JPH05240615A - チップ部品接着剤はみだし検査装置 - Google Patents
チップ部品接着剤はみだし検査装置Info
- Publication number
- JPH05240615A JPH05240615A JP4009608A JP960892A JPH05240615A JP H05240615 A JPH05240615 A JP H05240615A JP 4009608 A JP4009608 A JP 4009608A JP 960892 A JP960892 A JP 960892A JP H05240615 A JPH05240615 A JP H05240615A
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- JP
- Japan
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- circuit
- area
- inspection area
- inspection
- inspecting
- Prior art date
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Abstract
(57)【要約】
【目的】チップ部品からはみだした接着剤の検査を精度
よく検出する。 【構成】検査領域発生回路７では、二値化画像信号ｂを
入力し検査領域記憶回路８に記憶されている記憶検査領
域信号ｃにより設定される検査対象部品のパッド上の接
着剤はみだし禁止領域に検査領域を発生させ、該検査領
域内の二値化画像のみを抽出した検査領域内二値化画像
信号ｄを出力する。計測回路９では、検査領域内二値化
画像信号ｄを入力し、" ０" の数を計測し計測値信号ｅ
を判定回路１０に出力する。判定回路１０では、あらか
じめ設定された基準値と入力された計測値とを比較し、
計測値のほうが大きければ縦ずれ欠陥と判定する。
よく検出する。 【構成】検査領域発生回路７では、二値化画像信号ｂを
入力し検査領域記憶回路８に記憶されている記憶検査領
域信号ｃにより設定される検査対象部品のパッド上の接
着剤はみだし禁止領域に検査領域を発生させ、該検査領
域内の二値化画像のみを抽出した検査領域内二値化画像
信号ｄを出力する。計測回路９では、検査領域内二値化
画像信号ｄを入力し、" ０" の数を計測し計測値信号ｅ
を判定回路１０に出力する。判定回路１０では、あらか
じめ設定された基準値と入力された計測値とを比較し、
計測値のほうが大きければ縦ずれ欠陥と判定する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はチップ部品接着剤はみだ
し検査装置に関する。
し検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来のチップ部品接着剤はみだし検査は
目視により行われていた。
目視により行われていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の技術
は、作業者により判定基準にばらつきができたり、作業
者の疲労により見逃しが発生するという欠点があった。
は、作業者により判定基準にばらつきができたり、作業
者の疲労により見逃しが発生するという欠点があった。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明のチップ部品接着
剤はみだし検査装置は、検査対象部品に上方から光を照
射する照明と、検査対象部品の画像を取り込む上方に取
り付けられたカメラと、該カメラから取り込んだ濃淡画
像の明るい部分は”１”に、暗い部分は”０”の二値化
画像に変換する二値化回路と、検査対象部品のパッド上
の接着剤はみだし禁止領域に発生させる検査領域を記憶
する検査領域記憶回路と、前記二値化回路より出力され
る二値化画像に前記検査領域記憶回路に記憶されている
検査領域を発生させる検査領域発生回路と、該検査領域
発生回路より出力される検査領域内二値化画像信号よ
り、前記検査領域内のパッドからの反射光のない”０”
のエリアを検出し、”０”の数を計測する計測回路と、
該計測回路より出力される計測値があらかじめ設定した
判定値より大きければ欠陥と判定する判定回路とを含ん
で構成される。
剤はみだし検査装置は、検査対象部品に上方から光を照
射する照明と、検査対象部品の画像を取り込む上方に取
り付けられたカメラと、該カメラから取り込んだ濃淡画
像の明るい部分は”１”に、暗い部分は”０”の二値化
画像に変換する二値化回路と、検査対象部品のパッド上
の接着剤はみだし禁止領域に発生させる検査領域を記憶
する検査領域記憶回路と、前記二値化回路より出力され
る二値化画像に前記検査領域記憶回路に記憶されている
検査領域を発生させる検査領域発生回路と、該検査領域
発生回路より出力される検査領域内二値化画像信号よ
り、前記検査領域内のパッドからの反射光のない”０”
のエリアを検出し、”０”の数を計測する計測回路と、
該計測回路より出力される計測値があらかじめ設定した
判定値より大きければ欠陥と判定する判定回路とを含ん
で構成される。
【０００５】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して詳細に
説明する。
説明する。
【０００６】図１は本発明の一実施例を示すブロック図
である。チップ部品１は電極２がパッド３上に実装され
ている。照明４は、検査対象チップ部品を斜め上方より
照明する。カメラ５は検査対象チップ部品の画像を取り
込み濃淡画像信号ａを出力する。二値化回路６は濃淡画
像信号ａを入力しあらかじめ設定した二値化レベルによ
り明るい部分に対応した" １" と暗い部分に対応した"
０" に変換し、二値化画像信号ｂを出力する。検査領域
発生回路７では、二値化画像信号ｂを入力し検査領域記
憶回路８に記憶されている記憶検査領域信号ｃにより設
定される検査対象部品のパッド上の接着剤はみだし禁止
領域に検査領域を発生させ、該検査領域内の二値化画像
のみを抽出した検査領域内二値化画像信号ｄを出力す
る。計測回路９では、検査領域内二値化画像信号ｄを入
力し、" ０" の数を計測し計測値信号ｅを判定回路１０
に出力する。判定回路１０では、あらかじめ設定された
基準値と入力された計測値とを比較し、計測値のほうが
大きければ縦ずれ欠陥と判定する。
である。チップ部品１は電極２がパッド３上に実装され
ている。照明４は、検査対象チップ部品を斜め上方より
照明する。カメラ５は検査対象チップ部品の画像を取り
込み濃淡画像信号ａを出力する。二値化回路６は濃淡画
像信号ａを入力しあらかじめ設定した二値化レベルによ
り明るい部分に対応した" １" と暗い部分に対応した"
０" に変換し、二値化画像信号ｂを出力する。検査領域
発生回路７では、二値化画像信号ｂを入力し検査領域記
憶回路８に記憶されている記憶検査領域信号ｃにより設
定される検査対象部品のパッド上の接着剤はみだし禁止
領域に検査領域を発生させ、該検査領域内の二値化画像
のみを抽出した検査領域内二値化画像信号ｄを出力す
る。計測回路９では、検査領域内二値化画像信号ｄを入
力し、" ０" の数を計測し計測値信号ｅを判定回路１０
に出力する。判定回路１０では、あらかじめ設定された
基準値と入力された計測値とを比較し、計測値のほうが
大きければ縦ずれ欠陥と判定する。
【０００７】図２（ａ），（ｂ）は本発明の原理を説明
する上面図である。図２（ａ）のチップ部品１１の電極
１２，１２ａはパッド１３，１３ａ上に実装されてい
る。接着剤のはみだし禁止領域に発生させた検査領域１
４，１４ａ内には、はみだした接着剤がないため検査領
域１４，１４ａ内は全てパッド１３，１３ａからの強い
反射光による”１”の領域となり、計測値は０となる。
図２（ｂ）のチップ部品１５の電極１６，１６ａはパッ
ド１７，１７ａ上に実装されている。検査領域１８，１
８ａ内には、チップ部品１５からはみだした接着剤の領
域が含まれる。接着剤はパッドに比べ反射率が低いため
反射光は弱く、接着剤からの反射光は”０”でパッドか
らの反射光は”１”になるように二値化回路６の二値化
レベルを設定しておく。したがって検査領域１８，１８
ａ内には、はみだした接着剤の”０”の領域１９，１９
ａが含まれ、”０”の面積が計測値となる。接着剤のは
みだし許容限界面積値を判定値に設定しておくことで接
着剤はみだし欠陥の検査を行うことができる。
する上面図である。図２（ａ）のチップ部品１１の電極
１２，１２ａはパッド１３，１３ａ上に実装されてい
る。接着剤のはみだし禁止領域に発生させた検査領域１
４，１４ａ内には、はみだした接着剤がないため検査領
域１４，１４ａ内は全てパッド１３，１３ａからの強い
反射光による”１”の領域となり、計測値は０となる。
図２（ｂ）のチップ部品１５の電極１６，１６ａはパッ
ド１７，１７ａ上に実装されている。検査領域１８，１
８ａ内には、チップ部品１５からはみだした接着剤の領
域が含まれる。接着剤はパッドに比べ反射率が低いため
反射光は弱く、接着剤からの反射光は”０”でパッドか
らの反射光は”１”になるように二値化回路６の二値化
レベルを設定しておく。したがって検査領域１８，１８
ａ内には、はみだした接着剤の”０”の領域１９，１９
ａが含まれ、”０”の面積が計測値となる。接着剤のは
みだし許容限界面積値を判定値に設定しておくことで接
着剤はみだし欠陥の検査を行うことができる。
【０００８】
【発明の効果】本発明のチップ部品接着剤はみだし検査
装置は、目視により検査していたかわりに、パッド上に
チップ部品からはみだした接着剤の面積により検査を行
うので定量的に精度よく検査できかつ検査工程の自動化
が図れるという効果がある。
装置は、目視により検査していたかわりに、パッド上に
チップ部品からはみだした接着剤の面積により検査を行
うので定量的に精度よく検査できかつ検査工程の自動化
が図れるという効果がある。
【図１】本発明の一実施例を示すブロック図である。
【図２】（ａ），（ｂ）は本発明の原理を説明する上面
図である。
図である。
１ チップ部品 ２ 電極 ３ パッド ４ 照明 ５ カメラ ６ 二値化回路 ７ 検査領域発生回路 ８ 検査領域記憶回路 ９ 計測回路 １０ 判定回路 １１ チップ部品 １２，１２ａ 電極 １３，１３ａ パッド １４，１４ａ 検査領域 １５ チップ部品 １６，１６ａ 電極 １７，１７ａ パッド １８，１８ａ 検査領域 ａ 濃淡画像信号 ｂ 二値化画像信号 ｃ 検査領域信号 ｄ 検査領域内二値化画像信号 ｅ 計測値信号
Claims (1)
- 【請求項１】検査対象部品に上方から光を照射する照明
と、検査対象部品の画像を取り込む上方に取り付けられ
たカメラと、該カメラから取り込んだ濃淡画像の明るい
部分は”１”に、暗い部分は”０”の二値化画像に変換
する二値化回路と、検査対象部品のパッド上の接着剤は
みだし禁止領域に発生させる検査領域を記憶する検査領
域記憶回路と、前記二値化回路より出力される二値化画
像に前記検査領域記憶回路に記憶されている検査領域を
発生させる検査領域発生回路と、該検査領域発生回路よ
り出力される検査領域内二値化画像信号より、前記検査
領域内のパッドからの反射光のない”０”のエリアを検
出し、”０”の数を計測する計測回路と、該計測回路よ
り出力される計測値があらかじめ設定した判定値より大
きければ欠陥と判定する判定回路とを含むことを特徴と
するチップ部品接着剤はみだし検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4009608A JPH05240615A (ja) | 1992-01-23 | 1992-01-23 | チップ部品接着剤はみだし検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4009608A JPH05240615A (ja) | 1992-01-23 | 1992-01-23 | チップ部品接着剤はみだし検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05240615A true JPH05240615A (ja) | 1993-09-17 |
Family
ID=11725016
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4009608A Withdrawn JPH05240615A (ja) | 1992-01-23 | 1992-01-23 | チップ部品接着剤はみだし検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05240615A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008216140A (ja) * | 2007-03-06 | 2008-09-18 | Fuji Mach Mfg Co Ltd | 電子部品装着装置における転写材転写検査方法 |
-
1992
- 1992-01-23 JP JP4009608A patent/JPH05240615A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008216140A (ja) * | 2007-03-06 | 2008-09-18 | Fuji Mach Mfg Co Ltd | 電子部品装着装置における転写材転写検査方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19990408 |