JPH03183936A - はんだボール検査装置 - Google Patents

はんだボール検査装置

Info

Publication number
JPH03183936A
JPH03183936A JP32434289A JP32434289A JPH03183936A JP H03183936 A JPH03183936 A JP H03183936A JP 32434289 A JP32434289 A JP 32434289A JP 32434289 A JP32434289 A JP 32434289A JP H03183936 A JPH03183936 A JP H03183936A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inspection area
leads
area
inspection
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP32434289A
Other languages
English (en)
Inventor
Masahiko Nagao
政彦 長尾
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP32434289A priority Critical patent/JPH03183936A/ja
Publication of JPH03183936A publication Critical patent/JPH03183936A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明ははんだボール検査装置、特にプリント基板には
んだ付けされた表面実装置Cのリード間のはんだボール
の有無を検査するはんだボール検査装置に関する。
〔従来の技術〕
従来のはんだボール検査装置は検査対象リード間に斜め
上方から光を照射する照明と、検査対象部品の画像を取
り込む上方に取り付けられたカメラと、該カメラから取
り込んだ濃淡画像の明るい部分は“1”に、暗い部分は
“0′′の二値化画像に変換する二値化回路と、検査対
象リード間にリード間方向の端がリードにかからない検
査領域を記憶する検査領域記憶回路と、前記二値化回路
より出力される二値化画像に前記検査領域記憶回路に記
憶されている検査領域を発生させる検査領域発生回路と
、該検査領域発生回路より出力される検査領域内二値化
画像より、検査領域内に1゛のエリアがあるか判定する
判定回路とを含んで槽底される。
次に従来のはんだボール検査装置について図面を参照し
て詳細に説明する。第3図の照明11は検査対象部品に
斜め上方から光を照射する。カメラ12は検査対象部品
の上方に取り付けられ検査対象部品の画像を取り込み濃
淡画像信号eを出力する。二値化回路13は前記濃淡画
像信号eを入力しあらかじめ設定した二値化レベルによ
り明るい部分に対応した“1°゛と暗い部分に対応した
II OIIに変換し、二値化画像信号fを出力する。
検査領域発生回路14では、二値化画像信号fを入力し
検査領域記憶回路15に記憶されている検査領域信号g
により設定される検査対象リード間にリード間方向の端
がリードにかからない検査領域を発生させ、該検査領域
内の二値化画像のみを抽出した検査領域内二値化画像信
号りを出力する。判定回路16では、検査領域内二値化
画像信号りを入力し、” 1 ”のエリアがあればはん
だボール有りと判定する。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来のはんだ付は検査装置は検査領域をリード
間に端がリードにかからないように発生させていたので
、リードに近い部分に存在するはんだボールは検出でき
ないという欠点があった。
またリードに近い部分に存在するはんだボールを検出さ
せるために、検査領域を広くすると許容範囲内のICの
位置ずれのためにリード部分が検査領域内に入ってしま
い、リードからの反射光をはんだボールと誤判定してし
まう場合があるという欠点があった。
〔課題を解決するための手段〕
本発明のはんだボール検査装置は、検査対象の隣接する
リード間に斜め上方から光を照射する照明と、検査対象
の隣接するリード間の画像を取り込む上方に取り付けら
れたカメラと、該カメラから取り込んだ濃淡画像の明る
い部分は“1″に、暗い部分は“0″の二値化画像に変
換する二値化回路と、検査対象リード間にリードと直角
な方向の端がリードにかかる検査領域を記憶する検査領
域記憶回路と、前記二値化回路より出力される二値化画
像に前記検査領域記憶回路に記憶されている検査領域を
発生させる検査領域発生回路と、該検査領域発生回路よ
り出力される検査領域内二値化画像より、前記検査領域
内に検査領域のリード間方向の端に接しないl“のエリ
アがあるか判定する判定回路とを含むことを特徴とする
〔実施例〕
次に、本発明の実施例について、図面を参照して詳細に
説明する。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図である。第
1図の照明1は検査対象部品に斜め上方から光を照射す
る。カメラ2は検査対象部品の上方に取り付けられ検査
対象部品の画像を取り込み濃淡画像信号aを出力する。
二値化回路3は前記濃淡画像信号aを入力してあらかじ
め設定した二値化レベルにより明るい部分に対応した′
1°′と暗い部分に対応したOuに変換し、二値化画像
信号すを出力する。検査領域発生回路4では、前5 記二値化画像信号すを入力し検査領域記憶回路5に記憶
されている検査領域信号Cにより設定される検査対象リ
ード間にリード間方向の端がリードにかかる検査領域を
発生させ、該検査領域内の二値化画像のみを抽出した検
査領域内二値化画像信号dを出力する。判定回路6では
、前記検査領域内二値化画像信号dを入力し、前記検査
領域内に検査領域のリード間方向の端に接しない1”の
エリアがあるか判定し、あればはんだボールありと判定
する。
次に第2図を用いて、はんだボール検出の原理を説明す
る。第2図(a)は二値化画像信号のパターン図である
。点線部はリード間方向の端がリード7にかかる検査領
域8であり、斜線部は二値化画像信号の“1″のエリア
を示している。照明1から照射した光の反射光が、カメ
ラ2に入射する角度をもった部分は、リード7の上方へ
折れ曲がる部分9とはんだボール部分10となる。基板
面は水平になっているため反射光は上方に取り付けられ
たカメラ2に入射せず、濃淡画像信号は暗6一 くなる。
第2図(b)は検査領域内二値化画像信号のパターン図
である。“1″のエリアの内リード部分に相当する部分
を除いて゛1パのエリアが存在すれば、はんだボール有
りと判定することができる。検査領域はリードにかかる
ように発生させであるため、パ1′”のエリアのリード
間方向の座標の最小値が検査領域の最小値と一致してい
るか、′″1′°のエリアのリード間方向の座標の最大
値が検査領域の最大値と一致していれば1″のエリアが
リード部分に相当すると判定することができる。
〔発明の効果〕
本発明のはんだ検査装置は、検査領域を検査対象リード
間にリードにかかるように発生させ、検査領域内にリー
ドからの反射光以外の明るい反射光があればはんだボー
ルあり、と判定するのでリードの近くにあるはんだボー
ルも見逃すことなく検査することができるという効果が
ある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図は
本発明の詳細な説明するためのパターン図、第3図は従
来の一例を示すブロック図である。 1・・・照明、2・・・カメラ、3・・・二値化回路、
4・・・検査領域発生回路、5・・・検査領域記憶回路
、6・・・判定回路、7・・・リード、8・・・検査領
域、9・・・上方へ折れ曲がる部分、10・・・はんだ
ボール部分、11・・・照明、12・・・カメラ、13
・・・二値化回路、14・・・検査領域発生回路、15
・・・検査領域記憶回路、]6・・・判定回路、a、e
・・・濃淡画像信号、b、f・・・二値化画像信号、c
、g・・・検査領域信号、d。 h・・・検査領域内二値化画像信号。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  検査対象の隣接するリード間に斜め上方から光を照射
    する照明と、検査対象の隣接するリード間の画像を取り
    込む上方に取り付けられたカメラと、該カメラから取り
    込んだ濃淡画像の明るい部分は“1”に、暗い部分は“
    0”の二値化画像に変換する二値化回路と、検査対象リ
    ード間にリードと直角な方向の端がリードにかかる検査
    領域を記憶する検査領域記憶回路と、前記二値化回路よ
    り出力される二値化画像に前記検査領域記憶回路に記憶
    されている検査領域を発生させる検査領域発生回路と、
    該検査領域発生回路より出力される検査領域内二値化画
    像より、前記検査領域内に検査領域のリード間方向の端
    に接しない“1”のエリアがあるか判定する判定回路と
    を含むことを特徴とするはんだボール検査装置。
JP32434289A 1989-12-13 1989-12-13 はんだボール検査装置 Pending JPH03183936A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP32434289A JPH03183936A (ja) 1989-12-13 1989-12-13 はんだボール検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP32434289A JPH03183936A (ja) 1989-12-13 1989-12-13 はんだボール検査装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH03183936A true JPH03183936A (ja) 1991-08-09

Family

ID=18164712

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP32434289A Pending JPH03183936A (ja) 1989-12-13 1989-12-13 はんだボール検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH03183936A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7664311B2 (en) Component mounting board inspecting apparatus
JPH0572961B2 (ja)
JPH03183936A (ja) はんだボール検査装置
JP2004279236A (ja) 外観検査装置および検査方法
JPH05288527A (ja) 実装基板外観検査方法およびその装置
JPH05280946A (ja) 基板の観察装置
JPS6337479A (ja) パタ−ン認識装置
JP2596158B2 (ja) 部品認識装置
JP3038107B2 (ja) はんだ付け検査方法
JP2522174B2 (ja) 実装基板検査装置
JP2556180B2 (ja) はんだブリッジ検査装置
JP2906454B2 (ja) 物体位置検出方法
JP2765338B2 (ja) チップ部品実装検査装置
JPH02278105A (ja) 半田付検査装置
JP2570508B2 (ja) はんだ付検査装置
JPH04310851A (ja) はんだ付け外観検査装置
JPH03216509A (ja) はんだボール検査装置
JP2819696B2 (ja) はんだ付検査装置
JPH03216508A (ja) はんだボール検査装置
JP2803427B2 (ja) 表面実装icリードずれ検査装置
JPH05109858A (ja) Tabはんだ付け検査装置
JPH0378607A (ja) はんだ付検査装置
JPH01155248A (ja) はんだ付け検査装置
JPH05240615A (ja) チップ部品接着剤はみだし検査装置
JPH04236345A (ja) はんだボール検査装置