JP2819696B2 - はんだ付検査装置 - Google Patents
はんだ付検査装置Info
- Publication number
- JP2819696B2 JP2819696B2 JP30271089A JP30271089A JP2819696B2 JP 2819696 B2 JP2819696 B2 JP 2819696B2 JP 30271089 A JP30271089 A JP 30271089A JP 30271089 A JP30271089 A JP 30271089A JP 2819696 B2 JP2819696 B2 JP 2819696B2
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- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- inspection
- window
- inspection area
- camera
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明ははんだ付け検査装置、特に、プリント基板に
はんだ付けされたFICのリードのはんだ付け状態を検査
するはんだ付け検査装置に関する。
はんだ付けされたFICのリードのはんだ付け状態を検査
するはんだ付け検査装置に関する。
従来のはんだ付け検査装置は、はんだ付け部に一定の
角度で光を照射する照明部と、はんだ付け部の画像を取
り込むカメラと、該カメラより取り込んだ画像よりはん
だ付け部からの反射光の有無を判定する判定部とを含ん
で構成される。
角度で光を照射する照明部と、はんだ付け部の画像を取
り込むカメラと、該カメラより取り込んだ画像よりはん
だ付け部からの反射光の有無を判定する判定部とを含ん
で構成される。
次に従来のはんだ付け検査装置について図面を参照し
て詳細に説明する。
て詳細に説明する。
第４図の電極20ははんだ21によりはんだ付けされてい
る。照明22からは照射光ｐがはんだ21に照射される。カ
メラ23ははんだ付け部の画像を入力し、判定部24へ画像
信号ｑを出力する。
る。照明22からは照射光ｐがはんだ21に照射される。カ
メラ23ははんだ付け部の画像を入力し、判定部24へ画像
信号ｑを出力する。
判定部24では画像信号ｑを入力し極端に輝度の高い箇
所があるかないかにより照射光ｐの正反射光がカメラ23
に入射しているかどうか判定し、正反射光カメラ23に入
射していると判定した場合は正常，そうでない場合は欠
陥と判定している。
所があるかないかにより照射光ｐの正反射光がカメラ23
に入射しているかどうか判定し、正反射光カメラ23に入
射していると判定した場合は正常，そうでない場合は欠
陥と判定している。
上述した従来のはんだ付け検査装置は、はんだ付け部
の画像よりはんだ付け状態の検査を行っていたが、部品
に位置ずれがあるとはんだ付け部でない部分の画像を取
り込んでしまい、はんだ付け部が精度よく権検査できな
いという欠点があった。
の画像よりはんだ付け状態の検査を行っていたが、部品
に位置ずれがあるとはんだ付け部でない部分の画像を取
り込んでしまい、はんだ付け部が精度よく権検査できな
いという欠点があった。
本発明のはんだ付け検査装置は、検査対象部品に斜め
上方から光を照射する照明と、検査対象部品の画像を取
り込む上方に取り付けられたカメラと、該カメラから取
り込んだ濃淡画像を二値化画像に変換する二値化回路
と、第一の検査領域を記憶する第一の検査領域記憶回路
と、前記二値化回路より出力される二値化画像に前記第
一の検査領域記憶回路に記憶されている第一の検査領域
を発生させる第一のウィンドウ発生回路と、該第一のウ
ィンドウ発生回路より出力されるウィンドウ内二値化画
像より、検査対象部品の位置ずれ量を求める位置ずれ量
検出回路と、第二の検査領域を記憶する第二の検査領域
記憶回路と、前記位置ずれ量検出回路により検出された
位置ずれ量に応じて、前記第二の検査領域記憶回路に記
憶されている第二の検査領域の座標を補正して、前記カ
メラから取り込んだ濃淡画像に補正した第二の検査領域
を発生させる第二のウィンドウ発生回路と、該第二のウ
ィンドウ発生回路より出力されるウィンドウ内濃淡画像
の濃淡値の総和を求める加算回路と、該加算回路から出
力される加算値より検査結果を判定する判定回路とを含
んで構成される。
上方から光を照射する照明と、検査対象部品の画像を取
り込む上方に取り付けられたカメラと、該カメラから取
り込んだ濃淡画像を二値化画像に変換する二値化回路
と、第一の検査領域を記憶する第一の検査領域記憶回路
と、前記二値化回路より出力される二値化画像に前記第
一の検査領域記憶回路に記憶されている第一の検査領域
を発生させる第一のウィンドウ発生回路と、該第一のウ
ィンドウ発生回路より出力されるウィンドウ内二値化画
像より、検査対象部品の位置ずれ量を求める位置ずれ量
検出回路と、第二の検査領域を記憶する第二の検査領域
記憶回路と、前記位置ずれ量検出回路により検出された
位置ずれ量に応じて、前記第二の検査領域記憶回路に記
憶されている第二の検査領域の座標を補正して、前記カ
メラから取り込んだ濃淡画像に補正した第二の検査領域
を発生させる第二のウィンドウ発生回路と、該第二のウ
ィンドウ発生回路より出力されるウィンドウ内濃淡画像
の濃淡値の総和を求める加算回路と、該加算回路から出
力される加算値より検査結果を判定する判定回路とを含
んで構成される。
次に、本発明の実施例について、図面を参照して詳細
に説明する。
に説明する。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図である。
第１図の検査対象部品１のリード２は、プリント基板
３上のパッド４にはんだ５によりはんだ付けされてい
る。
３上のパッド４にはんだ５によりはんだ付けされてい
る。
照明６は検査対象部品を斜め上方より照射光ａにより
照射し、カメラ７は前記検査対象部品からの反射光ｂを
取り込み濃淡画像信号ｃを出力する。
照射し、カメラ７は前記検査対象部品からの反射光ｂを
取り込み濃淡画像信号ｃを出力する。
二値化回路８は前記濃淡画像信号ｃを入力しあらかじ
め設定した二値化レベルにより明るい部分に対応した
“1"と暗い部分に対応した“0"に変換し、二値化画像信
号ｂを出力する。
め設定した二値化レベルにより明るい部分に対応した
“1"と暗い部分に対応した“0"に変換し、二値化画像信
号ｂを出力する。
第一のウィンドウ発生回路９では、前記二値化画像信
号ｄを入力し第一の検査領域記憶回路10に記憶されてい
る第一の検査領域信号ｅにより設定される検査ウィンド
ウを発生させ、該検査ウィンドウ内の二値化画像のみを
抽出したウィンドウ内二値化画像信号ｆを出力する。
号ｄを入力し第一の検査領域記憶回路10に記憶されてい
る第一の検査領域信号ｅにより設定される検査ウィンド
ウを発生させ、該検査ウィンドウ内の二値化画像のみを
抽出したウィンドウ内二値化画像信号ｆを出力する。
第一の検査領域は表面実装ICのモールド部分から外側
に出たリードの下側へ曲がる肩部分に発生させる。
に出たリードの下側へ曲がる肩部分に発生させる。
位置ずれ量検出回路11では、前記ウィンドウ内二値化
画像信号ｆを入力し、該リードの位置ずれ量を検出す
る。位置ずれ量の検出はリードの肩部分からの正反射光
がカメラ７に入力することを利用して、例えば“1"の図
形のＸ方向とＹ方向のそれぞれの最小座標の最大座標の
平均座標とあらかじめ位置ずれ量検出回路11に記憶させ
てあるリード肩座標の差をとり求めることができる。
画像信号ｆを入力し、該リードの位置ずれ量を検出す
る。位置ずれ量の検出はリードの肩部分からの正反射光
がカメラ７に入力することを利用して、例えば“1"の図
形のＸ方向とＹ方向のそれぞれの最小座標の最大座標の
平均座標とあらかじめ位置ずれ量検出回路11に記憶させ
てあるリード肩座標の差をとり求めることができる。
位置ずれ量検出回路11は位置ずれ量信号ｇを第二のウ
ィンドウ発生回路12に出力する。
ィンドウ発生回路12に出力する。
第二のウィンドウ発生回路12は、第二の検査領域記憶
回路13に記憶されている第二の検査領域信号ｈにより設
定される検査ウィンドウを前記位置ずれ量信号ｇの示す
位置ずれ量に応じて補正して発生させる。
回路13に記憶されている第二の検査領域信号ｈにより設
定される検査ウィンドウを前記位置ずれ量信号ｇの示す
位置ずれ量に応じて補正して発生させる。
従って部品が位置ずれを起こしていても検査ウィンド
ウは検査対象はんだ付け部に発生させることができる。
さらに第二のウィンドウ発生回路12は、濃淡画像信号ｃ
を入力し前記位置ずれ量に応じて補正して発生させた検
査ウィンドウ内の濃淡画像のみを抽出したウィンドウ内
濃淡画像信号ｉを出力する。
ウは検査対象はんだ付け部に発生させることができる。
さらに第二のウィンドウ発生回路12は、濃淡画像信号ｃ
を入力し前記位置ずれ量に応じて補正して発生させた検
査ウィンドウ内の濃淡画像のみを抽出したウィンドウ内
濃淡画像信号ｉを出力する。
加算回路14は、前記ウィンドウ内濃淡画像信号ｉを入
力し濃淡値をすべて足し込み加算値を得、該加算値に応
じた加算値信号ｊを判定回路15に出力する。
力し濃淡値をすべて足し込み加算値を得、該加算値に応
じた加算値信号ｊを判定回路15に出力する。
判定回路15では、あらかじめ設定された基準値と入力
された加算値とを比較し、加算値のほうが大きければは
んだ付け検査合格と判定する。
された加算値とを比較し、加算値のほうが大きければは
んだ付け検査合格と判定する。
次に第２図を用いて、位置ずれ量検出の原理を説明す
る。
る。
第２図より、照明６からの照射光ａがそれぞれリード
の水平な部分16,リードの下側へ曲がる肩部分17,リード
の斜めになった部分18に照射し、反射光k,l,mとなる。
の水平な部分16,リードの下側へ曲がる肩部分17,リード
の斜めになった部分18に照射し、反射光k,l,mとなる。
反射光ｌのみが上方へ反射しカメラに入射するため、
濃淡画像信号ｃにおいてリード肩部分に相当する箇所が
明るくなる。
濃淡画像信号ｃにおいてリード肩部分に相当する箇所が
明るくなる。
従って二値化信号ｃの明るい部分に対応した“1"の部
分の座標と、あらかじめ記憶させておく本来リードの肩
があるべき座標と比較することによりリード位置ずれ量
を検出することができる。
分の座標と、あらかじめ記憶させておく本来リードの肩
があるべき座標と比較することによりリード位置ずれ量
を検出することができる。
次に第３図（ａ），（ｂ）を用いてはんだ付け部の検
査の原理を説明する。
査の原理を説明する。
照明６は正常なはんだ付け部からの反射光ｎがカメラ
に入射する方向に取り付けておく。
に入射する方向に取り付けておく。
第３図（ａ）は正常にはんだ付けが行われている場合
である。はんだ付け部に照射された照射光ａは、はんだ
付けが正常に行われている場合、鏡面状になったはんだ
５の表面で正反射しカメラ７に入射して、濃淡画像ｃの
はんだ付け部は明るくなる。
である。はんだ付け部に照射された照射光ａは、はんだ
付けが正常に行われている場合、鏡面状になったはんだ
５の表面で正反射しカメラ７に入射して、濃淡画像ｃの
はんだ付け部は明るくなる。
第３図（ｂ）は、はんだ付けが正常に行われていない
場合であり、はんだ付け部への照射光ａは電極側面また
はパッドで乱反射し、反射光ｏは散乱するため濃淡画像
ｂのはんだ付け部は暗くなる。
場合であり、はんだ付け部への照射光ａは電極側面また
はパッドで乱反射し、反射光ｏは散乱するため濃淡画像
ｂのはんだ付け部は暗くなる。
従って、正常にはんだ付けが行われている場合の加算
値と、はんだ付けが正常に行われていない場合の加算値
の間に判定回路15で用いる基準値を設定しておけば、は
んだ付けが正常に行われているかどうか区別することが
できる。
値と、はんだ付けが正常に行われていない場合の加算値
の間に判定回路15で用いる基準値を設定しておけば、は
んだ付けが正常に行われているかどうか区別することが
できる。
本発明のはんだ付け検査装置は、まず部品の位置ずれ
量を求めてから、該位置ずれ量に応じて検査箇所の補正
を行い、はんだ付け状態の検査を行うので部品の位置ず
れに影響されずに精度よく検査を行うことができるとい
う効果がある。
量を求めてから、該位置ずれ量に応じて検査箇所の補正
を行い、はんだ付け状態の検査を行うので部品の位置ず
れに影響されずに精度よく検査を行うことができるとい
う効果がある。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図、第２図，
第３図（ａ），（ｂ）は本発明の原理を説明するための
原理図、第４図は従来の一例を示す側面図である。 １……検査対象部品、２……リード、３……プリント基
板、４……パッド、５……はんだ、６……照明、７……
カメラ、８……二値化回路、９……第一のウィンドウ発
生回路、10……第一の検査領域記憶回路、11……位置ず
れ量検出回路、12……第二のウィンドウ発生回路、13…
…第二の検査領域記憶回路、14……加算回路、15……判
定回路、16……リードの水平な部分、17……リードの下
側へ曲がる肩部分、18……リードの斜めになった部分、
20……電極、21……はんだ、22……照明、23……カメ
ラ、24……判定部。 ａ……照射光、ｂ……反射光、ｃ……濃淡画像信号、ｄ
……二値化画像信号、ｅ……第一の検査領域信号、ｆ…
…ウィンドウ内二値化画像信号、ｇ……位置ずれ量信
号、ｈ……第二の検査領域信号、ｉ……ウィンドウ内濃
淡画像信号、ｊ……加算値信号、k,l,m,n,o……反射
光、ｐ……照射光、ｑ……画像信号。
第３図（ａ），（ｂ）は本発明の原理を説明するための
原理図、第４図は従来の一例を示す側面図である。 １……検査対象部品、２……リード、３……プリント基
板、４……パッド、５……はんだ、６……照明、７……
カメラ、８……二値化回路、９……第一のウィンドウ発
生回路、10……第一の検査領域記憶回路、11……位置ず
れ量検出回路、12……第二のウィンドウ発生回路、13…
…第二の検査領域記憶回路、14……加算回路、15……判
定回路、16……リードの水平な部分、17……リードの下
側へ曲がる肩部分、18……リードの斜めになった部分、
20……電極、21……はんだ、22……照明、23……カメ
ラ、24……判定部。 ａ……照射光、ｂ……反射光、ｃ……濃淡画像信号、ｄ
……二値化画像信号、ｅ……第一の検査領域信号、ｆ…
…ウィンドウ内二値化画像信号、ｇ……位置ずれ量信
号、ｈ……第二の検査領域信号、ｉ……ウィンドウ内濃
淡画像信号、ｊ……加算値信号、k,l,m,n,o……反射
光、ｐ……照射光、ｑ……画像信号。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01B 11/00 - 11/30 G01N 21/84 - 21/91 H05K 3/32,3/34
Claims (1)
- 【請求項１】検査対象部品に斜め上方から光を照射する
照明と、検査対象部品の画像を取り込む上方に取り付け
られたカメラと、該カメラから取り込んだ濃淡画像を二
値化画像に変換する二値化回路と、第一の検査領域を記
憶する第一の検査領域記憶回路と、前記二値化回路より
出力される二値化画像に前記第一の検査領域記憶回路に
記憶されている第一の検査領域を発生させる第一のウィ
ンドウ発生回路と、該第一のウィンドウ発生回路より出
力されるウィンドウ内二値化画像より、検査対象部品の
位置ずれ量を求める位置ずれ量検出回路と、第二の検査
領域を記憶する第二の検査領域記憶回路と、前記位置ず
れ量検出回路により検出された位置ずれ量に応じて、前
記第二の検査領域記憶回路に記憶されている第二の検査
領域の座標を補正して、前記カメラから取り込んだ濃淡
画像に補正した第二の検査領域を発生させる第二のウィ
ンドウ発生回路と、該第二のウィンドウ発生回路より出
力されるウィンドウ内濃淡画像の濃淡値を総和を求める
加算回路と、該加算回路から出力される加算値より検査
結果を判定する判定回路とを含むことを特徴とするはん
だ付け検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30271089A JP2819696B2 (ja) | 1989-11-20 | 1989-11-20 | はんだ付検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30271089A JP2819696B2 (ja) | 1989-11-20 | 1989-11-20 | はんだ付検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03162611A JPH03162611A (ja) | 1991-07-12 |
| JP2819696B2 true JP2819696B2 (ja) | 1998-10-30 |
Family
ID=17912254
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30271089A Expired - Lifetime JP2819696B2 (ja) | 1989-11-20 | 1989-11-20 | はんだ付検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2819696B2 (ja) |
-
1989
- 1989-11-20 JP JP30271089A patent/JP2819696B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03162611A (ja) | 1991-07-12 |
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