JPH0128539B2 - - Google Patents
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- JPH0128539B2 JPH0128539B2 JP55075133A JP7513380A JPH0128539B2 JP H0128539 B2 JPH0128539 B2 JP H0128539B2 JP 55075133 A JP55075133 A JP 55075133A JP 7513380 A JP7513380 A JP 7513380A JP H0128539 B2 JPH0128539 B2 JP H0128539B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- signal
- output
- pulse
- detection circuit
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 33
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 7
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 5
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000003909 pattern recognition Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
- H03K5/125—Discriminating pulses
- H03K5/1252—Suppression or limitation of noise or interference
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Manipulation Of Pulses (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は２値化回路に関し、具体的には背景レ
ベルに重畳された信号成分のなかから所望の極性
を有する峻鋭な信号成分のみを正確に２値化する
２値化回路に関するものである。
ベルに重畳された信号成分のなかから所望の極性
を有する峻鋭な信号成分のみを正確に２値化する
２値化回路に関するものである。
一般にパターン認識等の分野においては、入力
信号に含まれる信号成分のうち所望の極性を有す
る峻鋭な信号成分のみを検出して処理を進めたい
場合がある。例えば、被検査対象物をITV等の
撮像装置で撮像して得た撮像信号を処理して、そ
の被検査対象物の外観検査を実施する場合などが
その好例である。
信号に含まれる信号成分のうち所望の極性を有す
る峻鋭な信号成分のみを検出して処理を進めたい
場合がある。例えば、被検査対象物をITV等の
撮像装置で撮像して得た撮像信号を処理して、そ
の被検査対象物の外観検査を実施する場合などが
その好例である。
即ち、この種の外観検査において例えば被検査
対象物に付着した汚れなどの黒疵を主体に検査す
る場合、その処理は、例えば第１図Ａに示すよう
に撮像信号１０の背景レベル１１に重畳された低
レベルの信号成分１２（黒疵は反射率が小さいの
で低レベルの信号成分となつて表われる）を検出
することにより行なわれる。そしてこの検出の為
の従来の２値化方式は高精度で安定した検出が可
能なように、一般的には例えば第２図に示すよう
に、撮像信号１０を遅延回路２０で遅延した例え
ば第１図Ｂに示すような信号１３と撮像信号１０
とを加算器２１で図示の如き極性で加算して例え
ば第１図Ｃに示すような微分信号１４を生成し、
この微分信号１４と例えば第１図Ｃの直線１５で
示すような固定閾値とを比較回路２２で比較して
２値化することにより、例えば第１図Ｄに示すよ
うな２値化信号１６を得ている。
対象物に付着した汚れなどの黒疵を主体に検査す
る場合、その処理は、例えば第１図Ａに示すよう
に撮像信号１０の背景レベル１１に重畳された低
レベルの信号成分１２（黒疵は反射率が小さいの
で低レベルの信号成分となつて表われる）を検出
することにより行なわれる。そしてこの検出の為
の従来の２値化方式は高精度で安定した検出が可
能なように、一般的には例えば第２図に示すよう
に、撮像信号１０を遅延回路２０で遅延した例え
ば第１図Ｂに示すような信号１３と撮像信号１０
とを加算器２１で図示の如き極性で加算して例え
ば第１図Ｃに示すような微分信号１４を生成し、
この微分信号１４と例えば第１図Ｃの直線１５で
示すような固定閾値とを比較回路２２で比較して
２値化することにより、例えば第１図Ｄに示すよ
うな２値化信号１６を得ている。
しかしながら、被検査対象物の形状によつて
は、例えば球状部分を有する場合など照明光がそ
の部分で正反射して輝点を生ずることがあり、そ
の場合撮像信号は欠陥がないのにも拘らず例えば
第１図A′に示すように高レベルの信号成分１７
を含むものとなる。従つて、従来の２値化方式で
はその微分信号１４′は例えば第１図C′に示すも
のとなり、黒疵の微分信号１４と類似の波形にな
るから、固定閾値１５によつて第１図D′に示す
ように２値化されてしまい、誤検出することにな
る。この場合、例えば第１図Ａ，A′の直線１８
に示すような固定閾値と撮像信号１０とを直接比
較して２値化を行なえば、理論的には黒疵に対応
する信号成分のみの２値化が可能になるが、微分
処理を施さないので高精度な２値化が困難にな
る。そこで、従来においては被検査対象物の形状
によつて輝点が生じ易い場合には拡散照明を採用
する等の工夫を施して、輝点が発生しないように
処理して行なつているが、欠陥の種類によつては
輝点が生ずるほどの照明でなければ黒疵として抽
出できないものがあり、従つて拡散照明を採用す
ると欠陥検出精度つまり２値化精度が低下する欠
点がある。もし、この場合、背景レベルに重畳さ
れた信号成分のなかから緒望の極性を有する峻鋭
な信号成分のみを高精度に２値化することができ
れば、輝点を疵として検出することがなくなり、
また輝点が発生しても良いから照明の自由度が高
まつて、正確な欠陥検出が可能になると思われ
る。
は、例えば球状部分を有する場合など照明光がそ
の部分で正反射して輝点を生ずることがあり、そ
の場合撮像信号は欠陥がないのにも拘らず例えば
第１図A′に示すように高レベルの信号成分１７
を含むものとなる。従つて、従来の２値化方式で
はその微分信号１４′は例えば第１図C′に示すも
のとなり、黒疵の微分信号１４と類似の波形にな
るから、固定閾値１５によつて第１図D′に示す
ように２値化されてしまい、誤検出することにな
る。この場合、例えば第１図Ａ，A′の直線１８
に示すような固定閾値と撮像信号１０とを直接比
較して２値化を行なえば、理論的には黒疵に対応
する信号成分のみの２値化が可能になるが、微分
処理を施さないので高精度な２値化が困難にな
る。そこで、従来においては被検査対象物の形状
によつて輝点が生じ易い場合には拡散照明を採用
する等の工夫を施して、輝点が発生しないように
処理して行なつているが、欠陥の種類によつては
輝点が生ずるほどの照明でなければ黒疵として抽
出できないものがあり、従つて拡散照明を採用す
ると欠陥検出精度つまり２値化精度が低下する欠
点がある。もし、この場合、背景レベルに重畳さ
れた信号成分のなかから緒望の極性を有する峻鋭
な信号成分のみを高精度に２値化することができ
れば、輝点を疵として検出することがなくなり、
また輝点が発生しても良いから照明の自由度が高
まつて、正確な欠陥検出が可能になると思われ
る。
本発明はこのような事情に鑑みて為されたもの
であり、その目的は、入力信号の背景レベルに重
畳された信号成分のうち所望の極性を有する峻鋭
な信号成分のみを正確に２値化することができる
２値化回路を提供することにある。本発明は、背
景レベルより低いレベルとして表われる峻鋭な信
号成分の微分信号は負パルスとその直後の正パル
スから成り、逆に背景レベルより高レベルとして
表われる峻鋭な信号成分の微分信号は正パルスと
その直後の負パルスから成ることに着目し、その
正パルス、負パルスから成ることに着目し、その
正パルス、負パルスの発生順序の相違を利用して
所望極性の峻鋭な信号成分のみを２値化するよう
にしたもので、以下実施例について詳細に説明す
る。
であり、その目的は、入力信号の背景レベルに重
畳された信号成分のうち所望の極性を有する峻鋭
な信号成分のみを正確に２値化することができる
２値化回路を提供することにある。本発明は、背
景レベルより低いレベルとして表われる峻鋭な信
号成分の微分信号は負パルスとその直後の正パル
スから成り、逆に背景レベルより高レベルとして
表われる峻鋭な信号成分の微分信号は正パルスと
その直後の負パルスから成ることに着目し、その
正パルス、負パルスから成ることに着目し、その
正パルス、負パルスの発生順序の相違を利用して
所望極性の峻鋭な信号成分のみを２値化するよう
にしたもので、以下実施例について詳細に説明す
る。
第３図は本発明の実施例を表わすブロツク図で
あり、３０は遅延回路、３１は加算器、３２は正
パルス検出回路、３３は負パルス検出回路、３４
は単安定マルチバイブレータ、３５はアンド回
路、ａ〜ｆは各部の信号を示す。また第４図及び
第５図は第３図示回路を動作させた場合における
信号ａ〜ｆのそれぞれ異なる波形例を示す線図で
ある。
あり、３０は遅延回路、３１は加算器、３２は正
パルス検出回路、３３は負パルス検出回路、３４
は単安定マルチバイブレータ、３５はアンド回
路、ａ〜ｆは各部の信号を示す。また第４図及び
第５図は第３図示回路を動作させた場合における
信号ａ〜ｆのそれぞれ異なる波形例を示す線図で
ある。
第３図において、遅延回路３０及び加算器３１
は微分回路を構成し、入力信号ａが例えば第４図
Ａに示すような信号であるとき例えば同図Ｂに示
すよな微分信号ｂを第１のパルス検出回路である
正パルス検出回路３２及び第２のパルス検出回路
である負パルス検出回路３３に出力する。なお、
微分回路の構成はこれ以上に各種のものを採用す
ることが可能である。正パルス検出回路３２は、
微分信号ｂと正の閾値V1とを比較して微分信号
ｂが閾値V1より大きい間例えば第４図Ｃに示す
ようにその出力を“１”にするもので、その出力
ｃはアンド回路３５の一方の入力端子に加えられ
る。また、負パルス検出回路３３は、微分信号ｂ
と負の閾値V2とを比較して微分信号ｂが閾値V2
より小さい間例えば第４図Ｄに示すようにその出
力を“１”にするもので、その出力ｄは単安定マ
ルチバイブレータ３４に加えられる。
は微分回路を構成し、入力信号ａが例えば第４図
Ａに示すような信号であるとき例えば同図Ｂに示
すよな微分信号ｂを第１のパルス検出回路である
正パルス検出回路３２及び第２のパルス検出回路
である負パルス検出回路３３に出力する。なお、
微分回路の構成はこれ以上に各種のものを採用す
ることが可能である。正パルス検出回路３２は、
微分信号ｂと正の閾値V1とを比較して微分信号
ｂが閾値V1より大きい間例えば第４図Ｃに示す
ようにその出力を“１”にするもので、その出力
ｃはアンド回路３５の一方の入力端子に加えられ
る。また、負パルス検出回路３３は、微分信号ｂ
と負の閾値V2とを比較して微分信号ｂが閾値V2
より小さい間例えば第４図Ｄに示すようにその出
力を“１”にするもので、その出力ｄは単安定マ
ルチバイブレータ３４に加えられる。
単安定マルチバイブレータ３４は、出力信号ｄ
によつてトリガされ例えば第４図Ｅに示すような
所定周期Ｔのパルス信号ｅを発生し、これをアン
ド回路３５の他方の入力端子に加えるものであ
り、アンド回路３５はパルス信号ｅと一方の入力
端子に加わる信号ｃとの論理積をとる。本動作例
のように入力信号ａが背景レベルより低レベルな
峻鋭な信号成分４０を含む場合には、その微分信
号ｂは負パルスとその直後の正パルスとから成る
ので、先ず負パルスが負パルス検出回路３３で検
出され、単安定マルチバイブレータ３４の動作が
開始されから、正パルスが正パルス検出回路３２
で検出されることになる。従つて、単安定マルチ
バイブレータ３４の出力が“１”の期間内に正パ
ルス検出信号ｃが“１”になるので、アンド回路
３５の出力ｆは例えば第４図Ｆに示すように
“１”となる。
によつてトリガされ例えば第４図Ｅに示すような
所定周期Ｔのパルス信号ｅを発生し、これをアン
ド回路３５の他方の入力端子に加えるものであ
り、アンド回路３５はパルス信号ｅと一方の入力
端子に加わる信号ｃとの論理積をとる。本動作例
のように入力信号ａが背景レベルより低レベルな
峻鋭な信号成分４０を含む場合には、その微分信
号ｂは負パルスとその直後の正パルスとから成る
ので、先ず負パルスが負パルス検出回路３３で検
出され、単安定マルチバイブレータ３４の動作が
開始されから、正パルスが正パルス検出回路３２
で検出されることになる。従つて、単安定マルチ
バイブレータ３４の出力が“１”の期間内に正パ
ルス検出信号ｃが“１”になるので、アンド回路
３５の出力ｆは例えば第４図Ｆに示すように
“１”となる。
しかし、入力信号ａが例えば第５図Ａに示すよ
うに背景レベルより高レベルな峻鋭な信号成分４
１を含む場合には、その微分信号ｂは例えば第５
図Ｂに示すように正パルスとその直後の負パルス
とから成るから、同図Ｃ〜Ｅに示すように先ず正
パルスが正パルス検出回路３２で検出され、その
後負パルスが負パルス検出回路３３で検出されて
単安定マルチバイブレータ３４がトリガされるこ
とになる。従つて、この場合には単安定マルチバ
イブレータ３４の出力ｅが“１”になつた時点で
既に正パルス検出信号ｃは“０”に戻つているの
で、アンド回路３５の出力ｆは第５図Ｆに示すよ
うに“１”になることはない。
うに背景レベルより高レベルな峻鋭な信号成分４
１を含む場合には、その微分信号ｂは例えば第５
図Ｂに示すように正パルスとその直後の負パルス
とから成るから、同図Ｃ〜Ｅに示すように先ず正
パルスが正パルス検出回路３２で検出され、その
後負パルスが負パルス検出回路３３で検出されて
単安定マルチバイブレータ３４がトリガされるこ
とになる。従つて、この場合には単安定マルチバ
イブレータ３４の出力ｅが“１”になつた時点で
既に正パルス検出信号ｃは“０”に戻つているの
で、アンド回路３５の出力ｆは第５図Ｆに示すよ
うに“１”になることはない。
このように本実施例に依れば、入力信号の背景
レベルに重畳された信号成分のうち、負の極性を
有する信号成分つまり背景レベルより低レベルな
峻鋭な信号成分のみを２値化することが可能にな
る。またその２値化は、入力信号を微分処理して
行なつているので高精度なものとなる。従つて、
本実施例を例えば外観検査装置の疵検出回路に適
用すれば、輝点の影響を受けずに黒疵を高い精度
で検出することができ非常に有効である。なお、
第３図示回路において、負パルス検出回路３３と
アンド回路３４間に挿入された単安定マルチバイ
ブレータ３４を取除いて、これを正パルス検出回
路３２とアンド回路３４間に挿入する構成にすれ
ば、入力信号に含まれる正の極性を有する峻鋭な
信号成分のみの２値化が可能となり、外観検査に
適用する場合には、白色の疵や輝点のみの検出を
行なうことができる。
レベルに重畳された信号成分のうち、負の極性を
有する信号成分つまり背景レベルより低レベルな
峻鋭な信号成分のみを２値化することが可能にな
る。またその２値化は、入力信号を微分処理して
行なつているので高精度なものとなる。従つて、
本実施例を例えば外観検査装置の疵検出回路に適
用すれば、輝点の影響を受けずに黒疵を高い精度
で検出することができ非常に有効である。なお、
第３図示回路において、負パルス検出回路３３と
アンド回路３４間に挿入された単安定マルチバイ
ブレータ３４を取除いて、これを正パルス検出回
路３２とアンド回路３４間に挿入する構成にすれ
ば、入力信号に含まれる正の極性を有する峻鋭な
信号成分のみの２値化が可能となり、外観検査に
適用する場合には、白色の疵や輝点のみの検出を
行なうことができる。
以上説明したように、本発明は、入力信号を微
分する微分回路と、該微分回路出力に含まれるパ
ルスであつて前記入力信号の背景レベルに重畳さ
れた検出希望の信号成分と逆極性のものを検出す
る一のパルス検出回路と、前記微分回路出力に含
まれるパルスであつて前記検出希望の信号成分と
同極性のものを検出する別のパルス検出回路と、
該別のパルス検出回路の検出出力でトリガされ所
定周期のパルス信号を出力する単安定マルチバイ
ブレータと、該単安定マルチバイブレータ出力と
前記一のパルス検出回路出力との論理積をとるア
ンド回路とから構成されるものであり、所望極性
の峻鋭な信号成分のみの正確な２値化が可能にな
る。従つて、例えば外観検査装置の疵検出回路に
適用すれば、輝点による誤検出を防止することが
できると共に、輝点が発生しても良いから黒疵又
は特徴を抽出する効果的な照明方法を採用するこ
とができ、疵検出精度を高めることができる効果
がる。なお、本発明は先の実施例のみに限定され
ず、その他各種付加変更し得るものである。
分する微分回路と、該微分回路出力に含まれるパ
ルスであつて前記入力信号の背景レベルに重畳さ
れた検出希望の信号成分と逆極性のものを検出す
る一のパルス検出回路と、前記微分回路出力に含
まれるパルスであつて前記検出希望の信号成分と
同極性のものを検出する別のパルス検出回路と、
該別のパルス検出回路の検出出力でトリガされ所
定周期のパルス信号を出力する単安定マルチバイ
ブレータと、該単安定マルチバイブレータ出力と
前記一のパルス検出回路出力との論理積をとるア
ンド回路とから構成されるものであり、所望極性
の峻鋭な信号成分のみの正確な２値化が可能にな
る。従つて、例えば外観検査装置の疵検出回路に
適用すれば、輝点による誤検出を防止することが
できると共に、輝点が発生しても良いから黒疵又
は特徴を抽出する効果的な照明方法を採用するこ
とができ、疵検出精度を高めることができる効果
がる。なお、本発明は先の実施例のみに限定され
ず、その他各種付加変更し得るものである。
第１図及び第２図は従来の２値化回路の説明
図、第３図は本発明の実施例を表わすブロツク
図、第４図及び第５図は第３図示回路を動作させ
た場合における各部の信号波形例を示す線図であ
る。 ３０は遅延回路、３１は加算器、３２は正パル
ス検出回路、３３は負パルス検出回路、３４は単
安定マルチバイブレータ、３５はアンド回路であ
る。
図、第３図は本発明の実施例を表わすブロツク
図、第４図及び第５図は第３図示回路を動作させ
た場合における各部の信号波形例を示す線図であ
る。 ３０は遅延回路、３１は加算器、３２は正パル
ス検出回路、３３は負パルス検出回路、３４は単
安定マルチバイブレータ、３５はアンド回路であ
る。
Claims (1)
- １ 入力信号を微分する微分回路と、該微分回路
出力に含まれるパルスであつて前記入力信号の背
景レベルに重畳された信号成分と逆極性のものを
検出する第一のパルス検出回路と、前記微分回路
出力に含まれるパルスであつて前記信号成分と同
極性のものを検出する第二のパルス検出回路と、
該第二のパルス検出回路の検出出力でトリガされ
所定周期のパルス信号を出力する単安定マルチバ
イブレータと、該単安定マルチバイブレータ出力
と前記第一のパルス検出回路出力との論理積をと
るアンド回路とを具備したことを特徴とする２値
化回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7513380A JPS572119A (en) | 1980-06-04 | 1980-06-04 | Binary coding circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7513380A JPS572119A (en) | 1980-06-04 | 1980-06-04 | Binary coding circuit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS572119A JPS572119A (en) | 1982-01-07 |
| JPH0128539B2 true JPH0128539B2 (ja) | 1989-06-02 |
Family
ID=13567381
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7513380A Granted JPS572119A (en) | 1980-06-04 | 1980-06-04 | Binary coding circuit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS572119A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6183980U (ja) * | 1984-11-07 | 1986-06-03 | ||
| JPS61133389U (ja) * | 1985-02-07 | 1986-08-20 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5433508U (ja) * | 1977-08-10 | 1979-03-05 |
-
1980
- 1980-06-04 JP JP7513380A patent/JPS572119A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5433508U (ja) * | 1977-08-10 | 1979-03-05 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS572119A (en) | 1982-01-07 |
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