JPS6337479A - パタ−ン認識装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 の１ 本発明はパターン認識方法に関し、特に基板上に実装し
たチップ部品の配列状態や欠品、異物なとを検出するパ
ターン認識方法に関する。

従速ΔｕＬ仁 電子回路装置は一般的にプリント基板に実装した電子部
品を導電パターンにより接続して回路を構成しているが
、実装密度を向上するためにチップ部品が用いられる。

チップ部品を基板に実装するにはチップ部品の電極を導
電パターン上に位置させ接着剤で仮固定して、全チップ
部品を仮固定した後、一括してリフロー炉や半田槽を用
い半田付けするようにしている。

この場合、一旦半田付けが完了すると、修正作業が煩雑
であるため、半田付けの前にチップ部品の位置ずれ、欠
品、異部品をチエツクしている。

このチエツク作業は従来目視により行われていたが、疲
労が著しいことから、テレビカメラを用いたパターン認
識により不良部品を摘出するようにしている。

第４図は一般的なパターン認識装置を示し、１は被検出
体Ａを照明する光源、２はテレビカメラ、３はテレビカ
メラ１の映像出力信号を増巾し、２値化する増巾部、４
は標準パターンを２値化してきおくしたメモリ、５はテ
レビカメラ１の撮像状態を表示する表示部、６は映像信
号増巾部３の出力とメモリ４の出力を比較する比較部を
示す。比較部６の出力は図示しないが、警報装置や不良
の被検出体Ａを排除する装置に接続される。

ここで被検出体Ａは絶縁基板７上に導電パターン８を形
成したプリント基板９の導電パターン８上の要部間にチ
ップ電子部品ｌＯを載置し、接着材（図示せず）などで
仮固定したもので、チップ電子部品ｌＯとプリント基板
９とのコントラストの差異により、第５図Ｘ−Ｘ上の走
査に対してカメラ２の出力には第６図に示すような映像
信号が得られる。この映像信号はコントラストの状態に
よってレベル変動があるため、閾値ＶＨ，ＶＬを設定し
、第７図に示すように増巾部３の出力に２値化した映像
信号を得ている。

以下、この映像信号とメモリ４の標準パターンとが比較
部６によって比較されパターンのずれが許容できるもの
かどうかが判定される。

口が　゛　よ”　　。

ところで、プリント基板９には導電パターン８の所望部
分だけに半田付けできるようにソルダーレジスト膜（図
示せず）が形成されている。このソルダーレジスト膜は
光沢があるため光源１の投射方向によって反射光が周辺
の装置などに再度反射され、カメラ２に入射されたり、
導電パターン８のエツジ部分でソルダーレジスト膜に段
部が形成され反射光が直接カメラ２に入射したり、チッ
プ電子部品ＩＯの姿勢が傾き、傾斜が一様でなかったり
、電子部品ｌＯの外装材と背景の色の間でコントラスト
が小さいなどにより、第６図点線で示すように、必要部
分で映像信号レベルが低下したり、不所望部分で映像信
号レベルがはね上がり、第７図点線で示すように２値化
映像信号が得られ、誤判定することがあった。

このような問題は光源１の経時変化により児童が低下す
ることによっても発生するため保守９点検も煩雑であっ
た。

。　　゛　、の 本発明は上記問題点に鑑み提案されたもので、チップ部
品を実装した基板上をテレビカメラで撮像して得られた
映像信号と、メモリに記憶された標準パターン信号とを
比較して基板上のチップ部品を検出する方法において、
基板に対して斜めにスリット光を照射し、チップ部品上
面と基板上のスリット光の断続を識別してチップ部品を
検出することにより上記問題点を解決したものである。

支五匠 以下に本発明の実施例を第１図から説明する。

図において第４図と同一符号は同一物を示し説明を省略
する。第４図と相異するのはプリント基板９上に斜め方
向から直線状に光照射したことのみである。図中Ｕはス
リブ）１２を形成した遮光板で、スリブＨ２を通った一
直線状の光をプリント基板９上に照射する。

これにより、カメラ２によって捕らえられる画像（輝線
）は第２図に示すように、基台とプリント基板９、プリ
ント基板９とチップ部品１ｏのそれぞれの隣接部で、不
連続線となる。

即ち、第３図に示すようにスリット光りが基台に対し角
θ傾斜して照射されるものとすると、基板９の厚みｔに
対し、基台上の輝点ａからｄｉだけ光源側の点すに照射
される。同様にしてチップ部品ＩＯの高さｈに対し、基
板９上の輝点位置すからｄまたけ光源側に離れたチップ
部品ｌＯ上の点Ｃにスリット光は照射される。

即ち、ｄｌ＝ｔ−ｔａｎθ、　ｄ２＝　ｈ−ｔａｎθで
あるから、チップ部品ｌＯの高さｈによりｄ２が変化す
るから、輝線の不連続長さｄ２からチップ部品ｌＯの高
さも知ることができる。

このようにしてスリット光と基板９とを相対的に移動さ
せ、各位置毎にスリット光を検出することによって部品
の位置、向き、厚さ等を知ることができる。

またカメラ２をチップ部品ＩＯ上で２′の様に反射した
光の経路上に配置することにより、コントラストを一層
向上させることができる。

さらにはチップ部品の表面状態、例えば割れや欠け、変
形等も判別することが可能である。

匁じＬ 以上のように本発明によれば、チップ部品の姿勢、つま
り傾きや外装材の色などにより背景との間でコントラス
トが良好でない場合でも、コントラストを高（設定でき
、誤判定を減少できる。

また輝線の長さからチップ部品の有無と同時にチップ部
品が有る場合にはチップ部品の位置ずれを知ることがで
きる。

さらにはチップ部品の厚さも知ることができ、割れや欠
けの状態も知ることができる。

さらには光源の輝度低下によってもコントラストの低下
がな（、保守も容易である。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明を説明するブロックダイアグラムを含む
斜視図、第２図及び第３図は本発明の詳細な説明する図
面で、第２図は平面図、第３図は第２図Ｚ−Ｚ断面図で
ある。第４図は従来のパターン認識方法を説明するため
のブロックダイアグラムを含む斜視図、第５図乃至第７
図は第４図装置の動作を説明するための図面で、第５図
はプリント基板平面図、第６図及び第７図は映像信号の
波形図を示す。 ２・・・・・・テレビカメラ、 ４・・・・・・メモリ、 ９・・・・・・基板、 ＩＯ・・・・・・チップ部品。 第　　５　囚 同国 第６図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. チップ部品を実装した基板上をテレビカメラで撮影して
   得られた映像信号と、メモリに記憶された標準パターン
   信号とを比較して基板上のチップ部品を検出する方法に
   おいて、基板に対して斜めにスリット光を照射し、チッ
   プ部品上面と基板上のスリット光の断続を識別してチッ
   プ部品を検出するようにしたことを特徴とするパターン
   認識装置。