JPH03216508A - はんだボール検査装置 - Google Patents

はんだボール検査装置

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Publication number
JPH03216508A
JPH03216508A JP1391890A JP1391890A JPH03216508A JP H03216508 A JPH03216508 A JP H03216508A JP 1391890 A JP1391890 A JP 1391890A JP 1391890 A JP1391890 A JP 1391890A JP H03216508 A JPH03216508 A JP H03216508A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lead
area
inspection area
solder ball
circuit
Prior art date
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Pending
Application number
JP1391890A
Other languages
English (en)
Inventor
Masahiko Nagao
政彦 長尾
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP1391890A priority Critical patent/JPH03216508A/ja
Publication of JPH03216508A publication Critical patent/JPH03216508A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明ははんだボール検査装置、特にプリント基板には
んだ付けされた表面実装ICのリード間のはんだボール
の有無を検査するはんだボール検査装置に関する。
〔従来の技術〕
従来のはんだボール検査装置は、検査対象部品の隣接す
るリード間に斜め上方から光を照射する照明と、検査対
象部品の画像を取り込む上方に取り付けられたカメラ2
2と、該カメラから取り込んだ濃淡画像の明るい部分は
” 1 ”に、暗い部分は“0′゛の二値化画像に変換
する二値化回路と、検査対象部品の隣接するリード開に
リードと直角な方向の端がリードにかからない検査領域
を記憶する検査領域記憶回路と、二値化回路より出力さ
れる二値化画像に検査領域記憶回路に記憶されている検
査M域を発生させる検査領域発生回路と、検査領域発生
回路より出力される検査領域内の二値化画像により、検
査領域内に“1”のエリアがあるかを判定する判定回路
とを含んで構成される。
次に、従来のはんだボール検査装置について図面を参照
して詳細に説明する。
第3図の照明21は、検査対象部品に斜め上方から光を
照射する。カメラ22は検査対象部品の上方に取り付け
られ、検査対象部品の画像を取り込み濃淡画像信号eを
出力する。二値化回路23は前記濃淡画像信号eを入力
し、あらかじめ設定した二値化レベルにより明るい部分
に対応しな゛1“と暗い部分に対応した“0“どのいず
れかに変換し、二値化画像信号fを出力する。検査領域
発生回路24では、前記二値化画像信号fを人録し検査
領域記憶回路25に記憶されている検査領域信号gによ
り設定される検査対象部品のリード間に、リードと直角
な方向の端がリードにががらない検査領域を発生させ、
該検査領域内の二値化画像のみを抽出した検査領域内二
値化画像信号hを呂力する。判定回路26では、前記検
査領域内二値化画像信号hを入力し、“1“゜のエリア
があればはんだボールあつと判定する。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来のはんだ付け検査装置は、検査領域をリー
ド間に端がリードにかからないように発生させていなの
で、リードに接触したはんだボールやリードに近い部分
に存在するはんだボールは検出できないという欠点があ
った。またリードに近い部分に存在するはんだボールを
検出させるために、検査領域を広くすると許容範囲内の
ICの位置ずれのなめにリード部分が検査領域内に入っ
てしまい、リードからの反射光をはんだボールと誤判定
してしまう場合があるという欠点があった。
〔課題を解決するための手段〕
本発明のはんだボール検査装置は、検査対象部品に斜め
上方から光を照射する照明と、検査対象部品の画像を取
り込む上方に取り付けられたカメラと、該カメラから取
り込んだ濃淡画像の明るい部分は゛1′゛に暗い部分は
“0′′の二値化画像に変換する二値化回路と、検査対
象部品の内一本のリードを含み該リードと直角な方向の
端が左右の隣接するリードにかからない検査領域を記憶
する検査領域記憶回路と、前記二値化回路より出力され
る二値化画像に前記検査領域記憶回路に記憶されている
検査領域を発生させる検査領域発生回路と、該検査領域
発生回路より出力される検査領域内二値化画像信号より
前記検査領域内のリードからの反射光による“゜1゜゜
のエリアを検出し該エリアのリードと直角な方向の長さ
があらかじめ設定した判定値より長ければはんだボール
ありと判定する第一の判定回路と、前記検査領域内二値
化画像信号より前記検査領域内゛1”のエリアが独立し
て2つ以上あればはんなボールあつと判定する第二の判
定回路とを備えて構成される。
〔実施例〕
次に、本発明の実施例について図面を参照して詳細に説
明する。
第1図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。
第1図の照明1は検査対象部品に斜め上方から光を照射
する。カメラ2は検査対象部品の上方に取り付けられ、
検査対象部品の画像を取り込み、濃淡画像信号aを出力
する。二値化回路3は、濃淡画像信号aを入力し、あら
かじめ設定した二値化レベルにより、明るい部分に対応
した“1゜′と暗い部分に対応した″0“とに変換し、
二値化画像信号bを出力する。検査領域発生ロ路4では
、二値化画像信号bを入力し検査領域記憶回路5に記憶
されている検査領域信号Cにより設定される検査対象部
品のリードを含み、このリートと直角な方向(以下X方
向と呼ぶ)の端が左右の隣接するリードにかからない検
査領域を発生させ、該検査領域内の二値化画像のみを抽
出した検査領域内二値化画像信号dを出力する。第一の
判定回路6では、検査領域内二値化画像信号dを入力し
、検査領域内ぬりード部分のエリア11を含む“1′の
エリアを検出し、そのエリアのX方向の最大座標と最小
座標との差よりX方向の長さを求める。
この測長したX方向の長さが、あらかじめ設定した判定
値より長ければ、はんだボールありと判定ずる。第二の
判定回路7では、検査領域内二値化画像信号dを入力し
、前記検査領域内の“1”のエリアの数を求める。該エ
リア数が2以上てあれば、はんだボールありと判定する
次に第2図を用いてはんなボール検出の原理を説明する
第2図は二値化画像信号のパターン図である。
点線部は一本のりード8を含みリードと直角な方向の端
が隣接する左右のり一ド9,9Aにかからない検査領域
10であり、斜線部は二値化画像信号の“′1″のエリ
アを示している。リード8とはんだホールとは、照明1
から照射した光の反射光が、カメラ2に多く入射する部
分は反射率の高い部分であり、リード8からの反射光に
よるリード部分のエリア11とはんだボールからの反射
光によるはんだボール部分のエリア12.12Aとなる
。はんだホール部分のエリア12はリード8に接触した
はんだボールからの反射光による′“1”゜のエリアで
、リート部分のエリア11と接触している場合を示す。
はんだボール部分のエリア12Aはリードに接触しない
はんだボールからの反射光による“1″のエリアを示す
第一の判定回路6では、まずリート8からの反射光によ
るリード部分のエリア11を検出する。
検出の方法としては例えば、検査領域1oはりード8か
らX方向左右均等に発生されることがら、複数の“1”
のエリアのうちX方向の中心座標が、検査領域10のX
方向の中心座標に最も近い” 1 ”のエリアをリード
部分のエリア11として検出することができる。次に検
出したリード部分のエリア11のX方向の長さをX方向
の最大座標XMAXと最小座標XMrNの差より求め、
あらかじめ設定してある判定値と比較し、判定値より大
きければはんだボールありと判定する。リードに接触し
たはんだボールがない場合、リード部分のエリア11の
X方向の長さはリード幅とはんだホールのX方向の長さ
を加えた値となる。そのため判定値をリード幅以上でリ
ード幅とはんだボールの直径を加えた値以下に設定して
おくことで、リートに接触したはんだボールを検出する
ことがてきる。
第二の判定回路ては、検査領域10内の“1”のエリア
数をカウントし、エリア数が2つ以上であれば、リード
に接触しないはんだボールがあると判定する。リードに
接触しないはんだボールがない場合は検査領域10内の
” 1 ”のエリアはリード部分のエリア11のみか、
リード部分のエリア11とリードに接触したはんだボー
ル部分のエリア12のいずれにしてもエリア数としては
一つである。それに対してリードに接触しないはんだボ
ールがある場合は、リード部分のエリア11とは孤立し
た” 1 ”のエリアとなるなめに検査領域10内の゛
1′゛のエリアは2つ以上となる。従って検査領域10
内の” 1 ”のエリア数が2つ以上であれば、リード
に接触しないはんだボールが有ると判定することができ
る。
〔発明の効果〕
本発明のはんだボール検査装置は、一本のリードを含み
隣接する左右のリードにかからないように検査領域を発
生させ、リード部分の反射光の幅によりリードに接触し
たはんだポールを検出し、リード部分の反射光から孤立
した反射光によりリードから孤立したはんだボールを検
出するので、リードに接触したはんだボールやリードの
近くにあるはんだボールも見逃すことなく検出すること
ができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図、第
2図は本発明の原理を説明するためのパターン図、第3
図は従来の技術によるはんだボール検査装置の構成の一
例を示すブロック図である。 1・・・照明、2・・・カメラ、3・・・二値化回路、
4・・・検査領域発生回路、5・・・検査領域記憶回路
、6・・・第一の判定回路、7・・・第二の判定回路、
8・・リート、9,9A・・隣接ずる左右のリード、1
0・・・検査領域、11・・・リート部分のエリア、1
2,12A・・・はんだボール部分のエリア、a・・・
濃淡画像信号、b・・・二値化画像信号、C・・検査領
域信号、d・・・検査領域内二値化画像信号。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  検査対象部品に斜め上方から光を照射する照明と、検
    査対象部品の画像を取り込む上方に取り付けられたカメ
    ラと、該カメラから取り込んだ濃淡画像の明るい部分は
    “1”に暗い部分は“0”の二値化画像に変換する二値
    化回路と、検査対象部品の内一本のリードを含み該リー
    ドと直角な方向の端が左右の隣接するリードにかからな
    い検査領域を記憶する検査領域記憶回路と、前記二値化
    回路より出力される二値化画像に前記検査領域記憶回路
    に記憶されている検査領域を発生させる検査領域発生回
    路と、該検査領域発生回路より出力される検査領域内二
    値化画像信号より前記検査領域内のリードからの反射光
    による“1”のエリアを検出し該エリアのリードと直角
    な方向の長さがあらかじめ設定した判定値より長ければ
    はんだボールありと判定する第一の判定回路と、前記検
    査領域内二値化画像信号より前記検査領域内“1”のエ
    リアが独立して2つ以上あればはんだボールありと判定
    する第二の判定回路とを備えて成ることを特徴とするは
    んだボール検査装置。
JP1391890A 1990-01-23 1990-01-23 はんだボール検査装置 Pending JPH03216508A (ja)

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JP1391890A JPH03216508A (ja) 1990-01-23 1990-01-23 はんだボール検査装置

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JPH03216508A true JPH03216508A (ja) 1991-09-24

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ID=11846553

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JP1391890A Pending JPH03216508A (ja) 1990-01-23 1990-01-23 はんだボール検査装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011180058A (ja) * 2010-03-03 2011-09-15 Ckd Corp 半田印刷検査装置及び半田印刷システム

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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