 东莞市三瑞自动化科技有限公司 | 一种基于机器视觉的电池极耳检测方法及其检测系统 |
| CN110064843A (zh) * | 2019-04-25 | 2019-07-30 | 大族激光科技产业集团股份有限公司 | 一种电池极耳的激光焊接系统及方法 |
| WO2021169335A1 (zh) * | 2020-02-25 | 2021-09-02 | 华南理工大学 | 一种锂电池极耳激光焊点视觉在线检测方法 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01260586A (ja) * | 1988-04-12 | 1989-10-17 | Omron Tateisi Electron Co | 基板検査装置 |
| JPH0392751A (ja) * | 1989-09-05 | 1991-04-17 | Fujitsu Ltd | 電子部品のはんだ接合状態の検査方法 |
| JPH03219653A (ja) * | 1990-01-24 | 1991-09-27 | Sharp Corp | 実装部品検査装置 |
-
1991
- 1991-10-15 JP JP26576191A patent/JPH05109858A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01260586A (ja) * | 1988-04-12 | 1989-10-17 | Omron Tateisi Electron Co | 基板検査装置 |
| JPH0392751A (ja) * | 1989-09-05 | 1991-04-17 | Fujitsu Ltd | 電子部品のはんだ接合状態の検査方法 |
| JPH03219653A (ja) * | 1990-01-24 | 1991-09-27 | Sharp Corp | 実装部品検査装置 |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103487440A (zh) * | 2013-08-28 | 2014-01-01 | 东莞市三瑞自动化科技有限公司 | 一种基于机器视觉的电池极耳检测方法及其检测系统 |
| CN103487440B (zh) * | 2013-08-28 | 2015-11-18 | 东莞市三瑞自动化科技有限公司 | 一种基于机器视觉的电池极耳检测方法及其检测系统 |
| CN110064843A (zh) * | 2019-04-25 | 2019-07-30 | 大族激光科技产业集团股份有限公司 | 一种电池极耳的激光焊接系统及方法 |
| CN110064843B (zh) * | 2019-04-25 | 2020-12-25 | 大族激光科技产业集团股份有限公司 | 一种电池极耳的激光焊接系统及方法 |
| WO2021169335A1 (zh) * | 2020-02-25 | 2021-09-02 | 华南理工大学 | 一种锂电池极耳激光焊点视觉在线检测方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19980120 |